JP6647939B2 - Automatic analyzer - Google Patents
Automatic analyzer Download PDFInfo
- Publication number
- JP6647939B2 JP6647939B2 JP2016064719A JP2016064719A JP6647939B2 JP 6647939 B2 JP6647939 B2 JP 6647939B2 JP 2016064719 A JP2016064719 A JP 2016064719A JP 2016064719 A JP2016064719 A JP 2016064719A JP 6647939 B2 JP6647939 B2 JP 6647939B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- quality control
- control sample
- sample
- automatic analyzer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Landscapes
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
本発明の実施形態は、自動分析装置に関する。 Embodiments of the present invention relate to an automatic analyzer.
臨床検査は、被検者の状態を客観的に評価するために行われる。この臨床検査には臨床検査装置が主に用いられる。臨床検査装置の一例として、自動分析装置が挙げられる。 Laboratory tests are performed to objectively evaluate the condition of a subject. A clinical test device is mainly used for this clinical test. An example of a clinical test device is an automatic analyzer.
自動分析装置は、反応管に血液や尿等の被検試料と試薬とを分注してこれらを混合して反応させた後、反応によって生じる色調や濁りの変化を測定(検査)する。それにより、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定する。 The automatic analyzer dispenses a test sample such as blood or urine and a reagent into a reaction tube, mixes and reacts them, and then measures (examines) a change in color tone or turbidity caused by the reaction. Thereby, the concentration and activity of the test substance (measurement item) in the test sample are measured.
自動分析装置は、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料(キャリブレーション試料)と当該試薬とによって求められている検量線に基づいて、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定する。 The automatic analyzer uses a calibration sample (calibration sample) having a known concentration or activity of a substance to be measured and a calibration curve obtained from the reagent and the analyte (measurement item) in the test sample. ) Measure the concentration and activity.
測定項目の中には、例えば、LCAT(Lecitin-cholesterol acyltransferase、レシチン-コレステロールアシルトランスフェラーゼ)、乳酸等をそれぞれ測定する項目のように、前回測定時からの期間が長く空いたものがある。この測定の前に、被測定物質の濃度や活性が既知である精度管理試料(コントロール試料)を測定し、検量線と照合することによって精度管理を行う(精度管理測定)。そして、十分な精度が得られると判断された場合に、被検試料の測定が行われる。なお、校正用試料及び精度管理試料は、被測定物質の濃度や活性が既知であることは共通しているが、その使用目的が異なる。従って、通常、校正用試料及び精度管理試料は、自動分析装置において互いに区別して管理される。 Among the measurement items, there are, for example, items for which LCAT (lecitin-cholesterol acyltransferase, lecithin-cholesterol acyltransferase), lactic acid, and the like are respectively measured, and the period from the last measurement is long. Before this measurement, a quality control sample (control sample) having a known concentration and activity of the substance to be measured is measured, and quality control is performed by collating with a calibration curve (quality control measurement). Then, when it is determined that sufficient accuracy is obtained, the measurement of the test sample is performed. Note that the calibration sample and the quality control sample have in common that the concentration and activity of the substance to be measured are known, but they are used for different purposes. Therefore, usually, the calibration sample and the quality control sample are managed separately from each other in the automatic analyzer.
従来、この精度管理測定の間、被検試料の測定が一時停止され、精度管理測定に問題がなければ被検試料の測定が開始される場合があった。この場合、被検試料が自動分析装置内に長時間放置されていた。精度管理測定の結果に問題があると判断された場合、被検試料が再測定されずに排出される場合があった。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費してしまう場合があった。 Conventionally, during the quality control measurement, the measurement of the test sample is temporarily stopped, and if there is no problem with the quality control measurement, the measurement of the test sample may be started. In this case, the test sample has been left in the automatic analyzer for a long time. When it was determined that there was a problem with the results of the quality control measurement, the test sample was sometimes discharged without being measured again. In addition, quality control measurement may be performed on a measurement item having a short period from the previous measurement, and a large amount of quality control sample may be consumed.
本発明が解決しようとする課題は、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる自動分析装置を提供することである。 The problem to be solved by the present invention is to provide an automatic analyzer that can easily perform quality control on a measurement item that has a long period from the last measurement.
実施形態の自動分析装置は、記憶部と、算出部と、判断部と、表示部とを有する。記憶部は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。算出部は、測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する。判断部は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。表示部は、判断部により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。 The automatic analyzer according to the embodiment includes a storage unit, a calculation unit, a determination unit, and a display unit. The storage unit stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item. The calculation unit calculates, based on the measurement history information, a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item for which the measurement instruction has been received. The determination unit determines whether or not the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is equal to or longer than a predetermined period based on the measurement blank period and a predetermined period. The display unit, when the determination unit determines that the measurement blank period of the measurement item for which the measurement instruction has been received is longer than the predetermined period, displays quality control recommendation information for recommending measurement of the quality control sample related to the measurement item. I do.
以下、実施形態に係る自動分析装置について図面を参照して説明する。 Hereinafter, an automatic analyzer according to an embodiment will be described with reference to the drawings.
図1は、実施形態に係る自動分析装置1の機能構成を示すブロック図である。自動分析装置1は、分析モジュール2と、記憶回路3と、処理回路4と、ディスプレイ5と、入力回路6とを有する。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a functional configuration of the automatic analyzer 1 according to the embodiment. The automatic analyzer 1 has an
図2は、実施形態に係る自動分析装置1の分析モジュール2の概略を表す模式図である。分析モジュール2は、第1試薬ボトル21a、第2試薬ボトル21b、第1試薬ラック22a、第2試薬ラック22b、第1試薬庫23a、第2試薬庫23b、反応管24、反応ディスク25、試料容器26、ラック27、第1分注アーム28a、第2分注アーム28b、サンプリングアーム29、攪拌ユニット30、測光ユニット31、及び洗浄ユニット32を有する。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating an outline of the
第1試薬ボトル21aには、試料と反応する第1試薬が収容される。第2試薬ボトル21bには、第1試薬と異なる種類の試薬である第2試薬が収容される。第1試薬ラック22aは、複数の第1試薬ボトル21aを収容した状態で第1試薬庫23aに設置される。第2試薬ラック22bは複数の第2試薬ボトル21bを収容した状態で第2試薬庫23bに設置される。
The
反応管24は、試料と第1試薬及び第2試薬とを反応させる際に使用する容器である。反応ディスク25には、複数の反応管24が円状に配置される。
The
試料容器26は、試料が収められる容器である。1つの試料容器26には、該試料として、血液や尿等の被検試料、被測定物質の濃度や活性が既知である校正用試料又は精度管理試料が収められる。ラック27には、複数の試料容器26が配置される。ラック27は、たとえば、一般的な搬送機構であるレールRの上流側(図2の場合、レールRの右側)に投入され、そして、下流側(図2の場合、レールRの左側)へ搬送される。試料容器26の一つ一つは、個別にバーコード等の識別符号が付帯され、個別に管理可能である。
The
第1試薬は、第1分注アーム28aによって、試料が分注されている反応管24内へ第1試薬ボトル21a内から分注される。第2試薬は、第2分注アーム28bによって、試料及び第1試薬が分注されている反応管24内へ第2試薬ボトル21b内から分注される。
The first reagent is dispensed by the first dispensing
試料と第1試薬とが分注された反応管24、並びに、試料と第1試薬及び第2試薬とが分注された反応管24は、反応ディスク25の回動により、攪拌ユニット30の位置まで移動される。攪拌ユニット30は、反応管24内の試料と第1試薬とを攪拌し、また、反応管24内の試料と第1試薬及び第2試薬とを攪拌して、試料と第1試薬及び第2試薬とを混合させるユニットである。
The
攪拌された試料と第1試薬及び第2試薬とを含む反応管24は、反応ディスク25の回動により、測光ユニット31の位置まで移動される。測光ユニット31は、反応管24に対して光を照射し、試料と第1試薬及び第2試薬との混合液の吸光度変化等を測定する。
The
洗浄ユニット32は、測定が完了した反応管24内の混合液が廃棄された後、反応管24内の洗浄を行う。以上で分析モジュール2の概要説明を終了する。
The
図1に示す自動分析装置1では、構成要素、算出部・判断部にて行なわれる各処理機能は、コンピュータによって実行可能なプログラムの形態で記憶回路3へ記録されている。処理回路4は、プログラムをメモリから読み出し実行することで各プログラムに対応する機能を実現するプロセッサである。換言すると、各プログラムを読み出した状態の処理回路4は、図1の処理回路4内に示された各機能を有することとなる。
In the automatic analyzer 1 shown in FIG. 1, the components and the respective processing functions performed by the calculation unit / judgment unit are recorded in the storage circuit 3 in the form of a program executable by a computer. The
なお、ここでは、単一の処理回路4にて算出部・判断部にて行なわれる処理機能が実現されるものとして説明するが、複数の分離したプロセッサを組み合わせ、各プロセッサがプログラムを実行することにより機能を実現するものとしても構わない。
Here, a description will be given assuming that the processing functions performed by the calculation unit / judgment unit are realized by a
本明細書における「プロセッサ」という文言は、例えば、専用又は汎用のCPU(Central Processing Unit) arithmetic circuit(circuitry)、或いは、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)、及びフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA))等の回路を意味する。プロセッサは、メモリに保存された、又はプロセッサの回路内に直接組み込まれたプログラムを読み出し実行することで機能を実現する。プログラムを記憶するメモリは、プロセッサごとに個別に設けられるものであっても構わないし、或いは図1における記憶回路3が各プロセッサの機能に対応するプログラムを記憶するものであっても構わない。記憶回路3の構成には、例えば、一般的なRAM(Random Access Memory)やHDD(Hard Disc Drive)等の記憶装置が適用される。 The term “processor” in this specification refers to, for example, a dedicated or general-purpose CPU (Central Processing Unit) arithmetic circuit (circuitry), or an application-specific integrated circuit (Application Specific Integrated Circuit, such as an AIC (Logical Integrated Circuit: AIC)). , Simple Programmable Logic Device (SPLD), Composite Programmable Logic Device (CPLD), and Field Programmable Gate Array (FPGA) It refers to the circuit and the like. The processor realizes functions by reading and executing a program stored in a memory or directly incorporated in a circuit of the processor. The memory for storing the program may be provided separately for each processor, or the storage circuit 3 in FIG. 1 may store a program corresponding to the function of each processor. For the configuration of the storage circuit 3, for example, a storage device such as a general RAM (Random Access Memory) or a HDD (Hard Disc Drive) is applied.
なお、本実施形態の各プロセッサは、プロセッサごとに単一の回路として構成される場合に限らず、複数の独立した回路を組み合わせて1つのプロセッサとして構成し、その機能を実現するようにしてもよい。さらに、図1における複数の構成要素を1つのプロセッサへ統合してその機能を実現するようにしてもよい。 Note that each processor of the present embodiment is not limited to the case where each processor is configured as a single circuit, but may be configured as one processor by combining a plurality of independent circuits to realize its function. Good. Further, a plurality of components in FIG. 1 may be integrated into one processor to realize its function.
特許請求の範囲における記憶部の一例は、本実施形態における記憶回路3に対応する。特許請求の範囲における算出部の一例は、本実施形態における算出機能41に対応する。特許請求の範囲における判断部の一例は、判断機能42に対応する。
An example of the storage unit in the claims corresponds to the storage circuit 3 in the present embodiment. An example of the calculation unit in the claims corresponds to the
入力回路6は、トラックボール、スイッチボタン、マウス、キーボード等に一般的に用いられる回路である。入力回路6は、処理回路4に通信可能に接続されている。入力回路6は、操作者から受け取った入力操作を電気信号へ変換し処理回路4へ出力する。
The
記憶回路3は、測定項目ごとの測定履歴を表す測定履歴情報を記憶する。例えば、記憶回路3は、測定履歴情報として、測定項目ごとの前回測定時としての最新測定時刻を記憶する。記憶回路3は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目を表す電気信号を受けたときの時刻を測定項目ごとに記憶する。このとき、記憶回路3には一般的な計時機能が適用されればよく、時刻の計時方式は何ら限定されるものではない。また、時刻の記憶に関し、記憶回路3は、当該測定項目の最新時刻を測定履歴情報として記憶すればよい。従って、記憶回路3における記憶方式は、上書き記憶でもストック記憶でもどちらでもよい。 The storage circuit 3 stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item. For example, the storage circuit 3 stores, as measurement history information, the latest measurement time as the last measurement time for each measurement item. The storage circuit 3 stores, for each measurement item, a time when an electric signal indicating a measurement item related to the measurement instruction input by the operator is received. At this time, a general clock function may be applied to the storage circuit 3, and the clock method of the time is not limited at all. Further, regarding the storage of the time, the storage circuit 3 may store the latest time of the measurement item as measurement history information. Therefore, the storage method in the storage circuit 3 may be either overwrite storage or stock storage.
処理回路4は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する(算出機能41)。このとき、処理回路4は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。処理回路4は、操作者により入力される測定指示に係る測定項目の最新測定時刻を記憶回路3から読み出す。処理回路4は、一般的な計時機能によって、測定指示時刻を特定する。処理回路4は、読み出した最新測定時刻と測定指示時刻との間の期間を測定空白期間として算出する。
The
処理回路4は、測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する(判断機能42)。この所定期間は、例えば、操作者による入力操作によって測定項目ごとに予め入力され、記憶回路3に記憶される。処理回路4は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路4は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されることは、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであると判断されることに相当する。処理回路4は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。
The
ディスプレイ5は、LCD(Liquid Crystal Display)や有機EL(Electroluminescence)ディスプレイ等の一般的な表示装置によって構成される。ディスプレイ5は、特許請求の範囲における表示部の一例に相当する。
The
ディスプレイ5は、処理回路4により、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。このとき、ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、精度管理推奨情報を表示する。精度管理推奨情報は、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であることを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、精度管理推奨情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、精度管理推奨情報によって、当該測定項目が前回測定時からの期間が長いものであり、精度管理測定が必要な測定項目であること把握する。それにより、操作者は、入力回路6を操作して、精度管理測定を行うための操作入力を行うことができる。
When the
なお、ディスプレイ5は、精度管理試料の投入を推奨する情報を精度管理推奨情報として表示してもよい。例えば、ディスプレイ5は、精度管理測定を行うための操作入力を受け、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示する。図3は、ラックセットレイアウトの概略を示す模式図である。枠線271は、ラック27を模式的に示す。位置A〜位置Eは、ラック27において試料容器26が設置される位置を示す。図3では、位置A及び位置Bに精度管理試料を設置し、かつ、位置C、位置D、及び位置Eに被検試料を設置してラックを投入することを推奨する情報が表示されている例を示している。それにより、操作者は、この情報に基づいて、精度管理試料の設置位置を把握しながら精度管理試料を投入することができる。
The
また、処理回路4は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路4は、試料容器26ごとに付帯されたバーコード等の識別符号を読み取る。処理回路4は、読み取った識別符号に基づいて、精度管理試料が収められた試料容器26が投入されたか否かを判断する。処理回路4は、精度管理試料の投入が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。
Further, when the
ディスプレイ5は、処理回路4により、精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第1の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第1の警告情報を表示する。第1の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第1の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第1の警告情報によって、精度管理試料の投入が行われていないことを把握することができる。
The
また、処理回路4は、測定空白期間が所定期間以上であると判断したとき、さらに精度管理試料の測定が行われたか否かを判断してもよい。例えば、処理回路4は、試料容器26ごとに付帯された識別符号を読み取る。処理回路4は、読み取った識別符号に基づいて精度管理試料が収められた試料容器26を特定し、該試料容器26からサンプリングアーム29によって分注された試料の測定結果(すなわち、精度管理測定の結果)を取得できたとき、精度管理試料の測定が行われたと判断する。処理回路4は、精度管理測定の結果を取得できないとき、精度管理試料の測定が行われていないと判断する。処理回路4は、精度管理試料の測定が行われていないと判断したとき、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。
Further, when the
ディスプレイ5は、処理回路4により、精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、当該測定項目の測定結果に係る第2の警告情報を表示する。このとき、ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第2の警告情報を表示する。第2の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。この内容を示す情報であれば、第2の警告情報の具体的な情報形式は、テキスト情報や画像情報など適宜設計されてよい。操作者は、第2の警告情報によって、精度管理試料の測定が行われていないことを把握することができる。
When the
また、処理回路4は、精度管理試料の測定が行われたと判断したとき、さらに、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。例えば、処理回路4は、精度管理試料の測定結果(検量線との照合で得られた濃度や活性)と、当該精度管理試料の既知の値(既知の濃度や活性)とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。この許容範囲は、例えば操作者によって測定項目ごとに予め設定される。処理回路4は、この誤差が許容範囲内であるとき、精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路4は、測定結果が正常であると判断したとき、被検試料の測定結果を有効であると判断する。有効であるという判断がなされることは、実施形態の自動分析装置1において、被検試料中の被測定物質の濃度や活性が正常に測定されたと判断されることに相当する。処理回路4は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。
When determining that the measurement of the quality control sample has been performed, the
処理回路4は、この誤差が許容範囲内でないとき、精度管理試料の測定結果が正常でないと判断する。処理回路4は、測定結果が正常でないと判断したとき、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。ブランク補正の処理内容には一般的な処理内容が適用されてよい。次に、処理回路4は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。このとき、処理回路4は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内であるか否かを判断する。処理回路4は、この誤差が許容範囲内であるとき、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断する。そして、処理回路4は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。例えば、処理回路4は、被検試料の測定結果を補正処理後の検量線と照合して、被検試料中の被測定物質の濃度や活性を測定する。
When the error is not within the allowable range, the
処理回路4は、補正処理後の検量線との照合で得られた測定結果と、当該精度管理試料の既知の値とを照合し、これらの誤差が許容範囲内でないとき、被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路4は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。また、処理回路4は、被検試料の測定結果が無効であることを示す制御信号をディスプレイ5へ出力する。ディスプレイ5は、測定結果が無効であることを示す情報を表示する。操作者は、被検試料の測定結果が無効であることを把握することができる。
The
この場合、処理回路4は、分析モジュール2を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。検量線の再作成処理については、一般的な処理内容が適用されてよい。なお、このとき、図3の例と同様に、ディスプレイ5は、キャリブレーション試料の設置位置に係るラックレイアウトを表示してもよい。そして、自動分析装置1は、再作成した検量線に基づいて被検試料を再測定する。
In this case, the
図4A及び図4Bは、実施形態の自動分析装置1の動作を示すフローチャートである。 4A and 4B are flowcharts illustrating the operation of the automatic analyzer 1 according to the embodiment.
ステップS101:操作者は、入力回路6を介して測定項目を示す測定指示を処理回路4へ入力する。処理回路4は、この測定指示を受け付ける。
Step S101: The operator inputs a measurement instruction indicating a measurement item to the
ステップS102:処理回路4は、測定指示を受けた測定項目について前回測定時からの期間である測定空白期間を算出する。このとき、処理回路4は、最新測定時刻と測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、測定空白期間を算出する。
Step S102: The
ステップS103:処理回路4は、測定指示を受けた測定項目に対応する所定期間と算出された測定空白期間とを比較する。それにより、処理回路4は、測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上か否か判断する。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上でないと判断されたとき(ステップS103;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS104へ進む。測定指示を受けた測定項目の測定空白期間が所定期間以上であると判断されたとき(ステップS103;Yes)、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。また、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS105へ進む。
Step S103: The
ステップS104:分析モジュール2は、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定する。なお、処理回路4は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯してもよい。
Step S104: The
ステップS105:ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する。
Step S105: The
ステップS106:操作者が精度管理測定を行う旨の操作入力を行ったとき(ステップS106;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS107へ進む。操作者が精度管理測定を行わない旨の操作入力を行ったとき(ステップS106;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS104へ進む。 Step S106: When the operator performs an operation input to perform the quality control measurement (Step S106; Yes), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S107. When the operator performs an operation input indicating that the quality control measurement is not performed (Step S106; No), the operation of the automatic analyzer 1 of the embodiment proceeds to Step S104.
ステップS107:処理回路4は、精度管理試料の投入が行われたか否かを判断する。精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき(ステップS107;No)、この判断を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。また、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS108へ進む。精度管理試料の投入が行われたと判断されたとき(ステップS107;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS109へ進む。
Step S107: The
ステップS108:ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第1の警告情報を表示する。第1の警告情報は、精度管理試料の投入が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。
Step S108: The
ステップS109:処理回路4は、精度管理試料の測定が行われたか否かを判断する。精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき(ステップS109;No)、この判断を示す制御信号を示す制御信号を当該測定項目とともにディスプレイ5へ出力する。また、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS110へ進む。精度管理試料の測定が行われたと判断されたとき(ステップS109;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS111へ進む。
Step S109: The
ステップS110:ディスプレイ5は、処理回路4からの制御信号に基づいて、第2の警告情報を表示する。第2の警告情報は、精度管理試料の測定が行われていないことを操作者へ伝える内容の情報であればよい。
Step S110: The
ステップS111:処理回路4は、精度管理試料の測定結果が正常であるか否かを判断する。精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき(ステップS111;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS112へ進む。精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき(ステップS111;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS113へ進む。
Step S111: The
ステップS112:処理回路4は、被検試料の測定結果に有効であることを示す付帯情報を付帯する。なお、ステップS107からステップS112までの処理の間、分析モジュール2は、被検試料中の被測定物質(測定項目)の濃度や活性を測定している。この測定によって得られた値は、その有効・無効の判断が保留された状態(有効であることを示す付帯情報も無効あることを示す付帯情報も付帯されていない状態)で記憶回路3に記憶されている。
Step S112: The
ステップS113:処理回路4は、当該測定項目の検量線の補正処理を行う。この補正処理の例としてはブランク補正が挙げられる。
Step S113: The
ステップS114:処理回路4は、補正処理後の検量線について精度管理測定を行う。
Step S114: The
ステップS115:処理回路4は、補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常か否かを判断する。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常であると判断されたとき(ステップS115;Yes)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS116へ進む。補正処理後の検量線についての精度管理試料の測定結果が正常でないと判断されたとき(ステップS115;No)、実施形態の自動分析装置1の動作はステップS117へ進む。
Step S115: The
ステップS116:処理回路4は、補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する。
Step S116: The
ステップS117:被検試料の測定結果を無効とする。例えば、処理回路4は、被検試料の測定結果に無効を表す付帯情報を付帯する。
Step S117: Invalidate the measurement result of the test sample. For example, the
ステップS118:処理回路4は、分析モジュール2を制御して、キャリブレーション試料を用いた測定を行い、検量線を再作成する。
Step S118: The
以上述べた実施形態の自動分析装置1によれば、前回測定時からの期間が長く空いた測定項目について、簡便に精度管理を行うことができる。また、精度管理試料の測定結果が正常であることを判断した後で、既に測定された被検試料の測定結果を有効とするので、被検試料が測定されずに長時間放置されるケースや排出されるケースを低減することができる。また、精度管理測定のためのラックセットレイアウトを示す情報を表示することによって、被検試料専用のラック27と精度管理試料専用のラック27とを使い分ける手間を省くことができる。また、前回測定時からの期間が短い測定項目について精度管理測定を行い、精度管理試料を多く消費することの防止を図ることができる。
According to the automatic analyzer 1 of the embodiment described above, it is possible to easily manage the accuracy of a measurement item having a long period from the last measurement. In addition, after determining that the measurement result of the quality control sample is normal, the measurement result of the already measured test sample is validated. The number of cases discharged can be reduced. In addition, by displaying information indicating a rack set layout for quality control measurement, it is possible to save the trouble of properly using the
本発明の実施形態を説明したが、この実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することを意図していない。この実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。この実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。 Although an embodiment of the present invention has been described, this embodiment has been presented by way of example only, and is not intended to limit the scope of the invention. This embodiment can be implemented in other various forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the spirit of the invention. This embodiment and its modifications are included in the scope and gist of the invention, and are also included in the invention described in the claims and equivalents thereof.
1 自動分析装置
2 分析モジュール
3 記憶回路
4 処理回路
5 ディスプレイ
6 入力回路
21a 第1試薬ボトル
21b 第2試薬ボトル
22a 第1試薬ラック
22b 第2試薬ラック
23a 第1試薬庫
23b 第2試薬庫
24 反応管
25 反応ディスク
26 試料容器
27 ラック
28a 第1分注アーム
28b 第2分注アーム
29 サンプリングアーム
30 攪拌ユニット
31 測光ユニット
32 洗浄ユニット
41 算出機能
42 判断機能
Reference Signs List 1
Claims (7)
前記測定履歴情報に基づいて、測定指示を受けた前記測定項目について前回測定時からの経過期間である測定空白期間を算出する算出部と、
前記測定空白期間と予め定められた所定期間とに基づいて、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上か否か判断する判断部と、
前記判断部により、測定指示を受けた前記測定項目の前記測定空白期間が前記所定期間以上であると判断されたとき、当該測定項目に係る精度管理試料の測定を推奨する精度管理推奨情報を表示する表示部と、
を有する自動分析装置。 A storage unit that stores measurement history information indicating a measurement history for each measurement item,
Based on the measurement history information, a calculation unit that calculates a measurement blank period that is an elapsed period from the previous measurement for the measurement item that received the measurement instruction,
Based on the measurement blank period and a predetermined period, a determination unit that determines whether the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period,
When the determination unit determines that the measurement blank period of the measurement item that has received the measurement instruction is equal to or longer than the predetermined period, the quality control recommendation information that recommends measurement of the quality control sample related to the measurement item is displayed. Display unit to be
An automatic analyzer having a.
前記算出部は、前記最新測定時刻と前記測定指示を受けたときの時刻である測定指示時刻とに基づいて、前記測定空白期間を算出する
ことを特徴とする請求項1に記載の自動分析装置。 The storage unit stores, as measurement history information, the latest measurement time as the last measurement time for each measurement item,
The automatic analyzer according to claim 1, wherein the calculation unit calculates the measurement blanking period based on the latest measurement time and a measurement instruction time that is a time when the measurement instruction is received. .
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の投入が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第1の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項3に記載の自動分析装置。 The determination unit, when it is determined that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, further determines whether or not the input of the quality control sample,
The display unit displays first warning information relating to a measurement result of the measurement item when the determination unit determines that the quality control sample has not been inserted. 4. The automatic analyzer according to 3.
前記表示部は、前記判断部により、前記精度管理試料の測定が行われていないと判断されたとき、前記測定項目の測定結果に係る第2の警告情報を表示する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の自動分析装置。 The determining unit, when it is determined that the measurement blank period is equal to or longer than the predetermined period, further determines whether the measurement of the quality control sample was performed,
The display unit, when the determination unit determines that the measurement of the quality control sample is not performed, displays the second warning information related to the measurement result of the measurement item. 3. The automatic analyzer according to 1 or 2.
前記算出部は、前記判断部により、前記測定結果が正常でないと判断されたとき、測定指示を受けた前記測定項目の検量線の補正処理を行い、前記補正処理後の検量線に基づいて被検試料の測定結果を再演算する
ことを特徴とする請求項5に記載の自動分析装置。 The determination unit, when it is determined that the measurement of the quality control sample was performed, further, determines whether the measurement result of the quality control sample is normal,
When the determination unit determines that the measurement result is not normal, the calculation unit corrects the calibration curve of the measurement item for which the measurement instruction has been received, and calculates the calibration curve based on the calibration curve after the correction process. The automatic analyzer according to claim 5, wherein the calculation result of the test sample is recalculated.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016064719A JP6647939B2 (en) | 2016-03-28 | 2016-03-28 | Automatic analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016064719A JP6647939B2 (en) | 2016-03-28 | 2016-03-28 | Automatic analyzer |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017181116A JP2017181116A (en) | 2017-10-05 |
JP6647939B2 true JP6647939B2 (en) | 2020-02-14 |
Family
ID=60004285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016064719A Active JP6647939B2 (en) | 2016-03-28 | 2016-03-28 | Automatic analyzer |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6647939B2 (en) |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0871034B1 (en) * | 1997-04-10 | 2007-03-07 | Hitachi, Ltd. | Automatic analyzer and support system therefor |
JP5191664B2 (en) * | 2007-01-09 | 2013-05-08 | ベックマン コールター, インコーポレイテッド | Analysis equipment |
JP4851951B2 (en) * | 2007-02-02 | 2012-01-11 | ベックマン コールター, インコーポレイテッド | Analysis equipment |
JP2008209338A (en) * | 2007-02-28 | 2008-09-11 | Hitachi High-Technologies Corp | Automatic analyzer |
JP4955437B2 (en) * | 2007-03-27 | 2012-06-20 | 株式会社タニタ | Biochemical measuring instrument stand that can display the status of the biochemical measuring instrument |
JP2009270841A (en) * | 2008-04-30 | 2009-11-19 | Hitachi High-Technologies Corp | Autoanalyzer |
JP6180721B2 (en) * | 2012-10-25 | 2017-08-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | Automatic analyzer |
-
2016
- 2016-03-28 JP JP2016064719A patent/JP6647939B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017181116A (en) | 2017-10-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7315749B2 (en) | automatic analyzer | |
US20080056944A1 (en) | Automated analyzer | |
JP2525063B2 (en) | Automatic analysis method | |
JP2004028932A (en) | Automatic analyzer | |
EP3404419B1 (en) | Automated analyzer and control method for same | |
JP2006170735A (en) | Automatic analysis apparatus | |
CN110325864B (en) | Automatic analyzer | |
US11525838B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2007240222A (en) | Automatic analyzer | |
JP5097466B2 (en) | Automatic analyzer | |
EP3896454B1 (en) | Automated analyzer | |
JP6965440B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2010256260A (en) | Automatic analyzer | |
JP6647939B2 (en) | Automatic analyzer | |
CN113795757B (en) | Automatic analysis device and automatic analysis method | |
JP6605576B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP6039940B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP5264851B2 (en) | Automatic analyzer and reagent management method | |
JP5992668B2 (en) | Automatic analyzer | |
JP2010261823A (en) | Automatic analyzer | |
JP5134452B2 (en) | Automatic analyzer | |
WO2021044656A1 (en) | Complex-type auto analysis device, system, and abnormality determination method | |
JP2009180676A (en) | Analyzing apparatus | |
JP6745407B2 (en) | Automatic analyzer | |
WO2013021646A1 (en) | Analytical instrument and analysis method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20191213 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200115 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6647939 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |