JPH06177322A - メモリ素子 - Google Patents
メモリ素子Info
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- JPH06177322A JPH06177322A JP4325269A JP32526992A JPH06177322A JP H06177322 A JPH06177322 A JP H06177322A JP 4325269 A JP4325269 A JP 4325269A JP 32526992 A JP32526992 A JP 32526992A JP H06177322 A JPH06177322 A JP H06177322A
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- chip
- electrodes
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- electrode
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
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- H01L2224/32135—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
- H01L2224/32145—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being stacked
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- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 記憶容量を増大できるメモリ素子を提供する
こと。 【構成】 表面に回路パターンが形成された第1のチッ
プ2と第2のチップ3の裏面同士を貼り合わせて一体化
してメモリ素子1とした。また第1のチップ2の表面の
周縁部に基板7の電極8にワイヤ9で接続されるパッド
5を形成し、第2のチップ3の表面に基板7の電極8を
共通電極としてこの電極8にボンディングされるバンプ
6を突設した。 【効果】 第1のチップ2と第2のチップ3を選択的に
駆動することにより、記憶容量を実質的に倍増できる。
こと。 【構成】 表面に回路パターンが形成された第1のチッ
プ2と第2のチップ3の裏面同士を貼り合わせて一体化
してメモリ素子1とした。また第1のチップ2の表面の
周縁部に基板7の電極8にワイヤ9で接続されるパッド
5を形成し、第2のチップ3の表面に基板7の電極8を
共通電極としてこの電極8にボンディングされるバンプ
6を突設した。 【効果】 第1のチップ2と第2のチップ3を選択的に
駆動することにより、記憶容量を実質的に倍増できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はコンピュータなどの電気
機器の基板に搭載されるメモリ素子に関するものであ
る。
機器の基板に搭載されるメモリ素子に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】メモリ素子を構成するチップはウェハか
ら切り出されたものであり、その一方の面に回路パター
ンが形成されており、この回路パターンの電極を基板の
電極に接続して基板に搭載される。
ら切り出されたものであり、その一方の面に回路パター
ンが形成されており、この回路パターンの電極を基板の
電極に接続して基板に搭載される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらチップは
一方の面にのみ回路パターンが形成されており、他方の
面には回路パターンは形成されないため、記憶容量の増
大には限界があった。
一方の面にのみ回路パターンが形成されており、他方の
面には回路パターンは形成されないため、記憶容量の増
大には限界があった。
【0004】したがって本発明は、記憶容量を増大でき
るメモリ素子を提供することを目的とする。
るメモリ素子を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】このために本発明は、表
面に回路パターンが形成された第1のチップと第2のチ
ップの裏面同士を貼り合わせて一体化してメモリ素子を
構成したものである。
面に回路パターンが形成された第1のチップと第2のチ
ップの裏面同士を貼り合わせて一体化してメモリ素子を
構成したものである。
【0006】
【作用】上記構成によれば、第1のチップと第2とチッ
プの回路パターンが使用できるのでメモリの記憶容量を
実質的に倍増できる。
プの回路パターンが使用できるのでメモリの記憶容量を
実質的に倍増できる。
【0007】
【実施例】次に、図面を参照しながら本発明の実施例を
説明する。
説明する。
【0008】図1は本発明に係るメモリ素子の斜視図、
図2は断面図である。このメモリ素子1は、第1のチッ
プ2と第2のチップ3を一体化して形成されている。第
1のチップ2と第2のチップ3の表面には回路パターン
が形成されており、回路パターンが形成されていない裏
面同士をボンド4で貼り合わせて一体化されている。第
1のチップ2の回路パターンが形成された表面の周縁部
には電極であるパッド5が形成されており、また第2の
チップの回路パターンが形成された表面の周縁部にはバ
ンプ(突出電極)6が突設されている。
図2は断面図である。このメモリ素子1は、第1のチッ
プ2と第2のチップ3を一体化して形成されている。第
1のチップ2と第2のチップ3の表面には回路パターン
が形成されており、回路パターンが形成されていない裏
面同士をボンド4で貼り合わせて一体化されている。第
1のチップ2の回路パターンが形成された表面の周縁部
には電極であるパッド5が形成されており、また第2の
チップの回路パターンが形成された表面の周縁部にはバ
ンプ(突出電極)6が突設されている。
【0009】このメモリ素子1が搭載される基板7の表
面には回路パターンの電極8が形成されている。第1の
チップ2のパッド5と基板7の電極8はワイヤ9により
接続されている。また第2のチップ3のバンプ6は基板
7の電極8にボンディングされている。したがってバン
プ6とワイヤ9は同一の電極8に接続されており、基板
7の電極8は第1のチップ2のパッド5と第2のチップ
3の突出電極6が接続される共通電極となっている。
面には回路パターンの電極8が形成されている。第1の
チップ2のパッド5と基板7の電極8はワイヤ9により
接続されている。また第2のチップ3のバンプ6は基板
7の電極8にボンディングされている。したがってバン
プ6とワイヤ9は同一の電極8に接続されており、基板
7の電極8は第1のチップ2のパッド5と第2のチップ
3の突出電極6が接続される共通電極となっている。
【0010】基板7の表面には切替用電極10,20が
形成されている。切替用電極10はワイヤ9aにより第
1のチップ2のパッド5に接続されており、切替用電極
20はバンプ6を介して第2のチップ3のパットに接続
されている。なお基板としては、プリント基板やリード
フレームなどが適用できる。図2に示すように、基板7
に搭載されたメモリ素子1は樹脂11で被覆される。こ
の樹脂11は第1のチップ2の表面の回路パターンやワ
イヤ9を保護するものであり、エポキシ樹脂などが適用
される。
形成されている。切替用電極10はワイヤ9aにより第
1のチップ2のパッド5に接続されており、切替用電極
20はバンプ6を介して第2のチップ3のパットに接続
されている。なお基板としては、プリント基板やリード
フレームなどが適用できる。図2に示すように、基板7
に搭載されたメモリ素子1は樹脂11で被覆される。こ
の樹脂11は第1のチップ2の表面の回路パターンやワ
イヤ9を保護するものであり、エポキシ樹脂などが適用
される。
【0011】図3はメモリ素子1が配線される電気回路
のブロック図である。第1のチップ2と第2のチップ3
は切替部12と制御部13に接続されている。図中、8
aは図1に示す基板7の多数の電極8で構成されるバス
である。
のブロック図である。第1のチップ2と第2のチップ3
は切替部12と制御部13に接続されている。図中、8
aは図1に示す基板7の多数の電極8で構成されるバス
である。
【0012】次に図3を参照しながらこのメモリ素子1
の駆動方法を説明する。制御部13から「1」の信号が
出力されると、切替部12は第1のチップ2に「1」を
出力し、第2のチップ3には「0」を出力する。第1の
チップ2及び第2のチップ3は「1」が入力されると駆
動するようになっており、したがってこの場合、第1の
チップ2だけが駆動する。次に制御部13から「0」の
信号が出力されると、切替部12は第1のチップに
「0」を出力し、また第2のチップ3には「1」を出力
し、第2のチップ3だけが駆動する。図3において、配
線の右側に示す「1」「0」は第1のチップ2を駆動す
る場合の信号を示しており、また配線の左側に示す
「1」「0」は第2のチップ3を駆動する場合の信号を
示している。
の駆動方法を説明する。制御部13から「1」の信号が
出力されると、切替部12は第1のチップ2に「1」を
出力し、第2のチップ3には「0」を出力する。第1の
チップ2及び第2のチップ3は「1」が入力されると駆
動するようになっており、したがってこの場合、第1の
チップ2だけが駆動する。次に制御部13から「0」の
信号が出力されると、切替部12は第1のチップに
「0」を出力し、また第2のチップ3には「1」を出力
し、第2のチップ3だけが駆動する。図3において、配
線の右側に示す「1」「0」は第1のチップ2を駆動す
る場合の信号を示しており、また配線の左側に示す
「1」「0」は第2のチップ3を駆動する場合の信号を
示している。
【0013】このように第1のチップ2と第2のチップ
3は、基板7の電極8を共通電極として、切替部12で
信号を切替えながら、2つのチップ2、3を選択的に駆
動するものであり、2つのチップ2、3の回路パターン
を使用できるので、同一平面積のメモリ素子で記憶容量
を実質的に倍増できる。
3は、基板7の電極8を共通電極として、切替部12で
信号を切替えながら、2つのチップ2、3を選択的に駆
動するものであり、2つのチップ2、3の回路パターン
を使用できるので、同一平面積のメモリ素子で記憶容量
を実質的に倍増できる。
【0014】図4は本発明の他の実施例を示している。
このメモリ素子14は、第1のチップ2と第2のチップ
3をモールド体17でモールドしており、第2のチップ
3は副基板15に搭載されている。第1のチップ2のパ
ッド5と副基板15の電極はワイヤで接続されている。
またこの副基板15からはリード16が延出しており、
このリード16が基板(図外)の電極上に搭載される。
このメモリ素子14は、第1のチップ2と第2のチップ
3をモールド体17でモールドしており、第2のチップ
3は副基板15に搭載されている。第1のチップ2のパ
ッド5と副基板15の電極はワイヤで接続されている。
またこの副基板15からはリード16が延出しており、
このリード16が基板(図外)の電極上に搭載される。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、表面に回
路パターンが形成された第1のチップと第2のチップの
裏面同士を貼り合わせて一体化してメモリ素子を構成し
ているので、メモリ素子の記憶容量を実質的に倍増で
き、基板の高集積化が可能となる。
路パターンが形成された第1のチップと第2のチップの
裏面同士を貼り合わせて一体化してメモリ素子を構成し
ているので、メモリ素子の記憶容量を実質的に倍増で
き、基板の高集積化が可能となる。
【図1】本発明の一実施例のメモリ素子の斜視図
【図2】本発明の一実施例のメモリ素子の断面図
【図3】本発明の一実施例の電気回路のブロック図
【図4】本発明の他の実施例のメモリ素子の断面図
【符号の説明】 1 メモリ素子 2 第1のチップ 3 第2のチップ 5 パッド 6 バンプ 7 基板 8 電極 9 ワイヤ 14 メモリ素子
Claims (2)
- 【請求項1】表面に回路パターンが形成された第1のチ
ップと第2のチップの裏面同士を貼り合わせて一体化し
たことを特徴とするメモリ素子。 - 【請求項2】前記第1のチップの表面の周縁部に基板の
電極にワイヤで接続されるパッドを形成し、前記第2の
チップの表面に前記基板の電極を前記第1のチップとの
共通電極としてこの電極にボンディングされるバンプを
突設したことを特徴とする請求項1記載のメモリ素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4325269A JPH06177322A (ja) | 1992-12-04 | 1992-12-04 | メモリ素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4325269A JPH06177322A (ja) | 1992-12-04 | 1992-12-04 | メモリ素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06177322A true JPH06177322A (ja) | 1994-06-24 |
Family
ID=18174929
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4325269A Pending JPH06177322A (ja) | 1992-12-04 | 1992-12-04 | メモリ素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06177322A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996017505A1 (en) * | 1994-12-01 | 1996-06-06 | Motorola Inc. | Method, flip-chip module, and communicator for providing three-dimensional package |
US5793108A (en) * | 1995-05-30 | 1998-08-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit having a plurality of semiconductor chips |
US6452279B2 (en) | 2000-07-14 | 2002-09-17 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
JP2005286126A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP2015070036A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-04-13 | ローム株式会社 | 半導体装置および電子機器 |
-
1992
- 1992-12-04 JP JP4325269A patent/JPH06177322A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1996017505A1 (en) * | 1994-12-01 | 1996-06-06 | Motorola Inc. | Method, flip-chip module, and communicator for providing three-dimensional package |
US5793108A (en) * | 1995-05-30 | 1998-08-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Semiconductor integrated circuit having a plurality of semiconductor chips |
US6452279B2 (en) | 2000-07-14 | 2002-09-17 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device |
JP2005286126A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Renesas Technology Corp | 半導体装置 |
JP4538830B2 (ja) * | 2004-03-30 | 2010-09-08 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP2015070036A (ja) * | 2013-09-27 | 2015-04-13 | ローム株式会社 | 半導体装置および電子機器 |
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