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JP6300443B2 - 光断層撮像装置およびその制御方法 - Google Patents

光断層撮像装置およびその制御方法 Download PDF

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Description

本発明は、光断層撮像装置およびその制御方法に関する。例えば、眼科診療等に用いられる光断層撮像装置およびその制御方法に関する。
近年、光を用いて被測定物体の表面や内部の画像を形成する光画像計測技術が注目を集めている。光画像計測技術は、従来からのX線CTのような人体への侵襲性を持たないことから、特に医療分野において応用の展開が期待されている。なかでも、眼科分野における応用は進展が著しい。
光画像計測技術の代表的な手法として、光コヒーレンストモグラフィ(光干渉断層画像化法:OCT)と呼ばれる手法がある。この手法によれば、干渉計を用いているために、高分解能で高感度の計測が可能となる。また、広帯域の微弱な光を照明光として用いることから、被検体に対する安全性が高いという利点もある。
光干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ(OCT:Optical Coherence Tomography :以下、これをOCT装置と記す。)による光断層撮像装置は、試料の断層像を高解像度に得ることができる装置であり、特に被検眼の前眼部の画像を形成する前眼部光断層撮像装置に関する。
上記OCT装置によると、低コヒーレント光である測定光を、サンプルに照射し、そのサンプルからの後方散乱光を、干渉系または干渉光学系を用いることで高感度に測定することができる。また、OCT装置は該測定光を、該サンプル上にスキャンすることで、高解像度の断層像を得ることができる。そのため、被検眼の前眼部における角膜部位の断層像が取得され、眼科診断等において利用されている。
ここで、前眼部断層像と眼底断層像の双方を撮像可能にした光断層撮像装置が、特許文献1に開示されている。これは、前眼部撮影モードと眼底撮影モードとに応じて、干渉光学系内部の参照ミラーを、撮影モードに対応する位置に移動させている。
特開2011−147612号公報
ここで、被検眼等の被検査物の断層画像の撮像範囲の大きさを変更することを考える。このとき、被検査物に対して装置本体を光軸方向に移動すること等によって、測定光の光路長を変更する手法が考えられる。この手法では、ユーザは、測定光の光路長をどの程度変更すれば、意図した大きさで断層画像を取得できるのか、容易には分からない。
本発明は、上記課題に鑑み、ユーザが、被検査物の断層画像の撮像範囲の大きさを指示すれば、意図した大きさの断層画像を容易に取得できる光断層撮像装置およびその制御方法の提供を目的とする。
本発明に係る光断層撮像装置の一つは、
測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記前眼部を撮像する撮像手段の出力に基づいて、前記前眼部の深さ方向において前記前眼部と前記測定光の光路を含む光学部との位置ずれ情報を検出する検出手段と、
前記指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、を有する。
また、本発明に係る光断層撮像装置の一つは、
測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記測定光光路長変更手段の制御に対して前記固視灯表示変更手段を連動させて制御する制御手段と、を有する。
本発明によれば、断層画像の撮像範囲の大きさを指示すれば、該指示に応じて測定光の光路長を変更することができる。これにより、ユーザは、被検査物の断層画像の撮像範囲の大きさを指示すれば、意図した大きさの断層画像を容易に取得できる。
第1の実施形態に係る装置全体について示した図である。 第1の実施形態に係る測定光学系構成を示した図である。 第1の実施形態に係る被検眼の前眼部をx方向にスキャンしている様子を示した説明図である。 第1の実施形態に係る前眼部撮像位置でのスキャン範囲と、該スキャン範囲に応じて得られる画像とを示した説明図である。 第1の実施形態に係る測定操作画面の一例を示した図である。 第1の実施形態に係る測定操作画面の他の例を示した図である。 第1の実施形態に係る測定フローを示した図である。 第1の実施形態に係る前眼部の断層画像の表示例と、当該画像を補正して表示した例とを示す図である。 第2の実施形態に係る装置全体について示した図である。 第4の実施形態に係るポリゴンミラーを示した図である。 第5の実施形態に係る各パラメータを示した図である。
以下、本発明の一実施形態について説明する。
[第1の実施形態]
以下、本実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について説明する。
(装置の概略構成)
本実施形形態における光断層撮像装置の概略構成について図1を用いて説明する。
図1は、光断層撮像装置の側面図である。200は光断層撮像装置、900は前眼部の2次元像および断層画像を撮像するための測定光学系である光学ヘッド、950は光学ヘッドを図中xyz方向に不図示のモータを用いて移動可能とした移動部であるステージ部である。951は後述の分光器を内蔵するベース部である。なお、光学ヘッド900は、測定光の光路を含む光学部の一例であり、測定光学系の筺体である。また、ステージ部950は、被検査物に対して移動する光学部移動機構の一例である。
925はステージ部の制御部を兼ねるパソコンであり、ステージ部の制御とともに断層画像の構成等を行う。926は被検者情報記憶部を兼ね、断層撮像用のプログラムなどを記憶するハードディスクである。928は表示部であるモニタであり、929はパソコンへの指示を行う入力部であり、具体的にはキーボードとマウスから構成される。323は顎台であり、被検者の顎と額とを固定することで、被検者の眼(被検眼)の固定を促す。324は外部固視灯であり、被検者の眼を固視させるのに使用する。後述する内部固視灯と切り替えての使用が可能となっている。
(測定光学系および分光器の構成)
本実施形態の測定光学系および分光器の構成について図2を用いて説明する。
まず、光学ヘッド900部の内部について説明する。被検眼100に対向して対物レンズ101−1、101−2が設置され、その光軸上で反射ミラー102およびダイクロイックミラー103によってOCT光学系の光路L1、前眼部観察と内部固視灯用の光路L2とに波長帯域ごとに分岐される。
光路L2はさらに第3ダイクロイックミラー104によって前眼部観察用のCCD105および内部固視灯106への光路へと上記と同じく波長帯域ごとに分岐される。ここで101−3,107,108はレンズであり、107は固視灯および前眼部観察用の合焦調整のため不図示のモータによって駆動される。CCD105は不図示の前眼部観察用照明光の波長、具体的には780nm付近に感度を持つものである。一方、内部固視灯106は可視光を発生して被検者の固視を促すものである。
光路L1は前述の通りOCT光学系を成しており被検眼100の前眼部100−1の断層画像を撮像するためのものである。より具体的には断層画像を形成するための干渉信号を得るものである。光路L1には、レンズ101−4、ミラー113、光を被検眼100の前眼部100−1上で走査するためのXスキャナ114−1、Yスキャナ114−2が配置されている。さらに、115,116はレンズであり、そのうちのレンズ115は、光カプラー117に接続されているファイバー117−2から出射する光源118からの光を前眼部100−1上に合焦調整をするために不図示のモータによって駆動される。この合焦調整によって前眼部100−1からの光は同時にファイバー117−2先端にスポット状に結像されて入射されることとなる。なお、レンズ115は、OCTフォーカスレンズとも呼び、合焦レンズの一例である。
次に、光源118からの光路と参照光学系、分光器の構成について説明する。
118は光源、119はミラー、120は分散補償用ガラス、117は前述した光カプラー、117−1〜4は光カプラーに接続されて一体化しているシングルモードの光ファイバー、121はレンズ、180は分光器である。
これらの構成によってマイケルソン干渉計を構成している。光源118から出射された光は光ファイバー117−1を通じ光カプラー117を介して光ファイバー117−2側の測定光と光ファイバー117−3参照光とに分割される。測定光は前述のOCT光学系光路を通じ、観察対象である被検眼100の眼底に照射され、網膜による反射や散乱により同じ光路を通じて光カプラー117に到達する。
一方、参照光は光ファイバー117−3、レンズ121、測定光と参照光の分散を合わせるために挿入された分散補償ガラス120を介して参照ミラー119に到達し反射される。そして同じ光路を戻り光カプラー117に到達する。光カプラー117によって、測定光と参照光は合波され干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長とが所定の条件を満たす状態となったときに干渉を生じる。参照ミラー119は不図示のモータおよび駆動機構によって光軸方向に調整可能に保持され、前眼部100−1によって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。干渉光は光ファイバー117−4を介して分光器180に導かれる。
分光器180はレンズ181、183、回折格子182、ラインセンサ184から構成される。光ファイバー117−4から出射された干渉光はレンズ181を介して略平行光となった後、回折格子182で分光され、レンズ183によってラインセンサ184に結像される。なお、当該ラインセンサ184は、本実施形態において干渉光を受光して該干渉光に応じた出力信号を発生、出力する受光素子の一例として示される。
次に、光源118の周辺について説明する。光源118は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Luminescent Diode)である。中心波長は855nm、波長バンド幅は約100nmである。ここで、バンド幅は、得られる断層画像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメータである。また、光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。中心波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。また、中心波長は得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましい。双方の理由から中心波長を855nmとした。
