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KR101001490B1 - Liquid Crystal Display - Google Patents

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KR101001490B1
KR101001490B1 KR1020030090524A KR20030090524A KR101001490B1 KR 101001490 B1 KR101001490 B1 KR 101001490B1 KR 1020030090524 A KR1020030090524 A KR 1020030090524A KR 20030090524 A KR20030090524 A KR 20030090524A KR 101001490 B1 KR101001490 B1 KR 101001490B1
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KR
South Korea
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electrode
gate line
pixel
liquid crystal
pixel electrode
Prior art date
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KR1020030090524A
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Korean (ko)
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KR20050058593A (en
Inventor
장윤경
유상희
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엘지디스플레이 주식회사
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Publication date
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    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line

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Abstract

본 발명에 의한 액정표시장치는, 하부기판 상에 서로 교차하며 형성되는 다수의 게이트 라인 및 데이터 라인과; 상기 게이트 라인 및 데이터 라인이 교차되는 영역 상에 형성되는 다수의 화소전극과; 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 교차부에 형성되는 다수의 박막트랜지스터가 구비되는 액정표시장치에 있어서,According to an exemplary embodiment of the present invention, a liquid crystal display includes: a plurality of gate lines and data lines formed to cross each other on a lower substrate; A plurality of pixel electrodes formed on a region where the gate line and the data line cross each other; In a liquid crystal display device comprising a plurality of thin film transistors formed at the intersection of the gate line and the data line,

축적 캐패시터의 제 1전극으로 사용되는 상기 게이트 라인의 소정 부분과 상기 게이트 라인에 인접하는 상기 화소 전극 부분이 배향막의 러빙 방향과 동일한 방향으로 기울어진 구조로 형성됨을 특징으로 한다. The predetermined portion of the gate line used as the first electrode of the storage capacitor and the pixel electrode portion adjacent to the gate line are formed to be inclined in the same direction as the rubbing direction of the alignment layer.

이와 같은 본 발명에 의하면, 마스크의 증가 또는 공정의 증가, 공정의 변경 없이 빛샘 현상을 최소화할 수 있으며, 상기 빛샘 현상을 최소화함으로써 결과적으로 동일 개구율을 유지하면서 Contrast Ratio를 확보할 수 있다.According to the present invention, the light leakage phenomenon can be minimized without increasing the mask, increasing the process, or changing the process. As a result, the contrast ratio can be secured while maintaining the same aperture ratio by minimizing the light leakage phenomenon.

Description

액정표시장치{Liquid Crystal Display}Liquid Crystal Display

도 1은 일반적인 액정표시장치의 일부를 나타내는 분해 사시도.1 is an exploded perspective view showing a part of a general liquid crystal display device.

도 2는 종래의 액정표시장치용 어레이기판의 일부 화소를 개략적으로 도시한 확대 평면도.2 is an enlarged plan view schematically showing some pixels of a conventional array substrate for a liquid crystal display device;

도 3은 도 2의 특정부분 Ⅰ-Ⅰ에 대한 단면도.3 is a cross-sectional view of a specific part I-I of FIG. 2;

도 4는 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이기판의 일부 화소를 개략적으로 도시한 확대 평면도.4 is an enlarged plan view schematically showing some pixels of an array substrate for a liquid crystal display according to the present invention;

도 5는 도 4의 특정부분 Ⅱ-Ⅱ에 대한 단면도.FIG. 5 is a sectional view of a specific part II-II of FIG. 4; FIG.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

43 : 게이트 라인 45 : 데이터 라인43: gate line 45: data line

47 : 전단 화소전극 49 : 후단 화소전극47: front pixel electrode 49: rear pixel electrode

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 러빙 불량에 의한 빛샘 현상을 극복하는 화소 구조를 갖는 액정표시장치에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device having a pixel structure that overcomes light leakage caused by poor rubbing.

일반적으로 액정표시장치의 구동원리는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용한다. 상기 액정은 구조가 가늘고 길기 때문에 분자의 배열에 방향성을 가지고 있으며, 인위적으로 액정에 전기장을 인가하여 분자배열의 방향을 제어할 수 있다.In general, the driving principle of the liquid crystal display device uses the optical anisotropy and polarization of the liquid crystal. Since the liquid crystal is thin and long in structure, the liquid crystal has directivity in the arrangement of molecules, and the direction of the molecular arrangement can be controlled by artificially applying an electric field to the liquid crystal.

이에 따라, 상기 액정의 분자배열 방향을 임의로 조절하면, 액정의 분자배열이 변하게 되고, 광학적 이방성에 의하여 편광된 빛이 임의로 변조되어 화상정보를 표현할 수 있다. Accordingly, if the molecular arrangement direction of the liquid crystal is arbitrarily adjusted, the molecular arrangement of the liquid crystal is changed, and light polarized by optical anisotropy may be arbitrarily modulated to express image information.

이러한 상기 액정은 전기적인 특성 분류에 따라 유전율 이방성이 양(+)인 포지티브 액정과 음(-)인 네거티브 액정으로 구분될 수 있으며, 유전율 이방성이 양인 액정분자는 전기장이 인가되는 방향으로 액정분자의 장축이 평행하게 배열하고, 유전율 이방성이 음인 액정분자는 전기장이 인가되는 방향과 액정분자의 장축이 수직하게 배열한다.The liquid crystal may be classified into a positive liquid crystal having a positive dielectric anisotropy and a negative liquid crystal having a negative dielectric anisotropy according to an electrical property classification. The long axes are arranged in parallel, and the liquid crystal molecules having negative dielectric anisotropy are arranged in the direction in which the electric field is applied and the long axes of the liquid crystal molecules are perpendicular to each other.

