JPH0279026A - 液晶表示素子 - Google Patents
液晶表示素子Info
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- JPH0279026A JPH0279026A JP63229810A JP22981088A JPH0279026A JP H0279026 A JPH0279026 A JP H0279026A JP 63229810 A JP63229810 A JP 63229810A JP 22981088 A JP22981088 A JP 22981088A JP H0279026 A JPH0279026 A JP H0279026A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明はアクティブマトリクス型の液晶表示素子につ
いてのものであり、特に、そのアレイ構成に関する。
いてのものであり、特に、そのアレイ構成に関する。
(従来の技術)
液晶を用いた表示素子は、テレビ表示やグラフィックデ
イスプレィ等を指向した大容量で高密度のアクティブマ
トリクス型表示素子の開発及び実粗化が盛んである。こ
のような表示素子では、クロストークのない高コントラ
ストの表示が行えるように、各画素の駆動と制御を行う
手段として半導体スイッチが用いられる。その半導体ス
イッチとしては、透過型表示が可能であり大面積化も容
易である等の理由から、透明絶縁基板上に形成された薄
膜トランジスタ(TFT)やMIM素子等が、通常用い
られている。
イスプレィ等を指向した大容量で高密度のアクティブマ
トリクス型表示素子の開発及び実粗化が盛んである。こ
のような表示素子では、クロストークのない高コントラ
ストの表示が行えるように、各画素の駆動と制御を行う
手段として半導体スイッチが用いられる。その半導体ス
イッチとしては、透過型表示が可能であり大面積化も容
易である等の理由から、透明絶縁基板上に形成された薄
膜トランジスタ(TFT)やMIM素子等が、通常用い
られている。
そして一般に、アクティブマトリクス型の液晶表示素子
としては、ラビングによる配向処理がそれぞれ施された
2枚の基板を、配向方向が互いに90’をなすように平
行に対向させて配置し、これらの間にネマヂツクタイプ
の液晶組成物を挟持させたツイスアツドネマチツク(T
N)型のものが広く用いられている。
としては、ラビングによる配向処理がそれぞれ施された
2枚の基板を、配向方向が互いに90’をなすように平
行に対向させて配置し、これらの間にネマヂツクタイプ
の液晶組成物を挟持させたツイスアツドネマチツク(T
N)型のものが広く用いられている。
なお、上述の液晶表示素子のうち例えば個々の画素を直
接駆動するスイッチング素子としてTPTを用いたタイ
プでは、TPTにおけるゲートと行選択線(アドレス線
)、及び、ドレインと列選択線(データ線)が一体に形
成され、更に、ソースと画素電極が電気的に接続されて
いる。また、画素電極と行選択線との間でコンデンサを
形成するために、画素電極がゲート絶縁膜を挟んで行選
択線と巾なり合っている。これにより、0.5〜1.0
pFV1.度の客足が得られ、残像等の画質改善に特に
有効である。
接駆動するスイッチング素子としてTPTを用いたタイ
プでは、TPTにおけるゲートと行選択線(アドレス線
)、及び、ドレインと列選択線(データ線)が一体に形
成され、更に、ソースと画素電極が電気的に接続されて
いる。また、画素電極と行選択線との間でコンデンサを
形成するために、画素電極がゲート絶縁膜を挟んで行選
択線と巾なり合っている。これにより、0.5〜1.0
pFV1.度の客足が得られ、残像等の画質改善に特に
有効である。
(発明が解決しようとする課題)
ところで、この種の液晶表示素子では、プロセス中に発
生するごみやエツチング不良等が原因となって、次に示
すような不具合が起こることがあった。
生するごみやエツチング不良等が原因となって、次に示
すような不具合が起こることがあった。
0画素電極と行選択線とが絶縁・膜を介して形成してい
るコンデンサの部分において、上記絶縁膜にピンホール
が発生し、電流がリークして点欠陥となる。
るコンデンサの部分において、上記絶縁膜にピンホール
が発生し、電流がリークして点欠陥となる。
■TPTのドレインとソースがショートし、TFT不良
で点欠陥となる。
で点欠陥となる。
■行選択線と列選択線が絶縁膜のピンホールでショート
し、十字状の線欠陥(クロスショート)となる。
し、十字状の線欠陥(クロスショート)となる。
そこで、これらの現象が発生したときに修復を可能にす
るため、例えば特開昭61−198269号公報に記載
されているように、1画素に対し2個以上のT P T
を設けたりする方法が考えられる。しかしながら、この
場合には一画素当たりの開口率が低下することが避けら
れず、表示素子として表示性能の悪化につながる。
るため、例えば特開昭61−198269号公報に記載
されているように、1画素に対し2個以上のT P T
を設けたりする方法が考えられる。しかしながら、この
場合には一画素当たりの開口率が低下することが避けら
れず、表示素子として表示性能の悪化につながる。
この発明はこのような従来の事情に鑑みなされたもので
あり、特に冗長回路を付加することなく、アレイ部にお
いて発生する不良を容易に修復することが可能なアクテ
ィブマトリクス型の液晶表示素子を提供することを目的
とする。
あり、特に冗長回路を付加することなく、アレイ部にお
いて発生する不良を容易に修復することが可能なアクテ
ィブマトリクス型の液晶表示素子を提供することを目的
とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
この発明は、一主面上に複数個の能動素子とこれに接続
された画素電極とがそれぞれ配設され且つ能動素子及び
画素電極の周囲にはマトリックス状に行選択線及び列選
択線が形成された能動素子基板と、この能動素子基板と
対向して配置された共通電極を−1面上に有する対向基
板と、能動素子基板と対向基板どの間に挟持された液晶
とを備えた液晶表示素子についてのものであり、行選択
線は列選択線との交差部で2本以上に分iJされ、分割
がなされた行選択線のうちの1本は隣接する2つの画素
電極の一部と絶縁膜を介して重なっている。
された画素電極とがそれぞれ配設され且つ能動素子及び
画素電極の周囲にはマトリックス状に行選択線及び列選
択線が形成された能動素子基板と、この能動素子基板と
対向して配置された共通電極を−1面上に有する対向基
板と、能動素子基板と対向基板どの間に挟持された液晶
とを備えた液晶表示素子についてのものであり、行選択
線は列選択線との交差部で2本以上に分iJされ、分割
がなされた行選択線のうちの1本は隣接する2つの画素
電極の一部と絶縁膜を介して重なっている。
また、この発明は上述の液晶表示素子について、列選択
線と交差する専用配線が行選択線とともに形成されてお
り、この専用配線は1本ごとに隣接する2つの画素電極
の一部と絶縁膜を介して重なっている。
線と交差する専用配線が行選択線とともに形成されてお
り、この専用配線は1本ごとに隣接する2つの画素電極
の一部と絶縁膜を介して重なっている。
(作 用)
この発明は、行選択線を列選択線との交差部で分割し、
この分割されたうちの1本と隣接する22の画素電極の
一部とが絶縁膜を介して重なっているか、或いは、行選
択線と同時にこれと別個の列選択線と交差する専用配線
を設け、この専用配線の各々は隣接する2つの画素電極
の一部と絶縁膜を介して重なっている。この結果、レー
ザー光により分離した行選択線或いは専用配線の一部を
隣接する画素における画素電極の電気的接続に利用する
ことができ、画素電極及び行選択線或いは専用配線にお
ける所定の位置の切断により、能動素子基板において発
生する各種の不良の修復を比較的容易に行うことができ
る。
この分割されたうちの1本と隣接する22の画素電極の
一部とが絶縁膜を介して重なっているか、或いは、行選
択線と同時にこれと別個の列選択線と交差する専用配線
を設け、この専用配線の各々は隣接する2つの画素電極
の一部と絶縁膜を介して重なっている。この結果、レー
ザー光により分離した行選択線或いは専用配線の一部を
隣接する画素における画素電極の電気的接続に利用する
ことができ、画素電極及び行選択線或いは専用配線にお
ける所定の位置の切断により、能動素子基板において発
生する各種の不良の修復を比較的容易に行うことができ
る。
なお、この発明と同様に行選択線或いは列選択線の一方
を両者の交差部で分岐させる例は、特開昭61−147
285 号公報に記載されているが、この例では中に行
選択線と列選択線の間のショートを修復できるに過ぎず
、この発明の方が液晶表示素子の参画り向上に役立つ。
を両者の交差部で分岐させる例は、特開昭61−147
285 号公報に記載されているが、この例では中に行
選択線と列選択線の間のショートを修復できるに過ぎず
、この発明の方が液晶表示素子の参画り向上に役立つ。
(実施例)
以下、この発明の詳細を図面を参照して説明する。
第1図は請求項1記載の発明の一実施例における能動素
子等の配列状態を示す概略図である。同図において、各
画素につき1個存在する能動素子1例えばTPTは、行
選択線2と一体のゲート電極3、列選択線4と一体のド
レイン電極5、画素電極6に接続されたソース電極7及
び点線で囲んでなるチャンネル領域8等から構成されて
いる。
子等の配列状態を示す概略図である。同図において、各
画素につき1個存在する能動素子1例えばTPTは、行
選択線2と一体のゲート電極3、列選択線4と一体のド
レイン電極5、画素電極6に接続されたソース電極7及
び点線で囲んでなるチャンネル領域8等から構成されて
いる。
ここで、行選択線2は例えば能動素子1のゲートに走査
信号を与えるためのアドレス線であるのに対し、列選択
線4は例えば能動素子1のドレインに画像信号を与える
ためのデータ線である。そして、全体的には、複数個の
能動素子]とこれに接続された画素電極6の各々1個ず
つで一画素を構成し、この周囲にはマトリックス状に行
選択線2及び列選択線4が形成されている。また、行選
択線2は列選択線4との交差部9で開口部2aを有する
2本の線2b、 2cに分割されており、この交差部9
0前後で1本に結合された形状を有している。
信号を与えるためのアドレス線であるのに対し、列選択
線4は例えば能動素子1のドレインに画像信号を与える
ためのデータ線である。そして、全体的には、複数個の
能動素子]とこれに接続された画素電極6の各々1個ず
つで一画素を構成し、この周囲にはマトリックス状に行
選択線2及び列選択線4が形成されている。また、行選
択線2は列選択線4との交差部9で開口部2aを有する
2本の線2b、 2cに分割されており、この交差部9
0前後で1本に結合された形状を有している。
更に、画素電極6の一部は、行選択線2の1本に結合さ
れた部分及び分割がなされた行選択線2のうちの1本の
線2Cと絶縁膜(図示せず)を介して重なっている。
れた部分及び分割がなされた行選択線2のうちの1本の
線2Cと絶縁膜(図示せず)を介して重なっている。
第2図はこの実施例における一画素部分を示す概略断面
図であり、第1図におりるA−A”断面を矢印方向から
みたときに相当丈る。第2図において、例えばガラスか
らなる基板10の一主面上にはゲート電極3が形成され
、更に、これを覆うようにゲート絶縁膜11が形成され
ている。ここで、このゲート絶縁膜11が、第1図にお
ける行選択線2と列選択線4及び画素電極6との間に介
在する絶縁膜である。そして、ゲート絶縁膜11のゲー
ト電極3に対向する部分には、例えばアモルファスシリ
コン(a−3i)からなるチャンネル領域8が形成され
ており、更に、チャンネル@域8上には互いに電気的に
分離された不純物ドープa−31からなるソース領域1
2とドレイン領域13が設けられている。そして、チャ
ンネル領域8のソース領域12側に隣接するゲート絶縁
膜11上には、例えばITO(インジウム・チン・オキ
サイド)からなる画素電極6が設けられている。また、
ソース領域12にはソース電極7の一端が接続され、ソ
ース電極7の他端は画素電極6上に延在して接続されて
いる。また、ドレイン領域13にはドレイン電極5の一
端が接続されており、所定の能動素子基板14が構成さ
れている。一方、例えばガラスからなる基板15の一主
面上には、例えばITOからなる共通電極16が形成さ
れることにより、対向基板17が構成されている。そし
て、能動素子基板14の能動素子1等が形成された一主
面上には、更に全面に例えば低温キュア型のポリイミド
(PI)からなる配向膜18が形成されており、また、
対向基板11の共通電極16が形成された一主面上にも
全面に同じく、例えば低温キュア型のポリイミドからな
る配向膜19が形成されている。そして、能動素子基板
14と対向基板17の一主面上に、各々の配向膜1B、
19を所定の方向に布等でこすることにより、ラビング
による配向処理がそれぞれ施されるようになる。更に、
能動素子基板14と対向基板17とは互いの一生面側が
対向し且つ互いの配向軸が概略90”をなすように配置
され、これらの間隙には液晶20が挟持されている。こ
こで、能動素子基板14と対向基板17とを組み合わせ
る際に、配向膜18゜19のラビング方向は、良視角方
向が正面方向に向くように設定されている。そして、能
動素子基板14と対向基板17の他主面側には、それぞ
れ偏光板21.22が被着されており、能動素子基板1
4と対向基板17のどちらか一方の他主面側から照明を
行う形になっている。
図であり、第1図におりるA−A”断面を矢印方向から
みたときに相当丈る。第2図において、例えばガラスか
らなる基板10の一主面上にはゲート電極3が形成され
、更に、これを覆うようにゲート絶縁膜11が形成され
ている。ここで、このゲート絶縁膜11が、第1図にお
ける行選択線2と列選択線4及び画素電極6との間に介
在する絶縁膜である。そして、ゲート絶縁膜11のゲー
ト電極3に対向する部分には、例えばアモルファスシリ
コン(a−3i)からなるチャンネル領域8が形成され
ており、更に、チャンネル@域8上には互いに電気的に
分離された不純物ドープa−31からなるソース領域1
2とドレイン領域13が設けられている。そして、チャ
ンネル領域8のソース領域12側に隣接するゲート絶縁
膜11上には、例えばITO(インジウム・チン・オキ
サイド)からなる画素電極6が設けられている。また、
ソース領域12にはソース電極7の一端が接続され、ソ
ース電極7の他端は画素電極6上に延在して接続されて
いる。また、ドレイン領域13にはドレイン電極5の一
端が接続されており、所定の能動素子基板14が構成さ
れている。一方、例えばガラスからなる基板15の一主
面上には、例えばITOからなる共通電極16が形成さ
れることにより、対向基板17が構成されている。そし
て、能動素子基板14の能動素子1等が形成された一主
面上には、更に全面に例えば低温キュア型のポリイミド
(PI)からなる配向膜18が形成されており、また、
対向基板11の共通電極16が形成された一主面上にも
全面に同じく、例えば低温キュア型のポリイミドからな
る配向膜19が形成されている。そして、能動素子基板
14と対向基板17の一主面上に、各々の配向膜1B、
19を所定の方向に布等でこすることにより、ラビング
による配向処理がそれぞれ施されるようになる。更に、
能動素子基板14と対向基板17とは互いの一生面側が
対向し且つ互いの配向軸が概略90”をなすように配置
され、これらの間隙には液晶20が挟持されている。こ
こで、能動素子基板14と対向基板17とを組み合わせ
る際に、配向膜18゜19のラビング方向は、良視角方
向が正面方向に向くように設定されている。そして、能
動素子基板14と対向基板17の他主面側には、それぞ
れ偏光板21.22が被着されており、能動素子基板1
4と対向基板17のどちらか一方の他主面側から照明を
行う形になっている。
次に、この実施例において、各種の不良が発生したとき
の修復方法について述べる。
の修復方法について述べる。
0画素電極6と行選択線2のショート
第3図は■の不良の救済方法の一例を説明するための図
である。同図において、コンデンサショート不良部30
を修復するには、画素電極6において行選択線2と重な
っている部分のみを分離するため、波線31で示した部
分をレーザー光を用いてカットすればよい。また、コン
デンサ不良が発生した画素を隣りの正常な画素と同電位
にしたいときには、同じくレーザー光を用いて、波線3
2.33で示した部分をカットし且つ黒丸34で示した
部分をショートさせればよい。これにより、コンデンサ
不良が発生した画素の画素電極6は接続されていた能動
素子1から分離され、更に、カットにより行選択線2か
ら分離された部分の働きによって隣りの正常な画素の画
素電極6と電気的に接続される。なおこのとき、隣接す
る画素で同電位となってしまうが、通常のTV表示では
、特に不都合を生じない。
である。同図において、コンデンサショート不良部30
を修復するには、画素電極6において行選択線2と重な
っている部分のみを分離するため、波線31で示した部
分をレーザー光を用いてカットすればよい。また、コン
デンサ不良が発生した画素を隣りの正常な画素と同電位
にしたいときには、同じくレーザー光を用いて、波線3
2.33で示した部分をカットし且つ黒丸34で示した
部分をショートさせればよい。これにより、コンデンサ
不良が発生した画素の画素電極6は接続されていた能動
素子1から分離され、更に、カットにより行選択線2か
ら分離された部分の働きによって隣りの正常な画素の画
素電極6と電気的に接続される。なおこのとき、隣接す
る画素で同電位となってしまうが、通常のTV表示では
、特に不都合を生じない。
■ドレイン電極5とソース電極7のショート第4図は■
の不良の救済方法の一例を説明するための図である。同
図において、ソース・トレイン間のショート不良部40
を修復するには、レーザー光を用いて、波線31〜33
で示した部分をカットし且つ黒丸34で示した部分をシ
ョートさせればよい。これにより、TFT不良が発生し
た画素の画素電極6は接続されていた能動素子1から°
分離されるとともに行選択線2と絶縁膜(図示せず)を
介して重なったコンデンサ部が切断され、更に、カット
により行選択線2から分離された部分の動きによって、
隣りの正常な画素の画素電極6と電気的に接続される。
の不良の救済方法の一例を説明するための図である。同
図において、ソース・トレイン間のショート不良部40
を修復するには、レーザー光を用いて、波線31〜33
で示した部分をカットし且つ黒丸34で示した部分をシ
ョートさせればよい。これにより、TFT不良が発生し
た画素の画素電極6は接続されていた能動素子1から°
分離されるとともに行選択線2と絶縁膜(図示せず)を
介して重なったコンデンサ部が切断され、更に、カット
により行選択線2から分離された部分の動きによって、
隣りの正常な画素の画素電極6と電気的に接続される。
■行選択線2と列選択線4のショート
第5図は■の不良の救済方法の一例を説明するための図
である。同図において、クロスショート不良部50を修
復するには、レーザー光を用いて、波線31,35.5
1で示した部分をカットし且つ黒丸34で示した部分を
ショートさせればよい。これにより、クロスショート不
良が発生した能動素子1は接続されていた行選択線2か
ら分離されるとともに、この能動素子1と接続されてい
た画素電極6は行選択線2と絶縁膜(図示せず)を介し
て重なったコンデンサ部が切断され、更に、カットによ
り行選択線2から分離された部分の動きによって隣りの
正常な画素の画素電極6と電気的に接続される。
である。同図において、クロスショート不良部50を修
復するには、レーザー光を用いて、波線31,35.5
1で示した部分をカットし且つ黒丸34で示した部分を
ショートさせればよい。これにより、クロスショート不
良が発生した能動素子1は接続されていた行選択線2か
ら分離されるとともに、この能動素子1と接続されてい
た画素電極6は行選択線2と絶縁膜(図示せず)を介し
て重なったコンデンサ部が切断され、更に、カットによ
り行選択線2から分離された部分の動きによって隣りの
正常な画素の画素電極6と電気的に接続される。
第6図は請求項2記載の発明の一実施例における能動素
子等の配列状態を示す概略図である。この実施例は第1
図に示した例の場合と比べ、行選択線2と同時にこれと
別個の専用配線60及びコンデンサ形成用のコンデンサ
専用線61が形成されている点が異なっている。そして
、専用配線60は行選択線2と概略平行な方向に延びて
列選択ij!4と交差する形状で、1本ごとに隣接する
2つの画素電極6の一部と絶縁膜(図示せず)を介して
重なっており、また、コンデンサ専用線61は行選択線
2と概略平行な方向に延びる直線状の部分と一画素ごと
に存在していて開口部を有する四辺形の部分(斜線部)
とが結合した形状であり、上述の四辺形の部分が画素電
極6の一部と絶縁膜(図示せず)を介して重なっている
。ここで、専用配線60或いはコンデンサ専用線61と
画素電極6との間に介在する絶縁膜は、第2図における
ゲート絶縁膜11であることは言うまでもない。
子等の配列状態を示す概略図である。この実施例は第1
図に示した例の場合と比べ、行選択線2と同時にこれと
別個の専用配線60及びコンデンサ形成用のコンデンサ
専用線61が形成されている点が異なっている。そして
、専用配線60は行選択線2と概略平行な方向に延びて
列選択ij!4と交差する形状で、1本ごとに隣接する
2つの画素電極6の一部と絶縁膜(図示せず)を介して
重なっており、また、コンデンサ専用線61は行選択線
2と概略平行な方向に延びる直線状の部分と一画素ごと
に存在していて開口部を有する四辺形の部分(斜線部)
とが結合した形状であり、上述の四辺形の部分が画素電
極6の一部と絶縁膜(図示せず)を介して重なっている
。ここで、専用配線60或いはコンデンサ専用線61と
画素電極6との間に介在する絶縁膜は、第2図における
ゲート絶縁膜11であることは言うまでもない。
この実施例においても、前の実施例と同様に上述の■〜
■のショートを比較的容易に修正することができる。例
えば第6図において、コンデンサショート不良部62を
修復するには、画素電極6においてコンデンサ専用線6
1と重なっている部分のみを分離するため、波線63で
示した部分をレーザー光を用いてカットすればよい。ま
た、コンデンサ不良が発生した画素を隣りの正常な画素
と同電位にしたいときには、同じくレーザー光を用いて
、波線64で示した部分をカットし且つ黒丸65で示し
た部分をショートさせればよい。これにより、コンデン
サ不良が発生した画素の画素電極6は接続されていた能
動素子1から分離され、更に、専用配線60の動きによ
って隣りの正常な画素の画素電極6と電気的に接続され
る。
■のショートを比較的容易に修正することができる。例
えば第6図において、コンデンサショート不良部62を
修復するには、画素電極6においてコンデンサ専用線6
1と重なっている部分のみを分離するため、波線63で
示した部分をレーザー光を用いてカットすればよい。ま
た、コンデンサ不良が発生した画素を隣りの正常な画素
と同電位にしたいときには、同じくレーザー光を用いて
、波線64で示した部分をカットし且つ黒丸65で示し
た部分をショートさせればよい。これにより、コンデン
サ不良が発生した画素の画素電極6は接続されていた能
動素子1から分離され、更に、専用配線60の動きによ
って隣りの正常な画素の画素電極6と電気的に接続され
る。
第7図は請求項2記戎の発明の他の実施例における能動
素子等の配列状態を示す概略図である。
素子等の配列状態を示す概略図である。
同図において、コンデンサ専用線61は行選択線2と概
略平行な方向に延びる直線状の部分と、列選択線4と概
略平行な方向に延びる突出部分とが結合した形状であり
、また、画素電極6はこれと同時に形成された補助容量
対向電極γ0と、例えば列選択線4と同時に形成された
ブリッジ部71を介して電気的に接続されている。また
、専用配線60は第6図の場合と同様な形状を有してい
るのに対し、補助容量対向電極70はコンデンサ専用線
61の一部を若干小さく近似した形状であり、絶縁膜(
図示せず)を介してコンデンサ専用線61と完全に対向
している。
略平行な方向に延びる直線状の部分と、列選択線4と概
略平行な方向に延びる突出部分とが結合した形状であり
、また、画素電極6はこれと同時に形成された補助容量
対向電極γ0と、例えば列選択線4と同時に形成された
ブリッジ部71を介して電気的に接続されている。また
、専用配線60は第6図の場合と同様な形状を有してい
るのに対し、補助容量対向電極70はコンデンサ専用線
61の一部を若干小さく近似した形状であり、絶縁膜(
図示せず)を介してコンデンサ専用線61と完全に対向
している。
この実施例においても、前の実施例と同様に上述の■〜
■のショートを比較的容易に修正することができる。例
えば第7図において、コンデンサショート不良品72を
修復するには、補助容量対向電極70を画素電極6から
分離するため、ブリッジ部71の波線73で示した部分
をレーザー光を用いてカットすればよい。また、コンデ
ンサ不良が発生した画素を隣りの正常な画素と同電位に
したいときには、第6図の場合と同様にすればよい。
■のショートを比較的容易に修正することができる。例
えば第7図において、コンデンサショート不良品72を
修復するには、補助容量対向電極70を画素電極6から
分離するため、ブリッジ部71の波線73で示した部分
をレーザー光を用いてカットすればよい。また、コンデ
ンサ不良が発生した画素を隣りの正常な画素と同電位に
したいときには、第6図の場合と同様にすればよい。
第8図は請求項2記載の発明の更に他の実施例における
能動素子等の配列状態を示す概略図である。この実施例
は第7図に示した実施例と比べた場合、主に補助容量対
向電極70の形状が異なっている。即ら、第7図におけ
る補助容量対向電極70が中央部で分割されて、1画素
につき2つの補助容量対向電極80.81が形成されて
おり、補助容量対向電極80.81はそれぞれブリッジ
部82.83を介して画素電極6と電気的に接続されて
いる。
能動素子等の配列状態を示す概略図である。この実施例
は第7図に示した実施例と比べた場合、主に補助容量対
向電極70の形状が異なっている。即ら、第7図におけ
る補助容量対向電極70が中央部で分割されて、1画素
につき2つの補助容量対向電極80.81が形成されて
おり、補助容量対向電極80.81はそれぞれブリッジ
部82.83を介して画素電極6と電気的に接続されて
いる。
この実施例においても、前の実施例と同様に上述の■〜
■のショートを比較的容易に修正することができる。例
えば第8図において、コンデンサショート不良部84を
修復するには、補助容量対向電極80を画素電極6から
分離するため、ブリッジ部82の波線85で示した部分
をレーザー光を用いてカットすればよい。また、この実
施例では1画素につき2つの補助容量対向電極80.8
1が存在するため、一方の補助容量対向電極80を画素
電極6から分離しても、他方の補助容量対向電極81を
使用することができる点で、第7図に示した実施例より
優れている。
■のショートを比較的容易に修正することができる。例
えば第8図において、コンデンサショート不良部84を
修復するには、補助容量対向電極80を画素電極6から
分離するため、ブリッジ部82の波線85で示した部分
をレーザー光を用いてカットすればよい。また、この実
施例では1画素につき2つの補助容量対向電極80.8
1が存在するため、一方の補助容量対向電極80を画素
電極6から分離しても、他方の補助容量対向電極81を
使用することができる点で、第7図に示した実施例より
優れている。
なお、今までの例で使用しているレーザーはYAG (
Yttrium^Iuminum Garnet >レ
ーザーで、スポットは3μm程度に絞ってあり、第2図
において能動素子基板14の他主面側から照射している
。
Yttrium^Iuminum Garnet >レ
ーザーで、スポットは3μm程度に絞ってあり、第2図
において能動素子基板14の他主面側から照射している
。
また今までは、行選択線がアドレス線、列選択線がデー
タ線である場合について述べたが、これは特に逆であっ
てもかまわない。更に、第7図と第8図に示した実施例
において、ブリッジ部71,82゜83は画素電極6や
補助容量対向電極70.80.81と同じ工程で一体的
に形成されてもよいことは言うまでもない。
タ線である場合について述べたが、これは特に逆であっ
てもかまわない。更に、第7図と第8図に示した実施例
において、ブリッジ部71,82゜83は画素電極6や
補助容量対向電極70.80.81と同じ工程で一体的
に形成されてもよいことは言うまでもない。
[発明の効果]
この発明は、行選択線の形状を工夫したり或いは特定の
専用配線を設けることにより、特に所定の冗長回路を付
加することなく簡単な構成で、アレイ基板において発生
する各種の不良を容易に救演することができ、液晶表示
素子の製造コストの大幅な低減が可能になる。
専用配線を設けることにより、特に所定の冗長回路を付
加することなく簡単な構成で、アレイ基板において発生
する各種の不良を容易に救演することができ、液晶表示
素子の製造コストの大幅な低減が可能になる。
第1図は請求項1記載の発明の一実施例における能動素
子等の配列状態を示す概略図、第2図は第1図に示した
一実施例における一画素部分を示す概略断面図、第3図
は第1図に示した実施例においてコンデンサ不良を修復
する方法の一例を説明するための図、第4図は第1図に
示した実施例において能動素子不良を修復する方法の一
例を説明するための図、第5図は第1図に示した実施例
においてクロスショート不良を修復する方法の一例を説
明するための図、第6図乃至第8図は請求項2記載の発
明の一実施例における能動素子等の配列状態を示す概略
図である。 1・・・能動素子 2・・・行選択線 4・・・列選択線 6・・・画素電極 14・・・能動素子基板 16・・・共通電極 17・・・対向基板 20・・・液晶 60・・・専用配線 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 第1図 第2図 竺3図 ′7ノ 第4図 第5図
子等の配列状態を示す概略図、第2図は第1図に示した
一実施例における一画素部分を示す概略断面図、第3図
は第1図に示した実施例においてコンデンサ不良を修復
する方法の一例を説明するための図、第4図は第1図に
示した実施例において能動素子不良を修復する方法の一
例を説明するための図、第5図は第1図に示した実施例
においてクロスショート不良を修復する方法の一例を説
明するための図、第6図乃至第8図は請求項2記載の発
明の一実施例における能動素子等の配列状態を示す概略
図である。 1・・・能動素子 2・・・行選択線 4・・・列選択線 6・・・画素電極 14・・・能動素子基板 16・・・共通電極 17・・・対向基板 20・・・液晶 60・・・専用配線 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 第1図 第2図 竺3図 ′7ノ 第4図 第5図
Claims (2)
- (1)一主面上に複数個の能動素子とこれに接続された
画素電極とがそれぞれ配設され且つ前記能動素子及び前
記画素電極の周囲にはマトリックス状に行選択線及び列
選択線が形成された能動素子基板と、この能動素子基板
と対向して配置された共通電極を一主面上に有する対向
基板と、前記能動素子基板と前記対向基板との間に挟持
された液晶とを備えた液晶表示素子において、 前記行選択線は前記列選択線との交差部で2本以上に分
割され、前記分割がなされた前記行選択線のうちの1本
は隣接する2つの前記画素電極の一部と絶縁膜を介して
重なつていることを特徴とする液晶表示素子。 - (2)一主面上に複数個の能動素子とこれに接続された
画素電極とがそれぞれ配設され且つ前記能動素子及び前
記画素電極の周囲にはマトリックス状に行選択線及び列
選択線が形成された能動素子基板と、この能動素子基板
と対向して配置された共通電極を一主面上に有する対向
基板と、前記能動素子基板と前記対向基板との間に挟持
された液晶とを備えた液晶表示素子において、 前記列選択線と交差する専用配線が前記行選択線ととも
に形成されており、前記専用配線は1本ごとに隣接する
2つの前記画素電極の一部と絶縁膜を介して重なってい
ることを特徴とする液晶表示素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22981088A JP2619011B2 (ja) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | 液晶表示素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22981088A JP2619011B2 (ja) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | 液晶表示素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0279026A true JPH0279026A (ja) | 1990-03-19 |
JP2619011B2 JP2619011B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=16898022
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22981088A Expired - Fee Related JP2619011B2 (ja) | 1988-09-16 | 1988-09-16 | 液晶表示素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2619011B2 (ja) |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02275927A (ja) * | 1988-12-29 | 1990-11-09 | Sharp Corp | アクティブマトリクス表示装置 |
JPH02284120A (ja) * | 1989-04-26 | 1990-11-21 | Sharp Corp | アクティブマトリクス表示装置 |
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JPH06347821A (ja) * | 1990-05-15 | 1994-12-22 | Centre Natl Etud Telecommun (Ptt) | 表示スクリーン製造方法及び該方法で製造された表示スクリーン |
US7209193B2 (en) | 1993-03-04 | 2007-04-24 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Matrix-type display device capable of being repaired in pixel unit |
WO2010100789A1 (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-10 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の製造方法、液晶パネル、液晶パネルの製造方法、液晶表示装置、液晶表示ユニット、テレビジョン受像機 |
US8698969B2 (en) | 2009-03-05 | 2014-04-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate, method for producing active matrix substrate, liquid crystal panel, method for producing liquid crystal panel, liquid crystal display device, liquid crystal display unit, and television receiver |
JP2018190989A (ja) * | 2012-08-10 | 2018-11-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS61171032U (ja) * | 1985-04-15 | 1986-10-23 | ||
JPS61261774A (ja) * | 1985-05-16 | 1986-11-19 | 旭硝子株式会社 | 薄膜能動素子基板 |
JPS61292683A (ja) * | 1985-06-20 | 1986-12-23 | ソニー株式会社 | 液晶表示装置 |
-
1988
- 1988-09-16 JP JP22981088A patent/JP2619011B2/ja not_active Expired - Fee Related
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WO2010100789A1 (ja) * | 2009-03-05 | 2010-09-10 | シャープ株式会社 | アクティブマトリクス基板、アクティブマトリクス基板の製造方法、液晶パネル、液晶パネルの製造方法、液晶表示装置、液晶表示ユニット、テレビジョン受像機 |
US8698969B2 (en) | 2009-03-05 | 2014-04-15 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate, method for producing active matrix substrate, liquid crystal panel, method for producing liquid crystal panel, liquid crystal display device, liquid crystal display unit, and television receiver |
US8976209B2 (en) | 2009-03-05 | 2015-03-10 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate, method for producing active matrix substrate, liquid crystal panel, method for producing liquid crystal panel, liquid crystal display device, liquid crystal display unit, and television receiver |
JP2018190989A (ja) * | 2012-08-10 | 2018-11-29 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
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JP2619011B2 (ja) | 1997-06-11 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |