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JPH0914921A - 非接触三次元測定装置 - Google Patents

非接触三次元測定装置

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Publication number
JPH0914921A
JPH0914921A JP7184800A JP18480095A JPH0914921A JP H0914921 A JPH0914921 A JP H0914921A JP 7184800 A JP7184800 A JP 7184800A JP 18480095 A JP18480095 A JP 18480095A JP H0914921 A JPH0914921 A JP H0914921A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
telescope
contact
measurement
design
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP7184800A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Nakamura
昌弘 中村
Kyoji Nakamura
協司 中村
Naoaki Hamada
直明 濱田
Masaru Horikoshi
勝 堀越
Mitsutaka Kurita
充隆 栗田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP7184800A priority Critical patent/JPH0914921A/ja
Publication of JPH0914921A publication Critical patent/JPH0914921A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 コストを抑えつつ自動視準精度を向上させる
ことができる非接触三次元測定装置を提供する。 【構成】 測定対象物13の設計データに基づいてトー
タルステーション1を駆動させ、トータルステーション
1の望遠鏡を測定対象物13の設計点へ向け、測定対象
物13の設計点に向いた望遠鏡の位置と測定対象物13
に取り付けられた測定ターゲット16の中心位置とのず
れ量を測定するようにしたので、自動捜索手段や自動追
尾手段を採用せずに自動視準を行うことができ、コスト
を抑えつつ自動視準精度を向上させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は非接触三次元測定装置
に関し、特にセオドライトやトータルステーション等の
測量機を利用して工業的量産品の三次元測定を行う非接
触三次元測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の三次元測定装置としては、テーブ
ル上の測定対象物に対してプローブを接触させ、測定対
象物の三次元測定を行うものがある。
【0003】この三次元測定装置では、測定可能な対象
物がテーブル上に載せられるものに限られてしまう。
【0004】これに対し、近年、トータルステーション
等の測量機を利用して、橋梁や航空機等の大型構造物の
三次元測定が行われている。
【0005】ところが、測量機による三次元測定の場
合、作業者自身が測定点を視準する必要があり、測定点
が多いと作業者の負担が著しく大きくなるので、測量機
に例えば測定点の捜索、追尾等の機能を持たせ、視準作
業の自動化が行われている。すなわち、作業者の目視に
よる視準の代わりに、測量機による自動視準を行うため
に、望遠鏡の視野内に測定点が存在しないとき測定点を
発見するまで測量機を駆動する捜索や、望遠鏡の視野内
に測定点が存在するとき測定点の動きに合わせて測量機
を駆動する追尾などの機能を測量機に持たせた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところが、測定点の捜
索や追尾による自動視準では、視準精度が5″以上であ
り、三次元測定には精度が足りない。
【0007】画像処理を用いて自動視準を行うと視準精
度が1″程度に向上するが、測定点の捜索のために広視
野にすると撮像素子の分解能が相対的に悪化し、追尾の
ために高速性能を優先すれば演算処理が十分に行えなく
なる。これらの問題は高級な撮像素子、演算素子を使用
することにより解決できるが、非常にコストが高くなる
という問題があった。
【0008】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題はコストを抑えつつ自動視準精度を
向上させることができる非接触三次元測定装置を提供す
ることである。
【0009】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め請求項1記載の発明の非接触三次元測定装置は、望遠
鏡を備え、少なくとも測角が可能な測量機を備えた非接
触三次元測定装置において、測定対象物の複数の設計点
からなる設計データを格納する設計データ記憶手段と、
前記設計データ記憶手段から読み出された前記設計デー
タに基づいて前記測量機を駆動させ、前記望遠鏡を前記
測定対象物の前記設計点へ向ける駆動手段と、前記測定
対象物の設計点に向いた前記望遠鏡の位置と前記測定対
象物に取り付けられたターゲットの中心位置とのずれ量
を測定する誤差検出手段とを備えている。
【0010】請求項2記載の発明の非接触三次元測定装
置は、前記望遠鏡の位置は前記望遠鏡の視野における基
準線の中心位置である。
【0011】
【作用】測定対象物の設計データに基づいて測量機を駆
動させ、測量機の望遠鏡を測定対象物の設計点へ向け、
測定対象物の設計点に向いた望遠鏡の位置と測定対象物
に取り付けられたターゲットの中心位置とのずれ量を測
定するようにしたので、自動捜索手段や自動追尾手段を
採用せずに自動視準を行うことができ、コストを抑えつ
つ自動視準精度を向上させることができる。
【0012】
【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
【0013】図1はこの発明の一実施例に係る非接触三
次元測定装置を示す斜視図、図2は図1の非接触三次元
測定装置を示すブロック図である。
【0014】この実施例の非接触三次元測定装置は、図
1に示すように、トータルステーション(測量機)1、
制御・操作用のパーソナルコンピュータ(誤差検出手
段)12及びCADシステム(設計データ記憶手段)3
で構成されてる。
【0015】前記トータルステーション1は、図2に示
すように、測距部4、画像取り込み部5、画像処理部
(誤差検出手段)6、測角部(水平角)7、測角部(垂
直角)8、CNC駆動部(駆動手段)9、自動焦点部2
0及びこれらを制御するCPU10で構成されている。
画像取り込み部5は、図示しない望遠鏡とCCDカメラ
とを備えている。
【0016】この望遠鏡には、望遠鏡の光軸方向に移動
する合焦レンズを備えている。そして、上記自動焦点部
20は、この合焦レンズを望遠鏡の光軸方向に移動させ
てピント合わせを行なう。
【0017】前記CADシステム3には、測定対象物
(例えば橋梁ブロック)13の複数の設計点からなる設
計データが格納されている。測定対象物13の一端面に
は、測定座標系を決めるための基準ターゲット15が貼
着されているとともに、トータルステーション1の前方
に設置された測定対象物13の例えばボルト孔の位置が
設計点(設計データ上のボルト孔の位置)からどれだけ
ずれているかを検出するための測定ターゲット(ターゲ
ット)16が貼着されている。
【0018】前記制御・操作用のパーソナルコンピュー
タ12は手動視準と自動視準との切り換えを行うための
ものである。
【0019】前記画像処理部6は、CCDカメラからの
映像信号に基づいて望遠鏡の基準線中心(望遠鏡の十字
線の交点)の座標を計算し(望遠鏡中心検出)、望遠鏡
を測定対象物13の設計点へ向けて測定ターゲット16
を視野内に捕らえたとき、測定ターゲット像を含む映像
信号に基づいて測定ターゲット16の中心の座標を算出
し、設計点と測定ターゲット16の中心とのずれ量を検
出する。
【0020】前記望遠鏡中心検出は次のように行われ
る。望遠鏡の基準線を含む画像の映像信号を平滑化して
ノイズの除去などを前処理として行い、この映像信号に
二値化処理を施して二値画像の映像とし、画面中央を含
む約4分の1余りの範囲を処理範囲として指定し、約4
分の1画面の二値画像にエッジ強調などの処理を施すと
ともに、細線化を行って望遠鏡の基準線の映像を明確化
し、このように処理した映像信号から直線の検出を行っ
て水平方向の直線と垂直方向の直線との交点の座標を算
出し、この交点座標を望遠鏡中心の座標とする。
【0021】前記測定ターゲット16の中心の座標の検
出は次のように行われる。測定ターゲット像を含む映像
信号を画像強調などの前処理を施し、その後映像信号を
二値化し、二値化した映像信号から孤立点などを除去す
る画像処理を施し、連続点は各グループ毎にラベリング
を施すことにより映像を特定して測定ターゲットの画像
範囲を定めることによりターゲット領域を特定し、この
ターゲット領域について、再度、CCDカメラからの映
像信号を二値化し、孤立点の除去などの画像処理を施
し、細線化を行ってターゲット領域の二値画像からター
ゲットパターンの直線を検出し、この2本の直線のター
ゲット中心の座標を検出する。
【0022】図3はこの実施例の非接触三次元測定装置
の使用手順を説明するためのフローチャートである。
【0023】まず、トータルステーション1を設置する
(S100)。
【0024】次に、2つの既知点にそれぞれ設置された
既知点ターゲット11,12を測定する(S101)。
【0025】そして、測量の分野で行われる後方交会法
でトータルステーション1の器械点(測量機の回転中
心)を決定する(S102)。
【0026】次に、測定対象物13を床面に描いたライ
ン14に合わせて設置し、位置決めする(S103)。
ライン14の幅を例えば10mmにしておき、この幅を設
置誤差の許容範囲とすればガイドになる。ライン14と
既知点ターゲット11,12との位置関係は既知であ
る。
【0027】その後、測定対象物13の一端面の3箇所
に貼着された基準点ターゲット15を視準する(S10
4)。ここでの視準作業は手動で行ってもよいし、画像
処理による自動視準によって行ってもよい。予め測定対
象物13の大まかな位置合わせを行っているので、設置
誤差10mmと製造誤差15mmとを合わせても30mm程度
には収まるため測定対象物13から10m離れた距離で
角度換算したときに10′くらいになり、画像検出の画
角がこれより大きければ(例えば1゜)画像処理ができ
るので大掛かりな捜索は必要ない。
【0028】次に、測定座標系を決定する(S10
5)。基準点ターゲット15の3点から1つの原点Oと
1軸を含む1平面が決まり、この平面内に直交する他の
1軸、更にこの平面に直交する1軸で測定座標系が決定
される。
【0029】そして、トータルステーション1の望遠鏡
の位置(望遠鏡の視野における基準線の中心位置)を、
CADシステム3から読み出された設計データに基づい
て、測定対象物13の一端面の複数の設計点へ向ける。
前述のように測定対象物13のボルト孔には測定点ター
ゲット16が貼着されているので、測定対象物13の設
計点にトータルステーション1の望遠鏡を向けたとき、
その視野内に測定点ターゲット16が入る。この時、測
量機の器械点と測定対象物13の設計点との間の距離は
測量機の器械点と設計データとに基づき、合焦データと
して求められる。すなわち、ステップ102で決定され
た測量機の器械点により、測定対象物との位置関係が分
かるので、測量機の器械点から設計点までの距離(合焦
データ)を演算によって算出することができる。そし
て、この合焦データを、CADシステム3から読み出さ
れる設計データに対応させて自動焦点部20に記憶させ
ておく。従って、望遠鏡の中心が測定対象物13の設計
点に向いた時に、その設計点の設計データと合焦データ
とに基づいて、自動焦点部20を動作させ、ピント合わ
せを行う。また、トータルステーション1には、測距部
4を備えているので、望遠鏡の中心が測定対象物13の
設計点に向いた時に、CPU10が測距部10に測距を
行わせるように制御し、その測距データに基づいて自動
焦点部20を動作させて、ピントを合わせることもでき
る。その視野が画像取り込み部5のCCDカメラで取り
込まれる(S106)。
【0030】その後、測定対象物13の設計点に向いた
望遠鏡の位置と測定対象物13のボルト孔に取り付けら
れた測定点ターゲット16の中心位置とのずれ量を算出
する(S107)。器械点の座標と測定点ターゲット1
6の中心の座標とにより映像信号による画像上のずれ量
が画像処理部6で算出される。複数の設計点の全てにつ
いて測定が完了したら、ステップ104に戻り、他の測
定対象物13について同様の測定を繰り返す。
【0031】この実施例の非接触三次元測定装置によれ
ば、自動捜索手段や自動追尾手段を採用せずに自動視準
を行うことができるので、コストを抑えつつ自動視準精
度を向上させることができる。
【0032】なお、測定対象物13によっては大まかな
位置合わせもできない場合もあるが、この場合は基準タ
ーゲット15を手動で視準すれば自動計測を行うことが
できる。この場合トータルステーション1は任意の位置
に設置すればよく、測定対象物13の基準ターゲット1
5を手動で視準するだけでよいので、1回だけ測定する
場合などには適している。
【0033】また、前述の実施例の変形例として、制御
・操作用のパーソナルコンピュータ2はトータルステー
ション1と一体にしてもよいし、CADシステム3の設
計データだけをパーソナルコンピュータ2又はトータル
ステーション1の記憶部に格納させるようにしてもよ
い。
【0034】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明の非接触三
次元測定装置によれば、自動捜索手段や自動追尾手段を
採用せずに自動視準を行うことができるので、コストを
抑えつつ自動視準精度を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1はこの発明の一実施例に係る非接触三次元
測定装置を示す斜視図である。
【図2】図2は図1の非接触三次元測定装置を示すブロ
ック図である。
【図3】図3はこの実施例の非接触三次元測定装置の使
用手順を説明するためのフローチャートである。
【符号の説明】
1 トータルステーション 2 制御・操作用のパーソナルコンピュータ 3 CADシステム 9 CNC駆動部 13 測定対象物 16 測定点ターゲット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀越 勝 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内 (72)発明者 栗田 充隆 東京都千代田区丸の内3丁目2番3号 株 式会社ニコン内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 望遠鏡を備え、少なくとも測角が可能な
    測量機を備えた非接触三次元測定装置において、 測定対象物の複数の設計点からなる設計データを格納す
    る設計データ記憶手段と、 前記設計データ記憶手段から読み出された前記設計デー
    タに基づいて前記測量機を駆動させ、前記望遠鏡を前記
    測定対象物の前記設計点へ向ける駆動手段と、 前記測定対象物の設計点に向いた前記望遠鏡の位置と前
    記測定対象物に取り付けられたターゲットの中心位置と
    のずれ量を測定する誤差検出手段とを備えていることを
    特徴とする非接触三次元測定装置。
  2. 【請求項2】 前記望遠鏡の位置は前記望遠鏡の視野に
    おける基準線の中心位置であることを特徴とする請求項
    1記載の非接触三次元測定装置。
JP7184800A 1995-06-27 1995-06-27 非接触三次元測定装置 Pending JPH0914921A (ja)

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JP7184800A JPH0914921A (ja) 1995-06-27 1995-06-27 非接触三次元測定装置

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Effective date: 20040406