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JP5399678B2 - Resist stripping device - Google Patents

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JP5399678B2
JP5399678B2 JP2008257527A JP2008257527A JP5399678B2 JP 5399678 B2 JP5399678 B2 JP 5399678B2 JP 2008257527 A JP2008257527 A JP 2008257527A JP 2008257527 A JP2008257527 A JP 2008257527A JP 5399678 B2 JP5399678 B2 JP 5399678B2
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Description

この発明は基板に付着残留するレジストを除去するレジスト剥離装置に関する。 This invention relates to a resist stripping device to remove the resist adhering remaining on the substrate.

たとえば、液晶表示装置や半導体装置の製造工程においては、これらの対象物であるガラス基板や半導体ウエハなどの基板にレジストを塗布し、現像処理してからエッチング処理をすることで、基板の表面に回路パターンを精密に形成する。基板に回路パターンを形成したならば、その基板の表面に付着残留しているレジスト膜やレジスト残渣などの有機物を除去する処理が行われる。   For example, in a manufacturing process of a liquid crystal display device or a semiconductor device, a resist is applied to a substrate such as a glass substrate or a semiconductor wafer, which is an object, and a development process is performed before an etching process. A circuit pattern is precisely formed. When the circuit pattern is formed on the substrate, a process of removing organic substances such as a resist film and a resist residue remaining on the surface of the substrate is performed.

レジスト膜を洗浄除去する場合、剥離液として硫酸(HSO)と過酸化水素水(H)を混合して用いるということが行われている。硫酸と過酸化水素水を混合した剥離液は反応熱によって約100℃程度に温度上昇する。剥離液の温度が反応熱によって上昇すると、その分、レジストの剥離レートを上昇させることが可能となる。 When the resist film is removed by washing, sulfuric acid (H 2 SO 4 ) and hydrogen peroxide water (H 2 O 2 ) are mixed and used as a stripping solution. The stripping solution in which sulfuric acid and hydrogen peroxide are mixed rises to about 100 ° C. by the heat of reaction. When the temperature of the stripping solution rises due to reaction heat, the resist stripping rate can be increased accordingly.

特許文献1には、硫酸と過酸化水素水とをミキシングバルブで混合した剥離液(SPM:Sulfuric acid/Hydrogen peroxide mixture)をノズルから基板(半導体ウエハ)に供給するレジスト除去装置が示されている。
特開2006−278509号公報
Patent Document 1 discloses a resist removal apparatus that supplies a stripping solution (SPM: Sulfuric acid / Hydrogen peroxide mixture) obtained by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide with a mixing valve to a substrate (semiconductor wafer) from a nozzle. .
JP 2006-278509 A

硫酸と過酸化水素水とを混合することで生成される硫酸過酸化水素水からなるSPMはレジストの剥離液としてよく知られている。しかしながら、硫酸と過酸化水素水とを混合することで生成されるSPMは液体の状態にある。そのため、処理液を液体の状態でノズルから基板に供給したのでは、その処理液が基板に配線パターンなどの微細な凹凸部が形成されている場合、その凹凸部に十分に入り込まないため、基板に残留するレジストを確実かつ迅速に除去することができないということがある。   SPM made of sulfuric acid and hydrogen peroxide produced by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide is well known as a resist stripping solution. However, the SPM generated by mixing sulfuric acid and hydrogen peroxide is in a liquid state. Therefore, if the processing liquid is supplied from the nozzle to the substrate in a liquid state, if the processing liquid has fine irregularities such as a wiring pattern formed on the substrate, the substrate does not sufficiently enter the irregularities. In some cases, the resist remaining in the substrate cannot be removed reliably and quickly.

この発明は基板に微細な部分があってもその部分からのレジストの除去を確実かつ迅速に行え、しかも過熱水蒸気との反応熱による温度上昇でレジストの剥離レートを向上させることができるレジスト剥離装置を提供することにある。 The present invention, resist stripping even with minute details in the substrate can remove the resist from the portion that reliably and quickly, yet capable of improving the peeling rate of the resist at a temperature rise due to reaction heat of the superheated steam To provide an apparatus .

この発明は、基板の表面に付着残留するレジストを除去するレジスト除去装置であって、
上記基板に硫酸を供給する硫酸供給手段と、
上記基板に供給される上記硫酸を霧化させるオゾンガスを供給するオゾンガス供給手段と、
上記基板に上記硫酸及びオゾンガスとともに過熱水蒸気を供給して反応熱を生じさせる過熱水蒸気供給手段と
上記硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気を混合して上記基板に供給する混合噴射ノズル体と、
を備えていることを特徴とするレジスト剥離装置にある。
The present invention is a resist removing apparatus for removing a resist remaining on a surface of a substrate,
Sulfuric acid supply means for supplying sulfuric acid to the substrate;
Ozone gas supply means for supplying ozone gas for atomizing the sulfuric acid supplied to the substrate;
Superheated steam supply means for supplying reaction heat by supplying superheated steam together with the sulfuric acid and ozone gas to the substrate ;
A mixed injection nozzle body for mixing the sulfuric acid, ozone gas and superheated steam and supplying the mixed substrate to the substrate;
The resist stripping apparatus is characterized by comprising:

この発明によれば、硫酸をオゾンガスによって霧化して剥離液とし、霧化された硫酸に過熱水蒸気を供給して反応熱を生じさせるようにした。硫酸にオゾンガスを混合して霧化された剥離液によれば、基板の微細な凹凸部などに十分に入り込むから、剥離効果を向上させることができ、しかもその剥離液は過熱水蒸気との混合によって生じる反応熱で温度上昇するから、レジストの剥離レートを高めることが可能となる。   According to this invention, sulfuric acid is atomized with ozone gas to form a stripping solution, and superheated steam is supplied to the atomized sulfuric acid to generate reaction heat. According to the stripping solution that is atomized by mixing ozone gas with sulfuric acid, it can penetrate into the fine irregularities of the substrate sufficiently, so that the stripping effect can be improved, and the stripping solution is mixed with superheated steam. Since the temperature rises due to the generated reaction heat, the resist stripping rate can be increased.

以下、この発明の一実施の形態を図面を参照しながら説明する。   An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

図1はこの発明の一実施の形態に係るスピン処理装置を示し、このスピン処理装置はカップ体1を備えている。このカップ体1の底部には複数の排出管2が周方向に所定間隔で接続されている。各排出管2は図示しない排気ポンプに連通している。   FIG. 1 shows a spin processing apparatus according to an embodiment of the present invention, and this spin processing apparatus includes a cup body 1. A plurality of discharge pipes 2 are connected to the bottom of the cup body 1 at a predetermined interval in the circumferential direction. Each discharge pipe 2 communicates with an exhaust pump (not shown).

なお、上記カップ体1は下カップ1aと上カップ1bを有し、上カップ1bは図示しないシリンダなどの駆動機構によって上下方向に駆動可能になっている。   The cup body 1 has a lower cup 1a and an upper cup 1b, and the upper cup 1b can be driven in the vertical direction by a driving mechanism such as a cylinder (not shown).

上記カップ体1内には保持部としての回転テーブル3が設けられている。この回転テーブル3の上面の周辺部には周方向に所定間隔で複数の支持部材4が回動可能に設けられている。各支持部材4の上端面には係止ピン5が支持部材4の回転中心から偏心した位置に設けられ、回転中心には支持ピン6が設けられている。   A rotating table 3 as a holding portion is provided in the cup body 1. A plurality of support members 4 are rotatably provided at predetermined intervals in the circumferential direction on the periphery of the upper surface of the turntable 3. On the upper end surface of each support member 4, a locking pin 5 is provided at a position eccentric from the rotation center of the support member 4, and a support pin 6 is provided at the rotation center.

上記回転テーブル3には半導体ウエハなどのエッチング処理が終了してレジストが残留する基板Wが供給される。つまり、基板Wは周縁部の下面が上記支持ピン6に支持されるよう供給される。その状態で上記支持部材4が回転すると、上記係止ピン5が偏心回転するから、基板Wの外周面が上記係止ピン5によって保持される。   The turntable 3 is supplied with a substrate W on which a resist remains after the etching process of the semiconductor wafer or the like is completed. That is, the substrate W is supplied so that the lower surface of the peripheral edge portion is supported by the support pins 6. When the support member 4 rotates in this state, the locking pin 5 rotates eccentrically, so that the outer peripheral surface of the substrate W is held by the locking pin 5.

