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JP5887638B2 - 発光ダイオード - Google Patents

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Description

本開示は、発光ダイオード及びその製造方法に関し、より詳細には、フリップチップ型の発光ダイオード及びその製造方法に関する。
[優先権情報]
本願は、2011年5月30日出願の米国仮出願61/491,307号及び2011年8月25日出願の米国仮出願61/527,586号の優先権を主張するものであり、前記出願の内容は、参照により本明細書に組み込まれる。
発光ダイオード(LED)パッケージの従来の製造方法では、複数の金のボールを基板の電極上に配置し、共晶接合を使用して、フリップチップ型のLEDを、基板の対応する電極と電気的に接続する。その後、LEDチップと基板との間の空間に、電気的に絶縁性を有するコロイド(以下、"アンダーフィル"と称する)を供給して、反射性を高めている。従って、フリップチップ法では、水平型のチップ電極による光の遮蔽の問題が生じ、それにより、照明効率が低くなっている。また、フリップチップ法による基板へのLEDの接合(ボンディング)では、アライメントが不十分になる場合があり、これによって照明に不均一性が発生する場合がある。更に、LEDと基板との間のアンダーフィルは、望ましくない反射性を有する上に、製造コストが高くなる傾向がある。
従来のフリップチップ型のLEDは、通常、N型半導体層、P型半導体層及び発光層を有する。複数の導電性金属プラグが、フリップチップ型のLEDを貫通するように設けられ、P型半導体層から、発光層を介して、N型半導体層に至るように設けられる。フリップチップ型LEDの底面層に設けられるN型電極は、複数の導電性金属プラグと接続される。フリップチップ型LEDの底面層に設けられるP型電極は、P型半導体層と接続される。そして、電気接続のための金のボールを使用することなく、共晶接合又はリフローにより、フリップチップ型LEDが基板上の電極に電気的に接続される。この方法は、LEDチップを基板にフリップチップ方法でボンディングする時のミスアライメントの問題に対処できるだけでなく、アンダーフィルを必要としないという利点を有する。しかしながら、この方法でフリップチップ型LEDと基板とを電気的に接続すると、半導体層(メサ又はエピ)と基板電極との間の距離が非常に近いために、共晶接合又はリフローをした後に、逆電流又はショートが生じる場合がある。
上記のような従来のLEDパッケージに関する問題を解決するために、本開示では、シリコン基板又は電気的に絶縁された基板を含むLEDチップを提供する。LEDチップは、透明な基板、及び、透明な基板の表面上に形成されたN型半導体層、発光層及びP型半導体層を含む半導体層を備える。LEDチップは更に、P型半導体層とシリコン基板又は電気的に絶縁された基板との間に、コンタクト層を備える。LEDチップは、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面からN型半導体層までを貫通する複数の第1金属導電プラグと、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面からP型半導体層までを貫通する複数の第2金属導電プラグと、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面に設けられ第1金属導電プラグと電気的に接続されるN型電極と、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面に設けられ第2金属導電プラグと電気的に接続されるP型電極とを備える。LEDチップは、フリップチップ型の方法により、基板と電気的に接続される。したがって、シリコン基板又は電気的絶縁基板は、LEDフリップチップ構造を高い位置に配置することが可能となるので、逆電流及び短絡現象の発生を回避することができる。更に、シリコン基板又は電気的絶縁基板は、高い電流によるLEDフリップチップ構造の絶縁破壊を回避するべく、ツェナーダイオードであってもよい。
本開示の上記の実施形態では、複数の導電性金属プラグが、シリコン基板又は電気的に絶縁された基板に、ダマシンプロセスによって形成される。そして、シリコン基板又は電気的に絶縁された基板が、共晶接合により、LEDチップの半導体層と接合される。
本開示の上記の実施形態では、シリコン基板又は電気的絶縁基板は、LEDチップの半導体層に接合される。フォトリソグラフィー及び金属堆積によって、複数の第1金属導電プラグ及び複数の第2金属導電プラグが、LEDチップ内に形成される。絶縁層が、金属導電プラグの側面付近に形成されるため、電気接続による短絡を回避できる。
本開示の上記の実施形態では、LEDチップの透明基板は更に、透明基板の他方の側の半導体層上に設けられるパターニングされた構造を有する。パターニングされた構造は、照明を向上させる規則的なパターン又は不規則なパターンを含んでもよい。
本開示の上記の実施形態では、LEDチップのP型電極及びN型電極は、共晶接合又はリフローによって、基板上の電極と電気的に接続されてもよい。
本開示の上記の実施形態では、LEDフリップチップ構造の上方に、光学変換材料を配置してもよい。光学変換材料は、LEDフリップチップ構造によって励起されて、光混合したときに白色光を生成してもよい。
一側面において、フリップチップ型LEDは、基板及びLEDチップを備えてもよい。基板は、第1面及び第1面と対向する第2面を有する本体、第1面上に設けられた複数の第3パッド、第1面上に設けられた第4パッド、第2面上に設けられた第1電極、第2面上に設けられた第2電極、本体を貫通し第3のパッドと第1電極とを電気的に接続する複数の第1ビア、及び、本体を貫通し第4パッドを第2電極に電気的に接続する第2ビアを有する。LEDチップは、基板に接合されるフリップチップであってもよく、透明基板、透明基板上に設けられた第1型半導体層、第1型半導体層上に設けられる第2型半導体層、第1型半導体層と第2型半導体層との間に設けられた活性半導体層、第1型半導体層に配置され電気的に第3パッドと接続される第1パッド、及び、第2型半導体層に配置され第4パッドと電気的に接続される第2パッドを備える。
別の側面では、フリップチップ型LEDは、第1面と第1面に対向する第2面を有する本体を有する基板を備えてもよい。フリップチップ型LEDは更に、第2面に設けられた第1電極、及び、第2面に設けられた第2電極を備えてもよい。フリップチップ型LEDは更に、透明基板、透明基板上に設けられた第1型半導体層、第1型半導体層上に設けられた第2型半導体層、第1型半導体層と第2型半導体層との間上に設けられた活性半導体層、第2型半導体層と基板の第1面との間に設けられた接着層、基板の本体、接着層、第2型半導体層及び活性半導体層を貫通する複数の第1ビア、及び、基板の本体を貫通する第2ビアを供える。第1ビアは、第1型半導体層及び第1電極に電気的に接続されてもよい。第2ビアは、第2型半導体層及び第2電極に電気的に接続されてもよい。
一側面において、フリップチップ型LEDを製造する方法は、第1面及び第1面に対向する第2面を有する本体、第1面に設けられた複数の第3パッド、第1面に設けられた第4パッド、第2面に設けられた第1電極、第2面に設けられる第2電極、本体を貫通しそれぞれが第3パッドのうちの1つに電気的に接続される複数の第1ビア、及び、本体を貫通し第4パッドと第2電極とに電気的に接続される第2ビアを備える基板を提供してもよい。方法はまた、透明基板、透明基板上に設けられた第1型半導体層、第1型半導体層上に設けられた第2型半導体層、第1型半導体層と第2型半導体層との間に設けられた活性半導体層、第1型半導体層上に設けられた第1パッド、及び、第2型半導体層に設けられた第2パッドを備えるLEDチップを提供してもよい。方法は更に、第1パッド及び第2パッドがそれぞれ、第3パッド及び第4パッドに電気的に接続されるように、基板とLEDチップとを接合する工程を備えてもよい。
