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KR101123931B1 - 사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치 - Google Patents

사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치 Download PDF

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KR101123931B1
KR101123931B1 KR1020090094248A KR20090094248A KR101123931B1 KR 101123931 B1 KR101123931 B1 KR 101123931B1 KR 1020090094248 A KR1020090094248 A KR 1020090094248A KR 20090094248 A KR20090094248 A KR 20090094248A KR 101123931 B1 KR101123931 B1 KR 101123931B1
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Abstract

본 발명은 테스터의 확인이 정확하면 피드백하도록 된 용기(Bin)를 입력하는 단계, 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트를 선택하는 단계, 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트에 피검사 소자를 위치시키는 단계, 자동 맵핑 검사를 진행하는 단계, 및 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑의 정확 여부를 판단하고 사이트 맵핑이 정확하지 않으면 해당 사이트를 폐쇄하는 단계를 포함하는 사이트 자동 맵핑 방법에 관한 것이다.

Description

사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치{AUTO SITE MAPPING METHOD AND APPARATUS}
본 발명은 테스트 장비의 사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치에 관한 것이며, 특히 핸들러 사이트의 자동 맵핑 방법 및 그 장치에 관한 것이다.
각종 집적회로(IC) 칩, 예를 들어 RF IC, 메모리 또는 소비성 IC, 로직 및 혼합신호 IC, 감광소자, 구동 IC 등은 설계 및 매뉴팩처 패키징 제조를 거친 후 품질 확보를 위해 테스터에 의한 테스트 단계를 거쳐야만 소자의 작동이 가능하도록 정상적인 전기적 특성 및 기능을 확보할 수 있다. 테스터는 피검사 소자(Device under test) 신호를 제공하여 피검사 소자를 테스트하고, 핸들러(HANDLER)는 피검사 소자를 적재한 트레이(Tray)로부터 피검사 소자를 핸들러 내부의, 테스터와 전기적으로 연결된 테스트 인터페이스 예를 들면 회로 로딩 보드(load board) 또는 피검사 소자 회로판(DUT board )의 소자 소켓(Socket)에 이송하여 테스트를 진행하도록 마련된다. 테스트를 완료한 후 피검사 소자는 핸들러에 의해 테스트 결과에 따라 테스트 인터페이스로부터 이송 및 분류되어 테스트 통과(Pass) 및 테스트 미통과(Fail)로 각각 표시되는 트레이에 적재되어 후속 처리가 진행된다.
테스트를 진행하기 위해서는 테스터와 핸들러 사이에는 반드시 신호 커뮤니케이션이 이루어져야 한다. 테스터와 핸들러 간의 연결은 케이블 또는 신호 전송선에 의해 이루어진다. 복수의 피검사 소자(Device under test, DUT)를 동시에 테스트할 경우에는 테스터와 핸들러 간에 서로 대응되는 복수조의 케이블이 연결되어야 하고, 피검사 소자는 핸들러의 사이트(Site)에서 테스트를 받게 된다. 핸들러의 각 사이트의 연결단은 반드시 테스터의 연결단과 일치하게 대응하여야 한다. 장비를 유지 보수하거나 테스트 클램프를 교체할 경우에는 사이트(Site) 상의 대응되는 연결 신호 전송선을 뽑고 유지 보수가 완료되거나 교체 작업이 완료된 후에 다시 연결 신호 전송선을 꽂아야 하는데, 이때 인위적인 실수 등의 원인으로 인해 신호 전송선과 대응 사이트의 설치 위치 오류가 발생할 수 있다. 특히 사이트 수가 많을수록 이러한 오류가 더욱 쉽게 발생하고, 이와 같은 경우를 사이트 맵핑(site mapping) 이상이라고 부른다. 사이트 맵핑 이상이 발생한 경우 피검사 소자 및 사이트가 대응되지 않는 테스터 단부와 연결되어 테스트를 받게 되어 테스트 결과가 혼동될 염려, 즉 피검사 소자가 혼동될 염려가 있게 되어, 테스트 오류 및 품질 제어 상의 중대한 이상을 유발할 수 있다. 종래의 사이트 맵핑 확인 체제는 인공 방식으로 피검사 소자 회로판의 대응에 오류가 있는지를 확인하는 것이다 (색상과 번호 라벨이 서로 대응되는지를 확인). 다만 인공 방식에 의한 사이트 맵핑은 인위적인 실수가 쉽게 발생하고 맵핑의 정확 여부를 확보할 수 없으며 필요 이상의 인력과 시간을 낭비하게 된다.
상기 인공방식에 의한 사이트 맵핑의 단점을 감안하여 본 발명은 사이트 자 동 맵핑 방법 및 그 장치를 제공하여 종래의 사이트 맵핑 인공 확인 체제를 장비에 의한 자동 확인 체제로 변경하고, 전자파일과 서면 챠트를 형성함으로써 신뢰성과 파일 관리의 편의성을 향상하고 품질 향상을 꾀하였다.
본 발명의 목적은 인위적인 이상 동작으로 인해 사이트 맵핑 오류가 발생하는 것을 방지하는 사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 해결하기 위한 본 발명에서, 사이트 자동 맵핑 방법은 아래 단계를 포함한다. 먼저 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기(Bin)를 입력하고, 이어서 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트를 선택하고, 다음으로 피검사 소자를 자동 맵핑 검사를 하고자 하는 사이트에 위치시킨다. 그 다음, 자동 맵핑 검사를 진행한 다음, 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑의 정확 여부를 판단하고 사이트 맵핑이 정확하지 않으면 해당 사이트를 폐쇄한다(LOCK IN).
본 발명은 또한 사이트 자동 맵핑 장치를 제공한다. 이 사이트 자동 맵핑 장치는, 조작자가 자동 맵핑을 진행하고자 하는 핸들러의 사이트와 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기의 맵핑이 정확한지를 비교 판단하는 자동 맵핑 모듈과, 조작자가 핸들러 상의 자동 맵핑을 진행하고자 하는 사이트를 선택 또는 입력하고, 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기를 선택 또는 입력하도록 마련된 GUI(Graphical user interface)를 포함한다.
본 발명에 의한 자동 맵핑 검사를 하면 인위적인 이상 동작으로 인한 사이트 맵핑 오류를 방지할 수 있고 인위적인 실수를 효과적으로 방지할 수 있다. 따라서 유지 보수하거나 테스트 클램프를 교체한 후 자동 맵핑 검사를 확실하게 할 수 있고, 사이트 바이 사이트 확인의 신뢰성을 확보하고, 인력과 시간을 절감하고 테스트 효율 및 품질을 향상할 수 있다.
이하 본 발명의 일부 실시예를 상세하게 설명하도록 한다. 다만, 아래 설명 외에도 본 발명은 다른 실시방식으로 폭넓게 구현할 수 있으며, 본 발명의 보호범위는 실시예의 한정을 받지 않으며 후술하게 되는 특허청구범위를 기준으로 한다. 또한, 본 발명을 더욱 명확하게 설명하고 본 발명에 대한 이해에 도움을 주고자, 도면 중 각 부분은 그 상대적 사이즈에 따라 작성하지 않았으며, 일부 사이즈는 다른 관련 사이즈에 비해 과장되게 그렸고, 도면을 간결하게 그리기 위해 본 발명과 무관한 세부사항도 완전하게 그리지 않았다.
도 1a 및 도 1b는 각각 테스터(TESTER)와 핸들러(HANDLER)간의 신호 전송선 연결이 정확한 것과 정확하지 않은 경우를 보여준 도면이다. 도 1a에서 테스터(10)는 신호 전송선(12a 내지 12d)을 통해 핸들러(20)의 사이트(22a 내지 22d)와 정확하게 연결되고, 도 1b에서 핸들러(20)의 사이트(22a 및 22b)는 신호 전송선(12b 및 12a)과 잘못 연결되어 테스터(10)에 연결되어 있다. 테스터와 핸들러 간의 신호 전송선이 잘못 연결되는 현상을 방지하기 위해 사이트 바이 사이트(Site By Site) 확인 작업을 수행한다. 사이트 바이 사이트 확인의 목적은 테스터와 핸들러 간에 신호 전송선의 접속 오류로 인해 용기(Bin)가 구분되거나 용기 분할 오류가 발생하고 용기가 혼동되는 현상이 발생하는 것을 방지하기 위한 것이다.
사이트 바이 사이트 확인시, 한번에 단지 하나의 테스트 통과 소자만을 로딩할 수 있다. 도 1c는 하나의 테스트 통과 소자를 로딩하여 사이트 바이 사이트 확인 작업을 수행하는 것을 보여준 도면이다. 테스트를 통과한 피검사 소자(14)가 핸들러(20)의 사이트(22b)에 위치하고, 사이트(22a, 22b)는 신호 전송선(12b, 12a)에 잘못 접속되어 테스터(10)에 연결되었다. 사이트(22b)를 검증할 경우, 사이트(22a, 22b)가 잘못 연결된 관계로 사이트(22b) 검증시 테스트를 위한 소자가 존재하지 않기 때문에 "OPEN FAIL"라는 테스트 결과가 나오며, 이때 사이트(22a)에 대한 검증 결과는 테스트 통과로 표시되는데, 이는 신호 전송선(12b와 12a)이 서로 잘못 연결되었음을 표시한다.
도 2는 핸들러(30)를 보여준 도면이다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치는 핸들러(30)를 통해 맵핑이 수행된다. 핸들러(30)는 조작 화면 또는 GUI(Graphical user interface)를 표시하는 디스플레이(32), 핸들러(30)를 조작하는 제어패널(34), 프로그램을 실행하는 호스트(36), 트레이로부터 피검사 소자를 로딩하는 로더(38a) 및 핸들러로부터 피검사 소자를 반출하는 언로더(38b)를 포함한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법을 수행하기 위한 테스트 시스템을 보여준 도면이다. 테스트 시스템은 테스터(40), 핸들러(50)로 이루어지고, 테스터(40)와 핸들러(50) 간은 신호 전송선을 통해 양방향 신호전송 커뮤니케이션을 진행한다. 핸들러(50)는 테스트부(52), 로더(54a) 및 언로더(54b), 그리고 자동 맵핑 모듈(58)을 구비한 호스트(56)를 포함한다. 자동 맵 핑 모듈(58)은 CPU에 의해 실행가능한 명령 또는 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 기록매체(computer readable medium)를 포함하고, 컴퓨터 판독가능한 기록매체는 디스크, 메모리 또는 기억매체를 포함한다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법을 실행하기 위한 프로그램은 C/C++ 언어로 작성될 수 있으나 여기에 한정되지는 않는다. 자동 맵핑 모듈은 조작자가 선택 또는 입력한, 자동 맵핑을 하고자 하는 핸들러의 사이트와, 조작자가 선택 또는 입력한, 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기(Bin)에 근거하여 자동 맵핑의 정확 여부를 비교 판단한다. 이 자동 맵핑 방법 프로그램은 조작자가 입력한, 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기(Bin) 및 조작자가 선택한, 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트에 근거하여, 자동 맵핑 검사를 하고자 하는 사이트 내의 피검사 소자에 대해 자동 맵핑 검사를 진행하고, 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑이 정확한지를 판단한다. 만약 사이트 맵핑이 정확하지 않다면 해당 사이트를 폐쇄한다(lock-in).
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에서 자동 맵핑 방법을 수행하기 위한 GUI(Graphical user interface)를 보여준 도면이다. GUI(60)는 핸들러의 호스트에서 수행되도록 마련되고, 핸들러는 호스트 외에도 디스플레이(61)와 입력장치(63)를 포함한다. 디스플레이(61)는 액정 스크린으로 이루어지고 입력장치(63)는 키보드, 마우스 등으로 이루어질 수 있다. GUI(60)은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법을 수행하는 프로그램으로서 핸들러의 호스트 중 컴퓨터 판독가능한 기록매체에 저장된다. GUI(60)는 사이트 옵션(62), 테스터 용기(Bin) 옵션(64) 및 관련 데이터 옵션(66)을 포함한다. 사이트 옵션(62)은 조작자가 핸들러 상의 자동 맵핑을 수행하고자 하는 사이트를 선택 또는 입력하도록 마련된 것이고, 테스터 용기(Bin) 옵션(64)은 조작자가 테스터 검증이 정확하면 피드백하도록 된 용기(Bin)를 선택 또는 입력하도록 마련된 것이며, 관련 데이터 옵션(66)은 조작자가 피검사 소자의 제품번호(lot number), 고객 명칭, 장비 번호 등의 데이터를 선택 또는 입력하도록 마련된 것이다. GUI(60)의 옵션을 클릭 선택 또는 입력할 때에는 입력장치(63)로 수행하고 디스플레이(61)에 표시된다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법의 흐름도이다. 