JPS585669A - ベ−スライン補正方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はコンピュータによって制御される分光光度計等
のベースライン補正方法に関する。コンピュータ制御さ
れる測定装置では測定範囲上の飛びとびの点において測
定値をサンプリングして記録或は他のデータ処理を行う
ようになっている。

この場合測定値のベースラインを補正するのに、測定値
をサンプリングする全部の点におけるベースライン補正
値を予め実測によってメモリに記憶させておくと云う方
法が最も簡単であるがベースライン補正値をメモリして
おくためのメモリの必要容量が大きくなって実用性が乏
しい。このため通常は測定値サンプリング点よりもまげ
ら゛にベースライン補正値を実測してメモリに記憶させ
ておき、ベースライン補正値サンプリング補正値の測定
値サンプリング点における測定値に対しては補間法によ
ってベースライン補正値を算出するようにしている。し
かしこのような補間法を用いる方法では各測定値サンプ
リング点毎にベースライン補正値を計算゛しなければな
らないからこの計算に時間を要すると測定のだめの走査
速度を余り速く−することができない。

従って本発明は補間法によってベースライン補正値を計
算するのに要する時間を短縮し、しかもメモリの容量は
なるべく少くてすむような補間値算出方法を得ることを
目的としてなされた。以下実施例によって本発明を説明
する。

説明の便宜上予め幾つかの言葉を定めておく。

本発明は測定範囲内の幾つかの点で予めベースライン補
正値を測定して記憶しておくが、ベースライン補正値を
予め測定しておく点を起算点と云うことにする。また相
隣る２つの起算点間を等分した各点でベースライン補正
値を補間法で計算するが、これらの各点を中間点と云う
こと・にする。

第１図は試料をセットしないで測定範囲を走査したとき
の測定値の記録即ちベースラインの一部を示し、ａ・　
ｂ等が起算点であシ、この点におけるベースラインの高
さＴｎ、Ｔｎ＋１等がサンプリングされてメモリに記憶
せられる。１，２．・・・ｋ・・・は中間点でａｂ間を
２　等分した分点になってい゛る。今中間点にのベース
ラインの高さＴｋを求める場合を考えるＯＴｋは Ｔ　　ｋ　　＝　　２ｎ　　（Ｔ　　ｎ−４−１−Ｔ　
　Ｈ）＝・・・・・・イ１）で与えられる。こ＼で測定
装置はコンピュータで制御されているのでＴｎ等の値は
２進数で扱われている。そうすると１／２ｎと云う演算
は単に２ｎイＣ１ で割るべき数をｎ桁だけ蟹位側にシフトするだけである
。例えば２進数の３は（１１）でこれを２で割ると云う
ことは一桁右ヘシフトさせて（１・１）とすることであ
る。２進数の０．１は１　／　２であるから（１・１）
は１−）−１／２．＝１・５で３の半分になっている。

従って上記（１）式の演算はメモリからＴｎとＴｎ＋１
を読出し、引算を行ってｎ桁だけシフトすることによっ
て相隣る中間点間のベースラインの高さの差（補正単位
と云うことにする）を求めに倍すればよい。実際の測定
では測定範囲を走査しながら測定を行って行くから、測
定がａ点まで来たとき、ａｂ間における上記した補正単
位を算出し、以下中間点１，２．・・・を通って行くと
きＴｎに補正単位を積重ね加算して行けばよい。このよ
うにして得られたＴｋを中間点ｋにおける測定値から引
算すればベースラインをＯレベルに別置した測定値即ち
ベースライン補正がなされた測定値が得られる。上の演
算では各起算点において引算演算を行う他は全て加算だ
けでベースライン補正値が得られる。通常補正演算では
２つの起算点間のベースラインの差を任意数で割算して
補正単位を求めるが、コンピュータにおける四則演算所
要時間は（割算）〉（掛算）　）　（７ｙＯ減算知関係
で割算には最も長時間を要する。従ってベースライン補
正値の補間計算に割算が入って来ると測定において走査
速度がこの補間計算で制限されることになる。本発明で
は上述したように補正単位は単にデータ数値を低位の桁
にシフトするだけなので割算の必要がなく、測定装置の
高速走査を可能にする。

第２図は本発明方法を実施する装置のブロック図を示す
。この実施例は分光光度計に関するものである。Ｌは光
源、Ｍは分光器、Ｃｐは測光光学系、Ｐは光検出器であ
る。測光光学系Ｃｐ内に試料がセットされ、分光器Ｍか
ら出射した単色光により照射される。Ｃｐはコンピュー
タで分光器Ｍの波長走査のだめの駆動制御、上述したベ
ースライン補正演算、測定結果の記録表示等の制御を行
っている。ＡＤはＡ　／　Ｄコンバータ、ＤＡはＤ／の
駆動パルスを計数することにより分光器Ｍの波長位置を
検知している。各起算点のベースライン補正値を実測し
メモリｍに記憶させる動作においては測光光学系Ｏｐに
空の試料セルを置き、分光器Ｍで波長走査を行う。上述
した中間点の間隔を予め規定しておくと、Ｃｐはまず分
光器の波長死点の検出器Ｐの出力（測定値と云う）をサ
ンプリングし、ＡＤ変換してメモリｍの所定アドレスに
記憶させ、波長走査を開始し、中間点を過ぎる毎に計数
して２ｎになった所で測定値をサンプリングしメモリｍ
の所定アドレスに格納すると共に計数を０に戻し、以下
波長走査を続けながら上の動作を繰返して測定範囲の端
に至る。試料測定動作においては測光光学系Ｃｐ内に試
料がセットされ、Ｃｐは分光器Ｍの波長走査を制御して
一つの起算点ａに達しだとき、ａにおけるベースライン
補正値Ｔｎと次隣の起算点すにおけるベースライン補正
値Ｔｎ＋１をメモリｍから読出し引算して桁の算回路に
ａ点のベースライン補正値Ｔｎをセットする。以後分光
器が順々に中間点に来る毎に上記特定アドレスのデータ
を読出して上記加算回路に保持されている一つ前の中間
点のベースライン補正値に’ｈａ算して行く。得られた
結果をサンプリングした測定値から引算し、Ｄ／Ａコン
バータを介してアナログ値に変換して記録計Ｒに送る。

こ＼で得られたベースライン補正値はそのま＼加算回路
の中に保持されて分光器Ｍが次の中間点に来たとき再び
補正単位が加算されて新しいベースライン補正値になる
。以下同様にして測定が進行して行く。、分光器Ｍが起
算点ａ、　　ｂ等にあるときの測定値のベースライン補
正はもちろんその点でサンプリングされた測定値からａ
、　　ｂ等の起算点におけるベースライン補正値を引算
して行う。

上の動作説明では測定値は起算点及び中間点でのみサン
プリングされるようになっているが、本発明はこのよう
な実施態様に限定されるものではなく、中間点の途中で
測定値をサンプリングし記録等行うことは自由である。

この場合、ベースライン補正値は中間点゛ｉとｉ＋１と
の間においては１点における値を用いる。従ってベース
ラインの補正は階段状になるが、中間点の一等分数２ｎ
は適当に大きくできるから、実際上滑かなベースライン
補正が実現される。

各起算点間毎に補正単位を予め計算してメモリに格納し
ておくことにすれば、中間点を２ｎ等分点にしなくても
、測定時の補正演算は加算だけで　、できるが、このよ
うにすると、メモリにおけるベースライン補正用データ
を格納しておくスペースが２ｎ等分した場合の約２倍必
要となる。

本発明は上述したような構成で、ベースライン補正演算
は起算点毎に引算を行う他は加算だけで行われ割算を要
しないから高速走査が可能であシ、しかもベースライン
補正用データ金格納しておくメモリの所要スペースは少
くてすむと云う特徴を有するものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明方法におけるベースライン補正演算を説
明するグラフ、第２図は本発明方法を実施する装置のブ
ロック図である。 Ｌ・・・光源、Ｍ・・・分光器、Ｏｐ・・・測定光学系
、Ｐ・・・光検出器、ＡＤ・・・Ａ　／　Ｄコンバータ
、ＤＡ・・・Ｄ／Ａコンバータ、Ｃｐ・・・コンピュー
タ、ｍ・・・メモリ、Ｒ・・・記録計。 代理人　弁理士　　経　　　浩　　介

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 測定範囲の複数点においてサンプリングしたベースライ
   ン補正値を記憶させておくメモリを用意し、測定に当っ
   ては上記サンプリング点及び上記サンプリング点の間に
   おいては同サンプリング点間を２　等分する点を中間点
   とし、ベースライン補正値をサンプリングした点におい
   ては上記メモリからその点におけるベースライ・イ補正
   値を読出してベースライン補正を行い、他の中間点にお
   いてはその両側のベースライン補正値をサンプリングし
   た点ａ、　　ｂのベースライン補正値を上記メモリから
   読出し、それらのサンプリング補正値の差を１桁だけ低
   位側にシフトした値を補正単位として一つのベースライ
   ン補正値をサンプリングした点ａから現中間点までの中
   間点の数だけ繰返し加算した値を上記ａ点のベースライ
   ン補正値に加算してその点のベースライン補正値とする
   ことを特徴とするベースライン補正方法。