別の側面では、フリップチップ型LEDの製造方法は、透明基板を用意する工程と、第1型半導体層を透明基板に形成する工程と、第1型半導体基板に活性半導体層を形成する工程と、活性半導体基板に第2型半導体層を形成する工程と、第2型半導体基板に接着層を形成する工程と、第1面及び第1面に対向する第2面を有する本体を有する基板を形成する工程と、基板の本体、接着層、第2型半導体層及び活性半導体層を貫通する複数の第1ビアを形成する工程と、基板の本体を貫通する第2ビアを形成する工程と、第1ビアと電気的に接続される第1電極を基板本体の第2面に形成する工程と、第2ビアと電気的に接続される第2電極を基板本体の第2面に形成する工程とを備える。
様々な実施形態において、基板は、シリコン基板又は電気的絶縁基板であってもよい。シリコン基板の場合、電気絶縁層をビアの壁面及びシリコン基板の表面に設ける必要がある。電気絶縁基板の場合には、電気絶縁層は必要ない。
本開示の様々な実施形態の利点及び有益な点の理解を助けるべく、添付の図面を参照して以下の実施形態の詳細な説明を提供する。
本開示は、以下の詳細な記載及び添付の図面を参照した例を読むことにより、より完全に理解されるであろう。
本開示の第1実施形態に係るLEDチップの構造及び製造プロセスを示した図である。 本開示の第1実施形態に係るシリコン基板の構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第1実施形態に係るフリップチップ型LEDチップの構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第2実施形態に係るフリップチップ型LEDチップの構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第2実施形態に係るフリップチップ型LEDチップの構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第3実施形態に係るシリコン基板の構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第3実施形態に係るフリップチップ型LEDチップの構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第4実施形態に係るフリップチップ型LEDチップの構造及びその製造プロセスを示した図である。 本開示の第4実施形態に係るフリップチップ型LEDチップの構造及びその製造プロセスを示した図である。
[第1実施形態]
図1〜図3に示すように、本開示は、シリコン基板20及びLEDチップ10を備えるフリップチップ型LED30を提供する。シリコン基板20は、本体43、複数の第3パッド23、第4パッド24、第1電極25、第2電極26、複数の第1ビア21、及び、第2ビア22を有する。シリコン基板20の本体43は、第1面20a、及び、第1面20aに対向する第2面20bを有する。第3パッド23は、第1面20aに設けられている。第4パッド24も、第1面20aに設けられている。第1電極25は、第2面20bの下に設けられる。第2電極26も、第2面20bの下に設けられる。第1ビア21は、シリコン基板20の本体43を貫通し、電気的に少なくとも1つの第3パッド23と第1電極25とを接続する。第2ビア22は、シリコン基板20の本体43を貫通し、電気的に少なくとも1つの第4パッド24と第2電極26とを接続する。
更に、シリコン基板20には、第1ビア21と本体43との間、第2ビア22と本体43との間、本体43の側面、及び、第1ビア21と第2ビア22が貫通しない第1面20a及び第2面20bの部分に、電気絶縁層28が設けられる。
LEDチップ10は、フリップチップ法によりシリコン基板20の上に設けられ、LEDチップ10は、透明基板11、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、活性半導体層12b、少なくとも1つの第1パッド14、及び、少なくとも1つの第2パッド15を有する。一実施形態において、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。エピ型の積層構造12では、第1型半導体層12cが透明基板11上に設けられ、第2型半導体層12aは第1型半導体層12c上に設けられ、活性半導体層12bは、第1型半導体層12cと第2型半導体層12aとの間に設けられる。第1パッド14は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aに設けられ、第3パッド23に電気的に接続される。第2パッド15は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aに設けられ、第4パッド24に電気的に接続される。
一実施形態において、LEDチップ10は更に、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aに設けられる電気絶縁層16を有し、第1パッド14と第2パッド15を分離する。一実施形態において、第2パッド15と第2型半導体層12aとの間及び電気絶縁層16と第2型半導体層12aとの間に、均一な電流分配層又は電流拡散層17を配置してもよい。このような電流分配層又は電流拡散層17は、例えば、金属の導電層又は透明な導電層である。更に、シリコン基板20の本体43の周辺部の側面は、第2面20bにほぼ垂直である。一実施形態において、第1パッド14と第2パッド15との間の距離d1、第3パッド23と第4パッド24との間の距離d2、及び、第1電極25と第2電極26との間の距離d3は、ほぼ同じである。これに替えて、第1パッド14と第2パッド15との間の距離d1は、第3パッド23と第4パッド24との間の距離d2、及び、第1電極25と第2電極26との間の距離d3よりも大きくてもよい。一実施形態において、LEDチップ10の周辺面は、シリコン基板20の本体43の周辺面と同一平面を成す、対応している又は揃えられている。シリコン基板20は、フリップチップ型LED30全体の放熱性を改善させる。
一実施形態において、第1型半導体層12cは、P型半導体層であり、第2型半導体層12aは、N型半導体層である。第1パッド14及び第2パッド15はそれぞれ、P型コンタクト層及びN型コンタクト層である。これに替えて、第1型半導体層12cは、N型半導体層であり、第2型半導体層12aは、P型半導体層であってもよい。この場合、第1パッド14及び第2パッド15はそれぞれ、N型コンタクト層及びP型コンタクト層である。透明基板11は、サファイアであってもよい。フリップチップ型LED30は更に、LEDチップ10とシリコン基板20との間に接着層を備えてもよい。接着層は、少なくとも1つのオーミックコンタクト層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。透明基板11は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、これに変えて、不規則な形状の凹凸を有する表面を有してもよい。LEDチップ10は更に、エピ型の積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを貫通し、第1パッド14とエピ型積層構造12の第1型半導体層12cとを電気的に接続する複数の第3ビア13を備えてもよい。第3ビア13の数は、第1ビア21の数に等しくてもよく、この場合、電流拡散の効果を向上させることができる。第3パッド23、第1電極25及び第1パッド14の配置は、アプリケーションに応じて変更することができ、1つのパッド、複数のパッド、1つの電極、複数の電極、1つのコンタクト層又は複数のコンタクト層のような組み合わせを含んでもよい。パッド、電極及びコンタクト層の数はそれぞれ、第3ビア13の数又は第1ビア21の数に等しくてもよい。更に、LEDチップ10は、第3ビア13、第2型半導体層12a及び活性半導体層12bの間に電気絶縁層13aを有し、それにより、第3ビア13、第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを分離してもよい。更に、LEDチップ10において、例えば、第1パッド14又は第2パッド15の近傍に反射層を設けて、活性半導体層12bによって生成される光を反射して、光を、透明基板11の規則的な形状を有する凹凸面又は不規則な形状を有する凹凸面を通過させてLEDチップ10の外へ到達させることにより、LEDチップ10の照明効果を向上させてもよい。
