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JP6251022B2 - Socket for electrical parts - Google Patents

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JP6251022B2 JP2013244539A JP2013244539A JP6251022B2 JP 6251022 B2 JP6251022 B2 JP 6251022B2 JP 2013244539 A JP2013244539 A JP 2013244539A JP 2013244539 A JP2013244539 A JP 2013244539A JP 6251022 B2 JP6251022 B2 JP 6251022B2
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Description

この発明は、第1電気部品が収容されると共に、第2電気部品上に配設されるソケット本体を有し、このソケット本体に上下方向に配設されたコンタクトピンを介して第1電気部品と第2電気部品とが互いに電気的に接続される電気部品用ソケットに関するものである。   The present invention has a socket main body that accommodates the first electric component and is disposed on the second electric component, and the first electric component via contact pins disposed in the socket body in the vertical direction. And a socket for electrical parts in which the second electrical part is electrically connected to each other.

従来から、この種の電気部品用ソケットとしては、例えば半導体装置(以下「ICパッケージ」という)のバーンイン試験等の性能試験を行うものとして、特許文献1に記載されたようなICソケットがある。   Conventionally, as this kind of electrical component socket, there is an IC socket described in Patent Document 1 for performing a performance test such as a burn-in test of a semiconductor device (hereinafter referred to as “IC package”).

このICソケットにおいて、ソケット本体は、第2電気部品である配線基板上に配設されるユニット本体と、第1電気部品であるICパッケージが収容され、ユニット本体の上方に上下動自在に支持されたフローティングプレートとを備えている。また、このICソケットは、上下方向に弾性変形可能な複数の板状のコンタクトピンを備えており、各コンタクトピンはそれぞれ、ICパッケージの半田ボール(端子)に電気的に導通する上側接触部と、配線基板の接点に電気的に導通する下側接触部とを有している。   In this IC socket, the socket main body accommodates a unit main body disposed on the wiring board as the second electric component and an IC package as the first electric component, and is supported above the unit main body so as to be movable up and down. And a floating plate. The IC socket includes a plurality of plate-like contact pins that can be elastically deformed in the vertical direction. Each contact pin has an upper contact portion that is electrically connected to a solder ball (terminal) of the IC package. And a lower contact portion that is electrically connected to the contact of the wiring board.

そして、このICソケットを用いてICパッケージの性能試験を行う際には、配線基板上にICソケットを配設し、コンタクトピンの下側接触部を配線基板に電気的に接続する。次いで、このICソケットのフローティングプレート上にICパッケージを収容し、ICパッケージをフローティングプレートと共に下降させることにより、コンタクトピンの上側接触部をICパッケージに電気的に接続する。その結果、コンタクトピンを介してICパッケージと配線基板とが互いに電気的に接続された状態となり、ICパッケージの性能試験を行うことが可能となる。   When performing a performance test of an IC package using this IC socket, the IC socket is disposed on the wiring board, and the lower contact portion of the contact pin is electrically connected to the wiring board. Next, the IC package is accommodated on the floating plate of the IC socket, and the IC package is lowered together with the floating plate, so that the upper contact portion of the contact pin is electrically connected to the IC package. As a result, the IC package and the wiring board are electrically connected to each other through the contact pins, and the performance test of the IC package can be performed.

特開2011−71029号公報JP 2011-71029 A

しかしながら、このような従来のものにあっては、ICパッケージがフローティングプレートと共に下降する際に、ICパッケージの半田ボールとコンタクトピンの上側接触部との接圧を確保するため、コンタクトピンの上側接触部がICパッケージの半田ボールによって押し下げられる構造になっている。   However, in such a conventional device, when the IC package is lowered together with the floating plate, the contact between the solder ball of the IC package and the upper contact portion of the contact pin is ensured. The part is structured to be pushed down by the solder ball of the IC package.

したがって、ICソケットに異常な作動(イレギュラーな作動)が発生したことに起因して、図12に示すように、ICパッケージ12が下降せずにフローティングプレート22のみが下降して、コンタクトピン20の上側接触部20eがフローティングプレート22の上面22eから上方へ突出した状態になる場合がある。この場合、コンタクトピン20の上側接触部20eにICパッケージ12の半田ボール12bが当たって負荷がかかると、コンタクトピン20の上側接触部20eが横向きに倒れ、その傾斜角θが例えば45°以上にも達してしまう。これは、このような傾斜状態では、コンタクトピン20の上側接触部20eがフローティングプレート22の貫通孔22aの上端部22iに1点接触で不安定に支持されるに過ぎないことが主因であると考えられる。その結果、コンタクトピン20は、その上側接触部20eが塑性変形したり破損したりする恐れがあった。   Therefore, due to the occurrence of an abnormal operation (irregular operation) in the IC socket, as shown in FIG. 12, only the floating plate 22 is lowered without the IC package 12 being lowered, and the contact pin 20 The upper contact portion 20e may protrude upward from the upper surface 22e of the floating plate 22. In this case, when a load is applied when the upper contact portion 20e of the contact pin 20 hits the solder ball 12b of the IC package 12, the upper contact portion 20e of the contact pin 20 falls sideways, and the inclination angle θ is, for example, 45 ° or more. Will also reach. This is mainly because the upper contact portion 20e of the contact pin 20 is only unstablely supported by the upper end portion 22i of the through hole 22a of the floating plate 22 by one point contact in such an inclined state. Conceivable. As a result, the contact pin 20 may have its upper contact portion 20e plastically deformed or damaged.

そこで、この発明は、異常な作動が発生した場合でもコンタクトピンの上側接触部の塑性変形や破損を防止することが可能な電気部品用ソケットを提供することを課題としている。   Therefore, an object of the present invention is to provide an electrical component socket capable of preventing plastic deformation and breakage of an upper contact portion of a contact pin even when an abnormal operation occurs.

かかる課題を達成するために、請求項1に記載の発明は、第1電気部品が収容されると共に、第2電気部品上に配設されるソケット本体を有し、該ソケット本体に上下方向に配設されたコンタクトピンを介して前記第1電気部品と前記第2電気部品とが互いに電気的に接続される電気部品用ソケットであって、前記ソケット本体は、前記第2電気部品上に配設されるユニット本体と、前記第1電気部品が収容され、前記ユニット本体の上方に上下動自在に支持されたフローティングプレートとを備え、前記コンタクトピンは、前記第1電気部品に電気的に導通する上側接触部と、前記第2電気部品に電気的に導通する下側接触部とを有し、前記フローティングプレートには、前記コンタクトピンの前記上側接触部が上下方向に挿通される貫通孔が形成され、前記貫通孔の上部には、前記フローティングプレートのみが下降して前記コンタクトピンの前記上側接触部が前記フローティングプレートの上面から上方へ突出した状態で前記コンタクトピンの前記上側接触部が傾斜した場合に、当該上側接触部を支持して傾斜を抑制する座繰り部が設けられており、前記座繰り部は、大径部と小径部とからなる段付き形状を呈しており、傾斜した前記上側接触部を、前記大径部と前記小径部の各角部で支持することで、前記上側接触部の所定角度以上の傾斜を抑制するように構成されている電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。 In order to achieve such an object, the invention according to claim 1 includes a socket body that accommodates the first electrical component and is disposed on the second electrical component, and the socket body is vertically arranged. An electrical component socket in which the first electrical component and the second electrical component are electrically connected to each other via a disposed contact pin, wherein the socket body is disposed on the second electrical component. A unit main body, and a floating plate that accommodates the first electric component and is supported above the unit main body so as to be movable up and down, and the contact pin is electrically connected to the first electric component. And a lower contact portion that is electrically connected to the second electrical component, and the floating plate has a through-hole through which the upper contact portion of the contact pin is inserted vertically. In the upper part of the through hole, only the floating plate is lowered and the upper contact portion of the contact pin protrudes upward from the upper surface of the floating plate. When tilted, a countersink portion is provided that supports the upper contact portion and suppresses tilting, and the countersink portion has a stepped shape composed of a large diameter portion and a small diameter portion, and is inclined. By supporting the upper contact portion at each corner of the large diameter portion and the small diameter portion, an electrical component socket configured to suppress inclination of the upper contact portion by a predetermined angle or more is provided. It is characterized by that.

また、請求項2に記載の発明は、第1電気部品が収容されると共に、第2電気部品上に配設されるソケット本体を有し、該ソケット本体に上下方向に配設されたコンタクトピンを介して前記第1電気部品と前記第2電気部品とが互いに電気的に接続される電気部品用ソケットであって、前記ソケット本体は、前記第2電気部品上に配設されるユニット本体と、前記第1電気部品が収容され、前記ユニット本体の上方に上下動自在に支持されたフローティングプレートとを備え、前記コンタクトピンは、前記第1電気部品に電気的に導通する上側接触部と、前記第2電気部品に電気的に導通する下側接触部とを有し、前記フローティングプレートには、前記コンタクトピンの前記上側接触部が上下方向に挿通される貫通孔が形成され、前記貫通孔の上部には、前記フローティングプレートのみが下降して前記コンタクトピンの前記上側接触部が前記フローティングプレートの上面から上方へ突出した状態で前記コンタクトピンの前記上側接触部が傾斜した場合に、当該上側接触部を支持して傾斜を抑制する座繰り部が設けられており、前記座繰り部は、すり鉢状のテーパ形状を呈しており、傾斜した前記上側接触部を、テーパ形状の前記座繰り部のテーパ面で支持することで、前記上側接触部の所定角度以上の傾斜を抑制するように構成されている電気部品用ソケットとしたことを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, the first electrical component is accommodated and the socket body is disposed on the second electrical component. The contact pin is disposed on the socket body in the vertical direction. An electrical component socket in which the first electrical component and the second electrical component are electrically connected to each other via a socket, wherein the socket body is a unit body disposed on the second electrical component; The first electrical component is housed and includes a floating plate supported above the unit main body so as to be movable up and down, and the contact pin is electrically connected to the first electrical component; A through hole through which the upper contact part of the contact pin is inserted in the vertical direction is formed in the floating plate, and the through hole is formed in the floating plate. When the upper contact portion of the contact pin is inclined with only the floating plate lowered and the upper contact portion of the contact pin protruding upward from the upper surface of the floating plate, A counterboring portion that supports the contact portion and suppresses inclination is provided, the counterboring portion has a mortar-shaped taper shape, and the inclined upper contact portion is replaced with the tapered counterboring portion. It is characterized by having set it as the socket for electrical components comprised so that the inclination more than the predetermined angle of the said upper side contact part might be suppressed by supporting by the taper surface .

さらに、請求項3に記載の発明は、請求項1または2に記載の構成に加え、前記コンタクトピンは、1枚の板材から形成されており、前記下側接触部と、前記板材を折り曲げて略筒状に形成した前記上側接触部と、その間に設けられた板状のばね部を有し、該ばね部が弾性変形することによって上下方向の付勢力を発生するように構成されており、傾斜した前記上側接触部の側面が、前記座繰り部に当接して支持されるように構成されていることを特徴とする。 Furthermore, in the invention described in claim 3, in addition to the configuration described in claim 1 or 2, the contact pin is formed of a single plate, and the lower contact portion and the plate are bent. It said upper contact portion formed in a substantially tubular shape, has a plate-like spring portion provided between them, and the spring portion is configured to generate a biasing force in the vertical direction by elastic deformation The inclined side surface of the upper contact portion is configured to be in contact with and supported by the countersink portion .

請求項1に記載の発明によれば、貫通孔の上部に所定の座繰り部が設けられているので、コンタクトピンの上側接触部がフローティングプレートの上面から上方へ突出した状態で、このコンタクトピンの上側接触部に負荷がかかった場合には、コンタクトピンの上側接触部の傾斜を抑制することができる。その結果、電気部品用ソケットに異常な作動が発生した場合でも、コンタクトピンの上側接触部の塑性変形や破損を防止することが可能となる。   According to the first aspect of the present invention, since the predetermined countersink portion is provided in the upper portion of the through hole, the contact pin is in a state where the upper contact portion of the contact pin protrudes upward from the upper surface of the floating plate. When a load is applied to the upper contact portion, the inclination of the upper contact portion of the contact pin can be suppressed. As a result, even when an abnormal operation occurs in the electrical component socket, it is possible to prevent plastic deformation and breakage of the upper contact portion of the contact pin.

また、請求項に記載の発明によれば、大径部と小径部とからなる段付き形状を呈しているので、コンタクトピンの上側接触部が傾斜した場合に、この上側接触部を2点接触でしっかり支持することができる。そのため、コンタクトピンの上側接触部が大きく傾いて塑性変形等を引き起こすことを確実に抑制することが可能となる。 In addition, according to the first aspect of the present invention, since the stepped shape including the large diameter portion and the small diameter portion is exhibited, when the upper contact portion of the contact pin is inclined, the upper contact portion is provided with two points. Can be firmly supported by contact. Therefore, it is possible to reliably suppress the upper contact portion of the contact pin from being greatly inclined and causing plastic deformation or the like.

この発明の実施の形態1に係るICソケットを示す斜視図であって、(a)は開閉体が開いた状態、(b)は開閉体が閉じた状態を示す。It is a perspective view which shows the IC socket which concerns on Embodiment 1 of this invention, Comprising: (a) shows the state which the opening / closing body opened, (b) shows the state which the opening / closing body closed. 同実施の形態1に係るICソケットを示す平面図である。FIG. 3 is a plan view showing the IC socket according to the first embodiment. 同実施の形態1に係る図2のA−A線に沿うICソケットの断面図である。It is sectional drawing of the IC socket which follows the AA line of FIG. 2 which concerns on the same Embodiment 1. FIG. 同実施の形態1に係る図2のB−B線に沿うICソケットの断面図である。It is sectional drawing of the IC socket which follows the BB line of FIG. 2 which concerns on the same Embodiment 1. FIG. 同実施の形態1に係る図4のX部拡大図である。It is the X section enlarged view of FIG. 4 which concerns on the same Embodiment 1. FIG. 同実施の形態1に係るコンタクトピン単体の斜視図である。FIG. 3 is a perspective view of a single contact pin according to the first embodiment. 同実施の形態1に係るICソケットの通常時の使用方法を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the normal usage method of the IC socket which concerns on the same Embodiment 1. FIG. 同実施の形態1に係るICソケットの断面図であって、(a)は非押圧時、(b)は押圧時を示す。It is sectional drawing of the IC socket which concerns on the same Embodiment 1, Comprising: (a) is the time of non-pressing, (b) shows the time of pressing. ICパッケージを示す図であって、(a)は側面図、(b)は底面図である。It is a figure which shows IC package, Comprising: (a) is a side view, (b) is a bottom view. 同実施の形態1に係るICソケットに異常な作動が発生した場合にコンタクトピンの上側接触部がどのような挙動を示すかを表す断面図である。It is sectional drawing showing what the upper side contact part of a contact pin shows when an abnormal operation | movement generate | occur | produces in the IC socket which concerns on the same Embodiment 1. FIG. この発明の実施の形態2に係るICソケットの座繰り部を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the countersink part of the IC socket which concerns on Embodiment 2 of this invention. 従来のICソケットに異常な作動が発生した場合にコンタクトピンの上側接触部がどのような挙動を示すかを表す断面図である。It is sectional drawing showing what the upper contact part of a contact pin shows when an abnormal operation | movement generate | occur | produces in the conventional IC socket.

以下、この発明の実施の形態について説明する。
[発明の実施の形態1]
図1乃至図10には、この発明の実施の形態1を示す。
Embodiments of the present invention will be described below.
Embodiment 1 of the Invention
1 to 10 show a first embodiment of the present invention.

まず、構成を説明すると、図中符号11は、「電気部品用ソケット」としてのICソケットで、このICソケット11は、「第1電気部品」としてのICパッケージ12(図9(a)、(b)参照)の性能試験を行うために、このICパッケージ12の半球状の半田ボール12bと、「第2電気部品」としての測定器(テスター)の配線基板10(図3参照)との電気的接続を図るものである。   First, the configuration will be described. Reference numeral 11 in the figure denotes an IC socket as an “electrical component socket”, and the IC socket 11 is an IC package 12 as a “first electric component” (FIGS. 9A and 9B). b))) to perform the performance test, the electrical connection between the hemispherical solder balls 12b of the IC package 12 and the wiring board 10 (see FIG. 3) of the measuring instrument (tester) as the “second electrical component” Connection.

ここでのICパッケージ12は、図9(a)、(b)に示すように、略正方形のパッケージ本体12aの底面に多数の半田ボール12bがマトリックス状に配列されたBGA(Ball Grid Array)タイプのものである。なお、半田ボール12bの代わりに、平面電極パッドを格子状に並べたLGA(Land Grid Array)タイプのICパッケージ(図示せず)であってもよい。   As shown in FIGS. 9A and 9B, the IC package 12 here is a BGA (Ball Grid Array) type in which a large number of solder balls 12b are arranged in a matrix on the bottom surface of a substantially square package body 12a. belongs to. Instead of the solder balls 12b, an LGA (Land Grid Array) type IC package (not shown) in which planar electrode pads are arranged in a grid may be used.

一方、ICソケット11は、図1乃至図5に示すように、配線基板10上に装着される合成樹脂製のソケット本体13を有している。このソケット本体13には、ICパッケージ12を押圧する一対の開閉体14、15が配設されていると共に、これらの開閉体14、15を開閉させるための四角枠形状の操作部材16が設けられている。   On the other hand, the IC socket 11 includes a synthetic resin socket body 13 mounted on the wiring board 10 as shown in FIGS. 1 to 5. The socket body 13 is provided with a pair of opening / closing bodies 14, 15 that press the IC package 12, and a rectangular frame-shaped operation member 16 for opening / closing the opening / closing bodies 14, 15. ing.

ソケット本体13において、四角形の枠形状の外枠18内には、コンタクトピンユニット19が配設されている。   In the socket body 13, a contact pin unit 19 is disposed in a rectangular frame-shaped outer frame 18.

このコンタクトピンユニット19は、図3乃至図5に示すように、複数の板状のコンタクトピン20が配設されたユニット本体21と、このユニット本体21の上側に上下動自在に配設されてICパッケージ12が収容されるフローティングプレート22と、フローティングプレート22を上方に付勢するコイルスプリング(図示せず)とを有している。   As shown in FIGS. 3 to 5, the contact pin unit 19 is provided with a unit main body 21 in which a plurality of plate-like contact pins 20 are arranged, and an upper side of the unit main body 21 so as to be movable up and down. It has a floating plate 22 in which the IC package 12 is accommodated, and a coil spring (not shown) that urges the floating plate 22 upward.

フローティングプレート22は、図5に示すように、コンタクトピン20が挿通される貫通孔22aが多数形成されると共に、図1乃至図3に示すように、ICパッケージ12の各角隅部をガイドするガイド部22bが形成されている。さらに、フローティングプレート22は、図2に示すように、ICパッケージ12の周縁部12cが収容される収容部22cを有している。   As shown in FIG. 5, the floating plate 22 has many through holes 22a through which the contact pins 20 are inserted, and guides each corner of the IC package 12 as shown in FIGS. A guide portion 22b is formed. Further, as shown in FIG. 2, the floating plate 22 has an accommodating portion 22 c in which the peripheral edge portion 12 c of the IC package 12 is accommodated.

開閉体14、15は、それぞれ、図1、図2に示すように、ソケット本体13にリンク機構30を介して開閉自在に設けられた押圧部材32を有している。また、開閉体15の上面には、ヒートシンク33が設けられている。そして、操作部材16が最下位に位置しているときは、開閉体14、15及びヒートシンク33が開いた状態となっており(図1(a)参照)、この状態から操作部材16を上昇させて最上位に位置決めすると、リンク機構30が作動して、開閉体14、15及びヒートシンク33が閉じた状態となる(図1(b)参照)。   As shown in FIGS. 1 and 2, each of the opening / closing bodies 14 and 15 has a pressing member 32 provided on the socket body 13 so as to be opened and closed via a link mechanism 30. A heat sink 33 is provided on the upper surface of the opening / closing body 15. When the operation member 16 is positioned at the lowest position, the opening / closing bodies 14 and 15 and the heat sink 33 are in an open state (see FIG. 1A), and the operation member 16 is raised from this state. Then, the link mechanism 30 is operated and the open / close bodies 14 and 15 and the heat sink 33 are closed (see FIG. 1B).

コンタクトピン20は、導電性に優れた金属板材(例えば、ベリリウム銅)をプレス加工して形成され、ベース部材17とフローティングプレート22とに跨って挿通されて狭ピッチで配設されている。コンタクトピン20は、図6に単体で示すように、直線状に形成された圧入部20aと、この圧入部20aの下端部の幅を狭めて形成された下側接触部20bと、圧入部20aよりも上方に延設されて、浅い円弧状に湾曲したばね部20cと、このばね部20cの上端から上方に延びる直線部20dと、コンタクトピン20の最上部に位置してICパッケージ12の半田ボール12bに接触する上側接触部20eとを有している。   The contact pins 20 are formed by pressing a metal plate material (for example, beryllium copper) excellent in conductivity, and are inserted across the base member 17 and the floating plate 22 and arranged at a narrow pitch. As shown in FIG. 6, the contact pin 20 includes a press-fit portion 20a formed in a straight line, a lower contact portion 20b formed by narrowing the width of the lower end portion of the press-fit portion 20a, and a press-fit portion 20a. The upper portion of the spring portion 20c and the upper portion of the contact pin 20 and the solder of the IC package 12. And an upper contact portion 20e that contacts the ball 12b.

圧入部20aの直上部には、水平横断面形状が浅いコの字形状の、やや幅広なストッパ片20fが形成されている。圧入部20aは、ベース部材17の圧入孔17a(図3、図4参照)に上方から圧入されている。すると、図3に示すように、下側接触部20bがベース部材17の底面よりも下方に突出し、この下側接触部20bが配線基板10上に設けられた接点(電極部)の貫通孔(図示せず)に挿通されて、配線基板10の下面側から半田付けされ、配線基板10の接点に電気的に導通されている。   Immediately above the press-fit portion 20a, a slightly wide stopper piece 20f having a U-shape with a shallow horizontal cross-sectional shape is formed. The press-fit portion 20a is press-fitted into the press-fit hole 17a (see FIGS. 3 and 4) of the base member 17 from above. Then, as shown in FIG. 3, the lower contact portion 20 b protrudes downward from the bottom surface of the base member 17, and the lower contact portion 20 b is a through hole (contact portion (electrode portion) provided on the wiring board 10 ( (Not shown), soldered from the lower surface side of the wiring board 10, and electrically connected to the contacts of the wiring board 10.

ばね部20cは、コンタクトピン20の上部寄りの区間を所定の弾性力が得られるように湾曲させたものであり、コンタクトピン20に軸方向への押圧力が加わった際に、湾曲半径が小さくなる状態に弾性変形し、コンタクトピン20の全長を短くすると同時に、コンタクトピン20を上方に伸ばそうとする反力を生じさせる。本実施形態において、多数のコンタクトピン20は、ばね部20cが全て同一方向を向くようにベース部材17に圧入されている。なお、この実施の形態1では、ばね部20cを湾曲形状としたが、他の形状であってもよい。   The spring portion 20c is a portion of the contact pin 20 that is curved so that a predetermined elastic force can be obtained. When the axial force is applied to the contact pin 20, the radius of curvature is small. In this state, the contact pin 20 is elastically deformed to shorten the entire length of the contact pin 20, and at the same time, a reaction force is generated to extend the contact pin 20 upward. In the present embodiment, the large number of contact pins 20 are press-fitted into the base member 17 so that the spring portions 20c all face the same direction. In the first embodiment, the spring portion 20c has a curved shape, but may have another shape.

上側接触部20eは、例えば、直線部20dの上端部をT字状に形成し、その横帯部分を丸めて冠状(略円筒状)に形成することによって得られる。そして、その円筒形状の上縁部には、1個の第1の接触突起20g及び複数個(ここでは、2個)の第2の接触突起20hが略環状に配置・形成されている。この実施の形態1では、第1、第2の接触突起20g、20hは、互いに等間隔に配置されている。   The upper contact portion 20e is obtained, for example, by forming the upper end portion of the straight portion 20d in a T shape and rounding the horizontal band portion to form a crown shape (substantially cylindrical shape). Then, on the upper edge portion of the cylindrical shape, one first contact protrusion 20g and a plurality of (here, two) second contact protrusions 20h are arranged and formed in a substantially annular shape. In the first embodiment, the first and second contact protrusions 20g and 20h are arranged at equal intervals.

そして、各上側接触部20eは、図5に示すように、フローティングプレート22の貫通孔22aに挿通されている。この貫通孔22aの上部には、所定の深さの座繰り部22hが形成されており、この座繰り部22hは、直径R1の大径部22dと、この大径部22dの直径R1より小さい直径R2の小径部22fとからなる段付き形状を呈している。   And each upper side contact part 20e is penetrated by the through-hole 22a of the floating plate 22, as shown in FIG. A countersink portion 22h having a predetermined depth is formed in the upper portion of the through hole 22a. The countersink portion 22h has a large diameter portion 22d having a diameter R1 and a diameter R1 smaller than the large diameter portion 22d. It has a stepped shape composed of a small diameter portion 22f having a diameter R2.

次に、かかるICソケット11の使用方法について説明する。   Next, how to use the IC socket 11 will be described.

予め、配線基板10上にICソケット11を配設し、コンタクトピン20の下側接触部20bを配線基板10に挿通する。そして、下側接触部20bを配線基板10の接点に半田付けしておく。   The IC socket 11 is disposed on the wiring board 10 in advance, and the lower contact portion 20 b of the contact pin 20 is inserted into the wiring board 10. Then, the lower contact portion 20b is soldered to the contact of the wiring board 10.

ICパッケージ12をICソケット11に収容するには、まず、操作部材16を図示省略のスプリングの付勢力に抗して最下位まで下降させて、開閉体14、15を開く。この状態では、図5に示すように、コイルスプリングの付勢力により、フローティングプレート22が最上位に位置決めされている。   In order to accommodate the IC package 12 in the IC socket 11, first, the operating member 16 is lowered to the lowest position against the biasing force of a spring (not shown), and the opening / closing bodies 14 and 15 are opened. In this state, as shown in FIG. 5, the floating plate 22 is positioned at the uppermost position by the biasing force of the coil spring.

続いて、図示省略の自動機でICパッケージ12を搬送してICソケット11上に着座させると、フローティングプレート22の収容部22cにICパッケージ12の周縁部が収容される。この収容時には、ICパッケージ12は、フローティングプレート22のガイド部22bにより所定の位置に案内される。その結果、ICパッケージ12の半田ボール12bは、コンタクトピン20の上側接触部20eの真上に位置する。   Subsequently, when the IC package 12 is conveyed and seated on the IC socket 11 by an automatic machine (not shown), the peripheral portion of the IC package 12 is accommodated in the accommodating portion 22c of the floating plate 22. At the time of accommodation, the IC package 12 is guided to a predetermined position by the guide portion 22 b of the floating plate 22. As a result, the solder ball 12 b of the IC package 12 is positioned directly above the upper contact portion 20 e of the contact pin 20.

次いで、操作部材16を上昇させて最上位に位置決めすることにより、開閉体14、15を閉じる。これにより、押圧部材32によって、ICパッケージ12が下方に押圧され、その結果、フローティングプレート22がコイルスプリングの付勢力に抗して下方に押し下げられる。   Next, the operating members 16 are raised and positioned at the uppermost position to close the open / close bodies 14 and 15. As a result, the IC package 12 is pressed downward by the pressing member 32, and as a result, the floating plate 22 is pressed downward against the urging force of the coil spring.

これにより、コンタクトピン20の上側接触部20eがICパッケージ12の半田ボール12bに当接する(図7及び図8(a)参照)。そして、フローティングプレート22がさらに押し下げられると、ばね部20cが弾性変形されて、付勢力が発生するようになる。この結果、コンタクトピン20の上側接触部20eが、ICパッケージ12の半田ボール12bに所定の接圧で押圧されるようになる(図8(b)参照)。   Thereby, the upper contact portion 20e of the contact pin 20 comes into contact with the solder ball 12b of the IC package 12 (see FIGS. 7 and 8A). When the floating plate 22 is further pushed down, the spring portion 20c is elastically deformed to generate a biasing force. As a result, the upper contact portion 20e of the contact pin 20 is pressed against the solder ball 12b of the IC package 12 with a predetermined contact pressure (see FIG. 8B).

この状態で、ICパッケージ12に電流を流してバーンイン試験等を行う。この際、ICパッケージ12で発生する熱は、このICパッケージ12に接触しているヒートシンク33から放熱される。   In this state, a current is passed through the IC package 12 to perform a burn-in test or the like. At this time, heat generated in the IC package 12 is radiated from the heat sink 33 in contact with the IC package 12.

ところで、このICソケット11においては、異常な作動が発生したことに起因して、ICパッケージ12が下降せずにフローティングプレート22のみが下降して、コンタクトピン20の上側接触部20eがフローティングプレート22の上面22eから上方へ突出した状態になる場合がある。この場合、図10に示すように、コンタクトピン20の上側接触部20eにICパッケージ12の半田ボール12bが当たって負荷がかかると、コンタクトピン20の上側接触部20eが横向きに倒れてしまう。   By the way, in this IC socket 11, due to the occurrence of an abnormal operation, only the floating plate 22 is lowered without the IC package 12 being lowered, and the upper contact portion 20 e of the contact pin 20 is moved to the floating plate 22. In some cases, the upper surface 22e protrudes upward. In this case, as shown in FIG. 10, when the solder ball 12 b of the IC package 12 hits the upper contact portion 20 e of the contact pin 20 and a load is applied, the upper contact portion 20 e of the contact pin 20 falls sideways.

このとき、フローティングプレート22の貫通孔22aには、上述したとおり、座繰り部22hが設けられているので、コンタクトピン20の上側接触部20eの傾斜を抑制し、その傾斜角θを例えば30°以内に抑えることができる。その結果、ICソケット11に異常な作動が発生した場合でも、コンタクトピン20の上側接触部20eの塑性変形や破損を防止することが可能となる。言い換えれば、この座繰り部22hは、コンタクトピン20の上側接触部20eに負荷がかかっても、この上側接触部20eに塑性変形や破損が生じない傾斜角θでとどまるように設計されている。   At this time, since the counterbore 22h is provided in the through hole 22a of the floating plate 22 as described above, the inclination of the upper contact portion 20e of the contact pin 20 is suppressed, and the inclination angle θ is set to 30 °, for example. Can be suppressed within. As a result, even when an abnormal operation occurs in the IC socket 11, it is possible to prevent plastic deformation and breakage of the upper contact portion 20e of the contact pin 20. In other words, the countersink portion 22h is designed to remain at an inclination angle θ that does not cause plastic deformation or breakage in the upper contact portion 20e even when a load is applied to the upper contact portion 20e of the contact pin 20.

しかも、この座繰り部22hは、上述したとおり、大径部22dと小径部22fとからなる段付き形状を呈しているので、コンタクトピン20の上側接触部20eが傾斜した場合に、図10に示すように、この上側接触部20eを各角部22gの2点でしっかり支持することができる。そのため、コンタクトピン20の上側接触部20eが大きく傾いて塑性変形等を引き起こすことを確実に抑制することが可能となる。
[発明の実施の形態2]
図11には、本発明の実施の形態2を示す。
Moreover, since the counterbored portion 22h has a stepped shape including the large diameter portion 22d and the small diameter portion 22f as described above, when the upper contact portion 20e of the contact pin 20 is inclined, FIG. As shown, the upper contact portion 20e can be firmly supported at two points of each corner portion 22g. Therefore, it is possible to reliably suppress the upper contact portion 20e of the contact pin 20 from being greatly inclined and causing plastic deformation or the like.
[Embodiment 2 of the Invention]
FIG. 11 shows a second embodiment of the present invention.

実施の形態2に係るICソケット11は、図11に示すように、フローティングプレート22の座繰り部22hが段付き形状ではなくテーパ形状(すり鉢状)を呈している点を除き、上述した実施の形態1と同様の構成を有している。   As shown in FIG. 11, the IC socket 11 according to the second embodiment has the above-described embodiment except that the countersink portion 22 h of the floating plate 22 has a tapered shape (conical shape) instead of a stepped shape. The configuration is the same as in the first mode.

したがって、この実施の形態2では、上述した実施の形態1と同じ作用効果を奏する。   Therefore, the second embodiment has the same effects as the first embodiment described above.

なお、上記実施の形態1では、段付き形状の座繰り部22hを有するフローティングプレート22について説明し、上記実施の形態2では、テーパ形状の座繰り部22hを有するフローティングプレート22について説明した。しかし、この座繰り部22hの形状については、フローティングプレート22のみが下降してコンタクトピン20の上側接触部20eがフローティングプレート22の上面22eから上方へ突出した状態でコンタクトピン20の上側接触部20eが傾斜した場合に、この上側接触部20eを支持して傾斜を抑制することができる限り、段付き形状やテーパ形状以外の形状であっても構わない。   In the first embodiment, the floating plate 22 having the stepped portion 22h is described, and in the second embodiment, the floating plate 22 having the tapered portion 22h is described. However, with respect to the shape of the countersunk portion 22h, only the floating plate 22 is lowered and the upper contact portion 20e of the contact pin 20 protrudes upward from the upper surface 22e of the floating plate 22 so that the upper contact portion 20e of the contact pin 20 protrudes upward. As long as the upper contact portion 20e is supported and the inclination can be suppressed, the shape may be other than the stepped shape or the tapered shape.

また、上記実施の形態1、2では、浅い円弧状に湾曲したばね部20cを有するコンタクトピン20について説明したが、ばね部20cは他の形状であってもよい。   Moreover, in the said Embodiment 1, 2, although the contact pin 20 which has the spring part 20c curved in shallow arc shape was demonstrated, the spring part 20c may be another shape.

また、上記実施の形態1、2では、1個の第1の接触突起20g及び複数個の第2の接触突起20hが略環状に配置・形成されたコンタクトピン20について説明したが、これ以外のタイプのコンタクトピン20にもこの発明を同様に適用することができる。   In the first and second embodiments, the contact pin 20 in which one first contact protrusion 20g and a plurality of second contact protrusions 20h are arranged and formed in a substantially annular shape has been described. The present invention can be similarly applied to the type of contact pin 20.

また、上記実施の形態1、2では、ICパッケージ12を押圧する開閉体14、15を有するICソケット11について説明したが、この開閉体14、15が自動機側に設けられたもの等にもこの発明を同様に適用することができる。   In the first and second embodiments, the IC socket 11 having the opening / closing bodies 14 and 15 for pressing the IC package 12 has been described. However, the opening / closing bodies 14 and 15 are also provided on the automatic machine side. The present invention can be similarly applied.

さらに、上記実施の形態1、2では、「電気部品用ソケット」としてICソケット11にこの発明を適用したが、これに限らず、他の装置にも適用できることは勿論である。   In the first and second embodiments, the present invention is applied to the IC socket 11 as the “electrical component socket”. However, the present invention is not limited to this and can be applied to other devices.

10 配線基板(第2電気部品)
11 ICソケット(電気部品用ソケット)
12 ICパッケージ(第1電気部品)
12b 半田ボール
13 ソケット本体
20 コンタクトピン
20b 下側接触部
20c ばね部
20e 上側接触部
21 ユニット本体
22 フローティングプレート
22a 貫通孔
22d 大径部
22e 上面
22f 小径部
22h 座繰り部
10 Wiring board (second electrical component)
11 IC socket (socket for electrical parts)
12 IC package (first electrical component)
12b Solder ball
13 Socket body
20 Contact pin
20b Lower contact part
20c Spring part
20e Upper contact part
21 Unit body
22 Floating plate
22a Through hole
22d Large diameter part
22e top view
22f Small diameter part
22h Countersink

Claims (3)

第1電気部品が収容されると共に、第2電気部品上に配設されるソケット本体を有し、該ソケット本体に上下方向に配設されたコンタクトピンを介して前記第1電気部品と前記第2電気部品とが互いに電気的に接続される電気部品用ソケットであって、
前記ソケット本体は、前記第2電気部品上に配設されるユニット本体と、前記第1電気部品が収容され、前記ユニット本体の上方に上下動自在に支持されたフローティングプレートとを備え、
前記コンタクトピンは、前記第1電気部品に電気的に導通する上側接触部と、前記第2電気部品に電気的に導通する下側接触部とを有し、
前記フローティングプレートには、前記コンタクトピンの前記上側接触部が上下方向に挿通される貫通孔が形成され、
前記貫通孔の上部には、前記フローティングプレートのみが下降して前記コンタクトピンの前記上側接触部が前記フローティングプレートの上面から上方へ突出した状態で前記コンタクトピンの前記上側接触部が傾斜した場合に、当該上側接触部を支持して傾斜を抑制する座繰り部が設けられており、
前記座繰り部は、大径部と小径部とからなる段付き形状を呈しており、
傾斜した前記上側接触部を、前記大径部と前記小径部の各角部で支持することで、前記上側接触部の所定角度以上の傾斜を抑制するように構成されていることを特徴とする電気部品用ソケット。
The first electrical component is housed and has a socket body disposed on the second electrical component, and the first electrical component and the first are disposed through contact pins disposed in the socket body in the vertical direction. 2 electrical component sockets that are electrically connected to each other,
The socket body includes a unit body disposed on the second electrical component, and a floating plate in which the first electrical component is accommodated and supported above and below the unit body so as to be movable up and down.
The contact pin has an upper contact portion that is electrically connected to the first electrical component, and a lower contact portion that is electrically connected to the second electrical component,
The floating plate is formed with a through hole through which the upper contact portion of the contact pin is inserted in the vertical direction.
When the upper contact portion of the contact pin is inclined in a state where only the floating plate is lowered and the upper contact portion of the contact pin protrudes upward from the upper surface of the floating plate at the upper portion of the through hole. , and inhibits spot facing portion inclined to support the upper contact portion is provided,
The counterbore part has a stepped shape consisting of a large diameter part and a small diameter part,
The inclined upper contact portion is supported by the corner portions of the large diameter portion and the small diameter portion, so that the inclination of the upper contact portion by a predetermined angle or more is suppressed. Socket for electrical parts.
第1電気部品が収容されると共に、第2電気部品上に配設されるソケット本体を有し、該ソケット本体に上下方向に配設されたコンタクトピンを介して前記第1電気部品と前記第2電気部品とが互いに電気的に接続される電気部品用ソケットであって、
前記ソケット本体は、前記第2電気部品上に配設されるユニット本体と、前記第1電気部品が収容され、前記ユニット本体の上方に上下動自在に支持されたフローティングプレートとを備え、
前記コンタクトピンは、前記第1電気部品に電気的に導通する上側接触部と、前記第2電気部品に電気的に導通する下側接触部とを有し、
前記フローティングプレートには、前記コンタクトピンの前記上側接触部が上下方向に挿通される貫通孔が形成され、
前記貫通孔の上部には、前記フローティングプレートのみが下降して前記コンタクトピンの前記上側接触部が前記フローティングプレートの上面から上方へ突出した状態で前記コンタクトピンの前記上側接触部が傾斜した場合に、当該上側接触部を支持して傾斜を抑制する座繰り部が設けられており、
前記座繰り部は、すり鉢状のテーパ形状を呈しており、
傾斜した前記上側接触部を、テーパ形状の前記座繰り部のテーパ面で支持することで、前記上側接触部の所定角度以上の傾斜を抑制するように構成されていることを特徴とする電気部品用ソケット。
The first electrical component is housed and has a socket body disposed on the second electrical component, and the first electrical component and the first are disposed through contact pins disposed in the socket body in the vertical direction. 2 electrical component sockets that are electrically connected to each other,
The socket body includes a unit body disposed on the second electrical component, and a floating plate in which the first electrical component is accommodated and supported above and below the unit body so as to be movable up and down.
The contact pin has an upper contact portion that is electrically connected to the first electrical component, and a lower contact portion that is electrically connected to the second electrical component,
The floating plate is formed with a through hole through which the upper contact portion of the contact pin is inserted in the vertical direction.
When the upper contact portion of the contact pin is inclined in a state where only the floating plate is lowered and the upper contact portion of the contact pin protrudes upward from the upper surface of the floating plate at the upper portion of the through hole. , A countersink portion that supports the upper contact portion and suppresses inclination is provided
The counterbore part has a mortar-shaped taper shape,
The tilted upper contact portion is supported by a tapered surface of the tapered counterbored portion, thereby suppressing an inclination of the upper contact portion by a predetermined angle or more. Socket.
前記コンタクトピンは、1枚の板材から形成されており、前記下側接触部と、前記板材を折り曲げて略筒状に形成した前記上側接触部と、その間に設けられた板状のばね部を有し、該ばね部が弾性変形することによって上下方向の付勢力を発生するように構成されており、
傾斜した前記上側接触部の側面が、前記座繰り部に当接して支持されるように構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の電気部品用ソケット。
The contact pin is formed from a single plate material, and the lower contact portion, and the upper contact portion formed in a substantially tubular shape by bending the plate material, plate-like spring portion provided between the And is configured to generate an urging force in the vertical direction by elastically deforming the spring part ,
3. The electrical component socket according to claim 1 , wherein a side surface of the inclined upper contact portion is configured to be in contact with and supported by the countersink portion . 4.
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