JP6080386B2 - 光学部材、撮像装置及び光学部材の製造方法 - Google Patents
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Description
前記表面層が、前記基材に接して、前記貫通孔内に透明な樹脂材料を含有しており、
前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における炭素の含有量が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における炭素の含有量よりも大きく、前記表面層の膜厚方向の中心線よりも前記基材側における空孔率が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における空孔率よりも小さく、前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における屈折率が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における屈折率よりも大きく、かつ、前記基板の屈折率に近いことを特徴とする。
図1は、本発明の光学部材の断面模式図を示している。本発明の光学部材は、基材1の上に、3次元的に連続した貫通孔であるスピノーダル型の相分離由来の多孔構造を有する多孔質ガラス層の孔に透明材料を含む透明材料含有ガラス層2を備えている。
本発明は、基材上に多孔質ガラス層を有する構成であり、以下のように形成される。すなわち、基材の上に、複数のガラス粉体を含むガラス粉体層を形成し、複数のガラス粉体を融着して母体ガラス層を形成する。そして、母体ガラス層を加熱して相分離ガラス層を形成し、エッチングして3次元的に貫通した孔を有する多孔質ガラス層を形成する。そして、多孔質ガラス層の孔の一部に樹脂材料を含有させて樹脂含有ガラス層を形成する。
まず、図6(a)で示すように、基材1上にガラス粉体3を含むガラス粉体層4を形成する。
続いて、図6(b)で示すように、ガラス粉体層4のガラス粉体3どうしを加熱することにより融着させて、基材1上に相分離性の母体ガラス層5を形成する。
融着時の温度が高いほどガラスの粘度が低下し平坦な膜になりやすく、表面での散乱が少ない膜となる。しかし、融着時の温度がガラス粉体3の結晶化温度以上であると、相分離性の母体ガラス層5が結晶化して、この結晶によって散乱が生じ、透過率の低下の原因になる。このため、本発明では、この融着工程を、ガラス転移温度以上結晶化温度以下で加熱して行うことで、結晶化させずにガラス粉体3を融着させて母体ガラス層5を形成することができる。具体的には、500℃以上800℃以下の温度で加熱することが好ましい。加熱時間は、10時間以上100時間以下の保持が好ましい。
次に、図6(c)に示すように、基材1上に形成された相分離性の母体ガラス層5を加熱して相分離ガラス層6を形成する。ここでいう相分離ガラス層6とは、酸化ケイ素リッチ相と非酸化ケイ素リッチ相とに相分離されたガラス層のことである。
相分離の加熱処理は、500℃以上700℃以下の温度で、1時間以上100時間以下保持して行われる。この温度や時間は、得られる多孔質ガラス層の孔径等に応じて適宜設定することができる。また、熱処理温度は一定温度である必要はなく、温度を連続的段階的に変化させてもよい。
加熱方法は、ガラス粉体を融着する工程で挙げた方法を採用することができる。
次に、図6(d)で示すように、基材1上に形成された相分離ガラス層6をエッチング処理して、連続した孔を有する多孔質ガラス層7を基材1上に形成する。エッチング処理によって、相分離ガラス層6の酸化ケイ素リッチ相を残しながら、非酸化ケイ素リッチ相を除去することができ、残った部分が多孔質ガラス層7の骨格に、除去された部分が多孔質ガラス層7の孔になる。
次に、図6(d)で示すように、基材1上に形成された多孔質ガラス層7の孔の一部に透明材料を含有させて透明材料含有ガラス層2を基材1上に形成する。具体的には、透明材料含有ガラス層2の膜厚方向において、透明材料含有ガラス層2の中心線よりも基材1側における空孔率が、透明材料含有ガラス層2の中心線よりも基材1とは反対側における空孔率よりも小さくなるように、透明材料を多孔質ガラス層7の孔に含有させる。
仕込み組成が、SiO2 64重量%、B2O3 27重量%、Na2O 6重量%、Al2O3 3重量%になるように、二酸化ケイ素、酸化ホウ素、炭酸ナトリウム、及びアルミナの混合粉末を白金るつぼ中で、1500℃、24時間溶融した。その後、溶融物を1300℃に下げてから、グラファイトの型に流し込んだ。そして、空気中で約20分間放冷した後、500℃の徐冷炉にて5時間保持し、さらに、24時間かけて常温まで冷却させて、ホウケイ酸塩ガラスを得た。得られたホウケイ酸塩ガラスのブロックをビーズミルで平均粒径が4.5μmになるまで粉砕を行い、ガラス粉体を得た。
上記(1)で得たガラス粉体60質量部、α−ターピネオール44質量部、エチルセルロース(商標 ETHOCEL Std 200(ダウ・ケミカル社製))2質量部を撹拌、混合し、ガラスペーストを得た。ガラスペーストの粘度は31300mPa・sであった。
上記(2)で得たガラスペーストを石英基板(飯山特殊硝子社製 軟化点1700℃ ヤング率72GPa)上にスクリーン印刷により塗布した。印刷機はマイクロテック社製MT−320TVを使用した。印刷版は#500の25mm×25mmのベタ画像を使用した。
この構造体の反射率の測定を行った。反射率は図2に示す。反射率の測定には、レンズ反射率測定機(USPM−RU、オリンパス製)を用いて、基材とは反対側から光を入射させてその反射光の量を測定した。測定波長領域は400nm乃至750nmであった。
(4−1)溶液1の調製例
多孔質ガラス層の孔中に充填させる透明材料としての光重合モノマーであるペンタエリスリトールトリアクリレート(PETA)と、透明材料を希釈する溶剤としてのエチルセロソルブと、光重合開始剤としての1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン(IRGACURE184)とを混合し、溶液1を得た。溶液中のPETAの濃度は0.100重量%であった。
溶剤として2−ブタノールとした以外は、溶液1と同じで方法で溶液2を得た。
溶液中のPETAの濃度を0.125重量%とした以外は、溶液2と同じで方法で溶液3を得た。
溶液中のPETAの濃度を0.167重量%とした以外は、溶液2と同じで方法で溶液4を得た。
溶液中のPETAの濃度は0.200重量%とした以外は、溶液2と同じで方法で溶液5を得た。
溶液中のPETAの濃度は0.250重量%とした以外は、溶液2と同じで方法で溶液6を得た。
溶液中のPETAの濃度は0.333重量%とした以外は、溶液2と同じで方法で溶液7を得た。
溶剤としてトルエンを用いた以外は、溶液1と同じで方法で溶液8を得た。
溶剤としてメタノールを用いた以外は、溶液1と同じで方法で溶液9を得た。
溶剤としてジエチレングリコールを用いた以外は、溶液1と同じで方法で溶液10を得た。
溶剤として酢酸エチルを用いた以外は、溶液1と同じで方法で溶液11を得た。
溶剤としてテトラヒドロフランを用いた以外は、溶液1と同じで方法で溶液12を得た。
透明材料としての下記成分の混合モノマーと、溶剤としてのエタノールと、を混合し、溶液13を得た。溶液中の混合モノマーの濃度は0.600重量%であった。
混合モノマーの組成比
トリフルオロエチルメタクリレート 42重量%
ブチルメタクリレート 25重量%
ステアリルメタクリレート 22重量%
トリメチロールプロパントリメタクリラート 8重量%
3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(シランカップリング剤) 1重量%
1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン 2重量%
溶液1乃至13の粘度、使用した溶剤の蒸発速度および沸点を表1に示す。本発明では、溶剤の蒸発速度および沸点を溶液1乃至13の蒸発速度および沸点とみなしている。溶液の粘度は、回転式粘度計(RE85L形、東機産業製)を用いて測定した。また、溶剤の蒸発速度は、酢酸ブチルを基準値1として換算した相対値である。
溶液1を、上記(3)で作製した構造体の多孔質ガラス層上にスピンコーティングして、多孔質ガラス層の孔に溶液1を浸入させた。スピンコーティングの回転数は5000rpmとした。その後、100℃で10分間乾燥させ、UV照射を照度23mW/cm2で20分間行い、光学部材1を得た。
図8は、光学部材1の走査電子顕微鏡(FESEM S−4800、日立製作所製)を用いて撮影した断面SEM像である。多孔質ガラス層と基材(石英基板)との界面付近に透明材料があり、多孔質ガラス層の表面には透明材料が残っていないことが分かった。つまり、光学部材1は、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材側の透明材料の含有量が、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材とは反対側の透明材料の含有量よりも高くなっていると考えられる。実際に、透明材料含有ガラス層の膜厚方向において、透明材料含有ガラス層の中心線よりも基材側における空孔率が、透明材料含有ガラス層の中心線よりも基材とは反対側における空孔率よりも小さくなっていた。
溶液1に代えて溶液2を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材2を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、多孔質ガラス層と基材(石英基板)との界面付近に透明材料があり、多孔質ガラス層の表面には透明材料が残っていないことが分かった。よって、光学部材2は、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材側の透明材料の含有量が、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材とは反対側の透明材料の含有量よりも高くなっていると考えられる。
溶液1に代えて溶液3を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材3を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、多孔質ガラス層と基材(石英基板)との界面付近に透明材料があり、多孔質ガラス層の表面には透明材料が残っていないことが分かった。光学部材3は、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材側の透明材料の含有量が、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材とは反対側の透明材料の含有量よりも高くなっていると考えられる。
溶液1に代えて溶液8を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材4を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、多孔質ガラス層と基材(石英基板)との界面付近に透明材料があり、多孔質ガラス層の表面には透明材料が残っていないことが分かった。光学部材4は、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材側の透明材料の含有量が、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材とは反対側の透明材料の含有量よりも高くなっていると考えられる。
溶液1に代えて溶液9を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材5を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、多孔質ガラス層と基材(石英基板)との界面付近に透明材料があり、多孔質ガラス層の表面には透明材料が残っていないことが分かった。光学部材5は、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材側の透明材料の含有量が、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材とは反対側の透明材料の含有量よりも高くなっていると考えられる。
溶液1に代えて溶液10を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材6を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、多孔質ガラス層と基材(石英基板)との界面付近に透明材料があり、多孔質ガラス層の表面には透明材料が残っていないことが分かった。光学部材6は、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材側の透明材料の含有量が、多孔質ガラス層の膜厚方向の中心線よりも基材とは反対側の透明材料の含有量よりも高くなっていると考えられる。
溶液1に代えて溶液4を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材7を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、光学部材7では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
溶液1に代えて溶液5を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材8を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、光学部材8では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
溶液1に代えて溶液6を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材9を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した。図9は、光学部材9の断面SEM像である。光学部材9では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
溶液1に代えて溶液7を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材10を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、光学部材10では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
溶液1に代えて溶液11を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材11を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、光学部材11では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
溶液1に代えて溶液12を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材12を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、光学部材12では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
溶液1に代えて溶液13を用いた以外は実施例1と同じ方法で光学部材13を得た。
実施例1と同様に断面SEM画像を撮影した結果、光学部材13では、透明材料が多孔質ガラス層の孔を表面まで完全に充填していた。
実施例1乃至6、比較例1乃至7の光学部材の反射率の測定を行った。測定には、レンズ反射率測定機(USPM−RU、オリンパス製)を用いて、基材とは反対側から光を入射させてその反射光の量を測定した。測定波長領域は400nm乃至750nmであった。
実施例1乃至6の各光学部材の反射率の波長依存性を図10に示す。一方、比較例1乃至7の各光学部材の反射率の波長依存性を図11に示す。
実施例1乃至6の各光学部材において、図2で示した上記(3)で作製した構造体の反射率と比べると、反射率の波長依存性が抑制されていることが分かる。
2 透明材料含有ガラス層(樹脂含有ガラス層)
3 ガラス粉体
4 ガラス粉体層
5 母体ガラス層
6 相分離ガラス層
7 多孔質ガラス層
314 光学部材
Claims (14)
- 基材と、前記基材の表面に、3次元的に連結した貫通孔からなる多孔構造を有する表面層と、を備えた光学部材であって、
前記表面層が、前記基材に接して前記貫通孔内に透明材料を含有しており、
