JPH11171596A - 反射防止膜 - Google Patents
反射防止膜Info
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- JPH11171596A JPH11171596A JP9335909A JP33590997A JPH11171596A JP H11171596 A JPH11171596 A JP H11171596A JP 9335909 A JP9335909 A JP 9335909A JP 33590997 A JP33590997 A JP 33590997A JP H11171596 A JPH11171596 A JP H11171596A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 基材にコーティングされる反射防止膜であっ
て、広い波長領域で反射率が低く、また導電性を有し基
材の帯電を防止でき、さらに量産プロセスで作製した場
合でも安定な性能が得られる反射防止膜を提供する。 【解決手段】 反射防止膜として、基材1に近い側に導
電性光吸収膜2が形成され、この上に高屈折率透明膜
3,5と低屈折率透明膜4,6とがこの順で交互にそれ
ぞれ複数層形成されてなるものを使用する。
て、広い波長領域で反射率が低く、また導電性を有し基
材の帯電を防止でき、さらに量産プロセスで作製した場
合でも安定な性能が得られる反射防止膜を提供する。 【解決手段】 反射防止膜として、基材1に近い側に導
電性光吸収膜2が形成され、この上に高屈折率透明膜
3,5と低屈折率透明膜4,6とがこの順で交互にそれ
ぞれ複数層形成されてなるものを使用する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】ディスプレイ表示面等の反射
防止や帯電防止のために用いられる反射防止膜に関す
る。
防止や帯電防止のために用いられる反射防止膜に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、端末オペレータの作業環境の改善
を目的として、ディスプレイ表示面の反射低減やCRT
(陰極線管)の帯電防止、さらに表示面の透過率を適正
化するための技術が求められている。そして、そのよう
な技術として、ディスプレイの前面に導電性を有する反
射防止膜を設けることが行われている。
を目的として、ディスプレイ表示面の反射低減やCRT
(陰極線管)の帯電防止、さらに表示面の透過率を適正
化するための技術が求められている。そして、そのよう
な技術として、ディスプレイの前面に導電性を有する反
射防止膜を設けることが行われている。
【0003】この反射防止膜にはいくつかの構成が提案
されており、例えば特開平9−156964号公報で
は、基体上に光吸収膜が形成され、この上にシリカ膜を
形成した反射防止膜が提案されている。
されており、例えば特開平9−156964号公報で
は、基体上に光吸収膜が形成され、この上にシリカ膜を
形成した反射防止膜が提案されている。
【0004】この反射防止膜において光吸収膜は、可視
光域における屈折率nや消衰係数kの波長依存性の点か
ら選択され、例えば窒化チタン膜が用いられる。この反
射防止膜は、このような光吸収膜とシリカ膜を組み合わ
せることによって、広い波長範囲で低反射特性が得られ
るようにしている。
光域における屈折率nや消衰係数kの波長依存性の点か
ら選択され、例えば窒化チタン膜が用いられる。この反
射防止膜は、このような光吸収膜とシリカ膜を組み合わ
せることによって、広い波長範囲で低反射特性が得られ
るようにしている。
【0005】しかし、この光吸収膜となる窒化チタン
は、窒素ガスと希ガスを主成分とするスパッタガスを用
いるスパッタリング法によって成膜されるが、このスパ
ッタガスの混合比の変動によって低反射領域が狭くなっ
たり、所望の表面抵抗値が得られなくなったりし、安定
な特性が得られない。
は、窒素ガスと希ガスを主成分とするスパッタガスを用
いるスパッタリング法によって成膜されるが、このスパ
ッタガスの混合比の変動によって低反射領域が狭くなっ
たり、所望の表面抵抗値が得られなくなったりし、安定
な特性が得られない。
【0006】また、この反射防止膜では、光吸収膜の膜
厚を余り厚くすると適正な透過率が得られなくなること
から、シリカ膜の膜厚によって反射率を制御せざるを得
ない。ところが、シリカ膜の方の膜厚を厚くしていくと
反射率曲線が長波長側にシフトし、反射色の青色が強く
なってしまう。また、シリカ膜の膜厚を制御するだけで
は低反射率領域を広くするのが難しい。
厚を余り厚くすると適正な透過率が得られなくなること
から、シリカ膜の膜厚によって反射率を制御せざるを得
ない。ところが、シリカ膜の方の膜厚を厚くしていくと
反射率曲線が長波長側にシフトし、反射色の青色が強く
なってしまう。また、シリカ膜の膜厚を制御するだけで
は低反射率領域を広くするのが難しい。
【0007】さらにこの他の問題として量産プロセスに
導入したときの特性劣化の問題がある。例えば窒化チタ
ン膜は、量産プロセスでは各層を成膜するためのスパッ
タ室がライン状に配設されたインライン型スパッタリン
グ装置によって成膜されるが、この場合窒化チタン膜を
成膜するためのスパッタ室に酸素ガスが混入し易く、酸
窒化チタン膜が成膜される可能性がある。酸窒化チタン
膜となると、低反射特性が低下し、比抵抗が必要以上に
上昇してしまう。
導入したときの特性劣化の問題がある。例えば窒化チタ
ン膜は、量産プロセスでは各層を成膜するためのスパッ
タ室がライン状に配設されたインライン型スパッタリン
グ装置によって成膜されるが、この場合窒化チタン膜を
成膜するためのスパッタ室に酸素ガスが混入し易く、酸
窒化チタン膜が成膜される可能性がある。酸窒化チタン
膜となると、低反射特性が低下し、比抵抗が必要以上に
上昇してしまう。
【0008】また、反射防止膜としては透明膜を多数積
層することによって広い波長帯域で低反射特性が得られ
るようにした多層透明膜と、導電性を付与するためのI
TO(インジウム錫酸化物)透明導電膜、さらに光吸収
性を付与するための金属膜を組み合わせた反射防止膜も
報告されている。
層することによって広い波長帯域で低反射特性が得られ
るようにした多層透明膜と、導電性を付与するためのI
TO(インジウム錫酸化物)透明導電膜、さらに光吸収
性を付与するための金属膜を組み合わせた反射防止膜も
報告されている。
【0009】しかし、ITO透明導電膜のスパッタによ
る成膜過程では、ターゲット表面にノジュールと称され
る黒色突起物が成長してくるため連続稼働を行うことが
できない。このため、生産性の点で問題がある。
る成膜過程では、ターゲット表面にノジュールと称され
る黒色突起物が成長してくるため連続稼働を行うことが
できない。このため、生産性の点で問題がある。
【0010】また、多層透明膜と、銀膜を組み合わせた
6層構成の反射防止膜も提案されている。この反射防止
膜は、銀膜が導電性と吸収性を併せ持つためITO透明
導電膜を不要にできるが、低反射特性が得られる波長領
域が狭い。
6層構成の反射防止膜も提案されている。この反射防止
膜は、銀膜が導電性と吸収性を併せ持つためITO透明
導電膜を不要にできるが、低反射特性が得られる波長領
域が狭い。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】このように、これまで
提案されている反射防止膜は、低反射特性や導電性が十
分であるとは言えず、また量産に適さないといった問題
があり、さらなる改良が望まれる。
提案されている反射防止膜は、低反射特性や導電性が十
分であるとは言えず、また量産に適さないといった問題
があり、さらなる改良が望まれる。
【0012】そこで、本発明はこのような従来の実情に
鑑みて提案されたものであり、広い波長帯域で反射率が
低く、また導電性に優れ基材の帯電を防止でき、さらに
量産プロセスで作製した場合でも安定な性能が得られる
反射防止膜を提供することを目的とする。
鑑みて提案されたものであり、広い波長帯域で反射率が
低く、また導電性に優れ基材の帯電を防止でき、さらに
量産プロセスで作製した場合でも安定な性能が得られる
反射防止膜を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明の反射防止膜は基材のための反射防止膜で
あって、基材に近い側に導電性光吸収膜が形成され、こ
の上に高屈折率透明膜と低屈折率透明膜がこの順で交互
にそれぞれ複数層形成されてなることを特徴とするもの
である。
めに、本発明の反射防止膜は基材のための反射防止膜で
あって、基材に近い側に導電性光吸収膜が形成され、こ
の上に高屈折率透明膜と低屈折率透明膜がこの順で交互
にそれぞれ複数層形成されてなることを特徴とするもの
である。
【0014】また、基材のための反射防止膜であって、
基材に近い側から導電性光吸収膜、第1の高屈折率透明
膜、第1の低屈折率透明膜、第2の高屈折率透明膜、第
2の低屈折率透明膜がこの順に形成されてなり、導電性
光吸収膜の膜厚が5〜25nm、第1の高屈折率透明膜
の膜厚が15〜30nm、第1の低屈折率透明膜の膜厚
が15〜30nm、第2の高屈折率透明膜の膜厚が10
0〜140nm、第2の低屈折率透明膜の膜厚が60〜
120nmであることを特徴とするものである。
基材に近い側から導電性光吸収膜、第1の高屈折率透明
膜、第1の低屈折率透明膜、第2の高屈折率透明膜、第
2の低屈折率透明膜がこの順に形成されてなり、導電性
光吸収膜の膜厚が5〜25nm、第1の高屈折率透明膜
の膜厚が15〜30nm、第1の低屈折率透明膜の膜厚
が15〜30nm、第2の高屈折率透明膜の膜厚が10
0〜140nm、第2の低屈折率透明膜の膜厚が60〜
120nmであることを特徴とするものである。
【0015】さらに、基材のための反射防止膜であっ
て、基材に近い側から導電性光吸収膜、第1の高屈折率
透明膜、第1の低屈折率透明膜、第2の高屈折率透明
膜、第2の低屈折率透明膜、第3の高屈折率透明膜、第
3の低屈折率透明膜がこの順に形成されてなり、導電性
光吸収性膜の膜厚が5〜25nm、第1の高屈折率透明
膜の膜厚が20〜40nm、第1の低屈折率透明膜の膜
厚が5〜30nm、第2の高屈折率透明膜の膜厚が50
〜90nm、第2の低屈折率透明膜の膜厚が1〜20n
m、第3の高屈折率透明膜の膜厚が30〜50nm、第
3の低屈折率透明膜の膜厚が60〜120nmであるこ
とを特徴とするものである。
て、基材に近い側から導電性光吸収膜、第1の高屈折率
透明膜、第1の低屈折率透明膜、第2の高屈折率透明
膜、第2の低屈折率透明膜、第3の高屈折率透明膜、第
3の低屈折率透明膜がこの順に形成されてなり、導電性
光吸収性膜の膜厚が5〜25nm、第1の高屈折率透明
膜の膜厚が20〜40nm、第1の低屈折率透明膜の膜
厚が5〜30nm、第2の高屈折率透明膜の膜厚が50
〜90nm、第2の低屈折率透明膜の膜厚が1〜20n
m、第3の高屈折率透明膜の膜厚が30〜50nm、第
3の低屈折率透明膜の膜厚が60〜120nmであるこ
とを特徴とするものである。
【0016】このような反射防止膜を基材にコーティン
グすると、1層目に設けられた導電性光吸収膜の導電性
によって基材の帯電が防止される。さらに、この反射防
止膜は空気との光学的境界面における屈折率が低く、ま
た導電性光吸収膜で光が吸収されることから入射光の反
射が防止される。そして特にこの反射防止膜は、高屈折
率透明膜と低屈折率透明膜が交互にそれぞれ複数層形成
されているので、導電性光吸収膜に不純物の混入があっ
たとしても、これら透明膜の膜厚を制御することによっ
て光学定数が容易に補正される。
グすると、1層目に設けられた導電性光吸収膜の導電性
によって基材の帯電が防止される。さらに、この反射防
止膜は空気との光学的境界面における屈折率が低く、ま
た導電性光吸収膜で光が吸収されることから入射光の反
射が防止される。そして特にこの反射防止膜は、高屈折
率透明膜と低屈折率透明膜が交互にそれぞれ複数層形成
されているので、導電性光吸収膜に不純物の混入があっ
たとしても、これら透明膜の膜厚を制御することによっ
て光学定数が容易に補正される。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的な実施の形
態について説明する。
態について説明する。
【0018】本発明に係る反射防止膜の第1の実施の形
態を図1に示す。
態を図1に示す。
【0019】この反射防止膜は、基材1のための反射防
止膜であって、基材1に近い側から導電性光吸収膜2、
第1の高屈折率透明膜3、第1の低屈折率透明膜4、第
2の高屈折率透明膜5、第2の低屈折率透明膜6がこの
順に形成されてなる。
止膜であって、基材1に近い側から導電性光吸収膜2、
第1の高屈折率透明膜3、第1の低屈折率透明膜4、第
2の高屈折率透明膜5、第2の低屈折率透明膜6がこの
順に形成されてなる。
【0020】上記導電性光吸収膜2としては、窒化チタ
ン等が用いられる。
ン等が用いられる。
【0021】また、上記第1の高屈折率透明膜3、第2
の高屈折率透明膜5、第1の低屈折率透明膜4、第2の
低屈折率透明膜6としては、可視光域において透明で、
且つ第1の高屈折率透明膜3及び第2の高屈折率透明膜
5が、第1の低屈折率透明膜4び第2の低屈折率透明膜
6よりも屈折率が高くなるような材料が選択される。具
体的には、第1の高屈折率透明膜3及び第2の高屈折率
透明膜5には酸化チタンTiO2,酸化ニオブNb2O5
等が用いられ、特にスパッタリング法によって成膜を行
う場合にはスパッタレートの高いNb2O5を用いるのが
望ましい。また、第1の低屈折率透明膜4及び第2の低
屈折率透明膜6にはシリカSiO2等が用いられる。
の高屈折率透明膜5、第1の低屈折率透明膜4、第2の
低屈折率透明膜6としては、可視光域において透明で、
且つ第1の高屈折率透明膜3及び第2の高屈折率透明膜
5が、第1の低屈折率透明膜4び第2の低屈折率透明膜
6よりも屈折率が高くなるような材料が選択される。具
体的には、第1の高屈折率透明膜3及び第2の高屈折率
透明膜5には酸化チタンTiO2,酸化ニオブNb2O5
等が用いられ、特にスパッタリング法によって成膜を行
う場合にはスパッタレートの高いNb2O5を用いるのが
望ましい。また、第1の低屈折率透明膜4及び第2の低
屈折率透明膜6にはシリカSiO2等が用いられる。
【0022】これら各層は、スパッタリング法や真空蒸
着法のような物理気相成長法やCVD法(化学気相成長
法)、ゾルゲル法等によって成膜される。特に、DCス
パッタリング法は、膜厚の制御が比較的容易であるこ
と、大面積基板に対する成膜に適すること、インライン
型の装置を用いることによって多層膜が容易に成膜でき
ることといった利点を有する。
着法のような物理気相成長法やCVD法(化学気相成長
法)、ゾルゲル法等によって成膜される。特に、DCス
パッタリング法は、膜厚の制御が比較的容易であるこ
と、大面積基板に対する成膜に適すること、インライン
型の装置を用いることによって多層膜が容易に成膜でき
ることといった利点を有する。
【0023】但し、この5層構成の反射防止膜において
各層の膜厚は、導電性光吸収膜2が5〜25nm、第1
の高屈折率透明膜3が15〜30nm、第1の低屈折率
透明膜4が15〜30nm、第2の高屈折率透明膜5が
100〜140nm、第2の低屈折率膜6が60〜12
0nmとされる。なお、この膜厚は、膜の物理的な厚み
である。
各層の膜厚は、導電性光吸収膜2が5〜25nm、第1
の高屈折率透明膜3が15〜30nm、第1の低屈折率
透明膜4が15〜30nm、第2の高屈折率透明膜5が
100〜140nm、第2の低屈折率膜6が60〜12
0nmとされる。なお、この膜厚は、膜の物理的な厚み
である。
【0024】この構成の反射防止膜には付加的に、導電
性光吸収膜2と第1の高屈折率透明膜3の間に、金属や
金属窒化物等よりなる酸化バリア層を介在させるように
しても良い。導電性光吸収膜2の上に酸化チタン等より
なる第1の高屈折率透明膜3を直接成膜した場合、第1
の高屈折率透明膜3の成膜過程で導電性光吸収膜2が酸
化され、導電性や光学特性が損なわれる可能性がある。
これに対して、導電性光吸収膜2の上に酸化バリア層を
設け、この上に第1の高屈折率透明膜3を成膜すればこ
のような導電性光吸収膜2の酸化が防止される。
性光吸収膜2と第1の高屈折率透明膜3の間に、金属や
金属窒化物等よりなる酸化バリア層を介在させるように
しても良い。導電性光吸収膜2の上に酸化チタン等より
なる第1の高屈折率透明膜3を直接成膜した場合、第1
の高屈折率透明膜3の成膜過程で導電性光吸収膜2が酸
化され、導電性や光学特性が損なわれる可能性がある。
これに対して、導電性光吸収膜2の上に酸化バリア層を
設け、この上に第1の高屈折率透明膜3を成膜すればこ
のような導電性光吸収膜2の酸化が防止される。
【0025】この酸化バリア層は膜厚が1〜20nmで
あるのが望ましい。酸化バリア層の膜厚が1nm未満で
ある場合には導電性光吸収膜の酸化を十分に防止するこ
とができない。逆に酸化バリア層の膜厚が20nmを超
えると、反射防止性能が損なわれる虞れがある。
あるのが望ましい。酸化バリア層の膜厚が1nm未満で
ある場合には導電性光吸収膜の酸化を十分に防止するこ
とができない。逆に酸化バリア層の膜厚が20nmを超
えると、反射防止性能が損なわれる虞れがある。
【0026】このような反射防止膜は基材1にコーティ
ングされることによって当該基材1の反射や帯電を防止
するものであり、例えばディスプレイの表示面にコーテ
ィングされて好適である。このディスプレイ用表示面は
ガラス基板、プラスティック基板、プラスティックフィ
ルムのいずれで構成されていても良い。
ングされることによって当該基材1の反射や帯電を防止
するものであり、例えばディスプレイの表示面にコーテ
ィングされて好適である。このディスプレイ用表示面は
ガラス基板、プラスティック基板、プラスティックフィ
ルムのいずれで構成されていても良い。
【0027】これらの基材1に反射防止膜をコーティン
グすると、1層目に設けられた導電性光吸収膜2の導電
性によって基材1の帯電が防止される。さらに、この反
射防止膜は空気との光学的境界面における屈折率が低
く、また導電性光吸収膜2で光が吸収されることから入
射光の反射が防止される。特に、この反射防止膜は、高
屈折率透明膜3,5と低屈折率透明膜4,6が交互にそ
れぞれ複数層形成されているので、例えばTiN等より
なる光吸収膜2に酸素等の混入があったとしても、これ
ら透明膜3,4,5,6の膜厚を上述の範囲内で制御す
ることによって適正な光学定数に補正される。
グすると、1層目に設けられた導電性光吸収膜2の導電
性によって基材1の帯電が防止される。さらに、この反
射防止膜は空気との光学的境界面における屈折率が低
く、また導電性光吸収膜2で光が吸収されることから入
射光の反射が防止される。特に、この反射防止膜は、高
屈折率透明膜3,5と低屈折率透明膜4,6が交互にそ
れぞれ複数層形成されているので、例えばTiN等より
なる光吸収膜2に酸素等の混入があったとしても、これ
ら透明膜3,4,5,6の膜厚を上述の範囲内で制御す
ることによって適正な光学定数に補正される。
【0028】なお、この反射防止膜が特にディスプレイ
の表示面にコーティングされる場合には、波長帯域が4
30〜650nm(可視光域)の光を第2の低屈折率透
明膜6側から入射させたときの反射率が0.6%未満、
反射防止膜表面の電気抵抗が1kΩ/□以下となるよう
に各層の材料や膜厚等を選択するのが望ましい。これに
より、ディスプレイの画質や視認性が改善される。ま
た、コントラスト向上のためには、波長帯域が430〜
650nmの光に対する反射防止膜の透過率が60〜9
0%であるのが望ましい。
の表示面にコーティングされる場合には、波長帯域が4
30〜650nm(可視光域)の光を第2の低屈折率透
明膜6側から入射させたときの反射率が0.6%未満、
反射防止膜表面の電気抵抗が1kΩ/□以下となるよう
に各層の材料や膜厚等を選択するのが望ましい。これに
より、ディスプレイの画質や視認性が改善される。ま
た、コントラスト向上のためには、波長帯域が430〜
650nmの光に対する反射防止膜の透過率が60〜9
0%であるのが望ましい。
【0029】次に、本発明に係る反射防止膜の第2の実
施の形態を図2に示す。
施の形態を図2に示す。
【0030】この反射防止膜は、基材11のための反射
防止膜であって、基材11に近い側から導電性光吸収膜
12、第1の高屈折率透明膜13、第1の低屈折率透明
膜14、第2の高屈折率透明膜15、第2の低屈折率透
明膜16、第3の高屈折率透明膜17、第3の低屈折率
透明膜18がこの順に形成されてなる。
防止膜であって、基材11に近い側から導電性光吸収膜
12、第1の高屈折率透明膜13、第1の低屈折率透明
膜14、第2の高屈折率透明膜15、第2の低屈折率透
明膜16、第3の高屈折率透明膜17、第3の低屈折率
透明膜18がこの順に形成されてなる。
【0031】上記導電性光吸収膜12、第1の高屈折率
透明膜13〜第3の高屈折率透明膜17、第1の低屈折
率透明膜14〜第3の低屈折率透明膜18の材料として
は、第1の実施の形態の反射防止膜において導電性光吸
収膜2、第1の高屈折率透明膜3〜第2の高屈折率透明
膜5、第1の低屈折率透明膜4〜第2の低屈折率透明膜
6の材料として例示したものがそれぞれ使用可能であ
る。
透明膜13〜第3の高屈折率透明膜17、第1の低屈折
率透明膜14〜第3の低屈折率透明膜18の材料として
は、第1の実施の形態の反射防止膜において導電性光吸
収膜2、第1の高屈折率透明膜3〜第2の高屈折率透明
膜5、第1の低屈折率透明膜4〜第2の低屈折率透明膜
6の材料として例示したものがそれぞれ使用可能であ
る。
【0032】但し、この7層構成の反射防止膜において
各層の膜厚は、導電性光吸収膜12が5〜25nm、第
1の高屈折率透明膜13が20〜40nm、第1の低屈
折率透明膜14が5〜30nm、第2の高屈折率透明膜
15が50〜90nm、第2の低屈折率透明膜16が1
〜20nm、第3の高屈折率透明膜17が30〜50n
m、第3の低屈折率透明膜18が60〜120nmとさ
れる。なお、この膜厚は、膜の物理的な厚みである。
各層の膜厚は、導電性光吸収膜12が5〜25nm、第
1の高屈折率透明膜13が20〜40nm、第1の低屈
折率透明膜14が5〜30nm、第2の高屈折率透明膜
15が50〜90nm、第2の低屈折率透明膜16が1
〜20nm、第3の高屈折率透明膜17が30〜50n
m、第3の低屈折率透明膜18が60〜120nmとさ
れる。なお、この膜厚は、膜の物理的な厚みである。
【0033】この構成の反射防止膜にも導電性光吸収膜
12と第1の高屈折率透明膜13の間に付加的に、金属
や金属窒化物等よりなる酸化バリア層を介在させるよう
にしても良い。導電性光吸収膜12の上に酸化チタン等
よりなる第1の高屈折率透明膜13を直接成膜した場
合、第1の高屈折率透明膜13の成膜過程で導電性光吸
収膜が酸化され、導電性や光学特性が損なわれる可能性
がある。これに対して、導電性光吸収膜12の上に酸化
バリア層を設け、この上に第1の高屈折率透明膜13を
成膜すればこのような導電性光吸収膜12の酸化が防止
される。
12と第1の高屈折率透明膜13の間に付加的に、金属
や金属窒化物等よりなる酸化バリア層を介在させるよう
にしても良い。導電性光吸収膜12の上に酸化チタン等
よりなる第1の高屈折率透明膜13を直接成膜した場
合、第1の高屈折率透明膜13の成膜過程で導電性光吸
収膜が酸化され、導電性や光学特性が損なわれる可能性
がある。これに対して、導電性光吸収膜12の上に酸化
バリア層を設け、この上に第1の高屈折率透明膜13を
成膜すればこのような導電性光吸収膜12の酸化が防止
される。
【0034】この酸化バリア層は膜厚が1〜20nmで
あるのが望ましい。酸化バリア層の膜厚が1nm未満で
ある場合には導電性光吸収膜12の酸化を十分に防止す
ることができない。逆に酸化バリア層の膜厚が20nm
を超えると、反射防止膜の反射防止性能が損なわれる虞
れがある。
あるのが望ましい。酸化バリア層の膜厚が1nm未満で
ある場合には導電性光吸収膜12の酸化を十分に防止す
ることができない。逆に酸化バリア層の膜厚が20nm
を超えると、反射防止膜の反射防止性能が損なわれる虞
れがある。
【0035】このような反射防止膜は基材11にコーテ
ィングされることによって当該基材の反射や帯電を防止
するものであり、例えばディスプレイ用表示面にコーテ
ィングされて好適である。このディスプレイ用表示面は
ガラス基板、プラスティック基板、プラスティックフィ
ルムのいずれで構成されていても良い。
ィングされることによって当該基材の反射や帯電を防止
するものであり、例えばディスプレイ用表示面にコーテ
ィングされて好適である。このディスプレイ用表示面は
ガラス基板、プラスティック基板、プラスティックフィ
ルムのいずれで構成されていても良い。
【0036】これらの基材11に反射防止膜をコーティ
ングすると、1層目に設けられた導電性光吸収膜12の
導電性によって基材の帯電が防止される。さらに、この
反射防止膜は空気との光学的境界面における屈折率が低
く、また導電性光吸収膜12で光が吸収されることから
入射光の反射が防止される。特に、この反射防止膜は、
高屈折率透明膜13,15,17と低屈折率透明膜1
4,16,18が交互にそれぞれ複数層形成されている
ので、TiN膜に酸素等の混入があったとしても、これ
ら透明膜の膜厚を上述の範囲内で制御することによって
適正な光学定数に補正される。
ングすると、1層目に設けられた導電性光吸収膜12の
導電性によって基材の帯電が防止される。さらに、この
反射防止膜は空気との光学的境界面における屈折率が低
く、また導電性光吸収膜12で光が吸収されることから
入射光の反射が防止される。特に、この反射防止膜は、
高屈折率透明膜13,15,17と低屈折率透明膜1
4,16,18が交互にそれぞれ複数層形成されている
ので、TiN膜に酸素等の混入があったとしても、これ
ら透明膜の膜厚を上述の範囲内で制御することによって
適正な光学定数に補正される。
【0037】なお、この反射防止膜が特にディスプレイ
の表示面にコーティングされる場合には、波長帯域が4
30〜650nm(可視光域)の光を第2の低屈折率透
明膜側から入射させたときの反射率が0.6%未満、反
射防止膜表面の電気抵抗が1kΩ/□以下となるように
各層の材質や膜厚等を選択するのが望ましい。これによ
り、ディスプレイの画質や視認性が改善される。また、
コントラスト向上のためには、波長帯域が430〜65
0nmの光に対する反射防止膜の透過率が60〜90%
であるのが望ましい。
の表示面にコーティングされる場合には、波長帯域が4
30〜650nm(可視光域)の光を第2の低屈折率透
明膜側から入射させたときの反射率が0.6%未満、反
射防止膜表面の電気抵抗が1kΩ/□以下となるように
各層の材質や膜厚等を選択するのが望ましい。これによ
り、ディスプレイの画質や視認性が改善される。また、
コントラスト向上のためには、波長帯域が430〜65
0nmの光に対する反射防止膜の透過率が60〜90%
であるのが望ましい。
【0038】以上、本発明の反射防止膜の実施の形態と
して、導電性光吸収膜上に高屈折率透明膜と低屈折率透
明膜とが交互にそれぞれ2層形成された反射防止膜と、
導電性光吸収膜上に高屈折率透明膜と低屈折率透明膜と
が交互にそれぞれ3層形成された反射防止膜について説
明したが、さらに高屈折率透明膜と低屈折率透明膜の積
層数を増やしても良い。高屈折率透明膜と低屈折率透明
膜の積層数を多くすることによって反射率の調整がより
容易になり、高い反射防止性能が得られるようになる。
但し、高屈折率透明膜と低屈折率透明膜の適正な膜厚は
積層数によって異なるので積層数に応じた適正な膜厚で
形成するのが望ましい。
して、導電性光吸収膜上に高屈折率透明膜と低屈折率透
明膜とが交互にそれぞれ2層形成された反射防止膜と、
導電性光吸収膜上に高屈折率透明膜と低屈折率透明膜と
が交互にそれぞれ3層形成された反射防止膜について説
明したが、さらに高屈折率透明膜と低屈折率透明膜の積
層数を増やしても良い。高屈折率透明膜と低屈折率透明
膜の積層数を多くすることによって反射率の調整がより
容易になり、高い反射防止性能が得られるようになる。
但し、高屈折率透明膜と低屈折率透明膜の適正な膜厚は
積層数によって異なるので積層数に応じた適正な膜厚で
形成するのが望ましい。
【0039】
【実施例】以下、本発明の具体的な実施例について実験
結果に基づいて説明する。
結果に基づいて説明する。
【0040】実施例1 この実施例は、ガラス基材上にコーティングされた導電
性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、第1の低屈折率透
明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の低屈折率透明膜よ
りなる反射防止膜の例である。材料構成は以下の通りで
ある。また、各層の膜厚は、第2の低屈折率透明膜側か
ら波長550nmの光を入射させたときの透過率が80
%となるように設計した。
性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、第1の低屈折率透
明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の低屈折率透明膜よ
りなる反射防止膜の例である。材料構成は以下の通りで
ある。また、各層の膜厚は、第2の低屈折率透明膜側か
ら波長550nmの光を入射させたときの透過率が80
%となるように設計した。
【0041】反射防止膜の材料構成 導電性光吸収膜 :TiN膜 (膜厚8nm) 第1の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚22nm) 第1の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚22nm) 第2の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚120nm) 第2の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚92nm) この反射防止膜の第2の低屈折率透明膜側から光を入射
させたときの反射率特性を図3に示す。なお、この反射
率特性は、次のような条件でTiN膜、TiO2膜、S
iO2膜を成膜し、これらについて測定した光学定数に
基づいて求めたものである。
させたときの反射率特性を図3に示す。なお、この反射
率特性は、次のような条件でTiN膜、TiO2膜、S
iO2膜を成膜し、これらについて測定した光学定数に
基づいて求めたものである。
【0042】 TiN膜の成膜条件 成膜方法 :DCリアクティブスパッタリング法 ターゲッット :チタン 放電ガス :アルゴンと窒素の混合ガス(窒素15体積%) スパッタガス圧:3×10-3Torr TiO2膜の成膜条件 成膜方法 :DCリアクティブスパッタリング法 ターゲット :チタン 放電ガス :酸素 スパッタガス圧:3×10-3Torr SiO2膜の成膜条件 成膜方法 :DCリアクティブスパッタリング法 ターゲット :シリコン(アルミ10重量%ドープ) 放電ガス :酸素 スパッタガス圧:3×10-3Torr 図3に示すように、この5層構成の反射防止膜は、可視
光域430〜650nmでの最大反射率が0.42%、
平均反射率が0.13%であり十分な反射防止性能を有
する。
光域430〜650nmでの最大反射率が0.42%、
平均反射率が0.13%であり十分な反射防止性能を有
する。
【0043】実施例2 この実施例は、ガラス基材上にコーティングされた導電
性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、第1の低屈折率透
明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の低屈折率透明膜、
第3の高屈折率透明膜、第3の低屈折率透明膜よりなる
反射防止膜の例である。材料構成は以下の通りである。
各層の膜厚は、第2の低屈折率透明膜側から波長550
nmの光を入射させたときの透過率が80%となるよう
に設計した。
性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、第1の低屈折率透
明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の低屈折率透明膜、
第3の高屈折率透明膜、第3の低屈折率透明膜よりなる
反射防止膜の例である。材料構成は以下の通りである。
各層の膜厚は、第2の低屈折率透明膜側から波長550
nmの光を入射させたときの透過率が80%となるよう
に設計した。
【0044】反射防止膜の材料構成 導電性光吸収膜 :TiN膜 (膜厚10nm) 第1の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚28nm) 第1の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚16nm) 第2の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚70nm) 第2の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚7nm) 第3の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚40nm) 第3の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚95nm) この反射防止膜の第3の低屈折率透明膜側から光を入射
させたときの反射率特性を図4に示す。なお、この反射
率特性は、実施例1と同様にして測定した光学定数に基
づいて求めたものである。
させたときの反射率特性を図4に示す。なお、この反射
率特性は、実施例1と同様にして測定した光学定数に基
づいて求めたものである。
【0045】図4に示すように、この7層構成の反射防
止膜は、可視光域430〜650nmでの最大反射率が
0.26%、平均反射率が0.11%であり十分な反射
防止性能を有する。
止膜は、可視光域430〜650nmでの最大反射率が
0.26%、平均反射率が0.11%であり十分な反射
防止性能を有する。
【0046】実施例3 この実施例は、ガラス基材上にコーティングされた導電
性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、第1の低屈折率透
明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の低屈折率透明膜、
第3の高屈折率透明膜、第3の低屈折率透明膜よりなる
反射防止膜の例である。材料構成は以下の通りである。
性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、第1の低屈折率透
明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の低屈折率透明膜、
第3の高屈折率透明膜、第3の低屈折率透明膜よりなる
反射防止膜の例である。材料構成は以下の通りである。
【0047】 導電性光吸収膜 :TiN膜 (膜厚10nm) 第1の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚25nm) 第1の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚16nm) 第2の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚58nm) 第2の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚11nm) 第3の高屈折率透明膜:TiO2膜(膜厚30nm) 第3の低屈折率透明膜:SiO2膜(膜厚90nm) この反射防止膜の第3の低屈折率透明膜側から光を入射
させたときの反射率特性を図5に示す。なお、この反射
率特性は、実際に上述のような構成で反射防止膜を形成
し、反射率を実測することで調べたものである。
させたときの反射率特性を図5に示す。なお、この反射
率特性は、実際に上述のような構成で反射防止膜を形成
し、反射率を実測することで調べたものである。
【0048】図5に示すように、この7層構成の反射防
止膜は、可視光域430〜650nmでの最大反射率が
0.41%、平均反射率が0.22%であり十分な反射
防止性能を有する。
止膜は、可視光域430〜650nmでの最大反射率が
0.41%、平均反射率が0.22%であり十分な反射
防止性能を有する。
【0049】なお、高屈折率透明膜としてNb2O5を用
いた反射防止膜についても同様にして反射率特性を調べ
たところ同じ傾向の特性が得られ、5層構成、7層構成
のいずれの場合にも十分な反射防止性能が得られた。
いた反射防止膜についても同様にして反射率特性を調べ
たところ同じ傾向の特性が得られ、5層構成、7層構成
のいずれの場合にも十分な反射防止性能が得られた。
【0050】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の反射防止膜は基材にコーティングされるものであ
り、基材に近い側に導電性光吸収膜が形成され、この上
に高屈折率透明膜と低屈折率透明膜とがこの順で交互に
複数層形成されてなるので、広い波長領域で反射率が低
く、また優れた帯電防止性能が得られる。
明の反射防止膜は基材にコーティングされるものであ
り、基材に近い側に導電性光吸収膜が形成され、この上
に高屈折率透明膜と低屈折率透明膜とがこの順で交互に
複数層形成されてなるので、広い波長領域で反射率が低
く、また優れた帯電防止性能が得られる。
【0051】また、インライン型スパッタリング装置を
用いる量産システムで作製した場合に導電性光吸収膜に
酸素等の不純物が混入しても、複数層形成された高屈折
率透明膜と低屈折率透明膜の膜厚等の調整によって光学
特性が容易に補正されるので、安定な反射防止性能が得
られる。
用いる量産システムで作製した場合に導電性光吸収膜に
酸素等の不純物が混入しても、複数層形成された高屈折
率透明膜と低屈折率透明膜の膜厚等の調整によって光学
特性が容易に補正されるので、安定な反射防止性能が得
られる。
【0052】したがって、このような反射防止膜を例え
ばディスプレイ表示面前面にコーティングした場合には
その画質や視認性が改善される。
ばディスプレイ表示面前面にコーティングした場合には
その画質や視認性が改善される。
【図1】本発明を適用した反射防止膜の一例を示す概略
断面図である。
断面図である。
【図2】本発明を適用した反射防止膜の他の例を示す概
略断面図である。
略断面図である。
【図3】5層構成の反射防止膜の反射率特性を示す計算
による特性図である。
による特性図である。
【図4】7層構成の反射防止膜の反射率特性を示す計算
による特性図である。
による特性図である。
【図5】7層構成の反射防止膜の反射率特性を示す実測
による特性図である。
による特性図である。
1,11 基材、2,12 導電性光吸収膜、3,5,
13,15,17 高屈折率透明膜、4,6,14,1
6,18 低屈折率透明膜
13,15,17 高屈折率透明膜、4,6,14,1
6,18 低屈折率透明膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H04N 5/72 G02B 1/10 A
Claims (11)
- 【請求項1】 基材のための反射防止膜であって、基材
に近い側に導電性光吸収膜が形成され、この上に高屈折
率透明膜と低屈折率透明膜がこの順で交互にそれぞれ複
数層形成されてなることを特徴とする反射防止膜。 - 【請求項2】 基材のための反射防止膜であって、基材
に近い側から導電性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、
第1の低屈折率透明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の
低屈折率透明膜がこの順に形成されてなり、 導電性光吸収膜の膜厚が5〜25nm、第1の高屈折率
透明膜の膜厚が15〜30nm、第1の低屈折率透明膜
の膜厚が15〜30nm、第2の高屈折率透明膜の膜厚
が100〜140nm、第2の低屈折率透明膜の膜厚が
60〜120nmであることを特徴とする請求項1記載
の反射防止膜。 - 【請求項3】 基材のための反射防止膜であって、基材
に近い側から導電性光吸収膜、第1の高屈折率透明膜、
第1の低屈折率透明膜、第2の高屈折率透明膜、第2の
低屈折率透明膜、第3の高屈折率透明膜、第3の低屈折
率透明膜がこの順に形成されてなり、 導電性光吸収性膜の膜厚が5〜25nm、第1の高屈折
率透明膜の膜厚が20〜40nm、第1の低屈折率透明
膜の膜厚が5〜30nm、第2の高屈折率透明膜の膜厚
が50〜90nm、第2の低屈折率透明膜の膜厚が1〜
20nm、第3の高屈折率透明膜の膜厚が30〜50n
m、第3の低屈折率透明膜の膜厚が60〜120nmで
あることを特徴とする請求項1記載の反射防止膜。 - 【請求項4】 導電性光吸収膜は、窒化チタンからなる
ことを特徴とする請求項1記載の反射防止膜。 - 【請求項5】 高屈折率透明膜は、酸化チタン,酸化ニ
オブのいずれかからなることを特徴とする請求項1記載
の反射防止膜。 - 【請求項6】 低屈折率透明膜は、酸化シリコンからな
ることを特徴とする請求項1記載の反射防止膜。 - 【請求項7】 導電性光吸収膜と第1の高屈折率透明膜
の間に、金属または金属の窒化物よりなる酸化バリア層
が形成されていることを特徴とする請求項1記載の反射
防止膜。 - 【請求項8】 基材は、ディスプレイ表示面を構成する
ガラス基板、プラスティック基板またはプラスチックフ
ィルムであることを特徴とする請求項1記載の反射防止
膜。 - 【請求項9】 波長帯域が430nm〜650nmの光
を基材側の面とは反対側の面から照射したときの反射率
が、0.6%未満であることを特徴とする請求項1記載
の反射防止膜。 - 【請求項10】 波長帯域が430nm〜650nmの
光を基材側の面とは反対側の面から照射したときの透過
率が、60%〜90%であることを特徴とする請求項1
記載の反射防止膜。 - 【請求項11】 表面の電気抵抗値が、1kΩ/□以下
であることを特徴とする請求項1記載の反射防止膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9335909A JPH11171596A (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 反射防止膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9335909A JPH11171596A (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 反射防止膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11171596A true JPH11171596A (ja) | 1999-06-29 |
Family
ID=18293732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9335909A Withdrawn JPH11171596A (ja) | 1997-12-05 | 1997-12-05 | 反射防止膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11171596A (ja) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100483680B1 (ko) * | 2000-08-29 | 2005-04-18 | 호야 가부시키가이샤 | 반사방지막을 갖는 광학부재 |
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US7998324B2 (en) | 2003-09-26 | 2011-08-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sputtering target and process for producing si oxide film therewith |
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JP2017206392A (ja) * | 2016-05-16 | 2017-11-24 | 旭硝子株式会社 | ガラス物品 |
CN110174718A (zh) * | 2019-06-28 | 2019-08-27 | 浙江舜宇光学有限公司 | 镀膜镜片及光学成像装置 |
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WO2021235379A1 (ja) * | 2020-05-21 | 2021-11-25 | デクセリアルズ株式会社 | 反射防止フィルム |
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-
1997
- 1997-12-05 JP JP9335909A patent/JPH11171596A/ja not_active Withdrawn
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2010210945A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Seiko Epson Corp | 光学多層フィルムおよびその製造方法 |
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WO2014010400A1 (ja) * | 2012-07-09 | 2014-01-16 | 旭硝子株式会社 | 積層体の製造方法および積層体 |
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WO2021235379A1 (ja) * | 2020-05-21 | 2021-11-25 | デクセリアルズ株式会社 | 反射防止フィルム |
JP2021184032A (ja) * | 2020-05-21 | 2021-12-02 | デクセリアルズ株式会社 | 反射防止フィルム |
JP2022159380A (ja) * | 2020-05-21 | 2022-10-17 | デクセリアルズ株式会社 | 反射防止フィルム |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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