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JPH10242029A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

Info

Publication number
JPH10242029A
JPH10242029A JP9043731A JP4373197A JPH10242029A JP H10242029 A JPH10242029 A JP H10242029A JP 9043731 A JP9043731 A JP 9043731A JP 4373197 A JP4373197 A JP 4373197A JP H10242029 A JPH10242029 A JP H10242029A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
lens
chamber
exposure
ozone
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9043731A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasuyuki Suzuki
康之 鈴木
Kenji Ando
謙二 安藤
Minoru Otani
実 大谷
Riyuuji Hiroo
竜二 枇榔
Hidehiro Kanazawa
秀宏 金沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP9043731A priority Critical patent/JPH10242029A/ja
Publication of JPH10242029A publication Critical patent/JPH10242029A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70858Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 長期間使用しても、照度低下、照度ムラ変化
が少なく、安定して露光が行え、また、照度が変化した
場合にも、容易にメンテナンス可能な露光装置を提供す
る。 【解決手段】 光源からの光束をレンズを含む光学系を
介して通過させ、レチクルを通して露光対象物上に露光
する露光装置において、前記光学系を含むチャンバー2
と、Si、Al、Mg、NH4、およびこれらを含む化
合物をあらかじめ除去した酸化性ガスを前記チャンバー
内に供給する手段4と、前記チャンバーに設けられたガ
ス排出孔と、前記チャンバー内のガスを処理する手段6
とを有する露光装置とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の製造等
に用いられる露光装置に関し、特に縮小露光系を含むス
テッパ露光装置を用いた露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】ステッパ露光装置は、レチクルないしマ
スク(以下、まとめて「レチクル」と呼ぶ。)上のパタ
ーンを1/10ないし1/5に縮小して半導体ウエハ上
のフォトレジスト膜等の露光対象物上に結像させるもの
である。ステッパ露光装置の露光波長は、半導体装置の
高集積化、小型化に伴い、水銀ランプのg線からi線へ
と短波長化し、さらにはエキシマレーザのKrFレーザ
光、ArFレーザ光へと短波長化を進められている。こ
れらの露光に用いられる紫外線は、フォトンエネルギが
高く、照射されたホトレジスト等の感光体に化学変化を
生じさせ、レチクルパターンを露光対象物上に形成させ
る。
【0003】図7は、従来のステッパ露光装置を示す。
図7においては、照明系の鏡筒1内に、紫外線を発光す
る光源71と、光源71から発した光をレチクル74上
に照射するためのコンデンサレンズ72が配置されてい
る。ランプ71から発し、コンデンサレンズ72で平行
光束にされた光はレチクル74を照射する。さらに、レ
チクル74の開口部を通過した紫外光は、鏡筒1内を通
過し、縮小投影系レンズ群75によって集束され、半導
体ウエハ77上に塗布されたホトレジスト膜を露光す
る。なお、半導体ウエハ77は、ベース78上に固定さ
れたXYステージ79に配置される。露光は、不図示の
シャッター、絞り等により、適当な照度で露光した後、
XYステージを移動し、同様の手順で繰り返し行なわれ
る。
【0004】なお、ステッパの処理速度を高めるために
は、照明系、露光系全レンズ群を透過する光量を大きく
するとともに、フレアーや露光対象物上の照度ムラを極
力抑えなければならない。このため、通常、レンズ表面
には反射防止膜が形成される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】g線、およびi線のス
テッパを長期間使用すると、図7における照明系レンズ
群72や投影系縮小レンズ群75のレンズ表面にくもり
や、有機物が堆積する。一般的にこれらレンズ群の表面
には露光波長に対する反射防止膜等がコーティングされ
ており、くもりや、有機物が堆積することで反射率が変
化するために、透過率が減少し、露光光が散乱するとい
う問題があった。また、レンズ群表面に付着した堆積物
が露光光を吸収する場合にも、同様にレンズの透過率の
減少や、レンズ面内の透過率のムラが生じる。このよう
な状態になると、ステッパの投影照度が減少し、照度ム
ラが発生し、フレアー等が大きくなるなど、性能が全体
として低下してしまう。
【0006】一方、露光波長がエキシマKrFレーザ
(248nm)、ArFレーザ(193nm)と短波長
になり、フォトンエネルギー、エネルギー密度が大きく
なると、クリーンルーム中や、レンズ鏡筒内で付着した
有機物等が除去され、短期間においても露光面での照度
が変化するなどの問題があった。
【0007】以上の問題点を解決するために、特開平7
−201702号公報では非酸化性ガスであるN2等の
ガスで鏡筒内を充填する改善策が開示されている。ま
た、特開平7 −273016号公報ではシールガラス
でレンズ等への付着を防止し、シールガラスを交換可能
にすることで、性能劣化を防止する改善策が開示されて
いる。
【0008】しかしながら、レンズ鏡筒内にはレンズと
鏡筒の固定のための接着剤や、鏡筒内部表面に付着した
有機物等の汚染物質が存在し、これら汚染物質と紫外線
の反応による光デポジションがおこる。また、紫外線を
照射しなくても有機物が表面に付着する。したがって、
上記の対策では、有機物の付着による光学性能の劣化を
防止するには十分でなく、また、縮小露光系レンズ群は
交換が非常に困難であるという問題点を有していた。
【0009】本発明の目的は、いずれの露光波長におい
ても、長期間性能の劣化が少ない露光装置を提供するこ
とにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、性能の劣
化したi線露光レンズをフーリエ変換赤外分光装置(以
下FTIRと表示)によって分析した結果、各種のハイ
ドロカーボン、カルボン酸化合物、アクリルアミド等の
有機化合物がレンズ表面上に堆積していることを見いだ
した。未使用の同一レンズ系を分析したところ、各種の
ハイドロカーボンが検出された。従って、カルボン酸化
合物、アクリルアミド等は、雰囲気中の成分やレンズア
センブリからのアウトガス成分が反応して形成されたと
判断することができる。通常、大気中に放置されたサン
プル上には各種ハイドロカーボンが付着することが知ら
れており、ハイドロカーボンについては大気中で付着し
たものと光化学反応により形成されたものかの区別が出
来ていないが、通常のレンズ作成工程中や洗浄後にレン
ズ表面に付着することは明らかになっている。紫外線に
よる有機物堆積反応を抑制するには、原料物質を除去す
ることが考えられるが、有機物原料供給元になる鏡筒と
レンズを固定する接着剤等は除去することが非常に困難
であり、また、鏡筒内表面に付着している有機物や、接
着剤以外の鏡筒内物質を完全に取り除くことも難しい。
【0011】図2に、アクリルボックス中で高純度N2
(99.99%以上、露点−70度)ガスでパージしな
がら240〜400nmの波長領域の紫外線を照射した
時の反射率の変化の様子を示す。サンプルは石英基板上
に反射防止膜を形成した基板である。この図から、反射
特性が長波長側にシフトしていることがわかる。シミュ
レーションとFTIR分光測定の結果、サンプル表画に
ハイドロカーボン膜が数nm〜十数nm形成されている
ことがわかった。すなわち、高純度N2でパージしてい
ても、ハイドロカーボンの付着を防ぐことはできない。
また、このハイドロカーボンの付着によって反射率が変
化し、その結果透過率も変化してしまう。また、露光光
が短波長になれば付着物の吸収の影響も大きくなってく
る。
【0012】これに対し、本発明は、光学系を含むチャ
ンバーに酸化性ガスを供給することによりレンズに付着
するハイドロカーボン等を除去するものである。すなわ
ち、本発明の露光装置は、光源からの光束をレンズを含
む光学系を介して通過させ、レチクルを通して露光対象
物上に露光する露光装置において、前記光学系を含むチ
ャンバーと、Si、Al、Mg、NH4、およびこれら
を含む化合物をあらかじめ除去した酸化性ガスを前記チ
ャンバー内に供給する手段と、前記チャンバーに設けら
れたガス排出孔と、前記チャンバー内のガスを処理する
手段とを有することを特徴とする。
【0013】
【発明の実施の形態】本発明における光学系を含むチャ
ンバーとは、縮小露光系レンズ群および照明系レンズ群
のチャンバーの両方を含み、これらのいずれか一方また
は両方のチャンバーに、ガス排出孔と、チャンバー内の
ガスを処理する手段とが設けられている。
【0014】本発明において、酸化性ガスは、レンズ表
面に付着した有機膜を除去する役割を果たす。これによ
り、レンズの反射率、透過率の変化を防ぎ、長時間性能
の劣化しない露光装置が実現される。このような効果を
有するガスとして、オゾン、N2O、H22等を含むガ
スが用いられる。また、酸素ラジカル、N2Oラジカル
等の酸化性ラジカルを含むガスも好適に用いられる。酸
化性ガスは、Si、Al、Mg、NH4、およびこれら
を含む化合物をあらかじめ除去したものを用いる。これ
らの化合物は、酸化されてレンズ表面に固形物として堆
積するからである。
【0015】酸化性ガスは、レンズ表面に付着した有機
化合物等を蒸気圧の高いガス状物質に変化させ、これと
ともに鏡筒に設けられた排出孔より外部に排出される。
排出されたガスは処理設備に導かれる。この処理設備に
より有害なオゾンは分解処理され、その他のガス成分は
無害化され、その後、パーティクル除去フィルターを通
してクリーンルーム内に排出される。
【0016】本発明においては、光学系は、レンズ鏡
筒、レンズを接着する接着剤、鏡筒内面等により構成さ
れるが、これらの少なくとも一部が、酸化性ガスに対す
る耐久性の高い耐酸化性材料からなるものであるか、ま
たは酸化性ガスに触れないよう保護膜でコーティングさ
れることが望ましい。ここで、耐酸化性材料としては、
ガラス、セラミック、金属酸化物、Si34等のチッ化
物、金属、AlF3等のフッ化物等が用いられる。ま
た、保護膜の材料としては、Al23、SiO2、Ti
2等の金属酸化物、金属、Si34等のチッ化物、A
lF3等のフッ化物等が用いられる。
【0017】本発明における光源としては、i線、g
線、エキシマKrF、ArF等を用いることができる。
ただし、露光波長にエキシマ(KrF、ArF)を使う
場合、エキシマのフォトンエネルギーが大きいため、露
光中に付着したハイドロカーボンが除去される効果があ
り、従って放置中に付着する有機系付着物をクリーニン
グすることで、光学性能の安定化を図ることができる。
【0018】本発明の露光装置には、パージガスをチャ
ンバーに供給する手段を設けても良い。これにより、パ
ージガスと酸化性ガスを併用し、レンズ表面への有機物
の付着を防止することが可能となる。露光系のメンテナ
ンスも容易となる。パージガスとしては、N2、Ar、
Ne等の不活性ガスが用いられる。
【0019】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。
【0020】(実施例1)図1は本発明の第1の実施例
に係るi線露光装置の要部概略図である。図において、
1は照明系レンズ封止チャンバー、2は投影系レンズ封
止チャンバー、3は酸素ガスボンベ、4はオゾン発生装
置、6はオゾン処理装置である。11は光源としての発
光管であり、紫外線および遠紫外線等を放射する高輝度
の発光部を有している。11から放射された紫外線は1
2のコンデンサーレンズおよび本概略図では省略した、
i線フィルター、ミラー、オプティカルインテグレー
タ、ズームレンズ等の光学部品によって、レチクルを均
一に照明するよう調整されている。レチクル14を通っ
た紫外光は、鏡筒16内に収められた縮小露光系レンズ
群15を密封する封止チャンバー2内に入射し、さらに
縮小露光レンズ群15をへて、ウエハー17上にレチク
ルパターンを転写する。鏡筒16内には縮小レンズ群1
5と鏡筒16を接着する接着剤や、レンズ固定治具など
があるが省略している。
【0021】鏡筒内にはクリーンルーム内の各種溶剤、
フィルター材から放出される有機金属系ガス等の様々な
ガスが混入しているため、露光中、縮小露光系レンズ群
の表面には、紫外線の光化学反応等によって、金属酸化
物、各種のハイドロカーボン、カルボン酸化合物、アク
リルアミド等の有機化合物が堆積してしまう。
【0022】ここで、酸素ガスボンベ3、オゾン発生器
4により、オゾンガスを封止チャンバー2内に導入す
る。オゾンガス発生用酸素ガスはクリーンルーム内に混
入する有機溶剤、有機金属系ガスの他、光化学反応によ
って固形物を生成するガスを除去し、デポジションが起
こらない状態まで純化している。又、オゾンの生成効率
を向上するために、数%のN2ガスを添加している。封
止チャンバー2内にある鏡筒16には、このオゾンガス
が縮小露光系レンズ群15に効率よく行き渡るように、
貫通孔5があけられている。このオゾンガスを封止チャ
ンバー2内にしばらく流し、鏡筒内の不純物ガスを十分
に置換する。その後、オゾンガスを流しながら露光を行
う。有機金属ガス等の不純物ガスが取り除かれているた
め、露光中、金属酸化物は堆積することはなくなるが、
ハイドロカーボン等の有機膜は堆積する。しかし、オゾ
ンガスによって、レンズ表面に付着した有機化合物は蒸
気圧の高いガス状物質に変化し、オゾンガスとともにレ
ンズより除去され、鏡筒外部に排出される。排出された
ガスは有害なオゾンは分解処理され、その他のガス成分
も無害化して、さらにパーティクル除去フィルターを通
してクリーンルーム内に排出されるようになっている。
【0023】尚、封止チャンバー1、2の露光光照射部
の大気側にも有機物が付着するが、この部分には防着ガ
ラス等を配置し、着脱容易にして交換する。また、レン
ズ鏡筒とレンズを接着する接着剤、鏡筒内面等の使用材
料はオゾンに対して耐性の高いものを用いるか、または
オゾンガスに触れないよう保護膜をコーティングするこ
とが望ましい。また、本実施例では縮小露光系レンズの
みを清浄化する実施例を示したが、照明系レンズについ
てもまったく同様の処理が可能であることは言うまでも
ない。
【0024】本発明による図1に示した露光装置を用い
れば、レンズ表面に付着して反射率を変化させたり、i
線を吸収するような有機物を常に除去することが可能に
なり、透過率、照度ムラが変化せず、長期間安定して露
光することが可能になる。また、レンズ群を分解し清掃
するなどの手間かかからず、装置を効率よく使用するこ
とができる。
【0025】(実施例2)図3は本発明の第2の実施例
に係るi線露光装置の要部概略図である。図において、
31はN2ガス、32ガス流切り替え器である。露光の
ためにレンズ群15に紫外線を照射する前に、ガス切り
替え器32によりN2ガス31を鏡筒内に流し、鏡筒内
をN2ガスで十分にパージする。ここで使用するN2ガス
は、有機金属、NH4等のデポジションを起こす不純物
を除去したものを使用する。又、ここではN2ガスを使
用しているが、Ar、Ne等の不活性ガスでも良いし、
また、金属不純物、有機不純物を除去した空気でもよい
が、安価で、高純度のガス入手でき、屈折率が大気と同
程度のものであることが望ましい。N2ガスでパージし
た後、ガスを微少流量流しながら露光を行う。この時、
鏡筒内や、接着剤等から放出されるガスと紫外線によっ
て、レンズ表面にハイドロカーボン等の有機膜が付着す
る。しかし、付着する速度は非常に遅いため、しばらく
は露光装置の性能に影響することはない。定期的に、ガ
ス切り替え器32を切り替え、酸素ガス3とオゾン発生
器4により、鏡筒内にオゾンガスを導入する。このオゾ
ンガスによって、露光中にレンズ表面に付着した有機膜
が除去され、縮小露光系のメンテナンスを容易に行うこ
とができる。照明系の性能を評価し、劣化してきたタイ
ミングでオゾンによりクリーニングすればよく、オゾン
処理器6の寿命も長く、又、鏡筒内の接着剤等の劣化も
少なくできる。
【0026】(実施例3)図4は本発明の第3の実施例
に係るi線露光装置の要部概略図である。図において、
41はN2ガス、42は酸素ガス、43は電極、44は
高周波電源およびマッチングボックス、45は排気系で
ある。鏡筒16内を41のN2ガスで十分にパージした
後、露光を行う。長時間使用するとレンズ表面に有機物
が付着し、ウエハ17上の照度、照度分布が変化してし
まう。そこで、照度、照度分布モニター値が規格値をオ
ーバーしたところで、露光を一旦中止し、鏡筒内にO2
ガスを導入し、45の排気系で適当な圧力 まで減圧状
態にする。ここで、高周波電源44より、電極43に高
周波電力を印可し、酸素および窒素プラズマを形成す
る。このプラズマ中で形成された酸素ラジカル、オゾン
等により、レンズ上の有機物を除去する。除去された有
機物は排気系45により鏡筒から排出され、処理系6に
よって無害化され、排出される。有機物付着の多い部位
にのみ放電を形成し、除去できるので、接着剤、封止チ
ャンバー内面等の劣化を防止することができる。又、効
率よくレンズにオゾン等を供給できるため、有機物除去
速度が非常に速い特徴を有する。本実施例では供給ガス
にN2とO2を用いたが、放電によって有機膜除去効果の
活性物質を生成するガスならばN2O、H2O、H22
でもよい。特に活性な酸素原子を生成し、且つ分解する
以前は安全なガスが望ましい。
【0027】(実施例4)図5は本発明の第4の実施例
に係るi線露光装置の要部概略図である。図において、
51はi線フィルター、52はi線フィルター駆動系、
53は金属不純物、有機不純物等を除去したN2/O2
合ガスである。露光を行う前に鏡筒16内を53のガス
で十分に置換する。露光中も十分な流量のガスを流しな
がらウエハの焼き付けを行う。こうすることで金属酸化
物の付着を防止する。ウエハ上の照度、および照度分布
モニタにより、規格値をはずれそうになったところで、
露光を中断し、51のi線フィルタをフィルター駆動系
52により取り外す。ここで、縮小露光系レンズ群15
に光源11からの紫外光をi線フィルターを通さずに照
射する。光源11は焼き付け波長のi線以外にも多くの
輝線を有し、より短波長の紫外線も放出されている。鏡
筒16内の酸素は、この紫外線により、活性化され、オ
ゾン等の活性種を生成し、レンズに付着した有機物を除
去する。活性種の生成には紫外線が有効であり、露光系
の加熱を防止するために、赤外線カットフィルターを通
して照射しても、有機物除去効果はほとんど変わらな
い。又、本実施例では露光に使う光源を用いているが、
外部から紫外光を導入してもよい。i線フィルターをは
ずして、有機物を除去する場合、できるだけ照度をあげ
るため、レチクル14もはずして行うことが望ましい。
【0028】(実施例5)図6は本発明の第5の実施例
に係るi線露光装置の要部概略図である。図において、
16は内部にオゾンガスを充填した密封型鏡筒、61は
金属および金属化合物、有機不純物等を除去したN2
2混合ガス、62はストップバルブ、63はガス排出
孔である。縮小露光系に金属酸化物等の容易に除去でき
ない付着物が析出しないように61のボンベ等より金属
および金属化合物、有機不純物等を除去したN2/O2
合ガスでパージを行いながら、露光を行う。レンズ鏡筒
内には高濃度のオゾンガスが充填されており、レンズ表
面に付着した有機物を除去し、CO2、H2O等に変化さ
せる。これらのガスは、i線で分解することはなく、安
定してガス状で存在する。鏡筒内の有機物汚染は、製造
時に鏡筒内部に付着したハイドロカーボン、接着剤等か
ら放出されるガスが主成分となるが、長時間使用するう
ちに枯れてくる。従って、初期に放出されるガスによる
有機付着物を再付着しないガス状に変換してしまうこと
で、長期間安定した光学性能を維持することが可能とな
る。本実施例では、除去できる有機付着物の量を無限に
はできないが、酸化物ガス処理系、酸化物ガス供給系等
が必要なく、使いやすく、安価で、しかも長期間光学性
能の安定した露光装置を提供できるという利点がある。
【0029】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
レンズ表面に付着した有機膜を酸化性ガスにより除去す
ることができ、レンズの反射率、透過率の変化を防ぎ、
長時間性能の劣化しない露光装置を実現することができ
る。また、光学系の性能が劣化した場合においてもメン
テナンスを容易に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の露光装置のレンズ系を示す概略断面図
である。
【図2】高純度N2パージ環境下で紫外線を照射した際
の反射防止膜の反射率変化を示す図である。
【図3】本発明の露光装置のレンズ系を示す概略断面図
である。
【図4】本発明の露光装置のレンズ系を示す概略断面図
である。
【図5】本発明の露光装置のレンズ系を示す概略断面図
である。
【図6】本発明の露光装置のレンズ系を示す概略断面図
である。
【図7】従来の露光装置のレンズ系を示す概略断面図で
ある。
【符号の説明】
1 照明系レンズ封止チャンバー 2 投影系レンズ封止チャンバー 3 酸素ガスボンベ 4 オゾン発生装置 5 貫通孔 6 オゾン処理設備 11 光源 12 コンデンサーレンズ 14 レチクル 15 縮小露光系レンズ 16 鏡筒 17 シリコンウエハ 18 ベース 19 XYステージ 31 窒素ガスボンベ 32 ガス流切り替え器 41 窒素ガスボンベ 42 酸素ガスボンベ 43 電極 44 高周波電源およびマッチングボックス 45 排気系 51 i線フィルタ 52 フィルター駆動系 53 N2/O2混合ガスボンベ 61 N2/O2混合ガスボンベ 62 ストップバルブ 63 ガス排出孔 71 光源 72 コンデンサーレンズ 74 レチクル 75 縮小露光系レンズ 77 シリコンウエハ 78 ベース 79 XYステージ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 枇榔 竜二 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 金沢 秀宏 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの光束をレンズを含む光学系を
    介して通過させ、レチクルを通して露光対象物上に露光
    する露光装置において、前記光学系を含むチャンバー
    と、Si、Al、Mg、NH4、およびこれらを含む化
    合物をあらかじめ除去した酸化性ガスを前記チャンバー
    内に供給する手段と、前記チャンバーに設けられたガス
    排出孔と、前記チャンバー内のガスを処理する手段とを
    有することを特徴とする露光装置。
  2. 【請求項2】 前記チャンバー内にパージガスを供給す
    る手段を有する請求項1に記載の露光装置。
  3. 【請求項3】 前記酸化性ガスがオゾンを含むガスであ
    って、前記チャンバー内のガスを処理する手段がオゾン
    処理設備である請求項1または2記載の露光装置。
  4. 【請求項4】 前記酸化性ガスがN2Oを含むガスであ
    って、前記チャンバー内のガスを処理する手段がN2
    処理設備である請求項1または2記載の露光装置。
  5. 【請求項5】 前記酸化性ガスがH22を含むガスで
    あって、前記チャンバー内のガスを処理する手段がH2
    2処理設備である請求項1または2記載の露光装置。
  6. 【請求項6】 前記酸化性ガスが酸化性ガスラジカルを
    含むガスであって、前記チャンバー内のガスを処理する
    手段が前記酸化性ガスラジカルを含むガスの処理設備で
    ある請求項1または2記載の露光装置。
  7. 【請求項7】 前記光学系の少なくとも一部が耐酸化性
    材料からなる請求項1乃至6いずれかに記載の露光装
    置。
JP9043731A 1997-02-27 1997-02-27 露光装置 Pending JPH10242029A (ja)

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