JP5855921B2 - ガス濃度調整装置 - Google Patents
ガス濃度調整装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5855921B2 JP5855921B2 JP2011266384A JP2011266384A JP5855921B2 JP 5855921 B2 JP5855921 B2 JP 5855921B2 JP 2011266384 A JP2011266384 A JP 2011266384A JP 2011266384 A JP2011266384 A JP 2011266384A JP 5855921 B2 JP5855921 B2 JP 5855921B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- flow rate
- line
- concentration
- gas line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 77
- 238000010790 dilution Methods 0.000 claims description 35
- 239000012895 dilution Substances 0.000 claims description 35
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 362
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 6
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000001179 sorption measurement Methods 0.000 description 6
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 4
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004925 denaturation Methods 0.000 description 2
- 230000036425 denaturation Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 2
- 101100023111 Schizosaccharomyces pombe (strain 972 / ATCC 24843) mfc1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000003204 osmotic effect Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
- G05D11/00—Control of flow ratio
- G05D11/02—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material
- G05D11/13—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means
- G05D11/131—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means by measuring the values related to the quantity of the individual components
- G05D11/132—Controlling ratio of two or more flows of fluid or fluent material characterised by the use of electric means by measuring the values related to the quantity of the individual components by controlling the flow of the individual components
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0006—Calibrating gas analysers
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/0318—Processes
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/7722—Line condition change responsive valves
- Y10T137/7758—Pilot or servo controlled
- Y10T137/7759—Responsive to change in rate of fluid flow
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/7722—Line condition change responsive valves
- Y10T137/7758—Pilot or servo controlled
- Y10T137/7761—Electrically actuated valve
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/8593—Systems
- Y10T137/87249—Multiple inlet with multiple outlet
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/8593—Systems
- Y10T137/87265—Dividing into parallel flow paths with recombining
- Y10T137/87281—System having plural inlets
- Y10T137/8729—Having digital flow controller
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/8593—Systems
- Y10T137/87265—Dividing into parallel flow paths with recombining
- Y10T137/87298—Having digital flow controller
- Y10T137/87306—Having plural branches under common control for separate valve actuators
- Y10T137/87314—Electromagnetic or electric control [e.g., digital control, bistable electro control, etc.]
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T137/00—Fluid handling
- Y10T137/8593—Systems
- Y10T137/87571—Multiple inlet with single outlet
- Y10T137/87676—With flow control
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Accessories For Mixers (AREA)
