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JPH046475A - Fixed state tester for electronic component - Google Patents

Fixed state tester for electronic component

Info

Publication number
JPH046475A
JPH046475A JP2106499A JP10649990A JPH046475A JP H046475 A JPH046475 A JP H046475A JP 2106499 A JP2106499 A JP 2106499A JP 10649990 A JP10649990 A JP 10649990A JP H046475 A JPH046475 A JP H046475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
contactor
printed circuit
circuit board
unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2106499A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tomoyasu Arakawa
荒川 智安
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2106499A priority Critical patent/JPH046475A/en
Publication of JPH046475A publication Critical patent/JPH046475A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

PURPOSE:To achieve positive contact between each contactor and each contact land by providing a movable contact unit which is movable independently from a contactor unit body and positioned by means of a positioning means mounted on a printed board. CONSTITUTION:A printed board 104 is positioned by means of a positioning pin 105 whereas a contactor body 101 is positioned by means of a guide pin 111. When the body 101 is moved downward so that each contactor 103 contacts with each contact land on the board 104, each contactor 103 is brought into contact with each contact land positioned by means of the positioning pin. On the other hand, each contactor 103 fixed to a movable contact unit 102 is positioned, when a positioning probe 109 enters into each reference hole 110 made in the board 104, and brought into contact with each contact land of electronic components mounted with high density. An electronic circuit block 106 then judges the fixed state while confirming the contacting state.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はプリント基板上に実装された電子部品の取付状
態を試験する電子部品の取付状態試験装置に関するもの
である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an electronic component mounting state testing device for testing the mounting state of electronic components mounted on a printed circuit board.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第5図は従来の電子部品の取付状態試験装置の構成を示
す縦断面図である。
FIG. 5 is a longitudinal cross-sectional view showing the configuration of a conventional electronic component mounting condition testing device.

受台512上に載置されるプリント基板504の複数の
接触ランドには、接触子ユニット501に設けられた複
数の接触子503かそれぞれ個別に接触される。各接触
子503は各接触ランドに対して試験用の信号を圧力し
、もしくはプリント基板503上に実装された電子部品
を通過した上記試験用の信号を人力する。各接触子50
3は不図示の電子回路ブロックと接続されており、該電
子回路ブロックは試験用の信号の入出力状態により電子
部品の取付状態を判断するものである。
The plurality of contacts 503 provided in the contactor unit 501 are individually brought into contact with the plurality of contact lands of the printed circuit board 504 placed on the pedestal 512 . Each contactor 503 applies a test signal to each contact land, or manually inputs the test signal that has passed through the electronic components mounted on the printed circuit board 503. Each contact 50
Reference numeral 3 is connected to an electronic circuit block (not shown), and the electronic circuit block determines the mounting state of the electronic component based on the input/output state of test signals.

受台512上にはプリント基板504および接触子ユニ
ット501をそれぞれ位置決めするための一対の位置決
めビン505およびガイドビン510か設けられており
、これらにより決定される位置決めによって各接触子5
03か各接触ランドに当接するものであった。
A pair of positioning bins 505 and guide bins 510 are provided on the pedestal 512 for positioning the printed circuit board 504 and the contactor unit 501, respectively.
03 or each contact land.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来例では、プリント基板の位置決めを受台に設け
られた一対の位置決めビンにより行ない、接触子ユニッ
トの位置決めを受台に設けられたガイドピンにより行な
っている。このため、プリント基板および接触子ユニッ
トは受台を共通の基準として位置決めされることになる
In the conventional example described above, the printed circuit board is positioned by a pair of positioning bins provided on the pedestal, and the contactor unit is positioned by guide pins provided on the pedestal. Therefore, the printed circuit board and the contactor unit are positioned using the pedestal as a common reference.

近年用いられるプリント基板の接触ランドには接触ラン
ド間が狭ピッチ化され、多数化された高密度配線のもの
も多い。このような電子部品が高密度実装されている部
分においては、上記のようなプリント基板および接触子
ユニットの位置決め方法では誤差か大きくなり、各接触
子か対応する接触ランドに確実に接触することができな
いという欠点がある。
Many of the contact lands of printed circuit boards used in recent years have narrower pitches between the contact lands and have a larger number of high-density wirings. In areas where such electronic components are mounted at a high density, the positioning method of the printed circuit board and contact unit as described above will result in large errors, making it difficult for each contact to reliably contact its corresponding contact land. The drawback is that it cannot be done.