本実施形態では干渉計としてマイケルソン干渉計を用いたが、マッハツェンダー干渉計を用いてもよい。測定光と参照光との光量差に応じて光量差が大きい場合にはマッハツェンダー干渉計を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉計を用いることが望ましい。
(断層画像の取得方法)
光断層撮像装置を用いた断層画像の取得方法について説明する。光断層撮像装置は、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を制御することで、被検眼100の前眼部100−1における所望部位の断層画像を取得することができる。
図3は、被検眼100に測定光201を照射し、前眼部100−1をx方向にスキャンを行っている様子を示している。前眼部100−1におけるx方向の撮像範囲から所定の撮像本数の情報をラインセンサ184で撮像する。x方向のある位置で得られるラインセンサ184上の輝度分布を高速フーリエ変換(FFT)し、該FFTで得られた線状の輝度分布をモニタに示すために濃度あるいはカラー情報に変換したものをAスキャン画像と呼ぶ。即ち、受光素子たるラインセンサ184において受光された干渉光により得られた出力信号に応じて、Aスキャン画像としての画像取得が為される。この複数のAスキャン画像を並べた2次元の画像をBスキャン画像と呼ぶ。1つのBスキャン画像を構築するための複数のAスキャン画像を取得した後、y方向のスキャン位置を移動させて再びx方向のスキャンを行うことにより、複数のBスキャン画像を得る。複数のBスキャン画像、あるいは複数のBスキャン画像から構築した3次元断層画像をモニタに表示することで検者が被検眼の診断に用いることができる。
ここで、前眼部の断層画像を得る際の撮像範囲である画角は、後述する図4に示されるx方向のスキャン範囲Roに応じて通常は決定される。またこのスキャン範囲R0は、スキャナのスキャン角度θと対物レンズ101−1から被検眼前眼部までの撮影距離P0と、により決定される。即ち、撮像領域の大きさを変えたい場合には、スキャン角度θ或いは撮影距離P0を変更するが、撮影距離P0の変更は光学ヘッド900をZ軸方向に移動する等、測定光の光路長を変更することにより容易に実行できる。このため、本実施形態では光学ヘッド900を測定光の光路長を変更することにより撮影距離P0を変更することとし、これら構成を測定光光路長変更手段として定義する。なお、測定光の光路長を変更する構成は例示した本実施形態以外にも存在するが、本実施形態では測定光路長変更手段としてこれらを包括する概念として定義する。
測定光と参照光とを合波させて所望の干渉を得るためには、前述したようにこれら測定光の光路長と参照光の光路長とが所定の条件を満たすように連動することを要する。従って、撮影距離P0となる前眼部位置での測定光の光路長に応じて、参照光の光路長を変更するように参照ミラー119の移動が行われる。
当該参照ミラー119及びこれを移動させる構成は、本実施形態における参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段の一例として示される。また、先にも述べたように、合波光より干渉を得るために、参照光の光路長は測定光の光路長に応じて変更されることを要する。本実施形態においては、一例としてパソコン925において制御手段(「光路長連動手段」ともいう)として機能するモジュール領域により、測定光光路長変更手段による測定光の光路長の変更に連動させて、参照光光路長変更手段に参照光の光路長の変更を実行させることとしている。
図4は、撮影距離P0を変化させた時の前眼部撮像位置でのスキャン範囲を示した図と、その際の画角内に表示される断層画像を各々対応させて示している。撮影距離P0を変化させ且つこの変化に応じて参照ミラー119を移動させることにより、スキャン角度θを変えることなく前眼部の撮像範囲の大きさを変える事ができる。図4(b)のように被検眼と装置の距離を遠ざけるように撮影距離をPmaxまで変更し、且つ参照ミラー119を当該撮影距離Pmax相当位置まで移動することにより、前眼部を広いスキャン範囲Rmax(画角)で撮像できる。また、図4(c)のように被検眼と装置の距離を近づけるように撮影距離をPminまで変更し、且つ参照ミラー119を当該撮影距離Pmin相当位置まで移動することで、前眼部を拡大するようなスキャン範囲Rminで撮像できる。
(測定操作画面)
次に、本実施形態に係る測定操作画面について、図5と図6を用いて説明する。ここで、図5は、本実施形態に係る測定操作画面1000の一例を示した図である。また、図6は、本実施形態に係る測定操作画面1000の他の例を示した図である。
