JP6184113B2 - 光断層撮像装置およびその制御方法 - Google Patents
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Description
測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記前眼部における撮影部位を選択する選択手段と、
前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、を有する。
以下、本実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について、図面を用いて説明する。
まず、本実施形形態における光断層撮像装置の概略構成について図1を用いて説明する。図1は、光断層撮像装置の側面図である。200は光断層撮像装置、900は前眼部の2次元像および断層画像を撮像するための測定光学系である光学ヘッド、950は光学ヘッドを図中xyz方向に不図示のモータを用いて移動可能とした移動部であるステージ部である。951は後述の分光器を内蔵するベース部である。なお、光学ヘッド900は、測定光の光路を含む光学部の一例であり、測定光学系の筺体である。また、ステージ部950は、被検査物に対して移動する光学部移動機構の一例である。
本実施形態の測定光学系および分光器の構成について図2を用いて説明する。
光断層撮像装置を用いた断層画像の取得方法について説明する。光断層撮像装置は、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を制御することで、被検眼100の前眼部100−1における所望部位の断層画像を取得することができる。
次に、本実施形態に係る測定操作画面について、図5と図6を用いて説明する。ここで、図5は、本実施形態に係る測定操作画面1000の一例を示した図である。また、図6は、本実施形態に係る測定操作画面1000の他の例を示した図である。
次に、本実施形態に係るOCT装置を用いて前眼部の断層画像を取得するフローについて、図7を用いて説明する。ここで、図7は、本実施形態に係る測定フローを示した図であり、検者及びパソコン925の動作を示すフローチャートである。
第2の実施形態について、図9を用いて説明する。なお、図9は、本実施形態に係る測定操作画面の一例を示した図である。第1の実施形態では撮像範囲の設定をスライダ等の設定で行っていたが、本実施形態では、撮影部位の選択により、撮像範囲の大きさを指示することができる。
次に、第3の実施形態に係る光断層画像撮像装置(OCT装置)を用いた眼底部撮像について、図10を用いて説明する。なお、図10は、第3の実施形態に係る装置全体について示した図である。図10は、図2に対して、反射ミラー102をダイクロイックミラーに置き換え、アライメント光学系(前眼部観察系)の光路L3を設けている。光路L3上には、レンズ109、スプリットプリズム110、レンズ111、CCD112が存在している。また、図10は、前眼部測定用の対物レンズ101−1を取り外した状態であり、これら以外の装置構成については、図2と同様である。なお、対物レンズ101−1は、対物レンズ101−2の被検眼側に着脱可能なアダプタによって構成されても良い。また、対物レンズ101−1は、光路に対して挿脱可能に構成されても良い。この場合には、不図示の撮影モード選択手段により、前眼部撮影モードが選択された場合には、対物レンズ101−1を光路に挿入し、眼底部撮影モードが選択された場合には、対物レンズ101−1を光路から離脱するように構成されることが考えられる。
光断層画像撮像装置を用いた断層画像の撮像方法について説明する。光断層画像撮像装置はXスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を制御することで、被検眼100の眼底部100−2における所望部位の断層画像を撮像することができる。
次に、本実施形態に係る測定画面について、図14(a)を用いて説明する。なお、図14(a)は、眼底部撮像時の測定画面2000を表しており、基本的な構成は、図5と同じであるが、断層画像表示画面1301には、前眼部断層像の代わりに眼底断層像が表示される。また、前眼観察画面1101には、CCD105によって得られた観察像が表示されていたが、本実施形態では、CCD112によって得られた前眼部の観察像が表示される。また、本実施形態では、CCD105によって眼底の観察像が得られ、これは、眼底観察画面1401に表示される。なお、眼底観察画面1401には、眼底観察用にXスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を制御し、測定光を眼底上でスキャンし得られた擬似SLO画像を表示させても良く、この場合、図10における光路L2を設けなくても良い。
次に、本実施形態に係るOCT装置を用いた断層像の取得方法、および処理方法に関して図15を用いて説明する。図15は、検者及びパソコン925の動作を示すフローチャートである。
なお、本実施形態では、図14(a)のように、撮像範囲の大きさの指示をスライダにより行っていたが、第2の実施形態と同様に、撮影部位の選択により撮像範囲の大きさを指示しても良い。図14(b)はその一例である。撮影部位選択ボタン1406では、黄斑と乳頭が選択可能となっている。ここで、黄斑が選択された場合には、撮影距離は、広範囲で撮像するために、撮影距離を標準距離P0よりも長くして(被検眼よりも遠くして)、撮像しても良いし、標準距離P0で撮像しても良い。また、乳頭が選択させた場合には、拡大して詳細に撮像するために、撮影距離を標準距離P0よりも短くする(被検眼よりも近づける)。図14(a)との撮影動作の違いは、ステップS207でスライダ1103で撮像範囲を設定していたところを撮影部位選択ボタン1406で選択する部分であり、その他の動作は、図14(a)と同様である。
また、本実施形態は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (15)
- 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記前眼部における撮影部位を選択する選択手段と、
前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記測定光光路長変更手段は、前記測定光の光路を含む光学部を前記前眼部に対して移動する光学部移動機構を有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記光学部移動機構を制御することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。 - 前記参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段を更に有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記参照光光路長変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 前記前眼部に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿って移動する移動手段を更に有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記移動手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記撮影部位の選択の指示を入力するための表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
前記選択手段が、前記表示形態に対して前記選択の指示を入力することにより前記撮影部位を選択することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記制御手段が、前記前眼部の角膜部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記前眼部の隅角部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 前記測定光の光路に設けられる対物レンズを更に有し、
前記測定光光路長変更手段は、前記対物レンズと前記前眼部との距離を変更することにより、前記測定光の光路長を変更することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記前眼部における撮影部位を選択する工程と、
前記選択された撮影部位に応じて前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 前記測定光光路長変更手段は、前記測定光の光路を含む光学部を前記前眼部に対して移動する光学部移動機構を有し、
前記制御する工程において、前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記光学部移動機構を制御することを特徴とする請求項8に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段とを連動させて制御する工程を更に有することを特徴とする請求項8または9に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記前眼部に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿って移動する移動手段とを連動させて制御する工程を更に有することを特徴とする請求項8乃至10の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記撮影部位の選択の指示を入力するための表示形態を表示手段に表示させる工程を更に有し、
前記選択する工程において、前記表示形態に対して前記選択の指示を入力することにより前記撮影部位を選択することを特徴とする請求項8乃至11の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。 - 前記制御する工程において、前記前眼部の角膜部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を長くするように、前記前眼部の隅角部が前記撮影部位として選択された場合には前記測定光の光路長を短くするように、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とする請求項8乃至12の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 前記測定光光路長変更手段は、前記測定光の光路に設けられる対物レンズと前記前眼部との距離を変更することにより、前記測定光の光路長を変更することを特徴とする請求項8乃至13の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 請求項8乃至14の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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