JP6300443B2 - 光断層撮像装置およびその制御方法 - Google Patents
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Description
測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記前眼部を撮像する撮像手段の出力に基づいて、前記前眼部の深さ方向において前記前眼部と前記測定光の光路を含む光学部との位置ずれ情報を検出する検出手段と、
前記指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、を有する。
また、本発明に係る光断層撮像装置の一つは、
測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記測定光光路長変更手段の制御に対して前記固視灯表示変更手段を連動させて制御する制御手段と、を有する。
以下、本実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について説明する。
本実施形形態における光断層撮像装置の概略構成について図1を用いて説明する。
本実施形態の測定光学系および分光器の構成について図2を用いて説明する。
光断層撮像装置を用いた断層画像の取得方法について説明する。光断層撮像装置は、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を制御することで、被検眼100の前眼部100−1における所望部位の断層画像を取得することができる。
次に、本実施形態に係る測定操作画面について、図5と図6を用いて説明する。ここで、図5は、本実施形態に係る測定操作画面1000の一例を示した図である。また、図6は、本実施形態に係る測定操作画面1000の他の例を示した図である。
次に、本実施形態に係るOCT装置を用いて前眼部の断層画像を取得するフローについて、図7を用いて説明する。ここで、図7は、本実施形態に係る測定フローを示した図であり、検者及びパソコン925の動作を示すフローチャートである。
次に、第2の実施形態について、図9を用いて説明する。本実施形態は、断層画像の撮像範囲の大きさの指示の後に、標準距離にアライメント(あるいは再度アライメント)を行ってから、該指示された撮像範囲の大きさになるように測定光の光路長を標準距離に対して変更する。これにより、ユーザは、断層画像の撮像範囲の大きさを指示する前にアライメントがずれてしまっても、意図した大きさの断層画像を確実に取得することができる。
次に、第3の実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について、第1の実施形態に記載されたOCT装置との差異を説明する。
次に、第4の実施形態について、図10を用いて説明する。第1の実施形態においては、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2を動かすことで所望の領域の断層画像を取得する。例えば、Xスキャナ114−1、Yスキャナ114−2はそれぞれ、図10(a)に示すような、往復回転運動をするミラー201、202から構成され、ミラーに当たった光束がX、Y方向に、往復して振られるような構成が考えられる。ミラーは、例えば、位置決め精度や繰り返し再現性の高いガルバノモーターによって駆動されるガルバノミラーが考えられる。
次に、第5の実施形態について、図11を用いて説明する。断層画像の撮像範囲の大きさが指示されると、測定光の光路長と参照光の光路長とOCTフォーカスと前眼部フォーカスとが連動して制御されるが、これらのパラメータの対応関係を、記憶手段の一例であるハードディスク926に記憶させ、それを参照することで、上記制御を行うことができる。
Lo=f1(PO) 式3
La=f2(PO) 式4
pは、対物レンズ101−1から角度θで広がるスキャンエリア境界線を対物レンズ側に延長した線の交点と対物レンズ全面頂点の距離であり、光学設計によって決まる値である為、シミュレーションにより予め求めることができる。関数f1(RO)、f2(PO)は、光学系の設計によって決まり、測定光光路長Poにおいて適切なOCTフォーカスが得られるOCTフォーカスレンズ位置Lo、適切な前眼部フォーカスが得られる前眼部フォーカスレンズ位置Laを予めシミュレーションによって求めておき関係を近似式で現わしたものである。
次に、第6の実施形態に係る光断層撮像装置(OCT装置)について、第1の実施形態に記載されたOCT装置との差異を説明する。第1の実施形態に記載されたOCT装置では、撮影距離P0をスキャン範囲R0に応じて変更し、測定光の光路長を変更する。このとき、被検眼に対して、固視灯106の大きさが変化することになる。撮影距離P0が大きいとき、固視灯は小さく見え、一方、撮影距離P0が小さいときには、固視灯は大きく見える。このため、被検者に不快感を与える可能性や、固視灯が見えにくくなる場合がある。
また、本実施形態は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (16)
- 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記前眼部を撮像する撮像手段の出力に基づいて、前記前眼部の深さ方向において前記前眼部と前記測定光の光路を含む光学部との位置ずれ情報を検出する検出手段と、
前記指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記測定光光路長変更手段は、前記光学部を前記前眼部に対して移動する光学部移動機構を有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記光学部移動機構を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記光学部移動機構を制御することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。 - 前記断層画像の撮像範囲の大きさの変更の指示を入力するための表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有し、
前記指示手段が、操作手段による操作に応じて前記変更を指示することを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。 - 前記参照光の光路長を変更する参照光光路長変更手段を更に有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記参照光光路長変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至3の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記前眼部に対して前記測定光を合焦する合焦レンズを光路に沿って移動する移動手段を更に有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記移動手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段を更に有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記測定光光路長変更手段と前記固視灯表示変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、
前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段と、
固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段と、
前記指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御し、前記測定光光路長変更手段の制御に対して前記固視灯表示変更手段を連動させて制御する制御手段と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置。 - 前記制御手段が、前記撮像範囲を広くする指示の場合には、前記測定光の光路長を長くし且つ前記固視灯を大きくするように、前記測定光光路長変更手段と前記固視灯表示変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項6または7に記載の光断層撮像装置。
- 前記断層画像の撮像範囲の大きさとの前記測定光の光路長との関係を示す表と関係式とのうち少なくとも一方を記憶する記憶手段を有し、
前記制御手段が、前記指示手段による指示に応じて、前記記憶された少なくとも一方を用いて、前記測定光光路長変更手段を制御することを特徴とした請求項1乃至8の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記測定光の光路に設けられる対物レンズを更に有し、
前記測定光光路長変更手段は、前記対物レンズと前記前眼部との距離を変更することにより、前記測定光の光路長を変更することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 前記前眼部に対して前記測定光を走査し、一方向に回転可能に構成された走査手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至10の何れか一項に記載の光断層撮像装置。
- 前記測定光の光路に設けられる対物レンズと、
前記前眼部において前記測定光を走査する走査手段と、
前記対物レンズと前記前眼部との距離が長くなると前記前眼部における測定光の走査範囲が広くなり、且つ前記対物レンズと前記前眼部との距離が短くなると前記前眼部における前記測定光の走査範囲が狭くなるように、前記測定光を前記前眼部に照射する照射手段と、
を有することを特徴とする請求項1乃至9の何れか一項に記載の光断層撮像装置。 - 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記前眼部を撮像する撮像手段の出力に基づいて、前記前眼部の深さ方向において前記前眼部と前記測定光の光路を含む光学部との位置ずれ情報を検出する工程と、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示の後に、前記検出された位置ずれ情報を用いて前記測定光の光路長を標準距離に変更するように前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御し、前記検出された位置ずれ情報を用いた前記測定光の光路長の変更の後に、前記指示された撮像範囲の大きさになるように前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光光路長変更手段を制御する工程と、
を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 測定光を照射した被検眼の前眼部からの戻り光と、該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、前記前眼部の断層画像を取得する光断層撮像装置の制御方法であって、
前記断層画像の撮像範囲の大きさを指示する指示手段による指示に応じて前記測定光の光路長を標準距離に対して変更するように前記測定光の光路長を変更する測定光光路長変更手段を制御し、前記測定光光路長変更手段の制御に対して固視灯の表示の大きさを変更する固視灯表示変更手段を連動させて制御する工程を有することを特徴とする光断層撮像装置の制御方法。 - 前記制御する工程において、前記撮像範囲を広くする指示の場合には、前記測定光の光路長を長くし且つ前記固視灯を大きくするように、前記測定光光路長変更手段と前記固視灯表示変更手段とを連動させて制御することを特徴とする請求項14に記載の光断層撮像装置の制御方法。
- 請求項13乃至15の何れか一項に記載の光断層撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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