JP7313221B2 - 測定装置及び測定方法 - Google Patents
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Description
しかし、各分析手法で測定できる測定装置が必要になり、設備コストがかかるとともに、各分析手法を用いた測定装置によりサンプルの測定を繰り返さなければならず、分析に時間を要する。また、測定環境が異なることによる測定誤差が生じやすい。
測定装置100は、光をサンプルTに照射することによってサンプルTから発生する光又は電子を測定する。
測定装置100は、図1に示すように、光源1、光分岐器2及び2つの測定部3A及び3Bを備える。また、測定装置100は、複数のミラー4を備え、各ミラー4により光源1からの光を所定の光路へ導く。なお、光源1からの光を導くことができるのであれば、ミラー4のような光学系だけでなく、光ファイバー、光導波路等の導光モジュールが用いられてもよい。
上記実施形態では、CARS法を用いた測定部3Aに光電子分光法を用いた測定部3Bを組み合わせた例を説明したが、他の分析手法の組み合わせであってもよい。また、測定部の数も2つに限られない。例えば、CARS法の測定部3A及び光電子分光法の測定部3BにFT-IR法の測定部をさらに組み合わせてもよい。測定部は、用いる分析手法によって、真空チャンバー等を備えてもよい。
Claims (6)
- 光を発する光源(1)と、
前記光源(1)からの光を分岐する光分岐器(2)と、
前記分岐した光の一方をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光を測定する第1測定部(3A)と、
前記分岐した光の他方をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光電子を測定する第2測定部(3B)と、を備え、
前記第1測定部(3A)は、前記サンプル(T)に照射する光をCARS法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射して、CARS法により測定を行い、
前記第2測定部(3B)は、前記サンプル(T)に照射する光を光電子分光法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射して、光電子分光法により測定を行う、
測定装置(100)。 - 前記第1測定部(3A)及び前記第2測定部(3B)は、前記光の波長、角振動数又は偏光の方向を変換する、
請求項1に記載の測定装置(100)。 - 前記光分岐器(2)は、前記第1測定部(3A)及び前記第2測定部(3B)から選択された測定部に、前記光源(1)からの光を分岐して出力する、
請求項1又は2に記載の測定装置(100)。 - 前記光源(1)からの光は、前記光分岐器(2)により分岐し、前記第1測定部(3A)及び前記第2測定部(3B)により前記サンプル(T)に同時に照射される、
請求項1~3のいずれか一項に記載の測定装置(100)。 - 前記第1測定部(3A)は、前記光分岐器(2)により分岐した光をさらに2つに分岐し、角振動数が異なる2つの光に変換して前記サンプル(T)に照射することで、前記サンプル(T)から発生するCARS光を測定する、
請求項1~4のいずれか一項に記載の測定装置(100)。 - 光源(1)から光を発するステップと、
前記光源(1)からの光を分岐して第1測定部(3A)及び第2測定部(3B)にそれぞれ出力するステップと、
前記第1測定部(3A)において、前記出力された光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光を測定するステップと、
前記第2測定部(3B)において、前記出力された光をサンプル(T)に照射し、前記サンプル(T)から発生する光電子を測定するステップと、を含み、
前記第1測定部(3A)において光を測定するステップは、前記サンプル(T)に照射する光をCARS法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射して、CARS法により測定を行うことを含み、
前記第2測定部(3B)において光電子を測定するステップは、前記サンプル(T)に照射する光を光電子分光法に応じた特性の光に変換して前記サンプルに照射して、光電子分光法により測定を行うことを含む、
測定方法。
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