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JPH04343359A - 感放射線性樹脂組成物 - Google Patents

感放射線性樹脂組成物

Info

Publication number
JPH04343359A
JPH04343359A JP14276291A JP14276291A JPH04343359A JP H04343359 A JPH04343359 A JP H04343359A JP 14276291 A JP14276291 A JP 14276291A JP 14276291 A JP14276291 A JP 14276291A JP H04343359 A JPH04343359 A JP H04343359A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resin
mol
group
carbon number
formula
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP14276291A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshiyuki Ota
利幸 大田
Katsumi Inomata
克巳 猪俣
Yoshitsugu Isamoto
勇元 喜次
Takao Miura
孝夫 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
Japan Synthetic Rubber Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Japan Synthetic Rubber Co Ltd filed Critical Japan Synthetic Rubber Co Ltd
Priority to JP14276291A priority Critical patent/JPH04343359A/ja
Publication of JPH04343359A publication Critical patent/JPH04343359A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は  感放射線性樹脂組成
物に関する。さらに詳しくは、紫外線、遠紫外線、X線
、電子線、分子線、γ線、シンクロトロン放射線、プロ
トンビ−ム等の放射線に感応する、高集積回路作成用レ
ジストとして好適な感放射線性樹脂組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】ポジ型レジストは、高解像度のレジスト
パターンを与えるので、集積回路の製造において多く用
いられているが、近年における集積回路の高集積化に伴
って、より解像度の向上したレジストパターンを形成で
きるポジ型レジストが望まれている。
【0003】ポジ型レジストによって微細なレジストパ
ターンを形成するためには、放射線照射により形成され
る潜像をアルカリ性水溶液からなる現像液で現像する際
に、放射線照射部がウェハーと接している部分(パター
ンの裾)まで速やかに現像されることが必要となる。し
かしながら、従来のポジ型レジストの場合、形成すべき
レジストパターンの間隔が0.8μm以下になると、微
細なパターン、ホール等の露光量の少ない部分での現像
性およびパターン形状が不十分であった。
【0004】さらに集積回路の高集積化に伴って、ウェ
ハーのエッチング方式が、サイドエッチングの大きいウ
ェットエッチング方式から、サイドエッチングの小さい
ドライエッチング方式に移行している。このドライエッ
チング方式では、エッチング時に熱によりレジストパタ
ーンが変化しないことが必要とされるため、ポジ型レジ
ストに耐熱性のあることが要求される。しかしながら、
従来のポジ型レジストは、十分な耐熱性を備えていると
はいい難い。
【0005】
【発明が解決すべき課題】本発明の目的は感放射線性樹
脂組成物を提供することにある。本発明の他の目的は、
現像性に優れているとともに高感度であり、そして耐熱
性、解像度およびパターン形状に優れ、且つ高残膜率を
備えたポジ型レジストを与える感放射線性樹脂組成物を
提供することにある。本発明のさらに他の目的および利
点は以下の説明から明らかとなろう。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、本発明
の上記目的および利点は、 (A)アルカリ可溶性樹脂、および (B)下記一般式(1)
【0007】
【化2】
【0008】で表わされるフェノール化合物のキノンジ
アジドスルホン酸エステルの少なくとも1種、を含有す
ることを特徴とする感放射線性樹脂組成物によって達成
される。以下本発明の構成成分(A)および(B)につ