上記回転テーブル3は制御モータ11によって回転駆動される。この制御モータ11は、筒状の固定子12内に同じく筒状の回転子13が回転可能に挿入されていて、この回転子13に上記回転テーブル3が動力伝達部材13aを介して連結されている。   The rotary table 3 is rotationally driven by a control motor 11. In the control motor 11, a cylindrical rotor 13 is also rotatably inserted into a cylindrical stator 12, and the rotary table 3 is connected to the rotor 13 via a power transmission member 13a. Yes.

上記制御モータ11は制御装置14によって回転が制御される。それによって、上記回転テーブル3は上記制御装置14により所定の回転数で回転させることができるようになっている。   The rotation of the control motor 11 is controlled by the control device 14. Thereby, the rotary table 3 can be rotated at a predetermined rotational speed by the control device 14.

上記回転子13内には筒状の固定軸15が挿通されている。この固定軸15の上端には上記回転テーブル3の上面側に位置するノズルヘッド16が設けられている。つまり、ノズルヘッド16は回転テーブル3の回転に連動しない状態で設けられている。このノズルヘッド16には洗浄液及び気体を噴射する下部ノズル体17,18が設けられている。   A cylindrical fixed shaft 15 is inserted into the rotor 13. A nozzle head 16 positioned on the upper surface side of the rotary table 3 is provided at the upper end of the fixed shaft 15. That is, the nozzle head 16 is provided in a state not interlocked with the rotation of the rotary table 3. The nozzle head 16 is provided with lower nozzle bodies 17 and 18 for ejecting cleaning liquid and gas.

それによって、上記下部ノズル体17,18から回転テーブル3に保持された基板Wの下面の中央部分に向けて洗浄液や気体を選択的に噴射することができるようになっている。つまり、基板Wは下面を洗浄及び乾燥処理することができるようになっている。   As a result, the cleaning liquid or gas can be selectively ejected from the lower nozzle bodies 17 and 18 toward the central portion of the lower surface of the substrate W held on the turntable 3. In other words, the lower surface of the substrate W can be cleaned and dried.

上記回転テーブル3の上面側は乱流防止カバー19によって覆われている。この乱流防止カバー19は回転テーブル3に保持された基板Wの下面側に乱流が発生するのを防止するようになっており、その中央部分には上記各下部ノズル体17,18から基板Wの下面に洗浄液や気体を噴射可能とする透孔20が開口形成されている。   The upper surface side of the rotary table 3 is covered with a turbulent flow prevention cover 19. The turbulent flow prevention cover 19 prevents turbulent flow from occurring on the lower surface side of the substrate W held on the rotary table 3, and the substrate is formed from the lower nozzle bodies 17 and 18 at the central portion thereof. A through hole 20 is formed in the lower surface of W so as to be able to inject cleaning liquid or gas.

上記カップ体1の側方には駆動機構23が設けられている。この駆動機構23は軸線を垂直にして設けられた揺動軸部24と、この揺動軸部24の上端に基端部が連結されて水平に設けられたアーム体25を有する。上記揺動軸部24の下端は揺動駆動源としての回転モータ26に連結されている。回転モータ26は上記アーム体25を所定の角度で回転駆動するようになっている。   A drive mechanism 23 is provided on the side of the cup body 1. The drive mechanism 23 includes a swinging shaft portion 24 provided with the vertical axis, and an arm body 25 provided with a base end connected to the upper end of the swinging shaft portion 24 and provided horizontally. The lower end of the swing shaft portion 24 is connected to a rotary motor 26 as a swing drive source. The rotation motor 26 is configured to rotate the arm body 25 at a predetermined angle.

上記回転モータ26は図示しないリニアガイドによって上下方向にスライド可能に設けられた可動板27に取付けられている。この可動板27は上下駆動シリンダ28によって上下方向に駆動されるようになっている。   The rotary motor 26 is attached to a movable plate 27 that is slidable in the vertical direction by a linear guide (not shown). The movable plate 27 is driven in the vertical direction by the vertical drive cylinder 28.