현재에는 박막트랜지스터와, 상기 박막트랜지스터에 연결된 화소전극이 행렬방식으로 배열된 액티브 매트릭스형 액정표시장치(Active Matrix LCD)가 해상도 및 동영상 구현능력이 우수하여 일반적으로 사용되고 있다.Nowadays, thin film transistors and active matrix LCDs in which pixel electrodes connected to the thin film transistors are arranged in a matrix manner have been commonly used because of their excellent resolution and video performance.

상기 액정표시장치를 구성하는 기본적인 부품인 액정패널의 구조를 살펴보면 다음과 같다. The structure of the liquid crystal panel, which is a basic component of the liquid crystal display, is as follows.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 일부를 나타내는 분해 사시도이다.1 is an exploded perspective view showing a part of a general liquid crystal display device.

도 1을 참조하면, 일반적인 액정표시장치(11)는 블랙매트릭스(6)와 서브컬러필터(적, 녹, 청)(8)를 포함한 컬러필터(7)와, 컬러필터 상에 투명한 공통전극(18)이 형성된 상부기판(5)과, 화소영역(P)과 상기 화소영역 상에 형성된 화소전극(17)과 스위칭소자(T)를 포함한 어레이배선이 형성된 하부기판(22)으로 구성되며, 상기 상부기판(5)과 하부기판(22) 사이에는 앞서 설명한 액정(14)이 충진되어 있다.Referring to FIG. 1, a general liquid crystal display device 11 includes a color filter 7 including a black matrix 6 and a sub-color filter (red, green, blue) 8, and a common electrode transparent on the color filter. An upper substrate 5 having an 18 formed thereon, and a lower substrate 22 having an array wiring including a pixel region P, a pixel electrode 17 formed on the pixel region, and a switching element T. The liquid crystal 14 described above is filled between the upper substrate 5 and the lower substrate 22.

상기 하부기판(22)은 어레이 기판이라고도 하며, 스위칭 소자인 박막트랜지스터(T)가 매트릭스 형태로 위치하고, 이러한 다수의 박막트랜지스터를 교차하여 지나가는 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 형성된다.The lower substrate 22 is also referred to as an array substrate, and the thin film transistor T, which is a switching element, is disposed in a matrix form, and a gate line 13 and a data line 15 passing through the plurality of thin film transistors are formed.

또한, 상기 화소영역(P)은 상기 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 교차하여 정의되는 영역이다. 상기 화소영역(P) 상에 형성되는 화소전극(17)은 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 같이 빛의 투과율이 비교적 뛰어난 투명 전도성 금속을 사용한다. In addition, the pixel area P is a region where the gate line 13 and the data line 15 cross each other. The pixel electrode 17 formed on the pixel region P uses a transparent conductive metal having a relatively high transmittance of light, such as indium tin oxide (ITO).

상기와 같이 구성되는 액정표시장치(11)는 상기 화소전극(17) 상에 위치한 액정층(14)이 상기 박막트랜지스터로부터 인가된 신호에 의해 배향되고, 상기 액정층의 배향정도에 따라 상기 액정층을 투과하는 빛의 양을 조절하는 방식으로 화상을 표현할 수 있다.In the liquid crystal display device 11 configured as described above, the liquid crystal layer 14 positioned on the pixel electrode 17 is oriented by a signal applied from the thin film transistor, and the liquid crystal layer depends on the degree of alignment of the liquid crystal layer. The image can be expressed by controlling the amount of light passing through the image.

도 2는 종래의 액정표시장치용 어레이기판의 일부 화소를 개략적으로 도시한 확대 평면도이다. 2 is an enlarged plan view schematically illustrating some pixels of a conventional array substrate for a liquid crystal display device.

도 2를 참조하면, 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)이 교차하여 화소영역(P)을 정의하며 형성되고, 상기 게이트 라인(13)과 데이터 라인(15)의 교차지점에는 게이트전극(31)과 소스전극(33) 및 드레인전극(35)으로 구성된 박막트랜지스터(T)가 구성된다.Referring to FIG. 2, the gate line 13 and the data line 15 cross each other to define the pixel region P. The gate electrode 13 is formed at the intersection of the gate line 13 and the data line 15. A thin film transistor T composed of 31, a source electrode 33 and a drain electrode 35 is formed.

상기 소스전극(33)과 드레인전극(35)은 상기 게이트전극(31) 상부에서 소정간격 이격되어 구성되며, 이격된 사이로 액티브 채널(미도시)이 노출된다. The source electrode 33 and the drain electrode 35 are configured to be spaced apart from each other on the gate electrode 31 by a predetermined interval, and an active channel (not shown) is exposed between the source electrodes 33 and the drain electrode 35.                         

이와 같은 상기 박막트랜지스터의 게이트전극(31)에 소정의 스캐닝 펄스가 인가되면 이에 따라 게이트전극(31)의 전압이 높아지게 되고, 상기 박막트랜지스터는 온(on)상태로 된다. 이 때, 액정구동전압이 상기 데이터 라인(15)으로부터 박막트랜지스터(T)의 드레인, 소스간을 경유하여 액정에 인가되며, 액정용량과 축적용량을 합친 화소용량이 충전된다. When a predetermined scanning pulse is applied to the gate electrode 31 of the thin film transistor, the voltage of the gate electrode 31 is increased accordingly, and the thin film transistor is turned on. At this time, the liquid crystal driving voltage is applied to the liquid crystal from the data line 15 via the drain and the source of the thin film transistor T, and the pixel capacitance in which the liquid crystal capacitance and the storage capacitance are combined is charged.

여기서, 상기 축적용량은 게이트라인(13)의 일부와 이에 중첩되는 후단부 화소전극(19)의 일부 및, 상기 게이트라인(13)의 일부와 이에 중첩되는 보조전극(18)으로 구성되는 온 게이트(on gate) 방식의 축적 캐패시터에 의해 형성된다.The storage capacitor may include an on-gate including a part of the gate line 13 and a part of the rear pixel electrode 19 overlapping the gate line 13, and a part of the gate line 13 and the auxiliary electrode 18 overlapping the gate line 13. It is formed by an on-gate accumulation capacitor.

도 3은 도 2의 특정부분 Ⅰ-Ⅰ에 대한 단면도로, 이는 상기 축적 캐패시터 영역에 대한 단면도이다.3 is a cross sectional view of a specific portion I-I of FIG. 2, which is a cross sectional view of the accumulation capacitor region;

도 3을 참조하면, 기판(100) 상에 축적 캐패시터의 제 1 전극으로 사용되는 게이트라인(13)이 형성되어 있고, 상기 게이트라인(13)을 포함하는 기판의 노출된 면에 게이트 절연막(12)이 형성되어 있다.Referring to FIG. 3, a gate line 13 used as a first electrode of an accumulation capacitor is formed on a substrate 100, and a gate insulating layer 12 is formed on an exposed surface of the substrate including the gate line 13. ) Is formed.

그리고, 상기 게이트 절연막(12) 상에는 소스/드레인 전극 형성용 금속층으로 형성된 캐패시터의 제 2 전극으로 사용되는 보조전극(18)이 형성되어 있다. An auxiliary electrode 18 used as the second electrode of the capacitor formed of the metal layer for forming the source / drain electrodes is formed on the gate insulating layer 12.

또한, 상기 보조전극(18)을 보호막(14)이 덮고 있으며, 보호막(14)에는 보조전극(18)의 일부를 노출시키는 콘택홀이 형성되어 있고, 상기 콘택홀을 통하여 화소전극(19)이 보조전극(18)과 연결되면서 보호막(14) 상에 형성되어 있다.In addition, the passivation layer 14 covers the auxiliary electrode 18, and a contact hole for exposing a part of the auxiliary electrode 18 is formed in the passivation layer 14, and the pixel electrode 19 is formed through the contact hole. It is formed on the passivation layer 14 while being connected to the auxiliary electrode 18.

상기와 같이 게이트 라인, 데이터 라인 및 화소 등의 구비된 어레이 기판 즉,하부기판이 형성되면, 이는 상부기판과 합착되고, 그 사이에 액정층이 형성되는데, 이 때 상기 하부기판의 하부에 배면광(back light)을 통해 조사되는 빛이 상기 화소 이외의 영역에서 새는 것을 방지하기 위해 상기 게이트 라인(13), 데이터 라인(15), 박막트랜지스터(T) 등과 중첩되는 상부기판(미도시) 상의 영역에 블랙매트릭스(BM)가 형성된다. 상기 블랙매트릭스(BM)가 형성되는 부분(20)은 도 2에 도시되어 있다. As described above, when an array substrate including a gate line, a data line, and a pixel is formed, that is, a lower substrate, it is bonded to an upper substrate, and a liquid crystal layer is formed therebetween, wherein the back light is disposed below the lower substrate. area on the upper substrate (not shown) overlapping with the gate line 13, the data line 15, the thin film transistor T, and the like to prevent the light emitted through the back light from leaking in the region other than the pixel. Black matrix BM is formed on the substrate. The portion 20 in which the black matrix BM is formed is shown in FIG. 2.

또한, 상기 상, 하부기판에는 상기 액정층과의 접촉면에서 각각 전압 인가시 액정의 배향을 용이하게 해주는 상, 하부 배향막(미도시)이 형성되어 있다.In addition, upper and lower alignment layers (not shown) are formed on the upper and lower substrates to facilitate the alignment of the liquid crystal when voltage is applied to the contact surface with the liquid crystal layer, respectively.

일반적으로 상기 배향막에는 액정의 배향을 일정하게 하고, 액정의 배향을 용이하게 유도하기 위한 선 경사각(pretilt angle)을 주기 위해 러빙처리를 하게 된다. 상기 러빙처리는 러빙포로 감싼 회전 롤러를 기판과 일정한 각도를 유지하며 압력을 가하여 배향막에 일정한 홈을 형성하는 것으로, 단차부가 형성된 기판의 경우 상기 단차부에 대해 러빙 불량이 발생될 수 있다. In general, the alignment layer is subjected to a rubbing treatment in order to make the alignment of the liquid crystal constant and to give a pretilt angle for easily inducing the alignment of the liquid crystal. The rubbing treatment is to form a certain groove in the alignment layer by applying a pressure to the rotating roller wrapped with a rubbing cloth while maintaining a constant angle with the substrate, in the case of a substrate having a stepped portion, rubbing failure may occur with respect to the stepped portion.

이 때, 상기 하부기판은 상부기판에 비해 다수의 공정 즉, 증착, 포토리소그래피 등의 공정이 여러 번 반복되어 제작되기 때문에, 다수개의 어레이 소자들이 단차를 이루게 되어, 상기 상부기판에 비해 단차 빈도가 높게 된다.In this case, since the lower substrate is manufactured by repeating a plurality of processes, that is, deposition, photolithography, and the like, many times, compared to the upper substrate, a plurality of array elements form a step, and a step frequency is higher than that of the upper substrate. Becomes high.

이에 따라 상기 배향막의 주 시야각 확보를 위해 도 2에 도시된 바와 같이 위에서 아래로 45°각도로 하부기판을 러빙 처리 할 때, 상기 어레이 소자들의 단차에 의해 러빙이 불균일하게 이루어 지기 쉽고, 상기 불균일한 러빙에 의해 빛샘 현상이 발생될 수 있는 것이다.Accordingly, when rubbing the lower substrate at an angle of 45 ° from top to bottom as shown in FIG. 2 to secure the main viewing angle of the alignment layer, rubbing is likely to occur unevenly due to the step of the array elements, and the non-uniformity Light leakage may occur due to rubbing.

특히 도 3에 도시된 바와 같이 축적 캐패시터 영역에는 게이트 라인, 보조전 극, 화소전극이 적층되어, 단차가 크게 형성되어 있으며, 그에 따라 상기와 같이 위에서 아래로 45°각도로 하부기판을 러빙 처리하게 되면, 상기 축적 캐패시터 영역의 단차부에 의해 러빙 불량이 발생되어 상기 영역에서 빛샘 현상이 유발되는 것이다.In particular, as shown in FIG. 3, the storage capacitor region has a gate line, an auxiliary electrode, and a pixel electrode stacked thereon to form a large step, thereby rubbing the lower substrate at an angle of 45 ° from the top to the bottom as described above. As a result, rubbing defects are generated by the stepped portion of the accumulation capacitor region, causing light leakage in the region.

이 때, 상기 러빙 방향은 주 시야각을 맞추기 위하여 그 변경이 불가능하고, 또한, 러빙 불량에 의한 빛샘 현상을 극복하기 위해 상기 영역에 해당하는 상부기판의 영역에 BM을 형성할 경우 액정표시장치의 개구율이 저하되는 문제점이 있다.At this time, the rubbing direction cannot be changed to match the main viewing angle, and the aperture ratio of the liquid crystal display device when the BM is formed in the region of the upper substrate corresponding to the region to overcome the light leakage caused by the rubbing failure. There is a problem of this deterioration.

본 발명은 축적 캐패시터의 제 1전극으로 사용되는 게이트 라인의 소정 부분과 상기 게이트 라인에 인접하는 화소 전극 부분이 배향막의 러빙 방향과 동일한 방향으로 기울어진 구조로 형성됨으로써, 러빙 불량에 따른 빛샘 현상을 최소화하는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.According to an embodiment of the present invention, a predetermined portion of a gate line used as a first electrode of an accumulation capacitor and a pixel electrode portion adjacent to the gate line are formed to be inclined in the same direction as the rubbing direction of the alignment layer, thereby preventing light leakage. It is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device that minimizes the amount.

상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 액정표시장치는, 하부기판 상에 서로 교차하며 형성되는 다수의 게이트 라인 및 데이터 라인과; 상기 게이트 라인 및 데이터 라인이 교차되는 영역 상에 형성되는 다수의 화소전극과; 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 교차부에 형성되는 다수의 박막트랜지스터가 구비되는 액정표시장치에 있어서,In order to achieve the above object, a liquid crystal display device includes: a plurality of gate lines and data lines formed to cross each other on a lower substrate; A plurality of pixel electrodes formed on a region where the gate line and the data line cross each other; In a liquid crystal display device comprising a plurality of thin film transistors formed at the intersection of the gate line and the data line,

축적 캐패시터의 제 1전극으로 사용되는 상기 게이트 라인의 소정 부분과 상기 게이트 라인에 인접하는 상기 화소 전극 부분이 배향막의 러빙 방향과 동일한 방향으로 기울어진 구조로 형성됨을 특징으로 한다. The predetermined portion of the gate line used as the first electrode of the storage capacitor and the pixel electrode portion adjacent to the gate line are formed to be inclined in the same direction as the rubbing direction of the alignment layer.

여기서, 상기 화소 전극 부분은, 상기 게이트 라인의 전단부에 형성되어 상기 박막트랜지스터와 전기적으로 연결되는 전단 화소전극의 하부 영역 및 상기 게이트 라인과 소정 영역 중첩되어 축적 캐패시터를 형성하는 후단 화소전극의 상부 영역임을 특징으로 한다.Here, the pixel electrode portion is formed at the front end of the gate line, and the lower region of the front pixel electrode electrically connected to the thin film transistor and the upper portion of the rear pixel electrode overlapping the gate line with a predetermined region to form an accumulation capacitor. It is characterized by an area.

또한, 상기 게이트 라인 및 상기 게이트 라인과 소정 영역 중첩되는 후단 화소 전극 사이에 상기 축적 캐패시터의 제 2전극으로 사용되는 보조 전극이 개재됨을 특징으로 한다. In addition, an auxiliary electrode used as a second electrode of the storage capacitor is interposed between the gate line and a rear pixel electrode overlapping the gate line with a predetermined region.

또한, 상기 배향막의 러빙 방향은 위에서 아래로 45°각도 이며, 상기 박막트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 드레인 전극이 포함되어 구성되며, 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극이 상기 전단 화소 전극과 전기적으로 접속됨을 특징으로 한다. In addition, the rubbing direction of the alignment layer is 45 degrees from the top to the bottom, and the thin film transistor includes a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode, and the drain electrode of the thin film transistor is electrically connected to the front end pixel electrode. It features.

이와 같은 본 발명에 의하면, 마스크의 증가 또는 공정의 증가, 공정의 변경 없이 빛샘 현상을 최소화할 수 있으며, 상기 빛샘 현상을 최소화함으로써 결과적으로 동일 개구율을 유지하면서 Contrast Ratio를 확보할 수 있다.According to the present invention, the light leakage phenomenon can be minimized without increasing the mask, increasing the process, or changing the process. As a result, the contrast ratio can be secured while maintaining the same aperture ratio by minimizing the light leakage phenomenon.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 실시예를 상세히 설명하도록 한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이기판의 일부 화소를 개략적으로 도시한 확대 평면도이다. 4 is an enlarged plan view schematically illustrating some pixels of an array substrate for a liquid crystal display according to the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명에 의한 액정표시장치용 어레이기판 즉, 하부기판 상에는 게이트 라인(43)과 데이터 라인(45)이 서로 교차하여 화소영역(P)을 정의하며 형성되고, 상기 게이트 라인(43)과 데이터 라인(45)의 교차지점에는 게이트전극(51)과 소스전극(53) 및 드레인전극(55)으로 구성된 박막트랜지스터(T)가 구성된다.Referring to FIG. 4, a gate line 43 and a data line 45 cross each other to define a pixel region P on an array substrate for a liquid crystal display device, that is, a lower substrate according to the present invention. The thin film transistor T composed of the gate electrode 51, the source electrode 53, and the drain electrode 55 is formed at the intersection of the 43 and the data line 45.

또한, 상기 상기 게이트 라인(43) 및 데이터 라인(45)이 교차되는 영역 즉, 상기 화소영역(P)에는 제 1 화소전극(47)과 제 2 화소전극(49)이 형성된다. 상기 제 1 화소전극(47)은 게이트 라인(43)을 기준으로 전단 화소영역에 형성된 화소전극이고, 제 2 화소전극(49)은 게이트 라인(43)을 기준으로 후단 화소영역에 형성된 화소전극이다.In addition, a first pixel electrode 47 and a second pixel electrode 49 are formed in an area where the gate line 43 and the data line 45 intersect, that is, the pixel area P. FIG. The first pixel electrode 47 is a pixel electrode formed in the front pixel area based on the gate line 43, and the second pixel electrode 49 is a pixel electrode formed in the rear pixel area based on the gate line 43. .

본 발명의 경우 상기 화소영역(P)의 전단 화소영역과 후단 화소영역을 소정의 기울기로 상기 게이트 라인(43)이 가로지르고, 상기 게이트 라인(43)과 인접한 제 1 화소전극(47) 및 제 2 화소전극(49)도 상기 게이트 라인(43)과 평행하게 소정의 기울기로 형성된다. 상기 게이트 라인(43)은 배향막의 러빙 방향과 동일한 방향으로 소정의 각도를 갖도록 형성됨을 그 특징으로 한다. 또한, 상기 게이트 라인(43)과 교차하는 데이터 라인(45)은 종래 기술과 같이 하부기판에 대해 수직한 직선 방향으로 형성된다. In an exemplary embodiment of the present invention, the gate line 43 crosses the front pixel area and the rear pixel area of the pixel area P with a predetermined slope, and the first pixel electrode 47 and the first pixel electrode adjacent to the gate line 43 are formed. The two pixel electrodes 49 are also formed at predetermined inclination in parallel with the gate line 43. The gate line 43 is formed to have a predetermined angle in the same direction as the rubbing direction of the alignment layer. In addition, the data line 45 crossing the gate line 43 is formed in a straight line direction perpendicular to the lower substrate as in the prior art.

여기서, 상기 게이트 라인(43)과 대응되게 기울기를 갖도록 형성되는 화소 전극의 부분은, 상기 게이트 라인(43)의 전단부에 형성되어 상기 박막트랜지스터와 전기적으로 연결되는 제 1 화소전극(47)의 하부 영역 및 상기 게이트 라인(43)과 소정 영역 중첩되어 축적 캐패시터를 형성하는 제 2 화소전극(49)의 상부 영역이 되는 것이다. 따라서, 상기 게이트 라인(43)은 화소영역(P)에서 상기 데이터 라인(45)을 기준으로 소정의 각도로(도면 상에서는 러빙방향과 동일한 45°각도를 갖도록) 전단 화소영역의 하부 영역에서 후단 화소영역의 상부영역 방향으로 형성된다. 즉, 화소영역(P)의 중앙부를 기준으로 대각선 방향으로 절단하는 형태로 게이트 라인(43)이 형성된다. 이와 대응되도록 상기 제 1 화소전극(47)의 하부영역의 측면과 상기 제 2 화소전극(49)의 상부영역의 측면이 상기 게이트 라인(43)과 동일한 각도를 갖도록 형성된다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 게이트 라인(43)과 인접하지 않고, 상기 데이터 라인(45)과 인접한 제 1 화소전극(47)과 제 2 화소전극(49)의 측면은 수직한 방향으로 형성된 데이터 라인(45)과 각각 평행하게 형성된다. 즉, 제 1 화소전극(47)과 제 2 화소전극(49)은 데이터 라인(45)과 인접한 좌우측면은 수직한 면을 갖고, 상기 소정의 기울기를 갖도록 화소영역(P)을 가로지르도록 형성된 게이트 라인(43)과 인접한 제 1 화소전극(47)과 제 2 화소전극의 상하측면은 각각 러빙방향과 동일한 경사각을 각도록 형성된다.Here, the portion of the pixel electrode which is formed to have a slope corresponding to the gate line 43 is formed at the front end of the gate line 43 of the first pixel electrode 47 electrically connected to the thin film transistor. The upper region of the second pixel electrode 49 overlapping the lower region and the gate line 43 with a predetermined region to form a storage capacitor. Accordingly, the gate line 43 is the rear pixel in the lower region of the front pixel region at a predetermined angle with respect to the data line 45 in the pixel region P (to have the same 45 ° angle as the rubbing direction in the drawing). It is formed in the direction of the upper region of the region. That is, the gate line 43 is formed in the form of cutting in the diagonal direction with respect to the center portion of the pixel region P. FIG. Correspondingly, the side surface of the lower region of the first pixel electrode 47 and the side surface of the upper region of the second pixel electrode 49 have the same angle as that of the gate line 43. As shown in FIG. 4, the side surfaces of the first pixel electrode 47 and the second pixel electrode 49 which are not adjacent to the gate line 43 but adjacent to the data line 45 are formed in a vertical direction. It is formed in parallel with the data line 45, respectively. That is, the first pixel electrode 47 and the second pixel electrode 49 have a vertical surface on the left and right sides adjacent to the data line 45 and are formed to cross the pixel region P to have the predetermined slope. Upper and lower surfaces of the first pixel electrode 47 and the second pixel electrode adjacent to the gate line 43 are formed to have the same inclination angle as the rubbing direction.

상기 박막트랜지스터의 소스전극(53)과 드레인전극(55)은 상기 게이트전극(51) 상부에서 소정간격 이격되어 구성되며, 이격된 사이로 액티브 채널(미도시)이 노출되며, 상기 드레인 전극(55)이 상기 제 1 화소전극(47)과 전기적으로 접속되어, 데이터 라인(45)으로부터 인가되는 신호를 상기 제 1 화소전극(47)에 전달하게 된다. The source electrode 53 and the drain electrode 55 of the thin film transistor are configured to be spaced apart from each other by a predetermined interval on the gate electrode 51, and an active channel (not shown) is exposed between the drain electrode 55 and the drain electrode 55. The first pixel electrode 47 is electrically connected to the first pixel electrode 47 to transmit a signal applied from the data line 45.

즉, 상기 박막트랜지스터의 게이트전극(51)에 소정의 스캐닝 펄스가 인가되면 이에 따라 게이트전극(51)의 전압이 높아지게 되고, 상기 박막트랜지스터는 온(on) 상태로 된다. 이 때, 액정구동전압이 상기 데이터 라인(45)으로부터 박막트랜지스터(T)의 소스, 드레인 전극(53, 55)을 경유하여 제 1 화소전극(47)을 통해 액정에 인가되며, 결과적으로 액정용량과 축적용량을 합친 화소용량이 충전된다.That is, when a predetermined scanning pulse is applied to the gate electrode 51 of the thin film transistor, the voltage of the gate electrode 51 is increased accordingly, and the thin film transistor is turned on. At this time, a liquid crystal driving voltage is applied to the liquid crystal from the data line 45 through the first pixel electrode 47 via the source and drain electrodes 53 and 55 of the thin film transistor T and consequently the liquid crystal capacitance. The pixel capacity combined with the storage capacity is charged.

여기서, 상기 축적용량은 게이트라인(43)의 일부와 이에 중첩되는 제 2 화소전극(49)의 일부 및, 상기 게이트라인(43)의 일부와 이에 중첩되는 보조전극(48)으로 구성되는 온 게이트(on gate) 방식의 축적 캐패시터에 의해 형성된다.The storage capacitor may include an on-gate including a portion of the gate line 43 and a portion of the second pixel electrode 49 overlapping the gate line 43, and a portion of the gate line 43 and the auxiliary electrode 48 overlapping the gate line 43. It is formed by an on-gate accumulation capacitor.

도 5는 도 4의 특정부분 Ⅱ-Ⅱ에 대한 단면도로, 이는 상기 축적 캐패시터 영역에 대한 단면도이다.FIG. 5 is a sectional view of a specific portion II-II of FIG. 4, which is a sectional view of the accumulation capacitor region. FIG.

도 5를 참조하면, 기판(500) 상에 축적 캐패시터의 제 1 전극으로 사용되는 게이트라인(43)이 형성되어 있고, 상기 게이트라인(43)을 포함하는 기판의 노출된 면에 게이트 절연막(42)이 형성되어 있다.Referring to FIG. 5, a gate line 43 used as a first electrode of an accumulation capacitor is formed on a substrate 500, and a gate insulating layer 42 is formed on an exposed surface of the substrate including the gate line 43. ) Is formed.

그리고, 상기 게이트 절연막(42) 상에는 소스/드레인 전극 형성용 금속층으로 형성된 캐패시터의 제 2 전극으로 사용되는 보조전극(48)이 형성되어 있다. An auxiliary electrode 48 used as the second electrode of the capacitor formed of the metal layer for source / drain electrode formation is formed on the gate insulating layer 42.

또한, 상기 보조전극(48)을 보호막(44)이 덮고 있으며, 보호막(44)에는 보조전극(48)의 일부를 노출시키는 콘택홀이 형성되어 있고, 상기 콘택홀을 통하여 화소전극(49)이 보조전극(48)과 연결되면서 보호막(44) 상에 형성되어 있다.In addition, the passivation layer 44 covers the auxiliary electrode 48, and a contact hole exposing a part of the auxiliary electrode 48 is formed in the passivation layer 44, and the pixel electrode 49 is formed through the contact hole. It is formed on the passivation layer 44 while being connected to the auxiliary electrode 48.

상기와 같이 게이트 라인(43), 데이터 라인(45) 및 화소 등의 구비된 어레이 기판 즉, 하부기판이 형성되면, 이는 상부기판(미도시)과 합착되고, 그 사이에 액정층(미도시)이 형성되는데, 이 때 상기 하부기판의 하부에 배면광(back light)을 통해 조사되는 빛이 상기 화소 이외의 영역에서 새는 것을 방지하기 위해 상기 게 이트 라인(43), 데이터 라인(45), 박막트랜지스터(T) 등과 중첩되는 상부기판(미도시) 상의 영역에 블랙매트릭스(BM)가 형성된다. As described above, when the array substrate provided with the gate line 43, the data line 45, and the pixel, that is, the lower substrate, is formed, it is bonded to the upper substrate (not shown), and the liquid crystal layer (not shown) therebetween. At this time, the gate line 43, the data line 45, the thin film in order to prevent the light emitted through the back light to the lower portion of the lower substrate to prevent leakage in areas other than the pixel The black matrix BM is formed in a region on the upper substrate (not shown) overlapping the transistor T or the like.

상기 블랙매트릭스(BM)가 형성되는 부분(40)은 도 4에 도시되어 있다. The portion 40 in which the black matrix BM is formed is shown in FIG. 4.

또한, 상기 상, 하부기판에는 상기 액정층과의 접촉면에서 각각 전압 인가시 액정의 배향을 용이하게 해주는 상, 하부 배향막(미도시)이 형성되어 있다.In addition, upper and lower alignment layers (not shown) are formed on the upper and lower substrates to facilitate the alignment of the liquid crystal when voltage is applied to the contact surface with the liquid crystal layer, respectively.

일반적으로 상기 배향막에는 액정의 배향을 일정하게 하고, 액정의 배향을 용이하게 유도하기 위한 선 경사각(pretilt angle)을 주기 위해 러빙처리를 하게 된다. 상기 러빙처리는 러빙포로 감싼 회전 롤러를 기판과 일정한 각도를 유지하며 압력을 가하여 배향막에 일정한 홈을 형성하는 것으로, 단차부가 형성된 기판의 경우 상기 단차부에 대해 러빙 불량이 발생될 수 있다. In general, the alignment layer is subjected to a rubbing treatment in order to make the alignment of the liquid crystal constant and to give a pretilt angle for easily inducing the alignment of the liquid crystal. The rubbing treatment is to form a certain groove in the alignment layer by applying a pressure to the rotating roller wrapped with a rubbing cloth while maintaining a constant angle with the substrate, in the case of a substrate having a stepped portion, rubbing failure may occur with respect to the stepped portion.

이 때, 상기 하부기판은 상부기판에 비해 다수의 공정 즉, 증착, 포토리소그래피 등의 공정이 여러 번 반복되어 제작되기 때문에, 다수개의 어레이 소자들이 단차를 이루게 되어, 상기 상부기판에 비해 단차 빈도가 높게 된다.In this case, since the lower substrate is manufactured by repeating a plurality of processes, that is, deposition, photolithography, and the like, many times, compared to the upper substrate, a plurality of array elements form a step, and a step frequency is higher than that of the upper substrate. Becomes high.

종래의 경우 상기 축적 캐패시터 영역에는 게이트 라인, 보조전극, 화소전극이 적층되어 단차가 크게 형성되어 있기 때문에, 상기와 같이 위에서 아래로 45°각도로 하부기판을 러빙 처리하게 되면, 상기 축적 캐패시터 영역의 단차부에 의해 러빙 불량이 발생되어 상기 영역에서 빛샘 현상이 유발되는 문제가 있었다.In the conventional case, since the gate capacitor, the auxiliary electrode, and the pixel electrode are stacked in the accumulation capacitor region, the stepped portion is formed to be large. Thus, when the lower substrate is rubbed at an angle of 45 ° from the top to the bottom, There was a problem in that rubbing is caused by the stepped portion, causing light leakage in the area.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 극복하기 위하여 화소영역(P)을 가로지르는 영역의 상기 게이트 라인 즉, 상기 축적 캐패시터의 제 1전극으로 사용되는 게이트 라인의 소정 부분과 상기 영역 상의 게이트 라인에 인접하는 상기 화소 전극 부분 이 배향막의 러빙 방향과 동일한 방향으로 기울어진 구조로 형성한다.In order to overcome the above-described problems, the present invention provides a method for overcoming the gate line in the region crossing the pixel region P, that is, the gate line used as the first electrode of the storage capacitor and adjacent to the gate line on the region. The pixel electrode portion is formed to be inclined in the same direction as the rubbing direction of the alignment layer.

이 때, 상기 배향막의 러빙 방향은 위에서 아래로 45°각도이므로, 상기 영역에서의 게이트 라인 및 상기 게이트 라인에 인접한 화소전극 부분도 이와 같이 위에서 아래로 45°각도로 기울어진 구조로 형성하게 된다.At this time, since the rubbing direction of the alignment layer is 45 degrees from the top to the bottom, the gate line in the region and the pixel electrode portion adjacent to the gate line are formed in such a manner as to be inclined from the top to the bottom by 45 degrees.

여기서, 상기 화소 전극 부분은, 도 4에 도시된 바와 같이 상기 게이트 라인(43)의 전단부에 형성되어 상기 박막트랜지스터와 전기적으로 연결되는 제 1 화소전극(47)의 하부 영역 및 상기 게이트 라인(43)과 소정 영역 중첩되어 축적 캐패시터를 형성하는 제 2 화소전극(49)의 상부 영역이 되는 것이다. Here, the pixel electrode portion is formed at the front end of the gate line 43 as shown in FIG. 4, and the lower region and the gate line of the first pixel electrode 47 electrically connected to the thin film transistor. The upper region of the second pixel electrode 49 overlapping with the predetermined region 43 to form the storage capacitor.

이와 같이 큰 단차부가 형성되는 상기 축적 캐패시터 영역을 상기 러빙 방향과 일치하도록 형성함으로써, 상기 영역에서의 러빙 불량에 따른 빛샘 현상을 극복할 수 있게 된다.By forming the accumulation capacitor region in which the large stepped portion is formed so as to coincide with the rubbing direction, it is possible to overcome the light leakage phenomenon due to rubbing failure in the region.

결과적으로 본 발명과 같은 구조를 취하면, 동일 개구율을 유지하면서 빛샘을 최소화할 수 있게 되고, 그에 따라 액정표시장치의 화질도 향상되는 것이다.As a result, when the structure of the present invention is taken, light leakage can be minimized while maintaining the same aperture ratio, thereby improving the image quality of the liquid crystal display.

본 발명에 의한 액정표시장치에 의하면, 마스크의 증가 또는 공정의 증가, 공정의 변경 없이 빛샘 현상을 최소화할 수 있으며, 상기 빛샘 현상을 최소화함으로써 결과적으로 동일 개구율을 유지하면서 Contrast Ratio를 확보할 수 있다는 장점이 있다.According to the liquid crystal display according to the present invention, the light leakage phenomenon can be minimized without increasing the mask, increasing the process, or changing the process. As a result, the contrast ratio can be secured while maintaining the same aperture ratio by minimizing the light leakage phenomenon. There is an advantage.

Claims (6)

하부기판 상에 서로 교차하며 형성되는 다수의 게이트 라인 및 데이터 라인과; 상기 게이트 라인 및 데이터 라인이 교차되는 영역 상에 형성되는 다수의 화소전극과; 상기 게이트 라인 및 데이터 라인의 교차부에 형성되는 다수의 박막트랜지스터가 구비되는 액정표시장치에 있어서,A plurality of gate lines and data lines formed to cross each other on the lower substrate; A plurality of pixel electrodes formed on a region where the gate line and the data line cross each other; In a liquid crystal display device comprising a plurality of thin film transistors formed at the intersection of the gate line and the data line, 상기 데이터 라인과 교차하는 게이트 라인을 기준으로 전단 화소영역과 후단 화소영역을 화소영역으로 정의하고, 상기 전단 화소영역과 후단 화소영역에 형성되는 화소전극을 각각 제 1 화소전극과 제 2 화소전극이라 할 때,A front pixel region and a rear pixel region are defined as pixel regions based on a gate line intersecting the data line, and pixel electrodes formed in the front pixel region and the rear pixel region are referred to as a first pixel electrode and a second pixel electrode, respectively. when doing, 상기 데이터 라인은 하부기판을 기준으로 수직한 직선 형태로 형성되고, 상기 데이터 라인과 교차하는 게이트 라인은 배향막의 러빙 방향과 동일한 방향으로 상기 화소영역을 가로질러 형성되고,The data line is formed in a straight line perpendicular to the lower substrate, the gate line intersecting the data line is formed across the pixel area in the same direction as the rubbing direction of the alignment layer, 상기 게이트 라인과 인접한 상기 전단 화소영역에 형성된 제 1 화소전극의 측면과 상기 후단 화소영역에 형성된 제 2 화소전극의 측면은 상기 게이트 라인과 평행하도록 동일한 기울기로 경사져있고, 상기 수직한 데이터 라인과 인접한 제 1 화소전극과 제 2 화소전극의 측면들은 각각 상기 데이터 라인과 평행한 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The side of the first pixel electrode formed in the front pixel region adjacent to the gate line and the side of the second pixel electrode formed in the rear pixel region are inclined at the same slope to be parallel to the gate line and adjacent to the vertical data line. And side surfaces of the first pixel electrode and the second pixel electrode are parallel to the data line, respectively. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 후단 화소영역의 축적 캐패시터는 상기 게이트 라인을 축적 캐패시터의 제 1 전극으로 하고, 후단 화소 영역의 제 2 화소전극과 전기적으로 연결된 보조전극을 축적 캐패시터의 제 2 전극을 하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The storage capacitor of the rear pixel region includes the gate line as the first electrode of the storage capacitor, and an auxiliary electrode electrically connected to the second pixel electrode of the rear pixel region as the second electrode of the storage capacitor. Display. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 보조전극은 상기 게이트 라인과 오버랩되도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the auxiliary electrode is disposed to overlap the gate line. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 배향막의 러빙 방향은 위에서 아래로 45°각도 임을 특징으로 하는 액정표시장치.And a rubbing direction of the alignment layer is 45 degrees from top to bottom. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 박막트랜지스터는 게이트 전극, 소스 전극, 드레인 전극이 포함되어 구성되며, 상기 박막트랜지스터의 드레인 전극이 상기 제 1 화소 전극과 전기적으로 접속됨을 특징으로 하는 액정표시장치.The thin film transistor includes a gate electrode, a source electrode, and a drain electrode, and the drain electrode of the thin film transistor is electrically connected to the first pixel electrode. 제 1 항에 있어서, 상기 게이트 라인을 기준으로 상기 제 1 화소전극은 이격되어 있고, 상기 제 2 화소전극은 상기 게이트 라인과 일부분 오버랩되어 있는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The liquid crystal display of claim 1, wherein the first pixel electrode is spaced apart from the gate line, and the second pixel electrode partially overlaps the gate line.
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