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JP6647939B2 - Automatic analyzer - Google Patents

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JP6647939B2 JP2016064719A JP2016064719A JP6647939B2 JP 6647939 B2 JP6647939 B2 JP 6647939B2 JP 2016064719 A JP2016064719 A JP 2016064719A JP 2016064719 A JP2016064719 A JP 2016064719A JP 6647939 B2 JP6647939 B2 JP 6647939B2
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  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Description

本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。   Embodiments of the present invention relate to an automatic analyzer.

臨床検査は、被検者の状態を客観的に評価するために行われる。この臨床検査には臨床検査装置が主に用いられる。臨床検査装置の一例として、自動分析装置が挙げられる。   Laboratory tests are performed to objectively evaluate the condition of a subject. A clinical test device is mainly used for this clinical test. An example of a clinical test device is an automatic analyzer.

自動分析装置は、反応管に血液や尿等の被検試料と試薬とを分注してこれらを混合して反応させた後、反応によって生じる色調や濁りの変化を測定(検査)する。それにより、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定する。   The automatic analyzer dispenses a test sample such as blood or urine and a reagent into a reaction tube, mixes and reacts them, and then measures (examines) a change in color tone or turbidity caused by the reaction. Thereby, the concentration and activity of the test substance (measurement item) in the test sample are measured.

自動分析装置は、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料(キャリブレーション試料)と当該試薬とによって求められている検量線に基づいて、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定する。   The automatic analyzer uses a calibration sample (calibration sample) having a known concentration or activity of a substance to be measured and a calibration curve obtained from the reagent and the analyte (measurement item) in the test sample. ) Measure the concentration and activity.

測定項目の中には、例えば、LCAT(Lecitin-cholesterol acyltransferase、レシチン-コレステロールアシルトランスフェラーゼ)、乳酸等をそれぞれ測定する項目のように、前回測定時からの期間が長く空いたものがある。この測定の前に、被測定物質の濃度や活性が既知である精度管理試料(コントロール試料)を測定し、検量線と照合することによって精度管理を行う(精度管理測定)。そして、十分な精度が得られると判断された場合に、被検試料の測定が行われる。なお、校正用試料及び精度管理試料は、被測定物質の濃度や活性が既知であることは共通しているが、その使用目的が異なる。従って、通常、校正用試料及び精度管理試料は、自動分析装置において互いに区別して管理される。   Among the measurement items, there are, for example, items for which LCAT (lecitin-cholesterol acyltransferase, lecithin-cholesterol acyltransferase), lactic acid, and the like are respectively measured, and the period from the last measurement is long. Before this measurement, a quality control sample (control sample) having a known concentration and activity of the substance to be measured is measured, and quality control is performed by collating with a calibration curve (quality control measurement). Then, when it is determined that sufficient accuracy is obtained, the measurement of the test sample is performed. Note that the calibration sample and the quality control sample have in common that the concentration and activity of the substance to be measured are known, but they are used for different purposes. Therefore, usually, the calibration sample and the quality control sample are managed separately from each other in the automatic analyzer.

特許第4619892号Japanese Patent No. 4619892

従来、この精度管理測定の間、被検試料の測定が一時停止され、精度管理測定に問題がなければ被検試料の測定が開始される場合があった。この場合、被検試料が自動分析装置内に長時間放置されていた。精度管理測定の結果に問題があると判断された場合、被検試料が再測定されずに排出される場合があった。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費してしまう場合があった。   Conventionally, during the quality control measurement, the measurement of the test sample is temporarily stopped, and if there is no problem with the quality control measurement, the measurement of the test sample may be started. In this case, the test sample has been left in the automatic analyzer for a long time. When it was determined that there was a problem with the results of the quality control measurement, the test sample was sometimes discharged without being measured again. In addition, quality control measurement may be performed on a measurement item having a short period from the previous measurement, and a large amount of quality control sample may be consumed.

本発明が解決しようとする課題は、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる自動分析装置を提供することである。   The problem to be solved by the present invention is to provide an automatic analyzer that can easily perform quality control on a measurement item that has a long period from the last measurement.

実施形態の自動分析装置は、記憶部と、算出部と、判断部と、表示部とを有する。記憶部は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。算出部は、測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する。判断部は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。表示部は、判断部により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。   The automatic analyzer according to the embodiment includes a storage unit, a calculation unit, a determination unit, and a display unit. The storage unit stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item. The calculation unit calculates, based on the measurement history information, a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item for which the measurement instruction has been received. The determination unit determines whether or not the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period based on the measurement blank period and a predetermined period. The display unit, when the determination unit determines that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is longer than the predetermined period, displays quality control recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item. I do.

