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JPH05150283A - 防振機能付カメラ - Google Patents

防振機能付カメラ

Info

Publication number
JPH05150283A
JPH05150283A JP33936891A JP33936891A JPH05150283A JP H05150283 A JPH05150283 A JP H05150283A JP 33936891 A JP33936891 A JP 33936891A JP 33936891 A JP33936891 A JP 33936891A JP H05150283 A JPH05150283 A JP H05150283A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vibration
correction optical
optical mechanism
camera
driving
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP33936891A
Other languages
English (en)
Inventor
Koichi Washisu
晃一 鷲巣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP33936891A priority Critical patent/JPH05150283A/ja
Publication of JPH05150283A publication Critical patent/JPH05150283A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Adjustment Of Camera Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 非防振動作時に補正光学機構が外乱により飛
び跳ねて像の劣化を招くといったことを防止する。 【構成】 振動検出手段11よりの出力に基づいた、補
正光学機構15をレンズ鏡筒に対し相対的に変位させる
防振動作を行わせ、又非防振動作時に際しても、補正光
学機構の駆動制御を行う制御手段17,18,111,
112を設け、非防振動作時にあっても補正光学機構を
駆動し、手振れやレリ−ズ時のミラ−ショック等の外乱
にて該補正光学系が作動しないようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レンズ群を保持するレ
ンズ鏡筒内に配置され、前記レンズ群の光軸を偏心させ
る補正光学機構、前記レンズ鏡筒に加わる振動を検出す
る振動検出手段、前記振動検出手段よりの出力に基づい
て前記補正光学機構を前記レンズ鏡筒に対し相対的に変
位させる制御手段とを有する防振システムを備えた防振
機能付カメラの改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】本発明の対象となる従来技術を以下に説
明する。
【0003】現代のカメラでは、露出決定やピント合せ
等の撮影にとって重要な作業はすべて自動化されている
ため、カメラ操作に未熟な人でも撮影の失敗を起す可能
性は非常に少なくなっているが、カメラ振れによる撮影
の失敗だけは自動的に防ぐことが困難とされていた。
【0004】そこで、近年このカメラ振れに起因する撮
影失敗をも防止することを可能とするカメラが意欲的に
研究されており、特に、撮影者の手振れによる撮影失敗
を防止することのできるカメラについての開発、研究が
進められている。
【0005】撮影時のカメラの上記手振れは周波数とし
て通常1Hz乃至12Hzの振動であるが、シャッタの
レリ−ズ時点においてこのような手振れを起していても
像振れのない写真を撮影可能とするための基本的な考え
として、上記手振れによるカメラの振動を検出し、その
検出値に応じて補正レンズを変位させてやらなければな
らない。従って、上記目的(即ち、カメラの振れが生じ
ても像振れを生じない写真を撮影できること)を達成す
るためには、第1にカメラの振動を正確に検出し、第2
に手振れによる光軸変化を補正することが必要となる。
【0006】この振動(カメラ振れ)の検出は、原理的
にいえば、角加速度、角速度、角変位等を検出する振動
センサと該センサの出力信号を電気的或は機械的に積分
して角変位を出力するカメラ振れ検出手段をカメラに搭
載することによって行うことができる。そして、この検
出情報に基づき撮影光軸を偏心させる補正光学機構を駆
動させて像振れ抑制が行われる。
【0007】ここで、振動センサとして角変位検出装置
を用いた像振れ抑制システム(防振システム)につい
て、図7を用いてその概要を説明する。
【0008】図7の例は、図示矢印61方向のカメラ縦
振れ61p及びカメラ横振れ61yに由来する像振れを
抑制するシステムの図である。
【0009】同図中、62はレンズ鏡筒、63p,63
yは各々カメラ縦振れ角変位、カメラ横振れ角変位を検
出する角変位検出装置で、それぞれの角変位検出方向を
64p,64yで示してある。65p,65yは演算回
路であり、角変位検出装置63p,63yからの信号を
演算して後述する補正光学機構の駆動目標信号に変換す
る。そしてこの信号により補正光学機構66(67p,
67yは各々その駆動部、68p,68yは補正光学位
置検出センサ)を駆動させて像面69での安定を確保す
る。
【0010】図8は前述の補正光学機構の及びその駆動
手段の一例を示す図である。
【0011】図8において、補正レンズ545を保持す
る固定枠547は、ポリアセタ−ル樹脂(以下POMと
記す)等のすべり軸受548pを介してピッチスライド
軸549p上を摺動出来る様になっている。又、固定枠
547はピッチスライド軸549pと同軸のピッチコイ
ルバネ551pに挟まれており、中立位置付近に保持さ
れる。ピッチスライド軸549pは第1の保持枠550
に取り付けられている。
【0012】固定枠547に取付けられたピッチコイル
552pはピッチマグネット553pとピッチヨ−ク5
54pで構成される磁気回路中に置かれており、電流を
流すことで前記固定枠547がピッチ方向546pに駆
動されることになる。又、ピッチコイル552pにはピ
ッチスリット555pが設けられており、発光素子55
6p(赤外発光ダイオ−ドiRED)と受光素子557p
(半導体位置検出素子PSD)の関連により、固定枠5
47のピッチ方向546pの位置検出を行う。
【0013】第1の保持枠550にはPOM等のすべり
軸受548yが嵌合されており、ヨ−スライド軸549
yが取付けられたハウジング558上を摺動出来る。そ
してハウジング558は不図示のレンズ鏡筒に取付けら
れる為、第1の保持枠550はレンズ鏡筒に対しヨ−方
向546yに移動可能となる。又、ヨ−スライド軸54
9yと同軸にヨ−コイルバネ551yが設けられてお
り、固定枠547と同様中立位置付近に保持される。
【0014】又、上記固定枠547にはヨ−コイル55
2yが設けられており、ヨ−コイル552yを挟むヨ−
マグネット553yとヨ−ヨ−ク554yの関連で固定
枠547はヨ−方向546yにも駆動される。上記ヨ−
コイル552yにはヨ−スリット555yが設けられて
おり、ピッチ方向と同様固定枠547のヨ−方向546
yの位置検出を行う。
【0015】図8において、受光素子557p,557
yの出力を増幅器559p,559yで増幅して図示の
様な各回路(後述)を介してコイル(ピッチコイル55
2p,ヨ−コイル552y)に入力すると、固定枠54
7が駆動されて受光素子557p,557yの出力が変
化する。ここでコイル552p,552yの駆動方向
(極性)を受光素子557p,557y出力が小さくな
る方向にすると、閉じた系(閉ル−プ)が形成され、受
光素子557p,557yの出力がほぼゼロになる点で
安定する。
【0016】なお、補償回路560p,560yは図8
の系をより安定化させる回路であり、加算回路563
p,563yは増幅器559p,559yと入力される
指令信号562p,562yを加算する回路であり、駆
動回路561p,561yはコイル552p,552y
の印加電流を補う回路である。
【0017】上記の様な系に外部から指令信号562
p,562yを与えると、補正レンズ545はピッチ方
向546pとヨ−方向546yに該指令信号562p,
562yに極めて忠実に駆動される。
【0018】以上の様な駆動方法は位置制御法として公
知であり、この増幅器559p,559y、補償回路5
60p,560y、駆動回路561p,561yで補正
光学機構の駆動手段を構成している。
【0019】図9は補正光学機構を駆動する前述の駆動
手段をより詳細に示した図であり、ここではピッチ方向
546pについてのみ説明する。
【0020】電流−電圧変換アンプ564a,564b
は発光素子556pにより受光素子557p(抵抗R
1,R2より成る)に生じる光電流を電圧に変換し、差
動アンプ565は各電流−電圧変換アンプ564a,5
64bの差を求めるものであり、この差信号が補正レン
ズ545のピッチ方向546pの位置を表す。以上、電
流−電圧変換アンプ564a,564b,差動アンプ5
65及び抵抗R3〜R10にて図8の増幅器559pを
構成している。
【0021】アンプ566は指令信号562pを、前記
差動アンプ565の差信号に加算するもので、抵抗R1
1〜R14とで図8の加算回路563pを構成してい
る。抵抗R15,R16及びコンデンサC1は公知の位
相進み回路であり、これが図8の補償回路560pに相
当し、系を安定化させている。
【0022】前記加算回路563pの出力は補償回路5
60pを介して駆動アンプ567へ入力し、ここでコイ
ル552pの駆動信号が生成され、補正レンズ545が
変位する。該駆動アンプ567、抵抗R17及びトラン
ジスタTR1,TR2にて図8の駆動回路561pを構
成している。
【0023】加算アンプ568は電流−電圧変換アンプ
564a,564bの出力の和(受光素子557pの受
光量総和)を求め、この信号を受ける駆動アンプ569
はこれにしたがって発光素子556pを駆動する。以
上、加算アンプ568,駆動アンプ569、抵抗R18
〜R22及びコンデンサC2により発光素子556pの
駆動回路を構成している(図8では不図示)。
【0024】上記の発光素子556pは温度等に極めて
不安定にその投光量が変化し、それに伴い差動アンプ5
65の位置感度が変化するが、上記の様に受光量総和一
定となる様に前述の駆動回路によって発光素子556p
を制御すれば、位置感度が変化する事は無い。
【0025】図10乃至図13は前記振動センサとして
の角変位検出装置の構成例を示すものであり、以下これ
らの図を用いて説明する。
【0026】図10乃至図13において、51は装置を
構成する各部品を取付ける地板、52は内部に後述の浮
体53及び液体54を封入した室をもつ外筒である。5
3は軸53a回りに回転自在に後述の浮体保持体55に
より保持された浮体で、突起53bにはスリット状の反
射面が形成されており、永久磁石から成る材料にて構成
されて上記軸53a方向に着磁されている。また、この
浮体53は軸53a回りの回転バランス及び浮力バラン
スがそれぞれとられたものとして構成されている。
【0027】55は後述のピボット軸受56を介して浮
体53を保持した状態で外筒52に固定されている浮体
保持体である。57は地板51に取付けられたコの字形
状のヨ−クで、浮体53と共に閉磁路を形成している。
514は巻線コイルで、浮体53とヨ−ク57の間に配
置されて外筒52と固定関係に設けられている。58は
通電により光を発生する発光素子(iRED)であり、地板5
1に取付けられている。59は受ける光の位置によって
出力の変化する受光素子(PSD)であり、地板51に
取付けられている。そして、これら発光素子58及び受
光素子59が上記浮体53の突起(反射面)53bを介
して光を伝送する方式の光学的な角変位検出の手段を構
成している。
【0028】510は発光素子58の前面に配置された
マスクで、光を透過するスリット穴510aを有してい
る。511は外筒52に取付けられたストッパ部材で、
定められた範囲以上浮体53が回転しないように回転規
制をしている。
【0029】尚上記した浮体53の回転自在の保持は次
のようにして行われている。即ち浮体53の中心には図
11(図10のA−A断面)で示すように、上下に先端
が尖鋭なピボット512が圧入されている。一方、前記
の浮体保持体55のコ字形の上下腕の先端には互いに内
向きに対向してピボット軸受56が設けられ、上記ピボ
ット512の尖鋭な先端がこのピボット軸受56に嵌合
することで浮体の保持がされる。
【0030】513は外筒52の上蓋であり、シリコン
接着剤等を用いた公知の技術により該外筒52内に液体
54を封入すべくシ−ル接着されている。
【0031】以上の構成において、浮体53はいずれの
姿勢においても重力の影響による回転モ−メントが発生
することなく、またピボット軸に実質的に負荷が作用し
ないように、回転軸53a回りに対し対称形状をしてい
るうえに、液体54と同比重の材料にて構成されてい
る。現実には、アンバランス成分ゼロというのは不可能
ではあるが、形状誤差分は比重差分だけしかアンバラン
スとして作用しないので実質的には十分小さく、慣性に
対する摩擦のSN比が極めて良好であることは容易に理
解できよう。
【0032】かかる構成においては、外筒52が回転軸
53a回りに回転しても内部の液体54は慣性により絶
対空間に対し静止するので、浮遊状態にある浮体53は
回転せず、従って外筒52と浮体53は回転軸53a回
りに相対的に回転することになる。これらの相対的な角
変位は、上記発光素子58,受光素子59を用いた光学
的検知手段で検出できる。
【0033】さて、以上の構成を有する装置において、
角変位の検出は次のように行われる。
【0034】まず、発光素子58から発せられた光はマ
スク510のスリット穴510aを通過し浮体53に照
射され、ここで突起53bのスリット状反射面により反
射されて受光素子59に至る。上記光の伝送の際にはこ
の光はスリット穴510aとスリット状反射面とにより
略平行光となり、受光素子59の上にはボケのない像が
形成されることになる。
【0035】そして外筒52,発光素子58,受光素子
59はいずれも地板51に固定されているものであって
一体に運動するので、外筒52と浮体53の間で相対的
な角変位運動が生じると、該変位に応じた量だけ受光素
子59上のスリット像は移動することになる。従って、
受光した光の位置によって出力の変化する光電変換素子
である該受光素子59の出力は、該スリット像の位置変
位に比例した出力となり、該出力を情報として外筒52
の角変位を検出することができる。
【0036】ところで、前述したように浮体53は液体
54と同比重をもつ永久磁石材料にて構成されている
が、それは例えば次の様にして成すものである。
【0037】液体54としてフッ素系の不活性液体を用
いた場合、プラスチック材をベ−スにフィラ−として永
久磁石材料(例えばフェライト等)の微粉を含有させて
