Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP6429017B2 - 搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法 - Google Patents

搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP6429017B2
JP6429017B2 JP2014550207A JP2014550207A JP6429017B2 JP 6429017 B2 JP6429017 B2 JP 6429017B2 JP 2014550207 A JP2014550207 A JP 2014550207A JP 2014550207 A JP2014550207 A JP 2014550207A JP 6429017 B2 JP6429017 B2 JP 6429017B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
suction
wafer
gas flow
support portion
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014550207A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2014084228A1 (ja
Inventor
一ノ瀬 剛
剛 一ノ瀬
泰輔 井部
泰輔 井部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Publication of JPWO2014084228A1 publication Critical patent/JPWO2014084228A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6429017B2 publication Critical patent/JP6429017B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6838Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping with gripping and holding devices using a vacuum; Bernoulli devices
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J11/00Manipulators not otherwise provided for
    • B25J11/0095Manipulators transporting wafers
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70908Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67739Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H01L21/67751Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber vertical transfer of a single workpiece
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/687Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
    • H01L21/68714Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
    • H01L21/68742Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a lifting arrangement, e.g. lift pins

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Eyeglasses (AREA)
  • Liquid Crystal Substances (AREA)

Description

本発明は、搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法に係り、特に、板状の物体を保持部材に搬入する搬入方法、該搬入方法の実施に好適な搬送システム及び該搬送システムを備える露光装置、並びに該露光装置を用いるデバイス製造方法に関する。
従来、半導体素子(集積回路等)、液晶表示素子等の電子デバイス(マイクロデバイス)を製造するリソグラフィ工程では、主として、ステップ・アンド・リピート方式の投影露光装置(いわゆるステッパ)、あるいはステップ・アンド・スキャン方式の投影露光装置(いわゆるスキャニング・ステッパ(スキャナとも呼ばれる))などが用いられている。
この種の露光装置で用いられる、露光対象となるウエハ又はガラスプレート等の基板は、次第に(例えばウエハの場合、10年おきに)大型化している。現在は、直径300mmの300ミリウエハが主流となっているが、今や直径450mmの450ミリウエハ時代の到来が間近に迫っている。450ミリウエハに移行すると、1枚のウエハから採れるダイ(チップ)の数が現行の300ミリウエハの2倍以上となり、コスト削減に貢献する。
しかしながら、ウエハのサイズに比例してその厚みが大きくなるわけではないので、450ミリウエハは、300ミリウエハに比較して、強度及び剛性が格段に弱い。従って、例えばウエハの搬送1つを取り上げても、現在の300ミリウエハと同様の手段方法をそのまま採用したのでは、ウエハに歪みが生じ露光精度に悪影響を与えるおそれがあると考えられた。そこで、ウエハの搬送方法としては、ベルヌーイ・チャック等を備えた搬送部材によりウエハを上方から非接触で吸引して、平坦度(平面度)を保ち、ウエハホルダ(保持装置)に搬入する、450ミリウエハであっても採用可能な搬入方法等が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、ウエハのウエハステージ(ウエハホルダ)上への搬入方法として、上述の搬送部材による上方からの非接触吸引を採用する場合、計測結果に基づく補正が困難な、許容できないレベルのウエハの水平面内の位置ずれ(回転ずれ)が生じるおそれがあった。
米国特許出願公開第2010/0297562号明細書
上述のウエハの搬送部材による上方からの非接触吸引による不都合を解消する方法として、ウエハを、ベルヌーイ・チャック等により上方から非接触で吸引しつつ、下方からも支持部(例えばウエハステージ上の上下動ピン)で支持することが考えられる。しかるに、発明者らの研究により、ウエハの上方からの非接触吸引と下方からの支持とを行って、ウエハステージ上へのウエハのロードを行う場合に、300ミリウエハであっても許容できないレベルの歪みが生ずることがあることが判明した。発明者らは、このウエハの歪みの原因について究明した結果、ウエハ中央付近が上下から拘束されることによる過拘束が主要因であるとの結論を得た。
本発明の第1の態様によれば、板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬送する搬送システムであって、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させて前記物体を上方から非接触で吸引する吸引力を生じさせる複数の吸引部材を有し、前記吸引力により前記物体を非接触で支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な吸引ユニットと、前記保持部材に設けられ、前記物体を下方から支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な支持部と、前記物体を前記物体載置面にロードするまでの間に、前記複数の吸引部材による吸引力を前記支持部に対する位置に応じて異ならせて、所望のレベルの平坦度が確保できるように前記物体の形状を変化させる制御装置と、を備える搬送システムが、提供される。
本発明の第2の態様によれば、板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬送システムであって、ベース部材と、前記ベース部材に設けられて、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させて該物体を吸引する力を生じさせる複数の吸引部材と、を有し、所定の搬入位置にある前記保持部材の上方に搬送された前記物体の一面を上方から非接触で吸引可能で上下動可能な吸引ユニットと、前記複数の吸引部材に気体を供給する気体供給装置と、前記保持部材に設けられ、上下動可能で、前記物体の前記一面とは反対側の他面の中央部領域の一部を下方から支持可能な支持部と、前記吸引ユニットと前記支持部とを少なくとも上下方向に移動する駆動装置と、前記気体供給装置と前記駆動装置とを制御する制御装置と、を備え、前記制御装置は、前記吸引ユニットにより吸引された前記物体の前記他面の前記中央部領域の一部を前記支持部を用いて下方から支持し、前記支持部による支持点を含む前記他面の領域に対応する前記物体の前記一面の第1領域に対する前記吸引部材による吸引力を前記第1領域の外周側の前記物体の前記一面の第2領域に比べて弱めるように、前記気体供給装置を制御し、前記物体に対する前記吸引ユニットによる吸引状態と前記支持部による支持状態を維持した状態で、前記吸引ユニットと前記支持部とを、前記物体載置面に向けて下方に移動するように前記駆動装置を制御する搬送システムが、提供される。
本発明の第3の態様によれば、板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬送システムであって、ベース部材と、前記ベース部材に設けられて、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させる複数の気体流通孔と、を有し、前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力により前記物体を上方から非接触で支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な吸引ユニットと、前記保持部材に設けられ、前記物体を下方から支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な支持部と、前記物体を前記物体載置面にロードするまでの間に、前記複数の気体流通孔を介して供給される前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力を、前記支持部に対する前記複数の気体流通孔の位置に応じて異ならせて、所望のレベルの平坦度が確保できるように前記物体の形状を変化させる制御装置と、を備える搬送システムが、提供される。
本発明の第4の態様によれば、板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬送システムであって、ベース部材と、前記ベース部材に設けられて、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させる複数の気体流通孔と、を有し、所定の搬入位置にある前記保持部材の上方に搬送された前記物体の一面を上方から非接触で吸引可能で上下動可能な吸引ユニットと、前記保持部材に設けられ、上下動可能で、前記物体の前記一面とは反対側の他面の中央部領域の一部を下方から支持可能な支持部と、前記吸引ユニットと前記支持部とを少なくとも上下方向に移動する駆動装置と、前記複数の気体流通孔を介して噴出される気体を供給する気体供給装置を有し、前記複数の気体流通孔を介して噴出される気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力を調整することで、所望のレベルの平坦度が確保できるように前記物体を変形させる調整装置と、前記調整装置と前記駆動装置とを制御する制御装置と、を備え、前記制御装置は、前記吸引ユニットの前記複数の気体流通孔を介した前記気体の流れによる前記物体の保持状態と前記支持部による前記物体の支持状態とを維持した状態で、前記吸引ユニットと前記支持部とを、前記物体載置面に向けて下方に移動するように前記駆動装置を制御しつつ、前記調整装置を用いて前記物体を変形させる搬送システムが、提供される。
本発明の第の態様によれば、板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬入方法であって、前記物体を、所定の搬入位置にある前記保持部材の前記物体載置面の上方に搬送することと、吸引部材により前記物体の一面を上方から非接触で吸引することと、前記保持部材に設けられた上下動可能な支持部により、前記吸引部材により吸引された前記物体の前記一面とは反対側の他面の中央部領域の一部を下方から支持するとともに、前記支持部による支持点を含む前記中央部領域に対応する前記物体の前記一面の第1領域に対する前記吸引部材による吸引力を前記第1領域の外周側の前記物体の前記一面の第2領域に比べて弱めることと、前記物体に対する前記吸引部材による吸引状態と前記支持部による支持状態を維持した状態で、前記吸引部材と前記支持部とを、前記物体載置面に向けて下方に移動することと、を含む搬入方法が、提供される。
これによれば、物体を、平坦度を高く維持した状態で、保持部材上に搬入することが可能になる。
本発明の第の態様によれば、物体上にパターンを形成する露光装置であって、上記第1ないし第4の態様に係る搬送システムのいずれかと、前記搬送システムにより前記保持部材上に搬入された前記物体をエネルギビームで露光して、前記パターンを形成するパターン生成装置と、を備える露光装置が、提供される。
本発明の第7の態様によれば、第6の態様に係る露光装置を用いて物体を露光することと、露光された前記物体を現像することと、を含むデバイス製造方法が、提供される。
一実施形態に係る露光装置の構成を概略的に示す図である。 図1のウエハステージを−Y方向から見た図(正面図)である。 図3(A)は、図1の搬入ユニット(チャックユニット)を示す底面図、図3(B)は、ウエハのロードに関連する構成各部を示す図であって、搬入ユニットを、ウエハステージ上の上下動ピン及びその駆動装置とともに示す図である。 一実施形態に係る露光装置の制御系を中心的に構成する主制御装置の入出力関係を示すブロック図である。 図5(A)〜図5(D)は、ウエハの搬入手順を説明するための図(その1〜その4)である。 図6(A)〜図6(C)は、ウエハの搬入手順を説明するための図(その5〜その7)である。 チャックユニットに設けられるチャック部材の配置の他の一例を説明するための図である。 第1の変形例に係る上下動ピンの構成を示す図である。 第2の変形例に係る上下動ピンの構成を示す図である。 第3の変形例に係る上下動ピンの構成を示す図である。
以下、一実施形態について、図1〜図7に基づいて、説明する。
図1には、一実施形態に係る露光装置100の構成が概略的に示されている。この露光装置100は、ステップ・アンド・スキャン方式の投影露光装置、いわゆるスキャナである。後述するように、本実施形態では、投影光学系PLが設けられており、以下においては、この投影光学系PLの光軸AXと平行な方向をZ軸方向、これに直交する面内でレチクルRとウエハWとが相対走査される方向をY軸方向、Z軸及びY軸に直交する方向をX軸方向とし、X軸、Y軸、及びZ軸回りの回転(傾斜)方向をそれぞれθx、θy、及びθz方向として説明を行う。
露光装置100は、照明系10、レチクル(マスク)Rを保持するレチクルステージRST、投影光学系PL、ウエハWを保持するウエハステージWST、不図示の搬出ユニット及び後述する上下動ピンとともにウエハ搬送システム120(図4参照)を構成する搬入ユニット121、並びにこれらの制御系等を備えている。
照明系10は、例えば米国特許出願公開第2003/0025890号明細書などに開示されるように、光源と、オプティカルインテグレータ等を含む照度均一化光学系、及びレチクルブラインド等(いずれも不図示)を有する照明光学系と、を含む。照明系10は、レチクルブラインド(マスキングシステムとも呼ばれる)で設定(制限)されたレチクルR上のスリット状の照明領域IARを、照明光(露光光)ILによりほぼ均一な照度で照明する。ここで、照明光ILとして、一例として、ArFエキシマレーザ光(波長193nm)が用いられている。
レチクルステージRST上には、そのパターン面(図1における下面)に回路パターンなどが形成されたレチクルRが、例えば真空吸着により固定されている。レチクルステージRSTは、例えばリニアモータ又は平面モータ等を含むレチクルステージ駆動系11(図1では不図示、図4参照)によって、XY平面内で微小駆動可能であるとともに、走査方向(図1における紙面内左右方向であるY軸方向)に所定の走査速度で駆動可能となっている。
レチクルステージRSTのXY平面内の位置情報(θz方向の回転情報を含む)は、例えばレチクルレーザ干渉計(以下、「レチクル干渉計」という)13によって、レチクルステージRSTに固定された移動鏡15(実際には、Y軸方向に直交する反射面を有するY移動鏡(あるいは、レトロリフレクタ)とX軸方向に直交する反射面を有するX移動鏡とが設けられている)を介して、例えば0.25nm程度の分解能で常時検出される。レチクル干渉計13の計測値は、主制御装置20(図1では不図示、図4参照)に送られる。主制御装置20は、レチクルステージRSTの位置情報に基づいて、レチクルステージ駆動系11(図4参照)を介してレチクルステージRSTを駆動する。なお、本実施形態では、上述したレチクル干渉計に代えてエンコーダを用いてレチクルステージRSTのXY平面内の位置情報が検出されても良い。
投影光学系PLは、レチクルステージRSTの図1における下方に配置されている。投影光学系PLは、不図示の支持部材によって水平に支持されたメインフレームBDに搭載されている。投影光学系PLとしては、例えば、Z軸と平行な光軸AXに沿って配列される複数の光学素子(レンズエレメント)から成る屈折光学系が用いられている。投影光学系PLは、例えば両側テレセントリックで、所定の投影倍率(例えば1/4倍、1/5倍又は1/8倍など)を有する。このため、照明系10からの照明光ILによってレチクルR上の照明領域IARが照明されると、投影光学系PLの第1面(物体面)とパターン面がほぼ一致して配置されるレチクルRを通過した照明光ILにより、投影光学系PLを介してその照明領域IAR内のレチクルRの回路パターンの縮小像(回路パターンの一部の縮小像)が、投影光学系PLの第2面(像面)側に配置される、表面にレジスト(感応剤)が塗布されたウエハW上の前記照明領域IARに共役な領域(以下、露光領域とも呼ぶ)IAに形成される。そして、レチクルステージRSTとウエハステージWST(より正しくは、ウエハWを保持する後述する微動ステージWFS)との同期駆動によって、照明領域IAR(照明光IL)に対してレチクルRを走査方向(Y軸方向)に相対移動させるとともに、露光領域IA(照明光IL)に対してウエハWを走査方向(Y軸方向)に相対移動させることで、ウエハW上の1つのショット領域(区画領域)の走査露光が行われ、そのショット領域にレチクルRのパターンが転写される。すなわち、本実施形態では照明系10、及び投影光学系PLによってウエハW上にレチクルRのパターンが生成され、照明光ILによるウエハW上の感応層(レジスト層)の露光によってウエハW上にそのパターンが形成される。
ウエハステージWSTは、図1に示されるように、ベース盤12上に後述するエアベアリングを介して浮上支持されている。ここで、ベース盤12は、床F上に防振機構(図示省略)によってほぼ水平に(XY平面に平行に)支持されている。ベース盤12は、平板状の外形を有する部材から成る。また、ベース盤12の内部には、XY二次元方向を行方向、列方向としてマトリックス状に配置された複数のコイル17を含む、コイルユニットが収容されている。
ウエハステージWSTは、図1及び図2からわかるように、粗動ステージWCSと、粗動ステージWCSに非接触状態で支持され、粗動ステージWCSに対して相対移動可能な微動ステージWFSとを有している。ここで、ウエハステージWST(粗動ステージWCS)は、粗動ステージ駆動系51(図4参照)により、X軸及びY軸方向に所定ストロークで駆動されるとともにθz方向に微小駆動される。また、微動ステージWFSは、微動ステージ駆動系52(図4参照)によって粗動ステージWCSに対して6自由度方向(X軸、Y軸、Z軸、θx、θy及びθzの各方向)に駆動される。
粗動ステージWCSは、図2に示されるように、平面視で(+Z方向から見て)X軸方向の長さがY軸方向の長さより幾分長い長方形板状の粗動スライダ部91と、粗動スライダ部91の長手方向の一端部と他端部の上面にYZ平面に平行な状態でそれぞれ固定され、かつY軸方向を長手方向とする長方形板状の一対の側壁部92a,92bと、側壁部92a,92bそれぞれの上面のY軸方向の中央部に内側に向けて固定された一対の固定子部93a、93bと、を備えている。粗動ステージWCSは、全体として、上面のX軸方向中央部及びY軸方向の両側面が開口した高さの低い直方体形状を有している。すなわち、粗動ステージWCSには、その内部にY軸方向に貫通した空間部が形成されている。なお、側壁部92a,92bは、固定子部93a、93bとY軸方向の長さをほぼ同じにしても良い。すなわち、側壁部92a,92bは、粗動スライダ部91の長手方向の一端部と他端部の上面のY軸方向の中央部のみに設けても良い。
粗動ステージWCSの底面、すなわち粗動スライダ部91の底面には、ベース盤12の内部に配置されたコイルユニットに対応して、XY二次元方向を行方向、列方向としてマトリックス状に配置された複数の永久磁石18から成る磁石ユニットが設けられている。磁石ユニットは、ベース盤12のコイルユニットと共に、例えば米国特許第5,196,745号明細書などに開示される電磁力(ローレンツ力)駆動方式の平面モータから成る粗動ステージ駆動系51(図4参照)を構成している。コイルユニットを構成する各コイル17(図1参照)に供給される電流の大きさ及び方向は、主制御装置20によって制御される。
粗動スライダ部91の底面には、上記磁石ユニットの周囲に複数のエアベアリング94が固定されている。粗動ステージWCSは、複数のエアベアリング94によって、ベース盤12の上方に所定の隙間(クリアランス、ギャップ)、例えば数μm程度の隙間を介して浮上支持され、粗動ステージ駆動系51によって、X軸方向、Y軸方向及びθz方向に駆動される。
なお、粗動ステージ駆動系51としては、電磁力(ローレンツ力)駆動方式の平面モータに限らず、例えば可変磁気抵抗駆動方式の平面モータを用いることもできる。この他、粗動ステージ駆動系51を、磁気浮上型の平面モータによって構成し、該平面モータによって粗動ステージWCSを6自由度方向に駆動できるようにしても良い。この場合、粗動スライダ部91の底面にエアベアリングを設けなくても良くなる。
一対の固定子部93a、93bのそれぞれは、例えば外形が矩形板状の部材から成り、それぞれの内部には、複数のコイルから成るコイルユニットCUa、CUbが収容されている。コイルユニットCUa、CUbを構成する各コイルに供給される電流の大きさ及び方向は、主制御装置20によって制御される。
微動ステージWFSは、図2に示されるように、例えば平面視で八角形の高さの低い柱状部材から成る本体部81と、本体部81のX軸方向の一端部と他端部とにそれぞれ固定された一対の可動子部82a、82bと、本体部81の上面に一体的に固定された平面視矩形の板状部材から成るウエハテーブルWTBと、を備えている。
本体部81は、ウエハテーブルWTBと熱膨張率が同じ又は同程度の素材で形成されることが望ましく、その素材は低熱膨張率であることが望ましい。ここで、図2では、図示は省略されているが、本体部81には、ウエハテーブルWTB(及び不図示のウエハホルダ)に形成された不図示の貫通孔に挿入され、上下動可能な複数(例えば3本)の上下動ピン140(図3(B)参照)が設けられている。3本の上下動ピン140それぞれの上面には、真空排気用の排気口41が形成されている。また、3本の上下動ピン140は、それぞれの下端面が台座部材141の上面に固定されている。3本の上下動ピン140は、それぞれ台座部材141の上面の平面視でほぼ正三角形の頂点の位置に配置されている。3本の上下動ピン140それぞれに設けられた排気口41は、上下動ピン140(及び台座部材141)の内部に形成された排気管路及び不図示の真空排気管を介して真空ポンプ(不図示)に接続されている。台座部材141は、下面の中央部に固定された軸143を介して駆動装置142に接続されている。すなわち、3本の上下動ピン140は、台座部材141と一体で駆動装置142によって上下方向に駆動される。本実施形態では、台座部材141と3本の上下動ピン140と軸143とによって、ウエハ下面の中央部領域の一部を下方から支持可能なウエハ支持部150が構成されている。ここで、3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)の基準位置からのZ軸方向の変位は、例えば駆動装置142に設けられたエンコーダシステム等の変位センサ145(図3(B)では不図示、図4参照)によって検出されている。主制御装置20は、変位センサ145の計測値に基づいて、駆動装置142を介して3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)を上下方向に駆動する。
図2に戻り、一対の可動子部82a、82bは、本体部81のX軸方向の一端面と他端面にそれぞれ固定されたYZ断面が矩形枠状の筐体を有する。以下では、便宜上、これらの筐体を可動子部82a、82bと同一の符号を用いて、筐体82a、82bと表記する。
筐体82aは、Y軸方向寸法(長さ)及びZ軸方向寸法(高さ)が、共に固定子部93aよりも幾分長いY軸方向に細長いYZ断面が矩形の中空部を有する。筐体82aの中空部内に粗動ステージWCSの固定子部93aの−X側の端部が非接触で挿入されている。筐体82aの上壁部82a及び底壁部82aの内部には、磁石ユニットMUa、MUaが、設けられている。
可動子部82bは、可動子部82aと左右対称ではあるが同様に構成されている。筐体(可動子部)82bの中空部内に粗動ステージWCSの固定子部93bの+X側の端部が非接触で挿入されている。筐体82bの上壁部82b及び底壁部82bの内部には、磁石ユニットMUa、MUaと同様に構成された磁石ユニットMUb、MUbが、設けられている。
上述のコイルユニットCUa、CUbは、磁石ユニットMUa、MUa及びMUb、MUbにそれぞれ対向するように固定子部93a及び93bの内部にそれぞれ収容されている。
磁石ユニットMUa、MUa及びMUb、MUb、並びにコイルユニットCUa、CUbの構成は、例えば米国特許出願公開第2010/0073652号明細書及び米国特許出願公開第2010/0073653号明細書等に詳細に開示されている。
本実施形態では、前述した可動子部82aが有する一対の磁石ユニットMUa、MUa及び固定子部93aが有するコイルユニットCUaと、可動子部82bが有する一対の磁石ユニットMUb、MUb及び固定子部93bが有するコイルユニットCUbと、を含んで、上記米国特許出願公開第2010/0073652号明細書及び米国特許出願公開第2010/0073653号明細書と同様に、微動ステージWFSを粗動ステージWCSに対して非接触状態で浮上支持するとともに、非接触で6自由度方向へ駆動する微動ステージ駆動系52(図4参照)が構成されている。
なお、粗動ステージ駆動系51(図4参照)として、磁気浮上型の平面モータを用いる場合、該平面モータによって粗動ステージWCSと一体で微動ステージWFSを、Z軸、θx及びθyの各方向に微小駆動可能となるので、微動ステージ駆動系52は、X軸、Y軸及びθzの各方向、すなわちXY平面内の3自由度方向に微動ステージWFSを駆動可能な構成にしても良い。この他、例えば粗動ステージWCSの一対の側壁部92a,92bのそれぞれに、各一対の電磁石を、微動ステージWFSの八角形の斜辺部に対向して設け、各電磁石に対向して微動ステージWFSに磁性体部材を設けても良い。このようにすると、電磁石の磁力により、微動ステージWFSをXY平面内で駆動できるので、可動子部82a,82bと、固定子部93a,93bとによって一対のY軸リニアモータを構成しても良い。
ウエハテーブルWTBの上面の中央には、不図示のピンチャックなどのウエハホルダを介してウエハWが真空吸着等によって固定されている。また、ウエハテーブルWTB上にはウエハレーザ干渉計(以下、「ウエハ干渉計」という)31(図1参照)からのレーザビームを反射する移動鏡27(図2では、移動鏡27X、27Yとして図示されている)が固定され、メインフレームBDに吊り下げ状態で固定されたウエハ干渉計31により、ウエハテーブルWTBのXY平面内での位置が例えば0.25nm〜1nm程度の分解能で常時検出されている。ここで、実際には、図2に示されるように、ウエハテーブルWTB上には走査方向であるY軸方向に直交する反射面を有する移動鏡27Yと非走査方向であるX軸方向に直交する反射面を有する移動鏡27Xとが設けられ、ウエハ干渉計31は走査方向に1軸、非走査方向には2軸設けられているが、図1ではこれらが代表的に移動鏡27、ウエハ干渉計31として示されている。ウエハテーブルWTBの位置情報(又は速度情報)は、主制御装置20に送られる。主制御装置20は、その位置情報(又は速度情報)に基づいて粗動ステージ駆動系51及び微動ステージ駆動系52を介してウエハテーブルWTBのXY平面内の移動を制御する。なお、ウエハテーブルWTBのXY平面内の位置情報は、ウエハ干渉計31に代えて、例えばスケール(回折格子)又はヘッドがウエハテーブルWTBに搭載されるエンコーダシステムを用いて検出されても良い。また、本実施形態では、ウエハステージWSTが、粗動ステージWCSと微動ステージWFSとを備える粗微動ステージであるものとしたが、これに限らず、6自由度方向に可動な単一ステージによってウエハステージを構成しても良い。
搬入ユニット121は、露光前のウエハを、ウエハテーブルWTB上にロードするのに先立ってローディングポジションの上方で保持し、ウエハテーブルWTB上にロードするためのものである。また、不図示の搬出ユニットは、露光後のウエハを、ウエハテーブルWTBからアンロードするためのものである。
搬入ユニット121は、図1に示されるように、防振装置42を介してメインフレームBDに取り付けられたチャックユニット駆動系144、及びチャックユニット153等を備えている。防振装置42は、チャックユニット駆動系144によるチャックユニット153の駆動時に生じる振動が、メインフレームBDに伝達されるのを抑制ないしは防止する、すなわちチャックユニット153をメインフレームBDから振動的に分離するためのものである。従って、メインフレームBDとは物理的に分離された別の部材にチャックユニット駆動系144、及びチャックユニット153を設けても良い。
チャックユニット153は、図3(B)に示されるように、例えば平面視円形の所定厚さの板部材44と、該板部材44の下面に所定の配置で固定された複数のチャック部材124とを備えている。ここで、板部材44は、その内部に配管等が設けられ、その配管内に所定温度に温調された液体が流れることでウエハを所定温度に温調するためのクールプレートを兼ねていても良い。
本実施形態では、−Z方向から見たチャックユニット153の平面図である図3(A)に示されるように、板部材44下面には、その中心点を含む中央部領域に7つのチャック部材124が配置されるとともに、外周部にこれら7つのチャック部材124を取り囲む状態で11個のチャック部材124が配置されている。板部材44下面の中心点に位置するチャック部材124を取り囲む6個のチャック部材124は、ウエハステージWSTがローディングポジションに位置した際に、上下動ピン140にほぼ対向する位置に設けられている。
各チャック部材124は、いわゆるベルヌーイ・チャックから成る。ベルヌーイ・チャックは、周知の如く、ベルヌーイ効果を利用し、噴き出される流体(例えば空気)の流速を局所的に大きくし、対象物を吸引(非接触で保持)するチャックである。ここで、ベルヌーイ効果とは、流体の圧力は流速が増すにつれ減少するというもので、ベルヌーイ・チャックでは、吸引(保持、固定)対象物の重さ、及びチャックから噴き出される流体の流量(流速、圧力)で吸引状態(保持/浮遊状態)が決まる。すなわち、対象物の大きさが既知の場合、チャックから噴き出される流体の流量(流速)に応じて、吸引の際のチャックと保持対象物との隙間の寸法が定まる。本実施形態では、チャック部材124は、その気体流通孔(例えばノズルあるいは噴き出し口)などから気体を噴出してウエハW(図3(B)参照)の周辺に気体の流れ(気体流)を発生させてウエハWを吸引するのに用いられる。吸引の力(すなわち噴出される気体の流速等)の度合いは適宜調整可能で、ウエハWを、チャック部材124によって吸引して吸着保持することで、Z軸方向,θx及びθy方向の移動を制限することができる。
また、複数のチャック部材124は、主制御装置20により、第1調整装置125a又は第2調整装置125b(図4参照)を介して、それぞれから噴き出される気体の流速等が制御される。これにより、各チャック部材124の吸引力(吸着力)が任意の値に設定される。本実施形態では、各チャック部材124は、第1調整装置125a又は第2調整装置125b(図4参照)を介して吸引力が、グループ毎に制御される。第1調整装置125aは、板部材44下面の中央部領域に配置された7つのチャック部材124に接続された不図示の第1の流体供給装置を有し、それら7つのチャック部材124の吸引力を調整する(チャック部材124から噴出される流体(気体、例えば空気)の流速を調整する)。また、第2調整装置125bは、板部材44下面の中央部領域を除く領域(すなわち外周部)に配置された11個のチャック部材124に接続された不図示の第2の流体供給装置を有し、それら11個のチャック部材124の吸引力を調整する。すなわち、本実施形態では、第1調整装置125a及び第2調整装置125bを含み、複数(ここでは18個)のチャック部材124に流体(気体、例えば空気)を供給する気体供給装置50が構成されている。
図3(A)には、第1調整装置125aによって吸引力が調整されるチャック部材124と、第2調整装置125bによって吸引力が調整されるチャック部材124とが、色分けして示されている。なお、本実施形態では、複数のチャック部材において、互いに異なる状態として、異なる流速で流体(気体)の噴き付けを行うことで、各チャック部材の吸引力を調整できるようにしているが、それに限るものではない。例えば、流体(気体)の圧力を変えても良いし、流量を変えるようにしても良い。また、複数のチャック部材124は、グループ化せずにそれぞれの吸引力を個別に調整できるように構成しても良い。
チャックユニット153は、チャックユニット駆動系144(図3(B)参照)によって、所定ストローク(後述する搬送アーム149(図5(A)参照)から搬入されたウエハWを吸引する第1位置と、吸引したウエハWをウエハテーブルWTBに載置する第2位置との間)で、Z軸方向に駆動可能となっている。チャックユニット駆動系144は、主制御装置20(図4参照)により制御される。
図1に戻り、投影光学系PLの−Y側には、オフアクシスのアライメント検出系99が設けられている。アライメント検出系99としては、例えば、ウエハW上のレジストを感光させないブロードバンドな検出光束を対象マークに照射し、その対象マークからの反射光により受光面に結像された対象マークの像と不図示の指標の像とを撮像素子(CCD)等を用いて撮像し、それらの撮像信号を出力する画像処理方式のFIA(Field Image Alignment)系のアライメントセンサが用いられている。このアライメント検出系99の撮像結果は、主制御装置20に送られる。
図1では不図示であるが、レチクルRの上方に、レチクルR上の一対のレチクルアライメントマークと、これに対応するウエハテーブルWTB上の不図示の基準マーク板上の一対の第1基準マークの投影光学系PLを介した像とを同時に観察するための露光波長を用いたTTR(Through The Reticle)方式の一対のレチクルアライメント検出系14(図4参照)が配置されている。この一対のレチクルアライメント検出系14の検出信号は、主制御装置20に供給されるようになっている。
この他、露光装置100では、アライメント検出系99を挟むようにして配置された、照射系と、受光系とから成り、例えば米国特許第5,448,332号明細書などに開示されるものと同様の構成の多点焦点位置検出系54(図4参照)が設けられている。
図4には、露光装置100の制御系を中心的に構成し、構成各部を統括制御する主制御装置20の入出力関係を示すブロック図が示されている。主制御装置20は、ワークステーション(又はマイクロコンピュータ)等を含み、露光装置100の構成各部を統括制御する。
上述のようにして構成された本実施形態に係る露光装置100では、まず、主制御装置20の管理の下、レチクルローダによってレチクルロードが行われる。次に、主制御装置20により、一対のレチクルアライメント検出系14(図4参照)、ウエハステージWST上の基準マーク板(不図示)、及びアライメント検出系99(図1及び図4参照)等を用いてアライメント検出系99のベースライン計測等の準備作業が所定の手順に従って行われる。これらの準備作業の後、ウエハのロードが行われる。
ここで、ウエハWのロードの手順について、図5(A)〜図6(C)に基づいて説明する。前提として、主制御装置20によりチャックユニット駆動系144が駆動され、チャックユニット153は、ストローク範囲内の所定高さの位置(待機位置)に移動され、この位置で待機しているものとする。
この状態で、まず、図5(A)に示されるように、チャックユニット153の下方に、主制御装置20の制御下にある、ウエハWを保持した搬送アーム149が移動する。すなわちウエハWが、搬送アーム149によってチャックユニット153の下方に搬送される。次いで、図5(A)中に白抜き矢印で示されるように、ウエハWを保持した搬送アーム149が所定量上昇する。このとき、チャックユニット153の全てのチャック部材124からそれぞれの気体流通孔を介して高圧の空気流が噴き出されている。
そして、搬送アーム149が所定量上昇されると、図5(B)に示されるように、チャックユニット153の全てのチャック部材124によってウエハWの上面が非接触にて吸引される。次いで、主制御装置20は、搬送アーム149とウエハWとを離間させた後、搬送アーム149をウエハW下方から退避させる。これにより、ウエハWは、ローディングポジションにて所定の高さ位置(待機位置)にあるチャックユニット153に非接触で吸引された状態となる。このとき、ウエハWは、チャックユニット153による吸引により、Z軸方向,θx及びθy方向の移動が制限されて、チャックユニット153に保持された状態となっているが、ウエハWを保持するための別の部材を用意して、チャックユニット153はウエハWに吸引力のみ(吸引による保持まではできないような力)を与えるようにしても良い。
この状態で、主制御装置20は、粗動ステージ駆動系51(図4参照)を介してウエハステージWSTを、チャックユニット153に保持されたウエハWの下方まで駆動する。図5(B)には、このウエハステージWSTの移動後の状態におけるウエハテーブルWTBが示されている。
次に、主制御装置20は、図5(C)に示されるように、ウエハステージWST(図3(B)参照)上の3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)を、駆動装置142を介して上方に駆動する。そして、3本の上下動ピン140がチャックユニット153に吸引されたウエハWの下面に当接すると、主制御装置20は、ウエハ支持部150の上昇を停止する。ここで、待機位置にあるチャックユニット153に吸引されたウエハWのZ位置は、ある程度正確にわかる。従って、主制御装置20は、変位センサ145の計測結果に基づいて、ウエハ支持部150を基準位置から所定量駆動することで、3本の上下動ピン140をチャックユニット153に吸引されたウエハWの下面に当接させることができる。しかし、これに限らず、ウエハ支持部150(3本の上下動ピン140)の上限移動位置で、3本の上下動ピン140がチャックユニット153に吸引されたウエハWの下面に当接するように、予め、設定しておいても良い。
その後、主制御装置20は、不図示のバキュームポンプを作動し、3本の上下動ピン140によるウエハW下面に対する真空吸着を開始する。なお、チャック部材124によるウエハWの吸引(保持)は、この状態でも続行されている。チャック部材124による吸引と、上下動ピン140の下方からの支持による摩擦力によりウエハWは、6自由度方向の移動が制限されている。
ウエハWが3本の上下動ピン140に支持(吸着保持)されると、図5(D)に示されるように、主制御装置20は、第1調整装置125a(図4参照)を介して、中央部領域の7つのチャック部材124からの高圧空気流の流出を停止して、7つのチャック部材124によるウエハWの吸引を解除する。これは、図5(C)に示されるように、ウエハWに対する下方からの3本の上下動ピン140による吸着保持(支持)と、上方からのチャックユニット153による吸引とが行われると、ウエハWは部分的に過拘束となる可能性がある。この過拘束の状態で、次に説明するように、ウエハWのウエハテーブルWTB上へのロードのための、チャックユニット153とウエハ支持部150(3本の上下動ピン140)との下方への同期駆動が行われると、両者の同期がずれた場合に、ウエハWに歪みが発生するおそれがある。そのため、かかる事態の発生を回避するため、7つのチャック部材124によるウエハWの吸引を解除することとしたものである。
次に、主制御装置20は、図6(A)に示されるように、チャックユニット駆動系144及び駆動装置142を介して、チャックユニット153と3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)とを同期して下方に駆動する。これにより、ウエハWに対するチャックユニット153(チャック部材124)による吸引(保持)状態と3本の上下動ピン140による支持状態とを維持して、チャックユニット153と3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)とが同期して下方に駆動される。このチャックユニット153と3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)との駆動は、ウエハWの下面(裏面)がウエハテーブルWTBの平面状のウエハ載置面48に当接するまで行われる(図6(B)参照)。ここで、ウエハ載置面48は、実際には、ウエハテーブルWTB上に設けられたピンチャックが備える多数のピンの上端面によって形成される仮想的な平坦な面(領域)であるが、図3(B)等では、ウエハテーブルWTBの上面がそのウエハ載置面48であるものとしている。
そして、図6(B)に示されるように、ウエハWの下面がウエハテーブルWTB上面(ウエハ載置面48)に当接すると、主制御装置20は、第2調整装置125bを介して外周部の11個のチャック部材124からの高圧空気流の流出を停止して、全てのチャック部材124によるウエハWの吸引を解除した後、ウエハテーブルWTB上の不図示のウエハホルダによるウエハWの吸着を開始する。次いで、主制御装置20は、図6(C)に示されるように、チャックユニット駆動系144を介してチャックユニット153を、前述の待機位置まで上昇させる。これにより、ウエハWのウエハテーブルWTB上へのロード(搬入)が終了する。また、ウエハWの下面がウエハテーブルWTB上面(ウエハ載置面48)に当接する前に、前記ウエハホルダによるウエハWの吸着(吸引)を開始しても良い。その場合は、ウエハWの下面がウエハテーブルWTB上面(ウエハ載置面48)に当接する前に、全ての或いは一部のチャック部材124によるウエハWの吸引を解除しておいても良い。
上述のウエハWのロード後、主制御装置20により、アライメント検出系99を用いてEGA(エンハンスト・グローバル・アライメント)等のアライメント計測(ウエハアライメント)が実行される。
アライメント計測の終了後、以下のようにしてステップ・アンド・スキャン方式の露光動作が行われる。露光動作にあたって、まず、ウエハWのXY位置が、ウエハW上の最初のショット領域(ファースト・ショット)の露光のための走査開始位置(加速開始位置)となるように、ウエハステージWST(ウエハテーブルWTB)が移動される。同時に、レチクルRのXY位置が、走査開始位置となるように、レチクルステージRSTが移動される。そして、主制御装置20が、レチクル干渉計13によって計測されたレチクルRの位置情報、ウエハ干渉計31によって計測されたウエハWの位置情報に基づき、レチクルステージ駆動系11、及び粗動ステージ駆動系51及び微動ステージ駆動系52を介してレチクルRとウエハWとを同期移動させることにより、走査露光が行われる。走査露光中、主制御装置20により、多点焦点位置検出系54の計測結果に基づいて、微動ステージWFSを、Z軸、θx及びθyの各方向に微小駆動して、ウエハWの照明光ILの照射領域(露光領域)部分を投影光学系PLの像面の焦点深度の範囲内に合致させるフォーカス・レベリング制御が行われる。
このようにして、1つのショット領域に対するレチクルパターンの転写が終了すると、ウエハテーブルWTBが1ショット領域分ステッピングされ、次のショット領域に対する走査露光が行われる。このようにして、ステッピングと走査露光とが順次繰り返され、ウエハW上に所定数のショット領域にレチクルRのパターンが重ね合わせて転写される。
以上説明したように、本実施形態に係る露光装置100によると、主制御装置20は、チャックユニット153及び3本の上下動ピン140を介してウエハWをウエハテーブルWTB上にロードする際に、最初、チャックユニット153の全てのチャック部材124によりウエハWの上面に同時に吸引力を作用させることでウエハWの平坦度を確保し、その平坦度を維持した状態で、3本の上下動ピン140によって下方からそのウエハWが支持(吸着保持)される段階で、ウエハW上面の中央部領域を吸引する7つのチャック部材124による吸引力を零にする。これにより、ウエハWは、チャックユニット153と上下動ピン140との上下方向両側面から力を受ける過拘束が防止される。その後、ウエハWに対するチャックユニット153(チャック部材124)による吸引状態と3本の上下動ピン140による支持状態とを維持して、チャックユニット153と上下動ピン140とが同期して下方に駆動されることで、ウエハWの裏面の全面がほぼ同時に又は裏面の中央部から外周部の順にウエハ載置面48に接触し、ウエハWを、歪みがない状態(平坦度が高い状態)でウエハテーブルWTB上にロードすることが可能になる。
また、本実施形態に係る露光装置100によると、ウエハテーブルWTB上に平坦度が高い状態でロードされたウエハWに対して、ステッピング・アンド・スキャン方式で露光が行われるので、ウエハW上の複数のショット領域のそれぞれに対するデフォーカスのない露光が可能となり、複数のショット領域に対してレチクルRのパターンを良好に転写することができる。
なお、上記実施形態では、複数(例えば18個)のチャック部材124の吸引力が、第1調整装置125a又は第2調整装置125b(図4参照)を介して、板部材44下面の中央部領域に配置された7つの第1グループと外周部に配置された11個の第2グループとで、グループ毎に制御されるものとした。しかし、これに限らず、複数(例えば18個)のチャック部材124の吸引力を個別にかつ任意に設定可能な構成を採用しても良い。この場合、ウエハWに対する複数のチャック部材124の吸引力を、それぞれのチャック部材124の位置に応じた最適な値(ウエハWに対して過拘束による歪みが生じない値であって、かつウエハWの所望のレベルの平坦度を確保できる値)となるように、事前に流体解析又は試験等により複数のチャック部材124それぞれの吸引力(すなわち、チャック部材124から噴出される流体の流速等)及び配置の設計値を、求めておいても良い。
また、上記実施形態では、チャックユニット153の板部材44の下面のほぼ全面にチャック部材124が配置された場合について説明したが、これに限らず、例えば図7に示されるように、上記実施形態において、第2調整装置125bによって吸引力が調整される板部材44の下面の外周部に配置されるチャック部材124のみを設けても良い。勿論、この場合には、第1調整装置125aは、不要である。かかる構成は、板部材44の下面の外周部に配置されたチャック部材124のみによって、ウエハWの所望のレベルの平坦度を確保できることが明らかな場合には、好適である。図7に示される構成の場合、チャックユニット153と上下動ピン140とが同期して下方に駆動される限り、ウエハWの裏面の周辺部が中央部より先にウエハ載置面48に接触する可能性は殆どない。あるいは、チャック部材124と3本の上下動ピン140とによって、ウエハWが所望のレベルの平坦度を確保できるようにしても良い。この場合、例えば、ウエハの平坦度をモニタしながら、チャックユニット駆動系144および駆動装置142の駆動速度を調整することで、ウエハWを所望のレベルの平坦度にすることが可能である。
また、上記実施形態では、3本の上下動ピン140によって、ウエハWが下方から支持された段階で、板部材44の下面の中央部領域に配置された7つのチャック部材124の吸引力を、第1調整装置125aを介して全て零にするものとしたが、これに限らず、7つのチャック部材124の吸引力を弱める(小さくする)ようにしても良いし、あるいは、7つのチャック部材124のうちの一部のチャック部材124の吸引力を弱める(又は零にする)ようにしても良い。
なお、上記実施形態において、第1調整装置125aは、複数(7つ)のチャック部材124の吸引力を個別にあるいは、予め定めたグループ毎に調整可能に構成されていても良い。同様に、第2調整装置125bは、複数(11個)のチャック部材124の吸引力を個別にあるいは、予め定めたグループ毎に調整可能に構成されていても良い。
なお、上記実施形態に係る露光装置100において、チャックユニット153の板部材44がクールプレートを兼ねる場合、ウエハステージWST上のウエハWに対する露光が行われている間に、次の露光対象のウエハをローディング位置上方の所定高さの待機位置でチャックユニット153が吸引した状態で待機していても良い。この場合、待機中もそのウエハWは、所定温度に温調されることができる。
ところで、上記実施形態係る露光装置100では、ウエハテーブルWTB上へのウエハWのロードに際し、ウエハWに対するチャックユニット153(チャック部材124)による吸引状態と3本の上下動ピン140による支持状態とを維持して、チャックユニット153と3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)とが同期して下方に駆動される(図6(A)及び図6(B)参照)。このとき、チャックユニット153と3本の上下動ピン140(ウエハ支持部150)との駆動に際しての同期がずれ、後者が前者より先に下方に駆動されると、ウエハWの下面の中央部3本の上下動ピン140で吸着された領域に、駆動装置142による−Z方向の駆動力が作用して、ウエハWの中央部が下凸形状に変形(撓む)おそれがある。この場合、中央部領域に配置された7つのチャック部材の吸引力を零にしないで所定の値に設定し、その吸引力を、上記−Z方向の駆動力に対向する上向きの力として、ウエハWに与えることも考えられるが、このようにすると、ウエハWが過拘束の状態になることは、前述したとおりである。
《上下動ピンの第1の変形例》
そこで、上述のウエハWの中央部の下凸形状の変形を抑制するため、例えば、前述した3本の上下動ピン140のそれぞれに代えて、例えば、図8に断面図にて示されるような構成の、第1の変形例に係る上下動ピン240を、台座部材141の上面に設けても良い。
上下動ピン240は、図8に示されるように、台座部材141の上面に固定された軸部材70と、該軸部材70に対して上下方向にスライド可能に取り付けられ、台座部材141に対する対向面に所定深さの凹部65が形成された吊下げ部材60と、を備えている。
吊下げ部材60は、図8に示されるように、支持部62、スライド部64及びストッパ部66を備えている。
支持部62は、下端部が他の部分に比べ幾分太い段付き棒状部材から成る。スライド部64は、支持部62の下端部と平面視で重なる同形状の断面を有する筒状(柱状)の部材から成る。スライド部64は、下端面に所定深さの例えば断面円形の凹部が形成されている。スライド部64の上面に支持部62の下端面が固定されて、スライド部64と支持部62とが一体化されている。両者の一体化は、例えばボルト止め、あるいは接着などにより行われる。
支持部62及びスライド部64には、支持部62の上端面に形成された排気口41から支持部62の内部を通り、さらにスライド部64の内部を通って、スライド部64の外周面に開口する排気管路68が、設けられている。排気管路68の排気口41とは反対側の開口に、不図示のバキュームポンプにその一端が接続された真空配管の他端が接続されている。
ストッパ部66は、スライド部64の外周面とほぼ面一の外周面を有し、スライド部64の内周面より幾分内側に突出した内周面を有する環状の部材から成り、その上面の内周側には、段部67が形成されている。ストッパ部66は、スライド部64の下端面に固定されて、ストッパ部66とスライド部64とが一体化されている。両者の一体化は、例えばボルト止め、あるいは接着などにより行われる。なお、吊下げ部材60は、支持部62、スライド部64、ストッパ部66を、別部材にて形成し、これらを一体化しても良いが、少なくとも2つの部分を一体成形しても良い。
軸部材70は、下端部の一部が他の部分より小径な段付きの円柱状部材から成る。軸部材70の大径部の外径は、スライド部64の凹部の内径より僅かに、例えば数μm〜数十μm程度小さい。また、軸部材70の小径部の外径は、ストッパ部66の内径より数mm程度小さい。軸部材70の高さ方向の寸法は、吊下げ部材60が、台座部材141に当接した状態で、その上端面が、スライド部64の凹部の底面にほぼ接触する寸法となっている。
軸部材70の底面(下面)には、中央部に所定深さの断面円形の空間72が形成されている。軸部材70には、空間72から外周面に連通する不図示の貫通孔が、軸部材の異なる高さ位置に、放射状の配置で複数形成されている。空間72には、不図示の気体供給管路、及び気体供給管を介して、不図示の気体供給装置(例えばコンプレッサ)が接続されている。
不図示の気体供給装置による空間72内への気体(例えば圧縮空気)の供給量等は、主制御装置20によって制御される。ここで、空間72内に圧縮空気が供給されると、その圧縮空気は、軸部材70の側壁に形成された不図示の複数の貫通孔を介して軸部材70の外周面とスライド部64の内周面との間に噴出される。すなわち、軸部材70とスライド部64との間に空気静圧軸受(エアベアリング)76が形成されている。なお、以下では、軸部材70の外周面(スライド部64の内周面)を、エアベアリング76と同一の符号を用いて、ガイド面76と称する。
軸部材70の大径部と小径部との境目の部分には、図8に示されるように、段部74が形成されている。この段部74に、ストッパ部66の段部67が対向して配置されている。段部74と段部67との対向面相互間には、所定の隙間(ギャップ)が存在する。この隙間の寸法に応じたストロークで、吊下げ部材60は、軸部材70に対してガイド面76に沿って、駆動可能である。吊下げ部材60の上下方向のストロークは、ストッパ部66によって制限されている。一方、吊下げ部材60の水平面内の移動は軸部材70によって制限(拘束)されている。なお、ストッパ部66は、吊下げ部材60の上下方向のストロークを制限できれば良いので、必ずしも環状である必要はない。
上述した構成の上下動ピン240が3本、台座部材141の上面に設けられたウエハ支持部を有するウエハステージWSTを備える露光装置では、上記実施形態と同様の手順で、ウエハWのウエハテーブルWTB上へのロードが行われる。
この際に、図5(C)及び図5(D)に対応する、チャックユニット153(チャック部材124)により非接触で吸引されたウエハWを3本の上下動ピン240により下方から支持した直後の状態では、上下動ピン240の吊下げ部材60は、図8に示されるように、ストローク範囲内の最下端位置(移動下限位置)に位置している。
次いで、ウエハWは、チャックユニット153(チャック部材124)に対して所定ギャップを維持したまま、チャックユニット153及び上下動ピン240とともに下降される。このとき、チャックユニット153と上下動ピン240との駆動応答性の差から、上下動ピン240が、チャックユニット153より先に下方に駆動を開始されることがある。この場合、駆動の開始直後は、吊下げ部材60の位置が維持されたままの状態で、軸部材70は、ガイド面76に沿ってスライド部64に対して下方に所定のストロークの範囲内で駆動される。そして、軸部材70の段部74が、ストッパ部66の段部67に当たると、吊下げ部材60も軸部材70とともに、駆動装置142によって下方に駆動されることとなる。従って、軸部材70の段部74が、ストッパ部66の段部67に当たるまでの間に、3本の上下動ピン240に同期したチャックユニット153の下方への移動が開始されれば、前述した駆動装置142による−Z方向の駆動力の作用による、ウエハWの中央部の下凸形状の変形(撓み)の発生を抑制することができる。
一方、チャックユニット153の応答性が、上下動ピン240の応答性より優れ、同期駆動に際してチャックユニット153が先に、下方に移動を開始する場合には、チャックユニット153(チャック部材124)により非接触で吸引されたウエハWを3本の上下動ピン240により下方から支持した直後に、チャックユニット153の下方への移動が開始されるに先立って、軸部材70を、段部74がストッパ部66の段部67に当たる移動下限位置に位置させる。これにより、ウエハWの中央部の上凸形状の変形(撓み)の発生を抑制することが可能になる。
ところで、上述の第1の変形例に係る上下動ピン240が3本、台座部材141の上面に設けられたウエハ支持部を有するウエハステージWSTを備える露光装置では、上述したチャックユニット153と上下動ピン240との応答性の差に起因するウエハWの中央部の下凸形状(又は上凸形状)の変形を抑制できる。しかし、吊下げ部材60の自重は、ウエハWに対して、下向きの力として作用する。そこで、上下動ピン140又は240に代えて、次の第2の変形例に係る上下動ピン340を、用いても良い。
《上下動ピンの第2の変形例》
第2の変形例に係る上下動ピン340は、図9に示されるように、基本的には、前述の上下動ピン240と同様に構成されているが、以下の点が相違する。すなわち、図9に示されるように、上下動ピン340は、内部に気室71及び排気孔75が形成されている点が上下動ピン240と異なり、他の構成及びその機能は、第1の変形例におけるそれらと同じであるため、説明を省略する。
図9に示されるように、気室71は、上下動ピン340内部(より正確には、スライド部64と軸部材70との間)に形成されている。気室71は、下方に形成された通気路77を介して空間72と連通している。そのため、不図示の気体供給装置を介して空間72内に供給された圧縮空気の一部は、通気路77を通って気室71内に流入する。すなわち、気室71は、上下動ピン340が配置された空間に比べて高い圧力(陽圧)となっており、吊下げ部材60に対して上向きの力が加えられている。ここで、気室71に流入された圧縮空気による上向きの力が、吊下げ部材60の自重による鉛直方向下向きの力と釣り合うように、気体供給装置を制御することで、吊下げ部材60の自重が、ウエハWに対して、下向きの力として作用するのを防止することができる。
排気孔75は、スライド部64の側面(図9では、−X側の側面)の上端部近傍に形成された開口から成り、通気路73を介して気室71と連通されている。すなわち、気室71内に流入された圧縮空気の一部は、常に排気孔75から排出されている。
以上説明したように、上述した構成の上下動ピン340が3本、台座部材141の上面に設けられたウエハ支持部を有するウエハステージWSTを備える露光装置では、上述した3本の上下動ピン240を備える露光装置と同等の効果を得られる他、吊下げ部材60には、気室71内を陽圧にすることで自重と等しい上向きの力が加えられるので、吊下げ部材60がウエハW下面に吊下げられた際に、吊下げ部材60の自重によりウエハWに変形が生じることを防ぐことができる。すなわち、よりウエハWの平坦度が高い状態で、ウエハWはウエハテーブルWTB上に載置される。
また、気室71に連通する排気孔75が形成されているので、ウエハテーブルWTBに吸着保持されたウエハWを、上下動ピン340によって下方から押し上げて、ウエハテーブルWTBから引き離す際等に、空気の粘性抵抗によって上下動ピン340がダンパの役割を果たすので、ウエハWが振動する(跳ねる)ことを防ぐことができる。
この他、上下動ピン140に代えて、次の第3の変形例に係る上下動ピン440を、用いても良い。
《上下動ピンの第3の変形例》
図10に示されるように、上下動ピン440は、台座部材141の上面に固定された筐体86と、筐体86内に一部が収容された軸部材84とを備えている。
筐体86は、下端面が開口し内部に空間85が形成された有底の円筒状部材から成る。また、筐体86の上壁(底部)には、筐体86の内径よりも小さい直径の断面円形の貫通孔87が上下方向に形成されている。筐体86の上壁の貫通孔87の内周面部には、平面視で円周方向に等間隔で、Z軸方向に延びる不図示の溝が形成されている。以下では、便宜上、この溝を貫通孔87と同一の符号を用いて、溝87と表記する。
軸部材84は、筐体86の上壁部に形成された貫通孔87の直径より僅かに直径の小さい円柱状の部材から成り、下端部に外側に張り出した鍔部88が設けられている。鍔部88は、貫通孔87の内径よりも大きい外径を有する。軸部材84は、筐体86の貫通孔87内に下方から挿入され、所定のストロークの範囲内で筐体86に対してZ軸方向にのみ移動が許容されている。軸部材84は、上端部の外周に不図示の鍔部又はナット等が設けられ(又は接続され)筐体86内への落下が防止されている。なお、軸部材84は、上端部の外周に設けられた不図示の鍔部又はナット等に替え、長軸(Z軸)方向の長さを筐体86に対して長くすることで、軸部材84がストローク最下端に位置した際に、軸部材84の上面が筐体86の上面よりも上方に位置するようにしても良い。
また、軸部材84には、中央部にZ軸方向に延びる例えば断面円形の貫通孔83が形成されている。貫通孔83は、一端(−Z端)に、不図示の配管を介して不図示のバキュームポンプが接続されている。
上述した構成の上下動ピン440が3本、台座部材141の上面に設けられたウエハ支持部を有するウエハステージWSTを備える露光装置では、上記実施形態と同様の手順で、ウエハWのウエハテーブルWTB上へのロードが行われる。
この際に、図5(C)及び図5(D)に対応する、チャックユニット153(チャック部材124)により非接触で吸引されたウエハWを3本の上下動ピン440により下方から支持した直後の状態では、上下動ピン440の軸部材84は、ストローク範囲内の最下端の位置(又はその底面が台座部材141の上面に接した位置)に位置している。
次いで、ウエハWは、チャックユニット153(チャック部材124)に対して所定ギャップを維持したまま、チャックユニット153及び上下動ピン440とともに下降される。このとき、チャックユニット153と上下動ピン440との駆動応答性の差から、上下動ピン440が、チャックユニット153より先に下方に駆動を開始されることがある。この場合、駆動の開始直後は、軸部材84の位置が維持されたままの状態で、筐体86が下方に所定ストロークの範囲内で駆動される。この際、溝87に空気の流れが生じ、軸部材84と筐体86との間では、摩擦が殆どない状態で筐体86が駆動される(すなわち、軸部材84と筐体86との間に、動圧軸受が構成されている)。そして、鍔部88の上面が、筐体86の上壁に当たると、軸部材84も筐体86とともに、駆動装置142によって下方に駆動されることとなる。従って、鍔部88の上面が、筐体86の上壁に当たるまでの間に、3本の上下動ピン440に同期したチャックユニット153の下方への移動が開始されれば、前述した駆動装置142による−Z方向の駆動力の作用による、ウエハWの中央部の下凸形状の変形(撓み)の発生を抑制することができる。
以上説明したように、上述した構成の上下動ピン440が3本、台座部材141の上面に設けられたウエハ支持部を有するウエハステージWSTを備える露光装置では、上述した3本の上下動ピン240を備える露光装置と同等の効果を得られる他、上下動ピン440の構成が簡素化されるので、装置全体として軽量化することができる。また、気体供給装置及び配管部材の一部を除くことができるのでレイアウトが容易になると同時に、組立作業性が向上する。
なお、第3の変形例に係る上下動ピン440では、筐体86の上壁の貫通孔87の内周面に複数の溝を設けることで動圧軸受を構成していたが、これに限らず、例えば軸部材84の外周面に等間隔で軸方向の溝を形成することで動圧軸受を構成しても良い。また、軸部材84と筐体86とは、摩擦係数の小さい部材同士を用いて、すべり軸受としても良い。
また、上記実施形態及び各変形例(以下、上記実施形態等と称する)では、チャックユニット153の形状は平面視円形としたが、これに限らず、ウエハWを上方から非接触で吸引することができれば良いので、例えば矩形等でも良い。
また、上記実施形態等では、3本の上下動ピン140(240,340,440)それぞれは、一体的に上下動されることとしたが、これに限らず、それぞれが独立して上下動されるようにしても良い。例えば、センター支持部材150を、3本の上下動ピンが互いに独立に上下動できるように構成し、ウエハの平坦度をモニタした結果に基づいて、それら3本の上下動ピンを個別に上下動させることでウエハWの平坦度が所望の範囲内に収まるようにしても良い。なお、上下動ピンの数は3本に限らす、それ以下またはそれ以上としても良い。
また、上記実施形態等では、一例として液体(水)を介さずにウエハWの露光を行うドライタイプの露光装置について説明したが、これに限らず、例えば国際公開第99/49504号、欧州特許出願公開第1,420,298号明細書、国際公開第2004/055803号、米国特許第6,952,253号明細書などに開示されているように、投影光学系とウエハとの間に照明光の光路を含む液浸空間を形成し、投影光学系及び液浸空間の液体を介して照明光でウエハを露光する露光装置にも上記実施形態を適用することができる。また、例えば米国特許出願公開第2008/0088843号明細書に開示される、液浸露光装置などにも、上記実施形態等を適用することができる。
また、上記実施形態等では、露光装置が、ステップ・アンド・スキャン方式等の走査型露光装置である場合について説明したが、これに限らず、ステッパなどの静止型露光装置に上記実施形態を適用しても良い。また、ショット領域とショット領域とを合成するステップ・アンド・スティッチ方式の縮小投影露光装置、プロキシミティー方式の露光装置、又はミラープロジェクション・アライナーなどにも上記実施形態は適用することができる。さらに、例えば米国特許第6,590,634号明細書、米国特許第5,969,441号明細書、米国特許第6,208,407号明細書などに開示されているように、複数のウエハステージを備えたマルチステージ型の露光装置にも上記実施形態等は適用できる。また、例えば国際公開第2005/074014号などに開示されているように、ウエハステージとは別に、計測部材(例えば、基準マーク、及び/又はセンサなど)を含む計測ステージを備える露光装置にも上記実施形態等は適用が可能である。
また、上記実施形態の露光装置における投影光学系は縮小系のみならず等倍及び拡大系のいずれでも良いし、投影光学系PLは屈折系のみならず、反射系及び反射屈折系のいずれでも良いし、その投影像は倒立像及び正立像のいずれでも良い。また、前述の照明領域及び露光領域はその形状が矩形であるものとしたが、これに限らず、例えば円弧、台形、あるいは平行四辺形などでも良い。
また、上記実施形態等に係る露光装置の光源は、ArFエキシマレーザに限らず、KrFエキシマレーザ(出力波長248nm)、F2レーザ(出力波長157nm)、Ar2レーザ(出力波長126nm)、Kr2レーザ(出力波長146nm)などのパルスレーザ光源、g線(波長436nm)、i線(波長365nm)などの輝線を発する超高圧水銀ランプなどを用いることも可能である。また、YAGレーザの高調波発生装置などを用いることもできる。この他、例えば米国特許第7,023,610号明細書に開示されているように、真空紫外光としてDFB半導体レーザ又はファイバーレーザから発振される赤外域、又は可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(又はエルビウムとイッテルビウムの両方)がドープされたファイバーアンプで増幅し、非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いても良い。
また、上記実施形態等では、露光装置の照明光ILとしては波長100nm以上の光に限らず、波長100nm未満の光を用いても良いことはいうまでもない。例えば、軟X線領域(例えば5〜15nmの波長域)のEUV(Extreme Ultraviolet)光を用いるEUV露光装置に上記実施形態を適用することができる。その他、電子線又はイオンビームなどの荷電粒子線を用いる露光装置にも、上記実施形態を適用できる。
さらに、例えば米国特許第6,611,316号明細書に開示されているように、2つのレチクルパターンを、投影光学系を介してウエハ上で合成し、1回のスキャン露光によってウエハ上の1つのショット領域をほぼ同時に二重露光する露光装置にも上記実施形態等を適用することができる。
また、上記実施形態等でパターンを形成すべき物体(エネルギビームが照射される露光対象の物体)は、ウエハに限られるものでなく、ガラスプレート、セラミック基板、フィルム部材、あるいはマスクブランクスなど他の物体でも良い。
露光装置の用途としては半導体製造用の露光装置に限定されることなく、例えば、角型のガラスプレートに液晶表示素子パターンを転写する液晶用の露光装置や、有機EL、薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD等)、マイクロマシン及びDNAチップなどを製造するための露光装置にも広く適用できる。また、半導体素子などのマイクロデバイスだけでなく、光露光装置、EUV露光装置、X線露光装置、及び電子線露光装置などで使用されるレチクル又はマスクを製造するために、ガラス基板又はシリコンウエハなどに回路パターンを転写する露光装置にも上記実施形態等を適用できる。
半導体素子などの電子デバイスは、デバイスの機能・性能設計を行うステップ、この設計ステップに基づいたレチクルを製作するステップ、シリコン材料からウエハを製作するステップ、上記実施形態等の露光装置(パターン形成装置)及びその露光方法によりマスク(レチクル)のパターンをウエハに転写するリソグラフィステップ、露光されたウエハを現像する現像ステップ、レジストが残存している部分以外の部分の露出部材をエッチングにより取り去るエッチングステップ、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除くレジスト除去ステップ、デバイス組み立てステップ(ダイシング工程、ボンディング工程、パッケージ工程を含む)、検査ステップ等を経て製造される。この場合、リソグラフィステップで、上記実施形態等の露光装置を用いて前述の露光方法が実行され、ウエハ上にデバイスパターンが形成されるので、高集積度のデバイスを生産性良く製造することができる。
なお、これまでの説明で引用した露光装置などに関する全ての公報、国際公開、米国特許出願公開明細書及び米国特許明細書の開示を援用して本明細書の記載の一部とする。

Claims (22)

  1. 板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬送する搬送システムであって、
    それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させて前記物体を上方から非接触で吸引する吸引力を生じさせる複数の吸引部材を有し、前記吸引力により前記物体を非接触で支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な吸引ユニットと、
    前記保持部材に設けられ、前記物体を下方から支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な支持部と、
    前記物体を前記物体載置面にロードするまでの間に、前記複数の吸引部材による吸引力を前記支持部に対する位置に応じて異ならせて、所望のレベルの平坦度が確保できるように前記物体の形状を変化させる制御装置と、
    を備える搬送システム。
  2. 前記支持部に対する位置に応じて前記複数の吸引部材の吸引力の大きさが異なる請求項1に記載の搬送システム。
  3. 前記複数の吸引部材のうち前記支持部に対向する位置の前記吸引部材が発生する吸引力は、他の前記吸引部材が発生する吸引力よりも弱い請求項2に記載の搬送システム。
  4. 前記複数の吸引部材が発生させる前記気体の流れの速度を互いに異ならせて、前記複数の吸引部材の吸引力を異ならせる請求項1〜3のいずれか一項に記載の搬送システム。
  5. 前記制御装置は、前記複数の吸引部材をグループ化して、前記グループ毎に気体を制御可能である請求項1〜4のいずれか一項に記載の搬送システム。
  6. 前記複数の吸引部材は、前記支持部に対向する複数の吸引部材を含む第1のグループと、他の吸引部材を含む第2のグループとでグループ化されている請求項5に記載の搬送システム。
  7. 前記支持部は、前記物体の中央部領域を支持可能である請求項6に記載の搬送システム。
  8. 前記制御装置は、前記第1のグループに含まれる前記吸引部材が発生する吸引力を、前記第2のグループに含まれる前記吸引部材が発生する吸引力よりも弱くする請求項7に記載の搬送システム。
  9. 板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬送システムであって、
    ベース部材と、前記ベース部材に設けられて、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させて該物体を吸引する力を生じさせる複数の吸引部材と、を有し、所定の搬入位置にある前記保持部材の上方に搬送された前記物体の一面を上方から非接触で吸引可能で上下動可能な吸引ユニットと、
    前記複数の吸引部材に気体を供給する気体供給装置と、
    前記保持部材に設けられ、上下動可能で、前記物体の前記一面とは反対側の他面の中央部領域の一部を下方から支持可能な支持部と、
    前記吸引ユニットと前記支持部とを少なくとも上下方向に移動する駆動装置と、
    前記気体供給装置と前記駆動装置とを制御する制御装置と、を備え、
    前記制御装置は、前記吸引ユニットにより吸引された前記物体の前記他面の前記中央部領域の一部を前記支持部を用いて下方から支持し、前記支持部による支持点を含む前記他面の領域に対応する前記物体の前記一面の第1領域に対する前記吸引部材による吸引力を前記第1領域の外周側の前記物体の前記一面の第2領域に比べて弱めるように、前記気体供給装置を制御し、
    前記物体に対する前記吸引ユニットによる吸引状態と前記支持部による支持状態を維持した状態で、前記吸引ユニットと前記支持部とを、前記物体載置面に向けて下方に移動するように前記駆動装置を制御する搬送システム。
  10. 板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬送システムであって、
    ベース部材と、前記ベース部材に設けられて、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させる複数の気体流通孔と、を有し、前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力により前記物体を上方から非接触で支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な吸引ユニットと、
    前記保持部材に設けられ、前記物体を下方から支持しつつ、前記物体載置面に対して上下動可能な支持部と、
    前記物体を前記物体載置面にロードするまでの間に、前記複数の気体流通孔を介して供給される前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力を、前記支持部に対する前記複数の気体流通孔の位置に応じて異ならせて、所望のレベルの平坦度が確保できるように前記物体の形状を変化させる制御装置と、
    を備える搬送システム。
  11. 前記複数の気体流通孔を介して供給される前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力の大きさは、前記支持部に対する前記複数の気体流通孔の位置に応じて異なる請求項10に記載の搬送システム。
  12. 前記複数の気体流通孔のうち、前記支持部に対向する位置の前記気体流通孔を介した前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力は、他の前記気体流通孔を介して供給される前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力よりも弱い請求項11に記載の搬送システム。
  13. 前記複数の気体流通孔を介した前記気体の流れの速度を異ならせて、前記複数の気体流通孔を介した前記気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力を異ならせる請求項12に記載の搬送システム。
  14. 前記複数の気体流通孔はグループ化され、前記制御装置は、前記グループ毎に前記気体流通孔を介して噴出される気体を制御可能である請求項10〜13のいずれか一項に記載の搬送システム。
  15. 前記複数の気体流通孔は、前記支持部に対向する複数の気体流通孔を含む第1のグループと、他の気体流通孔を含む第2のグループとでグループ化されている請求項14に記載の搬送システム。
  16. 前記支持部は、前記物体の中央部領域を支持可能である請求項15に記載の搬送システム。
  17. 前記制御装置は、前記第1のグループに含まれる前記気体流通孔を介した気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力を、前記第2のグループに含まれる前記気体流通孔を介した気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力よりも弱くする請求項15又は16に記載の搬送システム。
  18. 板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬送システムであって、
    ベース部材と、前記ベース部材に設けられて、それぞれ前記物体周辺に気体の流れを発生させる複数の気体流通孔と、を有し、所定の搬入位置にある前記保持部材の上方に搬送された前記物体の一面を上方から非接触で吸引可能で上下動可能な吸引ユニットと、
    前記保持部材に設けられ、上下動可能で、前記物体の前記一面とは反対側の他面の中央部領域の一部を下方から支持可能な支持部と、
    前記吸引ユニットと前記支持部とを少なくとも上下方向に移動する駆動装置と、
    前記複数の気体流通孔を介して噴出される気体を供給する気体供給装置を有し、前記複数の気体流通孔を介して噴出される気体の流れにより生じる前記物体に対する吸引力を調整することで、所望のレベルの平坦度が確保できるように前記物体を変形させる調整装置と、
    前記調整装置と前記駆動装置とを制御する制御装置と、を備え、
    前記制御装置は、前記吸引ユニットの前記複数の気体流通孔を介した前記気体の流れによる前記物体の保持状態と前記支持部による前記物体の支持状態とを維持した状態で、前記吸引ユニットと前記支持部とを、前記物体載置面に向けて下方に移動するように前記駆動装置を制御しつつ、前記調整装置を用いて前記物体を変形させる搬送システム。
  19. 板状の物体を、上面に物体載置面が設けられた保持部材に搬入する搬入方法であって、
    前記物体を、所定の搬入位置にある前記保持部材の前記物体載置面の上方に搬送することと、
    吸引部材により前記物体の一面を上方から非接触で吸引することと、
    前記保持部材に設けられた上下動可能な支持部により、前記吸引部材により吸引された前記物体の前記一面とは反対側の他面の中央部領域の一部を下方から支持するとともに、前記支持部による支持点を含む前記中央部領域に対応する前記物体の前記一面の第1領域に対する前記吸引部材による吸引力を前記第1領域の外周側の前記物体の前記一面の第2領域に比べて弱めることと、
    前記物体に対する前記吸引部材による吸引状態と前記支持部による支持状態を維持した状態で、前記吸引部材と前記支持部とを、前記物体載置面に向けて下方に移動することと、を含む搬入方法。
  20. 物体上にパターンを形成する露光装置であって、
    請求項1〜18のいずれか一項に記載の搬送システムと、
    前記搬送システムにより前記保持部材上に搬入された前記物体をエネルギビームで露光して、前記パターンを形成するパターン生成装置と、を備える露光装置。
  21. 前記パターン生成装置は、前記エネルギビームを前記物体に向けて射出する光学系を含み、
    前記光学系を保持するフレームをさらに備え、
    前記吸引ユニットは、前記フレームとは振動的に分離されている請求項20に記載の露光装置。
  22. 請求項20又は21に記載の露光装置を用いて物体を露光することと、
    露光された前記物体を現像することと、を含むデバイス製造方法。

JP2014550207A 2012-11-30 2013-11-27 搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法 Active JP6429017B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201261731573P 2012-11-30 2012-11-30
US61/731,573 2012-11-30
PCT/JP2013/081851 WO2014084228A1 (ja) 2012-11-30 2013-11-27 吸引装置、搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018199636A Division JP6671643B2 (ja) 2012-11-30 2018-10-24 搬送方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2014084228A1 JPWO2014084228A1 (ja) 2017-01-05
JP6429017B2 true JP6429017B2 (ja) 2018-11-28

Family

ID=50827864

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014550207A Active JP6429017B2 (ja) 2012-11-30 2013-11-27 搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法
JP2018199636A Active JP6671643B2 (ja) 2012-11-30 2018-10-24 搬送方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018199636A Active JP6671643B2 (ja) 2012-11-30 2018-10-24 搬送方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法

Country Status (8)

Country Link
US (3) US10242903B2 (ja)
EP (2) EP2950328A4 (ja)
JP (2) JP6429017B2 (ja)
KR (1) KR102169388B1 (ja)
CN (2) CN108336011B (ja)
HK (1) HK1216271A1 (ja)
TW (4) TWI607519B (ja)
WO (1) WO2014084228A1 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10242903B2 (en) * 2012-11-30 2019-03-26 Nikon Corporation Suction device, carry-in method, carrier system and exposure apparatus, and device manufacturing method
TWI569355B (zh) * 2014-07-23 2017-02-01 Harmotec Co Ltd Control device and control method
JP6366823B2 (ja) * 2014-09-15 2018-08-01 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. オブジェクトテーブル、リソグラフィ装置、及びデバイス製造方法
JP2016143706A (ja) * 2015-01-30 2016-08-08 株式会社東芝 基板保持装置および半導体装置の製造方法
US9553010B2 (en) * 2015-06-25 2017-01-24 Coreflow Ltd. Wafer gripper with non-contact support platform
US9929121B2 (en) * 2015-08-31 2018-03-27 Kulicke And Soffa Industries, Inc. Bonding machines for bonding semiconductor elements, methods of operating bonding machines, and techniques for improving UPH on such bonding machines
JP6215281B2 (ja) * 2015-10-27 2017-10-18 株式会社日本製鋼所 被処理体搬送装置、半導体製造装置および被処理体搬送方法
JP6568773B2 (ja) * 2015-11-10 2019-08-28 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置及び剥離システム
CN107326434A (zh) * 2016-04-28 2017-11-07 上海新昇半导体科技有限公司 伯努利基座
EP4218877A3 (en) 2016-08-15 2023-08-30 Fisher & Paykel Healthcare Limited Adaptor for respiratory assistance systems
KR20180045666A (ko) * 2016-10-26 2018-05-04 삼성전자주식회사 기판 제조 장치
CN108723972B (zh) * 2017-04-20 2020-09-22 上海新昇半导体科技有限公司 基于伯努利原理的边缘研磨基座、边缘研磨系统及方法
CN108962808A (zh) * 2017-05-17 2018-12-07 技鼎股份有限公司 以激光积层方式制造的非接触式吸盘以及非接触式吸盘装置
JP6803296B2 (ja) * 2017-05-29 2020-12-23 株式会社Screenホールディングス 露光装置および基板処理装置
DE102018106751A1 (de) * 2017-07-31 2019-01-31 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co. Ltd. Automatisiertes inspektionswerkzeug
CN107604309B (zh) * 2017-11-06 2023-09-15 京东方科技集团股份有限公司 掩膜板贴合装置以及其贴合方法
US10535495B2 (en) * 2018-04-10 2020-01-14 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Sample manipulation for nondestructive sample imaging
JP7108464B2 (ja) * 2018-05-25 2022-07-28 株式会社ディスコ チャックテーブル
JP6979935B2 (ja) * 2018-10-24 2021-12-15 三菱電機株式会社 半導体製造装置および半導体製造方法
JP7175735B2 (ja) * 2018-12-11 2022-11-21 平田機工株式会社 基板搬送装置
JP7296536B2 (ja) * 2019-05-09 2023-06-23 Aiメカテック株式会社 基板支持装置、基板処理装置、及び基板支持方法
US11037809B2 (en) * 2019-07-17 2021-06-15 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Transfer device and method for transferring substrate without unexpected rotation
US11340179B2 (en) 2019-10-21 2022-05-24 Bae Systems Information And Electronic System Integration Inc. Nanofabricated structures for sub-beam resolution and spectral enhancement in tomographic imaging
JP7296862B2 (ja) * 2019-11-29 2023-06-23 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置及び基板処理システム
CN111099403A (zh) * 2019-12-25 2020-05-05 武汉理工氢电科技有限公司 一种片料基材的拾取方法及拾取装置
CN112490175B (zh) * 2020-11-28 2023-06-30 扬州思普尔科技有限公司 面向晶圆显微检测的分级变吸力伯努利吸盘装置及其应用方法
TWI776680B (zh) * 2021-09-16 2022-09-01 日商新川股份有限公司 安裝裝置以及安裝裝置中的平行度檢測方法
CN115818207B (zh) * 2023-02-10 2023-06-02 季华实验室 一种基板传送装置、控制方法及相关设备

Family Cites Families (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5196745A (en) 1991-08-16 1993-03-23 Massachusetts Institute Of Technology Magnetic positioning device
KR100300618B1 (ko) 1992-12-25 2001-11-22 오노 시게오 노광방법,노광장치,및그장치를사용하는디바이스제조방법
JPH08203984A (ja) * 1995-01-25 1996-08-09 Oki Electric Ind Co Ltd ベルヌーイチャック及びそれを用いたウエハの搬送方法
SG88824A1 (en) 1996-11-28 2002-05-21 Nikon Corp Projection exposure method
JP2000505958A (ja) 1996-12-24 2000-05-16 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 2個の物品ホルダを有する二次元バランス位置決め装置及びこの位置決め装置を有するリソグラフ装置
US6208407B1 (en) 1997-12-22 2001-03-27 Asm Lithography B.V. Method and apparatus for repetitively projecting a mask pattern on a substrate, using a time-saving height measurement
IL138374A (en) 1998-03-11 2004-07-25 Nikon Corp An ultraviolet laser device and an exposure device that includes such a device
WO1999049504A1 (fr) 1998-03-26 1999-09-30 Nikon Corporation Procede et systeme d'exposition par projection
EP1077393A2 (en) * 1999-08-19 2001-02-21 Canon Kabushiki Kaisha Substrate attracting and holding system for use in exposure apparatus
JP2001060618A (ja) * 1999-08-20 2001-03-06 Canon Inc 基板吸着保持方法、基板吸着保持装置および該基板吸着保持装置を用いた露光装置ならびにデバイスの製造方法
KR20010085493A (ko) 2000-02-25 2001-09-07 시마무라 기로 노광장치, 그 조정방법, 및 상기 노광장치를 이용한디바이스 제조방법
KR100815222B1 (ko) 2001-02-27 2008-03-19 에이에스엠엘 유에스, 인크. 리소그래피 장치 및 적어도 하나의 레티클 상에 형성된 적어도 두 개의 패턴으로부터의 이미지로 기판 스테이지 상의 필드를 노출시키는 방법
JP3825277B2 (ja) * 2001-05-25 2006-09-27 東京エレクトロン株式会社 加熱処理装置
JP3761444B2 (ja) * 2001-10-23 2006-03-29 富士通株式会社 半導体装置の製造方法
JP2004140058A (ja) * 2002-10-16 2004-05-13 Hitachi Electronics Eng Co Ltd ウエハ搬送装置およびウエハ処理装置
EP2495613B1 (en) 2002-11-12 2013-07-31 ASML Netherlands B.V. Lithographic apparatus
SG121818A1 (en) 2002-11-12 2006-05-26 Asml Netherlands Bv Lithographic apparatus and device manufacturing method
WO2004055803A1 (en) 2002-12-13 2004-07-01 Koninklijke Philips Electronics N.V. Liquid removal in a method and device for irradiating spots on a layer
KR101394764B1 (ko) 2003-12-03 2014-05-27 가부시키가이샤 니콘 노광 장치, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법, 그리고 광학 부품
US7589822B2 (en) 2004-02-02 2009-09-15 Nikon Corporation Stage drive method and stage unit, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP4541824B2 (ja) * 2004-10-14 2010-09-08 リンテック株式会社 非接触型吸着保持装置
KR101356270B1 (ko) 2006-02-21 2014-01-28 가부시키가이샤 니콘 패턴 형성 장치, 마크 검출 장치, 노광 장치, 패턴 형성 방법, 노광 방법 및 디바이스 제조 방법
JP2008087890A (ja) * 2006-09-29 2008-04-17 Fujifilm Corp 基板搬送方法及び基板搬送装置
US20080129064A1 (en) 2006-12-01 2008-06-05 Asm America, Inc. Bernoulli wand
JP5080090B2 (ja) * 2007-01-15 2012-11-21 リンテック株式会社 保持装置及び保持方法
JP4564022B2 (ja) * 2007-01-16 2010-10-20 東京エレクトロン株式会社 基板搬送装置及び縦型熱処理装置
JP4976922B2 (ja) * 2007-05-29 2012-07-18 株式会社オーク製作所 基板搬送装置
WO2008156367A1 (en) * 2007-06-21 2008-12-24 Asml Netherlands B.V. Method of loading a substrate on a substrate table, device manufacturing method, computer program, data carrier and apparatus
JP2009028863A (ja) * 2007-07-27 2009-02-12 Ihi Corp 非接触搬送装置
DE102008023907A1 (de) * 2008-05-16 2009-12-03 Innolas Systems Gmbh Bernoulli-Greifvorrichtung zum Greifen und Handhaben von plattenförmigen Elementen, insbesondere von Waferelementen
JP2010064159A (ja) * 2008-09-09 2010-03-25 Seiko Epson Corp 吸引保持ハンド
US8994923B2 (en) 2008-09-22 2015-03-31 Nikon Corporation Movable body apparatus, exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
US8325325B2 (en) 2008-09-22 2012-12-04 Nikon Corporation Movable body apparatus, movable body drive method, exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method
JP2010253596A (ja) * 2009-04-23 2010-11-11 Seiko Epson Corp チャッキング装置、チャッキング方法、搬送装置、及び搬送方法
US8970820B2 (en) 2009-05-20 2015-03-03 Nikon Corporation Object exchange method, exposure method, carrier system, exposure apparatus, and device manufacturing method
CN101866870B (zh) * 2010-05-25 2013-10-23 北京中电科电子装备有限公司 一种半导体专用设备用晶片吸附搬运机构
TWI451521B (zh) * 2010-06-21 2014-09-01 Semes Co Ltd 基板處理設備及基板處理方法
JP5101665B2 (ja) * 2010-06-30 2012-12-19 東京エレクトロン株式会社 基板載置台、基板処理装置および基板処理システム
JP5455987B2 (ja) * 2010-08-23 2014-03-26 東京エレクトロン株式会社 剥離装置、剥離システム、剥離方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
JP5182339B2 (ja) * 2010-08-31 2013-04-17 三星ダイヤモンド工業株式会社 基板ブレーク装置
US8598538B2 (en) * 2010-09-07 2013-12-03 Nikon Corporation Movable body apparatus, object processing device, exposure apparatus, flat-panel display manufacturing method, and device manufacturing method
JP5810517B2 (ja) * 2010-12-02 2015-11-11 富士電機株式会社 吸着装置および吸着方法
JP5323867B2 (ja) * 2011-01-19 2013-10-23 東京エレクトロン株式会社 基板反転装置、基板反転方法、剥離システム、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
JP5740583B2 (ja) * 2011-04-12 2015-06-24 東京エレクトロン株式会社 剥離装置、剥離システム、剥離方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
US9207549B2 (en) * 2011-12-29 2015-12-08 Nikon Corporation Exposure apparatus and exposure method, and device manufacturing method with encoder of higher reliability for position measurement
JP5952059B2 (ja) 2012-04-04 2016-07-13 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置および基板保持方法
US10242903B2 (en) * 2012-11-30 2019-03-26 Nikon Corporation Suction device, carry-in method, carrier system and exposure apparatus, and device manufacturing method

Also Published As

Publication number Publication date
TW201807769A (zh) 2018-03-01
TWI683387B (zh) 2020-01-21
JP2019050388A (ja) 2019-03-28
EP3866184A1 (en) 2021-08-18
CN108336011A (zh) 2018-07-27
KR20150089060A (ko) 2015-08-04
US11289362B2 (en) 2022-03-29
TW201838075A (zh) 2018-10-16
TWI816947B (zh) 2023-10-01
KR102169388B1 (ko) 2020-10-23
US10586728B2 (en) 2020-03-10
US10242903B2 (en) 2019-03-26
US20160005636A1 (en) 2016-01-07
EP3866184B1 (en) 2024-10-09
EP2950328A1 (en) 2015-12-02
JP6671643B2 (ja) 2020-03-25
HK1216271A1 (zh) 2016-10-28
TWI607519B (zh) 2017-12-01
TWI623999B (zh) 2018-05-11
US20190172745A1 (en) 2019-06-06
EP2950328A4 (en) 2017-01-25
WO2014084228A1 (ja) 2014-06-05
US20200176298A1 (en) 2020-06-04
CN104969330A (zh) 2015-10-07
CN108336011B (zh) 2022-08-02
JPWO2014084228A1 (ja) 2017-01-05
TW201428881A (zh) 2014-07-16
TW202015164A (zh) 2020-04-16
CN104969330B (zh) 2018-04-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6429017B2 (ja) 搬入方法、搬送システム及び露光装置、並びにデバイス製造方法
JP7243797B2 (ja) 搬送システム、露光装置、及び搬送方法
JP6319277B2 (ja) 露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法、並びに露光方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20161102

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170627

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20170825

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171025

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180207

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20180409

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180528

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20181003

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20181016

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6429017

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250