いて先ず記述する。
【0009】アルカリ可溶性樹脂(A):本発明におい
て用いられるアルカリ可溶性樹脂(以下、「樹脂(A)
」と称する)としては、例えばノボラック樹脂、レゾー
ル樹脂、ポリビニルフェノールもしくはその誘導体、ス
チレン−無水マレイン酸共重合体、ポリビニルヒドロキ
シベンゾエート、カルボキシル基含有メタアクリル酸系
樹脂等を挙げることができ、特にノボラック樹脂が好適
に使用される。またノボラック樹脂のうちでも下記一般
式(3)、
【0010】
【化3】
【0011】で表わされるフェノール類とアルデヒド類
とを重縮合することによって得られるものが好適である
【0012】前記好適なフェノール類としては、例えば
o−クレゾール、m−クレゾール、p−クレゾール、2
,3−キシレノール、2,5−キシレノール、3,4−
キシレノール、3,5−キシレノール、2,3,5−ト
リメチルフェノール、3,4,5−トリメチルフェノー
ル等を挙げることができる。これらのうち、o−クレゾ
ール、m−クレゾール、p−クレゾール、2,5−キシ
レノール、3,5−キシレノールおよび2,3,5−ト
リメチルフェノールが好ましい。さらに好ましくは、m
−クレゾール/3,5−キシレノール/ p−クレゾー
ル=95/5/0〜20/80/25(モル比)の混合
物およびm−クレゾール/2,3,5−トリメチルフェ
ノール/p−クレゾール=95/5/0〜30/70/
65(モル比)の混合物である。これらのフェノール類
は、上記のように単独でまたは2種以上を組み合わせて
用いられる。
【0013】また、上記フェノール類と重縮合させるア
ルデヒド類としては、例えばホルムアルデヒド、トリオ
キサン、パラホルムアルデヒド、ベンズアルデヒド、ア
セトアルデヒド、プロピルアルデヒド、フェニルアセト
アルデヒド、α−フェニルプロピルアルデヒド、β−フ
ェニルプロピルアルデヒド、o−ヒドロキシベンズアル
デヒド、m−ヒドロキシベンズアルデヒド、p−ヒドロ
キシベンズアルデヒド、o−クロロベンズアルデヒド、
m−クロロベンズアルデヒド、p−クロロベンズアルデ
ヒド、o−ニトロベンズアルデヒド、m−ニトロベンズ
アルデヒド、p−ニトロベンズアルデヒド、o−メチル
ベンズアルデヒド、m−メチルベンズアルデヒド、p−
メチルベンズアルデヒド、p−エチルベンズアルデヒド
、p−n−ブチルベンズアルデヒド、p−t−ブチルベ
ンズアルデヒド、フルフラール等を挙げることができる
。特にホルムアルデヒドを好適に用いることができる。 これらのアルデヒド類も単独でまたは2種以上を組み合
わせて用いることができる。
【0014】上記アルデヒドの使用量は、フェノール類
1モルに対し、0.7〜3モルが好ましく、より好まし
くは0.8〜1.5モルである。
【0015】フェノール類とアルデヒド類との重縮合に
は、通常、酸性触媒が使用される。該酸触媒としては、
例えば塩酸、硝酸、硫酸、ギ酸、シュウ酸、酢酸等を挙
げることができる。これらの酸性触媒の使用量は、通常
、フェノ−ル類1モルに対し、1×10−5〜5×10
−1モルである。
【0016】重縮合においては、通常、反応媒質として
水が用いられるが、重縮合に用いられるフェノ−ル類が
アルデヒド類の水溶液に溶解せず、反応初期から不均一
系になる場合は、反応媒質として親水性溶媒を使用する
こともできる。これらの親水性溶媒としては、例えばメ
タノ−ル、エタノ−ル、プロパノ−ル、ブタノ−ル等の
アルコ−ル類;およびテトラヒドロフラン、ジオキサン
等の環状エ−テル類が挙げられる。これらの反応媒質の
使用量は、通常、反応原料100重量部当り、20〜1
,000重量部である。
【0017】重縮合の温度は、反応原料の反応性に応じ
て、適宜調整することができるが、通常10〜200℃
、好ましくは70〜150℃である。
【0018】重縮合の方法としては、例えばフェノール
類、アルデヒド類、酸性触媒等を一括して仕込む方法、
および酸性触媒の存在下にフェノール類、アルデヒド類
等を反応の進行とともに加えて行く方法を採用すること
ができる。
【0019】重縮合反応終了後、系内に存在する未反応
原料、酸性触媒、反応媒質等を除去するために、一般的
には、反応系の温度を130℃〜230℃に上昇させ、
減圧下、例えば20〜50mmHg程度で揮発分を留去
する。その後樹脂(A)を回収する。
【0020】また本発明において用いる樹脂(A)は、
ポリスチレン換算重量平均分子量(以下、「Mw」と称
する)が2,000〜20,000であることが好まし
く、3,000〜15,000であることがさらに好ま
しい。Mwが20,000を超えると、本発明の組成物
をウェハー等に均一に塗布することが困難な場合があり
、さらに現像性および感度が低下する傾向がみられ、ま
たMwが2,000未満であると、耐熱性が低下する傾
向がある。
【0021】なお、Mwの高い樹脂(A)を得るために
は、樹脂(A)を、エチルセロソルブアセテート、ジオ
キサン、メタノール、酢酸エチル等の良溶媒に溶解した
のち、水、n−ヘキサン、n−ヘプタン等の貧溶媒を混
合し、次いで析出する樹脂溶液層より、高分子量の樹脂
(A)を回収すればよい。
【0022】本発明の組成物においては、樹脂(A)は
、1種単独で配合されていても良いし、また2種以上の
組合せで配合されていてもよい。また、樹脂(A)のア
ルカリ溶解性を促進する等の目的で、低分子量のフェノ
ール化合物を溶解促進剤として使用することもできる。 この低分子量のフェノール化合物としては、ベンゼン環
数が2〜6程度のフェノール化合物が好適であり、特に
限定されるものではないが、下記式で表わされる化合物
を例示することができる。
【0023】
【化4】
【0024】また溶解促進剤として、低分子量アルカリ
可溶性ノボラック樹脂または低分子量アルカリ可溶性レ
ゾール樹脂(以下これらを単に「樹脂(B)」と称する
)を使用することもできる。
【0025】ここで樹脂(B)は、フェノ−ル類とアル
デヒド類の重縮合によって得られるが、フェノール類と
しては、前記ノボラック樹脂の合成に用いられるフェノ
−ル類として例示したものの他、フェノール、1−ナフ
ト−ル、2−ナフト−ル等を使用するこどができる。ま
たアルデヒド類としても、前記ノボラック樹脂の合成に
用いられるものを使用することができる。アルデヒド類
の使用量は、フェノ−ル類1モルに対して、0.1〜3
モルが好ましく、より好ましくは0.2〜1.5モルで
ある。またこの重縮合においては、酸性触媒の他、アル
カリ性触媒も用いることができる。
【0026】樹脂(B)のMwは、通常、2,000未
満であることが好ましく、200〜1,000であるこ
とが特に好ましい。このような樹脂(B)としては、フ
ェノ−ル/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、m−
クレゾール/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、p
−クレゾール/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂、
o−クレゾール/ホルムアルデヒド縮合ノボラック樹脂
、m−クレゾール/p−クレゾール/ホルムアルデヒド
縮合ノボラック樹脂等を挙げることができる。かかる溶
解促進剤の配合量は、通常、樹脂(A)100重量部当
り、50重量部以下、特に35重量部以下とすることが
好適である。
【0027】キノンジアジドスルホン酸エステル(B)
:本発明の組成物においては、前述した一般式(1)で
表わされるフェノール化合物(以下「化合物(B)」と
いう)のキノンジアジドスルホン酸エステルの少なくと
も1種が配合される。
【0028】この一般式(1)において、R1およびR
2は、同一もしくは異なり、水素原子または炭素数1〜
4のアルキル基から選択される基である。ここでアルキ
ル基としては、例えばメチル基、エチル基、n−プロピ
ル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基等
を挙げることができる。
【0029】さらに一般式(1)において、Qは、一般
式(2)で表わされる2価の基、2価の脂環式炭化水素
基または2価の芳香族炭化水素基である。一般式(2)
におけるR3およびR4は、同一もしくは異なり水素原
子、水酸基、炭素数1〜4のアルキル基または炭素数1
〜4のアルコキシ基のいずれかである。この炭素数1〜
4のアルキル基としては、上記R1およびR2に関して
例示した基を挙げることができる。また炭素数1〜4の
アルコキシ基としては、例えばメトキシ基、エトキシ基
、n−プロポキシ基、t−ブトキシ基等を挙げることが
できる。また、一般式(2)におけるnは、1〜10の
整数を示し、好ましくは、1〜5の整数である。
【0030】Qが示す2価の脂環式炭化水素基としては
、例えば1,3−シクロペンタメチレン基、1,3−シ
クロヘキサメチレン基、1,4−シクロヘキサメチレン
基、2,3−ノルボルニレン基、2,5−ノルボルニレ
ン基、2,6−ノルボルニレン基等を挙げることができ
る。
【0031】Qが示す2価の芳香族炭化水素基としては
、o−フェニレン基、m−フェニレン基、p−フェニレ
ン基、1,5−ナフチレン基、2,6−ナフチレン基、
2,7−ナフチレン基等を挙げることができ、特に好ま
しくはp−フェニレン基である。
【0032】また、一般式(1)において、X1〜X2
0は同一もしくは異なり、水素原子、水酸基、炭素数1
〜4のアルキル基または炭素数1〜4のアルコキシ基の
いずれかである。但し、X1〜X5の少なくとも1つ、
X6〜X10の少なくとも1つ、X11〜X15の少な
くとも1つおよびX16〜X20の少なくとも1つは水
酸基である。ここで炭素数1〜4のアルキル基としては
、R1およびR2に関して例示した基を挙げることがで
き、また炭素数1〜4のアルコキシ基としては、R3お
よびR4に関して例示した基を挙げることができる。
【0033】かかる化合物(B)の具体例としては、下
記式で表わされる化合物を例示することができる。
【0034】
【化5】
【0035】
【化6】
【0036】
【化7】
【0037】
【化8】
【0038】これらの化合物(B)は、例えばジカルボ
ニル化合物とフェノール類との酸性触媒による重縮合反
応により合成することができる。
【0039】本発明における化合物(B)のキノンジア
ジドスルホン酸エステルとしては、例えば化合物(B)
の1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン酸エス
テル、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸
エステル、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スルホ
ン酸エステル、2,1−ナフトキノンジアジド−4−ス
ルホン酸エステル、2,1−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸エステル等を挙げることができる。中でも
好ましいものは、1,2−ナフトキノンジアジド−4−
スルホン酸エステルおよび1,2−ナフトキノンジアジ
ド−5−スルホン酸エステルである。
【0040】キノンジアジドスルホン酸エステル(B)
は、例えば化合物(B)と1,2−ナフトキノンジアジ
ド−4−スルホニルクロリド、1,2−ナフトキノンジ
アジド−5−スルホニルクロリド等とのエステル化反応
により得ることができる。このエステル化反応の平均縮
合率[(エステル化されたフェノール性水酸基の数/反
応前のフェノール性水酸基の数)×100]は、通常、
20〜100%、好ましくは、40〜100%である。
【0041】これらのキノンジアジドスルホン酸エステ
ル(B)は、1種単独でも2種以上組み合わせても用い
ることができる。また、本発明の効果を損なわない範囲
において、他のキノンジアジドスルホン酸エステル、例
えば2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン、2,
3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェノン、3’
−メトキシ−2,3,4,4’−テトラヒドロキシベン
ゾフェノン、2,2’,5,5’−テトラメチルー2”
,4,4’−トリヒドロキシベンゾフェニルメタン、1
,1,1−トリス(4−ヒドロキフェニル)エタン、1
,1−ビス(4−ヒドロキフェニル)−1−フェニルエ
タン、1,1−ビス(4−ヒドロキフェニル)−4−[
1−(4−ヒドロキフェニル)−1−メチルエチル]−
1−フェニルエタン、2,4,4−トリメチル−2’,
4’,7−トリヒドロキシ−2−フェニルフラバン等の
1,2−ベンゾキノンジアジド−4−スルホン酸エステ
ル、1,2−ナフトキノンジアジド−4−スルホン酸エ
ステルまたは1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホン酸エステル等を併用することができる。
【0042】本発明の組成物中におけるキノンジアジド
スルホン酸エステルの含有割合は、樹脂(A)100重
量部当たり、好ましくは0.5〜90重量部、より好ま
しくは2〜50重量部である。
【0043】各種配合剤:本発明の組成物には、増感剤
、界面活性剤等の各種配合剤を配合することができる。 増感剤は、レジストの感度を向上させるために配合され
る。このような増感剤としては、例えば2H−ピリド−
(3,2−b)−1,4−オキサジン−3(4H)−オ
ン類、10H−ピリド−(3,2−b)−(1,4)−
ベンジチアジン類、ウラゾール類、ヒダントイン類、パ
ルビツール酸類、グリシン無水物類、1−ヒドロキシベ
ンゾトリアゾール類、アロキサン類、マレイミド類等が
挙げられる。これらの増感剤の配合量は、樹脂(A)1
00重量部に対し、通常50重量部以下である。
【0044】また界面活性剤は、組成物の塗布性や現像
性を改良するために配合される。このような界面活性剤
としては、例えばポリオキシエチレンラウリルエーテル
、ポリオキシエチレンオレイルエーテル、ポリオキシエ
チレンオクチルフェニルエーテル、ポリオキシエチレン
ノニルフェニルエーテル、ポリエチレングリコールジラ
ウレート、ポリエチレングリコールジステアレート、エ
フトップ  EF301,EF303,EF352(商
品名、新秋田化成社製)、メガファックス  F171
,F172,F173(商品名、大日本インキ社製)、
フロラード  FC430,FC431(商品名、住友
スリーエム社製)、アサヒガード  AG710,サー
フロン  S−382,SC−101,SC−102,
SC−103,SC−104,SC−105,SC−1