上記アーム体25の先端部には、上記基板Wの上面に処理液を噴射供給する上部ノズル体31が設けられている。この上部ノズル体31には図2に示すように第1乃至第3の供給管32〜34の一端が接続されている。   At the tip of the arm body 25, an upper nozzle body 31 for supplying a processing liquid to the upper surface of the substrate W is provided. As shown in FIG. 2, one end of first to third supply pipes 32 to 34 is connected to the upper nozzle body 31.

上記第1の供給管32の他端は硫酸を供給する第1の供給部35に接続され、上記第2の供給管33の他端はオゾンガス(O)を供給する第2の供給部36に接続されている。さらに、上記第3の供給管34の他端は過熱水蒸気を供給する第3の供給部37に接続されている。 The other end of the first supply pipe 32 is connected to a first supply part 35 that supplies sulfuric acid, and the other end of the second supply pipe 33 is a second supply part 36 that supplies ozone gas (O 3 ). It is connected to the. Furthermore, the other end of the third supply pipe 34 is connected to a third supply unit 37 that supplies superheated steam.

上記第1乃至第3の供給管32〜34の他端部側にはそれぞれ第1乃至第3の流量制御弁41〜43が設けられている。各流量制御弁41〜43は上記制御装置14によって開度が制御されるようになっている。それによって、上記上部ノズル体31に供給される硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気の流量を設定できるようになっている。   First to third flow control valves 41 to 43 are provided on the other end side of the first to third supply pipes 32 to 34, respectively. The opening degree of each flow control valve 41 to 43 is controlled by the control device 14. Thereby, the flow rates of sulfuric acid, ozone gas and superheated steam supplied to the upper nozzle body 31 can be set.

上記第1乃至第3の供給管32〜34の一端部側、つまり上記各流量制御弁41〜43よりも下流側にはヒータからなる第1乃至第3の加熱手段44〜46が設けられている。第1の加熱手段44は上記硫酸を約100℃に加熱し、第2の加熱手段45はオゾンガスを約100℃に加熱する。第3の加熱手段46は過熱水蒸気を100〜300℃に加熱するようになっている。上記第1乃至第3の加熱手段44〜46による硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気の加熱温度は制御装置14によって設定できるようになっている。   First to third heating means 44 to 46 including heaters are provided on one end side of the first to third supply pipes 32 to 34, that is, on the downstream side of the flow rate control valves 41 to 43. Yes. The first heating means 44 heats the sulfuric acid to about 100 ° C., and the second heating means 45 heats the ozone gas to about 100 ° C. The 3rd heating means 46 heats superheated steam to 100-300 degreeC. The heating temperature of sulfuric acid, ozone gas and superheated steam by the first to third heating means 44 to 46 can be set by the control device 14.

なお、第1乃至第3の加熱手段44〜46は第1乃至第3の供給管32〜34の外周面の全長にわたって発熱コイルを設けるようにしてもよい。   In addition, you may make it the 1st thru | or 3rd heating means 44-46 provide a heat generating coil over the full length of the outer peripheral surface of the 1st thru | or 3rd supply pipes 32-34.

上記上部ノズル体31に硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気が供給されると、硫酸とオゾンガスによって剥離液としての活性種の剥離液が生成される。その際、剥離液はオゾンガスによって霧化されて上記上部ノズル体31から噴射される。さらに、上部ノズル体31に過熱水蒸気が供給されることで、剥離液は過熱水蒸気との反応熱によって温度上昇する。
すなわち、上記上部ノズル体31からはオゾンガスによって霧化され、しかも過熱水蒸気との反応熱によって温度上昇した剥離液が基板Wに向けて噴射されることになる。
When sulfuric acid, ozone gas, and superheated steam are supplied to the upper nozzle body 31, an active species stripping solution as a stripping solution is generated by the sulfuric acid and the ozone gas. At that time, the stripping solution is atomized by ozone gas and sprayed from the upper nozzle body 31. Furthermore, when superheated steam is supplied to the upper nozzle body 31, the temperature of the stripping solution rises due to reaction heat with the superheated steam.
That is, from the upper nozzle body 31, the stripping liquid atomized by ozone gas and having a temperature increased by the reaction heat with the superheated steam is jetted toward the substrate W.