その含有率を調整すれば、体積含有率8%前後にて液体
の比重 「1.8」 と同程度の比重にすることは容易であ
る。かかる材料にて浮体3を成形した後、又は同時に前
記軸53a方向に着磁すれば、浮体53は永久磁石とし
ての性質を持つこととなる。
【0038】図13は浮体53とヨ−ク57と巻線コイ
ル514の関係を表した、図10のB−B断面である。
【0039】該図の如く浮体53は軸53a方向に着磁
されており、この図では上側がN極、下側がS極に着磁
されている。N極から出た磁力線はコの字型のヨ−ク5
7を通り、S極に入るという閉磁路を構成しており、こ
の磁路内に配置された巻線コイル514に図の様に紙面
裏側から表側へ電流を流せば、フレミングの左手の法則
に従って該巻線コイル514は矢印f方向に力を受け
る。ところが、該巻線コイル7は前述したように外筒5
2に対し固定されていることから動くことができず、よ
ってその反作用である矢印F方向に力が働き、該力によ
って浮体53が駆動されることになる。この力は巻線コ
イル514に流す電流に比例し、力の方向も電流を上記
とは逆に流せば逆方向に働くことは言うまでもないこと
である。即ち以上の構成に於ては、浮体53を自在に駆
動することが可能である。
【0040】この駆動力により浮体53に及ぼされるバ
ネ力は、原理的には浮体53を外筒52に対して一定の
姿勢に維持させる(つまり一体に移動させる)力である
から、そのバネ力が強いと外筒52と浮体53は一体と
なって運動してしまい、目的とする角変位の為の相対角
変位は生じないと云う問題を招くが、駆動力(バネ力)
が浮体53の慣性に対し十分に小さければ、比較的低い
周波数の角変位にも応答し得る様に構成できる。
【0041】図14は以上の様な角変位検出装置の電気
回路を示す図である。
【0042】電流−電圧変換アンプ515a,515b
(及び抵抗R33〜R36)は発光素子58の反射光5
16により受光素子59に生じる光電流517a,51
7bを電圧に変化し、差動アンプ518(及び抵抗R3
7〜40)は前記電流−電圧変換アンプ515a,51
5bの出力差、つまり角変位(外筒52と浮体53の間
の相対的な角変位運動)を求める。この出力を抵抗51
9a,519bで分割して極めて小さい出力にし、巻線
コイル514に電流を流す駆動アンプ520(及び抵抗
R41,トランジスタTR11,TR12)に入力し
て、負帰還(差動アンプ518が出力すると、浮体53
が中心に戻る様に巻線コイル514の配線及び浮体53
の着磁方向を設定する)を行うと、前述の様に液体54
の慣性に対し十分に小さいバネ力(駆動力)が生じる。
【0043】加算アンプ521(及び抵抗R42〜4
5)は前記アンプ515a,515bの和(受光素子の
発光素子58からの反射光516の受光量総和)を求め
ており、その出力を発光素子58を発光させる駆動アン
プ522(及び抵抗R47〜R48,トランジスタTR
13,コンデンサC11)に入力している。
【0044】発光素子58は温度差に極めて不安定にそ
の発光量を変化させてしまうが、上記の様に受光量総和
により発光素子58を駆動させれば、受光素子59の出
力する光電流総和は常に一定となり、差動アンプ518
の角変位検出感度は極めて安定なもとなる。
【0045】図15は他の振動センサとしてのサ−ボ角
加速度センサの構造図を示すものである。
【0046】図15において、523は外枠底部であ
り、この外枠底部523と一体的に固着される支持部5
24及びボ−ルベアリング等摩擦の少ない軸受525
a,525bによりシャフト526の両端が支持されて
いて、該シャフト526によってコイル527a,52
7bを取付けられたシ−ソ528が揺動可能に支持され
ている。
【0047】上記コイル527a,527b及びシ−ソ
528の上下には、これらと離隔されて蓋部としての磁
気回路板530a,530bと永久磁石531a,53
1b,532a,532bが対向して配置されていて、
磁気回路板530a,530bは上述の如く外枠の蓋部
も兼ねている。永久磁石531a,531b,532
a,532bは各々外枠523の底部に固定される磁気
回路背板533a,533b上に取付けられている。
【0048】また、上記シ−ソ528のコイル527a
の上部には厚み方向に貫通したスリット534aを形成
するスリット板534が設けられており、このスリット
534aの上方の外枠の蓋部を兼ねる磁気回路板530
aにはSPC(Separate Photo Diode)等の光電式の変
位測定器535が配置され、スリット534aの下方の
磁気回路背板533a上には赤外発光ダイオ−ド等の発
光素子536が配置されている。
【0049】以上の構成において、いま角加速度aが図
15の外枠に対して矢印537で示すように働いたとす
ると、シ−ソ528は相対的に角加速度aと反対の方向
に傾き、この振れ角はスリット534aを介する発光素
子536からのビ−ムの変位測定器535上の位置によ
り検出できる。
【0050】ところで、上記永久磁石531a,531
bからの磁束は、各々永久磁石531a,531b→コ
イル527a,527b→磁気回路板530a,530
b→コイル527a,527b→永久磁石532a,5
32bに、他方永久磁石532a,532bからの磁束
は、各々永久磁石532a,532b→磁気回路背板5
33a,533b→永久磁石532a,532bを通
り、全体として閉磁気回路を形成しており、コイル52
7a,527bに対し垂直な方向の磁束を形成するよう
になっている。そしてコイル527a,527bに制御
電流を流すことにより、フレミングの法則によって、シ
−ソ528を上記角加速度aの振れ方向に沿って両側に
動かすことが出来るように設けられている。
【0051】図16は上記構成のサ−ボ角加速度センサ
に用いられる角加速度検出回路の構成の一例を示したも
のである。
【0052】この回路は、上記変位検出器535からの
出力を増幅する変位検出増幅器538と、このフィ−ド
バック回路を安定な回路系とするための補償回路539
と、上記変位検出増幅器538からの増幅された出力を
更に電流増幅してコイル527a,527bに通電する
駆動回路540と、コイル527a,527bとが直列
的に接続されて成っている。
【0053】そして本例においては、上記コイル527
a,527bに通電がなされた場合は、外部角加速度a
によるシ−ソ528の振れ方向とは反対方向に力が発生
するよう該コイル527a,527bの巻線方向及び永
久磁石531a,531b,532a,532bの極性
が設定されている。
【0054】以上の構成のサ−ボ角加速度センサの作動
原理を説明すると、いま上記構成の角加速度センサに外
部から図15に示す様に角加速度aが加わったとする
と、シ−ソ528は慣性力によって外枠に対して相対的
に反対回転方向に振れ、従ってシ−ソ528に設けられ
ているスリット534aがL方向に移動する。このため
に発光素子536から変位検出器535に入射する光束
の中心が変位し、変位検出器535から、その変位量に
比例した出力が発生する。
【0055】その出力は上述の如く変位検出増幅器53
8で増幅され、更に補償回路を介して駆動回路540に
より電流増幅され、コイル527a,527bに通電さ
れる。
【0056】以上のようにコイル527a,527bに
制御電流の通電があると、シ−ソ528には外部角加速
度aのL方向とは逆の方向であるR方向への力が発生
し、変位検出器535に入射する光束が上記外部角加速
度aの加わらない時の初期位置に戻るように制御電流が
調整して発生される。
【0057】尚、この際コイル527a,527bを流
れる制御電流の値はシ−ソ528に加わる回転力に比例
しており、更にシ−ソ528に加わる回転力は該シ−ソ
528を原点に戻す力、つまり外部角加速度aの大きさ
に比例しているから、抵抗541を通して電流を電圧V
として読取ることにより、例えばカメラの像振れ抑制シ
ステム等に必要な制御情報としての角加速度aの大きさ
を求めることができる。
【0058】図17は前記図16の角加速度検出回路を
より具体的に示した図である。
【0059】図17において、増幅アンプ538a,抵
抗538b,538cは図16の変位検出増幅器538
に相当し、変位測定器535からの光電流を電圧変換増
幅して位置検出を行う。コンデンサ539a及び抵抗5
39b,539cは補償回路539に相当し、駆動アン
プ540a,トランジスタ540b,540c,抵抗5
40d,540e,540fはコイル527a,527
bの駆動を行う駆動回路540に相当する。
【0060】
【発明が解決しようとする課題】ここで、上述従来例に
おいて、防振システムを作動させずに撮影を行った場合
には、以下の様な問題が生じる。
【0061】防振システム非作動時に防振システムの全
ての機能を停止させると、図8における補正光学機構は
矢印546p,546y方向にピッチ,ヨ−コイルバネ
551p,551yのみで支持されている(防振システ
ム作動時は補正光学機構は位置制御されており、補正レ
ンズ545はピッチ,ヨ−コイル552p,552yと
受光素子557p,557yの出力で、目標位置に強固
に支持されている)。しかしながら、上記ピッチ,ヨ−
コイルバネ551p,551yのバネ定数は、補正光学
機構の駆動負荷を増加させない為にあまり強くない。こ
のため、防振システム非作動時には、レリ−ズ時のミラ
−やシャッタのショック、或は、手振れで補正光学機構
がバウンドしてしまい、像を劣化させてしまうといった
問題があった。
【0062】本発明の目的は、上記の点に鑑み、非防止
動作時に補正光学機構が外乱により飛び跳ねて像の劣化
を招く事を防止することのできる防振機能付カメラを提
供することである。
【0063】
【課題を解決するための手段】本発明は、振動検出手段
よりの出力に基づいた、補正光学機構をレンズ鏡筒に対
し相対的に変位させる防振動作を行わせ、又非防振動作
時に際しても、補正光学機構の駆動制御を行う制御手段
を設けている。
【0064】
【作用】制御手段は、非防振動作時にあっても補正光学
機構を駆動し、手振れやレリ−ズ時のミラ−ショック等
の外乱にて該補正光学系が作動しないようにしている。
【0065】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
【0066】図1は本発明の第1の実施例における防振
機能付カメラの要部構成を示すものであり、振動センサ
であるところの振動検出手段11は、カメラに設けられ
たメインスイッチ12と防振システム作動スイッチ13
の両スイッチのオン時にアンドゲ−ト14の“H”出力
により起動される。補正光学機構15は、メインスイッ
チ12のオンとレリ−ズスイッチ16の半押し以上でア
ンドゲ−ト17の出力が“H”となって駆動手段(図8
の増幅器559p,559yから駆動回路561p,5
61yまでにより成る)18が起動されることにより作
動する。なお、駆動手段18と補正光学機構15との間
の実線19は、図8における駆動回路561p,561
yから各々ピッチ,ヨ−コイル552p、552yへの
出力ラインであり、一点鎖線110は、受光素子557
p,557yから増幅器559p,559yへの入力ラ
インである。
【0067】以上の構成において、防振システム作動時
(防振システム作動スイッチ13のオンの時)には、振
動検出手段11が作動し、又、レリ−ズスイッチ16の
半押し以上で補正光学機構15が作動し、この時、防振
システム作動スイッチ13がオンであるのでスイッチ1
12は振動検出手段11と駆動手段18を結線する状態
にある為、補正光学機構15は振動検出手段11の出力
により駆動され、防振を行う。
【0068】次に、防振システム作動スイッチ13がオ
フの時は、振動検出手段11は作動しないが、補正光学
機構15はメインスイッチ12のオン及びレリ−ズスイ
ッチ16の半押し以上では駆動手段18により駆動され
ており、更にこの時、スイッチ112は基準信号111
と駆動手段18とを結線した状態に切り換わっている。
【0069】つまり、防振システム作動スイッチ13が
オフであり、メインスイッチ12及びレリ−ズスイッチ
16が共にオンの場合、補正光学機構15は、基準信号
111(例えば 2.5V等)にしたがった基準位置にピッ
チ,ヨ−コイル552p,552yによる強い力で位置
制御され、外乱に対して不動になっている。
【0070】図2は、図1の補正光学機構15及びその
駆動手段(増幅器559p,559yから駆動回路56
1p,561yまでにより成る)18を示した図であ
る。
【0071】防振システム作動時は、スイッチ112
p,112yは、演算回路65p,65y(図7参照)
による演算後の角変位検出装置63p,63y(図7参
照)の出力である指令信号562P,562yを駆動手
段へ結線する状態にあり、よって、該指令信号(手振れ
に応じた信号)通りに補正光学機構は駆動されることに
なる。
【0072】一方、防振システム非作動時には、メイン
スイッチ12,レリ−ズスイッチ16が共にオンの場
合、スイッチ112p,112yは基準信号111p,
111yを駆動手段へ結線する状態に切り換わる為、補
正光学機構は常に一定位置に支持されることになる。
【0073】以上の構成にすることにより、防振システ
ム非作動時においても、補正光学機構15は基準位置に
強い力で支持されることになるため、手振れやレリ−ズ
ショック等の外乱で該補正光学機構15が動いて像の劣
化を招くといった不都合はなくなる。
【0074】(第2の実施例)図3は本発明の第2の実
施例における防振機能付カメラの要部構成を示す図であ
り、図1と同じ部分は同一符合を付してある。
【0075】図1と異なるのは、駆動手段18による補
正光学機構15の駆動制御が防振システム作動時には
「位置制御」に、防振システム非作動には「速度制御」
に切り換わっている点にある。
【0076】図3における駆動手段18内の増幅器55
9p,559yの出力は、防振システム作動スイッチ1
3のオフ時にはスイッチ32p,32yが微分器31
p,31yと補償回路560p,560yを結線する状
態に切り換わる為、断たれている。ここで、微分器31
p,31yは、増幅器559p,559yからの補正光
学機構15の位置検出信号を微分することで、該補正光
学機構15の速度信号に変換しており、それを元に駆動
回路561p,561yでピッチ、ヨ−コイル552
p,552yを駆動していわゆる速度制御となる。そし
て、この防振システム非作動時には、スイッチ112が
基準信号111と駆動手段18を結線する状態に切り換
わっている為、基準信号111を「0」(速度ゼロ)に
設定すると、補正光学機構15は速度が常にゼロになる
様に駆動制御される為、手振れ、レリ−ズショック等の
外乱が加わっても、該補正光学機構15が容易に飛び跳
ねることは無い。
【0077】図4は図3の補正光学機構15及びその駆
動手段18を示した図である。
【0078】防振システム作動時は、スイッチ112
p,112yは指令信号562p,562yを駆動手段
に結線する状態にあり、スイッチ32p,32yは増幅
器559p,559yを補償回路560p,560yに
結線する状態にある為、従来例同様の位置制御が行わ
れ、指令信号562p,562y通りに補正光学機構1
5は駆動され、防振を行う。
【0079】また、防振システム非作動時には、スイッ
チ112p,112yは基準信号111p,111y
(速度ゼロ)を駆動手段に結線する状態に切り換わり、
スイッチ32p,32yは補正光学機構15の速度信号
を補償回路560p,560yに結線する微分回路31
p,31yの側に状態に切り換わる為、補正光学機構1
5の速度が常にゼロになる様に制御される。
【0080】以上の様な構成にすることにより、上記の
第1の実施例に比べて以下の様な利点を得ることができ
る。
【0081】図1,図2で示した第1の実施例におい
て、防振システム非作動時には、基準信号111p,1
11yにより指示される位置に補正光学機構15は位置
制御され、ピッチ,ヨ−コイル552p,552yの推
力で保持されている。その為、ピッチ,ヨ−コイル55
2p,552yには重力に逆らって補正光学機構15を
保持しておく為に常に大電流が流れており、電池の消耗
が早い。
【0082】ところが、図3,4で示した第2の実施例
の様に、防振システム非作動時には、基準信号111
p,111yで求まる速度(ゼロ)に制御される為、補
正光学機構15の位置には関係無く、補正光学機構15
の重力とピッチ,ヨ−コイルバネ551p,551yが
釣り合った位置に保持され、重力に逆らって補正光学機
構を保持する為にピッチ,ヨ−コイル552p,552
yに電流を流す必要が無く、ただ、手振れ,レリ−ズシ
ョックで補正光学機構15が(飛び跳ねて)速度を持と
うとした時のみ上記ピッチ,ヨ−コイル552p,55
2yに電流を流せば良く、更にこの電流値も、位置制御
時自重に打ち勝つ為に該ピッチ,ヨ−コイル552p,
552yに流す電流に比べれば僅かな量であり、大幅な
省電力化が可能になる。
【0083】(第3の実施例)図5及び図6は本発明の
第3の実施例における防振機能付カメラの要部構成を示
す図であり、図1及び図3と同じ部分は同一符合を付し
てある。
【0084】上記の第2の実施例における図3及び図4
と異なるのは、微分回路31p,31yが低域カットフ
ィルタ41p,41yに変更されている点にある。
【0085】この低域カットフィルタは、10Hz以下
の周波数の信号をカットする様に設定されており、駆動
手段18,補正光学機構15の位置制御ル−プゲインが
100(駆動を制御しない時[図8の増幅器559p,
559yが補償回路560p,560yに伝わらない様
に結線を切り、指令信号562p,562yで補正光学
機構を駆動した時]に増幅器559p,559yの振幅
が極低周波において指令信号562p,562yの振幅
の60倍であり、その様な各回路の増幅率の時に増幅器
559p,559yの出力を補償回路560p,560
yの出力に結び位置制御を行った時)に設定すると、こ
の補正光学機構15の低域側の帯域は「10/100=
0.1 Hz」以下は応答しなくなる。
【0086】この様にすると、位置制御である為に補正
光学機構15はピッチ,ヨ−コイル552p,552y
により強い力で支持されているにもかかわらず、重力の
様な極低周波成分には応答せず、該補正光学機構15は
重力とバネ97p97yの釣り合った点で安定してお
り、手振れ、レリ−ズショック等の高周波(手振れの帯
域は1Hz〜12Hzの為、低域カットフィルタ41
p,41yによる駆動手段18の応答限界帯域 0.1Hz
以上)外乱によって飛び跳ねる事は無く、重力に逆らっ
て電流を流す必要も無い為、省電力化が可能となる。
【0087】防振システム作動時には、この低域カット
フィルタ41p,41yを位置制御ル−プ内から外し、
従来通りの駆動制御を行う。もちろん、防振システム作
動時も低域カットフィルタ41p,41yを位置制御ル
−プ内に入れて重力に応答しなくして省電力化を図って
も良いが、この時、この低域カットフィルタ41p,4
1yによる駆動手段18の帯域が 0.1Hz以下は応答し
なくなり、これは手振れの帯域1Hz〜12Hzに対し
て余裕が十分ある程離れている訳ではなく、この低域カ
ットフィルタ41p,41yを入れる事で防振精度が若
干劣化してしまう。よって、本案では防振を行わない防
振システム非作動時のみ、該低域カットフィルタ41
p,41yを入れる構成にしてある。
【0088】以上の各実施例によれば、防振システム非
作動時(非防振動作時)においても、駆動手段18によ
り補正光学機構15を駆動制御しておくように構成して
いる為、この防振システム非作動時に補正光学機構15
が外乱(手振れ,レリ−ズショック等)で飛び跳ねてし
まい、像の劣化、つまり振れた写真となってしまうとい
った事を防止することが可能となる。さらに、カメラを
持ち運ぶ際にもこのような駆動制御を行う事により、補
正光学機構15がむやみに動いてしまうことも防止でき
る。
【0089】また、第2及び第3の実施例の様に防振シ
ステム非作動時においては、補正光学機構15を速度制
御、或は、低域カットフィルタを閉ル−プ内に設けた位
置制御を行う駆動手段18により駆動するようにしてい
る為、重力に逆らって該補正光学機構15を支持する為
にコイルに流す電流を省く事が出来、大幅な省電力化が
可能になる。