まず、1101は前眼観察用CCD105によって得られた前眼観察画面、1301は取得された断層画像を確認するための断層画像表示画面である。また、1001は被検眼の左右眼を切り替えるボタンであり、L、Rボタンを押すことにより、左右眼の初期位置に光学ヘッド900を移動する。1002はマウスカーソルであり、検者が入力部929に含まれるマウスを操作することによりこのマウスカーソル位置を動かす。本測定装置において、マウスカーソルの位置検出手段により、マウスカーソルの位置に応じてアライメント手段が変更できるように構成されている。マウスカーソルの位置検出手段は、マウスカーソルの表示画面上の画素位置からその位置を算出する。測定画面中には範囲を設けておき、設けた範囲とアライメント駆動の対応づけを予め設定しておく。それにより、設定した範囲の画素内にマウスカーソルがあるときには、その設定した範囲で定めたアライメントを行うことができる。またマウスによるアライメント操作は、マウスのホイールを回転させることにより行う。
また、それぞれの画像の近傍に配置されているスライダは、調整を行うためのものである。スライダ1103は被検眼に対する撮影距離を指定するものでスライダを動かすのと連動して前眼観察画面内のキャラクタ1003の大きさが変わるようになっている。更に、キャラクタ1003の大きさは、前眼部の撮像範囲(画角)の大きさの変更と連動しており、前眼部観察用フォーカスレンズ107を所定位置へ移動する。当該フォーカスレンズ107は、本実施形態において前眼部に対する焦点合わせを実行するフォーカスレンズを含む前眼部観察手段の一例として示される。スライダ上限が前述した前眼部撮像範囲Rmaxに、スライダ下限が前眼部撮像範囲Rminに各々対応している。スライダ1203はOCTフォーカス調整を行うものである。OCTフォーカス調整は、前眼部に対する合焦調整を行うために、レンズ115を図示の方向に移動する調整である。また、これらのスライダは、それぞれの画像中においてマウスによるアライメント操作の際にも連動して動くようになっている。即ち、スライダ1203によるOCTフォーカス調整とは独立或いは連動し、更にパソコン925における制御手段(「合焦連動手段」ともいう)は、測定光光路長変更手段による測定光の光路長の変更に連動させて、前眼部に対する焦点合わせをOCTフォーカスレンズ115に実行させる。なお、前眼部観察手段による前眼部に対する合焦操作は、撮影距離の変更を伴う測定光の光路長の変更に応じて為されることを要する。本実施形態では、前述した制御手段(「前眼部用合焦連動手段」ともいう)が、測定光光路長変更手段による測定光の光路長の変更に連動させて、前眼部観察手段による前眼部に対する焦点合わせを実行させることとしている。
また、図6は、図5に対して、スライダ1103を撮像範囲選択ボタン1004に置き換えたものである。このとき、標準(R0=6mm×6mm)、最大(Rmax=9mm×9mm)、最小(Rmin=3mm×3mm)が、各々設定されている。このとき、検者による撮像範囲選択ボタン1004のいずれかの選択に応じて、断層画像の撮像範囲の大きさを変更することができる。なお、前眼部画像1102が取得されていない状態で、検者が上記選択を行っても、上記撮像範囲の大きさを変更することができる。
(前眼部の断層画像を取得するフロー)
次に、本実施形態に係るOCT装置を用いて前眼部の断層画像を取得するフローについて、図7を用いて説明する。ここで、図7は、本実施形態に係る測定フローを示した図であり、検者及びパソコン925の動作を示すフローチャートである。
まず、ステップS101において、パソコン925は、本フローを開始する。次に、ステップS102において、パソコン925による指示に応じて、前眼部画像1102を取得する。このとき、不図示の前眼部照明光は、被検眼100を照明した後、反射光は対物レンズ101−1、101−2を通過し、前述した光路L2を通過して、CCD105に結像される。CCD105に結像された前眼部画像は、図示しないCCD制御部で読み出し、増幅、A/D変換されて、演算部に入力される。演算部に入力された前眼像は、パソコン925に取り込まれる。
また、ステップS103において、検者は、パソコン925への指示を行う入力部929を用いて、所望の撮像範囲の大きさに変更する指示をスライダ1103に行う。このとき、スライダ1103のバーは画面上で移動する。この検者による指示に応じて、制御手段の一例であるパソコン925は、変更された大きさに対応する距離となるように、光学ヘッド900を光軸方向に移動する。また、ステップS104において、制御手段の一例であるパソコン925は、光学ヘッド900の移動に応じて、該測定光の光路長が変更した距離に対応する位置に参照ミラー119を移動する制御を行う。これにより、前眼部断層画像1301が撮影フレーム内に配置されるように、コヒーレンスゲートが調整される。なお、参照ミラー119の移動と一緒に、前眼部フォーカスレンズ107を移動しても良い。また、撮影範囲の大きさの変更の指示に応じて、光学ヘッド900の移動および参照ミラー119の移動を連動して実行するが、このとき、合焦位置を変更するためにOCTフォーカスレンズ115の移動を連動して実行しても良い。また、参照ミラー119の移動を連動させる代わりに、OCTフォーカスレンズ115の移動を連動させても良い。このとき、後述するステップ106を省略することができる。また、各部材を同時に移動しても良いし、各部材の移動タイミングに時間差があっても良い。
また、ステップS105において、検者の指示に応じて、制御手段の一例であるパソコン925は、前眼部に対して光学ヘッド900を移動して、前眼部に対する光学ヘッド900の位置合わせ(アライメント)を行う。なお、光学ヘッド900に対して被検者の顔受け部等を移動することにより、上記位置合わせを行っても良い。また、検者の手動による操作以外に、光学ヘッド900が自動で移動しても良い。具体的には、CCD105により撮像された前眼画像から画像処理により被検眼100の瞳孔位置を検出する。これにより、該検出された瞳孔位置に基づいて光断層撮像装置と被検眼100とのアライメント位置関係を知ることができる。そして、検出した被検眼100の瞳孔位置が理想位置となるように、光学ヘッド900を不図示のXYZステージを駆動することができる。また、このとき、断層画像撮影中に前眼部をトラッキングすることで、検者は常に被検眼100の前眼部を監視できるため、利便性を向上することができる。
また、ステップ106において、検者は、入力部929を用いて、前眼部断層画像1301の合焦位置を変更する指示をスライダ1203に行う。このとき、スライダ1203のバーは画面上で移動する。この検者による指示に応じて、制御手段の一例であるパソコン925は、OCTフォーカスレンズ115が移動する制御を行う。これにより、OCTフォーカスを調整することができる。また、ステップ107において、検者は、入力部929を用いて、撮像ボタン1005を押す。この検者による指示に応じて、制御手段の一例であるパソコン925は、前眼部の断層画像を取得する制御を行う。また、ステップ108において、表示制御手段の一例であるパソコン925は、前眼部の断層画像をモニタ928に表示させる。なお、ステップ108において、パソコン925は、前眼部の断層画像を補正し、該補正された画像をモニタ928に表示させても良い。そして、ステップ109において、本フローを終了する。
ここで、ステップ108において取得された断層画像は、例えば、標準とした撮影距離P0の場合に得られる断層画像に対し、同一広さ画面内においてより広範囲な部位の画像、或いは狭い範囲の部位の画像となっている場合がある。後述するように、当該補正は、撮像されたこれらの画像における部位が撮影距離P0で得られる部位と同じ大きさで表示されるように、表示範囲(画角)を拡大或いは縮小する操作となる。以上の操作はパソコン925において画像の表示様式を補正、変更する画像補正手段として機能するモジュール領域により実行される。また、表示手段上において撮影範囲の大きさの変更を指示するためのカーソル等の表示或いはその表示形態は、制御手段に包含される表示制御手段として機能するモジュール領域により実行される。
実際には、前眼部断層像は、標準距離より撮影距離が遠ければ断層深さが変化せずに左右方向のみ狭くなり、標準距離より撮影距離がければ左右方向のみ広くなる。図8は、前眼部断層像の表示画像を補正した例である。図8(1a)にて撮影距離P0に対応した左右方向の視野x0が、撮影距離Pmaxと遠くなると左右方向の視野xmへと狭くなる。図8(2b)のように左右方向の視野xmを視野x0へ変換して表示する事は既知の画像処理方法により容易に可能である。撮影距離Pminについても、図8(3b)のように画像を処理して表示できる。更に、図8(2b)及び図8(3b)の画像を元に各種計測を行っても良いし、撮影距離Pと左右方向の視野xとの比率をかける事により図8(2a)、図8(3a)の元図を使用して各種計測を行っても良い。
以上説明したように、本実施形態の光断層撮像装置においては、検者が様々な撮像範囲を指定し撮像可能な装置を提供することができる。即ち、光学系の性能を保ったまま様々な視野かつ高解像度の光断層撮像装置を提供することができる。また同時に、被検眼と装置の作動距離を変える事ができるので、被検者の状況に応じて作動距離を長くして撮影する事で被検者の負担を和らげる事ができる。
[第2の実施形態:断層画像の撮像範囲の大きさの指示の後にアライメント]
次に、第2の実施形態について、図9を用いて説明する。本実施形態は、断層画像の撮像範囲の大きさの指示の後に、標準距離にアライメント(あるいは再度アライメント)を行ってから、該指示された撮像範囲の大きさになるように測定光の光路長を標準距離に対して変更する。これにより、ユーザは、断層画像の撮像範囲の大きさを指示する前にアライメントがずれてしまっても、意図した大きさの断層画像を確実に取得することができる。
このとき、第2の実施形態では、図9のように、図2に対して、反射ミラー102をダイクロイックミラー113に置き換え、アライメント光学系の光路L3を設けている。光路L3上には、レンズ109、スプリットプリズム110、レンズ111、CCD112が存在する。CCD112では、前眼画像が観察されるが、Z方向のアライメント(被検査物に対する深さ方向の位置合わせ)があっていない場合、スプリットプリズム110により前眼画像の一部が位置ずれするようになっている。このとき、Z方向のアライメントがあっていると、前眼画像の一部の位置ずれが無くなるため、この画像のずれの方向およびずれ量によりZ方向のアライメントずれを検知することができる。このZ方向のアライメントずれをなくすように被検眼に対して装置本体を移動させることにより、Z方向のアライメントができる。X、Y方向のアライメントは、CCD112により得られる前眼観察像における瞳孔の位置を検知することで行える。
ここで、例えば、ユーザは、角膜厚分布を撮像する場合には、角膜全体を撮像できるように広い撮像範囲を指定する。また、例えば、ユーザは、隅角を撮像する場合には、隅角を撮像できる程度の狭い撮像範囲を指定する。このように、不図示の撮影モード選択手段により、断層画像を取得する前に、撮影部位等の撮像モードを選択するように構成されても良い。また、アライメントを行った後に、断層画像の撮像範囲の大きさを指示する前に、指示された大きさに対応する距離、測定光の光路長を確実に変更するために、再度アライメントを行っても良い。この場合には、ユーザは、前眼観察像を見ながら撮像範囲の大きさを指示することができる。
[第3の実施形態:測定光の光路長の変更が限界である場合に、スキャン角度を調整]
次に、第3の実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について、第1の実施形態に記載されたOCT装置との差異を説明する。
第1の実施形態に記載のOCT装置では、図4(a)に対して、図4(b)、(c)のように、走査手段の走査角度θを変えることなく、前眼部撮像範囲の大きさを変えることができた。つまり、光学ヘッド900内の光路を変更することなく、拡大と縮小が行えるため、レンズ端の収差の影響や、光束のケラレの影響、走査角度θの変更によるサンプリング密度の変化を考慮する必要がなかった。
本実施形態では、最大撮影距離Pmaxや最小撮影距離Pminに到達したときに、さらに走査角度θを変えることで撮像範囲をさらに変更することができる。最大撮影距離Pmaxに到達したときには、XYスキャナ114のスキャン振幅を大きくする。それにより、走査角度θが大きくなる。つまり、スキャン範囲Rがより大きくなり、さらに広い範囲を縮小してみることが出来る。
また、最小撮影距離Pminに到達し、さらに拡大したい場合には、XYスキャナ114のスキャン振幅を狭くする。それにより、より狭いスキャン範囲を拡大してみることができ、より拡大された画像を得ることができる。
また、最大撮影距離Pmaxは、OCTフォーカスレンズ115や参照ミラー119の駆動限界などにより決定される。撮影距離P0を大きくするとスキャン範囲Rが広くなるので、より広い範囲を見ることが出来る。つまり、縮小画像が見ることが出来る。一方、最小撮影距離Pminは、前述のOCTフォーカスレンズ115や参照ミラー119の駆動限界に加えて、被検眼とOCT装置の接触など被検眼に対する安全性を確保する距離によっても決定される。
[第4の実施形態:ポリゴンミラー]
次に、第4の実施形態について、図10を用いて説明する。第1の実施形態においては、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を動かすことで所望の領域の断層画像を取得する。例えば、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2はそれぞれ、図10(a)に示すような、往復回転運動をするミラー201、202から構成され、ミラーに当たった光束がX、Y方向に、往復して振られるような構成が考えられる。ミラーは、例えば、位置決め精度や繰り返し再現性の高いガルバノモーターによって駆動されるガルバノミラーが考えられる。
本実施形態においては、XスキャナとYスキャナとのうちの少なくとも一つが、図10(b)に示すような、一方向に回転可能な多角形ミラー(ポリゴンミラー)203である。多面体の一面が光束入射位置を通りすぎるまでの回転角度ψが、スキャニングの幅となり、次々に光束入射位置に新しい面が現れることで、光束をX、Y方向に、繰り返し振ることができる。この場合、ミラーの移動方向は一方向である為、前述したガルバノミラーによりミラー面を往復運動させるより、高速にスキャンを行うことができる。
一方、前述したガルバノミラーによりミラー面を往復運動させる場合は、ガルバノミラーの傾ける角度を変えることにより、スキャン幅を変更できるが、多角形ミラーを用いた場合は形状によりスキャン幅は一意に決まってしまう。このため、多角形ミラーを用いた場合、スキャン幅を変えることにより撮像範囲の大きさを変更することは容易ではない。そこで、第1の実施形態において示した撮像範囲の大きさの変更の仕方を用いることで、スキャンの高速化を実現しながら、撮像範囲の大きさの変更を可能にできる。
[第5の実施形態:各パラメータの対応表]
次に、第5の実施形態について、図11を用いて説明する。断層画像の撮像範囲の大きさが指示されると、測定光の光路長と参照光の光路長とOCTフォーカスと前眼部フォーカスとが連動して制御されるが、これらのパラメータの対応関係を、記憶手段の一例であるハードディスク926に記憶させ、それを参照することで、上記制御を行うことができる。
例えば、図11のように、撮影範囲を決めるスキャン幅R0と測定光の光路長P0と参照光の光路長PrとOCTフォーカスレンズ位置Loと前眼部フォーカスレンズ位置Laとの対応関係を予めシミュレーションにより求めておき、対応表を作成し、ハードディスクに記憶させることができる。また、対応表から、各パラメータ同士の関係を近似式1〜4のように求めておき、これらの関係式をハードディスクに記憶させても良い。
Figure 0006300443
Pr=PO=f(RO) 式2
Lo=f(PO) 式3
La=f(PO) 式4
pは、対物レンズ101−1から角度θで広がるスキャンエリア境界線を対物レンズ側に延長した線の交点と対物レンズ全面頂点の距離であり、光学設計によって決まる値である為、シミュレーションにより予め求めることができる。関数f(RO)、f(PO)は、光学系の設計によって決まり、測定光光路長Poにおいて適切なOCTフォーカスが得られるOCTフォーカスレンズ位置Lo、適切な前眼部フォーカスが得られる前眼部フォーカスレンズ位置Laを予めシミュレーションによって求めておき関係を近似式で現わしたものである。