前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における前記透明材料の含有量が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における前記透明材料の含有量よりも多く、
前記表面層の膜厚方向の中心線よりも前記基材側における空孔率が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における空孔率よりも小さくなっており、
前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における屈折率が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における屈折率よりも大きく、かつ、前記基板の屈折率に近いことを特徴とする光学部材。 - 前記基板および前記多孔質構造の骨格が、ケイ素酸化物を含むことを特徴とする請求項1に記載の光学部材。
- 前記透明材料の屈折率は、1.60以下であることを特徴とする請求項2に記載の光学部材。
- 前記透明材料の屈折率は、前記基材を構成する材料の屈折率よりも小さいことを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光学部材。
- 前記透明材料は、樹脂であることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の光学部材。
- 前記樹脂は、ペンタエリスリトールトリアクリレートを含むことを特徴とする請求項5に記載の光学部材。
- 請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光学部材と、前記光学部材を透過した像を撮像する撮像素子と、を備えた撮像装置。
- 前記光学部材は、前記撮像素子の側から順に、前記基材、前記表面層の順になるように配置されていることを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。
- 基材と、前記基材の表面に多孔構造を有する表面層と、を備えた光学部材の製造方法であって、
基材の上に、複数のガラス粉体を含むガラス粉体層を形成する工程と、
前記ガラス粉体層に含まれる前記複数のガラス粉体を融着して母体ガラス層を形成する工程と、
前記母体ガラス層を加熱してスピノーダル型の相分離に由来する相分離ガラス層を形成する工程と、
前記相分離ガラス層をエッチングして3次元的に連結した貫通孔を有する多孔質ガラス層を形成する工程と、
前記多孔質ガラス層の孔に透明材料を含有させ、前記基材に接して透明材料含有領域を有する表面層を形成する工程と、を有し、
前記透明材料含有領域を有する表面層を形成する工程により、前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における前記透明材料の含有量を、前記中心線よりも前記基材とは反対側における前記透明材料の含有量よりも多く、前記表面層の膜厚方向の中心線よりも前記基材側における空孔率を、前記中心線よりも前記基材とは反対側における空孔率よりも小さくし、
前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における屈折率を、前記中心線よりも前記基材とは反対側における屈折率よりも大きく、かつ、前記基板の屈折率に近づけることを特徴とする光学部材の製造方法。 - 前記透明材料は、樹脂であることを特徴とする請求項9に記載の光学部材の製造方法。
- 請求項10の光学部材の製造方法であって、前記透明材料含有領域を有する表面層を形成する工程は、酢酸ブチルに対する相対蒸発速度が0.001以上2.000以下で、かつ樹脂である前記透明材料の濃度が0.100重量以上0.130重量%以下である溶液を、前記多孔質ガラス層に塗布する工程を有することを特徴とする光学部材の製造方法。
- 請求項10の光学部材の製造方法であって、前記透明材料含有領域を有する表面層を形成する工程は、酢酸ブチルに対する相対蒸発速度が0.300以上1.000以下で、かつ樹脂である透明材料の濃度が0.100重量以上0.110重量%以下である溶液を、前記多孔質ガラス層に塗布する工程を有することを特徴とする光学部材の製造方法。
- 前記透明材料含有領域を有する表面層を形成する工程は、塗布された溶液の中の溶媒を蒸発させる工程と、前記樹脂を硬化させる工程と、をさらに有することを特徴とする請求項11または12に記載の光学部材の製造方法。
- 基材と、前記基材の表面に、3次元的に連結した貫通孔からなる多孔構造を有する表面層と、を備えた光学部材であって、
前記表面層が、前記基材に接して、前記貫通孔内に透明な樹脂材料を含有しており、
前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における炭素の含有量が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における炭素の含有量よりも大きく、
前記表面層の膜厚方向の中心線よりも前記基材側における空孔率が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における空孔率よりも小さく、
前記表面層の前記膜厚方向の中心線よりも前記基材側における屈折率が、前記中心線よりも前記基材とは反対側における屈折率よりも大きく、かつ、前記基板の屈折率に近いことを特徴とする光学部材。
Priority Applications (3)
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