【0090】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
振動検出手段よりの出力に基づいた、補正光学機構をレ
ンズ鏡筒に対し相対的に変位させる防振動作を行わせ、
又非防振動作時に際しても、補正光学機構の駆動制御を
行う制御手段を設け、非防振動作時にあっても補正光学
機構を駆動し、手振れやレリ−ズ時のミラ−ショック等
の外乱にて該補正光学系が作動しないようにしている。
【0091】よって、非防振動作時に補正光学機構が外
乱により飛び跳ねて像の劣化を招くといったことを防止
することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における防振機能付カメ
ラのブロック図である。
【図2】図1の補正光学機構及びその駆動手段の構成を
示す図である。
【図3】本発明の第2の実施例における防振機能付カメ
ラのブロック図である。
【図4】図3の補正光学機構及びその駆動手段の構成を
示す図である。
【図5】本発明の第3の実施例における防振機能付カメ
ラのブロック図である。
【図6】図5の補正光学機構及びその駆動手段の構成を
示す図である。
【図7】従来の防振システムの概略構成を示す斜視図で
ある。
【図8】図7の防振システムにおける補正光学機構の機
械的及び電気的構成を示す図である。
【図9】図8に示した電気的構成を具体的に示した回路
図である。
【図10】従来の振動検出手段の一つである角変位検出
装置を示す平面図である。
【図11】図10のA−A断面図である。
【図12】図10に示した角変位検出装置の斜視図であ
る。
【図13】図10のB−B断面図である。
【図14】図10に示した角変位検出装置の電気的構成
を示す回路図である。
【図15】従来の振動検出手段の一つであるサ−ボ角加
速度計の構成を示す分解斜視図である。
【図16】図15のサ−ボ角加速度計の電気的構成を示
すブロック図である。
【図17】図16の電気的構成を具体的に示す回路図で
ある。
【符合の説明】
11 振動検出手段 13 防振システム作動スイッチ 15 補正光学機構 17 アンドゲ−ト 18 駆動手段 111 基準信号 112 スイッチ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レンズ群を保持するレンズ鏡筒内に配置
    され、前記レンズ群の光軸を偏心させる補正光学機構、
    前記レンズ鏡筒に加わる振動を検出する振動検出手段、
    前記振動検出手段よりの出力に基づいた、前記補正光学
    機構を前記レンズ鏡筒に対し相対的に変位させる防振動
    作を行わせ、又非防振動作時に際しても、前記補正光学
    機構の駆動制御を行う制御手段を有する防振システムを
    備えた防振機能付カメラ。
  2. 【請求項2】 制御手段は、補正光学機構がレンズ鏡筒
    に対して所定の位置に保持されるように駆動制御を行う
    手段であることを特徴とする請求項1記載の防振機能付
    カメラ。
  3. 【請求項3】 制御手段は、補正光学機構を駆動制御す
    る共通の駆動手段を具備し、振動検出手段の出力と所定
    の出力とを該駆動手段へ切換えて入力させる手段である
    ことを特徴とする請求項1又は2記載の防振機能付カメ
    ラ。
  4. 【請求項4】 制御手段は、防振動作時における撮影時
    に補正光学機構を駆動させる第1の駆動手段と、非防振
    動作時における撮影時に前記補正光学機構を駆動させる
    第2の駆動手段を具備したことを特徴とする請求項1又
    は2記載の防振機能付カメラ。
  5. 【請求項5】 制御手段は、防振動作時には、該振動検
    出手段よりの出力に基づいて補正光学機構を位置制御
    し、非防振動作時には、所定の出力に基づいて補正光学
    機構を速度制御することを特徴とする手段であることを
    特徴とする請求項1,2,3又は4記載の防振機能付カ
    メラ
JP33936891A 1991-11-29 1991-11-29 防振機能付カメラ Pending JPH05150283A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4840735A (en) * 1987-06-23 1989-06-20 Hemlo Gold Mines Inc. Process for the removal of cyanide and other impurities from solution

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4840735A (en) * 1987-06-23 1989-06-20 Hemlo Gold Mines Inc. Process for the removal of cyanide and other impurities from solution

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