KR100230515B1 - 요철이 형성된 리드 프레임의 제조방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 딤플이 형성되어 있는 리드 프레임 및 그를 이용한 반도체 패키지와 그 리드 프레임을 제조하기 위한 방법을 제공하는 것에 관한 것으로서, 리드, 타이바 및 다이패드를 포함하는 리드 프레임 전체 표면에 딤플을 기계적으로 형성하는 방법을 제공하고 이를 이용한 신뢰성이 우수한 반도체 패키지를 제공하는 것에 관한 것이다. 즉, 리드 프레임의 전체 표면에 딤플 모양의 요철면을 형성하여 리드 프레임과 성형수지간의 접착력 향상 및 반도체 칩과 다이패드간의 접착력을 향상시켜 반도체 패키지의 박형화로 발생하는 박리현상을 제거하는 동시에 딤플을 리드 프레임 전체 표면에 형성하는 방법을 기계적 표면개질 처리 방법인 노즐을 통하여 압축 공기와 함께 메디아를 리드 프레임 표면에 충돌시킴으로서 딤플을 형성하는 방법을 제공하여 저가로 대량 생산이 가능한 이점을 제공하는데 있다.
Description
본 발명은 고집적 회로(IC ; integrated circuit) 소자(device)와 같은 반도체 칩을 패키지화(packageing)하는 리드 프레임(lead frame)에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 리드 프레임과 성형수지 간의 접착력을 증대시킬 수 있는 리드 프레임 및 이의 제조방법에 관한 것이다.
일반적으로 리드 프레임은 여러 개의 유니트(unit)로 이루어진 스트립(strip) 상태의 리드 프레임 스트립으로 제작되고 있으며, 이러한 스트립은 한 개에서 다섯 개까지의 리드 프레임을 수용하고 있다. 이 리드 프레임은 제작되는 동안 리드 프레임의 소정의 위치에 캐리어 레일(carrier rail) 및 가이드 홀(guide hole)이 갖추어져 있고, 또한 리드 프레임은 복수 개의 내부리드(inner lead)와 외부리드(outer lead)를 포함하는 리드(lead), 타이바(tie bar) 및 다이패드(die pad)를 갖고 있다. 다이패드는 리드 프레임의 중앙에 사각형의 모양으로 형성되어 반도체 칩이 접착될 면적을 갖고 있다.
플라스틱(plastic) 계열의 에폭시(epoxy) 성형수지와 리드 프레임간의 박리 현상은 반도체 패키지의 주요 불량 원인이고, 이러한 불량은 성형수지 내부에 침투한 수분이 열을 수반하는 경화(cure)공정 및 테스트 공정 진행시 기화되면서 팽창하는 압력에 의하여 발생하고 있다.
이러한 불량은 사용자의 요구에 따라 반도체 패키지가 박형화 및 소형화되면서 보다 심각한 문제로 대두되고 있으며, 그 불량 원인을 제거하기 위한 방법으로 리드 프레임과 성형수지간의 접착력을 향상시키려는 노력이 진행되어 왔고, 그 노력의 일환중의 하나가 바로 리드 프레임의 다이패드부에 딤플 형성 및 새로운 성형수지 소재의 개발이다.
현재 적용하고 있는 방법은 식각(etch) 리드 프레임인 경우 리드 프레임의 다이패드 밑면에 여러 가지 모양의 딤플(dimple)을 만들거나, 스탬핑(stamping)의 경우 다이패드에 슬롯(slot)을 만들거나, 또는 펀칭(punching)을 하여 딤플을 만드는 것과 같은 효과를 내도록 하여 고온 다습한 조건에서도 성형수지와 리드 프레임과의 접착력을 향상시키고 있다.
이와 같이 리드 프레임의 다이패드부에 딤플을 형성하거나 슬롯을 형성하는 방법 및 구조는 미국 특허 공보 특허번호 4,942,452와 5,459,103 및 4,910,577등에 개재되어 있다.
즉, 이와 같이 식각하는 방법으로 리드 프레임의 다이패드에 딤플을 만들어 넣는 경우 상당히 효과를 보고 있으나 리드 프레임을 제작하는데 비용이 스탬핑 리드 프레임에 비해 2배 내지 3배 정도 많이 소요되고, 다이패드에서 내부리드로 진행하는 박리현상에 대해서는 여전히 문제를 갖고 있다.
또한, 스탬핑 리드 프레임인 경우 딤플을 규칙적으로 정확하게 만들기 어려워 슬롯을 만든다. 그러나 슬롯을 만든후에 조립공정에서의 슬롯을 피해 반도체 칩을 다이패드에 접착하는 공정이 어렵고 정밀한 설비가 필요하게 된다. 또한, 다이패드 뒷면에 바늘처럼 펀칭하는 방법은 딤플을 만들어 넣는 효과에 비해서 상당히 떨어진다.
따라서, 본 발명의 목적은 리드 프레임과 성형수지간의 박리현상으로 인한 반도체 패키지의 불량을 제거하기 위하여 간단한 기계적인 방법으로 리드 프레임 전체에 딤플을 형성하는 제조 방법을 제공하는 한편, 리드 프레임 표면의 거칠기를 주기 위한 화학약품 처리 방법을 제공하여 이와 같은 리드 프레임을 이용한 반도체 패키지를 제공하는데 있다.
도 1은 본 발명에 의한 리드 프레임을 나타내는 평면도.
도 2는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ선을 따라 자른 단면도.
도 3은 본 발명에 의한 리드 프레임을 적용하여 반도체 패키지를 완성한 모양을 나타내는 단면도.
도 4는 본 발명에 의한 다른 예에 의한 반도체 패키지를 나타내는 단면도.
도 5는 본 발명에 의한 젯트 노즐을 이용하여 리드 프레임에 딤플을 형성하는 모양을 나타내는 개략도.
도 6은 본 발명에 의한 리드 프레임의 제조 방법을 나타내는 흐름도.
<도면의 주요 부호에 대한 설명>
10 ; 다이패드 12 ; 접착제
14 ; 반도체 칩 16 ; 본딩패드
18 ; 와이어 20 ; 타이바
30 ; 딤플 또는 요홈 40 ; 내부리드
50 ; 외부리드 60 ; 댐바
70 ; 가이드 레일 80 ; 가이드 홀
90 ; 성형 수지 100 ; 리드 프레임
200 ; 노즐 250 ; 메디아
300 ; 이송수단
상기 목적을 달성하기 위하여 프레임 몸체에 연결되고 딤플이 형성된 타이바; 상기 타이바에 연결되어 반도체 칩이 안착될 수 있는 일차면과 그 일차면과 대항하는 이차면을 갖고 있는 동시에 상기 일차면과 이차면에 딤플이 형성된 다이패드; 및 상기 반도체 칩이 안착될 다이패드 방향으로 연장된 복수 개의 내부리드와 외부리드를 갖고 있고 그 내부리드와 외부리드에 딤플이 형성되어 있는 리드들; 을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 리드 프레임을 제공한다.
그리고, 상기 다른 목적을 달성하기 위하여 딤플이 형성된 타이바에 연결되어 서로 대항하는 일차면과 이차면을 갖고 있는 동시에 그 일차면과 이차면에 딤플이 형성된 다이패드; 상기 다이패드의 일차면에 접속수단으로 고정되고 복수개의 본딩패드들이 형성되어 있는 반도체 칩; 상기 반도체 칩이 안착될 다이패드 방향으로 연장된 복수 개의 내부리드와 외부리드를 갖고 있고, 그 내부리드에 딤플이 형성된 리드들; 상기 반도체 칩의 본딩패드와 대응되는 내부리드를 전기적으로 연결하는 연결수단; 그리고, 상기 반도체 칩을 포함하는 전기적 연결부위를 봉지하는 성형수지; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지를 제공한다.
또한, 상기 목적을 달성하기 위한 리드 프레임의 제조방법으로서, (a) 휠에 감겨져 있는 릴 테이프 형태의 리드 프레임 원자재를 턴테이블과 언코일러 장치를 통과시켜 리드 프레임 성형가공을 준비하는 단계; (b) 상기 준비된 리드 프레임을 기계적 표면개질 장치에 인입시켜 그 리드 프레임의 전표면에 기계적인 방법으로 요철부를 형성하는 단계; (c) 전표면에 요철이 형성된 리드 프레임을 레벨러로 평탄화 시키고, 피이더에 공급하여 리드 프레임의 모양을 스탬핑하는 단계; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 리드 프레임 제조 방법을 제공한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 관하여 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명에 의한 리드 프레임을 나타내는 평면도이다.
도 2는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ선을 따라 자른 단면도이다.
도 3은 본 발명에 의한 리드 프레임을 적용하여 반도체 패키지를 완성한 모양을 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 발명에 의한 다른 예에 의한 반도체 패키지를 나타내는 단면도이다.
도 5는 본 발명에 의한 젯트 노즐을 이용하여 리드 프레임에 딤플을 형성하는 모양을 나타내는 개략도이다.
도 6은 본 발명에 의한 리드 프레임의 제조 방법을 나타내는 흐름도이다.
먼저, 도 1과 도 2는 프레임(frame) 몸체인 가이드 레일(guide rail)(70)에 타이바(tie bar)(20)가 연결되어 있고, 가이드 레일(70)과 연결되지 않은 쪽의 타이바의 일측에는 반도체 칩(도면에 도시안됨)이 안착될 수 있는 다이패드(10)가 연결되어 일체로 형성되어 있는 모양을 나타내고 있다. 계속해서, 다이패드(10)는 사각 평판형의 반도체 칩이 안착될 일차면과 이차면이 서로 대항되어 형성되어 있으며, 상기 반도체 칩이 안착될 다이패드(10) 방향으로 연장된 내부리드(40)와 내부리드(40)에서 연장된 외부리드(50)가 다이패드(10) 주변에 형성되어 있다. 내부리드(40)와 외부리드(50)에 직각하는 방향으로 댐바(dam bar)(60)가 가로질러 형성되어 있으며, 댐바(60)는 몰딩(molding) 공정이 액상의 플라스틱(plastic) 계열의 성형수지가 흘러넘치지 못하도록 하는 동시에 외부리드(50)와 내부리드(40)를 구분하는 역할을 한다.
그리고, 다이패드(10), 타이바(20) 및 내부리드(40)와 외부리드(50)의 전체 표면에 딤플(dimple)(30)이 형성되어 있다. 딤플(30)은 일정한 간격과 모양을 갖고 있지 않고 불규칙적인 모양과 간격으로 마치 리드 프레임(100) 전체 표면에 요철이 형성된 것처럼 형성되어 있는 것이다.
즉, 다이패드(10)의 안착될 일차면과 이차면에도 동일한 형태의 딤플이 형성되어 있고, 내부리드의 양측면에도 딤플이 모두 형성되어 있는 것은 물론 타이바에도 동일한 형태의 딤플이 형성되어 있다.
종래 기술에 의해서는 반도체 칩이 안착될 다이패드의 하부면에만 규칙적으로 딤플을 형성하였으나, 본 발명에 의하면 반도체 칩이 안착될 다이패드의 일차면 및 내부리드와 타이바를 포함하는 리드 프레임의 전체에 딤플 형상의 요철을 형성한 것이다.
또한, 도면에는 나타내지 않았지만 다이패드에 락(lock)이 형성된 리드 프레임 및 SOJ(small outline "J" bended package)용 리드 프레임, TSOP(thin small outline package)용 리드 프레임, TQFP(thin quad flat package)용 리드 프레임 등의 다양한 형태의 패키지를 형성하는 리드 프레임의 구조에서도 그 리드 프레임의 양쪽면에 모두 딤플을 형성하여 적용할 수 있다.
도 3은 도 1의 리드 프레임(100)을 이용한 반도체 패키지를 나타내는 단면도로서, 다이패드(10)의 일차면에 은-에폭시(Ag-epoxy) 계열의 접착성을 갖는 접착제(12)로 고집적 회로가 형성된 반도체 칩(14)이 접착되어 있고, 반도체 칩(14)의 상부면에는 외부와 전기적으로 연결되기 위한 본딩패드(16)들이 형성되어 있으며, 본딩패드(16)들과 대응되는 내부리드(40)들이 전기적 연결수단인 와이어(18)로 서로 연결되어 있고, 반도체 칩(14)을 포함하는 전기적 연결부위가 성형수지(90)로 봉지되어 있는 모양을 나타내고 있다.
그리고, 상기 다이패드(10)의 반도체 칩(14)이 접착되어 있는 일차면 및 그 반대편의 다이패드(10) 하면인 이차면에는 딤플(30) 모양의 요철이 형성되어 있다. 또한, 딤플(30)은 내부리드(40) 및 성형수지(90)로 둘러싸여지는 타이바 부분의 양측면에도 모두 형성되어 있다. 반도체 칩(14)이 안착되는 다이패드(10)의 일차면에 형성된 딤플(30)은 다이패드(10)와 반도체 칩(14) 사이의 접착력을 증가시키는 역할을 한다. 즉, 딤플(30)은 접착제(12)와 다이패드(10)간의 접착면적을 증가시키고, 이 접착면적의 증가는 접착력을 향상시키게 된다.
또한, 그 다이패드(10)의 하면인 이차면에 형성된 딤플(30)은 다이패드(10)의 표면 면적을 증가시키므로서 다이패드와 성형수지(90)간의 접착력을 향상시킬 수 있을 뿐만이 아니라 내부리드부(40)와 타이바 부분에 형성된 딤플 또한 성형수지와의 접착력을 향상시킬 수 있는 구조로 되어 있다.
반도체 칩(14)의 본딩패드(16)와 전기적으로 연결되는 내부리드(40)의 말단부는 리드 프레임 성형 공정시 프레스(press) 공정에 포함되어 있는 코이닝(coining) 공정이 진행되어 납작하게 되므로 딤플(30)이 형성되지 않는다. 이는 와이어 본딩(wire bonding) 공정시 와이어(18)와 내부리드(40)간의 접착력에 문제를 야기하지 않게 된다.
도 4는 본 발명에 따른 다른 예로서, 다이패드(11)가 반도체 칩(14)보다 작은 SDP(small die pad) 반도체 패키지의 경우 반도체 칩(14)과 다이패드(11)간의 접착력이 다이패드(11)의 일차면에 형성된 딤플로 인하여 접착 면적이 증가되고, 이로 인하여 SDP 반도체 패키지에서도 유용하게 적용할 수 있음을 나타내고 있다.
뿐만 아니라 도면에는 나타내지 않았지만, 다이패드가 없이 연장된 내부리드부가 반도체 칩 상면에 접착되는 리드 온 칩(lead on chip) 패키지 등의 경우 성형수지로 봉지하여 내재되는 내부리드 및 타이바 부분에도 딤플을 형성하고, 그 딤플로 인하여 성형수지와 리드 프레임간의 접착력을 증가시킬 수 있다.
도 5는 본 발명에 의한 리드 프레임의 표면에 딤플을 형성하는 공정(이하 "기계적 표면개질 공정" 또는 "기계적 표면개질 방법"이라고 한다)을 개략적으로 나타내는 도면으로서, 리드 프레임을 이송시키는 이송수단(300)이 있고, 이송수단(300)으로 이송된 리드 프레임(100)의 상면과 하면에 각각 노즐(200)에서 메디아(media)(250)를 분사시켜 리드 프레임(100)의 표면에 딤플을 형성하는 공정을 개략적으로 나타내고 있다.
이와 같이 연속적으로 리드 프레임(100)을 이송시키면서 그 리드 프레임(100)의 표면에 일정한 알갱이 크기를 갖고 있는 메디아(250)를 노즐(200)로 분사하는 장치는 일반적인 공지 기술을 적용하여 만들 수 있으므로 여기서는 상세한 리드 프레임의 표면개질 장치의 구성 및 설명은 생략하기로 한다.
이 표면개질 장치는 리드 프레임의 원자재를 프레스 가공하기 전 단계에서 사용하여야 하며, 표면개질 장치를 이용한 리드 프레임의 제조 방법을 나타내는 도 6을 설명하면, 먼저 일반적으로 리드 프레임 원자재를 가공하기 위한 준비를 하고, 준비된 리드 프레임을 언코일링(uncoiling) 공정을 진행한다. 계속해서 연속적으로 기계적 표면개질 공정을 진행하여 리드 프레임 표면에 요철을 형성하고, 이후 리드 프레임 모양을 형성하는 프레스 공정을 진행하여 리드 프레임을 완성하는 방법으로 이루어져 있다.
이하, 상기와 같은 방법으로 리드 프레임을 제조하는 각 단계별 공정을 좀더 상세히 설명하기로 한다.
일반적으로 리드 프레임은 전기적 전도성이 우수한 구리 또는 구리합금 등의 금속재질로 이루어져 있으며, 연속적인 생산공정을 적용하기 위하여 리드 프레임 원자재가 박막(薄膜)의 테이프(tape) 또는 코일(coil) 형태로 릴(reel)에 다량이 감겨져 있다. 이와 같이 원형의 릴에 리드 프레임 원자재를 감아 놓은 이유는 리드 프레임 원자재의 보관 및 취급이 용이할 뿐만 아니라 연속적인 생산공정이 가능하기 때문이다. 그 원형의 릴에 감겨겨 있는 리드 프레임 원자재를 평평하게 펴기 위하여 진행하는 공정이 언코일링 공정이며, 언코일링은 릴 상태로 포장되어 있어 감겨져 있는 리드 프레임 원자재를 풀어주는 턴테이블(turn table)과 언코일러(uncoiler)장치로 진행한다. 또한, 릴에 감겨져 있는 리드 프레임 원자재 사이에는 릴 페이퍼(reel paper)가 개재되어 있고, 그 릴 페이퍼는 리드 프레임 원자재의 손상을 방지하기 위하여 개재되어 있고 언코일링 공정을 진행하면서 자동적으로 풀어지도록 되어 있다.
그리고, 리드 프레임 원자재는 연속적인 이동 수단에 의하여 기계적 표면개질 장치로 인입되게 된다. 기계적 표면개질 장치는 다른 리드 프레임 장치와 마찬가지로 리드 프레임 원자재가 연속적으로 그 기계적 표면개질 장치에 인입시키는 로더(loader) 또는 피더(feeder)가 장착되어 있다. 상기 로더 또는 피더는 리드 프레임 원자재를 일정한 속도로 기계적 표면개질 장치에 인입시키는 역할을 하고, 상기 기계적 표면개질 장치의 후단에는 언로더(unloader)가 장착되어 기계적 표면개질 장치를 통과하여 성형된 리드 프레임 원자재를 다음 공정으로 이송하는 역할을 하도록 되어 있다. 이와 같이 기계적 표면개질 장치에 리드 프레임 원자재를 인입시키고 배출하는 로더 및 언로더는 일반적인 공지기술을 이용하여 형성할 수 있으므로 여기서는 자세한 언급은 생략하기로 한다.
그리고, 상기 기계적 표면개질 장치의 내부에는 리드 프레임 원자재가 통과하는 내부공간이 형성되어 있고, 그 내부공간의 상부와 하부에는 각각 노즐(nozzle)이 리드 프레임 원자재 방향으로 부착되어 있다. 즉, 상기 기계적 표면개질 장치의 내부공간에 있는 리드 프레임의 양 표면에서 일정거리 떨어진 위치에 노즐이 고정되도록 하고, 그 노즐을 통하여 미세 알갱이 형태의 메디아(media)가 혼합되어 있는 압축 공기를 분출하는 구조로 이루어져 있다.
즉, 리드 프레임의 원자재 표면에 딤플을 형성하기 위하여 미세 알갱이 형태의 메디아를 압축 공기와 함께 노즐로 리드 프레임 원자재의 표면에 충돌시키는 방법을 이용한 것이다. 특히 리드 프레임의 양면에 딤플을 형성하기 위하여 일정한 속도로 진행하는 리드 프레임 원자재의 양면에 한쌍의 노즐을 설치하고, 동시에 동일한 압축 공기와 메디아를 리드 프레임 원자재의 서로 마주보는 양쪽면에 분사하여 리드 프레임 원자재가 한쪽 방향으로만 치우쳐지거나 기계적인 스트레스(stress)에 의한 영향을 감소할 수 있다.
여기서 기계적 표면개질 장치에 관하여 좀더 상세하게 설명하면, 상기 리드 프레임의 원자재에 딤플을 형성하기 위하여 직접 리드 프레임의 표면에 접촉하는 미세 알갱이 형태의 메디아는 연마재(硏磨材) 또는 표면처리재로 쓰이고 있는 플라스틱(plastic) 계열, 규소, 유리 및 호두껍질 등의 미세 알갱이 재료를 사용한다. 이와 같은 미세 알갱이 형태의 메디아의 크기는 약 5㎛ 내지 200㎛ 정도의 것을 사용하며, 상기 메디아의 밀도는 리드 프레임의 두께에 따라 약 100g/ℓ 내지 200g/ℓ 정도의 것을 사용한다. 그리고, 상기 노즐을 통하여 메디아를 분사하기 위한 공기 압력은 대략 1.2㎏/㎠ 내지 4.5㎏/㎠ 정도로 하고 본 발명에 의한 최적의 실시예는 약 2.3±1㎏/㎠을 사용한다.
그러면, 상기 미세 알갱이 형태의 메디아는 압축 공기를 따라 일정한 속도로 노즐을 통과하여 공기와 함께 외부로 분사되고, 그 일정한 속도로 분사된 메디아는 리드 프레임 원자재의 표면에 충돌하게 된다. 이때 메디아가 리드 프레임의 원자재에 충돌할 때 그 충격으로 인하여 리드 프레임 원자재 표면에 딤플이 형성되며, 그 딤플의 깊이는 리드 프레임의 두께에 따라 약 5㎛ 내지 200㎛ 정도로 형성된다.
상기 딤플의 모양 및 간격은 규칙적인 배열을 갖지 않고 불규칙한 배열 및 모양을 갖게 되며, 이는 분사되는 메디아의 알갱이 크기가 서로 조금씩 다르고 분사되어 리드 프레임 원자재 표면에 충돌하는 각도가 서로 조금씩 다르기 때문이다. 즉, 충돌하는 메디아의 크기가 크면 무게가 더 무겁게 되고, 그 무거운 메디아는 리드 프레임 원자재 표면에 충돌할 때 충격 에너지가 상승하게 되며, 충격 에너지가 크게 되면 리드 프레임 원자재 표면에 생성되는 딤플의 크기 또한 깊고 커지게 된다. 또한, 노즐을 통하여 분사되는 메디아는 일정한 범위내에서 분사 각도를 갖고 분출하게 되며, 이러한 분사각도의 차이는 딤플의 깊이와 모양에 영향을 주게 된다. 이와 같은 요인으로 인하여 기계적 표면처리 공정을 거친 리드 프레임 원자재 표면에 형성된 딤플은 불규칙한 모양의 딤플을 갖게 되며, 이는 리드 프레임 원자재 표면에 요철이 형성되는 것과 같은 모양을 갖게 된다.
따라서, 본 발명에 의한 기계적 표면개질 공정은 리드 프레임 원자재 표면에 미세 알갱이 입자를 압축 공기와 함께 분사하여 딤플을 형성하는 방법을 사용하고 있으므로 분사하는 압축 공기압력과 메디아의 크기 및 메디아의 밀도를 조절하는 방법으로 다양한 형태의 딤플을 형성할 수 있다.
예를 들어, 리드 프레임 원자재 표면에 일정한 단위 면적당 많은 수의 딤플을 형성하려고 한다면, 분사되는 메디아의 밀도를 180g/ℓ 내지 200g/ℓ 정도로 하거나 리드 프레임 원자재의 노즐 통과 속도를 감소하는 방법으로 달성할 수 있다. 또한, 리드 프레임 원자재 표면에 형성되는 딤플의 깊이를 깊게 형성하려고 한다면, 분사되는 메디아 알갱이 크기, 알갱이 재질 또는 알갱이의 모양을 변경한다거나 알갱이를 분사시키는 노즐 압축 공기의 공기압을 증가시키는 방법으로 형성할 수 있다. 뿐만 아니라 본 발명에 의한 기계적 표면개질 방법에서 기술한 메디아의 크기 및 분사되는 공기압력 등의 여러 가지 변수를 조정하여 여러 가지 다른 유형의 딤플 또는 요철면을 용이하게 형성할 수 있다.
상기 노즐은 일반적인 압축 공기 공급장치와 압축 공기 배관에 연결되어 있고, 또한 압력 조절장치와 중간에 메디아를 혼합하여 공급할 수 있는 장치를 구비하고 있다. 압축 공기에 메디아를 일정한 밀도로 혼합하는 것은 벤튜리 현상을 이용한 방법 등의 공지 기술을 이용하여 실시할 수 있다.
또한, 본 발명에 의하면 상기와 같이 고체 미세 알갱이 형태의 메디아를 사용하지 않고, 노즐로 물과 압축 공기를 분사하는 방법을 적용하여 리드 프레임 원자재 표면에 일정한 모양의 딤플을 형성할 수 있다.
상기 전술한 리드 프레임 원자재 표면에 딤플을 형성하는 기계적 표면개질 처리 방법을 간략하게 설명하면, 기계적 표면개질 장치에 리드 프레임 원자재가 일정한 속도로 인입되는 단계와, 인입된 리드 프레임 원자재의 양면에 설치된 노즐로 메디아가 혼합된 압축 공기를 분사하는 단계 및 리드 프레임을 기계적 표면개질 장치에서 반출하는 단계로 되어 있다.
그리고, 이후 공정은 일반적인 리드 프레임을 제작하는 공정인 리드 프레임 모양을 형성하는 단계를 진행하여 리드 프레임의 모양을 완성한다. 즉, 상기 전술한 기계적 표면개질 공정이 완료된 리드 프레임 원자재를 프레스 공정에 투입되기 전에 원자재를 두 개의 롤러(roller) 사이에 통하게 함으로써 소재의 굴절을 펴주고, 원자재가 무거워 늘어짐을 방지하여 리드 프레임 원자재가 프레스(press) 장치에 용이하게 인입될 수 있도록 레벨러(leveler) 또는 롤러 스트레이너(roller straightener) 공정을 진행한다. 계속해서, 리드 프레임 원자재는 피더(feeder) 공정 및 스탬핑(stamping) 공정을 진행하게 되고, 피더 공정은 스탬핑 프레스의 매 스트로크(stroke) 마다 원자재를 일정한 길이로 프레스 장치에 투입되도록 조정하는 역할을 하는 공정이며, 스탬핑 공정은 리드 프레임 가공 금형을 프레스에 장착하여 기계적으로 리드 프레임의 모양을 찍어내는 공정이다.
상기 스탬핑 공정은 리드 프레임의 모양을 형성하는 공정이며, 이 공정에는 내부리드부의 말단을 납작하게 하는 코이닝(coining) 공정이 포함되어 있다. 이 코이닝 공정으로 인하여 내부리드부 말단에 형성된 딤플이 제거되는 것이고, 이는 내부리드부의 말단에 추후에 진행된 와이어 본딩 공정시 내부리드와 와이어의 전기적 접속력을 강화하기 위한 것이다.
따라서, 본 발명은 리드 프레임의 모양을 형성하는 스탬핑 공정 전단계에서 리드 프레임의 원자재에 기계적 표면개질 공정을 실시하여 리드 프레임 원자재 전체 표면에 딤플을 형성하고, 추후에 리드 프레임의 모양을 형성하는 스탬핑 공정을 진행하는 방법을 적용하고 있다. 이는 리드 프레임 완성후 다이패드부분 뿐만이 아니라 내부리드, 외부리드 및 타이바를 포함하는 리드 프레임 전체 양쪽면에 딤플이 형성되어 있고, 단지 스탬핑 공정시 진행되는 코이닝 공정으로 내부리드의 말단 부분만이 납작하게 눌려 딤플이 제거되어 있는 구조를 갖게 된다.
따라서, 본 발명에 의한 딤플을 형성하기 위한 기계적 표면개질 처리방법 및 그를 이용한 리드 프레임과 반도체 패키지의 장점은 다음과 같다.
1) 리드 프레임의 다이패드 상부면과 하부면, 내부리드 및 타이바를 포함하는 부분에도 딤플이 형성되어 있으므로 리드 프레임과 성형수지간의 접착력이 강화되어 박리현상으로 인한 불량을 감소시킬 수 있는 이점이 있다. 또한, 성형수지와 리드 프레임간의 접착력의 강화는 가격이 저렴한 기존의 에폭시 수지를 적용할 수 있어 원가 절감의 이점이 있다.
2) 반도체 칩 크기의 변경에 따른 다이패드의 크기가 변하여도 다이패드, 타이바 및 내부리드부에 딤플이 형성되어 리드 프레임과 성형수지간의 접착력을 강화할 수 있어 반도체 패키지의 신뢰도를 향상시킬 수 있다.
3) 반도체 칩이 접착되는 다이패드의 일차면에도 딤플이 형성되어 있어 반도체 칩과 다이패드간의 접착력이 증대되는 이점이 있다. 또한, 기존에 개발된 SDP(small die pad)인 경우 반도체 칩보다 작은 다이패드와의 접착력을 향상시킬 수 있는 이점(利點)이 있다.
4) 리드 프레임에 딤플을 형성할 수 있는 방법으로 기계적 표면개질 장치를 이용함으로써 공정이 단순화 되는 한편, 저렴한 비용으로 딤플이 형성된 리드 프레임을 양산할 수 있는 이점이 있다.
Claims (5)
- 반도체 패키지용 리드 프레임의 스탬핑 제조 방법에 있어서,(a) 휠에 감겨져 있는 릴 테이프 형태의 리드 프레임 원자재를 턴테이블과 언코일러 장치를 통과시켜 리드 프레임 성형가공을 준비하는 단계;(b) 상기 준비된 리드 프레임을 기계적 표면개질 장치에 인입시켜 그 리드 프레임의 전표면에 기계적인 방법으로 딤플을 형성하는 단계;(c) 전표면에 요철이 형성된 리드 프레임을 레벨러로 평탄화 시키고, 피더에 공급하여 리드 프레임의 모양을 스탬핑하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 요철이 형성된 리드 프레임 제조방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 기계적 표면개질 단계가(a) 기계적 표면개질 장치에 리드 프레임 원자재가 일정한 속도로 인입되는 단계;(b) 인입된 리드 프레임 원자재의 양면에 설치된 노즐로 메디아가 혼합된 압축 공기를 분사하는 단계; 및(c) 리드 프레임을 기계적 표면개질 장치에서 반출하는 단계;를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 요철이 형성된 리드 프레임 제조방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 (b) 단계의 메디아 밀도가 약 100g/ℓ 내지 200g/ℓ인 것을 특징으로 하는 요철이 형성된 리드 프레임 제조방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 (b)단계의 메디아 입자크기가 약 10㎛ 내지 200㎛인 것을 특징으로 하는 요철이 형성된 리드 프레임 제조방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 (b)단계의 압축 공기압이 약 1.2㎏/㎠ 내지 4.5㎏/㎠인 것을 특징으로 하는 요철이 형성된 리드 프레임 제조방법.
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