06(商品名、旭硝子社製)、オルガノシロキサンポリ
マーKP341(商品名、信越化学工業社製)、アクリ
ル酸系またはメタクリル酸系(共)重合体ポリフローN
o.75、No.95(商品名、共栄社油脂化学工業社
製)等が挙げられる。これらの界面活性剤の配合量は、
組成物の固形分100重量部当たり、通常、2重量部以
下である。
【0045】さらに本発明の組成物には、放射線照射部
の潜像を可視化させ、放射線照射時のハレーションの影
響を少なくするために、染料や顔料を配合することがで
き、また接着性を改善するために、接着助剤を配合する
こともできる。さらに必要に応じて保存安定剤、消泡剤
等も配合することができる。
【0046】組成物の調製およびパターン形成:本発明
の組成物は、前述した樹脂(A)および感光成分として
化合物(A)のキノンジアジドスルホン酸エステル(B
)ならびに前述した各種配合剤を、例えば固形分濃度が
20〜40重量%となるように溶剤に溶解させ、孔径0
.2μm程度のフィルターで濾過することによって有利
に調製される。
【0047】この際に用いられる溶剤としては、例えば
エチレングリコ−ルモノメチルエ−テル、エチレングリ
コ−ルモノエチルエ−テル、メチルセロソルブアセテ−
ト、エチルセロソルブアセテ−ト、ジエチレングリコ−
ルモノメチルエ−テル、ジエチレングリコ−ルモノエチ
ルエ−テル、プロピレングリコ−ルメチルエ−テルアセ
テ−ト、プロピレングリコ−ルプロピルエ−テルアセテ
−ト、トルエン、キシレン、メチルエチルケトン、シク
ロヘキサノン、2−ヒドロキシプロピオン酸エチル、2
−ヒドロキシ−2−メチルプロピオン酸エチル、エトキ
シ酢酸エチル、ヒドロキシ酢酸エチル、2−ヒドロキシ
−3−メチルブタン酸メチル、3−メトキシプロピオン
酸メチル、3−メトキシプロピオン酸エチル、3−エト
キシプロピオン酸エチル、3−エトキシプロピオン酸メ
チル、酢酸エチル、酢酸ブチル等を用いることができる
。これらの有機溶剤は単独で、または2種以上の組合せ
で使用される。
【0048】さらに、N−メチルホルムアミド、N,N
−ジメチルホルムアミド、N−メチルホルムアニリド、
N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミ
ド、N−メチルピロリドン、ジメチルスルホキシド、ベ
ンジルエチルエーテル、ジヘキシルエーテル、アセトニ
ルアセトン、イソホロン、カプロン酸、カプリル酸、1
−オクタノール、1−ノナノール、ベンジルアルコール
、酢酸ベンジル、安息香酸エチル、シュウ酸ジエチル、
マレイン酸ジエチル、γ−ブチロラクトン、炭酸エチレ
ン、炭酸プロピレン、フェニルセロソルブアセテ−ト等
の高沸点溶剤を添加することもできる。
【0049】本発明の組成物は、これを回転塗布、流し
塗布、ロ−ル塗布等によって、例えばシリコンウェハー
またはアルミニウム等が被覆されたウェハーに塗布する
ことによりレジスト層を形成し、所定のマスクパターン
を介して該レジスト層に放射線を照射し、現像液で現像
することによりパターンの形成が行われる。
【0050】また本発明の組成物は、ウェハー等の上に
該組成物を塗布し、プレベークおよび露光を行った後、
70〜140℃で加熱する操作を行い、その後に現像す
ることによって、本発明の効果をさらに向上させること
もできる。
【0051】なお、本発明の組成物の現像液としては、
例えば水酸化ナトリウム、水酸化カリウム、炭酸ナトリ
ウム、珪酸ナトリウム、メタ珪酸ナトリウム、アンモニ
ア水、エチルアミン、n−プロピルアミン、ジエチルア
ミン、ジ−n−プロピルアミン、トリエチルアミン、メ
チルジエチルアミン、ジメチルエタノ−ルアミン、トリ
エタノ−ルアミン、テトラメチルアンモニウムヒドロキ
シド、テトラエチルアンモニウムヒドロキシド、コリン
、ピロ−ル、ピペリジン、1,8−ジアザビシクロ(5
,4,0)−7−ウンデセン、1,5−ジアザビシクロ
−(4,3,0)−5−ノナン等のアルカリ性化合物を
、濃度が、例えば1〜10重量%となるように溶解して
なるアルカリ性水溶液が使用される。
【0052】また該現像液には、水溶性有機溶媒、例え
ばメタノ−ル、エタノ−ル等のアルコ−ル類や界面活性
剤を適量添加して使用することもできる。
【0053】このようなアルカリ性水溶液からなる現像
液を用いて現像を行った場合は、一般には引き続き水で
リンスを行う。
【0054】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明する
が、本発明はこれらの実施例によって、なんら制約され
るものではない。
【0055】なお、実施例中のMwの測定およびレジス
トの評価は、以下の方法により行ったものである。
【0056】Mw:東ソー社製GPCカラム(G200
0H6    2本、G3000H6  1本、G40
00H6  1本)を用い、流量1.5ml/分、溶出
溶媒テトラヒドロフラン、カラム温度40℃の分析条件
で、単分散ポリスチレンを標準とするゲルパーミエーシ
ョンクロマトグラフ法により測定した。
【0057】感度:ニコン社製−NSR−1505G4
D縮小投影露光機(レンズの開口数;0.45)で露光
時間を変化させ、波長436nmのg線を用いて露光を
行うか、または、ニコン社製NSR−1505i6A縮
小投影露光機(レンズ開口数;0.45)で露光時間を
変化させ、波長365nmのi線を用いて露光を行い、
ついでテトラメチルアンモニウムヒドロキシド2.4重
量%水溶液を現像液として用い、25℃で60秒間現像
し、水でリンスし、乾燥してウェハー上にレジストパタ
ーンを形成させ、0.6μmのライン・アンド・スペー
スパターン(1L1S)を1対1の幅に形成する露光時
間(以下、これを「最適露光時間」という)を求めた。
【0058】解像度:最適露光時間で露光した時に解像
されている最小のレジストパターンの寸法を測定した。
【0059】残膜率:最適露光時間における現像後のパ
ターンの厚さを現像前のレジスト膜の厚さで割り、この
値を100倍して%の単位をつけて表わした。
【0060】現像性:スカムや現像残りの程度を調べた
【0061】耐熱性:クリーンオーブン中にレジストパ
ターンを形成したウェハーを入れて、パターンが崩れ始
めたときの温度を測定した。
【0062】パターン形状:走査型電子顕微鏡を用い、
0.6μmのレジストパターンの現像後の方形状断面の
下辺Aと上辺Bを測定し、0.85≦B/A≦1である
場合を、パターン形状が良好であると判定した。但し、
パターン形状が裾を引いていたり逆テーパー状になって
いる場合は、B/Aが上記範囲に入っていても良好と判
断しない。
【0063】<樹脂(A)の合成>合成例1攪拌機、冷
却管および温度計を装着したフラスコに、  m−クレ
ゾール                      
  67.6g(0.63モル)  p−クレゾール 
                       31
.8g(0.29モル)37重量%ホルムアルデヒド水
溶液    107.1g(ホルムアルデヒド:1.3
2モル)
【0064】および   シュウ酸2水和物               
    1.33g(1.06×10−2モル)を仕込
み、フラスコ油浴に浸し、内温を100℃に保持して攪
拌しながら30分間重縮合を行ったのちに、  m−ク
レゾール                     
 17.5g(0.16モル)  p−クレゾール  
                      8.0
g(0.073モル)および   2,3,5−トリメチルフェノール      4
0.0g(0.29モル)を加えてさらに40分間重縮
合を行った。
【0065】次いで油浴温度を180℃まで上昇させ、
同時にフラスコ内の圧力を30〜50mmHgまで減圧
し、水、シュウ酸、未反応の原料等を除去した。次いで
溶融した樹脂を室温に戻して回収した。この樹脂を、樹
脂(A1)という。
【0066】合成例2 樹脂(A1)をエチルセロソルブアセテートに固形分が
20重量%になるように溶解したのち、この樹脂溶液の
重量に対し、2倍のメタノールおよび等量の水を加えて
攪拌し放置した。放置することにより2層に分離したの
ち、樹脂溶液層(下層)を取り出し、濃縮し、脱水し、
乾燥して樹脂を回収した。この樹脂を樹脂(A2)とい
う。
【0067】合成例3   オートクレーブに   m−クレゾール                
        69.2g(0.64モル)  3,
5−キシレノール                 
  19.5g(0.16モル)  37重量%ホルム
アルデヒド水溶液      58.4g      
  (ホルムアルデヒド:0.72モル)  シュウ酸
2水和物                     
 0.90g(7.14×10−3モル)  水   
                         
        54.4gおよび   ジオキサン                  
          228gを仕込み、オートクレー
ブを油浴に浸し、内温を130℃に保持して攪拌しなが
ら10時間重縮合を行い、反応後、室温まで戻し、内容
物をビーカーに取り出した。このビーカー中で2層に分
離したのち、下層を取り出し、濃縮し、脱水し、乾燥し
て樹脂を回収した。この樹脂を樹脂(A3)という。
【0068】合成例4     オートクレーブに     m−クレゾール              
          69.2g(0.64モル)  
2,3,5−トリメチルフェノール        2
1.8g(0.16モル)  37重量%ホルムアルデ
ヒド水溶液      61.0g        (
ホルムアルデヒド:0.75モル)  シュウ酸2水和
物                      6.
30g(0.05モル)  水           
                         
52.6gおよび   ジオキサン                  
          182gを仕込み、6時間重縮合
を行い、合成例3と同様にして樹脂を回収した。この樹
脂を樹脂(A4)という。
【0069】<樹脂(B)の合成>合成例5合成例1で
用いたのと同様なフラスコに、  m−クレゾール  
                    108.0
g(1.00モル)  37重量%ホルムアルデヒド水
溶液      24.3g        (ホルム
アルデヒド:0.75モル)および   シュウ酸2水和物               
       0.30g(2.40×10−3モル)
を仕込み、フラスコを油浴に浸し、内温を100℃に保
持しながら40分重縮合を行った。次いで、合成例1と
同様にして樹脂を回収した。この樹脂を樹脂(B1)と
いう。
【0070】<化合物(B)の合成>合成例6フェノー
ル94g(1.0モル)およびテレフタルアルデヒド6
.7g(0.05モル)を酢酸/塩酸=50ml/50
mlに溶解し、メルカプト酢酸2mlを加え、50℃で
13時間反応させた。反応後、約2lの水に反応溶液を
注ぎ、生成物を固化させた後、濾過で生成物を分離した
。次いで分離した生成物を水で洗浄した後、さらに熱ト
ルエンで洗浄し、乾燥させ、18.5g(収率67%)
のα,α,α’,α’−テトラ(4−ヒドロキシフェニ
ル)−p−キシレン(前記化合物(B)の例示中の構造
式5−16)を得た。この化合物を化合物(B1)とす
る。
【0071】合成例7 2,5−キシレノール36.7g(0.3モル)および
テレフタルアルデヒド13.4g(0.1モル)をトル
エンに溶解し、p−トルエンスルホン酸1水和物1.0
gを加え、5時間加熱還流させたのち、室温まで冷却し
析出物を濾過により回収した。その析出物を熱トルエン
で洗浄し、乾燥させ、α,α,α’,α’−テトラ(2
,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニル)−p−キシ
レン(前記化合物(B)の例示中の構造式5−18)を
得た。この化合物を化合物(B2)とする。
【0072】合成例8 2.5−キシレノール(30.5g)およびグルタルア
ルデヒド(25%水溶液)20g(0.05モル)を酢
酸/塩酸=70ml/80mlに溶解し、室温で5時間
反応させた。反応後、約2lの水に反応溶液を注ぎ、生
成物を固化させた後、濾過で生成物を分離した。分離し
た生成物を水で洗浄した後、さらに熱トルエンで洗浄し
、乾燥させ、24.0g(収率87%)の1,1,5,
5−テトラ(2,5−ジメチル−4−ヒドロキシフェニ
ル)−ペンタン(前記化合物(B)の例示中の構造式5
−6)を得た。この化合物を化合物(B3)とする。
【0073】合成例9 フェノール94g(1.0モル)、1.3−ジホルミル
シクロペンタン6.3g(0.05モル)を酢酸/塩酸
=50ml/50mlに溶解し、メルカプト酢酸2ml
を加え50℃で8時間反応させた。反応後、約2lの水
に溶液を注ぎ、生成物を固化させた後、濾過で生成物を
分離した。 分離した生成物を水で洗浄した後、さらに熱トルエンで
洗浄し、乾燥させ、14.6g(収率63%)の1,3
−ビス(ジ−4−ヒドロキシフェニルメチル)シクロペ
ンタン(前記化合物(B)の例示中の構造式5−10)
を得た。この化合物を化合物(B4)とする。
【0074】<キノンジアジドスルホン酸エステル(B
)の合成>合成例10   遮光下で、攪拌機、滴下ロートおよび温度計を装着
したフラスコに、  化合物(B1)        
  47.5g(0.1モル)  1,2−ナフトキノ
ンジアジド−5−スルホン酸クロリド        
                  80.6g(0
.3モル)および   ジオキサン              300g
を仕込み、攪拌しながら溶解させた。次いで、フラスコ
を30℃に保持した水浴中に浸し、内温が30℃一定と
なった時点で、この溶液に トリエチルアミン        33.6g(0.3
3モル)を、内温が35℃を超えないように滴下ロート
を用いてゆっくり滴下した。
【0075】その後、析出したトリエチルアミン塩酸塩
を濾過により取り除き、濾液を大量の希塩酸中に注ぎ込
んで析出させ、次いで、析出物を濾取し、40℃に保っ
た加熱真空乾燥機で一昼夜乾燥して反応生成物を得た。 この反応生成物をNQD1という。
【0076】合成例11   化合物(B1)          47.5g(
0.1モル)  1,2−ナフトキノンジアジド−4−
スルホン酸クロリド                
          67.2g(0.25モル)  
ジオキサン              300gおよ
び   トリエチルアミン        28.0g(0
.275モル)を用いたほかは、合成例10と同様にし
て反応生成物を得た。この反応生成物をNQD2という
【0077】合成例12   化合物(B2)          58.7g(
0.1モル)  1,2−ナフトキノンジアジド−5−
スルホン酸クロリド                
          73.9g(0.275モル) 
 ジオキサン              300gお
よび   トリエチルアミン        30.9g(0
.303モル)を用いたほかは、合成例10と同様にし
て反応生成物を得た。この反応生成物をNQD3という
【0078】合成例13   化合物(B3)          55.3g(
0.1モル)  1,2−ナフトキノンジアジド−5−
スルホン酸クロリド                
          80.6g(0.3モル)  ジ
オキサン              300gおよび   トリエチルアミン        33.6g(0
.33モル)を用いたほかは、合成例10と同様にして
反応生成物を得た。この化合物をNQD4という。
【0079】合成例14   化合物(B4)          46.7g(
0.1モル)  1,2−ナフトキノンジアジド−5−
スルホン酸クロリド                
          80.6g(0.3モル)  ジ
オキサン              300gおよび   トリエチルアミン        33.6g(0
.33モル)を用いたほかは、合成例10と同様にして
反応生成物を得た。この化合物をNQD5という。
【0080】<実施例1〜8、比較例1〜3>樹脂A、
キノンジアジドスルホン酸エステル(B)、溶剤および
必要に応じて他の配合剤を混合し、均一溶液としたのち
、孔径0.2μmのメンブランフィルターで濾過し、組
成物の溶液を調製した。得られた溶液を、シリコン酸化
膜を有するシリコンウェハー上にスピンナーを用いて塗
布したのち、ホットプレート上で90℃にて2分間プレ
ベークして、厚さ1.2μmのレジスト膜を形成し、レ
チクルを介して、前記のように波長436μm(g線)
または波長365μm(i線)を用いて露光、現像し、
リンスし、乾燥したのち、該レジストの評価を行った。 結果を表1に示す。なお、実施例1〜4、比較例1は、
g線を照射し、実施例5〜8、比較例2〜3は、i線を
照射した。
【0081】
【表1】
【0082】表1の注:(注1)添加量は重量部で示し
た。 (注2)溶解促進剤のうちのαおよびβは、次のもので
ある。 α:1,1,1−トリス(4−ヒドロキシフェニル)エ
タン β:1,1−ビス(4−ヒドロキシフェニル)−1−フ
ェニルエタン
【0083】(注3)キノンジアジドスルホン酸エステ
ル(B)のうちのIおよびIIは、次のものである。 I:2,3,4−トリヒドロキシベンゾフェノン  1
.0モルと、1,2−ナフトキノンジアジド−5−スル
ホン酸クロリド 2.6モルとの縮合物。 II:2,3,4,4’−テトラヒドロキシベンゾフェ
ノン  1モルと、1,2−ナフトキノンジアジド−5
−スルホン酸クロリド  4.0モルとの縮合物。
【0084】(注5)溶剤の種類は、次のものである。 S1:エチルセロソルブアセテート S2:2−ヒドロキシプロピオン酸エチルS3:3−メ
トキシプロピオン酸メチル
【0085】
【発明の効果】本発明の感放射線性組成物は、現像性に
優れているとともに、高感度であり、そして耐熱性、解
像度およびパターンの形状に優れ、且つ高残膜率を備え
たポジ型レジストとして好適に使用できる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  (A)アルカリ可溶性樹脂、および(
    B)下記一般式(1) 【化1】 で表わされるフェノール化合物のキノンジアジドスルホ
    ン酸エステルの少なくとも1種、を含有することを特徴
    とする感放射線性樹脂組成物。
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