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JP6983704B2 - 計測用x線ctの測定計画生成方法及び装置 - Google Patents

計測用x線ctの測定計画生成方法及び装置 Download PDF

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Description

本発明は、計測用X線CTの測定計画生成方法及び装置に係り、特に、測定精度が確保できる測定視野倍率を自動計算し、目的の測定箇所ができるだけ多く収まるような測定視野を含む最適化された測定計画を自動生成することが可能な計測用X線CTの測定計画生成方法及び装置に関する。
非破壊で被検体のボリュームデータ(または断層画像)を得る計測用X線CT装置では、例えば特許文献1に示される如く、被検体を回転させながらX線照射を行い、そこで得られた投影データからボリュームデータを再構成する。測定者はそのボリュームデータから目的の測定箇所を測定する。ボリュームデータは測定視野を基に生成されるが、測定視野を小さくすると測定箇所を精度良く測定できる一方、目的の測定箇所が測定視野に全て収まらず、複数回のX線撮影が必要となる場合がある。
以下に、一般的な計測用X線CT装置の構成とワークの測定手順を示す。
計測用で使用する一般的なX線CT装置は、図1に例示する如く、X線を遮蔽するエンクロージャ10の中にX線13を照射するX線管12、X線13を検出するX線検出器14、被検体(例えばワーク)Wを置いてCT撮像のために被検体Wを回転させるための回転テーブル16、X線検出器14に映る被検体Wの位置や倍率を調整するためのXYZ移動機構部18があり、それらのデバイスを制御するコントローラ30、ユーザ操作によりコントローラ30に指示を与える制御PC40で構成される。
制御PC40上ではX線CT制御プログラム42が動作しており、X線CT制御プログラム42は各デバイス制御や、X線検出器14に映る被検体Wの投影像を表示する機能、被検体Wの複数の投影像からボリュームデータとして断層画像を生成する機能を有している。
また、X線13が物体を透過する際、照射方向とは別の方向に反射する散乱X線が少なからず発生し、その散乱X線がX線CT撮像結果にノイズとして表われることが知られている。その散乱X線を抑えるためにX線管12付近にX線コリメータ20を設けている。X線コリメータ20はX線13の照射範囲を制限するために、X線非透過素材(タングステンなど)でできた上部と下部の部品で構成され、それらの部品がそれぞれ上下方向に移動できるようになっている。X線コリメータ20は被検体Wの撮像範囲に合わせて制御PC40から調整できる。
図2(被検体が円柱の場合の斜視図)及び図3(被検体が角柱の場合の平面図)に示す如く、X線源であるX線管12から照射されたX線13は、回転テーブル16上の被検体Wを透過してX線検出器14に届く。被検体Wを回転させながらあらゆる方向の被検体Wの透過像をX線検出器14で得ることにより、被検体Wの断層画像を生成する。
この際、XYZ移動機構部18のXYZ軸と回転テーブル16のθ軸を制御することにより被検体Wの位置を移動することができ、被検体Wの撮影範囲(位置、倍率)や撮影角度を調整することができる。
このような計測用X線CT装置を用いた測定は、一般的に次の2つの手順で行われる。
(i)CTスキャンによるボリュームデータの生成
(ii)ボリュームデータの測定
以下に具体的な測定手順を示す。
(i)CTスキャンによるボリュームデータの生成
例えば、図4(A)のようなワーク(被検体)Wの測定を考える。ワークWは円筒状の外形で内部に円筒状の空洞部分Hがあり、その空洞部分Hの円筒の直径Dを測る。この測定手順としては、まず空洞の表面(素材と空気の境界面)を検出して測定点(検出点)を複数取得し、その測定点群から空洞の円筒形状を円筒フィッティングで計算してからその直径Dを計算する。
測定点群を取得するための測定箇所としては、円筒状の空洞であることを考慮して偏りのない測定箇所を選定した方が良いため、例えば図4(B)のように円筒の上部と下部それぞれの円周方向に3か所(合計6か所)の測定箇所を選定する。1つの測定箇所で複数の測定点を取得することができる。
ここで各測定箇所の測定倍率を決定する必要があるが、その導出には公差情報を用いる。
最終的に計算する円筒直径Dの公差が±0.1mmの場合、円筒直径Dの計算に用いる測定点は0.1mmよりも高い精度(例えば0.01mm)で求められなければならない。また、これらの測定はボリュームデータ上で行われるため、そのボリュームデータが測定に必要な精度を備えている必要がある。ここではボリュームデータの精度をボクセルサイズ[mm]で表現し、ボクセルサイズが0.01mmのボリュームデータを生成することを考える。
X線源12から回転テーブル16中心までの距離をfcd(Focus to Center Distance)、X線源12からX線検出器14までの距離をfdd(Focus to Detector Distance)とすると、その倍率magは次のようになる。
Figure 0006983704
X線検出器14の横幅をDetectorWidth[mm]、生成するボリュームデータの幅をVolumeWidth[pixel]、ボクセルサイズをVoxelSize[mm/pixel]とした場合、その関係式は次のようになる。
Figure 0006983704
上式をmagについて解くと次のようになる。
Figure 0006983704
先例のようなボクセルサイズが0.01mmのボリュームデータを生成したい場合、X線源12からX線検出器14までの距離fddが1000mm、X線検出器14の横幅DetectorWidthが400mm、ボリュームデータの幅VolumeWidthが2000pixelとすると、必要な倍率は20倍となる。回転テーブル16の位置や角度を変更してワークWの測定箇所が20倍で表示されるように調整してCTスキャンを行うことで、所望のボリュームデータを生成することができる。
測定箇所が複数ある場合、各測定箇所に必要な倍率をそれぞれ計算して、最も大きい倍率(最も高い分解能)に合わせる。
(ii)ボリュームデータの測定
前手順で説明した通り、まずは空洞の表面(素材と空気の境界面)を検出して測定点(検出点)を複数取得し、その測定点群から空洞の円筒形状を円筒フィッティングで計算してからその直径Dを計算する。
特開2016−205899号公報
MiCAT Plannerの製品カタログ<http://www.mitutoyo.co.jp/products/zahyou/auto.html>
しかしながら、上記に示すような方法では、測定者は予め測定箇所や測定精度を考慮した上でCTスキャンを行う必要があり、複数の測定箇所に対しては最小回数のCTスキャンとなるような計画を立てなければならないという問題があった。
なお、三次元測定機商品群のソフトウェアである非特許文献1には、公差情報付きのCADデータから測定計画を自動生成する機能が記載されているが、計測用X線CT装置にそのまま用いることはできなかった。
本発明は前記従来の問題点を解消するべくなされたもので、計測用X線CT装置において、被検体のCADデータに含まれる公差等の情報から適切な測定精度が確保できる測定視野倍率を自動計算し、目的の測定箇所ができるだけ多く収まるような測定視野を含む最適化された測定計画を自動生成する機能を実現することを課題とする。
本発明は、被検体を回転させながらX線照射を行い、そこで得られた投影データからボリュームデータを再構成し、該ボリュームデータから目的の測定箇所を測定する計測用X線CTの測定計画生成方法において、予め測定者が設定した被検体の測定箇所と被検体のCADデータに含まれる公差情報を基に、必要な測定精度と測定視野範囲を計算し、それらの情報から測定回数が最小になる最適化された測定計画を自動生成することにより、前記課題を解決するものである。
ここで、前記測定計画の自動生成は、ある任意の測定箇所を基準とし、他の任意の測定箇所が、その基準と同じ測定倍率で測定可能かそれぞれ検証し、同一測定倍率で測定可能なグループを作成し、各グループのボリュームデータを生成するためのCTスキャン位置を決定し、それらを順序付けることにより行うことができる。
本発明は、又、被検体を回転させながらX線照射を行い、そこで得られた投影データからボリュームデータを再構成し、該ボリュームデータから目的の測定箇所を測定する計測用X線CTの測定計画生成装置において、予め測定者が設定した被検体の測定箇所と被検体のCADデータに含まれる公差情報を基に、必要な測定精度と測定視野範囲を計算し、それらの情報から測定回数が最小になる最適化された測定計画を自動生成する測定計画自動生成プログラムを備えたことを特徴とする計測用X線CTの測定計画生成装置により、同様に前記課題を解決するものである。
ここで、前記測定計画自動生成プログラムは、ある任意の測定箇所を基準とし、他の任意の測定箇所が、その基準と同じ測定倍率で測定可能かそれぞれ検証し、同一測定倍率で測定可能なグループを作成し、各グループのボリュームデータを生成するためのCTスキャン位置を決定し、それらを順序付けることにより測定計画を生成することができる。
計測用X線CTにおいて、調整が難しい測定視野の調整作業を、CADデータを使うことで自動的に行い、その調整結果を記録した測定計画を自動生成することができる。従って、従来測定者が行っていた測定箇所ごとに必要な倍率計算及び測定箇所の最適化された測定計画を自動的に生成でき、測定者の作業を効率化できる。
一般的な計測用X線CT装置の全体構成を示す正面図 同じく被検体が円柱の場合の要部構成を示す斜視図 同じく被検体が角柱の場合の要部構成を示す平面図 被検体及びその測定箇所の例を示す斜視図 本発明に係る計測用X線CT装置の全体構成を示す正面図 測定計画の例を示す斜視図 本発明の実施形態における処理手順を示す流れ図 同じく測定計画の生成手順を示す流れ図 基準測定箇所の例を示す斜視図 グループ再構成範囲の一例を示す斜視図 グループ再構成範囲の他の例を示す斜視図 グループ再構成範囲の更に他の例を示す斜視図
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は以下の実施形態及び実施例に記載した内容により限定されるものではない。又、以下に記載した実施形態及び実施例における構成要件には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のもの、いわゆる均等の範囲のものが含まれる。更に、以下に記載した実施形態及び実施例で開示した構成要素は適宜組み合わせてもよいし、適宜選択して用いてもよい。
図5に本発明の計測用X線CT装置の実施形態を示す。
この実施形態では、図1に示したと同様の装置構成において、測定計画自動生成プログラム44が新しく追加されている。この測定計画自動生成プログラム44は、本発明の主体である測定計画の自動生成を行う機能を有している。
測定計画自動生成プログラム44により生成される測定計画には、ワークWのCTスキャン位置(複数)やそのCTスキャンで生成されたボリュームデータの測定箇所(複数)、それらの測定順序の情報が含まれている。
例えば図4に例示したワークWに対して、図6のような測定計画が生成される。
C1、C2、C3はそれぞれCTスキャン位置を示しており、CTスキャン位置により測定倍率が一意に決まる。また、C1⇒C2⇒C3の順序でCTスキャンを行うこと、各CTスキャンで生成されたボリュームデータに対して測定すべき箇所も示している。
以下、図7を参照して本発明の具体的な実施例を示す。
まずステップ110で、測定者は測定計画自動生成プログラム44に対して公差情報付きのCADデータを入力する。X線CT制御プログラム42がCADデータを使って他の処理を行う機能を有している場合は、X線CT制御プログラム42から測定計画自動生成プログラム44に対してCADデータを入力しても良い。
次いでステップ120で、CADデータの公差情報を使って測定箇所を決定する。
次いでステップ130で、各測定箇所の公差情報を使って、測定を行う際に最低限必要な倍率(測定下限倍率)を計算する。まずは公差情報から必要なボクセルサイズを求め、そのボクセルサイズから必要な倍率を計算する。
公差の精度をprecisionとしたとき、調整パラメータk(1.0未満)を用いてVoxelSize[mm/pixel]を次のように計算する。
Figure 0006983704
X線検出器14の幅をDetectorWidth[mm]、ボリュームデータの幅をVolumeWidth[pixel]とすると、測定下限倍率magは次のように計算することができる。
Figure 0006983704
次いでステップ140で、図8に示す如く、測定計画を生成する。
測定計画の生成方法としては、ある任意の測定箇所を基準とし、他の任意の測定箇所がその基準と同じボリュームデータ(つまり同じ倍率)で測定可能かどうかをそれぞれ検証し、同一ボリュームデータで測定可能なグループを作成していく。グループ分けができれば、各グループのボリュームデータを生成するためのCTスキャン位置を決定し、それらを順序付けする。
以下、図8を参照して具体的な実施手順を説明する。
ステップ210の基準測定箇所の選定では、どのグループにも所属していない測定箇所の中から基準とする測定箇所(基準測定箇所)を選定する。測定計画の生成を開始した段階ではグループが無いため、全測定箇所の中から測定箇所を選定する。
選定方法としては、対象の測定箇所の位置が端にあるものを選定するようにする。例えばX線源12に最も近い測定箇所を基準とする。
図9の例では、X線源12に最も近いp4が基準測定箇所として選定されている。
基準測定箇所を選定した後、その基準測定箇所を含むグループの次の情報を定義する。
・グループ識別子:Gn ※ nは番号
・グループ測定倍率:Gn_Mag
・グループ再構成範囲:Gn_Range
・グループ測定箇所リスト:Gn_MeasList
同じグループの測定箇所は同じボリュームデータで測定可能であることを意味しており、最終的に作成されるグループの数は、測定で必要となるボリュームデータの数(つまりCTスキャン位置の数)に等しくなる。
グループ測定倍率は、対応するボリュームデータに含まれるワークの倍率であり、この初期値は基準測定箇所の測定下限倍率とする。
グループ再構成範囲は、対応するボリュームデータの実空間上の範囲を示している。一般的に再構成範囲は直方体や円筒として扱うが、ここでは計算便宜上、円筒のみを扱う。円筒の場合、再構成範囲を示す値として、円筒直径と円筒高さを用いる。この初期値は、グループ測定倍率で一意に求まる再構成範囲とする。X線検出器14の幅をDetectorWidth[mm]、ボリュームデータの幅をVolumeWidth[pixel]、ボリュームデータの高さをVolumeHeight[pixel]とすると、再構成範囲を示す円筒直径Diameterと円筒高さHeightは次のように計算できる。
Figure 0006983704
ステップ220の検証測定箇所の選定では、どのグループにも所属していない測定箇所の中から、基準測定箇所以外の任意の測定箇所を選定して検証測定箇所とする。
ステップ230のグルーピング可否の検証では、検証測定箇所が基準測定箇所と同じボリュームデータ上で測定可能かどうかを検証する。具体的には、測定倍率を合わせ、かつ同じ再構成範囲に含めることができるかどうかを検証する。
検証測定箇所をグループに含めた場合を考えた場合、グループ測定倍率は、現在の値と検証測定箇所の測定下限倍率のうち大きい方に合わせられる。また、このときにグループ測定倍率が変更された場合、グループ再構成範囲も変わってくる。この新しいグループ再構成範囲に検証測定箇所を含めることができれば、グルーピング可能ということになる。
例えば図10は基準測定箇所をp4、検証測定箇所をp6とし、p4の測定下限倍率をx10、p6の測定下限倍率をx5とした場合にp6が再構成範囲に含まれる(グルーピング可能な)ことを示している。
一方、図11は基準測定箇所をp4、検証測定箇所をp5とし、p4の測定下限倍率をx10、p5の測定下限倍率をx15とした場合にp5が再構成範囲に含まれない(グルーピング不可な)ことを示している。p5を含めた場合にグループ測定倍率がx15と大きくなり、それに伴いグループ再構成範囲が小さくなっている。
なお、上記例においては再構成範囲の位置を任意に設定できる前提で検証を行ったが、装置構成によっては様々な制限が付くため、それらを考慮する必要がある。例えば再構成範囲の中心(円筒軸)は回転中心(回転軸)に一致する。そのため、回転中心を変更する特別な機構等が無い限り、回転テーブル16に直接置かれたワークWの各測定箇所と回転軸の相対関係は固定化される。あるいは回転テーブル16の移動上下限により再構成範囲の位置が制限される。
図12はp6の測定下限倍率がx15のとき、再構成範囲の中心がワークWの回転軸に固定されている様子を示している。
ステップ240のCTスキャン位置の決定では、検証測定箇所の候補が無くなるまでステップ220、230の処理を繰り返した後、グループ測定倍率やグループ測定箇所リストを確定してCTスキャン位置を決定する。
X線源−X線検出器方向をX軸とすると、測定倍率よりCTスキャン時の回転テーブル16のX位置を決定することができる。Y/Z位置については、グループに含まれる全ての測定箇所が再構成範囲に含まれていれば、回転テーブル16の移動可能な範囲で任意に設定できる。
例えば、グループに含まれる全測定箇所の重心が再構成範囲の中心にくるようにしても良い。
ステップ250のCTスキャン順序の決定では、全ての測定箇所がいずれかのグループに含まれるまでステップ210〜240の処理を繰り返した後、各グループから求めたCTスキャン位置の実行順序を決定する。
無駄な移動を行わないという観点から、この順序は回転テーブル16が各CTスキャン位置に移動する経路が最短になるように設定すべきである。全体の測定時間の観点では、回転テーブル16の移動時間はCTスキャン実行時間に比べて遥かに短いため、全体の測定時間に影響しないと考えられる。
なお、前記説明では円筒体の空洞の測定を例にとって説明していたが、被検体の外部形状や内部形状はこれに限定されない。
10…エンクロージャ
12…X線管(X線源)
13…X線
14…X線検出器
16…回転テーブル
18…XYZ移動機構部
20…X線コリメータ
30…コントローラ
40…制御PC
42…X線CT制御プログラム
44…測定計画自動生成プログラム
W…ワーク(被検体)

Claims (4)

  1. 被検体を回転させながらX線照射を行い、そこで得られた投影データからボリュームデータを再構成し、該ボリュームデータから目的の測定箇所を測定する計測用X線CTの測定計画生成方法において、
    予め測定者が設定した被検体の測定箇所と被検体のCADデータに含まれる公差情報を基に、必要な測定精度と測定視野範囲を計算し、
    それらの情報から測定回数が最小になる最適化された測定計画を自動生成することを特徴とする計測用X線CTの測定計画生成方法。
  2. 前記測定計画の自動生成を、
    ある任意の測定箇所を基準とし、
    他の任意の測定箇所が、その基準と同じ測定倍率で測定可能かそれぞれ検証し、
    同一測定倍率で測定可能なグループを作成し、
    各グループのボリュームデータを生成するためのCTスキャン位置を決定し、
    それらを順序付けることにより行うことを特徴とする請求項1に記載の計測用X線CTの測定計画生成方法。
  3. 被検体を回転させながらX線照射を行い、そこで得られた投影データからボリュームデータを再構成し、該ボリュームデータから目的の測定箇所を測定する計測用X線CTの測定計画生成装置において、
    予め測定者が設定した被検体の測定箇所と被検体のCADデータに含まれる公差情報を基に、必要な測定精度と測定視野範囲を計算し、それらの情報から測定回数が最小になる最適化された測定計画を自動生成する測定計画自動生成プログラムを備えたことを特徴とする計測用X線CTの測定計画生成装置。
  4. 前記測定計画自動生成プログラムが、
    ある任意の測定箇所を基準とし、
    他の任意の測定箇所が、その基準と同じ測定倍率で測定可能かそれぞれ検証し、
    同一測定倍率で測定可能なグループを作成し、
    各グループのボリュームデータを生成するためのCTスキャン位置を決定し、
    それらを順序付けることにより測定計画を生成するようにされていることを特徴とする請求項3に記載の計測用X線CTの測定計画生成装置。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7198577B2 (ja) * 2017-11-17 2023-01-04 シスメックス株式会社 画像解析方法、装置、プログラムおよび学習済み深層学習アルゴリズムの製造方法
JP7137935B2 (ja) * 2018-02-27 2022-09-15 シスメックス株式会社 画像解析方法、画像解析装置、プログラム、学習済み深層学習アルゴリズムの製造方法および学習済み深層学習アルゴリズム
JP7143567B2 (ja) * 2018-09-14 2022-09-29 株式会社島津テクノリサーチ 材料試験機および放射線ct装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0692884B2 (ja) * 1990-01-10 1994-11-16 新日本製鐵株式会社 X線断層撮影装置
JP3853620B2 (ja) * 2001-08-21 2006-12-06 株式会社ミツトヨ 画像測定装置用パートプログラム生成装置及びプログラム
US7386090B2 (en) * 2002-07-12 2008-06-10 Mycrona Gesellschaft für innovative Messtechnik mbH Processes and a device for determining the actual position of a structure of an object to be examined
US6574304B1 (en) * 2002-09-13 2003-06-03 Ge Medical Systems Global Technology Company, Llc Computer aided acquisition of medical images
DE102005032686A1 (de) * 2005-07-06 2007-01-11 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zum Untersuchen eines Messobjekts mittels invasiver Strahlung
JP5197024B2 (ja) * 2008-01-09 2013-05-15 株式会社東芝 放射線治療システム、放射線治療支援装置及び放射線治療支援プログラム
TWI432699B (zh) * 2009-07-03 2014-04-01 Koh Young Tech Inc 用於檢查測量物件之方法
JP5223876B2 (ja) * 2010-03-12 2013-06-26 オムロン株式会社 X線検査装置、x線検査方法、x線検査プログラムおよびx線検査システム
CA2843414A1 (en) * 2011-07-29 2013-02-07 Hexagon Metrology, Inc. Coordinate measuring system data reduction
CN105051487B (zh) * 2013-06-17 2020-03-03 海克斯康测量技术有限公司 使用选择性成像测量物体的方法和设备
US9558569B2 (en) * 2014-08-12 2017-01-31 Toshiba Medical Systems Corporation Method and system for substantially reducing cone beam artifacts based upon image domain differentiation in circular computer tomography (CT)
JP6763301B2 (ja) * 2014-09-02 2020-09-30 株式会社ニコン 検査装置、検査方法、検査処理プログラムおよび構造物の製造方法
EP3201564B1 (en) * 2014-09-30 2020-05-20 Hexagon Metrology, Inc System and method for measuring an object using x-ray projections. computer program product.
DE102016101005A1 (de) * 2015-02-11 2016-08-11 Werth Messtechnik Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur computertomografischen Messung eines Werkstücks
JP2016205899A (ja) 2015-04-17 2016-12-08 株式会社ミツトヨ 回転テーブルの制御方法及び装置
EP3299503B1 (de) 2016-09-27 2021-09-08 Karl Mayer Rotal Srl Vorrichtung und verfahren zum beaufschlagen einer warenbahn mit einer flotte

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