JPH0494174A - 化合物薄膜太陽電池およびその製造方法 - Google Patents
化合物薄膜太陽電池およびその製造方法Info
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- JPH0494174A JPH0494174A JP2211950A JP21195090A JPH0494174A JP H0494174 A JPH0494174 A JP H0494174A JP 2211950 A JP2211950 A JP 2211950A JP 21195090 A JP21195090 A JP 21195090A JP H0494174 A JPH0494174 A JP H0494174A
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はカルコパイライト系化合物を活性層とする薄膜
半導体を用いた太陽電池のユニットセルを直列接続して
なる化合物薄膜太陽電池およびその製造方法に関する。
半導体を用いた太陽電池のユニットセルを直列接続して
なる化合物薄膜太陽電池およびその製造方法に関する。
カルコパイライト系化合物のCu Inks !は、そ
の禁制帯幅が約1eVであって、直接遷移形の帯構造を
持ち、pおよびnの両型の導電型を示す。また禁制帯幅
2.4eVのCdSとは格子の不整合も1%程度であり
、したがって窓層のn型CdSとp型Cu1nSe。
の禁制帯幅が約1eVであって、直接遷移形の帯構造を
持ち、pおよびnの両型の導電型を示す。また禁制帯幅
2.4eVのCdSとは格子の不整合も1%程度であり
、したがって窓層のn型CdSとp型Cu1nSe。
のヘテロ接合で高効率太陽電池を構成することが期待で
きることから、近年その研究、開発が盛んに進められて
いる。このような化合物薄膜太陽電池から発電した電力
を効率良く取り出すためには、非晶質Si太陽電池にお
いても行われているように、例えば第2図に示すように
ユニットセルが直列接続されるような構造にするのが一
般的である。この構造は、ガラス、アルミナなどの絶縁
性基板1上にオーム性接触用の金属電極21,22.2
3・・・を−列に並んだ複数の短冊状に形成し、その上
に光起電力発生層であるp型CuInSez層31.3
2.33−n型CdS層41.42.43−・・ならび
にZnOやITOなどからなる透明電極51.52.5
3・・・を順に積層する。そして、例えば金1it極2
2の縁部近くにおいてCulnSez層3L32および
n型Cd5層41.42の間隙を満たす透明1Eti5
1の縁部が接触するようにして、一つのユニ・ノドセル
の金属電極が隣接するユニットセルの透明電極とが接続
される構造となるように画電極およびCulnSei層
、CdS層のパターンを構成することにより各ユニット
セルを直列接続する。
きることから、近年その研究、開発が盛んに進められて
いる。このような化合物薄膜太陽電池から発電した電力
を効率良く取り出すためには、非晶質Si太陽電池にお
いても行われているように、例えば第2図に示すように
ユニットセルが直列接続されるような構造にするのが一
般的である。この構造は、ガラス、アルミナなどの絶縁
性基板1上にオーム性接触用の金属電極21,22.2
3・・・を−列に並んだ複数の短冊状に形成し、その上
に光起電力発生層であるp型CuInSez層31.3
2.33−n型CdS層41.42.43−・・ならび
にZnOやITOなどからなる透明電極51.52.5
3・・・を順に積層する。そして、例えば金1it極2
2の縁部近くにおいてCulnSez層3L32および
n型Cd5層41.42の間隙を満たす透明1Eti5
1の縁部が接触するようにして、一つのユニ・ノドセル
の金属電極が隣接するユニットセルの透明電極とが接続
される構造となるように画電極およびCulnSei層
、CdS層のパターンを構成することにより各ユニット
セルを直列接続する。
一般に、このような直列接続型化合物薄膜太陽電池の形
成は、金属電極層の形成、金xisのバターニング、
CulnSei層の形成、 CdS層の形成Cu1nS
et層とCdS層のパターニング、透明電極の形成、透
明電極のパターニングの!唾序で行われ、各層のバター
ニングには、レーザスクライブ法機械的スクライプ法、
フォトエンチング法などのプロセス技術が用いられる。
成は、金属電極層の形成、金xisのバターニング、
CulnSei層の形成、 CdS層の形成Cu1nS
et層とCdS層のパターニング、透明電極の形成、透
明電極のパターニングの!唾序で行われ、各層のバター
ニングには、レーザスクライブ法機械的スクライプ法、
フォトエンチング法などのプロセス技術が用いられる。
[発明が解決しようとする課題〕
直列接続型化合物薄膜太陽電池において良好な性能を得
るためには、金属電極とこれに接触する隣接するユニッ
トセルの透明電極間の抵抗が小さいこと、一つのユニッ
トセル内の金属電極とCulnSei眉間およびCdS
層と透明電極間の接触が良好であること、ならびに、特
に傷等によるCulnSez層やCdS層の一部欠落に
より、金属電極の一部と透明電極の一部がオーム性接触
する、いわゆるシッートがないことが重要である。
るためには、金属電極とこれに接触する隣接するユニッ
トセルの透明電極間の抵抗が小さいこと、一つのユニッ
トセル内の金属電極とCulnSei眉間およびCdS
層と透明電極間の接触が良好であること、ならびに、特
に傷等によるCulnSez層やCdS層の一部欠落に
より、金属電極の一部と透明電極の一部がオーム性接触
する、いわゆるシッートがないことが重要である。
しかしながら、前記従来方法のように、CulnSex
層およびCdS層の形成と透明電極の形成の間にCur
nSe、層およびCdS層のバターニング工程が入るプ
ロセス構成にすると、機械的スクライブ法が主に用いら
れるパターニング工程において、発生する微小な破片や
雰囲気中のほこり等により、CuInSez層やCdS
層に傷がついてシッートが発生したり、表面が汚染され
て透明電極との良好な接触が妨げられることが起こる0
表面の汚染を除去するためには、透明電極の形成前に表
面の清浄化を行うことになるが、この清浄化工程を入れ
ると、CdS層やCulnSez層をさらに傷つけ、シ
ッート発生の確率が高くなり、また当然太陽電池の製造
工数が増すという欠点があった。
層およびCdS層の形成と透明電極の形成の間にCur
nSe、層およびCdS層のバターニング工程が入るプ
ロセス構成にすると、機械的スクライブ法が主に用いら
れるパターニング工程において、発生する微小な破片や
雰囲気中のほこり等により、CuInSez層やCdS
層に傷がついてシッートが発生したり、表面が汚染され
て透明電極との良好な接触が妨げられることが起こる0
表面の汚染を除去するためには、透明電極の形成前に表
面の清浄化を行うことになるが、この清浄化工程を入れ
ると、CdS層やCulnSez層をさらに傷つけ、シ
ッート発生の確率が高くなり、また当然太陽電池の製造
工数が増すという欠点があった。
本発明の目的は、上記の欠点を除き、パターニング工程
や清浄化工程によるシッート発生のおそれがなく、少な
い製造工数で製造できる化合物薄膜太陽電池および製造
方法を提供することにある。
や清浄化工程によるシッート発生のおそれがなく、少な
い製造工数で製造できる化合物薄膜太陽電池および製造
方法を提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明は、金属電極、少
なくともカルコパイライト系化合物よりなる膜を含む光
起電力発生層および透明電極を積層してなるユニットセ
ルの複数個を絶縁性基板上に金属電極を基板側にして一
列に配置し、各ユニットセルを直列接続してなる化合物
薄膜太陽電池において、一つのユニットセルの金it極
がl!J接するユニットセルの透明電極と光起電力発生
層の低抵抗化された縁部を介して接続されたものとする
。また、本発明の化合物薄膜太陽電池の製造方法は、絶
縁性基板上に複数の金属電極を間隔を介して一列に配置
する工程と、その上に光起電力発生層となる少なくとも
カルコパイライト系化合物よりなる膜を含む化合物m膜
および透明導電膜を積層する工程と、各金属電極の一方
の側の縁部に近接した領域の上の化合物薄膜および透明
導電膜に、ビーム幅方向に中心に対して非対称で金属電
極縁部側へは次第に低下し1.他側へは急激に低下する
強度分布をもつレーザビームを照射し、レーザビームの
中心が照射された領域の化合物薄膜および透明導電膜を