사이트 자동 맵핑을 개시한 후 먼저 테스터 검증이 정확하면 피드백하도록 된 Bin을 입력한다(단계 71). 그 다음, 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트를 선택하고(단계 72), 이어서 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트에 피검사 소자를 위치시킨다(단계 73). 여기서, 피검사 소자의 수량은 사이트 수와 동일하다. 이어서, 자동 맵핑 검사를 진행하고(단계 74), 자동 맵핑 모듈에 의해 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑의 정확 여부를 판단하며(단계 75), 정확한 것으로 판단되면 소자를 인출하고(단계 76) 테스트를 완료한다. 만약 단계 75에서 사이트 맵핑이 정확하지 않은 것으로 판단되면 자동 맵핑 모듈로 맵핑이 정확하지 않은 사이트를 폐쇄하여(단계 77), 해당 사이트로 테스트를 진행하지 못하도록 한다. 상기 폐쇄는 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑을 정정한 후 자동 맵핑 검사 단계 71 내지 단계 75를 다시 수행하여 통과될 때까지 하며, 이러한 검사단계를 통과해야만 해당 사이트는 다시 테스트 작업을 회복할 수 있다.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치를 이용하여 자동 맵핑 검사를 하는 것은 전술한 바와 같이 4개의 사이트만을 포함하는 핸들러에 한정되지 않는다. 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 자동 맵핑 방법 및 장치는 8개 이상 사이트를 가진 핸들러에도 적용된다. 본 발명의 사이트 자동 맵핑 방법 및 그 장치를 이용하여 자동 맵핑 검사를 하면 인위적인 이상 동작으로 인한 사이트 맵핑 오류를 방지할 수 있고 인위적인 실수를 효과적으로 방지할 수 있다. 따라서 유지 보수하거나 테스트 클램프를 교체한 후 자동 맵핑 검사를 확실하게 할 수 있고, 사이트 바이 사이트 확인의 신뢰성을 확보하고, 인력과 시간을 절감하고 테스트 효율 및 품질을 향상할 수 있다.
상기 실시예는 단지 본 발명의 기술사상 및 특징을 설명하기 위한 것으로 그 목적은 당업자가 본 발명의 내용을 이해하고 실시할 수 있도록 하기 위한 것이며, 이것으로 본 발명의 특허청구범위를 한정하지는 않는다. 본 발명의 취지에 의해 완성된 각종 균등 교체 및 변경은 모두 본 발명의 보호범위에 속하며, 후술할 특허청구범위에 포함되어야 할 것이다.
도 1a 및 도 1b는 각각 테스터(TESTER)와 핸들러(HANDLER) 간의 신호 전송선 연결이 정확한 것과 정확하지 않은 경우를 보여준 도면이다.
도 1c는 하나의 테스트 통과 소자를 로딩하여 사이트 바이 사이트 확인 작업을 수행하는 것을 보여준 도면이다.
도 2는 핸들러(30)를 보여준 도면이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법을 수행하기 위한 테스트 시스템을 보여준 도면이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에서 자동 맵핑 방법을 수행하기 위한 GUI(Graphical user interface)를 보여준 도면이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 사이트 자동 맵핑 방법의 흐름도이다.
[주요 도면부호의 설명]
10 : 테스터
12a ~ 12d : 신호 전송선
14 : 피검사 소자
20 : 핸들러
22a ~ 22d : 사이트
30 : 핸들러
32 : 디스플레이
34 : 제어 패널
36 : 호스트
38a : 로더
38b : 언로더
40 : 테스터
50 : 핸들러
52 : 테스트부
54a : 로더
54b : 언로더
58 : 자동 맵핑 모듈
56 : 호스트
60 : GUI
61 : 디스플레이
63 : 입력장치
62 : 사이트 옵션
64 : 테스터 용기(Bin) 옵션
66 : 관련 데이터 옵션
71 : 테스터 확인이 정확하면 피드백하도록 된 Bin을 입력
72 : 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트를 선택
73 : 피검사 소자를 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트에 위치시킴
74 : 자동 맵핑 검사를 진행
75 : 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑의 정확 여부를 판단.
76 : 소자를 인출.
77 : 사이트를 폐쇄.

Claims (5)

  1. 테스터; 및
    신호 전송선을 통해 상기 테스터와 양방향 신호 전송 커뮤니케이션을 진행하고, 자동 맵핑 모듈을 구비한 호스트를 포함한 핸들러
    를 포함하고,
    상기 자동 맵핑 모듈은 컴퓨터 판독가능한 기록매체를 포함하고, 상기 컴퓨터 판독가능한 기록매체는 CPU에 의해 실행되는 사이트 자동 맵핑 방법 프로그램 명령이 저장되어 있고, 상기 컴퓨터 판독가능한 기록매체의 CPU에 의해 실행되는 프로그램 명령은 사이트 자동 맵핑 방법을 실행하기 위한 것이고,
    상기 사이트 자동 맵핑 방법은,
    자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트 내의 피검사 소자에 대하여, 조작자가 선택한, 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기(Bin) 및 조작자가 선택한, 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트에 근거하여, 자동 맵핑 검사를 진행하는 단계, 상기 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑의 정확 여부를 판단하는 단계, 및 상기 사이트 맵핑이 정확하지 않을 경우 해당 사이트를 폐쇄하는 단계를 포함하는,
    사이트 자동 맵핑 진행용 테스트 시스템.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 조작자가 자동 맵핑을 진행하고자 하는 핸들러의 사이트와 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기의 맵핑이 정확한지를 비교 판단하는 자동 맵핑 모듈; 및
    상기 조작자가 핸들러 상의 자동 맵핑을 진행하고자 하는 사이트를 선택 또는 입력하고, 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기(Bin)를 선택 또는 입력하도록 마련된 GUI
    를 포함하고,
    상기 자동 맵핑 모듈은 CPU에 의해 실행되는 사이트 자동 맵핑 방법 프로그램 명령이 저장되어 있는 컴퓨터 판독가능한 기록매체를 포함하고, 상기 컴퓨터 판독가능한 기록매체의 CPU에 의해 실행되는 프로그램 명령은 사이트 자동 맵핑 방법을 실행하기 위한 것이고,
    상기 사이트 자동 맵핑 방법은,
    자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트 내의 피검사 소자에 대하여, 조작자가 선택한, 테스터 검증이 정확한 경우 피드백하도록 된 용기(Bin) 및 조작자가 선택한, 자동 맵핑 검사를 진행하고자 하는 사이트에 근거하여, 자동 맵핑 검사를 진행하는 단계, 상기 테스터와 핸들러의 사이트 맵핑의 정확 여부를 판단하는 단계, 및 상기 사이트 맵핑이 정확하지 않을 경우 해당 사이트를 폐쇄하는 단계를 포함하는,
    사이트 자동 맵핑 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 컴퓨터 판독가능한 기록매체에, CPU에 의해 실행가능한, C/C++언어로 편성된 사이트 자동 맵핑 방법 실행용 프로그램 명령이 저장된, 사이트 자동 맵핑 장치.
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012074186A (ja) 2010-09-28 2012-04-12 Ichikoh Ind Ltd 車両用灯具の半導体型光源の光源ユニット、車両用灯具
TWI495969B (zh) * 2013-05-08 2015-08-11 Pegatron Corp 站位順序自動偵測方法
CN112444730A (zh) * 2020-10-15 2021-03-05 绍兴网策科技有限公司 一种多Site模式测试装置防呆方法和测试机防呆方法
CN114070765B (zh) * 2021-11-02 2023-05-23 广东利扬芯片测试股份有限公司 通信接口测试电路及方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040089897A (ko) * 2003-04-15 2004-10-22 삼성전자주식회사 소켓 이상 유무를 실시간으로 판단하는 반도체 소자의전기적 검사방법
KR20060035976A (ko) * 2004-10-21 2006-04-27 삼성전자주식회사 핸들러 원격 제어가 가능한 반도체 소자의 검사 시스템 및그 작동방법

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0637158A (ja) * 1992-07-15 1994-02-10 Advantest Corp 半導体試験装置のハンドラの被測定半導体番号確認方法およびこの方法を採用した半導体同時測定方法
TW584922B (en) * 2002-07-03 2004-04-21 United Test Ct Inc Method of manufacturing semiconductor package
TWM348235U (en) * 2008-08-29 2009-01-01 Mei-Hui Wu Structure improvement of testing machine

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040089897A (ko) * 2003-04-15 2004-10-22 삼성전자주식회사 소켓 이상 유무를 실시간으로 판단하는 반도체 소자의전기적 검사방법
KR20060035976A (ko) * 2004-10-21 2006-04-27 삼성전자주식회사 핸들러 원격 제어가 가능한 반도체 소자의 검사 시스템 및그 작동방법

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