図1〜図3に示すように、本開示は更に、以下に説明するフリップチップ型LED30の製造方法を提供する。
最初に、本体43を備えるシリコン基板20を準備する。シリコン基板20の本体43は、第1面20a、及び、第1面20aに対向する第2面20bを有する。
複数のスルーホール27が、シリコン基板20の本体43を貫通するように形成される。スルーホールの形成は、レーザー、機械的手段又はエッチングを使用して、シリコン基板20に孔を空けることによって行われてもよい。
その後、電気絶縁層28を、シリコン基板20の本体43及びスルーホール27に形成する。電気絶縁層28は、スルーホール27の壁面、及び、シリコン基板20の本体43の側面に設けられる。更に、電気絶縁層28が、スルーホール27が設けられていない第1面20a及び第2面20bの領域に設けられる。これは、蒸着法によって達成されてもよい。
次に、金属層29がシリコン基板20の本体43に形成され、スルーホール27が金属層29で満たされる。これは、電気めっき又は蒸着によって達成されてもよい。
そして、金属層29が平坦化処理され、複数の第1ビア21及び第2ビア22が形成される。これは、化学機械研磨(CMP)又はエッチングによって達成されてもよい。
そして、複数の第3パッド23、第4パッド24、第1電極25及び第2電極26が形成される。第3パッド23は、第1ビア21によって電気的に第1電極25と接続される。第4パッド24は、第2ビア22を介して、第2電極26と電気的に接続される。これは、金属層電気めっき(又は堆積)及び平坦化処理(CMP又はエッチングを使用した)によって達成されてもよい。
このようにして、シリコン基板20の処理が完了する。シリコン基板20は、本体43、複数の第3パッド23、第4パッド24、第1電極25、第2電極26、複数の第1ビア21、及び、第2ビア22を有する。シリコン基板20の本体43は、第1面20a、及び、第1面20aに対向する第2面20bを有する。第3パッド23及び第4パッド24は、第1面20aに設けられている。第1電極25及び第2電極26は、第2面20bに設けられる。第1ビア21は、シリコン基板20の本体43を貫通し、電気的に第3パッド23と第1電極25とを接続する。第2ビアは、シリコン基板20の本体43を貫通し、電気的に第4パッド24と第2電極26とを接続する。更に、シリコン基板20は、電気絶縁層28を有する。電気絶縁層28は、第1ビア21と本体43との間、第2ビア22と本体43との間、本体の側面、及び、スルーホール27が貫通しない第1面20a及び第2面20bの領域43に設けられる。
透明基板11、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、活性半導体層12b、少なくとも1つの第1パッド14、及び、少なくとも1つの第2パッド15を有するLEDチップ10が、設けられる。一実施形態において、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。エピ型の積層構造12では、第1型半導体層12cが透明基板11上に設けられ、第2型半導体層12aは第1型半導体層上に設けられ、活性半導体層12bは、第1型半導体層12cと第2型半導体層12aとの間に設けられる。第1パッド14は、エピ型積層構造12の第1型半導体層12cに設けられ、第2パッド15は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aに設けられる。
その後、シリコン基板20及びLEDチップ10が互いに接合される。これにより、第1パッド14及び第2パッド15がそれぞれ、第3パッド23及び第4パッド24と電気的に接続される。
LEDチップ10は更に、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aに設けられる電気絶縁層16を有し、第1パッド14と第2パッド15を分離する。
一実施形態において、シリコン基板の大きな1片とLEDウェハとの間で、アライメント型のフリップチップボンディングが実行されて、フリップチップボンディング構造が形成される。一実施形態において、シリコン基板の大きな1片は、複数のシリコン基板20を含み、LEDウェハは、複数のLEDチップ10を含む。そして、フリップチップボンディング構造は、複数の個々のフリップチップ型LED30へと切断される。
別の実施形態では、シリコン基板の大きな1片と複数のLEDチップ10との間で、アライメント型のフリップチップボンディングがまず実行される。一実施形態において、シリコン基板の大きな1片は、複数のシリコン基板20を含む。そして、シリコン基板の大きな1片が、複数の個々のフリップチップ型LED30へと切断される。
更なる別の実施形態では、複数のシリコン基板20とLEDウェハとの間で、アライメント型のフリップチップボンディングがまず実行される。一実施形態において、LEDウェハは、複数のLEDチップ10を含む。そして、LEDウェハが、複数の個々のフリップチップ型LED30へと切断される。
更なる実施形態において、シリコン基板20とLEDチップ10との間のアライメント型フリップチップ接合が実行される。そして、フリップチップ型LED30が、切断工程を行うことなく形成される。
一実施形態において、第1型半導体層12cはP型半導体層であり、第2型半導体層12aはN型半導体層であり、第1パッド14及び第2パッド15はそれぞれ、P型コンタクト層及びN型コンタクト層である。これに替えて、第1型半導体層12cはN型半導体層であり、第2型半導体層12aはP型半導体層であり、第1パッド14及び第2パッド15はそれぞれ、N型コンタクト層及びP型コンタクト層であってもよい。透明基板11は、サファイアであってもよい。一実施形態において、接合工程は、LEDチップ10とシリコン基板20との間に接着層を形成することを含む。接着層は、少なくとも1つのオーミック層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。透明基板11は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、これに変えて、不規則な形状の凹凸を有する表面を有してもよい。LEDチップ10は更に、エピ型の積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを貫通し、第1パッド14とエピ型積層構造12の第1型半導体層12cとを電気的に接続する複数の第3ビア13を備えてもよい。更に、LEDチップ10は、電気絶縁層13aを有してもよい。第3ビア13、第2型半導体層12a及び活性半導体層12bの間に電気絶縁層13aを設け、第3ビア13、第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを分離してもよい。更に、LEDチップ10において、例えば、第1パッド14又は第2パッド15の近傍に反射層を設けて、活性半導体層12bによって生成される光を反射して、光を、透明基板11の規則的な形状を有する凹凸面又は不規則な形状を有する凹凸面を通過させてLEDチップ10の外へ到達させることにより、LEDチップ10の照明効果を向上させてもよい。
[第2実施形態]