飛散させて複数の光起電力発生層および透明電極に分割
し、その分割部より金属電極の縁部に近い領域の化合物
薄膜を低抵抗化する工程とを含むものとする。
なくともカルコパイライト系化合物よりなる膜を含む光
起電力発生層および透明電極を積層してなるユニットセ
ルの複数個を絶縁性基板上に金属電極を基板側にして一
列に配置し、各ユニットセルを直列接続してなる化合物
薄膜太陽電池において、一つのユニットセルの金it極
がl!J接するユニットセルの透明電極と光起電力発生
層の低抵抗化された縁部を介して接続されたものとする
。また、本発明の化合物薄膜太陽電池の製造方法は、絶
縁性基板上に複数の金属電極を間隔を介して一列に配置
する工程と、その上に光起電力発生層となる少なくとも
カルコパイライト系化合物よりなる膜を含む化合物m膜
および透明導電膜を積層する工程と、各金属電極の一方
の側の縁部に近接した領域の上の化合物薄膜および透明
導電膜に、ビーム幅方向に中心に対して非対称で金属電
極縁部側へは次第に低下し1.他側へは急激に低下する
強度分布をもつレーザビームを照射し、レーザビームの
中心が照射された領域の化合物薄膜および透明導電膜を
飛散させて複数の光起電力発生層および透明電極に分割
し、その分割部より金属電極の縁部に近い領域の化合物
薄膜を低抵抗化する工程とを含むものとする。
積層された化合物薄膜および透明導電膜にレーザビーム
を、照射する場合、レーザビーム照射の効果はビーム強
度により異なる。強度が十分小さい場合は何も変化が起
こらず、強度を増していくと化合物薄膜により形成され
ているp−n接合が破壊されて低抵抗化し、透明導電膜
と金属電極が電気的にショート状態となる。さらに強度
を増すと、カルコパイライト系化合物膜が吸収したレー
ザ光エネルギーにより溶融、飛散し、この時カルコパイ
ライト系化合物膜上の他の化合物薄膜および透明導電膜
も除去される。レーザビームをスリットやミラー等の光
学系によりビーム幅方向の出力強度分布が中心に対して
非対称となるように調整すれば、化合物1膜と透明導電
膜を分割して各ユニットセルの光起電力発生層および透
明電極を形成し、その分割部の一方で透明電極と金属電
極がショートし、他方で絶縁状態を維持し、その結果1
本のレーザビーム照射でユニットセルの直列接続構造を
形成することが可能である。
を、照射する場合、レーザビーム照射の効果はビーム強
度により異なる。強度が十分小さい場合は何も変化が起
こらず、強度を増していくと化合物薄膜により形成され
ているp−n接合が破壊されて低抵抗化し、透明導電膜
と金属電極が電気的にショート状態となる。さらに強度
を増すと、カルコパイライト系化合物膜が吸収したレー
ザ光エネルギーにより溶融、飛散し、この時カルコパイ
ライト系化合物膜上の他の化合物薄膜および透明導電膜
も除去される。レーザビームをスリットやミラー等の光
学系によりビーム幅方向の出力強度分布が中心に対して
非対称となるように調整すれば、化合物1膜と透明導電
膜を分割して各ユニットセルの光起電力発生層および透
明電極を形成し、その分割部の一方で透明電極と金属電
極がショートし、他方で絶縁状態を維持し、その結果1
本のレーザビーム照射でユニットセルの直列接続構造を
形成することが可能である。
以下、本発明の実施例を第2図と共通の部分に同一の符
号を付した図を引用して説明する。第1図(ajは本発
明であるレーザ光線によるユニットセル間の分割および
電気的接続を行う直前の化合物薄膜太陽電池の状態を示
す図である。この状態の構造は次のようにして得られる
。即ち、まずガラス基板1上にMo膜をスパッタ法によ
り1−の暑さで形成し、これをレーザスクライブ法によ
りパタニングして短冊状の金属電極21.22.23・
・・を形成する。次に、この上にp型CuInSez膜
30およびn型CdS膜40をスパッタ法により各々1
.5 tns、0.2tnaの厚さで形成し、これらの
層のバターニングを行うことなく、その上にZnO層か
らなる透明導電膜50を1−の厚さでスパッタ法により
積層する。
号を付した図を引用して説明する。第1図(ajは本発
明であるレーザ光線によるユニットセル間の分割および
電気的接続を行う直前の化合物薄膜太陽電池の状態を示
す図である。この状態の構造は次のようにして得られる
。即ち、まずガラス基板1上にMo膜をスパッタ法によ
り1−の暑さで形成し、これをレーザスクライブ法によ
りパタニングして短冊状の金属電極21.22.23・
・・を形成する。次に、この上にp型CuInSez膜
30およびn型CdS膜40をスパッタ法により各々1
.5 tns、0.2tnaの厚さで形成し、これらの
層のバターニングを行うことなく、その上にZnO層か
らなる透明導電膜50を1−の厚さでスパッタ法により
積層する。
ユニットセル間の分割および電気的接続にはNd:YA
Gレーザを利用した。第3図(alはNd:YAGレー
ザのT E M a。モードでのビーム幅方向の出力強
度分布を、第3図(b)はこのレーザビームを化合物薄
膜太陽電池に照射した状態を示す図である。b−c−d
の強度範囲の領域では門0膜20上のCu1nSez
1130. CdS膜40.ZnO膜50が除去される
。
Gレーザを利用した。第3図(alはNd:YAGレー
ザのT E M a。モードでのビーム幅方向の出力強
度分布を、第3図(b)はこのレーザビームを化合物薄
膜太陽電池に照射した状態を示す図である。b−c−d
の強度範囲の領域では門0膜20上のCu1nSez
1130. CdS膜40.ZnO膜50が除去される
。
一方a−b間、d−s間の強度範囲の領域ではCu1n
Ssl膜とCdS膜のp−n接合が破壊されて低抵抗化
し、透明電極と金属電極が電気的にショート状態となる
接続部60が形成される。ユニットセル間の分割および
電気的接続には、このビーム幅のうち、スリットを通し
て中心に対して非対称なa−b−cdの範囲を利用する
。この強度範囲のレーザビームを、第1図fa)に示し
た積層構造にガラス基板1を通して照射して得られる構
造を第1図(blに示す、第1図(blのように照射部
の一方の第3図のa−bに相当する領域では、低抵抗接
続部6L62−・・が形成されて透明電極51,52.
53・・・と隣接するユニットセルの金属量i22,2
3・・・とが電気的に接続され、照射部の他方の第3図
のb−cdに相当する領域では、隣接するユニットセル
の透明電極間が電気的に絶縁される。
Ssl膜とCdS膜のp−n接合が破壊されて低抵抗化
し、透明電極と金属電極が電気的にショート状態となる
接続部60が形成される。ユニットセル間の分割および
電気的接続には、このビーム幅のうち、スリットを通し
て中心に対して非対称なa−b−cdの範囲を利用する
。この強度範囲のレーザビームを、第1図fa)に示し
た積層構造にガラス基板1を通して照射して得られる構
造を第1図(blに示す、第1図(blのように照射部
の一方の第3図のa−bに相当する領域では、低抵抗接
続部6L62−・・が形成されて透明電極51,52.
53・・・と隣接するユニットセルの金属量i22,2
3・・・とが電気的に接続され、照射部の他方の第3図
のb−cdに相当する領域では、隣接するユニットセル
の透明電極間が電気的に絶縁される。
上記の実施例では、レーザビームをガラス基板1を通し
て照射したが、セラミック基板を用いる場合には、レー
ザビームを基板の反対側から照射する。なお、金属電極
形成のバターニングをレーザスクライブ法で行う場合は
出力強度は第3図における強度よりも高くする。
て照射したが、セラミック基板を用いる場合には、レー
ザビームを基板の反対側から照射する。なお、金属電極
形成のバターニングをレーザスクライブ法で行う場合は
出力強度は第3図における強度よりも高くする。
本発明は、光起電力発生層がp型Cu1nSe2膜とn
型CdS膜とからなる場合に限らず、Cu1nSez
lIlによるpn接合、あるいは他のカルコパイライト
系化合物を用いたpn接合によって形成されるときにも
実施できる。
型CdS膜とからなる場合に限らず、Cu1nSez
lIlによるpn接合、あるいは他のカルコパイライト
系化合物を用いたpn接合によって形成されるときにも
実施できる。
本発明によれば、バターニングされた金属電極上に光起
電力発生層のための化合物薄膜を形成後、これらの層の
バターニングを行うことなくその上に透明導電膜を積層
し、ビーム幅方向の出力強度分布が中心に対して非対称
となるレーザ光を照射することにより、隣接するユニッ
トセル間の透明電極−金属電極の接続と隣接するユニー
/ トセル間の分離とを同時に行う方法を適用したので
、以下の効−果がある。
電力発生層のための化合物薄膜を形成後、これらの層の
バターニングを行うことなくその上に透明導電膜を積層
し、ビーム幅方向の出力強度分布が中心に対して非対称
となるレーザ光を照射することにより、隣接するユニッ
トセル間の透明電極−金属電極の接続と隣接するユニー
/ トセル間の分離とを同時に行う方法を適用したので
、以下の効−果がある。
何)化合物薄膜の形成と透明電極の形成の間に化合物薄
膜のパターニング工程が入らないため、化合物薄膜に傷
がついてシッートが発生し、太陽電池の性能が低下する
ことを防ぐことができる。
膜のパターニング工程が入らないため、化合物薄膜に傷
がついてシッートが発生し、太陽電池の性能が低下する
ことを防ぐことができる。
(ロ)バターニング工程の数が一つ減るため製造コスト
が低減する。
が低減する。
第1図は本発明の一実施例の製造工程を(al、(b)
の順に示す断面図、第2図は従来の化合物薄膜太陽電池
の断面図、第3図はレーザビーム照射効果を示し、その
うち(4)は出力強度分布図、(bJはfa)に示した
レーザビームを化合物薄膜太陽電池に照射した状態の断
面図である。 1ニガラス基板、21.22.23 :金属電極、30
.3132.33 : p型CuInSez膜、40,
41,42.43 : 11型dS 62: 膜、50 : ZnO層、 低抵抗接続部。 L52 53: イ(1人升J1士 透明電極、 曾厘ψ沖 第2肥 第1図
の順に示す断面図、第2図は従来の化合物薄膜太陽電池
の断面図、第3図はレーザビーム照射効果を示し、その
うち(4)は出力強度分布図、(bJはfa)に示した
レーザビームを化合物薄膜太陽電池に照射した状態の断
面図である。 1ニガラス基板、21.22.23 :金属電極、30
.3132.33 : p型CuInSez膜、40,
41,42.43 : 11型dS 62: 膜、50 : ZnO層、 低抵抗接続部。 L52 53: イ(1人升J1士 透明電極、 曾厘ψ沖 第2肥 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)金属電極、少なくともカルコパイライト系化合物よ
りなる膜を含む光起電力発生層および透明電極を積層し
てなるユニットセルの複数個を絶縁性基板上に金属電極
を基板側にして一列に配置し、各ユニットセルを直列接
続してなるものにおいて、一つのユニットセルの金属電
極が隣接するユニットセルの透明電極と光起電力発生層
の低抵抗化された縁部を介して接続されたことを特徴と
する化合物薄膜太陽電池。 2)光起電力発生層がp型CuInSe_z膜およびn
型CdS膜である請求項1記載の化合物薄膜太陽電池。 3)絶縁性基板上に複数の金属電極を間隔を介して一列
に配置する工程と、その上に光起電力発生層となる少な
くともカルコパイライト系化合物よりなる膜を含む化合
物薄膜および透明導電膜を積層する工程と、各金属電極
の一方の側の縁部に近接した領域の上の化合物薄膜およ
び透明導電膜に、ビーム幅方向に中心に対して非対称で
金属電極縁部側へは次第に低下し、他側へは急激に低下
する強度分布をもつレーザビームを照射し、レーザビー
ムの中心が照射された領域の化合物薄膜および透明導電
膜を飛散させて複数の光起電力発生層および透明電極に
分割し、その分割部より金属電極の縁部に近い領域の化
合物薄膜を低抵抗化する工程とを含むことを特徴とする
化合物薄膜太陽電池の製造方法。 4)化合物薄膜がp型CuInSe_z膜およびn型C
dS膜である請求項3記載の化合物薄膜太陽電池の製造
方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2211950A JPH0494174A (ja) | 1990-08-10 | 1990-08-10 | 化合物薄膜太陽電池およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2211950A JPH0494174A (ja) | 1990-08-10 | 1990-08-10 | 化合物薄膜太陽電池およびその製造方法 |
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