JP6022088B2 - 不規則な測定時のsaft法による解析を改良する方法及び装置 - Google Patents
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Description
・被検体表面に沿って被検体を動かし、プローブを用いて被検体に超音波パルスを送信するステップ。
・送信された超音波パルスに対応する各エコー信号を、プローブで受信するステップ。
・データ処理装置で、受信したエコー信号の振幅値を重畳及び平均化処理して、被検体の所定の検査領域の像を形成するステップ。
言い換えれば、本発明による被検体の超音波検査方法は、SAFT法による解析に必要なステップを有する上に、更に、超音波信号の送信時に及び/又はその超音波信号に対応するエコー信号の受信時に検出装置でプローブの各位置を検出し、そのプローブの各検出位置を被検体の検査領域の像を形成する際に考慮するステップを有する。
・被検体表面に沿ってプローブを手動で自由にガイドして動かし、プローブを用いて被検体に超音波パルスを送信し、送信された超音波パルスに対応する各エコー信号をプローブで受信して、複数の部分領域からなる測定面内を測定する。
・データ処理装置で、受信したエコー信号の振幅値の重畳及び平均化処理に基づいて被検体の所定の検査領域の像を形成する。
・検出装置でプローブの各測定位置を検出する。
・被検体の検査領域の像を形成する際に、検出されたプローブの各測定位置を考慮する。
・データ処理装置で、測定面内で検出された各測定位置に関する不規則性を検出するための評価パラメータを求める。
・検出された各測定位置に対応する、像(5)を形成するための各受信エコー信号を、データ処理装置で、上記評価パラメータを用いて、上記不規則性が解消されるように重み付けする。
・被検体表面に沿って、複数の部分領域からなる測定面内を手動で自由に動かすことができ、かつ、被検体に超音波パルスを送信し、送信された超音波パルスに対応する各エコー信号を受信して測定を行うプローブと、
・プローブの各測定位置を検出する検出装置と、
・受信エコー信号の振幅値の重畳及び平均化処理に基づき、被検体の所定の検査領域の像を形成するデータ処理装置とを有し、
・上記データ処理装置は、被検体の検査領域の像を形成する際に、検出されたプローブの各測定位置を考慮し、
・その際上記データ処理装置は、測定面内の検出された各測定位置に関する不規則性を検出するための少なくとも1つの評価パラメータを用いて、検出された各測定位置に対応する、像形成のための各受信エコー信号を、上記不規則性が解消されるように重み付けする。
Claims (14)
- 被検体(1)を超音波検査するための方法であって、
・被検体表面(2)に沿ってプローブ(3)を、手持ちで動かし、前記プローブ(3)を用いて前記被検体(1)に超音波パルスを送信し、送信された超音波パルスに対応する各エコー信号を前記プローブ(3)で受信して、複数の部分領域からなる測定面(11)内を測定するステップと、
・データ処理装置(7)で、受信したエコー信号の振幅値の重畳及び平均化処理に基づいて前記被検体(1)の所定の検査領域の像(5)を形成するステップと、
・検出装置(9)で前記プローブ(3)の各測定位置(M)を検出するステップと、
・前記被検体(1)の検査領域の像(5)を形成する際に、検出された前記プローブ(3)の各測定位置を考慮するステップと、
を有する、方法において、
・前記データ処理装置(7)で、測定面内で検出された各測定位置に関する不規則性を検出するための評価パラメータを求めるステップと、
・検出された各測定位置に対応する、像(5)を形成するための各受信エコー信号を、前記データ処理装置(7)で、前記評価パラメータを用いて、前記不規則性が解消されるように重み付けするステップと、
を有し、
局所的な測定密度を評価パラメータとして求め、局所的な測定密度が相対的に大きい測定位置のエコー信号を、ゼロで重み付けし、
前記エコー信号をゼロで重み付けした測定位置を中心とする所定の第2半径内で、前記局所的な測定密度を再計算する、
方法。 - 前記局所的な測定密度を、前記測定面の単位面ごとに、又は前記測定面の少なくとも1本の走査線の単位長ごとに、検出された測定位置の各個数から求めることを特徴とする、
請求項1記載の方法。 - 前記局所的な測定密度を、所定の第1半径内で検出した1つの測定位置と他の全ての検出した測定位置との間の全ての距離の全ての逆数を合計することで求めることを特徴とする、
請求項1又は2記載の方法。 - 測定位置のエコー信号を、前記局所的な測定密度に反比例するように重み付けすることを特徴とする、
請求項1乃至3のいずれか1項記載の方法。 - 前記ゼロで重み付けした測定位置を繰り返し削除し、所定の最小測定密度を下回らない範囲内で局所的な測定密度を再計算することを特徴とする、
請求項1乃至4のいずれか1項記載の方法。 - 測定面の全ての部分領域が評価パラメータとして均等に寄与するようにし、また測定位置のエコー信号を、均一に像(5)の形成に寄与するように重み付けすることを特徴とする、
請求項1乃至5のいずれか1項記載の方法。 - プローブ(16)の各測定位置の検出を、超音波信号の送信時に及び/又は該超音波信号に対応するエコー信号の受信時に行うことを特徴とする、
請求項1乃至6のいずれか1項記載の方法。 - 被検体(1)を超音波検査するための装置であって、
・被検体表面(2)に沿って、複数の部分領域からなる測定面内を、手持ちで動かすことができ、かつ、被検体(1)に超音波パルスを送信し、送信した超音波パルスに対応する各エコー信号を受信することで測定を行うプローブ(3)と、
・前記プローブ(3)の各測定位置を検出する検出装置と、
・前記受信したエコー信号の振幅値の重畳及び平均化処理に基づき、前記被検体(1)の所定の検査領域の像(5)を形成し、前記被検体(1)の検査領域の像(5)を形成する際に、検出された前記プローブ(3)の各測定位置を考慮するデータ処理装置(7)と、
を有する、装置において、
前記データ処理装置(7)は、前記測定面内の検出された各測定位置に関する不規則性を検出するための少なくとも1つの評価パラメータを用いて、検出された各測定位置に対応する、像(5)を形成するための各受信エコー信号を、上記不規則性が解消されるように重み付けし、
前記データ処理装置(7)は、局所的な測定密度を評価パラメータとして求め、局所的な測定密度が相対的に大きい測定位置のエコー信号を、ゼロで重み付けし、
前記データ処理装置(7)は、前記エコー信号をゼロで重み付けした測定位置を中心とする所定の第2半径内で、前記局所的な測定密度を再計算する、
装置。 - 前記データ処理装置(7)は、前記局所的な測定密度を、前記測定面の単位面ごとに、又は前記測定面の少なくとも1本の走査線の単位長ごとに、検出された測定位置の各個数から求めることを特徴とする、
請求項8記載の装置。 - 前記データ処理装置(7)は、前記局所的な測定密度を、所定の第1半径内で検出した1つの測定位置と他の全ての検出した測定位置との間の全ての距離の全ての逆数を合計することで求めることを特徴とする、
請求項8又は9記載の装置。 - 前記データ処理装置(7)は、測定位置のエコー信号を、前記局所的な測定密度に反比例するように重み付けすることを特徴とする、
請求項8乃至10のいずれか1項記載の装置。 - 前記データ処理装置(7)は、前記ゼロで重み付けした測定位置を除去し、所定の最低測定密度を下回らない範囲内で前記局所的な測定密度を再計算することを特徴とする、
請求項8乃至11のいずれか1項記載の装置。 - 前記データ処理装置(7)は、測定面の全ての部分領域が評価パラメータとして均等に寄与するようにし、また測定位置のエコー信号を、均一に像(5)の形成に寄与するように重み付けすることを特徴とする、
請求項8乃至12のいずれか1項記載の装置。 - 前記検出装置は、前記プローブ(16)の各測定位置を、超音波信号の送信時に及び/又は該超音波信号に対応するエコー信号の受信時に検出することを特徴とする、
請求項8乃至13のいずれか1項記載の装置。
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