Description
さらに本発明に係るガス濃度調整方法は、第1ガスと第2ガスとを所定比率で混合して所定濃度の混合ガスを生成するものであり、第1ガスの流量を制御するための第1ガス流量調整機構が設けられた第1ガスラインと、第2ガスの流量を制御するための第2ガス流量調整機構が設けられた第2ガスラインと、前記第1ガスライン及び前記第2ガスラインを合流して所定濃度の混合ガスを出力する出力ガスラインと、前記第2ガスラインにおいて前記第2ガス流量調整機構の上流側に接続されており、開閉弁及び一定流量の第2ガスを流す流量調整部が設けられた排ガスラインとを具備するガス濃度調整装置を用いたガス濃度調整方法であって、前記第2ガスラインを流れる第2ガス流量又は前記第2ガスの種類に応じて、前記排ガスラインに設けられた開閉弁の開閉を切り換えることを特徴とする。
本実施形態に係る標準ガス濃度調整装置100は、例えば自動車のエンジン排ガス中のNOx等の成分濃度等を分析する排ガス分析装置を校正するための校正用標準ガスを生成するものであり、第1ガスである希釈ガスと第2ガスである標準ガスとを所定比率で混合して所定濃度の標準ガス(混合ガス)を生成する。例えば標準ガス濃度調整装置100は、希釈率(分割率=「標準ガス流量」/「希釈ガス流量」)として、0%〜100%まで適宜設定できるように構成されている。
このように構成した本実施形態の標準ガス濃度調整装置100によれば、標準ガスライン3の流量調整機構33の上流側に排ガスライン5を設けて、当該排ガスライン5に設けられた開閉弁51をガス流量に応じて開閉するようにしているので、標準ガスライン3における標準ガスの滞留を防止することができる。したがって、標準ガスの吸着や変性等の滞留により生じる問題を低減することができ、生成される標準ガスの濃度を所望の濃度に調整することができる。これにより、ガス分析装置の校正を正確に行うことができるようになる。
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
2 ・・・希釈ガスライン
23 ・・・希釈ガス流量調整機構
3 ・・・標準ガスライン
3a〜3c・・・分岐ライン
33 ・・・標準ガス流量調整機構
34 ・・・ライン切替機構
4 ・・・出力ガスライン
5 ・・・排ガスライン
51 ・・・開閉弁
52 ・・・流量調整部
6 ・・・制御部
Claims (6)
- 第1ガスと第2ガスとを所定比率で混合して所定濃度の混合ガスを生成するガス濃度調整装置であって、
第1ガスの流量を制御するための第1ガス流量調整機構が設けられた第1ガスラインと、
第2ガスの流量を制御するための第2ガス流量調整機構が設けられた第2ガスラインと、
前記第1ガスライン及び前記第2ガスラインを合流して所定濃度の混合ガスを出力する出力ガスラインと、
前記第2ガスラインにおいて前記第2ガス流量調整機構の上流側に接続されており、開閉弁及び一定流量の第2ガスを流す流量調整部が設けられた排ガスラインと、
前記第2ガス流量調整機構が調整した第2ガスの流量が前記第2ガスの種類に応じて設定された所定値以下の場合に、前記排ガスラインに設けられた開閉弁を開放する制御部とを具備することを特徴とするガス濃度調整装置。 - 前記第1ガスが希釈ガスであり、前記第2ガスが標準ガスである請求項1記載のガス濃度調整装置。
- 前記第2ガスラインが、それぞれに第2ガス流量調整機構が設けられた複数の分岐ラインと、それら分岐ラインのうち第2ガスが流れる分岐ラインを選択するライン切替機構とを有し、
前記各分岐ラインに設けられた第2ガス流量調整機構における流量制御範囲が、互いに異なるように構成されており、
前記排ガスラインが、前記複数の分岐ラインのうち低流量範囲の第2ガス流量調整機構が設けられた分岐ラインに接続されている請求項1又は2記載のガス濃度調整装置。 - 前記制御部が、前記複数の分岐ラインのうち低流量範囲の第2ガス流量調整機構が設けられた分岐ラインが選択された場合に、前記排ガスラインに設けられた開閉弁を開放する請求項3記載のガス濃度調整装置。
- 第1ガスと第2ガスとを所定比率で混合して所定濃度の混合ガスを生成するものであり、第1ガスの流量を制御するための第1ガス流量調整機構が設けられた第1ガスラインと、第2ガスの流量を制御するための第2ガス流量調整機構が設けられた第2ガスラインと、前記第1ガスライン及び前記第2ガスラインを合流して所定濃度の混合ガスを出力する出力ガスラインと、前記第2ガスラインにおいて前記第2ガス流量調整機構の上流側に接続されており、開閉弁及び一定流量の第2ガスを流す流量調整部が設けられた排ガスラインとを具備するガス濃度調整装置に用いられるプログラムであって、
前記第2ガス流量調整機構が調整した第2ガスの流量が前記第2ガスの種類に応じて設定された所定値以下の場合に、前記排ガスラインに設けられた開閉弁を開放する制御部としての機能をコンピュータに発揮させることを特徴とするガス濃度調整プログラム。 - 第1ガスと第2ガスとを所定比率で混合して所定濃度の混合ガスを生成するものであり、第1ガスの流量を制御するための第1ガス流量調整機構が設けられた第1ガスラインと、第2ガスの流量を制御するための第2ガス流量調整機構が設けられた第2ガスラインと、前記第1ガスライン及び前記第2ガスラインを合流して所定濃度の混合ガスを出力する出力ガスラインと、前記第2ガスラインにおいて前記第2ガス流量調整機構の上流側に接続されており、開閉弁及び一定流量の第2ガスを流す流量調整部が設けられた排ガスラインとを具備するガス濃度調整装置を用いたガス濃度調整方法であって、
前記第2ガス流量調整機構が調整した第2ガスの流量が前記第2ガスの種類に応じて設定された所定値以下の場合に、前記排ガスラインに設けられた開閉弁を開放することを特徴とするガス濃度調整方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011266384A JP5855921B2 (ja) | 2010-12-17 | 2011-12-06 | ガス濃度調整装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010282092 | 2010-12-17 | ||
JP2010282092 | 2010-12-17 | ||
JP2011266384A JP5855921B2 (ja) | 2010-12-17 | 2011-12-06 | ガス濃度調整装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012141292A JP2012141292A (ja) | 2012-07-26 |
JP5855921B2 true JP5855921B2 (ja) | 2016-02-09 |
Family
ID=45400838
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011266384A Active JP5855921B2 (ja) | 2010-12-17 | 2011-12-06 | ガス濃度調整装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9116526B2 (ja) |
EP (1) | EP2466412B1 (ja) |
JP (1) | JP5855921B2 (ja) |
CN (1) | CN102565281B (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102841613A (zh) * | 2012-08-29 | 2012-12-26 | 兰州理工大学 | 配气过程中气体浓度的控制系统 |
US9090972B2 (en) * | 2012-12-31 | 2015-07-28 | Lam Research Corporation | Gas supply systems for substrate processing chambers and methods therefor |
US10724137B2 (en) * | 2013-02-05 | 2020-07-28 | Kokusai Eletric Corporation | Cleaning method, method of manufacturing semiconductor device, substrate processing apparatus, recording medium, and cleaning completion determining method |
US9454158B2 (en) | 2013-03-15 | 2016-09-27 | Bhushan Somani | Real time diagnostics for flow controller systems and methods |
CN104090067A (zh) * | 2013-08-12 | 2014-10-08 | 力合科技(湖南)股份有限公司 | 一种可自动标气核查的气体连续监测系统 |
JP5670530B1 (ja) * | 2013-09-18 | 2015-02-18 | 光明理化学工業株式会社 | 試験ガス生成装置 |
US10658222B2 (en) | 2015-01-16 | 2020-05-19 | Lam Research Corporation | Moveable edge coupling ring for edge process control during semiconductor wafer processing |
US10957561B2 (en) * | 2015-07-30 | 2021-03-23 | Lam Research Corporation | Gas delivery system |
KR20180044931A (ko) * | 2015-08-17 | 2018-05-03 | 아이커 시스템즈, 인크. | 유체 제어 시스템 |
US10192751B2 (en) | 2015-10-15 | 2019-01-29 | Lam Research Corporation | Systems and methods for ultrahigh selective nitride etch |
CN105974053A (zh) * | 2015-10-29 | 2016-09-28 | 兵器工业卫生研究所 | 装甲车辆舱室有害气体模拟实验系统 |
US10825659B2 (en) | 2016-01-07 | 2020-11-03 | Lam Research Corporation | Substrate processing chamber including multiple gas injection points and dual injector |
US10147588B2 (en) | 2016-02-12 | 2018-12-04 | Lam Research Corporation | System and method for increasing electron density levels in a plasma of a substrate processing system |
US10651015B2 (en) | 2016-02-12 | 2020-05-12 | Lam Research Corporation | Variable depth edge ring for etch uniformity control |
US10699878B2 (en) | 2016-02-12 | 2020-06-30 | Lam Research Corporation | Chamber member of a plasma source and pedestal with radially outward positioned lift pins for translation of a substrate c-ring |
US10438833B2 (en) | 2016-02-16 | 2019-10-08 | Lam Research Corporation | Wafer lift ring system for wafer transfer |
US10410832B2 (en) | 2016-08-19 | 2019-09-10 | Lam Research Corporation | Control of on-wafer CD uniformity with movable edge ring and gas injection adjustment |
TWI772330B (zh) * | 2016-10-14 | 2022-08-01 | 荷蘭商蜆殼國際研究所 | 用於定量分析氣態製程流之方法及設備 |
US10983537B2 (en) | 2017-02-27 | 2021-04-20 | Flow Devices And Systems Inc. | Systems and methods for flow sensor back pressure adjustment for mass flow controller |
CN110389602B (zh) * | 2018-04-19 | 2022-09-23 | 中国石油化工股份有限公司 | 用于控制目标容器内特定气体的含量的方法 |
WO2020152800A1 (ja) * | 2019-01-23 | 2020-07-30 | 株式会社島津製作所 | 検出方法、分析方法、分析装置およびプログラム |
CN111220424B (zh) * | 2020-01-20 | 2021-04-13 | 山东大学 | 基于隧道掌子面气体监测的tbm搭载式超前地质预报系统及方法 |
SG10202101459XA (en) * | 2020-02-25 | 2021-09-29 | Kc Co Ltd | Gas mixing supply device, mixing system, and gas mixing supply method |
CN114137155B (zh) * | 2021-11-03 | 2024-04-12 | 力合科技(湖南)股份有限公司 | 多气体动态校准仪流路设计 |
CN118532626B (zh) * | 2024-07-25 | 2024-10-11 | 中交建筑集团东南建设有限公司 | 一种碳排放监测控制系统及碳排放控制方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61116638A (ja) * | 1984-11-09 | 1986-06-04 | Esutetsuku:Kk | ガス調製装置 |
JPH02284638A (ja) * | 1989-04-26 | 1990-11-22 | Tadahiro Omi | 高性能プロセスガス供給装置 |
JPH04233725A (ja) * | 1990-12-28 | 1992-08-21 | Fujitsu Ltd | 希釈ガスの製造方法 |
JP2557618Y2 (ja) * | 1992-09-09 | 1997-12-10 | 株式会社堀場製作所 | 窒素酸化物分析計 |
JP3670375B2 (ja) * | 1995-12-19 | 2005-07-13 | 株式会社日本エイピーアイ | 標準ガス希釈装置及び低濃度標準ガス発生装置 |
US5661225A (en) * | 1996-09-12 | 1997-08-26 | Air Products And Chemicals, Inc. | Dynamic dilution system |
US5744695A (en) * | 1997-01-10 | 1998-04-28 | Sony Corporation | Apparatus to check calibration of mass flow controllers |
CN2499819Y (zh) * | 2001-09-18 | 2002-07-10 | 中国人民解放军总装备部后勤部军事医学研究所 | 动态标准气样制备装置 |
JP3821227B2 (ja) * | 2002-09-19 | 2006-09-13 | 信越化学工業株式会社 | 有機金属化合物の気化供給装置 |
JP2004363456A (ja) * | 2003-06-06 | 2004-12-24 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法および製造装置 |
US7137400B2 (en) * | 2003-09-30 | 2006-11-21 | Agere Systems Inc. | Bypass loop gas flow calibration |
US7390346B2 (en) * | 2005-05-12 | 2008-06-24 | Praxair Technology, Inc. | System and apparatus for producing primary standard gas mixtures |
US7775236B2 (en) * | 2007-02-26 | 2010-08-17 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for controlling gas flow to a processing chamber |
JP5192350B2 (ja) * | 2008-10-30 | 2013-05-08 | 株式会社船井電機新応用技術研究所 | センサ評価システム |
JP5650548B2 (ja) * | 2009-12-25 | 2015-01-07 | 株式会社堀場エステック | マスフローコントローラシステム |
-
2011
- 2011-12-06 JP JP2011266384A patent/JP5855921B2/ja active Active
- 2011-12-08 CN CN201110407489.0A patent/CN102565281B/zh active Active
- 2011-12-09 EP EP20110009738 patent/EP2466412B1/en active Active
- 2011-12-15 US US13/327,678 patent/US9116526B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2466412A2 (en) | 2012-06-20 |
JP2012141292A (ja) | 2012-07-26 |
CN102565281A (zh) | 2012-07-11 |
EP2466412A3 (en) | 2013-04-17 |
EP2466412B1 (en) | 2014-05-14 |
CN102565281B (zh) | 2016-09-14 |
US20120152364A1 (en) | 2012-06-21 |
US9116526B2 (en) | 2015-08-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5855921B2 (ja) | ガス濃度調整装置 | |
US8019481B2 (en) | Flow rate ratio control device | |
CN101636641B (zh) | 用于质量流量控制器的控制器增益调度 | |
JP5650548B2 (ja) | マスフローコントローラシステム | |
US10520401B2 (en) | Exhaust gas measurement system and exhaust gas measurement method | |
CN107478494A (zh) | 一种标准气配气仪 | |
US10145288B2 (en) | Exhaust gas measurement apparatus, program to be installed therein, and control method thereof | |
WO2013084716A1 (ja) | 混合ガス製造方法及びガス混合装置 | |
CN207271080U (zh) | 带校准的大浓度范围标准气配气仪 | |
JP6868442B2 (ja) | ガス分析装置及びガスサンプリング装置 | |
CN107519773B (zh) | 带校准的大浓度范围标准气配气仪及其校准方法 | |
WO2014199829A1 (ja) | ガスエンジン | |
JP2013104694A (ja) | 模擬ガス供給装置 | |
JP4925493B1 (ja) | 混合ガス流量制御装置および排ガス浄化触媒評価装置 | |
CN107782418B (zh) | 流量计检查系统和流量计检查方法 | |
JP2015010581A (ja) | エンジンシステム | |
WO2019167389A1 (ja) | オゾン発生装置及びオゾン発生方法 | |
KR20080082818A (ko) | Mfc를 이용한 가스 희석 장치 | |
JP5124410B2 (ja) | ガス供給システム | |
WO2018096785A1 (ja) | 模擬ガス発生装置、評価装置及び模擬ガス発生方法 | |
JP2016211864A (ja) | ガス供給装置 | |
JP6008688B2 (ja) | 太陽電池用セレン化水素混合ガスの供給方法 | |
JP6267491B2 (ja) | 流体切換装置 | |
JP2008025424A (ja) | ガスエンジンの燃料供給装置 | |
JP2008002272A (ja) | 内燃機関及び制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140521 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150128 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150217 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150420 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150917 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20151113 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151203 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151210 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5855921 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |