KR100555762B1 - 에어갭형 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법, 이를이용한 필터 및 듀플렉서 - Google Patents
에어갭형 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법, 이를이용한 필터 및 듀플렉서 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 34
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 56
- 229920000106 Liquid crystal polymer Polymers 0.000 claims abstract description 37
- 239000004977 Liquid-crystal polymers (LCPs) Substances 0.000 claims abstract description 37
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 24
- 239000010408 film Substances 0.000 claims abstract description 21
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 11
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 18
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 abstract description 6
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010703 silicon Substances 0.000 abstract description 6
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 4
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 4
- 238000001312 dry etching Methods 0.000 description 4
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000000306 component Substances 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000008358 core component Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/24—Constructional features of resonators of material which is not piezoelectric, electrostrictive, or magnetostrictive
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/58—Multiple crystal filters
- H03H9/582—Multiple crystal filters implemented with thin-film techniques
- H03H9/586—Means for mounting to a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
- H03H9/587—Air-gaps
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
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- H—ELECTRICITY
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
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- H03H9/10—Mounting in enclosures
- H03H9/1007—Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices
- H03H9/105—Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices the enclosure being defined by a cover cap mounted on an element forming part of the BAW device
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
- H03H9/171—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
- H03H9/172—Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
- H03H9/173—Air-gaps
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- Y10T29/42—Piezoelectric device making
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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Abstract
Description
Claims (10)
- 상면의 소정영역에 공동부를 구비하는 제1 기판;상기 제1 기판의 공동부에 제1 에어갭을 형성하기 위해 상기 제1 기판 상부에 접합된 유전막층;상기 유전막층 상부에 하부전극/압전층/상부전극으로 형성되는 적층공진부; 및하면의 소정영역에 공동부를 구비하고 상기 제1 기판과 접합되는 제2 기판; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator).
- 제 1항에 있어서,상기 유전막층은 액정고분자(LCP)로 형성된 소정 두께의 박막필름을 이용하 는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR.
- 제 1항에 있어서,상기 유전막층은 액정고분자(LCP)로 형성된 박막필름을 소정 두께로 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR.
- 제 1항에 있어서,상기 유전막층은 액정고분자(LCP)로 형성된 박막필름을 상기 제1 에어갭에 대응되는 소정영역만을 국부적으로 소정 두께로 식각하여 형성하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR.
- 상면의 소정영역에 공동부를 구비하는 제1 기판 상에 유전막을 적층하여 제1 에어갭을 형성하는 단계;상기 유전막층 상부표면에 적층공진부를 형성하는 단계; 및상기 제1 기판 및 하면의 소정영역에 공동부를 구비하는 제2 기판을 접합하여 제2 에어갭을 형성하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator) 제조 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 적층공진부를 형성하는 단계는,상기 유전막층 상부표면의 소정영역에 하부전극을 증착하는 단계;상기 제1 기판의 공동부에 대응되는 상기 하부전극 상부 표면에 압전층을 증착하는 단계; 및상기 압전층의 상부 표면 및 상기 하부전극이 증착되지 않은 유전막층 소정영역의 상부표면에 상부전극을 증착하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR 제조 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 제1 에어갭을 형성하는 단계에 있어 상기 유전막은 액정고분자(LCP)로 형성된 소정 두께의 박막필름을 이용하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR 제조 방법.
- 제1 공진 주파수를 가지는 복수개의 FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator)이 직렬 연결되어 형성되는 제1 공진부;제2 공진 주파수를 가지며 상기 제1 공진부의 복수개의 FBAR과 병렬 연결되는 복수개의 FBAR로 형성되는 제2 공진부; 및상기 제2 공진부를 이루는 복수개의 FBAR에 각각 직렬 연결된 복수개의 인덕터를 포함하며,상기 제1 및 제2 공진부를 구성하는 각각의 FBAR은 상면에 복수개의 공동부를 구비하는 제1 기판 상부에 제1 에어갭을 형성하기 위해 상기 제1 기판 상부에 접합된 유전막층; 및상기 유전막층 상부에 하부전극/압전층/상부전극으로 형성된 적층공진부;를 구비하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR 필터.
- 제 8항에 있어서,상기 유전막층은 액정고분자(LCP)로 형성된 소정 두께의 박막필름을 이용하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR 필터.
- 안테나를 통해 송신단자로 입력되는 신호를 송신하기 위한 제1 FBAR(Film Bulk Acoustic Resonator) 필터;상기 안테나를 통해 수신되는 신호가 수신단자로 입력되도록 하는 제2 FBAR 필터; 및상기 안테나와 상기 제2 필터 사이에 형성되고 송수신되는 신호의 위상을 변화시켜 상기 제1 필터와 상기 제2 필터에서 신호의 간섭을 방지하는 위상변화부;를 구비하며,상기 제1 및 제2 필터는 각각 서로 다른 소정의 공진주파수를 가지는 제1 및 제2 공진부를 구비하고, 상기 제1 및 제2 공진부에 형성되는 복수개의 FBAR 각각은 상면에 복수개의 공동부를 구비하는 제1기판 상부에 제1 에어갭을 형성하기 위해 상기 제1 기판 상부에 접합된 유전막층; 및상기 유전막층 상부에 하부전극/압전층/상부전극으로 형성된 적층공진부;를 구비하는 것을 특징으로 하는 에어갭형 FBAR 듀플렉서.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030069543A KR100555762B1 (ko) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 에어갭형 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법, 이를이용한 필터 및 듀플렉서 |
EP04255782.7A EP1523097B1 (en) | 2003-10-07 | 2004-09-22 | Air-gap type FBAR, method for fabricating the same, and filter and duplexer using the same |
JP2004293811A JP2005117665A (ja) | 2003-10-07 | 2004-10-06 | エアギャップ型fbarおよびその製造方法、これを用いたフィルタおよびデュープレクサ |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030069543A KR100555762B1 (ko) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 에어갭형 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법, 이를이용한 필터 및 듀플렉서 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050033701A KR20050033701A (ko) | 2005-04-13 |
KR100555762B1 true KR100555762B1 (ko) | 2006-03-03 |
Family
ID=34309551
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030069543A KR100555762B1 (ko) | 2003-10-07 | 2003-10-07 | 에어갭형 박막 벌크 음향 공진기 및 그 제조방법, 이를이용한 필터 및 듀플렉서 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7253703B2 (ko) |
EP (1) | EP1523097B1 (ko) |
JP (1) | JP2005117665A (ko) |
KR (1) | KR100555762B1 (ko) |
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- 2004-10-06 JP JP2004293811A patent/JP2005117665A/ja active Pending
- 2004-10-07 US US10/959,313 patent/US7253703B2/en not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20050128027A1 (en) | 2005-06-16 |
EP1523097B1 (en) | 2014-03-05 |
EP1523097A3 (en) | 2007-07-04 |
KR20050033701A (ko) | 2005-04-13 |
JP2005117665A (ja) | 2005-04-28 |
US7253703B2 (en) | 2007-08-07 |
EP1523097A2 (en) | 2005-04-13 |
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