実施形態に係る自動分析装置の機能構成を示すブロック図。FIG. 2 is a block diagram showing a functional configuration of the automatic analyzer according to the embodiment. 実施形態に係る自動分析装置の分析モジュールの概略を表す模式図。FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an outline of an analysis module of the automatic analyzer according to the embodiment. 実施形態に係るラックセットレイアウトの概略を示す模式図。The schematic diagram which shows the outline of the rack set layout which concerns on embodiment. 実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。5 is a flowchart showing the operation of the automatic analyzer according to the embodiment. 実施形態に係る自動分析装置の動作を示すフローチャート。5 is a flowchart showing the operation of the automatic analyzer according to the embodiment.

以下、実施形態に係る自動分析装置について図面を参照して説明する。   Hereinafter, an automatic analyzer according to an embodiment will be described with reference to the drawings.

図1は、実施形態に係る自動分析装置1の機能構成を示すブロック図である。自動分析装置1は、分析モジュール2と、記憶回路3と、処理回路4と、ディスプレイ5と、入力回路6とを有する。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the embodiment. The automatic analyzer 1 has an analysis module 2, a storage circuit 3, a processing circuit 4, a display 5, and an input circuit 6.

図2は、実施形態に係る自動分析装置1の分析モジュール2の概略を表す模式図である。分析モジュール2は、第1試薬ボトル21a、第2試薬ボトル21b、第1試薬ラック22a、第2試薬ラック22b、第1試薬庫23a、第2試薬庫23b、反応管24、反応ディスク25、試料容器26、ラック27、第1分注アーム28a、第2分注アーム28b、サンプリングアーム29、攪拌ユニット30、測光ユニット31、及び洗浄ユニット32を有する。   FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an outline of the analysis module 2 of the automatic analyzer 1 according to the embodiment. The analysis module 2 includes a first reagent bottle 21a, a second reagent bottle 21b, a first reagent rack 22a, a second reagent rack 22b, a first reagent storage 23a, a second reagent storage 23b, a reaction tube 24, a reaction disk 25, and a sample. It has a container 26, a rack 27, a first dispensing arm 28a, a second dispensing arm 28b, a sampling arm 29, a stirring unit 30, a photometric unit 31, and a washing unit 32.

第1試薬ボトル21aには、試料と反応する第1試薬が収容される。第2試薬ボトル21bには、第1試薬と異なる種類の試薬である第2試薬が収容される。第1試薬ラック22aは、複数の第1試薬ボトル21aを収容した状態で第1試薬庫23aに設置される。第2試薬ラック22bは複数の第2試薬ボトル21bを収容した状態で第2試薬庫23bに設置される。   The first reagent bottle 21a contains a first reagent that reacts with the sample. The second reagent bottle 21b contains a second reagent that is a different type of reagent from the first reagent. The first reagent rack 22a is installed in the first reagent storage 23a with a plurality of first reagent bottles 21a accommodated therein. The second reagent rack 22b is installed in the second reagent storage 23b with a plurality of second reagent bottles 21b accommodated therein.

反応管24は、試料と第1試薬及び第2試薬とを反応させる際に使用する容器である。反応ディスク25には、複数の反応管24が円状に配置される。   The reaction tube 24 is a container used when the sample reacts with the first reagent and the second reagent. A plurality of reaction tubes 24 are arranged in a circle on the reaction disk 25.

試料容器26は、試料が収められる容器である。1つの試料容器26には、該試料として、血液や尿等の被検試料、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料又は精度管理試料が収められる。ラック27には、複数の試料容器26が配置される。ラック27は、たとえば、一般的な搬送機構であるレールRの上流側(図2の場合、レールRの右側)に投入され、そして、下流側(図2の場合、レールRの左側)へ搬送される。試料容器26の一つ一つは、個別にバーコード等の識別符号が付帯され、個別に管理可能である。   The sample container 26 is a container that stores a sample. One sample container 26 contains a test sample such as blood or urine, a calibration sample or a quality control sample whose concentration and activity of the substance to be measured are known as the sample. A plurality of sample containers 26 are arranged on the rack 27. The rack 27 is loaded, for example, on the upstream side (the right side of the rail R in FIG. 2), which is a general transport mechanism, and then on the downstream side (the left side of the rail R in FIG. 2). Is done. Each of the sample containers 26 is individually provided with an identification code such as a barcode and can be individually managed.

第1試薬は、第1分注アーム28aによって、試料が分注されている反応管24内へ第1試薬ボトル21a内から分注される。第2試薬は、第2分注アーム28bによって、試料及び第1試薬が分注されている反応管24内へ第2試薬ボトル21b内から分注される。   The first reagent is dispensed by the first dispensing arm 28a from the inside of the first reagent bottle 21a into the reaction tube 24 where the sample is dispensed. The second reagent is dispensed from the second reagent bottle 21b into the reaction tube 24 where the sample and the first reagent are dispensed by the second dispensing arm 28b.

