JPS61209339A - 光学的測定装置 - Google Patents
光学的測定装置Info
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- JPS61209339A JPS61209339A JP4995085A JP4995085A JPS61209339A JP S61209339 A JPS61209339 A JP S61209339A JP 4995085 A JP4995085 A JP 4995085A JP 4995085 A JP4995085 A JP 4995085A JP S61209339 A JPS61209339 A JP S61209339A
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- JP
- Japan
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- signal
- measured
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野１
この発明は、被測定対象の性状を光学的に測定する装置
に関するものである。
に関するものである。
［従来の技術］
従来、光を利用して、被測定対象の厚み、水分、色あい
等を測定する装置が知られている。たとえば、水分を吸
収する波長帯の光と、水分を吸収しない波長帯の光との
比率から、水分率等の被測定対象の性状を測定している
。
等を測定する装置が知られている。たとえば、水分を吸
収する波長帯の光と、水分を吸収しない波長帯の光との
比率から、水分率等の被測定対象の性状を測定している
。
［この発明が解決しようとする問題点］しかしながら、
被測定対象に着色物やその他の物が混入すると、第２図
で示すように、分光特性に傾きを生じる場合がある。こ
のため、測定波長の両側に２つの比較波長帯を設け、こ
の比較波長帯の２つの成分の平均を用いて比率をとる方
法が考えられる。
被測定対象に着色物やその他の物が混入すると、第２図
で示すように、分光特性に傾きを生じる場合がある。こ
のため、測定波長の両側に２つの比較波長帯を設け、こ
の比較波長帯の２つの成分の平均を用いて比率をとる方
法が考えられる。
ところが、このように、測定波長、比較波長を増加させ
て行くと、必要波長の数に応じたフィルタ、検出素子を
必要とし、また、演算要素も多くなり、複雑、高価なも
のとなる問題点があった。
て行くと、必要波長の数に応じたフィルタ、検出素子を
必要とし、また、演算要素も多くなり、複雑、高価なも
のとなる問題点があった。
この発明の目的は、以上の点に鑑み、比較波長の２つの
成分を同時に得るようにし、測定系の簡素化、高精度化
を図った光学的測定装置を提供することである。
成分を同時に得るようにし、測定系の簡素化、高精度化
を図った光学的測定装置を提供することである。
し問題点を解決するための手段］
この発明は、被測定対象からの透過光または反射光のう
ち測定波長帯の成分の第１の信号と、被測定対象からの
透過光または反射光のうち測定波長帯の両側の２つの比
較波長帯の２つの成分を含む第２の信号との比率から被
測定対象の性状を測定するようにした光学的測定装置で
ある。
ち測定波長帯の成分の第１の信号と、被測定対象からの
透過光または反射光のうち測定波長帯の両側の２つの比
較波長帯の２つの成分を含む第２の信号との比率から被
測定対象の性状を測定するようにした光学的測定装置で
ある。
［実施例］
第１図は、この発明の一実施例を示す構成説明図である
。
。
図において、１は、投光用の光源で、この光源１の光は
、投光レンズ２で被測定対象３に投光され、その透過光
または反射光は集光レンズ４で集光され、モータＭによ
り回転する回転セクタ５に設けられた第２図の測定波長
λ２を通過させるフィルタ５１、測定波長λ２の両側の
２つの比較波長λ１、λ３をともに通過させるフィルタ
５２を介して検出素子６に入射する。この検出素子６の
検出信号は増幅器７により増幅され、測定波長帯の測定
波長λ２の成分に対応した第１の信号ｅ１、および比較
波長帯の比較波長λ１、λ３の両方の成分を含む第２の
信号ｅ２が、回転セクタ５に設けられた同期信号発生器
９の同期信号により、第１、第２のサンプルホールド回
路８１．８２にホールドされる。イして、割鋒回路１０
により第１、第２のサンプルホールド回路８１．８２の
第１、第２の信号ｅｌ、ｅ２の比率ｅ１／ｅ ２をとり
、被測定対象３の水分率その他の性状の測定信＠ｅＯを
取り出すことができる。これら、サンプルホールド回路
８１，８２、側御回路１ｏの機能をメモリを含むマイク
ロコンピュータ、パーソナルコンピュータ等の演棹手段
により実現してもよい。
、投光レンズ２で被測定対象３に投光され、その透過光
または反射光は集光レンズ４で集光され、モータＭによ
り回転する回転セクタ５に設けられた第２図の測定波長
λ２を通過させるフィルタ５１、測定波長λ２の両側の
２つの比較波長λ１、λ３をともに通過させるフィルタ
５２を介して検出素子６に入射する。この検出素子６の
検出信号は増幅器７により増幅され、測定波長帯の測定
波長λ２の成分に対応した第１の信号ｅ１、および比較
波長帯の比較波長λ１、λ３の両方の成分を含む第２の
信号ｅ２が、回転セクタ５に設けられた同期信号発生器
９の同期信号により、第１、第２のサンプルホールド回
路８１．８２にホールドされる。イして、割鋒回路１０
により第１、第２のサンプルホールド回路８１．８２の
第１、第２の信号ｅｌ、ｅ２の比率ｅ１／ｅ ２をとり
、被測定対象３の水分率その他の性状の測定信＠ｅＯを
取り出すことができる。これら、サンプルホールド回路
８１，８２、側御回路１ｏの機能をメモリを含むマイク
ロコンピュータ、パーソナルコンピュータ等の演棹手段
により実現してもよい。
つまり、回転セクタ５の分光手段としてフィルタ５１は
、第３図へで示すような波長λ２の単一のピークの透過
率特性をもち、フィルタ５２は、第３図Ｂで示すように
、波長λ１、λ３のダブルビークの透過率特性をもつ。
、第３図へで示すような波長λ２の単一のピークの透過
率特性をもち、フィルタ５２は、第３図Ｂで示すように
、波長λ１、λ３のダブルビークの透過率特性をもつ。
このフィルタ５２を用いることにより、第２図の測定波
長２２の両側の比較波長λ１、λ３の成分の和に相当す
るものが得られ、結局、傾きに起因する比較波長λ１成
分の増加分と比較波長λ３の減少分とは相殺され、常に
正しい測定が可能となる。
長２２の両側の比較波長λ１、λ３の成分の和に相当す
るものが得られ、結局、傾きに起因する比較波長λ１成
分の増加分と比較波長λ３の減少分とは相殺され、常に
正しい測定が可能となる。
第４図は、他の実施例を示す構成説明図で、光源１の光
は、光ファイバー１１により被測定対象３に投光され、
その宇射光は再び光ファイバー１１により伝送され、ハ
ーフミラ−１２により分離され、ハーフミラ−１２を反
射した光は、測定波長λ２を透過させるフィルタ５１を
介して検出素子６１に入射し、ハーフミラ−１２を透過
した光は比較波長λ１、λ３の両方を透過させるフィル
タ５２を介して検出素子６２に入射し、検出素子６１．
６２の出力ｅ１、ｅ２は測定手段１３で比率がとられ、
測定信号ｅｏを取り出すことができる。
は、光ファイバー１１により被測定対象３に投光され、
その宇射光は再び光ファイバー１１により伝送され、ハ
ーフミラ−１２により分離され、ハーフミラ−１２を反
射した光は、測定波長λ２を透過させるフィルタ５１を
介して検出素子６１に入射し、ハーフミラ−１２を透過
した光は比較波長λ１、λ３の両方を透過させるフィル
タ５２を介して検出素子６２に入射し、検出素子６１．
６２の出力ｅ１、ｅ２は測定手段１３で比率がとられ、
測定信号ｅｏを取り出すことができる。
第５図は、他の実施例を示し、被測定対象３からの光は
、分光手段としての分光ミラー１４により分離され、分
光ミラー１４は波長λ１、λ３の両方の光を透過させて
検出素子６２に入射させ、分光ミラー１４を反射した光
は、波長λ１、λ３を除いた光なので、波長λ２の光を
透過するフィルタ５１を介して検出素子６１に入射する
。これら検出素子６１．６２の出力ｅ１、ｅ２の比を測
定手段１３でとり、測定出力ｅＯが取り出せる。
、分光手段としての分光ミラー１４により分離され、分
光ミラー１４は波長λ１、λ３の両方の光を透過させて
検出素子６２に入射させ、分光ミラー１４を反射した光
は、波長λ１、λ３を除いた光なので、波長λ２の光を
透過するフィルタ５１を介して検出素子６１に入射する
。これら検出素子６１．６２の出力ｅ１、ｅ２の比を測
定手段１３でとり、測定出力ｅＯが取り出せる。
第６図は、他の実施例を示し、光源１の光は、測定波長
λ２を透過するフィルタ５１、比較波長λ１）λ３を透
過するフィルタ５２を有する回転セクタ５を介して被測
定対象３に投光され、その透過光または反射光は検出素
子６により検出され、測定手段１３により前述と同様な
比率演算がなされ、被測定対象３の性状の測定が行われ
る。
λ２を透過するフィルタ５１、比較波長λ１）λ３を透
過するフィルタ５２を有する回転セクタ５を介して被測
定対象３に投光され、その透過光または反射光は検出素
子６により検出され、測定手段１３により前述と同様な
比率演算がなされ、被測定対象３の性状の測定が行われ
る。
〔発明の効果］
以上述べたように、この発明は、２つの比較波長をとも
に通過させるフィルタ、ミラー等の分光手段を用いて得
られた２つの比較波長を含む信号を用いて比率演算を行
っているので、装置が簡単で、しかも高精度の光学測定
が可能となる。
に通過させるフィルタ、ミラー等の分光手段を用いて得
られた２つの比較波長を含む信号を用いて比率演算を行
っているので、装置が簡単で、しかも高精度の光学測定
が可能となる。
第１図、第２図、第３図、第４図、第５図、第６図は、
この発明の一実施例を示す説明図である。 １・・−光源、 ２・・・投光レンズ、 ３・・・被測
定対象、４・・・集光レンズ、 ５・・・回転セクタ、
５１．５２・・・フィルタ、 ６．６１．６２・・・
検出素子、 ７・・・増幅器、 ８１．８２・・・サン
プルホールド回路、９・・・同期信号発生器、 １０・
・・割算器、 １１・・・光ファイバー、 １２・・・
ハーフミラ−１１３・・・測定手段、 １４・・・分光
ミラー 特許出願人 株式会社 千野製作所 年６０
この発明の一実施例を示す説明図である。 １・・−光源、 ２・・・投光レンズ、 ３・・・被測
定対象、４・・・集光レンズ、 ５・・・回転セクタ、
５１．５２・・・フィルタ、 ６．６１．６２・・・
検出素子、 ７・・・増幅器、 ８１．８２・・・サン
プルホールド回路、９・・・同期信号発生器、 １０・
・・割算器、 １１・・・光ファイバー、 １２・・・
ハーフミラ−１１３・・・測定手段、 １４・・・分光
ミラー 特許出願人 株式会社 千野製作所 年６０
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、被測定対象からの透過光または反射光のうち測定波
長帯の成分の第１の信号と、被測定対象からの透過光ま
たは反射光のうち測定波長帯の両側の２つの比較波長帯
の２つの成分を含む第２の信号との比率から被測定対象
の性状を測定することを特徴とする光学的測定装置。 ２、前記第２の信号を、２つの比較波長帯の２つの波長
成分の両方を透過させる分光手段を用いて得るようにし
たことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学的
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4995085A JPS61209339A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 光学的測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4995085A JPS61209339A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 光学的測定装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15486486A Division JPS6211128A (ja) | 1986-07-01 | 1986-07-01 | 光学的測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61209339A true JPS61209339A (ja) | 1986-09-17 |
| JPH0531732B2 JPH0531732B2 (ja) | 1993-05-13 |
Family
ID=12845309
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4995085A Granted JPS61209339A (ja) | 1985-03-13 | 1985-03-13 | 光学的測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61209339A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0256742A2 (en) * | 1986-08-04 | 1988-02-24 | Jujo Paper Co., Ltd. | Method for measuring concentration of adhesive of coating layer surface |
| JPH0743302A (ja) * | 1993-07-30 | 1995-02-14 | Anatsuku:Kk | 着色度測定方法および測定装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5127156A (ja) * | 1974-07-02 | 1976-03-06 | Fuoodasu Ltd | Kongosochi |
| JPS5425436A (en) * | 1977-07-27 | 1979-02-26 | Shin Kobe Electric Machinery | Lead storage battery |
-
1985
- 1985-03-13 JP JP4995085A patent/JPS61209339A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5127156A (ja) * | 1974-07-02 | 1976-03-06 | Fuoodasu Ltd | Kongosochi |
| JPS5425436A (en) * | 1977-07-27 | 1979-02-26 | Shin Kobe Electric Machinery | Lead storage battery |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0256742A2 (en) * | 1986-08-04 | 1988-02-24 | Jujo Paper Co., Ltd. | Method for measuring concentration of adhesive of coating layer surface |
| JPH0743302A (ja) * | 1993-07-30 | 1995-02-14 | Anatsuku:Kk | 着色度測定方法および測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0531732B2 (ja) | 1993-05-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |