JP7231422B2 - 防汚性膜 - Google Patents
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本実施形態の防汚性膜形成用液組成物の製造方法を説明する。この製造方法では、先ず、ケイ素アルコキシドとしてのテトラメトキシシラン又はテトラエトキシシランと、下記の一般式(2-1)又は下記の一般式(2-2)で示されるフッ素含有基成分としてのフッ素含有シランと、アルキレン基含有成分としてのエポキシ基含有シランと、メチル基成分としてのメチル基含有シランと、エタノール、2-プロパノール等のアルコールと、トルエン、キシレン等の芳香族炭化水素と、水とを混合して混合液を調製する。上記アルキレン基含有成分は、エポキシ基の開環反応によって得られるため、アルキレン基の元になるエポキシ基含有シランで混合する。次いでこの混合液と有機酸、無機酸又はチタン化合物からなる触媒とを混合してケイ素アルコキシドとエポキシ基含有シランとメチル基含有シランとを加水分解することにより加水分解物を調製する。この時点で、エポキシ基は、開環反応が生じ、アルキレン基が得られる。次にこの加水分解物に、炭素数1~4のアルコール及び/又は前記アルコール以外の溶媒とを混合して、シリカゾルゲルを含む防汚性膜形成用液組成物を製造する。
上記調製された混合液と有機酸、無機酸又はチタン化合物からなる触媒とを混合する。このとき液温を好ましくは30℃~80℃の温度に保持して好ましくは1時間~24時間撹拌する。これにより、混合液中のケイ素アルコキシドとエポキシ基含有シランとメチル基含有シランとが加水分解される。有機酸、無機酸又はチタン化合物は加水分解反応を促進させるための触媒として機能する。有機酸としてはギ酸、シュウ酸が例示され、無機酸としては塩酸、硝酸、リン酸が例示され、チタン化合物としてはテトラプロポキシチタン、テトラブトキシチタン、テトライソプロポキシチタン、乳酸チタン等が例示される。触媒は上記のものに限定されない。
本実施の形態の防汚性膜形成用液組成物は、上記製造方法で製造され、シリカゾルゲルを主とする成分並びに溶媒を含み、このシリカゾルゲルを100質量%とするときに、シリカゾルゲルが上記の一般式(1-1)で示されるペルフルオロアミン構造のフッ素含有官能基成分又は上記の一般式(1-2)で示されるペルフルオロエーテル構造のフッ素含有官能基成分を0.5質量%~10質量%と炭素数2~7のアルキレン基を0.5質量%~20質量%とメチル基成分を0.2質量%~10質量%含み、上記溶媒が、炭素数1~4のアルコール及び/又は前記アルコール以外の溶媒であることを特徴とする。
また上記シリカゾルゲルは、上記の一般式(1-2)で示されるペルフルオロエーテル構造のフッ素含有官能基成分と炭素数2~7のアルキレン基成分を含む。より具体的には、上述した式(35)~(49)で示されるペルフルオロエーテル構造を挙げることができる。
本実施の形態の防汚性膜は、例えば、基材であるステンレス鋼(SUS)、鉄、アルミニウム等の金属板上、窓ガラス、鏡等のガラス上、タイル上、ポリ塩化ビニル(PVC)等のプラスチック上、又はポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート等のポリエステルフィルム上に、上記液組成物を、スクリーン印刷法、バーコート法、ダイコート法、ドクターブレード、スピン法等により塗布した後に、室温乾燥もしくは乾燥機等により室温~130℃の温度で乾燥させることにより、形成される。
本実施の形態の防汚性膜は、膜表面に平均粒径0.1μm~5.0μmのシロキサン骨格の成分を含む粒が100μm2当り70個~500個存在する。粒がシロキサン骨格の成分であることは、走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光装置(SEM-EDX)による元素分析により測定することができる。粒の平均粒径が0.1μm未満では、膜の凹凸が少過ぎるため、油性マジックのふき取り性に劣り、5.0μmを超えると膜表面が荒れて外観が悪化する。好ましい平均粒径は0.2μm~4μmである。この平均粒径はレーザー顕微鏡にて観察した粒子サイズを計測し、算術平均して求められる。また100μm2当りの粒の数が70個未満では、膜の凹凸が少過ぎるため、油性マジックのふき取り性の改善が見られず、又は膜表面が荒れて外観が悪化する。500個を超えると、膜の凹凸が多過ぎるため、外観が悪化する。好ましい粒の個数は100個~400個である。防汚性膜の表面粗さSqは45nm~95nmである。この表面粗さが45nm未満では、凹凸が小さ過ぎるため、油性マジックのふき取り性に劣り、95nmを超えると、凹凸が大き過ぎるため、外観が悪化する。好ましい表面粗さは50nm~80nmである。更に膜成分中のフッ素(F)と炭素(C)とケイ素(Si)の質量比が、F:C:Si=(0.5~8):(14~21):(75~85)である。この範囲内であれば、適切な撥水撥油性の膜が得られ、油性マジックのふき取り性と膜の良好な外観性を両立した効果を有し、フッ素が少過ぎる場合には、撥油性に劣り、滑り性も悪くなる。炭素が多過ぎる場合には、親油性が強くなり過ぎ、油性マジックの拭き取り性も悪化する。好ましい質量比は、F:C:Si=(0.6~6):(5~20):(77~84)である。
<実施例1>
ケイ素アルコキシドとしてのテトラメトキシシラン(TMOS)の3~5量体(三菱化学社製、商品名:MKCシリケートMS51)8.01gと、メチル基含有シランのオリゴマータイプ(JNC社製、商品名:FM-4411)0.09gと、式(31)で表わされるフッ素含有シラン0.09gと、エポキシ基含有シランとして、γ―グリシドキシプロピルトリメトキシシラン(信越化学工業社製、商品名:KBM-403)0.81gと、エタノール(EtOH)(沸点78.3℃)10.5gとに、トルエン10.5gを有機溶媒として添加し、更にイオン交換水0.006gを添加して、セパラブルフラスコ内で25℃の温度で5分間撹拌することにより混合液を調製した。またこの混合液に、触媒として酢酸0.03gを添加し、40℃で2時間撹拌した。これにより、シリカゾル加水分解物Iを調製した。得られたシリカゾルゲルである加水分解物Iをエタノール、1-プロパノール、2-プロパノールの混合液(比率 85:10:5)で5倍に希釈して、液組成物が得られた。加水分解物I(シリカゾルゲル)を作るための液組成を表1に、シリカゾルゲルと溶媒を含む液組成物を表2に、加水分解物I(シリカゾルゲル)の組成を表3にそれぞれ示す。
表1~表3に示すように、ケイ素アルコキシド、フッ素含有シラン、アルキレン基含有シラン、メチル基含有シラン、水、エタノール(EtOH)、トルエン、触媒を用い、実施例1と同様にして、実施例2~7及び比較例1~2の加水分解物II~IX及び液組成物を得た。
実施例1~7及び比較例1~2で得られた9種類の液組成物を、バーコーター(安田精機製作所製、型番No.3)を用いて、厚さ2mm、たて150mm、よこ75mmのSUS304基材上にそれぞれ乾燥後の厚さが0.5~1μmとなるように塗布し、9種類の塗膜を形成した。ここで、先ずバーコーターによる塗布時の成膜性を評価した。続いてすべての塗膜を室温にて、20時間乾燥して9種類の防汚性が付与された膜を得た。これらの膜について、膜表面の撥水性、撥油性、n-ヘキサデカンの転落性、膜の基材への密着性、油性マジック汚れの拭き取り性、膜表面の粒の有無と粒のサイズ、膜の表面粗さ及び膜成分中のフッ素とケイ素と炭素の質量比を次の方法で測定して評価した。これらの結果を表4に示す。なお、表4では、n-ヘキサデカンを単に「HD」と表記している。
成膜性は、膜を目視にて評価した。膜全体に弾き、筋等の発生がなく、液組成物を均一に塗布できたものは「良好」とし、膜の一部に僅かに弾き、筋等が生じたものは「可」とし、膜全体に弾き、筋等が生じたものは「不良」とした。
協和界面科学製ドロップマスターDM-700を用いて、シリンジに22℃±1℃のイオン交換水を準備し、シリンジの針の先端から2μLの液滴を飛び出した状態にする。次いで評価するSUS304基材上の防汚性膜をこの液滴に近づけて防汚性膜に液滴を付着させる。この付着した水の接触角を測定した。静止状態で水が膜表面に触れた1秒後の接触角をθ/2法により解析した値を水の接触角とし、膜表面の撥水性を評価した。
協和界面科学製ドロップマスターDM-700を用いて、シリンジに22℃±1℃のn-ヘキサデカンを準備し、シリンジの針の先端から2μLの液滴を飛び出した状態にする。次いで評価するSUS304基材上の防汚性膜をこの液滴に近づけて防汚性膜に液滴を付着させる。この付着したn-ヘキサデカンの接触角を測定した。静止状態でn-ヘキサデカンが膜表面に触れた1秒後の接触角をθ/2法により解析した値をn-ヘキサデカンの接触角とし、膜表面の撥油性を評価した。膜の表面状態が凸凹になって荒れていると通常よりも高い値を示すため、接触角が高過ぎる場合には、成膜性が不良であるとの判断基準となる。
協和界面科学製ドロップマスターDM-700を用いて、シリンジに25℃±1℃のn-ヘキサデカンを準備し、水平に置いたSUS304基材上にシリンジからn-ヘキサデカンを9μLの液滴を滴下し、基材を2度/分の速度で傾斜させ、n-ヘキサデカンの液滴が移動開始するときの基材の傾けた角度を測定した。(3)の接触角が低くてもこの転落角度が小さい方が防汚性が高いことを意味する。
75mm×150mm×厚さ2mmのSUS304基材上に塗膜を形成した。塗膜の上に、セロファンテープを貼り付けた後、テープを剥がしたときに、塗膜がテープ側に全く付かなかった場合を密着性が「良好」であるとし、塗膜の大部分がテープ側に貼り付き、SUS基材界面で塗膜が剥がれてしまった場合を密着性が「不良」であるとした。
塗膜の上に、油性マジック[寺西化学工業(株)製 マジックインキ(登録商標)NO.700ゴクホソ(黒)]で長さ3cmの直線を書き、30分後に、ベンコット(旭化成社製)にて、書いた部分を擦った。擦った回数が1~2回で油性マジックが容易に拭き取れたものを「良好」とし、3回以上擦って油性マジックが拭き取れたものを「可」とし、何回擦っても拭き取れなかったもの、又は塗膜が剥離してしまったものを「不可」とした。
走査型レーザー顕微鏡(LEXT OLS4500:オリンパス社製)にて、100μm2当りの塗膜を観察し、塗膜100μm2当り70~500個の粒が存在するか否か、また存在する場合には、粒の大きさ(平均粒径)を観察した。
走査型レーザー顕微鏡(LEXT OLS4500:オリンパス社製)にて、塗膜面の凹凸を計測し、表面粗さとして二乗平均平方根高さSq値を算出した。
塗膜を走査型電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分光装置(SEM-EDX、日立ハイテクノロジー社製、SU-1500)により塗膜の元素分析を行い、フッ素とケイ素と炭素の質量比を求めた。
Claims (1)
- シリカゾルゲルを主とする成分並びに溶媒を含み、
前記シリカゾルゲルを100質量%とするときに、前記シリカゾルゲルが下記の一般式(1-1)で示されるペルフルオロアミン構造のフッ素含有官能基成分又は下記の一般式(1-2)で示されるペルフルオロエーテル構造のフッ素含有官能基成分を0.5質量%~10質量%と炭素数2~7のアルキレン基成分を0.5質量%~20質量%とメチル基成分を0.2質量%~10質量%含み、
前記アルキレン基成分は、2- (3,4-エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3-グリシドキシプロピルトリエトキシシラン 又は多官能エポキシシランであり、
前記メチル基成分は、メチルトリメトキシシランのモノマー、ジメチルトリエトキシシランのモノマー、ポリジメチルシロキサン化合物、メトキシ基含有メチル系シリコーンオリゴマーであり、
前記溶媒が、炭素数1~4のアルコール及び/又は前記アルコール以外の溶媒である防汚性膜形成用液組成物の乾燥物であって、
膜表面に平均粒径0.1μm~5.0μmのシロキサン骨格の成分を含む粒が100μm2当り70個~500個存在し、表面粗さSqが45nm~95nmであって、膜成分中のフッ素(F)と炭素(C)とケイ素(Si)の質量比が、F:C:Si=(0.5~8):(14~21):(75~85)であることを特徴とする防汚性膜。
。また、Rf 1 は、炭素数1~6のペルフルオロアルキレン基であって、直鎖状又は分枝
状であってもよい。また上記式(1-1)中、X1は、炭素数2~10の炭化水素基であ
って、エーテル結合、CO-NH結合、O-CO-NH結合及びスルホンアミド結合から
選択される1種以上の結合を含んでいてもよい。
。また、また上記式(1-2)中、X1は、炭素数2~10の炭化水素基であって、エー
テル結合、CO-NH結合、O-CO-NH結合及びスルホンアミド結合から選択される
1種以上の結合を含んでいてもよい。
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