本発明は上記従来技術が有する欠点に鑑みてなされたも
のであって、プリント基板に実装される電子部品の種類
にかかわらずに取付状態の試験を行なうことのできる電
子部品の取付状態試験装置を実現することを目的とする
The present invention has been made in view of the drawbacks of the above-mentioned prior art, and provides an electronic component mounting condition testing device capable of testing the mounting condition regardless of the type of electronic component mounted on a printed circuit board. The aim is to realize this.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の電子部品の取付状態試験装置は。 The present invention provides an electronic component installation state testing device.

プリント基板上に実装された電子部品の取付状態を、前
記プリント基板上に実装される電子部品の実装位置に応
じた所定の複数の部位に接触子がそれぞれ配設された接
触子ユニットを用いて試験する電子部品の取付状態試験
装置において、プリント基板の上面には所定の基準とな
る位置決め手段が設けられ、 接触子ユニットは、前記プリント基板と共通の基準によ
り位置決めされる接触子ユニット本体と、該接触子ユニ
ット本体と独立に移動可能であり、プリント基板上に設
けられた位置決め手段により位置決めされる可動接触子
ユニットから構成されている。
The mounting state of the electronic components mounted on the printed circuit board is checked using a contact unit in which contacts are respectively arranged at a plurality of predetermined locations according to the mounting positions of the electronic components mounted on the printed circuit board. In the installation state testing device for electronic components to be tested, positioning means is provided on the upper surface of the printed circuit board as a predetermined reference, and the contact unit has a contact unit main body that is positioned according to a common reference with the printed circuit board; It is composed of a movable contact unit that is movable independently of the contact unit main body and is positioned by positioning means provided on the printed circuit board.

〔作  用〕[For production]

接触子ユニット本体と独立に移動可能な可動接触子ユニ
ットは、プリント基板上に設けられた位置決め手段によ
り位置決めされる。これにより可動接触子ユニットに設
けられた接触子は接触子ユニット本体に設けられた接触
子と比較すると極めて高精度な位置決めにてプリント基
板の実装位置に接触することになり、電子部品か高密度
実装されても確実に接触することかできる。
The movable contact unit, which is movable independently of the contact unit main body, is positioned by positioning means provided on the printed circuit board. As a result, the contacts installed on the movable contact unit come into contact with the mounting position of the printed circuit board with extremely high precision positioning compared to the contacts installed on the contact unit main body. Even when mounted, contact can be made reliably.

〔実 施 例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図(a)は本発明の第1の実施例の構成を示す斜視
図であり、第1図(b)はその接触部の構造を示す縦断
面図である。
FIG. 1(a) is a perspective view showing the structure of a first embodiment of the present invention, and FIG. 1(b) is a longitudinal sectional view showing the structure of the contact portion.

第1図(a)中、101は接触子ユニット本体、102
は接触子ユニット本体101とともに接触子ユニットを
構成する可動接触子ユニット、103は接触子ユニット
本体101および可動接触子ユニット102にそれぞれ
複数設けらた接触子、104は電子部品が実装され、そ
の取付状態か試験されるプリント基板、105は受台1
13に突設されたプリント基板104を設置する際の位
置決めを行なうための位置決めピン、106は各接触子
103と接続し、電子部品の取付状態を判定する電子回
路ブロック、107は各接触子103と電子回路ブロッ
ク106とをそれぞれ結ぶ複数の信号線、111は接触
子ユニット本体101を図中のZ方向に上下移動させる
際のガイドとなり、受台113の4隅に4本設けられた
ガイドピン、112は可動接触子ユニット102を接触
子ユニット本体101に係止するための押え板、113
はプリント基板104を設置する受台である。
In FIG. 1(a), 101 is the contactor unit body, 102
103 is a movable contact unit that constitutes a contact unit together with the contact unit main body 101; 103 is a plurality of contacts provided in the contact unit main body 101 and the movable contact unit 102; and 104 is an electronic component mounted thereon; Printed circuit board to be tested for condition, 105 is pedestal 1
Positioning pins protruding from 13 are used to position the printed circuit board 104 when installing it; 106 is an electronic circuit block that connects with each contact 103 and determines the mounting state of the electronic component; 107 is an electronic circuit block that connects each contact 103; A plurality of signal lines 111 connect the electronic circuit block 106 and the contactor unit body 101, and serve as guides when moving the contactor unit body 101 up and down in the Z direction in the figure. , 112 is a holding plate for locking the movable contact unit 102 to the contact unit main body 101; 113;
is a pedestal on which the printed circuit board 104 is installed.

本実施例において、位置決めピン105およびガイドピ
ン111は受台113上に設けられ、プリント基板10
4は位置決めビン105により位置決めぎわ、接触子ユ
ニット本体101はカイトピン111により位置決めさ
れる。矩形平板上の可動接触子ユニット102は、電子
部品が高密度実装された部分の試験を行なうためのもの
て、その四辺のそれぞれ略中央部にて接触子ユニット本
体101に固設される各押え板112により上下にて挟
持され、接触子ユニット本体101に設けられた矩形状
の切欠き部分に充当される。この8押え板102により
挟まれる接触子ユニット本体101と可動接触子ユニッ
ト102の周辺の間には第1図(b)に示すようにばね
108がそれぞわ内蔵されているため、可動接触子ユニ
ット102は水平方向である図中のXY力方向微動自在
とされている。
In this embodiment, the positioning pin 105 and the guide pin 111 are provided on the pedestal 113, and the printed circuit board 10
4 is a positioning edge by a positioning bin 105, and the contactor unit main body 101 is positioned by a kite pin 111. The movable contact unit 102 on a rectangular flat plate is used to test parts where electronic components are mounted at high density. It is held between the upper and lower sides of the plate 112 and is applied to a rectangular notch provided in the contactor unit main body 101. As shown in FIG. 1(b), springs 108 are built in between the contact unit main body 101 sandwiched between the eight holding plates 102 and the movable contact unit 102, so that the movable contact The unit 102 is slightly movable in the XY force directions in the figure, which are horizontal directions.

可動接触子ユニット102の下部には、先端か円錐状に
形成された位置決めプローブ109が下方に向けて2本
設けられている。各位置決めプローブ109に対応する
位置のプリント基板104には位置決めプローブ109
の直径よりもやや大きめの位置決め手段である基準穴1
10がそれぞれ設けられ、各位置決めプローブ109に
対応する位置の受台113には基準穴110よりも大き
な径の凹部114がそれぞれ設けられている。
At the bottom of the movable contactor unit 102, two positioning probes 109 each having a conical tip are provided facing downward. A positioning probe 109 is attached to the printed circuit board 104 at a position corresponding to each positioning probe 109.
Reference hole 1 is a positioning means that is slightly larger than the diameter of
10 are respectively provided, and a recess 114 having a larger diameter than the reference hole 110 is provided in the pedestal 113 at a position corresponding to each positioning probe 109.

次に、本実施例を用いて電子部品の取付状態を試験する
際の動作について説明する。
Next, a description will be given of the operation when testing the mounting state of electronic components using this embodiment.

試験者かプリント基板104を受台113上に各位置決
めビン105に合わせて設置し、接触子ユニット本体1
01を各接触子103がプリント基板104上の各接触
ランドにそわぞれ接触するように下方向に移動させると
、接触子ユニット本体101に取付けらねた各接触子1
03は位置決めビン5によって位置決めされたプリント
基板104上の各接触ランドにそれぞれ接触する。
The tester places the printed circuit board 104 on the pedestal 113 in alignment with each positioning bin 105, and then attaches the contact unit main body 1.
01 downward so that each contact 103 comes into contact with each contact land on the printed circuit board 104, each contact 1 that was not attached to the contact unit main body 101
03 contacts each contact land on the printed circuit board 104 positioned by the positioning pin 5.

方、可動接触子ユニット102に取付けられた各接触子
103は、プリント基板104上に設けられた各基準穴
110に各位置決めプローブ109が入り込むことによ
って、位置決めされ、高密度実装された電子部品の各接
触ランドに接触する。
On the other hand, each contactor 103 attached to the movable contactor unit 102 is positioned by each positioning probe 109 entering each reference hole 110 provided on the printed circuit board 104, and the electronic components mounted at high density are positioned. Contact each contact land.

試験者はすべての接触子103が各接触ランドに接触し
たことを確認した後に、電子回路ブロック106による
取付状態の判定を行なう。
After confirming that all the contacts 103 have contacted each contact land, the tester judges the attachment state using the electronic circuit block 106.

第2図は電子回路ブロック106の構成を示すブロック
図である。
FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of the electronic circuit block 106.

電子回路ブロック106は、処理判定部であるCPU1
06.と測定用信号源出力部1062と測定系1063
とにより構成されている。CPU106□は、電圧源お
よび電流源を備えた測定用信号源出力部1062に電子
部品の取付状態を試験するための所定の試験信号を出力
させる。該試験信号は信号線1072:tよび各接触子
103を介してプリント基板104上の所定の接触ラン
ドへ送出される。この試験信号の通過状態を示す信号は
、再度所定の各接触子103および信号線107を通っ
て入力信号の電圧測定や電流測定を行なう測定系106
3に入力される。CPU1061は、測定系1063が
出力する測定結果を示す信号により各電子部品の取付状
態を判定し、その結果を不図示の表示部に表示する。
The electronic circuit block 106 includes a CPU 1 which is a processing determination section.
06. and measurement signal source output section 1062 and measurement system 1063
It is composed of. The CPU 106□ causes the measurement signal source output section 1062, which includes a voltage source and a current source, to output a predetermined test signal for testing the mounting state of the electronic component. The test signal is sent to a predetermined contact land on the printed circuit board 104 via the signal line 1072:t and each contact 103. The signal indicating the passing state of the test signal is passed through each predetermined contactor 103 and signal line 107 again to the measurement system 106 which measures the voltage and current of the input signal.
3 is input. The CPU 1061 determines the attachment state of each electronic component based on the signal indicating the measurement result output by the measurement system 1063, and displays the result on a display section (not shown).

本実施例においては、受台113に設けられた位置決め
ビン105により位置決めされたプリント基板104の
各接触ランドに対して、接触子ユニット本体1に設けら
れた各接触子103は受台113に設けられたガイドビ
ン111により位置決めされるものとし、電子部品が高
密度実装された部分の取付状態を試験するための可動接
触子ユニット102に設けられた各接触子103は、プ
リント基板104に設けられた基準穴110にて位置決
めされるものとしたのて、すへての接触子103をプリ
ント基板104上の各接触ランドに確定に接触させるこ
とができた。
In this embodiment, each contact 103 provided on the contactor unit body 1 is provided on the pedestal 113 for each contact land of the printed circuit board 104 that is positioned by the positioning bin 105 provided on the pedestal 113. Each contactor 103 provided on a movable contactor unit 102 for testing the mounting state of a portion where electronic components are mounted at high density is provided on a printed circuit board 104. Assuming that the contacts 103 were positioned using the reference holes 110, it was possible to bring all the contacts 103 into reliable contact with each contact land on the printed circuit board 104.

第3図(a)は本発明の第2の実施例の構成を示す上面
図、第3図(b)はその縦断面図である。
FIG. 3(a) is a top view showing the structure of a second embodiment of the present invention, and FIG. 3(b) is a longitudinal sectional view thereof.

第1の実施例か可動接触子ユニット102をばね力を用
いて水平方向(XY力方向に微動自在とされていたのに
対し、本実施例てはモータ等の駆動装置を介して微動さ
せるものである。
In contrast to the first embodiment in which the movable contact unit 102 can be moved slightly in the horizontal direction (XY force direction) using spring force, in this embodiment, the movable contact unit 102 is moved slightly through a drive device such as a motor. It is.

図中、接触子ユニット本体301、可動接触子ユニット
302、接触子303、プリント基板304、位置決め
ビン305、ガイドピン311、受台313はそれぞれ
第1図(a)。
In the figure, a contactor unit main body 301, a movable contactor unit 302, a contactor 303, a printed circuit board 304, a positioning pin 305, a guide pin 311, and a pedestal 313 are shown in FIG. 1(a).

(b)中の接触子ユニット本体101、可動接触子ユニ
ット102、接触子103、プリント基板104、位置
決めビン105、ガイドピン111、受台113と略同
様のものであるため、説明は省略する。
The contactor unit main body 101, movable contactor unit 102, contactor 103, printed circuit board 104, positioning bin 105, guide pin 111, and pedestal 113 in (b) are substantially the same, so their explanation will be omitted.

本実施例では可動接触子ユニット302は直交する2辺
のそれぞれの略中央部にて、駆動装置314 + 、 
3142により接触子ユニット本体30】と連結さね、
これと対向する各辺のそれそわの略中央付近にて水平方
向駆動用カイト319□、319□により接触子ユニッ
ト本体301と連結されている。駆動装置314.は可
動接触子ユニット302のY方向の駆動を行ない、駆動
装置3142は可動接触子ユニット302のX方向の駆
動を行なう。これらの各駆動装置314□、314□に
対向して設けけられる各水平方向駆動用カイ)”319
1.319□は上記xY方向に連通ずるガイド軸を形成
するものであるため、可動接触子ユニット302は各駆
動装置314.,314□の駆動によりXY力方向移動
する。
In this embodiment, the movable contactor unit 302 has drive devices 314 + ,
Connected to the contactor unit body 30 by 3142,
It is connected to the contact unit main body 301 by horizontal driving kites 319□, 319□ near the approximate center of each side facing this. Drive device 314. drives the movable contact unit 302 in the Y direction, and the drive device 3142 drives the movable contact unit 302 in the X direction. Each horizontal drive chi)"319 provided opposite each of these drive devices 314□, 314□
1.319□ forms a guide shaft that communicates in the x and Y directions, so the movable contact unit 302 is connected to each drive device 314. , 314□ moves in the XY force direction.

上記各駆動装置314+ 、3142の駆動はこ九らと
信号線307を介して接続される水平方向駆動用電子回
路ブロック316により行なわれる。
The respective driving devices 314+ and 3142 are driven by a horizontal driving electronic circuit block 316 connected to these devices via a signal line 307.

プリント基板304上の電子部品か高密度実装される部
分には、位置決め手段である基準マーク318か設けら
れ、可動接触子ユニット302の上記基準マーク318
に概ね対応する部分には基準マーク318を検出するた
めのCCDカメラ315が設けられている。電子回路ブ
ロック316は、上記のように各駆動装置314.。
A reference mark 318 serving as a positioning means is provided on a portion of the printed circuit board 304 where electronic components are mounted in high density.
A CCD camera 315 for detecting a reference mark 318 is provided at a portion roughly corresponding to . Electronic circuit block 316 connects each drive device 314 . .

314□と接続するとともにCCDカメラ315と接続
するもので、CCDカメラ315より得られる画像情報
を用いて各駆動装置314゜3142の駆動を行ない、
可動接触子ユニット302の位置制御を行なう。
314□ and a CCD camera 315, and uses image information obtained from the CCD camera 315 to drive each of the drive devices 314° and 3142.
The position of the movable contact unit 302 is controlled.

第4図は水平方向駆動用電子回路ブロック316の構成
を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the horizontal drive electronic circuit block 316.

水平方向駆動用電子回路316は、位置を判定し、各駆
動装置314.,3142をコントロールするためのC
PU31 s、とCCDカメラ315からの画像信号を
取込み、CPO316゜へ送出する画像信号取込み部3
16□とCPU3161からの制御信号に応して各駆動
装置314+ 、 3142に駆動信号を出力する駆動
系制御部3163より構成されている。
Horizontal drive electronics 316 determine the position and position of each drive device 314 . , 3142 to control
An image signal capture unit 3 captures image signals from the PU 31s and the CCD camera 315 and sends them to the CPO 316°.
16□ and a drive system control section 3163 that outputs drive signals to each of the drive devices 314+ and 3142 in response to control signals from the CPU 3161.

プリント基板304上に設けられた基準マーク318は
CCDカメラ315により捕らえられ、画像信号取込部
3162を介してCPU316゜に送出される。CPU
316.ではその撮像位置から現在の可動接触子ユニッ
ト302の位置を測定、演算し、可動接触子ユニット3
02か適正な位置に位置決めされるように駆動系制御部
3163を介して各駆動装置314.,314゜を駆動
する。これにより、可動接触子ユニット302に設けら
れだ各接触子302は、プリント基板304上に設けら
れた基準マーク318にて位置決めされることとなり、
電子部品が高密度実装されている部分においても確実に
各接触ランドに接触することかてきる。この後、第3図
(a)、(b)中には不図示であるが、第1の実施例と
同様の各接触子303と接続されて電子部品の実装状態
を判定する電子回路ブロックにより試験か行なわれる。
A reference mark 318 provided on the printed circuit board 304 is captured by a CCD camera 315 and sent to the CPU 316° via an image signal acquisition section 3162. CPU
316. Then, the current position of the movable contact unit 302 is measured and calculated from the imaging position, and the position of the movable contact unit 302 is calculated.
Each drive device 314 . , 314°. As a result, each contact 302 provided in the movable contact unit 302 is positioned by the reference mark 318 provided on the printed circuit board 304.
Even in areas where electronic components are mounted at high density, each contact land can be reliably contacted. After this, although not shown in FIGS. 3(a) and 3(b), an electronic circuit block is connected to each contactor 303 similar to the first embodiment to determine the mounting state of the electronic component. An exam will be conducted.

なお、以上述べた各実施例において、接触子ユニット本
体の上下動に関しては特に詳しく説明しなかったか、第
1の実施例のものは接触子ユニット本体101か下がる
につれて位置決めプローブ109か基準穴に入り込むた
め、手動、自動のいずれのものでもよい。第2の実施例
のものは可動接触子ユニット302か水平方向に移動す
るものであるので、自動化されたものか好ましい。
In each of the embodiments described above, the vertical movement of the contactor unit body was not explained in detail, or in the first embodiment, as the contactor unit body 101 lowers, the positioning probe 109 enters the reference hole. Therefore, it can be either manual or automatic. In the second embodiment, since the movable contactor unit 302 moves in the horizontal direction, it is preferable that it be automated.

上記いずれの実施例においても自動化される場合には、
各接触子か各接触ランドに接触した際の圧力を検出して
)降が停止されるように構成することにより、適正な圧
力にて試験を行なうことが可能となり、試験の信頼性を
向上することができ、このように構成してもよい。
In the case of automation in any of the above embodiments,
By detecting the pressure when each contactor contacts each contact land and stopping the drop, it is possible to perform tests at appropriate pressures, improving test reliability. can be configured in this way.

また、各実施例において可動接触子ユニットおよびプリ
ント基板上に設けられる位置決め手段は接触子ユニット
本体に1つずつ設けられているが、これらは試験を行な
うプリント基板の実装状態に応して複数のものとしても
当然よい。
In addition, in each embodiment, the positioning means provided on the movable contact unit and the printed circuit board are provided one each on the contact unit body, but these may be arranged in multiple positions depending on the mounting state of the printed circuit board to be tested. Of course it's good as a thing.

〔発明の効果) 本発明は以上説明したように構成されているので、以下
に記載するような効果を奏する。
[Effects of the Invention] Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.

接触子ユニット本体と独立に移動可能であり、プリント
基板上に設けられた位置決め手段によって位置決めされ
る可動接触子ユニットを設けたことにより、上面に多数
の接触ランドか設けられ、1つの基準では各接触子と各
接触ランドとに位置誤差が生じるような位置決めが困難
なプリント基板であっても、プリント基板をブロック化
し、各ブロック毎に最適な基準による位置決めか可能と
なるので、各接触子と各接触ランドとを確実に接触させ
ることがてき、自動位置決めを容易にすることができる
効果がある。
By providing a movable contact unit that is movable independently of the contact unit body and positioned by positioning means provided on the printed circuit board, a large number of contact lands are provided on the top surface, and each Even if the printed circuit board is difficult to position because there is a positional error between the contact and each contact land, it is possible to divide the printed circuit board into blocks and position each block using the optimal standard. Each contact land can be brought into reliable contact with the contact land, and automatic positioning can be facilitated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(a)および第1図(b)はそわぞれ本発明の第
1の実施例の構成を示す斜視図および縦断面図、第2図
は第1図(a)中の電子回路ブロック106の構成を示
すブロック図、第3図(a)および第3図(b)はそわ
ぞれ本発明の第2の実施例の構成を示す上面図および縦
断面図、第4図は第3図(a)、(b)中の水平方向駆
動用電子回路ブロック316の構成を示すブロック図、
第5図は従来例の構成を示す縦断面図である。 101.301・・・接触子ユニット本体、102.3
02・・・可動接触子ユニット、103.303−・接
触子、 104.304・・・プリント基板、 105.305−・・位置決めビン、 106−・・電子回路ブロック、 106、.316−・・CPU、 1062・・・測定用信号源出力部、 1063−・・測定系、 107.317・・・信号線、 108−・ばね、 109・・・位置決めプローブ、 i i o −・・基準穴、 111311−・・ガイドビン、 112−・・押え板、 3.313−・・受台、 4−・凹部、 4、.3142−・・駆動装置、 5・・・CCDカメラ、 6・・・水平方向駆動用電子回路ブロック、8・・・基
準マーク、 9、.3192・・・水平方向駆動用ガイド。 特許出願人  キャノン株式会社 代 理 人  弁理士 若株 忠 第2図
1(a) and 1(b) are a perspective view and a vertical sectional view showing the configuration of a first embodiment of the present invention, respectively, and FIG. 2 is an electronic circuit in FIG. 1(a). A block diagram showing the configuration of the block 106, FIGS. 3(a) and 3(b) are a top view and a vertical sectional view showing the configuration of the second embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the second embodiment of the present invention. A block diagram showing the configuration of the horizontal drive electronic circuit block 316 in FIGS. 3(a) and 3(b),
FIG. 5 is a longitudinal sectional view showing the structure of a conventional example. 101.301...Contact unit body, 102.3
02...Movable contact unit, 103.303--Contact, 104.304--Printed circuit board, 105.305--Positioning bin, 106--Electronic circuit block, 106,. 316--CPU, 1062--Measurement signal source output section, 1063--Measurement system, 107.317--Signal line, 108--Spring, 109--Positioning probe, io-- -Reference hole, 111311--Guide bin, 112--Press plate, 3.313--Scraper, 4--Concave portion, 4,. 3142--Drive device, 5-CCD camera, 6-Horizontal drive electronic circuit block, 8-Reference mark, 9, . 3192...Horizontal drive guide. Patent applicant Canon Co., Ltd. Representative Patent attorney Tadashi Wakabu Figure 2

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、プリント基板上に実装された電子部品の取付状態を
、前記プリント基板上に実装される電子部品の実装位置
に応じた所定の複数の部位に接触子がそれぞれ配設され
た接触子ユニットを用いて試験する電子部品の取付状態
試験装置において、前記プリント基板の上面には所定の
基準となる位置決め手段が設けられ、 前記接触子ユニットは、前記プリント基板と共通の基準
により位置決めされる接触子ユニット本体と、該接触子
ユニット本体と独立に移動可能であり、前記プリント基
板上に設けられた位置決め手段により位置決めされる可
動接触子ユニットから構成されていることを特徴とする
電子部品の取付状態試験装置。
[Scope of Claims] 1. The mounting state of the electronic components mounted on the printed circuit board is determined by arranging contacts at a plurality of predetermined positions corresponding to the mounting positions of the electronic components mounted on the printed circuit board. In the mounting state testing device for electronic components that tests using a contactor unit, the upper surface of the printed circuit board is provided with a positioning means serving as a predetermined reference, and the contactor unit has a common reference with the printed circuit board. and a movable contact unit that is movable independently of the contact unit body and is positioned by a positioning means provided on the printed circuit board. Equipment for testing the installation condition of electronic components.
JP2106499A 1990-04-24 1990-04-24 Fixed state tester for electronic component Pending JPH046475A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0421973U (en) * 1990-06-14 1992-02-24
JP2013029363A (en) * 2011-07-27 2013-02-07 Icom Inc Support mechanism for inspection probe
US10577845B2 (en) 2016-06-14 2020-03-03 Dr. Ing. H.C. F. Porsche Aktiengesellschaft Closure device for closing an access opening in a motor vehicle body

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