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JPH01149033A - 光波長変換素子 - Google Patents

光波長変換素子

Info

Publication number
JPH01149033A
JPH01149033A JP30913487A JP30913487A JPH01149033A JP H01149033 A JPH01149033 A JP H01149033A JP 30913487 A JP30913487 A JP 30913487A JP 30913487 A JP30913487 A JP 30913487A JP H01149033 A JPH01149033 A JP H01149033A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
face
optical waveguide
antireflection film
harmonic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30913487A
Other languages
English (en)
Inventor
Kimihiko Shibuya
公彦 渋谷
Kazuhisa Yamamoto
和久 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP30913487A priority Critical patent/JPH01149033A/ja
Publication of JPH01149033A publication Critical patent/JPH01149033A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、レーザ光源用の光波長変換素子に関するもの
であり、利用分野としては光ディスク、レーザプリンタ
、ファクシミリなどのレーザ応用分野が考えられる。
従来の技術 従来、この皿の光波長変換素子は第3図に示すようなイ
コ成であった。第3図において、11は厚み9.411
1のニオブ酸リチウムからなる第1の基板で、その上面
11aに幅1μm1厚み0.5μmの先導波路12が長
さ1cIILにわたってイオン交換法により形成され、
その下面11bは鏡面研磨されて第2の基板13の鏡面
研磨された上面13mに密着されている。この第2の基
板13もニオブ酸リチウムが用いられ、その上面138
に交差する両側端面も鏡面研磨され、厚みは25鴫とさ
れている。基本波である波長0.84μmの半導体レー
ザ光14を第1の基板11の上面11aに交差する一側
端面の入射面11cから光導波路12に入射させると、
その基本波は先導波路12の中を直進して通過する一方
、先導波路12の中で位相整合が起こり、波長0.42
μmの第2高調波15が所定の角度を有して鏡界面を感
することなく第2の基板13に取り出されて直進し、第
2の基板13の他側端面の出射面13bから出射する。
発明が解決しようとする問題点 このような従来の構成では、半導体レーザ光14が光導
波路12に入射するときに、第1の基板11の入射面1
1cで基本波の半導体レーザ光14の一部が反射し、も
どり光となって半導体レーザの従モードの変化をもたら
し、発振波長がゆらぐという問題があった。また、第2
高調波15が第2の基板13の出射面13bから出射す
るときに、この出射面13bで一部反射し、出射効率が
低下するという問題があった。
本発明はこのような問題点を解決するもので、安定した
発振波長が得られるとともに第2高調波の出射効率の良
い光波長変換素子を提供することを目的とするものであ
る。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するため修こ本発明は、光導波路を一
方の面に形成した第1の基板の上記一方の面に交差する
入射面に基本波用の反射防止膜を設け、第2の基板の出
射面に第2高調波用の反射防止膜を設け、上記第1の基
板の先導波路が形成された上記一方の面に対向する他方
の面と、上記第2の基板の上記出射面と交差する面とを
重ね合せ、上記光導波路を伝搬する基本波と位相整合さ
れた第2の高調波を上記第2の基板中に取り出し、1肥
出射面から出射するように1成したものである。
作用 上記構成により、第1の基板の入射面から光導波路内へ
半導体レーザ光が入射すると、基本波と位相整合された
第2の高調波が第2の基板中に取り出され、その出射面
から出射され、この場合に、第1の基板の入射面には反
射防止膜が設けられている仁とで、反射光による半導体
レーザへのもどり光がなくなり、この半導体レーザの発
振波長が安定し、また、第2の基板の出射面にも反射防
止膜が設けられていることで、第2高調波の上記出射面
における反射による損失が少なくなり、第2高調波の出
射効率が増加する。
実施例 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す光波長変換素子の断面
図である。第1図において、1は厚み0、禅のニオブ酸
リチウムからなる第1の基板である。この第1の基板1
の上面1aと下面1=bとをそれぞれ鏡面研磨し、上面
1aにスパッタリングにより厚み3001゛−度のTa
の薄膜を形成し、この薄膜上にフォトレジストを厚み5
000λ程度に均一に塗布し、その後厚み2μmのパタ
ーンを露光、現像し、その後ドライエツチングによるT
aのパターンを形成し、この第1の基板1をビロリン酸
で200℃、14分間処理することにより、第1の基板
lに厚さ0.3μmのプロトン交換層を形成し、光導波
路2に構成した。この第1の基板1における上面1aに
交差する一側端面は半導体レーザ光3の入射面ICとさ
れ、鏡面研磨の後にスパッタリングにより厚み1400
Aの5iO1iを形成し、基本波用の第1の反射防止膜
4に構成した。この@1の基板lの下面1bには第2の
基板5の上面5aがそれぞれ洗浄されて重ね合わせられ
、この重ね合わされた第2の基板5の上記第1の基板1
の入射面側とは反対側でかつ上面5aに交差する他側端
面ば第2高調波6の出射面5bとされ、鏡面研磨の後に
スパッタリングにより厚み700Aの5i02膜を形成
し、第2高調波用の第2の反射防止膜7に構成した。こ
のようにして得られた光波長変換素子は基本波長α84
μm用に使用される。
上記構成において、基本波である波長α84μmの半導
体レーザ光3を第1の反射防止膜4を通して第1の基板
lの入射面1cから光導波路2へ入射すると、半導体レ
ーザ光30基本波が先導波路2を通過する一方、位相整
合が起こり、第2高調波6が入射光に対して傾斜角度θ
=16°で第2の基板5の中に取り出され、その出射面
5bより第2の反射防止膜7を通して出射される。この
とき、第1の反射防止膜4により入射面lCにおける半
導体レーザへのもどり光はなくなり、発振波長のゆらぎ
はなくなる。また、第2の反射防止膜7により出射面5
bにおける反射による損失が少なくなり、第2高調波6
の出射効率が従来より増加し、たとえば、半導体レーザ
光3の、バク・、−力i:s+omwのとき、43mW
の第2高調波6が得られる。
なお、上記実施例において第1の基板1としてニオブ酸
リチウムを用いたが、タンタル酸リチウムを用いてもよ
い。また、上記実施例において反射防止膜4.7である
Sin、膜をスパッタリングを用いて形成しているが、
真空蒸着を用いて形成してもよい。また、上記実施例に
おいて光導波路形成時のプロトン交換処理に際しビロリ
ン酸を用いているが、安息香酸を用いてもよい。
第2図に5i02膜厚と反射率の関係を示す。反射率と
膜厚には ^ ただし、 nl:5i01の屈折率 nx:LiNbosの屈折率 λ:入射波の波長 d :膜厚 の関係がある。第2図Gこ示されているように膜厚0^
すなわち、反射防止膜を施こしていない場合が反射率最
大となり、膜厚700Aで反射率が極小となっている。
この点が従来例と大きく異なる点で、700Aの反射防
止膜を第2の基板5の出射面5bに設けることにより上
記出射面5bより出射される第2高調波6の出射効率が
3096程度とがる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、先導波路を一方の面に形
成した第1の基板の上記一方の面に交差する入射面に基
本波用の反射防止膜を設け、第2の基板の出射面に第2
高調波用の反射防止膜を設け、上記第1の基板の先導波
路が形成された上記一方の面と対向する他方の面と、上
記第2の基板の上記出射面と交差する面を重ね合わせ、
上記光導波路を伝搬する基本波と位相整合された第2高
調波を上記第2の基板中に取り出し、上記出射面から出
射するように構成したことによって、上記第2の基板の
出射面から第2高調波の出射効率が大福に増加すると同
時に、半導体レーザへのもどり光もなくなり、発振波長
のゆらぎもな(なるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例による光波長変換素子を示す
断面図、第2図は入射波長0.42μmのときのSiO
□の膜厚と反射率の関係図、第3図は従来の光波長変換
素子を示す断面図である。 l・・・第1の基板、1a・・・第1の基板の上面、l
b・・・第1の基板の下面、1c・・・第1の基板の入
射面、2・・・先導波路、3・・・半導体レーザ光、4
・・・第1の反射防止膜、5・・・第2の基板、5a・
・・第2の基板の上面、5b・・・第2の基板の出射面
、6・・・第2高調波、7・・・第2の反射防止膜。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光導波路を一方の面に形成した第1の基板の上記の
    一方の面に交差する入射面に基本波用の反射防止膜を設
    け、第2の基板の出射面に第2高調波用の反射防止膜を
    設け、上記第1の基板の光導波路を形成した上記一方の
    面に対向する他方の面と、上記第2の基板の上記出射面
    と交差する面とを重ね合わせ、上記光導波路を伝搬する
    基本波と位相整合された第2高調波を上記第2の基板中
    に取り出し、上記出射面から出射するように構成した光
    波長変換素子。 2、反射防止膜がSiO_2である特許請求の範囲第1
    項記載の光波長変換素子。 3、第2高調波用の反射防止膜の膜厚が基本波用の反射
    防止膜の膜厚の1/2である特許請求の範囲第1項記載
    の光波長変換素子。 4、第1の基板としてLiNb_1_−_xTaxO_
    3(0≦x≦1)を用いた特許請求の範囲第1項記載の
    光波長変換素子。 5、光導波路がプロトン交換法によつて形成された特許
    請求の範囲第1項記載の光波長変換素子。
JP30913487A 1987-12-07 1987-12-07 光波長変換素子 Pending JPH01149033A (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60112023A (ja) * 1983-11-22 1985-06-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光波長変換素子
JPS61239231A (ja) * 1985-04-16 1986-10-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光波長変換素子
JPS6271907A (ja) * 1985-09-26 1987-04-02 Canon Inc グレ−テイング光デバイス

Patent Citations (3)

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