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KR100396544B1 - 광기록재생기기용 에러신호 검출장치 - Google Patents

광기록재생기기용 에러신호 검출장치 Download PDF

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KR100396544B1
KR100396544B1 KR10-2000-0068501A KR20000068501A KR100396544B1 KR 100396544 B1 KR100396544 B1 KR 100396544B1 KR 20000068501 A KR20000068501 A KR 20000068501A KR 100396544 B1 KR100396544 B1 KR 100396544B1
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박인식
정종삼
전진훈
도태용
최병호
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삼성전자주식회사
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Abstract

기록매체에서 반사/회절된 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 탄젠셜 틸트 에러신호, 탄젠셜 틸트 및 디포커스 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 래디얼 틸트 에러신호 및/또는 탄젠셜 및 래디얼 틸트, 디트랙 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 디포커스 에러신호를 검출할 수 있도록 된 광기록재생기기용 에러신호 검출장치가 개시되어 있다.

Description

광기록재생기기용 에러신호 검출장치{Apparatus for detecting error signal in optical recording/reproducing system}
본 발명은 광기록재생기기용 에러신호 검출장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기록매체의 정보신호 기록/재생을 위한 메인광을 사용하여 대물렌즈와 기록매체 사이의 상대적인 탄젠셜 틸트, 래디얼 틸트 및/또는 디포커스 에러신호를 검출할 수 있도록 된 광기록재생기기용 에러신호 검출장치에 관한 것이다.
일반적으로 광픽업은 턴테이블에 탑재되어 회전하고 있는 디스크형 기록매체의 래디얼 방향으로 이동하면서 정보신호를 기록/재생하는데, 기록매체 자체의 휨 또는 기록매체 장착 에러 등에 의해 회전하는 기록매체가 기울어진 경우 이러한 기록/재생신호에 열화가 발생한다.
특히, 기록밀도를 증가시키기 위해 보다 단파장의 광을 출사하는 광원 및 보다 큰 개구수를 가지는 대물렌즈를 채용한 광픽업의 경우, 광학적인 수차는 λ/(NA)3에 비례하기 때문에, 디스크의 틸트에 의해 코마수차가 크게 발생되어 기록/재생신호에 열화가 더욱 심해진다.
따라서, 차세대 DVD 일명, HD-DVD(High definition - Digital Versatile Disk) 계열의 기록매체와 같이 청색파장 대역의 단파장 광원 및 0.6 이상의 고개구수를 갖는 대물렌즈를 사용하는 고밀도 기록매체용 광기록재생기기에서는 기록매체와 대물렌즈 사이의 상대적인 틸트에 따라 기록/재생신호를 보정해줄 수 있도록 틸트 에러 정도를 검출하는 장치를 필요로 한다.
이때, 정확한 래디얼 틸트 에러신호 검출을 위해, 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙 등에 영향을 거의 받지 않고 래디얼 틸트 에러신호를 검출할 수 있어야 한다. 또한, 정확한 탄젠셜 틸트 에러신호 검출을 위해, 광기록재생기기용 검출장치는 래디얼 틸트, 디포커스, 디트랙 등에 영향을 거의 받지 않고 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출할 수 있어야 한다.
한편, 도 1을 참조하면, 기록매체(10)에 광스폿으로 맺힌 다음 반사되는 광빔은 예컨대, 기록매체(10)에 형성된 피트(P) 등에 의해 0차 및 ±1차로 회절된다. 따라서, 기록매체(10)에서 반사/회절되고 대물렌즈(7)을 경유한 광빔은, 예를 들면, 0차 회절광빔과 +1차 회절광빔, 0차 회절광빔과 -1차 회절광빔이 서로 중첩되고, ±1차 회절광빔이 서로 중첩되지 않는 형태로 광픽업의 정보신호 검출용 광검출기(9)에 수광된다. 이때, 0차 회절광빔과 +1차 회절광빔이 중첩된 부분 및 0차 회절광빔과 -1차 회절광빔이 중첩된 부분의 검출신호와 0차 회절광빔만의 검출신호는 서로 다른 위상 특질을 나타낸다. 즉, 기록매체(10)에서 반사/회절된 광빔은 그 영역에 따라 서로 다른 위상 특질을 나타낸다. 그리고, 검출신호의 위상 특질은 탄젠셜 틸트 및/또는 래디얼 틸트량에 따라 변화된다.
그런데, 탄젠셜 틸트 또는 래디얼 틸트를 검출하도록 된 종래의 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)에서 반사된 광빔을 4분할 구조의 정보신호 검출용 광검출기(9)로 분할 수광하여 각각 독립적으로 광전변환하고, 그 검출신호들을 합산 및 차동하여 탄젠셜 또는 래디얼 틸트 에러신호를 검출하기 때문에, 기록매체(10)에서 반사/회절되는 광빔의 영역에 따른 위상 특질을 충분히 살릴 수 없어 정확한 탄젠셜 또는 래디얼 틸트 에러신호를 검출하기 어렵다.
한편, 광 기록매체들 중 고밀도 기록이 요구되는 차세대 DVD 계열의 기록매체는 디포커스되어 기록될 때, 기존의 적색 레이저를 사용하는 기록매체보다 디포커스에 의한 영향을 훨씬 크게 받기 때문에 이를 보상하는 방법의 필요성이 대두되고 있다.
즉, 고밀도 기록 요구에 따라 청색 파장영역(예컨대, 420 nm 이하)의 단파장광원 및 0.6 보다 큰 개구수를 가지는 대물렌즈를 사용하는 경우, 입사광빔의 포커스 깊이가 얕아 디포커스 마진이 작아지므로, 적은 양의 디포커스가 발생되더라도 기록 측면에서 문제가 된다.
본 기술 분야에서 알려진 바에 의하면, 파장이 650 nm인 광을 사용하여, 개구수 0.6인 대물렌즈로 DVD(digital versatile disk) 계열의 기록매체를 기록할 때에는 230 nm 정도의 디포커스 제어가 필요하지만, 청색광을 사용하여 예컨대, 개구수 0.85인 대물렌즈로 차세대 DVD 일명, HD-DVD 계열의 기록매체를 기록할 때에는 수십 nm 이내로 디포커스를 제어할 필요가 있다.
따라서, 차세대 DVD 계열의 기록매체 기록시 수십 nm 이내로 디포커스를 정밀하게 제어하려면, 기록매체의 대물렌즈에 대한 상대적인 탄젠셜 및 래디얼 틸트, 디트랙 등에 대해 영향을 받지 않는 디포커스 에러신호를 검출할 수 있어야 한다.
본 발명은 상기한 바와 같은 점들을 감안하여 안출된 것으로, 기록매체의 정보열에서 반사/회절된 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출할 수 있도록 된 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 제공하는데 그 제1목적이 있다.
또한, 본 발명은 기록매체의 정보열에서 반사/회절된 광의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 탄젠셜 틸트 및 디포커스 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 래디얼 틸트 에러신호를 검출할 수 있도록 된 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 제공하는데 그 제2목적이 있다.
또한, 본 발명은 기록매체의 정보열에서 반사/회절된 광의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 탄젠셜 및 래디얼 틸트, 디트랙 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 디포커스 에러신호를 검출할 수 있도록 된 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 제공하는데 그 제3목적이 있다.
도 1은 기록매체에서 반사/회절되는 광을 보인 사시도,
도 2는 본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 채용한 광픽업의 일 실시예를 보인 도면,
도 3 및 도 4는 본 발명의 제1실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 5a 내지 도 5d는 각각 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 도 4의 장치에서 출력되는 탄젠셜 틸트 에러신호(Ttilt)를 보인 그래프,
도 6 및 도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 8a 내지 도 8d는 각각 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 도 7의 장치에서 출력되는 탄젠셜 틸트 에러신호(Ttilt)를 보인 그래프,
도 9 및 도 10은 본 발명의 제3실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 11a 내지 도 11d는 각각 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이발생했을 때, 도 10의 장치에서 출력되는 래디얼 틸트 에러신호(Rtilt)를 보인 그래프,
도 12 및 도 13은 본 발명의 제4실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 14a 내지 도 14d는 각각 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 도 13의 장치에서 출력되는 디포커스 에러신호(dFE)를 보인 그래프,
도 15 및 도 16은 본 발명의 제5실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 17 및 도 18은 본 발명의 제6실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 19는 본 발명의 제7실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 20a 내지 도 20d는 각각 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 도 19의 장치에서 출력되는 디포커스 에러신호(dFE)를 보인 그래프,
도 21 및 도 22는 본 발명의 제8실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 23 및 도 24는 본 발명의 제9실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 25 및 도 26은 본 발명의 제10실시예에 다른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치를 개략적으로 보인 도면,
도 27a 내지 도 27d는 각각 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 도 26의 장치에서 출력되는 디포커스 에러신호(dFE)를 보인 그래프,
도 28는 도 4, 도 7, 도 10, 도 13, 도 16, 도 18, 도 19, 도 22, 도 23 및/또는 도 24에 적용할 수 있는 회로부의 다른 실시예를 개략적으로 보인 도면,
도 29는 도 4, 도 7, 도 10, 도 13, 도 16, 도 18, 도 19, 도 22, 도 23, 도 24 및/또는 도 26에 적용할 수 있는 광검출유니트의 다른 실시예를 개략적으로 보인 도면.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
30,130,230,330,430,530,630,730,830,930,1030...광검출기
50,150,250,350,450,550,650,750,850,950,1050...회로부
51,151,251,351,551,651,751,951...제1위상 비교기
53,153,253,353,553,653,753,953...제2위상 비교기
55,155,255,355,555,655,755,955...매트릭스 회로
LB...광빔
상기 제1목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 특징에 따르면, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 기록매체의 래디얼 방향에 대응되는 방향으로 제1 내지 제4광영역으로 나누어 검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 출력하도록 마련되고, 상기 회로부는, 상기 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하도록 된 것이 바람직하다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 광축을 가로지르는 축에 대해 일측 부분을, 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계선에 의해, 행 및 열이 상기 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬 배치를 이루며 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4광영역으로 분할/검출하도록 되어 있으며, 상기 회로부는, 상기 제1 및 제3광영역에 대한 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제2 및 제4광영역에 대한 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하도록 된 것이 바람직하다.
상기 제2목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 래디얼 틸트 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역 및 그 탄젠셜 방향에 대응되는 방향을 따른 외측에 각각 위치된 제1 내지 제4외측 광영역으로 분할/검출하도록 마련되고, 상기 광영역들은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 4×2 행렬 배치를 이루며, 그 제1내,외측 광영역 및 제4내,외측 광영역이 서로 다른 열에 위치되도록 되어 있으며, 상기 회로부는, 상기 제1외측 광영역 및 제4내측 광영역의 검출신호의 합을 제1검출신호, 제4외측 광영역 및 제1내측 광영역의 검출신호의 합을 제2검출신호, 제2내측 광영역 및 제3외측 광영역의 검출신호의 합을 제3검출신호, 제3내측 광영역 및 제2외측 광영역의 검출신호의 합을 제4검출신호라 할 때, 상기 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 래디얼 틸트 에러신호를 검출하도록 된 것이 바람직하다.
상기 제3목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 디포커스 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일 특징에 따르면, 상기 광검출유니트는 상기 광빔의 제1 내지 제4광영역을 검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 출력하도록 마련되고, 상기 제1 내지 제4광영역은 반시계 방향으로 배열되고, 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬 배치를 이루도록 되어 있으며, 상기 회로부는, 일 열에 위치된 제1광영역의 제1검출신호 및 제2광영역의 제2검출신호 사이의 위상차와, 다른 열에 위치된 제4광영역의 제3검출신호 및 제3광영역의 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호를 검출하도록 된 것이 바람직하다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 래디얼 방향에 대응되는 방향을 따라, 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4광영역으로 나누어 검출하도록 마련될 수 있다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 래디얼 방향에 대응되는 방향을 따라, 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔의 중심부분을 제1 내지 제4광영역으로 나누어 검출하도록 마련될 수 있다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔 전체를 제1 내지 제4광영역으로 분할 검출하도록 마련될 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향을 따라, 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 제1 및 제2외측 부분을 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4외측 광영역으로 분할 검출 및/또는 상기 중심부분을 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역으로 분할 검출하도록 마련되고, 상기 회로부는, 상기 제1외측 광영역 및/또는 제2내측 광영역의 검출신호에 대한 제1검출신호와 제2외측 광영역 및/또는 제1내측 광영역의 검출신호에 대한 제2검출신호 사이의 위상차와, 상기 제3내측 광영역 및/또는 제4외측 광영역의 검출신호에 대한 제3검출신호와 제3외측 광영역 및/또는 제4내측 광영역의 검출신호에 대한 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호를 검출하도록 된 것이 바람직하다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4외측 광영역으로 나누어 검출하고, 상기 제1 내지 제4외측 광영역은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2행렬을 이루며, 상기 제1 및 제4외측 광영역은 서로 다른 열에 위치되도록 마련되고, 상기 회로부는, 상기 제1 내지 제4외측 광영역에서 출력되는 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 입력받아 연산하도록 될 수 있다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 중심부분을 제1 내지 제4내측 광영역으로 나누어 검출하고, 상기 제1 내지 제4내측 광영역은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬을 이루며, 상기 제1 및 제4내측 광영역은 서로 다른 열에 위치되도록 마련되고, 상기 회로부는 상기 제1 내지 제4내측 광영역에서 출력되는 제2, 제1, 제3 및 제4검출신호를 입력받아 연산하도록 될 수 있다.
여기서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 제1 및 제2외측 부분을 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4외측 광영역으로 분할 검출하고, 상기 중심부분을 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역으로 분할 검출하며, 상기 광영역들은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 4×2 행렬 배치를 이루며, 그 제1외측 광영역 및 제4외측 광영역이 서로 다른 열에 위치되도록 되어 있으며, 상기 회로부는, 상기 제1외측 광영역 및 제2내측 광영역의 검출신호를 합한 제1검출신호와 제2외측 광영역 및 제1내측 광영역의 검출신호를 합한 제2검출신호 사이의 위상차와, 상기 제3내측 광영역 및 제4외측 광영역의 검출신호를 합한 제3검출신호와 제3외측 광영역 및 제4내측 광영역의 검출신호를 합한 제4검출신호사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하도록 마련될 수 있다.
본 발명의 또 다른 특징에 따르면, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔 전체를 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향으로 제1 내지 제4광영역으로 분할 검출하여 상기 제1 내지 제4광영역에 대한 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 출력하도록 되어 있으며, 상기 회로부는, 상기 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호를 검출하도록 된 것이 바람직하다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하면서 본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17) 및 광로변환수단(15)을 경유한 광빔(LB)을 검출하여 그로부터 탄젠셜 틸트, 래디얼 틸트 및/또는 디포커스 에러신호를 검출한다. 여기서, 참조번호 11, 13은 각각 광원 및 콜리메이팅렌즈를 나타낸다.
본 발명에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔(LB)의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와, 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 탄젠셜 틸트, 래디얼 틸트 및/또는 디포커스 에러신호를 검출하는 회로부를 포함하여 구성된다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 제1실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB)을 기록매체(10)의 래디얼 방향에 대응되는 방향(이하, R 방향)으로 제1 내지 제4광영역(A)(B)(C)(D)으로 분할/검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S11)(S12)(S14)(S13)를 출력하도록 된 광검출유니트와, 상기 제1 및 제2검출신호(S11)(S12) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S13)(S14) 사이의 위상차를 합산하여 출력하도록 된 회로부(50)를 포함하여 구성되며, 탄젠셜 틸트 에러신호를 생성한다.
본 발명의 제1실시예에 따른 광검출유니트로는 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 광빔(LB)을 제1 내지 제4광영역(A)(B)(C)(D)으로 나누어 각각 독립적으로 광전변환할 수 있도록 R 방향으로 분할된 제1 내지 제4수광영역(A)(B)(C)(D)을 구비하는 광검출기(30)를 구비할 수 있다. 여기서, 본 실시예 및 후술하는 실시예들에서는 광빔(LB)의 광영역 및 그 광영역을 검출하는 광검출기의 수광영역을 편의상 동일 기호로 표기한다.
상기 제1 내지 제4수광영역(A)(B)(C)(D)은 R 방향으로 폭이 좁고 기록매체(10)의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향(이하, T 방향)으로 폭이 넓은 형태이며, 기록매체(10)에서 반사/회절되어 입사되는 상기 광빔(LB)의 제1 내지 제4광영역(A)(B)(C)(D)을 각각 독립적으로 광전변환하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S11)(S12)(S14)(S13)를 출력한다.
상기 광검출기(30)는 제1 내지 제4수광영역(A)(B)(C)(D)이 도 4에 도시된 점선을 따라 T 방향으로 2분할되어 이루어진 8분할 구조로 된 것이 바람직하다.
여기서, 본 실시예 및 후술하는 실시예들에 있어서, 광검출유니트에 입사되는 광빔(LB)은 기록매체(10)에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 재생하는데 사용되는 메인 광빔이다. 따라서, 본 실시예 및 후술하는 실시예들에서 광검출유니트로 채용되는 광검출기는 기록매체(10)에 기록된 정보신호 검출용으로 겸용될 수 있도록, 최소한 2×4 또는 4×2 행렬 배치의 8분할 구조 또는 2×2 행렬 배치의 4분할 구조로 되어 있다.
상기 회로부(50)는 예를 들어, 제1 및 제2검출신호(S11)(S12)가 입력되어 위상 비교되는 제1위상 비교기(51)와, 제3 및 제4검출신호(S13)(S14)가 입력되어 위상 비교되는 제2위상 비교기(53)와, 상기 제1 및 제2위상 비교기(53)쪽에서 입력된 신호를 연산하여 출력하는 매트릭스 회로(55)로 구성될 수 있다.
상기 제1위상 비교기(51)는 제1검출신호(S11)의 위상이 제2검출신호(S12)의 위상보다 앞설 때는 제1위상 비교신호(P11), 제2검출신호(S12)의 위상이 제1검출신호(S11)의 위상보다 앞설 때는 제2위상 비교신호(P12)를 출력한다. 마찬가지로, 제2위상 비교기(53)는 제3검출신호(S13)의 위상이 제4검출신호(S14)의 위상보다 앞설 때는 제3위상 비교신호(P13), 제4검출신호(S14)의 위상이 제3검출신호(S13)의 위상보다 앞설 때는 제4위상 비교신호(P14)를 출력한다. 그리고, 상기 매트릭스 회로(55)는 상기 제1 내지 제4위상 비교신호(P11)(P12)(P13)(P14)를 입력받아, 상기 제1및 제3위상비교신호(P11)(P13)의 합신호와 제2 및 제4위상 비교신호(P12)(P14)의 합신호를 차동한 신호(Ttilt= P11+P13-P12-P14) 즉, 탄젠셜 틸트 에러신호를 출력한다.
도 5a 내지 도 5d는 상기와 같은 본 발명의 제1실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(Ttilt)를 보인 그래프이다. 여기서, 도 5a 내지 도 5d 및 후술하는 본 발명의 다른 실시예들에 따른 에러신호 검출장치의 특성을 설명하기 위한 그래프들은 파장(λ)이 400 nm인 광, 개구수 0.65인 대물렌즈 및 트랙피치 0.37μm인 차세대 DVD-ROM 디스크를 사용한 경우를 예를 들어 나타낸 것이다.
도 5a 내지 도 5d는 각각, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 본 발명의 제1실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(Ttilt)를 보인 그래프이다. 도 5d에서 가로축의 디트랙 값은 트랙피치에 대한 디트랙 정도를 백분율(%)로 나타낸 것이다.
본 발명의 제1실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출되는 신호(Ttilt)는, 도 5a, 도 5c 및 도 5d에서 알 수 있는 바와 같이, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙에 대해서는 거의 영향을 받지 않으면서, 도 5b에 도시된 바와 같이, 탄젠셜 틸트에 대해서만 민감하게 변한다.
따라서, 본 발명의 제1실시예에 따른 에러신호 검출장치를 이용하면, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 탄젠셜 틸트 에러신호를 정확하게 검출할 수 있다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 제2실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB)의 광축(c)을 가로지르는 T 방향에 나란한 축에 대해 일측 부분(대략, 상기 광빔(LB)의 반으로, 광빔(LB)이 원 형태라면 반원부분)을 T 방향 및 R 방향과 나란한 경계선에 의해 제1 내지 제4광영역(A')(B')(C')(D')으로 분할/검출하여 제1, 제3, 제2 및 제4검출신호(S21)(S23)(S22)(S24)를 출력하는 광검출유니트와, 상기 제1 및 제2검출신호(S21)(S22) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S23)(S24) 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하도록 된 회로부(150)를 포함하여 구성된다.
상기 제1 내지 제4광영역(A')(B')(C')(D')은, 반시계방향으로 배열되고, 행 및 열이 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×2 행렬 배치를 이룬다. 그리고, 상기 제1광영역은 제1행 제1열에 위치된 것이 바람직하며, 제2행 제2열에 위치되는 것도 가능하다.
도 7은 본 발명의 제2실시예에 따른 광검출유니트로 그 행 방향 및 열 방향이 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×4 행렬 배치로 된 8분할 구조의 광검출기(130)를 구비하고, 상기 제1 내지 제4광영역(A')(B')(C')(D')을 각각 수광하는 제1 내지 제4수광영역(A')(B')(C')(D')의 검출신호를 사용하여 에러신호를 검출하는 예를 보여준다.
상기 회로부(150)는 제1 및 제2검출신호(S21)(S22)가 입력되는 제1위상 비교기(151)와, 제3 및 제4검출신호(S23)(S24)가 입력되는 제2위상 비교기(153)와, 매트릭스 회로(155)로 구성된다. 여기서, 본 실시예 및 후술하는 제3 내지 제11실시예에서 제1 내지 제4검출신호를 연산하기 위한 제1 및 제2위상 비교기, 매트릭스 회로의 실질적은 구성은 본 발명의 제1실시예의 경우와 동일하다. 그러므로, 이후로, 본 실시예 및 후술하는 실시예들에서는 제1 및 제2위상 비교기에서의 신호 연산과정의 설명을 생략한다.
따라서, 상기 매트릭스 회로(155)는 제1위상 비교기(151)에서 출력되는 제1 및 제2위상 비교신호(P21)(P22)와 제2위상 비교기(153)에서 출력되는 제3 및 제4위상 비교신호(P23)(P24)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P21)(P23)의 합과 제2 및 제4위상 비교신호(P22)(P24)의 합을 차동한 신호(Ttilt=P21+P23-P22-P24) 즉, 탄젠셜 틸트 에러신호를 출력한다.
도 8a 내지 도 8d는 각각, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 본 발명의 제2실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(Ttilt)를 보인 그래프이다.
본 발명의 제2실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출되는 신호(Ttilt)는, 본 발명의 제1실시예에 따른 장치와 마찬가지로, 도 8a, 도 8c 및 도 8d에서 알 수 있는 바와 같이, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙에 대해서는 거의 영향을 받지 않으면서, 도 8b에 도시된 바와 같이, 탄젠셜 틸트에 대해서만 민감하게 변한다.
따라서, 상기한 바와 같은 본 발명의 제1 및 제2실시예에 따른 에러신호 검출장치를 이용하면, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 탄젠셜 틸트 에러신호를 정확하게 검출할 수 있다.
도 9 및 도 10을 참조하면, 본 발명의 제3실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB)을 상기 R 방향 및 T 방향과 나란한 경계선에 의해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역(A2)(B2)(C2)(D2) 및 그 T 방향을 따른 외측에 각각 위치된 제1 내지 제4외측 광영역(A1)(B1)(C1)(D1)으로 분할/검출하는 광검출유니트와, 제1 및 제2검출신호(S31)(S32) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S33)(S34)사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하도록 된 회로부(250)를 포함하여 구성되며, 래디얼 틸트 에러신호를 검출한다.
여기서, 상기 제1 내지 제4내측 광영역(A2)(B2)(C2)(D2) 및 제1 내지 제4외측 광영역(A1)(B1)(C1)(D1)은 그 행 및 열이 R 방향 및 T 방향과 나란한 4×2 행렬 배치를 이룬다. 그리고, 상기 제1외측 광영역(A1)은 제1행 제1열에 위치된 것이 바람직하며, 제4행 제2열에 위치될 수도 있다.
도 10은 본 발명의 제3실시예에 따른 광검출유니트로 그 행 방향 및 열 방향이 R 방향 및 T 방향과 나란한 4×2 행렬로 배치된 8분할 구조의 광검출기(230)를 구비한 예를 보여준다. 상기 광검출기(230)의 제1 내지 제4내측 수광영역(A2)(B2)(C2)(D2)은 상기 제1 내지 제4내측 광영역(A2)(B2)(C2)(D2)을 검출한다. 상기 광검출기(230)의 제1 내지 제4외측 광영역(A1)(B1)(C1)(D1)은 상기 제1 내지 제4외측 광영역(A1)(B1)(C1)(D1)을 검출한다.
상기 제1검출신호(S31)는 제1외측 광영역(A1) 및 제4내측 광영역(D2)의 검출신호의 합이다. 상기 제2검출신호(S32)는 제4외측 광영역(D1) 및 제1내측 광영역(A2)의 검출신호의 합이다. 제3검출신호(S33)는 제2내측 광영역(B2) 및 제3외측 광영역(C1)의 검출신호의 합이다. 상기 제4검출신호(S34)는 제3내측 광영역(C2) 및 제2외측 광영역(B1)의 검출신호의 합이다.
상기 회로부(250)는 상기 제1 및 제2검출신호(S31)(S32)가 입력되는 제1위상 비교기(251)와, 제3 및 제4검출신호(S33)(S34)가 입력되는 제2위상 비교기(253)와, 매트릭스 회로(255)로 구성된다.
따라서, 상기 매트릭스 회로(255)는 제1위상 비교기(251)에서 출력되는 제1 및 제2위상 비교신호(P31)(P32)와 제2위상 비교기(253)에서 출력되는 제3 및 제4위상 비교신호(P33)(P34)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P31)(P33)의 합과 제2 및 제4위상 비교신호(P32)(P34)의 합을 차동한 신호(Rtilt=P31+P33-P32-P34) 즉, 래디얼 틸트 에러신호를 출력한다.
도 11a 내지 도 11d는 각각, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 본 발명의 제3실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(Rtilt)를 보인 그래프이다.
본 발명의 제3실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출되는 신호(Rtilt)는, 도 11b 및 도 11c에서 알 수 있는 바와 같이, 탄젠셜 틸트 및 디포커스에 대해서는 거의 영향을 받지 않으면서, 도 11a에 도시된 바와 같이, 래디얼 틸트에 대해서만 민감하게 변한다.
따라서, 상기한 바와 같은 본 발명의 제3실시예에 따른 에러신호 검출장치를 이용하면, 탄젠셜 틸트, 디포커스 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 래디얼 틸트 에러신호를 정확하게 검출할 수 있다.
도 12 및 도 13을 참조하면, 본 발명의 제4실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB) 중 일부 영역인 제1 내지 제4광영역(A1')(B1')(C1')(D1')을 검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S41)(S42)(S44)(S43)를 출력하도록 된 광검출유니트와, 상기 제1 및 제2검출신호(S41)(S42) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S43)(S44) 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하도록 된 회로부(350)를 포함하여 구성되며, 디포커스 에러신호를 검출한다.
상기 제1 내지 제4광영역(A1')(B1')(C1')(D1')은, 반시계 방향으로 배열되고, 행 및 열이 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×2 행렬을 이루며, 상기 제1 및 제2광영역(A1')(B1')은 일 열에 위치되고, 제3 및 제4광영역(C1')(D1')은 다른 열에 위치된다.
본 실시예에 있어서, 상기 제1 및 제4광영역(A1')(D1')은 R 방향으로 서로 소정 간격 이격되어 있으며, 마찬가지로 제2 및 제3광영역(B1')(C1')은 R 방향으로 서로 소정 간격 이격되어 있다. 즉, 본 실시예에 따른 광검출유니트는, 상기 광빔(LB)을 상기 R 방향을 따라 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4광영역(A1')(B1')(C1')(D1')으로 나누어 검출하도록 마련된다.
도 13은 본 발명의 제4실시예에 따른 광검출유니트로 그 행 방향 및 열 방향이 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×4 행렬 배치로 된 8분할 구조의 광검출기(330)를 구비하고, 상기 제1 내지 제4광영역(A1')(B1')(C1')(D1')을 각각 수광하는 제1 내지 제4외측 수광영역(A1')(B1')(C1')(D1')의 검출신호를 사용하여 디포커스 에러신호 검출하도록 마련된 예를 보여준다.
상기 회로부(350)는 상기 제1 및 제2광영역(A1')(B1')에 대한 제1 및 제2검출신호(S41)(S42)가 입력되는 제1위상 비교기(351)와, 상기 제4 및 제3광영역(D1')(C1')에 대한 제3 및 제4검출신호(S43)(S44)가 입력되는 제2위상 비교기(353)와, 매트릭스 회로(355)로 구성된다.
따라서, 상기 매트릭스 회로(355)는 제1위상 비교기(351)에서 출력되는 제1 및 제2위상 비교신호(P41)(P42)와 상기 제2위상 비교기(353)에서 출력되는 제3 및 제4위상 비교신호(P43)(P44)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P41)(P43)의 합과제2 및 제4위상 비교신호(P42)(P44)의 합을 차동한 신호(dFE=P41+P43-P42-P44) 즉, 디포커스 에러신호를 출력한다.
도 14a 내지 도 14d는 각각, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 본 발명의 제4실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(dFE)를 보인 그래프이다.
본 발명의 제4실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출되는 신호(dFE)는, 도 14a, 도 14b 및 도 14d에서 알 수 있는 바와 같이, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 대해서는 거의 영향을 받지 않으면서, 도 14c에 도시된 바와 같이, 디포커스에 대해서만 민감하게 변한다.
따라서, 상기한 바와 같은 본 발명의 제4실시예에 따른 에러신호 검출장치를 이용하면, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 디포커스 에러신호를 정확하게 검출할 수 있다.
본 발명의 제5실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분을 분할 검출하여 이로부터 디포커스 에러신호를 검출하는 대신에, 도 15에 도시된 바와 같이, 광빔(LB)의 중심부분을 제1 내지 제4광영역(A2')(B2')(C2')(D2')으로 분할 검출하여 이로부터 디포커스 에러신호를 검출하도록 마련된다. 이때, 광빔(LB)의 중심부분에 대한 제1 내지 제4광영역(A2')(B2')(C2')(D2')은 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분에 대한 제1 내지 제4광영역(A1')(B1')(C1')(D1')의 R 방향을 따른 내측 영역이다. 그러므로, 광검출유니트로 도 13에서와 같은 8분할 구조의 광검출기(330)를 구비하는 경우, 광빔(LB)의 중심부분에 대한 상기 제1 내지 제4광영역(A2')(B2')(C2')(D2')은 각각 도 16에 도시된 바와 같이, 도 13의 제1 내지 제4외측 수광영역(A1')(B1')(C1')(D1')의 R 방향을 따른 내측에 각각 위치된 제1 내지 제4내측 수광영역(A2')(B2')(C2')(D2')에서 검출된다. 그리고, 상기 제1 내지 제4내측 수광영역(A2')(B2')(C2')(D2')에서 검출된 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S41)(S42)(S44)(S53)는 회로부(450)에서 도 13을 참조로 설명한 바와 같은 과정을 거쳐 연산되고, 이 회로부(450)에서는 디포커스 에러신호(dFE)가 출력된다.
여기서, 상기 회로부(450)의 구조는 제1 내지 제4외측 수광영역(A1')(B1')(C1')(D1')의 검출신호 대신에 제1 내지 제4내측 수광영역(A2')(B2')(C2')(D2')의 검출신호가 입력되는 차이를 제외하면, 도 13의 회로부(350)와 동일하므로, 상기 제1 내지 제4내측 수광영역(A2')(B2')(C2')(D2')에서 검출된 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S41)(S42)(S44)(S53)를 제1 내지 제4외측 수광영역(A1')(B1')(C1')(D1')에서 검출된 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S41)(S42)(S44)(S53)와 동일 기호로 표기하고, 회로부(450)의 반복적인 설명은 생략한다.
도 17 및 도 18을 참조하면, 본 발명의 제6실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 광빔(LB) 전체를 R 방향에 나란한 경계선 및 T 방향에 나란한 경계선에 의해 제1 내지 제4광영역(A")(B")(C")(D")으로 분할 검출하여, 그로부터 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S51)(S52)(S54)(S53)를 생성하고, 상기 제1 및 제2검출신호(S51)(S52)의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S53)(S54)의 위상차를 합산하여 디포커스 에러신호를 검출하도록 마련될 수도 있다.
이때, 상기 제1 내지 제4광영역(A")(B")(C")(D")은 반시계 방향으로 배열되고, 행 및 열이 상기 기록매체의 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×2 행렬 배치를 이룬다. 그리고, 상기 제1 및 제2광영역(A")(B")은 일 열에 위치되고, 상기 제3 및 제4광영역(C")(D")은 다른 열에 위치된다.
상기한 바와 같은 본 발명의 제6실시예의 광검출유니트로는 도 18에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제4광영역(A")(B")(C")(D")을 각각 수광하도록 제1 내지 제4수광영역(A")(B")(C")(D")을 구비하는 4분할 구조의 광검출기(530)를 구비할 수 있다.
상기 제1 및 제2수광영역(A")(B")에서 출력된 제1 및 제2검출신호(S51)(S52)는 회로부(550)의 제1위상 비교기(551)로 입력되고, 제1위상 비교기(551)에서는 제1검출신호(S51)의 위상이 제2검출신호(S52)의 위상보다 앞설 때는 제1위상 비교신호(P51), 제2검출신호(S52)의 위상이 제1검출신호(S51)의 위상보다 앞설 때는 제2위상 비교신호(P52)가 출력된다. 상기 제3 및 제4검출신호(S53)(S54)는 회로부(550)의 제2위상 비교기(553)로 입력되고, 제2위상 비교기(553)에서는 제3검출신호(S53)의 위상이 제4검출신호(S54)의 위상보다 앞설 때는 제3위상 비교신호(P53), 제4검출신호(S54)의 위상이 제3검출신호(S53)의 위상보다 앞설 때는 제4위상 비교신호(P54)가 출력된다. 그리고, 매트릭스 회로(555)는 제1 내지 제4위상 비교신호(P51)(P52)(P53)(P54)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P51)(P53)의 합과 제2 및 제4위상 비교신호(P52)(P54)의 합을 차동한 신호(dFE=P51+P53-P52-P54) 즉, 디포커스 에러신호를 출력한다.
상기한 바와 같은 본 발명의 제5 및 제6실시예에 따른 에러신호 검출장치도 본 발명의 제4실시예의 경우와 마찬가지로, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 디포커스 에러신호를 검출할 수 있다.
도 9, 도 19를 참조하면, 본 발명의 제7실시예에 따른 에러신호 검출장치의 광검출유니트는, 후술하는 본 발명의 제8 및 제9실시예에서의 광영역 분할 구조를 모두 포함하는 구조로서, 광빔(LB)을 상기 T 방향을 따라 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4외측 광영역(A1)(B1)(C1)(D1)으로 분할 검출하며, 상기 광빔(LB)의 중심부분을 제1 내지 제4내측 광영역(A2)(B2)(C2)(D2)으로 분할 검출하도록 마련된다. 이러한 광검출유니트의 광영역 분할 구조는 도 9에서와 동일하다.
따라서, 본 실시예에 따른 광검출유니트로는 도 10에서와 같은광검출기(230)를 구비할 수 있다. 이때, 상기 제1외측 광영역(A1)은 상기 광빔(LB)의 2×4 행렬 배치로의 분할 구조에서 제1행, 제1열에 해당하는 것이 바람직하며, 상기 제1외측 광영역(A1)이 제4행 제2열에 해당하는 것도 가능하다.
본 실시예에 있어서, 회로부(650)는 제1 및 제2검출신호(S61)(S62) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S63)(S64) 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호(dFE)를 검출하도록, 상기 제1 및 제2검출신호(S61)(S62)가 입력되는 제1위상 비교기(651)와, 제3 및 제4검출신호(S63)(S64)가 입력되는 제2위상 비교기(653)와, 매트릭스 회로(655)로 구성된다. 이때, 상기 제1검출신호(S61)는 제1외측 광영역(A1) 및 제2내측 광영역(B2)의 검출신호의 합이다. 상기 제2검출신호(S62)는 제2외측 광영역(B1) 및 제1내측 광영역(A2)의 검출신호의 합이다. 제3검출신호(S63)는 제4외측 광영역(D1) 및 제3내측 광영역(C2)의 검출신호의 합이다. 상기 제4검출신호(S64)는 제4내측 광영역(D2) 및 제3외측 광영역(C1)의 검출신호의 합이다.
상기 매트릭스 회로(655)는 제1위상 비교기(651)에서 출력되는 제1 및 제2위상 비교신호(P61)(P62)와 제2위상 비교기(653)에서 출력되는 제3 및 제4위상 비교신호(P63)(P64)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P61)(P63)의 합과 제2 및 제4위상비교신호(P62)(P64)의 합을 차동한 신호(dFE=P61+P63-P62-P64) 즉, 디포커스 에러신호를 출력한다.
도 20a 내지 도 20d는 각각, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 본 발명의 제7실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(dFE)를 보인 그래프이다.
본 발명의 제7실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출되는 신호(dFE)는, 도 20a, 도 20b 및 도 20d에서 알 수 있는 바와 같이, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 및 디트랙에 대해서는 거의 영향을 받지 않으면서, 도 20c에 도시된 바와 같이, 디포커스에 대해서만 민감하게 변한다.
따라서, 상기한 바와 같은 본 발명의 제7실시예에 따른 에러신호 검출장치를 이용하면, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 디포커스 에러신호를 정확하게 검출할 수 있다.
도 21 및 도 22를 참조하면, 본 발명의 제8실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB)의 외측 부분인 제1 내지 제4광영역(A1)(B1)(C1)(D1)을 검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S71)(S72)(S74)(S73)를 출력하도록 된 광검출유니트와, 상기 제1 및 제2검출신호(S71)(S72) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S73)(S74) 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하도록 된 회로부(750)를 포함하여 구성되며, 디포커스 에러신호를 검출한다.
상기 제1 내지 제4광영역(A1)(B1)(C1)(D1)은, 반시계 방향으로 배열되고, 행 및 열이 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×2 행렬을 이루며, 상기 제1 및 제2광영역(A1)(B1)은 일 열에 위치되고, 제3 및 제4광영역(C1)(D1)은 다른 열에 위치된다.
본 실시예에 있어서, 상기 제1 및 제2광영역(A1)(B1)은 T 방향으로 서로 소정 간격 이격되어 있으며, 마찬가지로 제3 및 제광영역(C1)(D1)은 T 방향으로 서로 소정 간격 이격되어 있다. 즉, 본 실시예에 따른 광검출유니트는, 상기 광빔(LB)을 상기 T 방향을 따라 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4광영역(A1)(B1)(C1)(D1)으로 나누어 검출하도록 마련된다.
여기서, 상기 제1 내지 제4광영역(A1)(B1)(C1)(D1)은 본 발명의 제7실시예에 서의 제1 내지 제4외측 광영역(A1)(B1)(C1)(D1)에 해당한다.
따라서, 본 발명의 제8실시예에 따른 광검출유니트로 도 22에 도시된 바와 같이, 그 행 방향 및 열 방향이 R 방향 및 T 방향과 나란한 2×4 행렬 배치로 된 8분할 구조의 광검출기(730)를 구비할 수 있다. 이때, 상기 제1 내지 제4광영역(A1)(B1)(C1)(D1)은 각각 제1 내지 제4외측 수광영역(A1)(B1)(C1)(D1)에서 검출된다.
상기 회로부(750)는 상기 제1 및 제2광영역(A1)(B1)의 제1 및제2검출신호(S71)(S72)가 입력되는 제1위상 비교기(751)와, 상기 제4 및 제3광영역(D1)(C1)의 제3 및 제4검출신호(S73)(S74)가 입력되는 제2위상 비교기(753)와, 매트릭스 회로(755)로 구성된다.
따라서, 상기 매트릭스 회로(755)는 제1위상 비교기(751)에서 출력되는 제1 및 제2위상 비교신호(P71)(P72)와 제2위상 비교기(753)에서 출력되는 제3 및 제4위상 비교신호(P73)(P74)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P71)(P73)의 합과 제2 및 제4위상 비교신호(P72)(P74)의 합을 차동한 신호(dFE=P71+P73-P72-P74) 즉, 디포커스 에러신호를 출력한다.
본 발명의 제9실시예에 따른 에러신호 검출장치는, 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분을 분할 검출하여 이로부터 디포커스 에러신호를 검출하는 대신에, 도 23에 도시된 바와 같이, 광빔(LB)의 중심부분을 제1 내지 제4광영역(A2)(B2)(C2)(D2)으로 분할 검출하여 이로부터 디포커스 에러신호를 검출하도록 마련되어 있다. 이때, 광빔(LB)의 중심부분에 대한 제1 내지 제4광영역(A2)(B2)(C2)(D2)은 광빔(LB)의 제1 및 제2외측 부분에 대한 제1 내지 제4광영역(A1)(B1)(C1)(D1)의 T 방향을 따른 내측 영역이다. 이 제1 내지 제4광영역(A2)(B2)(C2)(D2)은 본 발명의 제7실시예에서의 제1 내지 제4내측 광영역(A2)(B2)(C2)(D2)에 해당한다.
그러므로, 광검출유니트로 도 22에서와 같은 8분할 구조의 광검출기(730)를구비하는 경우, 광빔(LB)의 중심부분에 대한 상기 제1 내지 제4광영역(A2)(B2)(C2)(D2)은 각각 도 24에 도시된 바와 같이, 도 22의 제1 내지 제4외측 수광영역(A1)(B1)(C1)(D1)의 T 방향을 따른 내측에 각각 위치된 제1 내지 제4내측 수광영역(A2)(B2)(C2)(D2)에서 검출된다. 그리고, 상기 제1 내지 제4내측 수광영역(A2)(B2)(C2)(D2)에서 검출된 제2, 제1, 제3 및 제4검출신호(S72)(S71)(S73)(S74)는 회로부(850)에서 도 22를 참조로 설명한 바와 같은 과정을 거쳐 연산되고, 이 회로부(850)에서는 디포커스 에러신호(dFE)가 출력된다.
여기서, 상기 회로부(850)의 구조는 제1 내지 제4내측 수광영역(A2)(B2)(C2)(D2)의 검출신호가 제2, 제1, 제3 및 제4검출신호(S72)(S71)(S73)(S74)로서 입력되는 점을 제외하면, 도 22의 회로부(750)와 동일하므로, 동일 기호로 표기하고, 회로부(850)의 반복적인 설명은 생략한다.
상기한 바와 같은 본 발명의 제8 및 제9실시예에 따른 에러신호 검출장치도 본 발명의 제7실시예의 경우와 마찬가지로, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 디포커스 에러신호를 검출할 수 있다.
도 25 및 도 26을 참조하면, 본 발명의 제10실시예에 따른 광기록재생기기용 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB)을 T 방향으로 제1 내지 제4광영역(A''')(B''')(C''')(D''')으로 분할/검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S81)(S82)(S84)(S83)를 출력하도록 된광검출유니트와, 상기 제1 및 제2검출신호(S91)(S82) 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호(S83)(S84) 사이의 위상차를 합산하여 출력하도록 된 회로부(950)를 포함하여 구성되며, 디포커스 에러신호를 검출한다.
본 발명의 제10실시예에 따른 광검출유니트로는 예를 들어, 도 26에 도시된 바와 같이, 상기 광빔(LB)을 제1 내지 제4광영역(A''')(B''')(C''')(D''')으로 나누어 각각 독립적으로 광전변환할 수 있도록 T 방향으로 분할된 제1 내지 제4수광영역(A''')(B''')(C''')(D''')을 구비하는 광검출기(930)를 구비할 수 있다. 상기 제1 내지 제4수광영역(A''')(B''')(C''')(D''')은 T 방향으로 폭이 좁고 R 방향으로 폭이 넓은 형태이며, 기록매체(10)에서 반사/회절되어 입사되는 상기 광빔(LB)의 제1 내지 제4광영역(A''')(B''')(C''')(D''')을 각각 독립적으로 광전변환하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호(S81)(S82)(S84)(S83)를 출력한다.
여기서, 상기 광빔(LB)은 기록매체(10)에 정보를 기록하거나 기록된 정보를 재생하는데 사용되는 메인 광빔이며, 상기 광검출기(930)는 기록매체(10)에 기록된 정보신호 검출용으로 사용된다. 따라서, 상기 광검출기(930)는 제1 내지 제4수광영역(A''')(B''')(C''')(D''')이 도 26 도시된 점선을 따라 T 방향으로 2분할되어 이루어진 8분할 구조로 된 것이 바람직하다.
상기 회로부(950)는 상기 제1 및 제2검출신호(S81)(S82)가 입력되는 제1위상 비교기(951)와, 제3 및 제4검출신호(S83)(S84)가 입력되는 제2위상 비교기(953)와, 매트릭스 회로(955)로 구성된다.
상기 매트릭스 회로(955)는 제1위상 비교기(951)에서 출력되는 제1 및 제2위상 비교신호(P81)(P82)와 제2위상 비교기(953)에서 출력되는 제3 및 제4위상 비교신호(P83)(P84)를 입력받아, 제1 및 제3위상 비교신호(P81)(P83)의 합과 제2 및 제4위상 비교신호(P82)(P84)의 합을 차동한 신호(dFE=P81+P83-P82-P84) 즉, 디포커스 에러신호를 출력한다.
도 27a 내지 도 27d는 각각, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트, 디포커스, 디트랙이 발생했을 때, 본 발명의 제10실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 출력되는 신호(dFE)를 보인 그래프이다.
본 발명의 제10실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출되는 신호(dFE)는, 도 27a, 도 27b 및 도 27d에서 알 수 있는 바와 같이, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 대해서는 거의 영향을 받지 않으면서, 도 27c에 도시된 바와 같이, 디포커스에 대해서만 민감하게 변한다.
따라서, 상기한 바와 같은 본 발명의 제10실시예에 따른 에러신호 검출장치를 이용하면, 래디얼 틸트, 탄젠셜 틸트 및 디트랙에 영향을 받지 않고, 디포커스 에러신호를 정확하게 검출할 수 있다.
여기서, 상기한 바와 같은 본 발명의 제4 및 제5, 제7 내지 제10실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 검출된 신호(dFE)에 포함된 옵셋은 광검출유니트의 광영역 분할 비를 조정하거나 회로적으로 DC 옵셋을 소거시킴으로써 제거할 수 있다.
상기한 바와 같은 디포커스 에러신호를 검출하기 위한 본 발명에 따른 에러신호 검출장치는, 기록매체(10)의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈(17)를 경유한 광빔(LB)을 이용한다.
한편, 도 12 내지 도 29를 참조로 설명한 본 발명에 따른 디포커스 에러신호 검출장치로 광기록재생기기에 존재하는 디포커스 성분의 검출은, 디포커스가 발생하지 않은 상태에서 본 발명에 따른 디포커스 에러신호 검출을 위한 회로부(350,450,550,650,750,850,950,1050)에서 검출된 디포커스 에러신호값이 일정치 이하가 되도록 마련된 기록매체를 이용한다.
이때, 디포커스가 발생하지 않은 상태에서 상기 기록매체는, 기록매체에 기록된 정보신호의 채널 클럭 간격(interval)을 T, 상기 회로부(350,450,550,650,750,850,950,1050)의 위상 비교기에 입력되는 검출신호들의 평균 시간차를 △t라 할 때, △t/T가 광기록재생기기에 사용되는 광빔(LB)의 초점 깊이(depth of focus) 범위에 대해 0.5 내지 1.0인 디포커스 에러신호값을 나타내도록 된 것이 바람직하다.
여기서, 평균 시간차 △t는 광빔(LB)으로 기록매체의 정보열(예컨대, 3T∼14T 사이의 길이로 된 마크 또는 피트열)을 스캔하여 검출되고 위상 비교기의 두 입력단에 입력되는 신호들의 시간차를 평균한 것이다. 그리고, 초점 깊이 범위는 일반적으로, 사용 광원의 파장을 λ, 대물렌즈의 개구수를 NA라 할 때, 대략 λ/NA2에 대해 정해진다.
상기한 바와 같은 본 발명의 제4 내지 제10실시예에 따른 에러신호 검출장치는 위상 검출 방식에 의해 디포커스 에러신호를 검출하므로, 기록매체에서의 반사광량과 강도와 무관하게 양호한 검출 감도를 얻을 수 있다.
검출된 디포커스 에러신호는 광기록재생기기 초기화에서 디포커스 제거를 위한 신호로 사용할 수 있으며, 편향 성분이 큰 기록매체에서 포커스 에러신호인 S-커브로 검출되기 어려운 성분을 보상할 수 있다.
본 발명의 제4 내지 제10실시예에 따른 에러신호 검출장치는 예컨대, 피트(P)에서의 광빔(LB)의 회절을 이용하여 위상 검출에 의해 디포커스 에러신호를 검출하므로, 기록매체의 종류나 기록매체의 층(즉, 복수층 구조의 기록매체에서 어떤 층)에 무관한 디포커스 성분의 검출이 가능하다.
한편, 이상에서와 같은 본 발명의 제1 내지 제9실시예에 따른 에러신호 검출장치는 제1 내지 제4검출신호(Sn1)(Sn2)(Sn3)(Sn4)(여기서, n = 1, 2, ...,8로 앞서 설명한 본 발명의 제1 내지 제9실시예에 따른 에러신호 검출장치에서 위상 비교기로 입력되는 신호임)가 회로부(50,150,250,350,450,550,650,750,850또는950)에서 연산되도록 마련된 것으로 설명 및 도시하였는데, 도 28에 도시된 바와 같이, 제1 및 제3검출신호(Sn1)(Sn3)의 합신호(Sn1+Sn3)와 제2 및 제4검출신호(Sn2)(Sn4)의 합신호(Sn2+Sn4)가 회로부(1050)에서 연산되는 구조도 가능하다. 이때, 상기 회로부(1050)는 상기 합신호들(Sn1+Sn3)(Sn2+Sn4)을 입력받아 합신호(Sn1+Sn3)의 위상이 앞설 때는 위상 비교신호(Pn5), 합신호(Sn2+Sn4)의 위상이 앞설 때는 위상 비교신호(Pn6)를 출력하는 하나의 위상 비교기(1051)와, 상기 위상비교신호들(Pn5)(Pn6)을 차동하여 출력하는 매트릭스 회로(1055)를 구비할 수 있다.
이상에서는 본 발명에 따른 에러신호 검출장치가 한 종류의 에러신호 즉, 탄젠셜 틸트, 래디얼 틸트 또는 디포커스 에러신호를 검출하도록 마련된 것으로 설명하였는데, 본 발명에 따른 에러신호 검출장치는 앞서 설명한 제1 내지 제10실시예의 장치가 복합된 구조로 마련되어 두 종류 또는 세 종류의 에러신호를 복합적으로 검출하도록 된 구조로 될 수도 있다.
예를 들어, 본 발명에 따른 에러신호 검출장치가 기록매체에서 반사/회절된 광빔(LB)을 2×4 행렬배치의 8개의 광영역으로 분할/검출하도록 된 광검출유니트를 구비하여, 본 발명의 제1 및 4실시예 또는 본 발명의 제2 및 제4실시예가 복합된 구조를 가지면, 탄젠셜 틸트 및 디포커스 에러신호를 검출할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 에러신호 검출장치가 기록매체에서 반사/회절된 광빔(LB)을 4×2 행렬배치의 8개의 광영역으로 분할/검출하도록 된 광검출유니트를 구비하여, 본 발명의 제3 및 7실시예 또는 본 발명의 제3 및 제9실시예가 복합된 구조를 가지면, 래디얼 틸트 및 디포커스 에러신호를 검출할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 에러신호 검출장치가 기록매체에서 반사/회절된 광빔(LB)을 4×4 행렬배치의 16개의 광영역으로 분할/검출하도록 된 광검출유니트(예를 들어, 도 29에 도시된 바와 같이, 16분할 구조의 광검출기(1030))를 구비하여, 본 발명의 실시예들이 복합된 구조로 되면, 탄젠셜 틸트, 래디얼 틸트 및 디포커스 에러신호를 검출할 수 있다.
이상의 실시예들에서는 광검출유니트로 소정의 분할 구조를 갖는 광검출기를채용하는 경우를 예를 들어 설명하였는데, 상기 광검출유니트는 광분리소자(미도시) 및 이에 대응되게 마련된 광검출기(미도시)로 구성될 수도 있다.
이때, 상기 광분리소자로는 기록매체(10)에서 반사/회절된 광빔(LB)을 도 3, 도 6, 도 9, 도 12, 도 15, 도 17, 도 21, 도 23 및/또는 도 25에 도시된 광영역 분할 구조 또는 그 복합된 분할 구조로 분할할 수 있도록 다수의 회절영역을 가지는 회절소자 예컨대, 홀로그램소자를 구비할 수 있다. 이때, 각 회절영역은 그 영역으로 입사되는 광을 +1차 또는 -1차로 회절투과시켜 광빔(LB)을 앞서와 같은 다수의 광영역으로 나누게 되는데, 그 회절 패턴 방향 및 피치 간격 등은 광검출기의 구조와 연관지어 설계된다.
이상에서 설명한 본 발명의 실시예들에 따른 에러신호 검출장치는 광검출유니트가 대물렌즈(17)의 출사동과 광검출유니트 사이에 기록매체(10)에서 반사/회절된 광의 강도 분포에 영향을 미치는 어떠한 광학소자도 배제한 경우에 적합한 구조이다.
따라서, 대물렌즈(17)와 광검출 유니트 사이에 기록매체(10)에서 반사/회절된 광의 강도 분포에 영향을 미치는 렌즈 및/또는 홀로그램소자 등의 광학소자가 삽입되면, 본 발명에 따른 에러신호 검출장치에서 광검출유니트 및 회로부는 광의 강도 분포에 영향을 미치는 광학소자에 의한 광의 강도 분포 변화에 대응되게 변경될 수 있다. 이와 같이, 대물렌즈(17)와 광검출유니트 사이에 광의 강도 분포에 영향을 미치는 소정의 광학소자가 삽입된 경우에도, 변경된 구조의 회로부에서 검출되는 에러신호는 결과적으로 앞서 설명한 실시예들에서와 동일하다.
상기한 바와 같은 본 발명에 따른 에러신호 검출장치에 의하면, 래디얼 틸트, 디포커스 및 디트랙 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 탄젠셜 틸트 에러신호, 탄젠셜 틸트 및 디포커스 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 래디얼 틸트 에러신호 및/또는 탄젠셜 및 래디얼 틸트, 디트랙 등에 거의 영향을 받지 않는 정확한 디포커스 에러신호를 검출할 수 있다.

Claims (25)

  1. 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하며,
    상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 기록매체의 래디얼 방향에 대응되는 방향으로 제1 내지 제4광영역으로 나누어 검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 출력하도록 마련되고,
    상기 회로부는, 상기 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  2. 삭제
  3. 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하며,
    상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 광축을 가로지르는 축에 대해 일측 부분을, 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계선에 의해, 행 및 열이 상기 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬 배치를 이루며 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4광영역으로 분할/검출하도록 되어 있으며,
    상기 회로부는, 상기 제1 및 제3광영역에 대한 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제2 및 제4광영역에 대한 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 탄젠셜 틸트 에러신호를 검출하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  4. 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와;
    상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 디포커스 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하며,
    상기 광검출유니트는 상기 광빔의 제1 내지 제4광영역을 검출하여 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 출력하도록 마련되고, 상기 제1 내지 제4광영역은 반시계 방향으로 배열되고, 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬 배치를 이루도록 되어 있으며,
    상기 회로부는, 일 열에 위치된 제1광영역의 제1검출신호 및 제2광영역의 제2검출신호 사이의 위상차와, 다른 열에 위치된 제4광영역의 제3검출신호 및 제3광영역의 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호를 검출하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  5. 삭제
  6. 제4항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 래디얼 방향에 대응되는 방향을 따라, 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4광영역으로 나누어 검출하도록 마련된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  7. 제4항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 래디얼 방향에 대응되는 방향을 따라, 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 광빔의 중심부분을 제1 내지 제4광영역으로 나누어 검출하도록 마련된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  8. 제1항, 제3항, 제4항, 제6항 및 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 2×4 행렬 배치로 분할되어 각각 독립적으로 광전변환하는 8개의 수광영역을 구비하는 광검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  9. 제4항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔 전체를 제1 내지 제4광영역으로 분할 검출하도록 마련된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 제1 내지 제4광영역을 각각 수광하는 제1 내지 제4수광영역을 구비하는 광검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  11. 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 디포커스 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하며,
    상기 광검출유니트는,
    상기 광빔을 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향을 따라, 제1외측 부분, 중심부분, 제2외측 부분으로 구분하여 볼 때, 상기 제1 및 제2외측 부분을 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4외측 광영역으로 분할 검출 및/또는 상기 중심부분을 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역으로 분할 검출하도록 마련되고,
    상기 회로부는,
    상기 제1외측 광영역 및/또는 제2내측 광영역의 검출신호에 대한 제1검출신호와 제2외측 광영역 및/또는 제1내측 광영역의 검출신호에 대한 제2검출신호 사이의 위상차와, 상기 제3내측 광영역 및/또는 제4외측 광영역의 검출신호에 대한 제3검출신호와 제3외측 광영역 및/또는 제4내측 광영역의 검출신호에 대한 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호를 검출하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  12. 제11항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 제1 및 제2외측 부분을 제1 내지 제4외측 광영역으로 나누어 검출하고, 상기 제1 내지 제4외측 광영역은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬을 이루며, 상기 제1 및 제4외측 광영역은 서로 다른 열에 위치되도록 마련되고,
    상기 회로부는, 상기 제1 내지 제4외측 광영역에서 출력되는 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 입력받아 연산하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  13. 제11항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 중심부분을 제1 내지 제4내측 광영역으로 나누어 검출하고, 상기 제1 내지 제4내측 광영역은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 2×2 행렬을 이루며, 상기 제1 및 제4내측 광영역은 서로 다른 열에 위치되도록 마련되고,
    상기 회로부는 상기 제1 내지 제4내측 광영역에서 출력되는 제2, 제1, 제3 및 제4검출신호를 입력받아 연산하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용에러신호 검출장치.
  14. 제11항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 상기 광빔의 제1 및 제2외측 부분을 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4외측 광영역으로 분할 검출하고, 상기 중심부분을 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역으로 분할 검출하며,
    상기 광영역들은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 4×2 행렬 배치를 이루며, 그 제1외측 광영역 및 제4외측 광영역이 서로 다른 열에 위치되도록 되어 있으며,
    상기 회로부는, 상기 제1외측 광영역 및 제2내측 광영역의 검출신호를 합한 제1검출신호와 제2외측 광영역 및 제1내측 광영역의 검출신호를 합한 제2검출신호 사이의 위상차와, 상기 제3내측 광영역 및 제4외측 광영역의 검출신호를 합한 제3검출신호와 제3외측 광영역 및 제4내측 광영역의 검출신호를 합한 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  15. 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 디포커스 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하며,
    상기 광검출유니트는, 상기 광빔 전체를 상기 기록매체의 탄젠셜 방향에 대응되는 방향으로 제1 내지 제4광영역으로 분할 검출하여 상기 제1 내지 제4광영역에 대한 제1, 제2, 제4 및 제3검출신호를 출력하도록 되어 있으며,
    상기 회로부는, 상기 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 디포커스 에러신호를 검출하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  16. 제3항, 제4항, 제6항, 제7항, 제9항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서, 디포커스가 발생하지 않은 상태에서 상기 회로부에서 검출된 디포커스 에러신호가 일정치 이하가 되도록 마련된 기록매체를 이용하여, 광기록재생기기에 존재하는 디포커스 성분을 검출할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  17. 제16항에 있어서, 디포커스가 발생하지 않은 상태에서 상기 기록매체는, 기록매체에 기록된 정보신호의 채널 클럭 간격(interval)을 T, 상기 회로부의 위상비교기에 입력되는 검출신호들의 평균 시간차를 △t라 할 때, △t/T가 광기록재생기기에 사용되는 광빔의 초점 깊이(depth of focus) 범위에 대해 0.5 내지 1.0인 디포커스 에러신호값을 나타내도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  18. 기록매체의 정보열에서 반사/회절되고 대물렌즈를 경유한 광빔의 영역별 위상 특질을 충분히 고려하여, 상기 광빔의 적어도 일부영역을 복수의 광영역으로 분할하여 검출하는 광검출유니트와; 상기 복수의 광영역의 검출신호들 사이의 위상차를 검출하여 래디얼 틸트 에러신호를 검출하는 회로부;를 포함하며,
    상기 광검출유니트는, 상기 광빔을 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 경계에 대해 반시계 방향으로 배열된 제1 내지 제4내측 광영역 및 그 탄젠셜 방향에 대응되는 방향을 따른 외측에 각각 위치된 제1 내지 제4외측 광영역으로 분할/검출하도록 마련되고,
    상기 광영역들은 그 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 4×2 행렬 배치를 이루며, 그 제1내,외측 광영역 및 제4내,외측 광영역이 서로 다른 열에 위치되도록 되어 있으며,
    상기 회로부는,
    상기 제1외측 광영역 및 제4내측 광영역의 검출신호의 합을 제1검출신호, 제4외측 광영역 및 제1내측 광영역의 검출신호의 합을 제2검출신호, 제2내측 광영역 및 제3외측 광영역의 검출신호의 합을 제3검출신호, 제3내측 광영역 및 제2외측 광영역의 검출신호의 합을 제4검출신호라 할 때,
    상기 제1 및 제2검출신호 사이의 위상차와 제3 및 제4검출신호 사이의 위상차를 합산한 신호를 출력하여, 래디얼 틸트 에러신호를 검출하도록 된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  19. 삭제
  20. 제18항에 있어서, 상기 제1외측 광영역은 상기 광빔의 4×2 행렬 배치로의 분할 구조에서 제1행, 제1열에 위치되는 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  21. 제11항 내지 제15항, 제18항 및 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광검출유니트는, 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 4×2 행렬배치로 분할되어 각각 독립적으로 광전변환하는 8개의 수광영역을 구비하는 광검출기를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  22. 제1항, 제3항, 제4항, 제6항, 제7항, 제9항 내지 제15항, 제18항 및 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 광검출유니트는 행 및 열이 상기 기록매체의 래디얼 방향 및 탄젠셜 방향에 대응되는 방향과 나란한 4×4 행렬 배치로 분할되어 각각 독립적으로 광전변환하는 16개의 수광영역을 구비하는 광검출기인 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  23. 제1항, 제3항, 제4항, 제6항, 제7항, 제9항 내지 제15항, 제18항 및 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회로부는,
    제1 및 제2검출신호를 위상 비교하여, 제1검출신호의 위상이 제2검출신호의 위상보다 앞설 때는 제1위상 비교신호, 제2검출신호의 위상이 제1검출신호의 위상보다 앞설 때는 제2위상 비교신호를 출력하도록 된 제1위상 비교기와;
    제3 및 제4검출신호를 위상 비교하여, 제3검출신호의 위상이 제2검출신호의 위상보다 앞설 때는 제3위상 비교신호, 제4검출신호의 위상이 제3검출신호의 위상보다 앞설 때는 제4위상 비교신호를 출력하도록 된 제2위상 비교기와;
    상기 제1 내지 제4위상 비교신호를 입력받아, 상기 제1 및 제3위상 비교신호의 합신호와 제2 및 제4위상 비교신호의 합신호를 차동한 신호를 출력하도록 된 매트릭스 회로;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  24. 제1항, 제3항, 제4항, 제6항, 제7항, 제9항 내지 제15항, 제18항 및 제20항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 회로부는, 상기 제1검출신호 및 제3검출신호를 합산한 제5검출신호와 제2 및 제4검출신호를 합산한 제6검출신호의 위상차를 검출하도록 마련된 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
  25. 제24항에 있어서, 상기 회로부는,
    제5 및 제6검출신호를 위상 비교하여, 제5검출신호의 위상이 제6검출신호의 위상보다 앞설 때는 제5위상 비교신호, 제6검출신호의 위상이 제5검출신호의 위상보다 앞설 때는 제6위상 비교신호를 출력하도록 된 위상 비교기와;
    상기 제5 내지 제6위상 비교신호를 입력받아, 상기 제5 및 제6위상 비교신호를 차동한 신호를 출력하도록 된 매트릭스 회로;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광기록재생기기용 에러신호 검출장치.
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