図4〜図5に示すように、本開示は更に、シリコン基板20、透明基板11、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、活性半導体層12b、接着層、複数の第1ビア44、第2ビア45、第1電極25、及び、第2電極26を備えるフリップチップ型LED50を提供する。シリコン基板20は、本体43を有する。シリコン基板20の本体43は、第1面20a、及び、第1面20aに対向する第2面20bを有する。第1電極25及び第2電極26は、第2面20bの下に設けられる。一実施形態において、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。エピ型の積層構造12では、第1型半導体層12cが透明基板11上に設けられ、第2型半導体層12aは第1型半導体層12c上に設けられ、活性半導体層12bは、第1型半導体層12cと第2型半導体層12aとの間に設けられる。接着層は、第2型半導体層12aとシリコン基板20の第1面20aとの間に設けられ、バリア層41及び接合層42を含む。バリア層41は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aと接触しており、接合層42は、シリコン基板20の第1面20aと接触している。第1ビア44は、シリコン基板20の本体43、接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)、第2型半導体層12a、及び、エピ型積層構造12の活性半導体層12bを貫通する。第1ビア44は、エピ型積層構造12の第1型半導体層12cと第1電極25とを電気的に接続する。第2ビア45は、シリコン基板20の本体43を貫通し、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aと第2電極26とを電気的に接続する。一実施形態において、第2ビア45は、シリコン基板20の本体43及び接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)を貫通する。更に、シリコン基板20の本体43の周辺部の側面は、第2面20bにほぼ垂直である。シリコン基板20は、フリップチップ型LED50全体の放熱性を改善させる。
一実施形態において、第1型半導体層12cは、P型半導体層であり、第2型半導体層12aは、N型半導体層である。これに替えて、第1型半導体層12cは、N型半導体層であり、第2型半導体層12aは、P型半導体層であってもよい。透明基板11は、サファイアであってもよい。接着層は、少なくとも1つのオーミックコンタクト層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。透明基板11は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、これに変えて、不規則な形状の凹凸を有する表面を有してもよい。第1電極25は、1つの電極又は複数の電極を含んでもよく、第1電極の数は、第1ビア44の数に等しくてもよい。
一実施形態において、フリップチップ型LED50は更に、電気絶縁層44aを備えてもよい。電気絶縁層44aは、第1ビア44とシリコン基板20の本体43との間、第1ビア44と接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)との間、第1ビア44とエピ型積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bとの間、第2ビア45とシリコン基板20の本体43との間、及び、シリコン基板20の本体43の側面に設けられてもよい。更に、電気絶縁層44aは、第1ビア44及び第2ビア45が設けられていない第2面20bの領域に設けられてもよい。更に、電気絶縁層は、接合層42とシリコン基板20の本体43との間に設けられてもよい。更に、フリップチップ型LEDチップ50において、例えば、第1電極25又は第2電極26の近傍に反射層を設けて、活性半導体層12bによって生成される光を反射して、光を、透明基板11の規則的な形状を有する凹凸面又は不規則な形状を有する凹凸面を通過させてLEDチップ50の外へ到達させることにより、LEDチップ50の照明効果を向上させてもよい。
図4〜図5に示すように、本開示は更に、以下に説明するフリップチップ型LED50の製造方法を提供する。
始めに、透明基板11を準備する。
次に、第1型半導体層12cを、透明基板11上に形成する。
そして、活性半導体層12bが、第1型半導体層12cに形成される。
続いて、第2型半導体層12aが活性半導体層12b上に形成される。一実施形態において、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。
その後、接着層が、エピ型積層構造12の第2型半導体層12a上に形成される。
次に、シリコン基板20が、接着層の上に形成される。シリコン基板20は、第1面20a及び第1面20aに対向する第2面20bを有する本体43を含む。第1面20aは、接着層と接する。接着層は、バリア層41及び接合層42を含む。バリア層41は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aと接触しており、接合層42は、シリコン基板20の第1面20aと接触している。
そして、複数の第1スルーホール47及び第2スルーホール48が形成される。第1スルーホール47は、シリコン基板20の本体43、接合層42、バリア層41、第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを貫通する。第2スルーホール48は、シリコン基板20の本体43を貫通する。スルーホールの形成は、レーザー、機械的手段又はエッチングを使用して、シリコン基板20に孔を空けることによって行われてもよい。
次に、電気絶縁層44aが、シリコン基板20の本体43、第1スルーホール47及び第2スルーホール48に形成される。特に、電気絶縁層44aは、第1スルーホール47及び第2スルーホール48の壁面に設けられる。電気絶縁層44aはまた、第1ルーホール47及び第2スルーホール48が設けられていない第2面20bのような、シリコン基板20の本体43の側面に設けられる。
そして、複数の第1ビア44が、シリコン基板20の本体43、接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)、及び、エピ型積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを貫通するように形成される。これは、金属層電気めっき(又は堆積)及び平坦化処理(CMP又はエッチングを使用した)によって達成されてもよい。
次に、第2ビア45が、シリコン基板20の本体43及び接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)を貫通するように形成される。
その後、第1電極25が、電気的に第1ビア44と接続されるように、シリコン基板20の第2面20b上に形成される。
第2電極26が、電気的に第2ビア45と接続されるように、シリコン基板20の第2面20b上に形成される。
一実施形態において、始めに、半導体ウェハ処理が実行される。そして、複数のフリップチップ型LED50を別個にするべく、切断プロセスが実行される。
一実施形態において、第1型半導体層12cは、P型半導体層であり、第2型半導体層12aは、N型半導体層である。これに替えて、第1型半導体層12cは、N型半導体層であり、第2型半導体層12aは、P型半導体層であってもよい。透明基板11は、サファイアであってもよい。接着層は、少なくとも1つのオーミックコンタクト層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。透明基板11は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、これに変えて、不規則な形状の凹凸を有する表面を有してもよい。電気絶縁層44aは、第1ビア44とシリコン基板20の本体43との間、第1ビア44と接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)との間、第1ビア44とエピ型積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bとの間、第2ビア45とシリコン基板20の本体43との間に設けられてもよい。電気絶縁層44aはまた、第1ビア44及び第2ビア45が設けられていない第2面20bのような、シリコン基板20の本体43の側面に設けられる。更に、電気絶縁層は、接合層42とシリコン基板20の本体43との間に設けられてもよい。更に、フリップチップ型LEDチップ50において、例えば、第1電極25又は第2電極26の近傍に反射層を設けて、活性半導体層12bによって生成される光を反射して、光を、透明基板11の規則的な形状を有する凹凸面又は不規則な形状を有する凹凸面を通過させてLEDチップ50の外へ到達させることにより、LEDチップ50の照明効果を向上させてもよい。
[第3実施形態]
図1及び図6〜7に示すように、本開示は更に、シリコン基板又は電気的絶縁基板60、及び、LEDチップ10を備えるフリップチップ型LED70を提供する。説明を簡略にするため、LEDチップ10の詳細については繰り返し記載しない。電気的絶縁基板60は、本体69、複数の第1パッド63、第2パッド64、第1電極65、第2電極66、複数の第1ビア61、及び、第2ビア62を有する。電気的絶縁基板60の本体69は、第1面60a、及び、第1面60aに対向する第2面60bを有する。第1パッド63及び第2パッド64は、第1面60aに設けられている。第1電極65及び第2電極66は、第2面60bに設けられる。第1ビア61は、電気的絶縁基板60の本体69を貫通し、電気的に第1パッド63と第1電極65とを接続する。第2ビア62は、電気的絶縁基板60の本体69を貫通し、電気的に第2パッド64と第2電極66とを接続する。一実施形態において、電気的絶縁基板60の本体69の周辺部の側面は、第2面60bにほぼ垂直である。一実施形態において、第1パッド14と第2パッド15との間の距離d1、第1パッド63と第2パッド64との間の距離d4、及び、第1電極65と第2電極66との間の距離d5は、ほぼ同じである。これに替えて、第1パッド14と第2パッド15との間の距離d1は、第1パッド63と第2パッド64との間の距離d4、及び、第1電極65と第2電極66との間の距離d5よりも大きくてもよい。一実施形態において、LEDチップ10の周辺面は、電気的絶縁基板60の本体69の周辺面と同一平面を成す、対応している又は揃えられている。
電気的絶縁基板60は、電気的には伝導しないが、熱伝導性を有する基板であってもよい。フリップチップ型LED70は更に、LEDチップ10と電気的絶縁基板60との間に接着層を備えてもよい。接着層は、少なくとも1つのオーミックコンタクト層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。第3ビア13の数は、第1ビア61の数と等しくてもよい。第1パッド63、第1電極65及び第1パッド14の配置は、アプリケーションに応じて変更することができ、1つのパッド、複数のパッド、1つの電極、複数の電極、1つのコンタクト層又は複数のコンタクト層のような組み合わせを含んでもよい。パッド、電極及びコンタクト層の数はそれぞれ、第3ビア13の数又は第1ビア61の数に等しくてもよい。電気的絶縁基板60は、フリップチップ型LED70全体の放熱性を改善させる。
図1及び図6〜7に示すように、本開示は更に、以下に説明するフリップチップ型LED70の製造方法を提供する。
最初に、電気的絶縁基板60が用意される。電気的絶縁基板60は、第1面60a及び第1面60aに対向する第2面60bを有する本体69を含む。
次に、電気的絶縁基板60の本体69を貫通する複数のスルーホール67が形成される。スルーホールの形成は、レーザー、機械的手段又はエッチングを使用して、電気的絶縁基板60に孔を空けることによって行われてもよい。
そして、金属層69aが電気的絶縁基板60の本体69に形成され、スルーホール67が金属層69aで満たされる。これは、電気めっき又は堆積によって達成されてもよい。
そして、金属層69aが平坦化処理され、複数の第1ビア61及び第2ビア62が形成される。これは、CMP又はエッチングによって達成されてもよい。
次に、第1パッド63、第2パッド64、第1電極65及び第2電極66が形成される。第1ビア61は、第1パッド63と第1電極65とを電気的に接続する。第2ビア62は、第2パッド64と第2電極66とを電気的に接続する。これは、金属層電気めっき(又は堆積)及び平坦化処理(CMP又はエッチングを使用した)によって達成されてもよい。
上記の電気的絶縁基板60の製造工程により、電気的絶縁基板60が提供される。電気的絶縁基板60は、本体69、複数の第1パッド63、第2パッド64、第1電極65、第2電極66、複数の第1ビア61、及び、第2ビア62を有する。電気的絶縁基板60の本体69は、第1面60a、及び、第1面60aに対向する第2面60bを有する。第1パッド63及び第2パッド64は、第1面60aに設けられ、第1電極65及び第2電極66は、第2面60bに設けられている。第1ビアは、電気的絶縁基板60の本体69を貫通し、電気的に第1パッド63と第1電極65とを接続する。第2ビア62は、電気的絶縁基板60の本体69を貫通し、電気的に第2パッド64と第2電極66とを接続する。
そして、LEDチップ10が設けられる。LEDチップ10は、透明基板11、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、活性半導体層12b、第1パッド14及び第2パッド15を有する。一実施形態において、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。エピ型の積層構造12では、第1型半導体層12cが透明基板11上に設けられ、第2型半導体層12aは第1型半導体層12c上に設けられ、活性半導体層12bは、第1型半導体層12cと第2型半導体層12aとの間に設けられる。第1パッド14は、エピ型積層構造12の第1型半導体層12c上に設けられる。第2パッド15は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12a上に設けられる。
そして、電気的絶縁基板60とLEDチップ10とが、第1パッド14及び第2パッド15とをそれぞれ、第1パッド63及び第2パッド64に接続することにより接合される。
一実施形態において、シリコン基板の大きな1片とLEDウェハとの間で、アライメント型のフリップチップ接合が実行されて、フリップチップ接合構造が形成される。一実施形態において、シリコン基板の大きな1片は、複数の電気的絶縁基板60を含み、LEDウェハは、複数のLEDチップ10を含む。そして、フリップチップ接合構造は、複数の個々のフリップチップ型LED70へと切断される。
別の実施形態では、シリコン基板の大きな1片と複数のLEDチップ10との間で、アライメント型のフリップチップ接合がまず実行される。一実施形態において、シリコン基板の大きな1片は、複数の電気的絶縁基板60を含む。そして、シリコン基板の大きな1片が、複数の個々のフリップチップ型LED70へと切断される。
更なる実施形態において、複数の電気絶縁基板60とLEDウェハとの間のアライメント型フリップチップ接合が実行される。一実施形態において、LEDウェハは、複数のLEDチップ10を含む。そして、LEDウェハが、複数の個々のフリップチップ型LED30へと切断される。
更なる実施形態において、電気的絶縁基板60とLEDチップ10との間のアライメント型フリップチップボンディングが実行される。そして、フリップチップ型LED70が、切断工程を行うことなく形成される。
[第4実施形態]
図8〜図9に示すように、本開示は更に、電気的絶縁基板60、透明基板11、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、活性半導体層12b、接着層、複数の第1ビア84、第2ビア85、第1電極65、及び、第2電極66を備えるフリップチップ型LED80を提供する。電気的絶縁基板60は、本体69を有する。電気的絶縁基板60の本体69は、第1面60a、及び、第1面60aに対向する第2面60bを有する。第1電極65及び第2電極66は、第2面60bに設けられる。一実施形態において、第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。エピ型の積層構造12では、第1型半導体層12cが透明基板11上に設けられ、第2型半導体層12aは第1型半導体層12c上に設けられ、活性半導体層12bは、第1型半導体層12cと第2型半導体層12aとの間に設けられる。接着層は、第2型半導体層12aとシリコン基板20の第1面60aとの間に設けられ、バリア層41及び接合層42を含む。バリア層41は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aと接触しており、接合層42は、電気的絶縁基板60の第1面60aと接触している。第1ビア84は、電気的絶縁基板60の本体69、接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)、第2型半導体層12a、及び、エピ型積層構造12の活性半導体層12bを貫通する。第1ビア44は、エピ型積層構造12の第1型半導体層12cと第1電極65とを電気的に接続する。第2ビア85は、電気的絶縁基板60の本体69を貫通し、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aと第2電極66とを電気的に接続する。一実施形態において、第2ビア85は、電気的絶縁基板60の本体69及び接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)を貫通する。更に、電気的絶縁基板60の本体69の周辺部の側面は、第2面60bにほぼ垂直である。電気的絶縁基板60は、フリップチップ型LED80全体の放熱性を改善させる。
フリップチップ型LED80は更に、電気絶縁層84aを有する。電気絶縁層84aは、第1ビア84と、本体69の接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)との境界部分の間、第1ビア84と接着層との間、第1ビア84とエピ型積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bとの間に設けられてもよい。電気絶縁層84aはまた、第2ビア85と本体69の接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)との境界部分との間、及び、第2ビア85と接着層との間にも設けられてもよい。
一実施形態において、第1型半導体層12cは、P型半導体層であり、第2型半導体層12aは、N型半導体層である。これに替えて、第1型半導体層12cは、N型半導体層であり、第2型半導体層12aは、P型半導体層であってもよい。透明基板11は、サファイアであってもよい。接着層は、少なくとも1つのオーミックコンタクト層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。第1電極65は、1つの電極又は複数の電極を含んでもよい。第1電極の数は、第1ビア84の数と等しくてもよい。透明基板11は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、これに変えて、不規則な形状の凹凸を有する表面を有してもよい。更に、LEDチップ80において、例えば、第1電極65又は第2電極66の近傍に反射層を設けて、活性半導体層12bによって生成される光を反射して、光を、透明基板11の規則的な形状を有する凹凸面又は不規則な形状を有する凹凸面を通過させてLEDチップ80の外へ到達させることにより、LEDチップ80の照明効果を向上させてもよい。
図8〜図9に示すように、本開示は更に、以下に説明するフリップチップ型LED70の製造方法を提供する。
最初に、透明基板11が用意される。
次に、第1型半導体層12cを、透明基板11上に形成する。
そして、活性半導体層12bが、第1型半導体層12cに形成される。
続いて、第2型半導体層12aが活性半導体層12b上に形成される。第1型半導体層12c、第2型半導体層12a、及び、活性半導体層12bは、エピ型の積層構造12を形成する。
その後、接着層が、エピ型積層構造12の第2型半導体層12a上に形成される。
次に、電気的絶縁基板60が、接着層の上に接合される。電気的絶縁基板60は、第1面60a及び第1面60aに対向する第2面60bを有する本体69を含む。第1面60aは、接着層と接する。接着層は、バリア層41及び接合層42を含む。バリア層41は、エピ型積層構造12の第2型半導体層12aと接触しており、接合層42は、電気的絶縁基板60の第1面60aと接触している。
そして、複数の第1スルーホール87及び第2スルーホール88が形成される。第1スルーホール87は、電気的絶縁基板60の本体69、接合層42、バリア層41、第2型半導体層12a及び活性半導体層12bを貫通する。第2スルーホール88は、電気的絶縁基板60の本体69を貫通する。スルーホールの形成は、レーザー、機械的手段又はエッチングを使用して、電気的絶縁基板60に孔を空けることによって行われてもよい。
次に、電気絶縁層84aが、第1スルーホール87及び第2スルーホール88に部分的に形成される。電気絶縁層84aは、第1スルーホール87及び第2スルーホール88の壁面に設けられる。電気絶縁層84aは、エピ型積層構造12及び接着層に設けられた第1スルーホール87の壁面を覆い、更に、接着層に設けられた第1スルーホール87及び第2スルーホール88の壁面の少なくとも一部、及び、接着層と境界を成す本体69の一部を覆う。これは、堆積法によって達成されてもよい。
その後、複数の第1ビア84が形成される。第1ビア84は、電気的絶縁基板60の本体69、接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)、第2型半導体層12a、及び、エピ型積層構造12の活性半導体層12bを貫通する。これは、金属層電気めっき(又は堆積)及び平坦化処理(CMP又はエッチングを使用した)によって達成されてもよい。
そして、第2ビア85が形成される。第2ビア85は、電気的絶縁基板60の本体69を貫通する。一実施形態において、第2ビア85は、電気的絶縁基板60の本体69及び接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)を貫通する。
次に、第1電極65が、電気的絶縁基板60の第2面60b上に形成される。第1電極65は、電気的に第1ビア84と接続される。
そして、第2電極66が、気的絶縁基板60の第2面60b上に形成される。第2電極66は、電気的に第2ビア85と接続される。
一実施形態において、始めに、半導体ウェハ処理が実行される。そして、複数のフリップチップ型LED80を別個にするべく、切断プロセスが実行される。
一実施形態において、第1型半導体層12cは、P型半導体層であり、第2型半導体層12aは、N型半導体層である。これに替えて、第1型半導体層12cは、N型半導体層であり、第2型半導体層12aは、P型半導体層であってもよい。透明基板11は、サファイアであってもよい。接着層は、少なくとも1つのオーミックコンタクト層、反射層、接合層、バリア層、又は、これらの1以上の組み合わせを含んでもよい。透明基板11は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、これに変えて、不規則な形状の凹凸を有する表面を有してもよい。電気絶縁層84aは、第1ビア84と、本体69の接着層(例えば、バリア層41及び接合層42)との境界部分の間、第1ビア84と接着層との間、第1ビア84とエピ型積層構造12の第2型半導体層12a及び活性半導体層12bとの間に設けられてもよい。更に、電気絶縁層は、接合層42と電気的絶縁基板60との間に設けられてもよい。また、LEDチップ80において、例えば、第1電極65又は第2電極66の近傍に反射層を設けて、活性半導体層12bによって生成される光を反射して、光を、透明基板11の規則的な形状を有する凹凸面又は不規則な形状を有する凹凸面を通過させてLEDチップ80の外へ到達させることにより、LEDチップ80の照明効果を向上させてもよい。
従来のLEDパッケージに関する問題を解決するために、本開示では、シリコン基板又は電気的に絶縁された基板を含むLEDチップを提供する。LEDチップは、透明な基板、及び、透明な基板の表面上に形成されたN型半導体層、発光層及びP型半導体層を含む半導体層を備える。LEDチップは更に、P型半導体層とシリコン基板又は電気的に絶縁された基板との間に、コンタクト層を備える。コンタクト層は、P型半導体層と、シリコン基板又は電気的絶縁基板との間に設けられる。LEDチップは、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面からN型半導体層までを貫通する複数の第1金属導電プラグと、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面からP型半導体層までを貫通する複数の第2金属導電プラグと、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面に設けられ第1金属導電プラグと電気的に接続されるN型電極と、シリコン基板又は電気的絶縁基板の底面に設けられ第2金属導電プラグと電気的に接続されるP型電極とを備える。LEDチップは、フリップチップ型の方法により、基板と電気的に接続される。したがって、シリコン基板又は電気的絶縁基板は、LEDフリップチップ構造を高い位置に配置することが可能となるので、逆電流及び短絡現象の発生を回避することができる。更に、シリコン基板又は電気的絶縁基板は、高い電流によるLEDフリップチップ構造の絶縁破壊を回避するべく、ツェナーダイオードであってもよい。
本開示の上記の実施形態では、複数の導電性金属プラグが、シリコン基板又は電気的に絶縁された基板に、ダマシンプロセスによって形成される。そして、シリコン基板又は電気的に絶縁された基板が、共晶接合により、LEDチップの半導体層と接合される。
本開示の上記の実施形態では、シリコン基板又は電気的絶縁基板は、LEDチップの半導体層に接合される。フォトリソグラフィー及び金属堆積によって、複数の第1金属導電プラグ及び複数の第2金属導電プラグが、LEDチップ内に形成される。電気絶縁層が、金属導電プラグの側面付近に形成されるため、電気接続による短絡を回避できる。
本開示の上記の実施形態では、LEDチップの透明基板は更に、透明基板の他方の側の半導体層に設けられるパターニングされた構造を有する。パターニングされた構造は、照明を向上させる規則的なパターン又は不規則なパターンを含んでもよい。
本開示の上記の実施形態では、LEDチップのP型電極及びN型電極は、共晶接合又はリフローによって、基板上の電極と電気的に接続されてもよい。
本開示の上記の実施形態では、LEDフリップチップ構造の上方に、光学変換材料を配置してもよい。光学変換材料は、LEDフリップチップ構造によって励起されて、光混合した時に白色光を生成してもよい。
上記の実施形態において、基板は、シリコン基板又は電気的絶縁基板であってもよい。シリコン基板の場合、電気絶縁層をビアの壁面及びシリコン基板の表面に設ける必要がある。電気絶縁基板の場合には、電気絶縁層は必要ない。
本開示が、例として及び望ましい実施形態の観点で説明されたが、本開示は、開示された実施形態に限定されないことは理解されるべきである。反対に、本開示は、(当業者にとって明らかな)様々な変形例及び同様な配置も範囲に含むことを意図している。したがって、添付の特許請求の範囲は、このような変形及び同様な配置を全て包括するべく最も広い解釈が適用されるべきである。

Claims (4)

  1. 第1面及び前記第1面に対向する第2面を有する本体を有する基板と、
    透明基板と、
    前記透明基板上に設けられたN型半導体層と、
    前記N型半導体層上に設けられた活性半導体層と、
    前記活性半導体層上に設けられたP型半導体層と、
    前記P型半導体層と前記基板の前記第1面との間に設けられた接着層と、
    前記基板の前記本体、前記接着層、前記P型半導体層及び前記活性半導体層を貫通する複数の第1ビアと、
    前記基板の前記本体及び前記接着層を貫通する第2ビアと、
    前記複数の第1ビアと前記基板の前記本体との間、前記複数の第1ビアと前記接着層との間、前記複数の第1ビアと前記P型半導体層及び前記活性半導体層との間、前記第2ビアと前記基板の前記本体との間、前記第2ビアと前記接着層との間、及び、前記基板の前記本体の側面全体に設けられる電気絶縁層と
    を備え発光ダイオード(LED)。
  2. 前記基板は、シリコン基板又は電気絶縁基板を含み、
    前記透明基板は、サファイアを含む請求項1に記載のLED。
  3. 前記透明基板は、規則的な形状の凹凸を有する表面、又は、不規則な形状の凹凸を有する表面を含む請求項1または2に記載のLED。
  4. 前記本体の前記第2面に設けられた第1電極と、
    前記本体の前記第2面に設けられた第2電極とを更に備え、
    前記複数の第1ビアは、前記N型半導体層と前記第1電極とを電気的に接続し、
    前記第2ビアは、前記P型半導体層と前記第2電極とを電気的に接続する請求項1から3の何れか1項に記載のLED。
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Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6102408B2 (ja) * 2013-03-27 2017-03-29 豊田合成株式会社 発光装置、及びその製造方法
WO2014174400A1 (en) * 2013-04-23 2014-10-30 Koninklijke Philips N.V. Side interconnect for light emitting device
DE102013109316A1 (de) 2013-05-29 2014-12-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung einer Mehrzahl von optoelektronischen Halbleiterchips und optoelektronischer Halbleiterchip
KR102075981B1 (ko) 2014-02-21 2020-02-11 삼성전자주식회사 발광다이오드 패키지의 제조방법
CN103794689A (zh) * 2014-02-25 2014-05-14 深圳市兆明芯科技控股有限公司 覆晶式led芯片的制作方法
DE102014103828A1 (de) 2014-03-20 2015-09-24 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung von optoelektronischen Halbleiterbauelementen
KR102019914B1 (ko) * 2014-06-11 2019-11-04 엘지이노텍 주식회사 발광 소자
CN105591009A (zh) * 2014-10-24 2016-05-18 展晶科技(深圳)有限公司 发光二极管封装结构
TWI557943B (zh) * 2014-11-18 2016-11-11 錼創科技股份有限公司 發光元件的電極結構
CN106887488B (zh) * 2015-12-15 2019-06-11 群创光电股份有限公司 发光二极管及使用此发光二极管所制得的显示装置
DE102017117414A1 (de) 2017-08-01 2019-02-07 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements und optoelektronisches Bauelement
CN107910407A (zh) * 2017-11-10 2018-04-13 江苏新广联半导体有限公司 一种大功率倒装led芯片的制作方法
DE102018111954B4 (de) * 2018-05-17 2022-02-24 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur herstellung eines halbleiterbauelements mit isolierendem substrat und halbleiterbauelement mit isolierendem substrat und optoelektronische vorrichtung dieses umfassend
CN109524526B (zh) * 2018-11-19 2020-07-31 华中科技大学鄂州工业技术研究院 深紫外发光二极管芯片及其制备方法
KR102170219B1 (ko) * 2019-09-03 2020-10-26 엘지이노텍 주식회사 발광 소자 및 발광 소자 패키지
TWI744194B (zh) * 2021-02-23 2021-10-21 晶呈科技股份有限公司 發光二極體封裝結構及其製作方法

Family Cites Families (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW465123B (en) 2000-02-02 2001-11-21 Ind Tech Res Inst High power white light LED
US6611002B2 (en) * 2001-02-23 2003-08-26 Nitronex Corporation Gallium nitride material devices and methods including backside vias
JP2002368263A (ja) 2001-06-06 2002-12-20 Toyoda Gosei Co Ltd Iii族窒化物系化合物半導体発光素子
JP2005079551A (ja) * 2003-09-03 2005-03-24 Toyoda Gosei Co Ltd 半導体発光素子形成用複合基板及びその製造方法、並びに半導体発光素子の製造方法。
TWI220578B (en) * 2003-09-16 2004-08-21 Opto Tech Corp Light-emitting device capable of increasing light-emitting active region
JP2005322722A (ja) * 2004-05-07 2005-11-17 Korai Kagi Kofun Yugenkoshi 発光ダイオード
US7736945B2 (en) * 2005-06-09 2010-06-15 Philips Lumileds Lighting Company, Llc LED assembly having maximum metal support for laser lift-off of growth substrate
TWI422044B (zh) 2005-06-30 2014-01-01 Cree Inc 封裝發光裝置之晶片尺度方法及經晶片尺度封裝之發光裝置
JP5073946B2 (ja) 2005-12-27 2012-11-14 新光電気工業株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法
JP4996096B2 (ja) * 2006-01-06 2012-08-08 新光電気工業株式会社 発光装置及びその製造方法
US7439548B2 (en) * 2006-08-11 2008-10-21 Bridgelux, Inc Surface mountable chip
US7902564B2 (en) * 2006-12-22 2011-03-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Multi-grain luminescent ceramics for light emitting devices
US8232564B2 (en) * 2007-01-22 2012-07-31 Cree, Inc. Wafer level phosphor coating technique for warm light emitting diodes
DE102007022947B4 (de) * 2007-04-26 2022-05-05 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Optoelektronischer Halbleiterkörper und Verfahren zur Herstellung eines solchen
JP2008300501A (ja) 2007-05-30 2008-12-11 Panasonic Corp 半導体発光素子、半導体発光装置およびその製造方法
DE102007030129A1 (de) 2007-06-29 2009-01-02 Osram Opto Semiconductors Gmbh Verfahren zur Herstellung einer Mehrzahl optoelektronischer Bauelemente und optoelektronisches Bauelement
WO2009007974A2 (en) 2007-07-12 2009-01-15 Hi-G-Tek Inc. Valve cover lock
KR20090010623A (ko) * 2007-07-24 2009-01-30 삼성전기주식회사 발광다이오드 소자
JP5251038B2 (ja) * 2007-08-23 2013-07-31 豊田合成株式会社 発光装置
JP2009134965A (ja) * 2007-11-29 2009-06-18 Stanley Electric Co Ltd 照明装置及び照明装置の製造方法
US20090173956A1 (en) 2007-12-14 2009-07-09 Philips Lumileds Lighting Company, Llc Contact for a semiconductor light emitting device
DE102008034560B4 (de) 2008-07-24 2022-10-27 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Strahlungsemittierender Halbleiterchip und Verfahren zur Herstellung eines strahlungsemittierenden Halbleiterchips
JP2010103186A (ja) * 2008-10-21 2010-05-06 Sony Corp 半導体発光装置の製造方法
US20100109025A1 (en) * 2008-11-05 2010-05-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Over the mold phosphor lens for an led
DE102009019161A1 (de) * 2009-04-28 2010-11-04 Osram Opto Semiconductors Gmbh Leuchtdiode und Verfahren zur Herstellung einer Leuchtdiode
DE102009032486A1 (de) 2009-07-09 2011-01-13 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronisches Bauelement
KR20110008550A (ko) * 2009-07-20 2011-01-27 삼성전자주식회사 발광 소자 및 그 제조 방법
JP4454689B1 (ja) * 2009-09-10 2010-04-21 有限会社ナプラ 発光ダイオード、発光装置、照明装置、ディスプレイ及び信号灯
JP5326957B2 (ja) * 2009-09-15 2013-10-30 豊田合成株式会社 発光素子の製造方法及び発光素子
DE102009053064A1 (de) 2009-11-13 2011-05-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Dünnfilm-Halbleiterbauelement mit Schutzdiodenstruktur und Verfahren zur Herstellung eines Dünnfilm-Halbleiterbauelements
CN102194947B (zh) * 2010-03-17 2015-11-25 Lg伊诺特有限公司 发光器件和发光器件封装
JP4657374B1 (ja) * 2010-06-16 2011-03-23 有限会社ナプラ 発光ダイオード、発光装置、照明装置及びディスプレイ
US8492788B2 (en) * 2010-10-08 2013-07-23 Guardian Industries Corp. Insulating glass (IG) or vacuum insulating glass (VIG) unit including light source, and/or methods of making the same

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