[第6の実施形態:撮像範囲の大きさの指示に応じて、固視灯の大きさを調整]
次に、第6の実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について、第1の実施形態に記載されたOCT装置との差異を説明する。第1の実施形態に記載されたOCT装置では、撮影距離P0をスキャン範囲R0に応じて変更し、測定光の光路長を変更する。このとき、被検眼に対して、固視灯106の大きさが変化することになる。撮影距離P0が大きいとき、固視灯は小さく見え、一方、撮影距離P0が小さいときには、固視灯は大きく見える。このため、被検者に不快感を与える可能性や、固視灯が見えにくくなる場合がある。
これに対して、本実施形態に係るOCT装置は、不図示の固視灯表示変更手段により、固視灯106の表示の大きさが変更できるように構成される。例えば、固視灯がLCD等の2次元像を表示できる場合には、その表示された2次元像のXY方向の大きさが変更できる。また、固視灯が点光源等の場合には、その大きさを変更できるようにレンズ等の光学部材を追加しても良い。被検眼に対して光学部材の位置を動かすことで、固視灯の拡大や縮小ができる。あるいは、光路L2にXYスキャナが構成され、点光源の点灯と消灯によって、XYスキャンによる2次元像を作り出す場合には、その点光源の点灯と消灯のタイミングを変更して、XYスキャンによる2次元像の大きさを変更できるようにしても良い。
このように、表示の大きさを変更できる固視灯を用いて、以下のように固視灯の大きさを変更する。まず、検者により撮像範囲が指定され、その範囲に応じて撮影距離P0を大きくしたとき、測定光の光路長がくなり、被検眼から遠くなるため、固視灯は小さく見える。この場合には、固視灯の表示を大きくすることで、被検眼に対する固視灯の大きさを一定にすることができる。一方、撮影距離P0を小さくしたときには、測定光の光路長がくなり、被検眼に近づくため、固視灯は大きく見える。この場合には、固視灯を小さく表示する。つまり、撮影距離P0と連動して固視灯の大きさを変更することで、固視灯の大きさを一定にすることができる。
[その他の実施形態]
また、本実施形態は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
なお、本発明は、上記の実施形態に限定されるものではなく、本実施形態の趣旨を逸脱しない範囲内において、種々の変形、変更して実施することができる。例えば、上記の実施例では、被測定物が眼の場合について述べているが、眼以外の皮膚や臓器等の被測定物に本実施形態を適用することも可能である。この場合、本発明は、眼科装置以外の、例えば内視鏡等の医療機器としての態様を有する。従って上述した被検眼は被検査物として理解されることが好ましい。

Claims (16)

  1. 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
    前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
    前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
    前記前眼部を撮像する撮像手段の出力に基づいて、前記前眼部の深さ方向において前記前眼部と前記測定光の光路を含む光学部との位置ずれ情報を検出する検出手段と、
    前記指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
  2. 前記測定光光路長変更手段は、前記光学部を前記前眼部に対して移動する光学部移動機構を有し、
    前記制御手段が、前記指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記光学部移動機構を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記光学部移動機構を制御することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。
  3. 前記断層画像の撮像範囲の大きさの変更の指示を入力するための表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
    前記指示手段が、操作手段による操作に応じて前記変更を指示することを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。
  4. 前記参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段を更に有し、
    前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記参照光光路長変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  5. 前記前眼部に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿って移動する移動手段を更に有し、
    前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記移動手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  6. 固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段を更に有し、
    前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記固視灯表示変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  7. 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
    前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
    固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段と、
    前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
    前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記測定光光路長変更手段の制御に対して前記固視灯表示変更手段を連動させて制御する制御手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
  8. 前記制御手段が、前記撮像範囲を広くする指示の場合には、前記測定光の光路長を長くし且つ前記固視灯を大きくするように、前記測定光光路長変更手段と前記固視灯表示変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項6または7に記載の光断層撮像装置。
  9. 前記断層画像の撮像範囲の大きさとの前記測定光の光路長との関係を示す表と関係式とのうち少なくとも一方を記憶する記憶手段を有し、
    前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記記憶された少なくとも一方を用いて、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とした請求項1乃至8の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  10. 前記測定光の光路に設けられる対物レンズを更に有し、
    前記測定光光路長変更手段は、前記対物レンズと前記前眼部との距離を変更することにより、前記測定光の光路長を変更することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  11. 前記前眼部に対して前記測定光を走査し、一方向に回転可能に構成された走査手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  12. 前記測定光の光路に設けられる対物レンズと、
    前記前眼部において前記測定光を走査する走査手段と、
    前記対物レンズと前記前眼部との距離が長くなると前記前眼部における測定光の走査範囲が広くなり、且つ前記対物レンズと前記前眼部との距離が短くなると前記前眼部における前記測定光の走査範囲が狭くなるように、前記測定光を前記前眼部に照射する照射手段と、
    を有することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
  13. 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
    前記前眼部を撮像する撮像手段の出力に基づいて、前記前眼部の深さ方向において前記前眼部と前記測定光の光路を含む光学部との位置ずれ情報を検出する工程と、
    前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する工程と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
  14. 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
    前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御し、前記測定光光路長変更手段の制御に対して固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段を連動させて制御する工程を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。
  15. 前記制御する工程において、前記撮像範囲を広くする指示の場合には、前記測定光の光路長を長くし且つ前記固視灯を大きくするように、前記測定光光路長変更手段と前記固視灯表示変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項14に記載の光断層撮像装置の制御方法。
  16. 請求項13乃至15の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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