上記上部ノズル体31から基板Wに向けて噴射される剥離液の温度は、この上部ノズル体31にホルダ47によって設けられた温度センサ48によって検出される。温度センサ48の検出信号は上記制御装置14に出力される。制御装置14は温度センサ48が検出した剥離液の温度を、制御装置14に予め設定された設定温度と比較する。   The temperature of the stripping solution sprayed from the upper nozzle body 31 toward the substrate W is detected by a temperature sensor 48 provided on the upper nozzle body 31 by a holder 47. A detection signal of the temperature sensor 48 is output to the control device 14. The control device 14 compares the temperature of the stripping solution detected by the temperature sensor 48 with a set temperature preset in the control device 14.

そして、検出温度が設定温度よりも低いときには、上記上部ノズル体31に供給される硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気の加熱温度が高くなるよう、上記制御装置14によって第1乃至第3の加熱手段44〜46による加熱温度を制御する。   When the detected temperature is lower than the set temperature, the control device 14 controls the first to third heating means 44 to the heating temperature of sulfuric acid, ozone gas and superheated steam supplied to the upper nozzle body 31 to be high. The heating temperature by 46 is controlled.

硫酸の温度を高くすれば、硫酸の粘度が低下するから、硫酸がオゾンガスによって霧化され易くなる。オゾンガスの温度を上昇させれば、硫酸との化学反応速度が速くなり、過熱水蒸気の温度を高くすれば硫酸との反応によって生じる反応熱を高くし、剥離レートを高めることができる。   If the temperature of the sulfuric acid is raised, the viscosity of the sulfuric acid is lowered, so that the sulfuric acid is easily atomized by the ozone gas. Increasing the temperature of the ozone gas increases the chemical reaction rate with sulfuric acid, and increasing the temperature of the superheated steam increases the reaction heat generated by the reaction with sulfuric acid and increases the peeling rate.

なお、上部ノズル体31から基板Wに供給される剥離液の温度が設定値よりも低いとき、硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気のうち、少なくとも過熱水蒸気の温度だけを変化させることで、上記剥離液の温度を上昇させるようにしてもよい。   In addition, when the temperature of the stripping solution supplied from the upper nozzle body 31 to the substrate W is lower than the set value, only the temperature of the superheated steam among sulfuric acid, ozone gas, and superheated steam is changed, thereby You may make it raise temperature.

過熱水蒸気は温度変化によって気体と液体の成分比率が大きく変化する。そのため、基板Wの温度コントロールを行う場合、過熱水蒸気の温度を制御することが最も適していることになる。   Superheated steam greatly changes the component ratio of gas and liquid due to temperature changes. Therefore, when controlling the temperature of the substrate W, it is most suitable to control the temperature of the superheated steam.

つぎに、上記構成の装置によって基板Wに付着残留するレジストを剥離するときの作用について説明する。
エッチング処理が終了し、上面にレジストが付着残留する基板Wが回転テーブル3に供給保持されたならば、この回転テーブル3を所定の回転速度で回転させるとともに、回転モータ26を作動させてアーム体25を基板Wの上方で揺動させる。それと同時に、アーム体25の先端に設けられた上部ノズル体31に硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気を供給する。
Next, an operation when the resist remaining on the substrate W is removed by the apparatus having the above configuration will be described.
When the etching process is completed and the substrate W with the resist remaining on the upper surface is supplied and held on the rotary table 3, the rotary table 3 is rotated at a predetermined rotational speed and the rotary motor 26 is operated to operate the arm body. 25 is swung over the substrate W. At the same time, sulfuric acid, ozone gas, and superheated steam are supplied to the upper nozzle body 31 provided at the tip of the arm body 25.

上部ノズル体31に供給された硫酸とオゾンガスを混合して活性種の剥離液を生成し、さらにその剥離液はオゾンガスによって霧化される。さらに、上部ノズル体31には硫酸及びオゾンガスととともに過熱水蒸気が混合されることで反応熱が発生する。   The sulfuric acid and ozone gas supplied to the upper nozzle body 31 are mixed to generate an active species stripping solution, and the stripping solution is atomized by ozone gas. Furthermore, reaction heat is generated in the upper nozzle body 31 by mixing superheated steam together with sulfuric acid and ozone gas.

したがって、上記上部ノズル体31から基板Wにはオゾンガスによって霧化され、過熱水蒸気との反応熱によって温度上昇した剥離液が噴射供給される。剥離液が霧化されていれば、液体の状態に比べて基板Wの配線パターなどの微細な凹凸部に確実に入り込み易いから、基板Wに付着残留するレジストを確実に剥離することができる。   Therefore, the stripping solution which is atomized by the ozone gas and is heated by the reaction heat with the superheated steam is jetted and supplied from the upper nozzle body 31 to the substrate W. If the stripping solution is atomized, the resist remaining on the substrate W can be reliably stripped because it easily enters the fine irregularities such as the wiring pattern of the substrate W as compared with the liquid state.

しかも、剥離液は過熱水蒸気との反応熱によって所定の温度に上昇している。剥離液の温度が高ければ、その温度に応じて剥離レートが速くなる。したがって、基板Wからはレジストを確実に、しかも迅速に剥離することが可能となる。   Moreover, the stripping solution has risen to a predetermined temperature due to the reaction heat with the superheated steam. If the temperature of the stripping solution is high, the stripping rate increases according to the temperature. Therefore, the resist can be reliably and rapidly removed from the substrate W.

基板Wのレジスト剥離を開始する際、第3の流量制御弁43を開放して上部ノズル体31に過熱水蒸気を供給すると、第3の供給管34における第3の供給部37と第3の流量制御弁43の間に残留する過熱水蒸気が温度低下して液体の割合が多い状態で供給されるということがある。その場合、第3の供給管34に残留する液体状の過熱水蒸気が上部ノズル体31から流出し終わるまでは剥離液の温度が十分に上がらず、剥離作用が安定しないということがある。   When starting the resist stripping of the substrate W, when the third flow rate control valve 43 is opened and superheated steam is supplied to the upper nozzle body 31, the third supply unit 37 and the third flow rate in the third supply pipe 34 are supplied. In some cases, the superheated steam remaining between the control valves 43 is supplied in a state in which the temperature decreases and the ratio of the liquid is large. In that case, until the liquid superheated steam remaining in the third supply pipe 34 finishes flowing out from the upper nozzle body 31, the temperature of the stripping solution does not rise sufficiently, and the stripping action may not be stable.

そこで、剥離液の供給を開始する際、第3の加熱手段46によって第3の供給管34に残留する過熱水蒸気を再加熱して上部ノズル体31に供給する。それによって、第3の供給管34に残留する液体状となた過熱水蒸気は再び気化され、しかも温度上昇して上部ノズル体31に供給されるから、過熱水蒸気が上部ノズル体31で硫酸と混合することで、この硫酸との反応による反応熱を確実に発生させることができる。   Therefore, when the supply of the stripping solution is started, the superheated steam remaining in the third supply pipe 34 is reheated by the third heating means 46 and supplied to the upper nozzle body 31. Accordingly, the liquid superheated steam remaining in the third supply pipe 34 is vaporized again, and the temperature rises and is supplied to the upper nozzle body 31, so that the superheated steam is mixed with sulfuric acid in the upper nozzle body 31. By doing so, the reaction heat by reaction with this sulfuric acid can be generated reliably.

また、剥離開始時には第1の供給管32に残留する硫酸が温度が低下している。温度低下した硫酸は粘度が高くなるから、上部ノズル体31でオゾンガスと混合しても霧化され難いということがある。   Moreover, the temperature of the sulfuric acid remaining in the first supply pipe 32 is lowered at the start of peeling. Since the temperature-lowered sulfuric acid has a high viscosity, it may be difficult to be atomized even when mixed with ozone gas by the upper nozzle body 31.

そこで、剥離液の供給を開始する際、第1の供給管32に残留する硫酸を第1の加熱手段44によって加熱して上部ノズル体31に供給する。加熱された硫酸は粘度が低下するから、上部ノズル体31でオゾンガスによって十分に霧化されて基板Wに供給されることになる。   Therefore, when supply of the stripping solution is started, sulfuric acid remaining in the first supply pipe 32 is heated by the first heating means 44 and supplied to the upper nozzle body 31. Since the heated sulfuric acid has a reduced viscosity, it is sufficiently atomized by the ozone gas by the upper nozzle body 31 and supplied to the substrate W.

さらに、オゾンガスを供給する第2の供給管33に設けられた第2の加熱手段45によって上記第2の供給管33に残留するオゾンガスを加熱すれば、硫酸と混合して剥離液を生成する際の反応速度を速くすることができるから、単位時間当たりの供給量を増加させることが可能となる。しかも、オゾンガスの加熱温度に応じて剥離液の温度も上昇するから、その温度上昇によって剥離レートを高くすることが可能となる。   Further, when the ozone gas remaining in the second supply pipe 33 is heated by the second heating means 45 provided in the second supply pipe 33 for supplying the ozone gas, when the peeling liquid is generated by mixing with sulfuric acid. Since the reaction rate can be increased, the amount of supply per unit time can be increased. In addition, since the temperature of the stripping solution increases according to the heating temperature of the ozone gas, the stripping rate can be increased by the temperature increase.

上記上部ノズル体31に対する硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気の供給、つまり上部ノズル体31から基板Wに剥離液の供給が開始されると、その剥離液の温度は温度センサ48によって検出される。   When the supply of sulfuric acid, ozone gas, and superheated steam to the upper nozzle body 31, that is, the supply of the peeling liquid from the upper nozzle body 31 to the substrate W is started, the temperature of the peeling liquid is detected by the temperature sensor 48.

上記温度センサ48が検出する剥離液の温度が制御装置14に設定された設定温度よりも低い場合、第1乃至第3の加熱手段44〜46のうち、少なくとも第3の加熱手段46による過熱水蒸気を加熱する温度が上昇させられる。それによって、過熱水蒸気の温度に応じて上部ノズル体31から基板Wに供給される剥離液の温度が上昇するから、レジストの剥離レートが低下するのが防止される。
When the temperature of the stripping liquid detected by the temperature sensor 48 is lower than the set temperature set in the control device 14, the superheated steam generated by at least the third heating unit 46 among the first to third heating units 44 to 46. The temperature for heating is increased. As a result, the temperature of the stripping solution supplied from the upper nozzle body 31 to the substrate W increases according to the temperature of the superheated water vapor, thereby preventing the resist stripping rate from decreasing.

上記温度センサ48が検出する剥離液の温度が制御装置14に設定された設定温度よりも低くい場合、過熱水蒸気だけでなく、第1、第2の加熱手段44、45によって上部ノズル体31に供給される硫酸とオゾンガスの温度を上昇させるようにしてもよい。   When the temperature of the stripping liquid detected by the temperature sensor 48 is lower than the set temperature set in the control device 14, not only the superheated steam but also the first and second heating means 44, 45 cause the upper nozzle body 31 to You may make it raise the temperature of the sulfuric acid and ozone gas which are supplied.

硫酸とオゾンガスの温度を上昇させれば、硫酸の粘度を低下させたり、硫酸とオゾンガスとの反応速度を速めるなどのことができるばかりか、剥離液の温度が高くなることで、剥離レートを速くすることができ、さらに硫酸の霧化の促進を図ることができる。   Increasing the temperature of sulfuric acid and ozone gas not only reduces the viscosity of sulfuric acid and increases the reaction rate between sulfuric acid and ozone gas, but also increases the stripping solution temperature, thereby increasing the stripping rate. Further, the atomization of sulfuric acid can be promoted.

なお、上記温度センサ48が検出する剥離液の温度が制御装置14に設定された設定温度よりも低くなった場合、第1乃至第3の加熱手段44〜46による硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気の全ての加熱温度を上昇させるようにしてもよい。   When the temperature of the stripping liquid detected by the temperature sensor 48 is lower than the set temperature set in the control device 14, all of sulfuric acid, ozone gas and superheated steam by the first to third heating means 44 to 46 are used. The heating temperature may be increased.

この発明の一実施の形態を示す処理装置の概略的構成図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The schematic block diagram of the processing apparatus which shows one embodiment of this invention. 硫酸、オゾンガス及び過酸化水素水を上部ノズル体に供給する配管系統図。The piping system diagram which supplies sulfuric acid, ozone gas, and hydrogen peroxide water to an upper nozzle body.

符号の説明Explanation of symbols

1…カップ体、3…回転テーブル、14…制御装置(制御手段)、25…アーム体、26…回転モータ(揺動駆動源)、31…上部ノルズ体、32…第1の供給管(硫酸供給手段)、33…第2の供給管(オゾンガス供給手段)、34…第3の供給管(過熱水蒸気供給手段)、35…第1の供給部(硫酸供給手段)、36…第2の供給部(オゾンガス供給手段)、37…第3の供給部(過熱水蒸気供給手段)、44…第1の加熱手段、45…第2の加熱手段、46…第3の加熱手段、48…温度センサ。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cup body, 3 ... Rotary table, 14 ... Control apparatus (control means), 25 ... Arm body, 26 ... Rotation motor (oscillation drive source), 31 ... Upper nords body, 32 ... 1st supply pipe (sulfuric acid) Supply means), 33 ... second supply pipe (ozone gas supply means), 34 ... third supply pipe (superheated steam supply means), 35 ... first supply section (sulfuric acid supply means), 36 ... second supply Part (ozone gas supply means), 37 ... third supply part (superheated steam supply means), 44 ... first heating means, 45 ... second heating means, 46 ... third heating means, 48 ... temperature sensor.

Claims (4)

基板の表面に付着残留するレジストを除去するレジスト除去装置であって、
上記基板に硫酸を供給する硫酸供給手段と、
上記基板に供給される上記硫酸を霧化させるオゾンガスを供給するオゾンガス供給手段と、
上記基板に上記硫酸及びオゾンガスとともに過熱水蒸気を供給して反応熱を生じさせる過熱水蒸気供給手段と
上記硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気を混合して上記基板に供給する混合噴射ノズル体と、
を備えていることを特徴とするレジスト剥離装置。
A resist removing apparatus for removing a resist remaining on a surface of a substrate,
Sulfuric acid supply means for supplying sulfuric acid to the substrate;
Ozone gas supply means for supplying ozone gas for atomizing the sulfuric acid supplied to the substrate;
Superheated steam supply means for supplying reaction heat by supplying superheated steam together with the sulfuric acid and ozone gas to the substrate ;
A mixed injection nozzle body for mixing the sulfuric acid, ozone gas and superheated steam and supplying the mixed substrate to the substrate;
A resist stripping apparatus comprising:
上記硫酸供給手段によって上記基板に供給される上記硫酸の流量を制御する第1の流量制御弁と、
上記オゾンガス供給手段によって上記基板に供給される上記オゾンガスの流量を制御する第2の流量制御弁と、
上記過熱水蒸気供給手段によって上記基板に供給される上記過熱水蒸気の流量を制御する第3の流量制御弁と、
上記第1乃至第3の流量制御弁を制御して上記各供給手段から上記基板に供給される各流体の流量を設定する制御手段と
を具備したことを特徴とする請求項1記載のレジスト剥離装置。
A first flow rate control valve for controlling the flow rate of the sulfuric acid supplied to the substrate by the sulfuric acid supply means;
A second flow rate control valve for controlling the flow rate of the ozone gas supplied to the substrate by the ozone gas supply means;
A third flow rate control valve for controlling the flow rate of the superheated steam supplied to the substrate by the superheated steam supply means;
The resist stripping method according to claim 1, further comprising: a control unit configured to control the first to third flow control valves to set a flow rate of each fluid supplied from the supply units to the substrate. apparatus.
上記第1乃至第3の流量制御弁を通過した上記硫酸、オゾンガス及び過熱水蒸気の流体のうち、少なくとも過熱水蒸気を加熱する加熱手段が設けられていることを特徴とする請求項2記載のレジスト剥離装置。   3. The resist stripping according to claim 2, further comprising heating means for heating at least superheated steam among the fluids of sulfuric acid, ozone gas and superheated steam that have passed through the first to third flow control valves. apparatus. 上記基板に供給される流体の温度を検出する温度センサを有し、この温度センサの検出に基いて上記加熱手段による上記流体の加熱温度を制御することを特徴とする請求項3記載のレジスト剥離装置4. The resist stripping according to claim 3, further comprising a temperature sensor for detecting a temperature of the fluid supplied to the substrate, and controlling the heating temperature of the fluid by the heating means based on the detection of the temperature sensor. Equipment .
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