試料と第1試薬とが分注された反応管24、並びに、試料と第1試薬及び第2試薬とが分注された反応管24は、反応ディスク25の回動により、攪拌ユニット30の位置まで移動される。攪拌ユニット30は、反応管24内の試料と第1試薬とを攪拌し、また、反応管24内の試料と第1試薬及び第2試薬とを攪拌して、試料と第1試薬及び第2試薬とを混合させるユニットである。   The reaction tube 24 into which the sample and the first reagent are dispensed, and the reaction tube 24 into which the sample, the first reagent, and the second reagent are dispensed, are rotated by the rotation of the reaction disk 25 to position the stirring unit 30. Moved to The stirring unit 30 stirs the sample in the reaction tube 24 and the first reagent, and stirs the sample in the reaction tube 24 with the first reagent and the second reagent, so that the sample, the first reagent and the second reagent are stirred. This is a unit for mixing with a reagent.

攪拌された試料と第1試薬及び第2試薬とを含む反応管24は、反応ディスク25の回動により、測光ユニット31の位置まで移動される。測光ユニット31は、反応管24に対して光を照射し、試料と第1試薬及び第2試薬との混合液の吸光度変化等を測定する。   The reaction tube 24 containing the agitated sample and the first and second reagents is moved to the position of the photometric unit 31 by the rotation of the reaction disk 25. The photometric unit 31 irradiates the reaction tube 24 with light, and measures a change in absorbance of a mixed solution of the sample, the first reagent, and the second reagent.

洗浄ユニット32は、測定が完了した反応管24内の混合液が廃棄された後、反応管24内の洗浄を行う。以上で分析モジュール2の概要説明を終了する。   The cleaning unit 32 cleans the inside of the reaction tube 24 after the mixed solution in the reaction tube 24 whose measurement has been completed is discarded. This is the end of the description of the analysis module 2.

図1に示す自動分析装置1では、構成要素、算出部・判断部にて行なわれる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路3へ記録されている。処理回路4は、プログラムをメモリから読み出し実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路4は、図1の処理回路4内に示された各機能を有することとなる。   In the automatic analyzer 1 shown in FIG. 1, the components and the respective processing functions performed by the calculation unit / judgment unit are recorded in the storage circuit 3 in the form of a program executable by a computer. The processing circuit 4 is a processor that reads out a program from a memory and executes the program to realize a function corresponding to each program. In other words, the processing circuit 4 in a state where each program is read has each function shown in the processing circuit 4 of FIG.

なお、ここでは、単一の処理回路4にて算出部・判断部にて行なわれる処理機能が実現されるものとして説明するが、複数の分離したプロセッサを組み合わせ、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。   Here, a description will be given assuming that the processing functions performed by the calculation unit / judgment unit are realized by a single processing circuit 4. However, it is assumed that a plurality of separated processors are combined and each processor executes a program. The function may be realized by using.

本明細書における「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のCPU(Central Processing Unit) arithmetic circuit(circuitry)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは、メモリに保存された、又はプロセッサの回路内に直接組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。プログラムを記憶するメモリは、プロセッサごとに個別に設けられるものであっても構わないし、或いは図1における記憶回路3が各プロセッサの機能に対応するプログラムを記憶するものであっても構わない。記憶回路3の構成には、例えば、一般的なRAM(Random Access Memory)やHDD(Hard Disc Drive)等の記憶装置が適用される。   The term “processor” in this specification refers to, for example, a dedicated or general-purpose CPU (Central Processing Unit) arithmetic circuit (circuitry), or an application-specific integrated circuit (Application Specific Integrated Circuit, such as an AIC (Logical Integrated Circuit: AIC)). , Simple Programmable Logic Device (SPLD), Composite Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA) It refers to the circuit and the like. The processor realizes functions by reading and executing a program stored in a memory or directly incorporated in a circuit of the processor. The memory for storing the program may be provided separately for each processor, or the storage circuit 3 in FIG. 1 may store a program corresponding to the function of each processor. For the configuration of the storage circuit 3, for example, a storage device such as a general RAM (Random Access Memory) or a HDD (Hard Disc Drive) is applied.

なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。   Note that each processor of the present embodiment is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, but may be configured as one processor by combining a plurality of independent circuits to realize its function. Good. Further, a plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize its function.

特許請求の範囲における記憶部の一例は、本実施形態における記憶回路3に対応する。特許請求の範囲における算出部の一例は、本実施形態における算出機能41に対応する。特許請求の範囲における判断部の一例は、判断機能42に対応する。   An example of the storage unit in the claims corresponds to the storage circuit 3 in the present embodiment. An example of the calculation unit in the claims corresponds to the calculation function 41 in the present embodiment. An example of the determining unit in the claims corresponds to the determining function 42.

入力回路6は、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等に一般的に用いられる回路である。入力回路6は、処理回路4に通信可能に接続されている。入力回路6は、操作者から受け取った入力操作を電気信号へ変換し処理回路4へ出力する。   The input circuit 6 is a circuit generally used for a trackball, a switch button, a mouse, a keyboard, and the like. The input circuit 6 is communicably connected to the processing circuit 4. The input circuit 6 converts an input operation received from the operator into an electric signal and outputs the electric signal to the processing circuit 4.

記憶回路3は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。例えば、記憶回路3は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前回測定時としての最新測定時刻を記憶する。記憶回路3は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目を表す電気信号を受けたときの時刻を測定項目ごとに記憶する。このとき、記憶回路3には一般的な計時機能が適用されればよく、時刻の計時方式は何ら限定されるものではない。また、時刻の記憶に関し、記憶回路3は、当該測定項目の最新時刻を測定履歴情報として記憶すればよい。従って、記憶回路3における記憶方式は、上書き記憶でもストック記憶でもどちらでもよい。   The storage circuit 3 stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item. For example, the storage circuit 3 stores, as measurement history information, the latest measurement time as the last measurement time for each measurement item. The storage circuit 3 stores, for each measurement item, a time when an electric signal indicating a measurement item related to the measurement instruction input by the operator is received. At this time, a general clock function may be applied to the storage circuit 3, and the clock method of the time is not limited at all. Further, regarding the storage of the time, the storage circuit 3 may store the latest time of the measurement item as measurement history information. Therefore, the storage method in the storage circuit 3 may be either overwrite storage or stock storage.

処理回路4は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する(算出機能41)。このとき、処理回路4は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。処理回路4は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目の最新測定時刻を記憶回路3から読み出す。処理回路4は、一般的な計時機能によって、測定指示時刻を特定する。処理回路4は、読み出した最新測定時刻と測定指示時刻との間の期間を測定空白期間として算出する。   The processing circuit 4 calculates a measurement blank period, which is an elapsed period from the previous measurement, for the measurement item for which the measurement instruction has been received (calculation function 41). At this time, the processing circuit 4 calculates the measurement blank period based on the latest measurement time and the measurement instruction time that is the time when the measurement instruction was received. The processing circuit 4 reads from the storage circuit 3 the latest measurement time of the measurement item related to the measurement instruction input by the operator. The processing circuit 4 specifies the measurement instruction time by a general clock function. The processing circuit 4 calculates a period between the read latest measurement time and the measurement instruction time as a measurement blank period.

処理回路4は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する(判断機能42)。この所定期間は、例えば、操作者による入力操作によって測定項目ごとに予め入力され、記憶回路3に記憶される。処理回路4は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路4は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されることは、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであると判断されることに相当する。処理回路4は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。   The processing circuit 4 determines whether or not the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period based on the measurement blank period and a predetermined period. This predetermined period is input in advance for each measurement item by an input operation by the operator, for example, and is stored in the storage circuit 3. The processing circuit 4 compares the predetermined period corresponding to the measurement item for which the measurement instruction has been received with the calculated measurement blank period. Accordingly, the processing circuit 4 determines whether the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period. Determining that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than the predetermined period corresponds to determining that the measurement item has a long period since the last measurement. When the processing circuit 4 determines that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than the predetermined period, the processing circuit 4 outputs a control signal indicating this determination to the display 5 together with the measurement item.

ディスプレイ5は、LCD(Liquid Crystal Display)や有機EL(Electroluminescence)ディスプレイ等の一般的な表示装置によって構成される。ディスプレイ5は、特許請求の範囲における表示部の一例に相当する。   The display 5 is configured by a general display device such as an LCD (Liquid Crystal Display) and an organic EL (Electroluminescence) display. The display 5 corresponds to an example of a display unit in the claims.

ディスプレイ5は、処理回路4により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。このとき、ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、精度管理推奨情報を表示する。精度管理推奨情報は、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であることを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、精度管理推奨情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、精度管理推奨情報によって、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であること把握する。それにより、操作者は、入力回路6を操作して、精度管理測定を行うための操作入力を行うことができる。   When the processing circuit 4 determines that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than the predetermined period by the processing circuit 4, the display 5 displays quality control recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item. indicate. At this time, the display 5 displays the quality management recommendation information based on the control signal from the processing circuit 4. The quality control recommended information may be any information that informs the operator that the measurement item has a long period from the previous measurement and is a measurement item that requires quality control measurement. As long as the information indicates this content, the specific information format of the quality management recommended information may be appropriately designed such as text information or image information. The operator recognizes from the quality control recommendation information that the measurement item has a long period since the previous measurement and is a measurement item that requires quality control measurement. Thus, the operator can operate the input circuit 6 to perform an operation input for performing quality control measurement.

なお、ディスプレイ5は、精度管理試料の投入を推奨する情報を精度管理推奨情報として表示してもよい。例えば、ディスプレイ5は、精度管理測定を行うための操作入力を受け、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示する。図3は、ラックセットレイアウトの概略を示す模式図である。枠線271は、ラック27を模式的に示す。位置A〜位置Eは、ラック27において試料容器26が設置される位置を示す。図3では、位置A及び位置Bに精度管理試料を設置し、かつ、位置C、位置D、及び位置Eに被検試料を設置してラックを投入することを推奨する情報が表示されている例を示している。それにより、操作者は、この情報に基づいて、精度管理試料の設置位置を把握しながら精度管理試料を投入することができる。   The display 5 may display information for recommending the introduction of the quality control sample as the quality control recommended information. For example, the display 5 receives an operation input for performing the quality control measurement, and displays information indicating a rack set layout for the quality control measurement. FIG. 3 is a schematic diagram showing an outline of a rack set layout. The frame line 271 schematically shows the rack 27. Positions A to E indicate positions on the rack 27 where the sample containers 26 are installed. In FIG. 3, information recommending that the quality control sample is set at the position A and the position B, and that the test sample is set at the position C, the position D, and the position E and the rack is inserted is displayed. An example is shown. Thereby, the operator can insert the quality control sample while grasping the installation position of the quality control sample based on this information.

また、処理回路4は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路4は、試料容器26ごとに付帯されたバーコード等の識別符号を読み取る。処理回路4は、読み取った識別符号に基づいて、精度管理試料が収められた試料容器26が投入されたか否かを判断する。処理回路4は、精度管理試料の投入が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。   Further, when the processing circuit 4 determines that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, the processing circuit 4 may further determine whether or not the quality control sample has been input. For example, the processing circuit 4 reads an identification code such as a bar code attached to each sample container 26. The processing circuit 4 determines whether or not the sample container 26 containing the quality control sample is loaded based on the read identification code. When the processing circuit 4 determines that the quality control sample has not been input, the processing circuit 4 outputs a control signal indicating this determination to the display 5 together with the measurement item.

ディスプレイ5は、処理回路4により、精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第1の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第1の警告情報を表示する。第1の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第1の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第1の警告情報によって、精度管理試料の投入が行われていないことを把握することができる。   The display 5 displays first warning information relating to the measurement result of the measurement item when the processing circuit 4 determines that the quality control sample has not been input. At this time, the display 5 displays the first warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The first warning information may be any information as long as it informs the operator that the quality control sample has not been loaded. As long as the information indicates this content, the specific information format of the first warning information may be appropriately designed such as text information or image information. The operator can know from the first warning information that the quality control sample has not been loaded.

また、処理回路4は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに精度管理試料の測定が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路4は、試料容器26ごとに付帯された識別符号を読み取る。処理回路4は、読み取った識別符号に基づいて精度管理試料が収められた試料容器26を特定し、該試料容器26からサンプリングアーム29によって分注された試料の測定結果(すなわち、精度管理測定の結果)を取得できたとき、精度管理試料の測定が行われたと判断する。処理回路4は、精度管理測定の結果を取得できないとき、精度管理試料の測定が行われていないと判断する。処理回路4は、精度管理試料の測定が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。   Further, when the processing circuit 4 determines that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, the processing circuit 4 may further determine whether or not the measurement of the quality control sample has been performed. For example, the processing circuit 4 reads an identification code attached to each sample container 26. The processing circuit 4 specifies the sample container 26 containing the quality control sample based on the read identification code, and measures the measurement result of the sample dispensed from the sample container 26 by the sampling arm 29 (that is, the quality control measurement). When the result is obtained, it is determined that the measurement of the quality control sample has been performed. When the result of the quality control measurement cannot be obtained, the processing circuit 4 determines that the quality control sample has not been measured. When determining that the measurement of the quality control sample is not performed, the processing circuit 4 outputs a control signal indicating a control signal indicating the determination to the display 5 together with the measurement item.

ディスプレイ5は、処理回路4により、精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第2の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第2の警告情報を表示する。第2の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第2の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第2の警告情報によって、精度管理試料の測定が行われていないことを把握することができる。   When the processing circuit 4 determines that the measurement of the quality control sample is not performed, the display 5 displays the second warning information on the measurement result of the measurement item. At this time, the display 5 displays the second warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The second warning information only needs to be information that tells the operator that the measurement of the quality control sample has not been performed. As long as the information indicates this content, the specific information format of the second warning information may be appropriately designed such as text information or image information. The operator can grasp from the second warning information that the measurement of the quality control sample is not performed.

また、処理回路4は、精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。例えば、処理回路4は、精度管理試料の測定結果(検量線との照合で得られた濃度や活性)と、当該精度管理試料の既知の値(既知の濃度や活性)とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。この許容範囲は、例えば操作者によって測定項目ごとに予め設定される。処理回路4は、この誤差が許容範囲内であるとき、精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路4は、測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断する。有効であるという判断がなされることは、実施形態の自動分析装置1において、被検試料中の被測定物質の濃度や活性が正常に測定されたと判断されることに相当する。処理回路4は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。   When determining that the measurement of the quality control sample has been performed, the processing circuit 4 further determines whether the measurement result of the quality control sample is normal. For example, the processing circuit 4 collates the measurement result of the quality control sample (concentration or activity obtained by collation with the calibration curve) with a known value (known concentration or activity) of the quality control sample, and It is determined whether or not the error is within an allowable range. This allowable range is set in advance for each measurement item by the operator, for example. When this error is within the allowable range, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the quality control sample is normal. When the processing circuit 4 determines that the measurement result is normal, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the test sample is valid. Determining that the sample is effective corresponds to determining that the concentration and activity of the test substance in the test sample have been measured normally in the automatic analyzer 1 of the embodiment. The processing circuit 4 attaches additional information indicating that the measurement result of the test sample is effective.

処理回路4は、この誤差が許容範囲内でないとき、精度管理試料の測定結果が正常でないと判断する。処理回路4は、測定結果が正常でないと判断したとき、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。ブランク補正の処理内容には一般的な処理内容が適用されてよい。次に、処理回路4は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。このとき、処理回路4は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。処理回路4は、この誤差が許容範囲内であるとき、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路4は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。例えば、処理回路4は、被検試料の測定結果を補正処理後の検量線と照合して、被検試料中の被測定物質の濃度や活性を測定する。   When the error is not within the allowable range, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the quality control sample is not normal. When the processing circuit 4 determines that the measurement result is not normal, the processing circuit 4 corrects the calibration curve of the measurement item. An example of this correction processing is blank correction. General processing contents may be applied to the processing contents of the blank correction. Next, the processing circuit 4 performs quality control measurement on the calibration curve after the correction processing. At this time, the processing circuit 4 collates the measurement result obtained by collation with the calibration curve after the correction process and a known value of the quality control sample, and determines whether or not these errors are within an allowable range. Judge. When the error is within the allowable range, the processing circuit 4 determines that the measurement result of the quality control sample on the calibration curve after the correction processing is normal. Then, the processing circuit 4 recalculates the measurement result of the test sample based on the calibration curve after the correction processing. For example, the processing circuit 4 compares the measurement result of the test sample with the calibration curve after the correction processing, and measures the concentration and activity of the test substance in the test sample.

処理回路4は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内でないとき、被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路4は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。また、処理回路4は、被検試料の測定結果が無効であることを示す制御信号をディスプレイ5へ出力する。ディスプレイ5は、測定結果が無効であることを示す情報を表示する。操作者は、被検試料の測定結果が無効であることを把握することができる。   The processing circuit 4 collates the measurement result obtained by collation with the calibration curve after the correction processing and the known value of the quality control sample, and when these errors are not within an allowable range, the measurement of the test sample is performed. Invalidate the result. For example, the processing circuit 4 attaches additional information indicating invalidity to the measurement result of the test sample. Further, the processing circuit 4 outputs to the display 5 a control signal indicating that the measurement result of the test sample is invalid. The display 5 displays information indicating that the measurement result is invalid. The operator can know that the measurement result of the test sample is invalid.

この場合、処理回路4は、分析モジュール2を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。検量線の再作成処理については、一般的な処理内容が適用されてよい。なお、このとき、図3の例と同様に、ディスプレイ5は、キャリブレーション試料の設置位置に係るラックレイアウトを表示してもよい。そして、自動分析装置1は、再作成した検量線に基づいて被検試料を再測定する。   In this case, the processing circuit 4 controls the analysis module 2, performs measurement using the calibration sample, and recreates a calibration curve. General processing may be applied to the calibration curve re-creation processing. At this time, similarly to the example of FIG. 3, the display 5 may display a rack layout related to the installation position of the calibration sample. Then, the automatic analyzer 1 re-measures the test sample based on the re-created calibration curve.

図4A及び図4Bは、実施形態の自動分析装置1の動作を示すフローチャートである。   4A and 4B are flowcharts illustrating the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment.

ステップS101:操作者は、入力回路6を介して測定項目を示す測定指示を処理回路4へ入力する。処理回路4は、この測定指示を受け付ける。   Step S101: The operator inputs a measurement instruction indicating a measurement item to the processing circuit 4 via the input circuit 6. The processing circuit 4 receives this measurement instruction.

ステップS102:処理回路4は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの期間である測定空白期間を算出する。このとき、処理回路4は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。   Step S102: The processing circuit 4 calculates a measurement blank period, which is a period from the previous measurement, for the measurement item for which the measurement instruction has been received. At this time, the processing circuit 4 calculates the measurement blank period based on the latest measurement time and the measurement instruction time that is the time when the measurement instruction was received.

ステップS103:処理回路4は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路4は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上でないと判断されたとき(ステップS103;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS104へ進む。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき(ステップS103;Yes)、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。また、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS105へ進む。   Step S103: The processing circuit 4 compares the predetermined period corresponding to the measurement item for which the measurement instruction has been received with the calculated measurement blank period. Accordingly, the processing circuit 4 determines whether the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period. When it is determined that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is not longer than the predetermined period (Step S103; No), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S104. When it is determined that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than the predetermined period (step S103; Yes), a control signal indicating this determination is output to the display 5 together with the measurement item. The operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S105.

ステップS104:分析モジュール2は、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定する。なお、処理回路4は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯してもよい。   Step S104: The analysis module 2 measures the concentration and activity of the test substance (measurement item) in the test sample. The processing circuit 4 may attach additional information indicating that the measurement result of the test sample is effective.

ステップS105:ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。   Step S105: The display 5 displays, based on the control signal from the processing circuit 4, quality control recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item.

ステップS106:操作者が精度管理測定を行う旨の操作入力を行ったとき(ステップS106;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS107へ進む。操作者が精度管理測定を行わない旨の操作入力を行ったとき(ステップS106;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS104へ進む。   Step S106: When the operator performs an operation input to perform the quality control measurement (Step S106; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S107. When the operator performs an operation input indicating that the quality control measurement is not performed (Step S106; No), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S104.

ステップS107:処理回路4は、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断する。精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき(ステップS107;No)、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。また、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS108へ進む。精度管理試料の投入が行われたと判断されたとき(ステップS107;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS109へ進む。   Step S107: The processing circuit 4 determines whether or not the injection of the quality control sample has been performed. When it is determined that the quality control sample has not been loaded (Step S107; No), a control signal indicating this determination is output to the display 5 together with the measurement item. The operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S108. When it is determined that the introduction of the quality control sample has been performed (Step S107; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S109.

ステップS108:ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第1の警告情報を表示する。第1の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。   Step S108: The display 5 displays the first warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The first warning information may be any information as long as it informs the operator that the quality control sample has not been loaded.

ステップS109:処理回路4は、精度管理試料の測定が行われたか否かを判断する。精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき(ステップS109;No)、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。また、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS110へ進む。精度管理試料の測定が行われたと判断されたとき(ステップS109;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS111へ進む。   Step S109: The processing circuit 4 determines whether or not the measurement of the quality control sample has been performed. When it is determined that the measurement of the quality control sample is not performed (Step S109; No), a control signal indicating a control signal indicating this determination is output to the display 5 together with the measurement item. The operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment proceeds to step S110. When it is determined that the measurement of the quality control sample has been performed (Step S109; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S111.

ステップS110:ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第2の警告情報を表示する。第2の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。   Step S110: The display 5 displays the second warning information based on the control signal from the processing circuit 4. The second warning information only needs to be information that tells the operator that the measurement of the quality control sample has not been performed.

ステップS111:処理回路4は、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき(ステップS111;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS112へ進む。精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき(ステップS111;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS113へ進む。   Step S111: The processing circuit 4 determines whether or not the measurement result of the quality control sample is normal. When it is determined that the measurement result of the quality control sample is normal (Step S111; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S112. When it is determined that the measurement result of the quality control sample is not normal (Step S111; No), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S113.

ステップS112:処理回路4は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。なお、ステップS107からステップS112までの処理の間、分析モジュール2は、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定している。この測定によって得られた値は、その有効・無効の判断が保留された状態(有効であることを示す付帯情報も無効あることを示す付帯情報も付帯されていない状態)で記憶回路3に記憶されている。   Step S112: The processing circuit 4 attaches supplementary information indicating that the measurement result of the test sample is valid. During the process from step S107 to step S112, the analysis module 2 measures the concentration and the activity of the test substance (measurement item) in the test sample. The value obtained by this measurement is stored in the storage circuit 3 in a state where the determination of validity / invalidity is suspended (a state in which neither additional information indicating validity nor additional information indicating invalidity is attached). Have been.

ステップS113:処理回路4は、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。   Step S113: The processing circuit 4 performs a correction process of the calibration curve of the measurement item. An example of this correction processing is blank correction.

ステップS114:処理回路4は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。   Step S114: The processing circuit 4 performs quality control measurement on the calibration curve after the correction processing.

ステップS115:処理回路4は、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常か否かを判断する。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき(ステップS115;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS116へ進む。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき(ステップS115;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS117へ進む。   Step S115: The processing circuit 4 determines whether or not the measurement result of the quality control sample on the calibration curve after the correction processing is normal. When it is determined that the measurement result of the quality control sample on the calibration curve after the correction processing is normal (step S115; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to step S116. When it is determined that the measurement result of the quality control sample on the calibration curve after the correction processing is not normal (Step S115; No), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S117.

ステップS116:処理回路4は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。   Step S116: The processing circuit 4 recalculates the measurement result of the test sample based on the calibration curve after the correction processing.

ステップS117:被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路4は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。   Step S117: Invalidate the measurement result of the test sample. For example, the processing circuit 4 attaches additional information indicating invalidity to the measurement result of the test sample.

ステップS118:処理回路4は、分析モジュール2を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。   Step S118: The processing circuit 4 controls the analysis module 2, performs measurement using the calibration sample, and re-creates a calibration curve.

以上述べた実施形態の自動分析装置1によれば、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる。また、精度管理試料の測定結果が正常であることを判断した後で、既に測定された被検試料の測定結果を有効とするので、被検試料が測定されずに長時間放置されるケースや排出されるケースを低減することができる。また、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示することによって、被検試料専用のラック27と精度管理試料専用のラック27とを使い分ける手間を省くことができる。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費することの防止を図ることができる。   According to the automatic analyzer 1 of the embodiment described above, it is possible to easily manage the accuracy of a measurement item having a long period from the last measurement. In addition, after determining that the measurement result of the quality control sample is normal, the measurement result of the already measured test sample is validated. The number of cases discharged can be reduced. In addition, by displaying information indicating a rack set layout for quality control measurement, it is possible to save the trouble of properly using the rack 27 dedicated to the test sample and the rack 27 dedicated to the quality control sample. Further, quality control measurement is performed on a measurement item having a short period from the previous measurement, so that it is possible to prevent the quality control sample from being consumed in large quantities.

本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。   Although an embodiment of the present invention has been described, this embodiment has been presented by way of example only, and is not intended to limit the scope of the invention. This embodiment can be implemented in other various forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. This embodiment and its modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and equivalents thereof.

1 自動分析装置
2 分析モジュール
3 記憶回路
4 処理回路
5 ディスプレイ
6 入力回路
21a 第1試薬ボトル
21b 第2試薬ボトル
22a 第1試薬ラック
22b 第2試薬ラック
23a 第1試薬庫
23b 第2試薬庫
24 反応管
25 反応ディスク
26 試料容器
27 ラック
28a 第1分注アーム
28b 第2分注アーム
29 サンプリングアーム
30 攪拌ユニット
31 測光ユニット
32 洗浄ユニット
41 算出機能
42 判断機能
Reference Signs List 1 automatic analyzer 2 analysis module 3 storage circuit 4 processing circuit 5 display 6 input circuit 21a first reagent bottle 21b second reagent bottle 22a first reagent rack 22b second reagent rack 23a first reagent storage 23b second reagent storage 24 reaction Tube 25 Reaction disk 26 Sample container 27 Rack 28a First dispensing arm 28b Second dispensing arm 29 Sampling arm 30 Stirring unit 31 Photometry unit 32 Washing unit 41 Calculation function 42 Judgment function

Claims (7)

測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する記憶部と、
前記測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた前記測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する算出部と、
前記測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上か否か判断する判断部と、
前記判断部により、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する表示部と、
を有する自動分析装置。
A storage unit that stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item,
Based on the measurement history information, a calculation unit that calculates a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item that received the measurement instruction,
Based on the measurement blank period and a predetermined period, a determination unit that determines whether the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period,
When the determination unit determines that the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period, the quality control recommendation information that recommends measurement of the quality control sample related to the measurement item is displayed. Display unit to be
An automatic analyzer having a.
前記記憶部は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前記前回測定時としての最新測定時刻を記憶し、
前記算出部は、前記最新測定時刻と前記測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、前記測定空白期間を算出する
ことを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。
The storage unit stores, as measurement history information, the latest measurement time as the last measurement time for each measurement item,
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the calculation unit calculates the measurement blanking period based on the latest measurement time and a measurement instruction time that is a time when the measurement instruction is received. .
前記表示部は、前記精度管理試料の投入を推奨する情報を前記精度管理推奨情報として表示することを特徴とする請求項1又は2に記載の自動分析装置。   The automatic analyzer according to claim 1, wherein the display unit displays information recommending the introduction of the quality control sample as the quality control recommended information. 前記判断部は、前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断したとき、さらに、前記精度管理試料の投入が行われたか否かを判断し、
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第1の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項3に記載の自動分析装置。
The determination unit, when it is determined that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, further determines whether or not the input of the quality control sample,
The display unit displays first warning information relating to a measurement result of the measurement item when the determination unit determines that the quality control sample has not been inserted. 4. The automatic analyzer according to 3.
前記判断部は、前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定が行われたか否かを判断し、
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第2の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の自動分析装置。
The determining unit, when it is determined that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, further determines whether the measurement of the quality control sample was performed,
The display unit, when the determination unit determines that the measurement of the quality control sample is not performed, displays the second warning information related to the measurement result of the measurement item. 3. The automatic analyzer according to 1 or 2.
前記判断部は、前記精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断し、前記測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断することを特徴とする請求項5に記載の自動分析装置。   When the determination unit determines that the measurement of the quality control sample is performed, further, determines whether the measurement result of the quality control sample is normal, when it is determined that the measurement result is normal 6. The automatic analyzer according to claim 5, wherein the measurement result of the test sample is determined to be valid. 前記判断部は、前記精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、前記精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断し、
前記算出部は、前記判断部により、前記測定結果が正常でないと判断されたとき、測定指示を受けた前記測定項目の検量線の補正処理を行い、前記補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する
ことを特徴とする請求項5に記載の自動分析装置。
The determination unit, when it is determined that the measurement of the quality control sample was performed, further, determines whether the measurement result of the quality control sample is normal,
When the determination unit determines that the measurement result is not normal, the calculation unit corrects the calibration curve of the measurement item for which the measurement instruction has been received, and calculates the calibration curve based on the calibration curve after the correction process. The automatic analyzer according to claim 5, wherein the calculation result of the test sample is recalculated.
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