JP6549718B2 - レーザースキャナシステムのための光学配置 - Google Patents
レーザースキャナシステムのための光学配置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6549718B2 JP6549718B2 JP2017536971A JP2017536971A JP6549718B2 JP 6549718 B2 JP6549718 B2 JP 6549718B2 JP 2017536971 A JP2017536971 A JP 2017536971A JP 2017536971 A JP2017536971 A JP 2017536971A JP 6549718 B2 JP6549718 B2 JP 6549718B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens group
- optical arrangement
- lens
- focal length
- arrangement according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 80
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 claims description 32
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 4
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000009931 harmful effect Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000000399 optical microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Lenses (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Description
Claims (13)
- 正の焦点距離を有する第1のレンズ群(63,81,91)と、
スキャナ装置(32,85)から光を受光するための正の焦点距離を有する第2のレンズ群(66,84,94)と、
前記第1のレンズ群(63,81,91)と前記第2のレンズ群(66,84,94)との間に配置された負の焦点距離を有する第3のレンズ群(64,82,92)と、
第1のビーム経路及び第2のビーム経路を提供するためのビームスプリッタ要素(100)と、を備え、
前記第1のレンズ群と前記第3のレンズ群との間に前記ビームスプリッタ要素が設けられ、
前記第2のレンズ群と前記第3のレンズ群との間に中間像が生成され、
前記第1のレンズ群(63,81,91)はチューブレンズであり、
前記第2のレンズ群(66,84,94)は走査対物レンズである、
レーザースキャナシステムのための光学配置。 - 前記中間像(65,83,93)は、前記第2のレンズ群(66,84,94)と前記第3のレンズ群(64,82,92)との間の中間に位置する、
請求項1に記載の光学配置。 - 顕微鏡対物レンズ(61)をさらに含み、
前記第1のレンズ群(63,81,91)は、前記顕微鏡対物レンズ(61)と前記第3のレンズ群(64,82,92)との間に配置される、
請求項1又は2に記載の光学配置。 - 前記光学配置は、前記スキャナ装置(32,85)が前記顕微鏡対物レンズの射出瞳(62,80,90)との共役面に配置されるように構成される、
請求項3に記載の光学配置。 - 前記顕微鏡対物レンズは、直径が3mmから20mmの間の射出瞳(62,80,90)を含む、
請求項3又は4に記載の光学配置。 - 前記第1のレンズ群(63,81,91)の焦点距離は25から200mmの間であり、及び/又は、前記第2のレンズ群(66,84,94)の焦点距離は5から50mmの間であり、及び/又は、前記第3のレンズ群(64,82,92)の焦点距離は−15mmから−200mmの間である、
請求項1乃至5のいずれか一項に記載の光学配置。 - 前記第1のレンズ群は、70mm未満の焦点距離を有し、
前記第2のレンズ群は、20mm未満の焦点距離を有する、
請求項1乃至6のいずれか一項に記載の光学配置。 - 前記光学配置の全長は150mm未満である、
請求項7に記載の光学配置。 - 前記第1のビーム経路は、対象物の位置(60)と前記スキャナ装置(67)の位置との間のビーム経路を含み、
前記第2のビーム経路は、前記対象物の位置(60)とカメラ装置(102)との間のビーム経路を含む、
請求項1乃至8のいずれか一項に記載の光学配置。 - 前記光学配置は、前記ビームスプリッタ要素(100)による光学収差を少なくとも部分的に補正するための補正要素(101)をさらに含む、
請求項1乃至9のいずれか一項に記載の光学配置。 - 前記ビームスプリッタ要素(100)を通る前記第1のビーム経路は曲げられ、
前記ビームスプリッタ要素(100)を通る前記第2のビーム経路は直線である、
請求項1乃至10のいずれか一項に記載の光学配置。 - 前記ビームスプリッタ要素(100)を通る前記第1のビーム経路は直線であり、
前記ビームスプリッタ要素(100)を通る前記第2のビーム経路は曲げられる、
請求項1乃至10のいずれか一項に記載の光学配置。 - レーザー光源(30)と、
スキャナ装置(32)と、
前記スキャナ装置(32)とサンプル(35)の位置との間に設けられた請求項1乃至12のいずれか一項に記載の光学配置と、
を含むレーザースキャナシステム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102015100695.2A DE102015100695B4 (de) | 2015-01-19 | 2015-01-19 | Optische Anordnung für ein Laser-Scanner-System |
DE102015100695.2 | 2015-01-19 | ||
PCT/EP2016/050975 WO2016116424A2 (de) | 2015-01-19 | 2016-01-19 | Optische anordnung für ein laser-scanner-system |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018503134A JP2018503134A (ja) | 2018-02-01 |
JP6549718B2 true JP6549718B2 (ja) | 2019-07-24 |
Family
ID=55174645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017536971A Active JP6549718B2 (ja) | 2015-01-19 | 2016-01-19 | レーザースキャナシステムのための光学配置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6549718B2 (ja) |
CN (1) | CN107209358B (ja) |
DE (1) | DE102015100695B4 (ja) |
WO (1) | WO2016116424A2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN108246327B (zh) * | 2016-12-28 | 2020-11-10 | 南开大学 | 一种用于固定床乙炔氢氯化反应的氮掺杂碳材料催化剂的制备方法及其使用方法 |
WO2023238175A1 (ja) * | 2022-06-06 | 2023-12-14 | 株式会社ニコン | 集光光学系、fθ光学系、光加工装置、および光計測装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6167173A (en) * | 1997-01-27 | 2000-12-26 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Laser scanning microscope |
US7589891B2 (en) * | 2003-11-26 | 2009-09-15 | Olympus Corporation | Laser scanning type fluorescent microscope |
DE102005013949A1 (de) * | 2005-03-26 | 2006-09-28 | Carl Zeiss Meditec Ag | Scanvorrichtung |
JP2009294385A (ja) * | 2008-06-04 | 2009-12-17 | Olympus Corp | 顕微鏡装置 |
JP2010026165A (ja) * | 2008-07-17 | 2010-02-04 | Olympus Corp | レーザー走査型顕微鏡 |
JP2010266813A (ja) * | 2009-05-18 | 2010-11-25 | Olympus Corp | 観察装置 |
US9504608B2 (en) * | 2009-07-29 | 2016-11-29 | Alcon Lensx, Inc. | Optical system with movable lens for ophthalmic surgical laser |
JP2012008308A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Olympus Corp | 結像光学系、及びそれを用いた共焦点走査型顕微鏡 |
US8175452B1 (en) * | 2010-10-26 | 2012-05-08 | Complete Genomics, Inc. | Method and system for imaging high density biochemical arrays with sub-pixel alignment |
CN103620506B (zh) * | 2011-06-10 | 2016-11-16 | 惠普发展公司,有限责任合伙企业 | 光学扫描装置、系统和方法 |
DE102013019348A1 (de) * | 2013-08-15 | 2015-02-19 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
-
2015
- 2015-01-19 DE DE102015100695.2A patent/DE102015100695B4/de active Active
-
2016
- 2016-01-19 CN CN201680006422.7A patent/CN107209358B/zh active Active
- 2016-01-19 JP JP2017536971A patent/JP6549718B2/ja active Active
- 2016-01-19 WO PCT/EP2016/050975 patent/WO2016116424A2/de active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2016116424A3 (de) | 2016-09-15 |
WO2016116424A2 (de) | 2016-07-28 |
DE102015100695A1 (de) | 2016-07-21 |
JP2018503134A (ja) | 2018-02-01 |
CN107209358B (zh) | 2020-02-07 |
DE102015100695B4 (de) | 2024-10-31 |
CN107209358A (zh) | 2017-09-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6411472B2 (ja) | レーザスキャニング顕微鏡、および特に高解像度のスキャニング顕微鏡法で結像収差を修正する方法 | |
US11500190B2 (en) | Oblique plane microscope | |
US8520280B2 (en) | Method and apparatus for dynamically shifting a light beam with regard to an optic focussing the light beam | |
JP7003065B2 (ja) | 光シート顕微鏡および試料を光学顕微鏡で結像する方法 | |
US10168519B2 (en) | Light sheet generator | |
JP2022060260A (ja) | 顕微鏡検査および収差補正のための装置 | |
US10514533B2 (en) | Method for creating a microscope image, microscopy device, and deflecting device | |
JP4544904B2 (ja) | 光学系 | |
US20090174935A1 (en) | Scanning microscope having complementary, serial scanners | |
CN107678154B (zh) | 一种超分辨率显微ct成像系统 | |
JP6549718B2 (ja) | レーザースキャナシステムのための光学配置 | |
JP2014048423A (ja) | 撮像光学系、撮像装置および撮像システム | |
JP5084183B2 (ja) | 顕微鏡用落射照明光学系 | |
US20150253556A1 (en) | Confocal Incident-Light Scanning Microsope For Multipoint Scanning | |
JP5929204B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
US7230721B2 (en) | Arrangement for measuring the geometry or structure of an object | |
JP7086057B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP4426763B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
US10866396B2 (en) | Illumination arrangement for a light sheet microscope | |
US10606056B2 (en) | Method for producing preview images with an inclined-plane microscope, inclined-plane microscope, and image producing device for an inclined-plane microscope | |
US20210349296A1 (en) | Confocal laser scanning microscope configured for generating line foci | |
JP2010286799A (ja) | 走査型顕微鏡 | |
US11086117B2 (en) | Apparatus and method for light-sheet-like illumination of a sample | |
JP6332327B2 (ja) | 走査型顕微鏡 | |
JP2015094802A (ja) | 対物光学系および画像取得装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170822 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170822 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180828 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20181012 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190221 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190528 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190627 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6549718 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |