JP4804779B2 - フィルム、テープ形態の印刷回路基板外観検査における過検出防止用システム及びその処理方法 - Google Patents
フィルム、テープ形態の印刷回路基板外観検査における過検出防止用システム及びその処理方法 Download PDFInfo
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Description
。
る多数の印刷回路基板の前記回路パターンの不良の可否を検査する自動光学検査システム
は、光源を利用して前記各々の印刷回路基板に対応する映像データを獲得する自動光学検
査器と、前記自動光学検査器から前記映像データを受け入れ、前記映像データの各々のピ
クセル単位の明るさを照度計による前記回路パターンと前記空間とを識別する第1 の明るさレベルによって、前記印刷回路基板の良否を判別する制御部と、を含み、前記制御部は前記第1 の明るさレベルによって前記印刷回路基板の前記回路パターンが不良として判別されれば、所定の実際不良パターンに対応する第2 の明るさレベルを利用して前記不良として判別された回路パターンの箇所が実際の不良であるか否かを2次的に判別する。
102 AOI
110 巻き出し部
120 ビジョン検査部
130 不良処理部
140 巻き取り部
150 AOI制御部
170 コンピュータシステム
Claims (18)
- 回路パターンと空間を有する多数の印刷回路基板の前記回路パターンの不良の可否を検査する自動光学検査システムにおいて、
光源を利用して前記各々の印刷回路基板に対応する映像データを獲得する自動光学検査器と、
前記自動光学検査器から前記映像データを受け入れ、前記映像データの各々のピクセル単位の明るさを照度計による前記回路パターンと前記空間とを識別する第1の明るさレベルによって前記印刷回路基板の良否を判別する制御部と、を含み、
前記制御部は前記第1の明るさレベルによって前記印刷回路基板の前記回路パターンが不良として判別されれば、所定の実際の不良パターンに対応する第2の明るさレベルを利用して前記不良として判別された回路パターンの箇所が実際の不良であるか否かを2次的に判別することを特徴とする自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記光源が透過光であれば、前記第2の明るさレベルは前記第1の明るさレベルより小さく、
前記不良として判別された回路パターンの明るさレベルが前記第1および前記第2の明るさレベルの間であれば、前記回路パターンの不良箇所が良品性異物によるものであるとして判別し、前記不良判別された印刷回路基板を良品として判別することを特徴とする、請求項1に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第2の明るさレベル以下であれば、前記回路パターンを実際の不良として判別して前記不良判別された印刷回路基板を不良として判別することを特徴とする、請求項2に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記光源が反射光であれば、前記第2の明るさレベルは前記第1の明るさレベルより大きく、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第1および前記第2の明るさレベルの間であれば、前記回路パターンの不良が良品性異物によるものであるとして判別し、前記不良として判別された印刷回路基板を良品として判別することを特徴とする、請求項1に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第2の明るさレベルの以上であれば、前記回路パターンを実際の不良として判別し、前記不良として判別された印刷回路基板を不良として判別することを特徴とする、請求項4に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部はコンピューターシステムを具備し、
前記コンピューターシステムは前記自動光学検査器とコンピュータネットワークとを通じて前記映像データおよび前記2次的な判別情報を相互伝送することを特徴とする、請求項1に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記映像データの画素単位で明るさレベルを抽出するためのプログラムを含むことを特徴とする、請求項1または請求項6に記載の自動光学検査システム。 - 多数の印刷回路基板の回路パターンの不良の可否を検査する自動光学検査システムにおいて、
光源から透過光を発生させて前記各々の印刷回路基板に対応する映像データを獲得する自動光学検査器と、
前記自動光学検査器から前記映像データを受け入れ、前記映像データの各々のピクセル単位の明るさを照度計による第1基準値を利用して前記印刷回路基板の良否を判別する制御部と、を含み、
前記制御部は前記第1基準値によって不良として判別された印刷回路基板の箇所を前記第1基準値より小さい明るさである照度計の第2基準値を利用して前記不良として判別された印刷回路基板が実際に不良であるか否かを2次的に判別することを特徴とする自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記不良として判別された印刷回路基板の回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第1および前記第2基準値の間であれば、前記回路パターンの不良が良品性異物によるものであるとして判別し、前記不良として判別された印刷回路基板を良品として判別することを特徴とする、請求項8に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第2基準値以下であれば、前記回路パターンを実際の不良として判別し、前記不良として判別された印刷回路基板を実際の不良として判別することを特徴とする、請求項9に記載の自動光学検査システム。 - 多数の印刷回路基板の回路パターンの不良の可否を検査する自動光学検査システムにおいて、
光源から反射光を発生させて前記各々の印刷回路基板に対応する映像データを獲得する自動光学検査器と、
前記自動光学検査器から前記映像データを受け入れ、前記映像データの各々のピクセル単位の明るさを照度計による第1基準値によって前記印刷回路基板の良否を判別する制御部と、を含み、
前記制御部は前記第1基準値によって不良として判別された印刷回路基板の箇所を前記第1基準値より大きい明るさである照度計の第2基準値を利用して前記不良として判別された印刷回路基板が実際に不良であるか否かを2次的に判別することを特徴とする自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記不良として判別された印刷回路基板の回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第1および前記第2基準値の間であれば、前記回路パターンの不良が良品性異物によることとして判別して、前記不良として判別された印刷回路基板を良品として判別することを特徴とする請求項11に記載の自動光学検査システム。 - 前記制御部は、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第2基準値の以上であれば、前記回路パターンを実際不良として判別し、前記不良として判別された印刷回路基板を実際不良として判別することを特徴とする請求項12に記載の自動光学検査システム。 - フィルムおよびテープ形態の印刷回路基板の回路パターンを検査する自動光学検査システムでの良品を不良として判別する過検出を防止するための検査方法において、
光源を利用して前記印刷回路基板を獲得する段階と、
前記印刷回路基板に対応する映像データを獲得する段階と、
前記映像データを画素単位の明るさレベルによる前記回路パターンを識別する第1基準値によって前記印刷回路基板の良否を判別する段階と、
前記第1基準値によって不良判別された印刷回路基板の箇所を実際の不良パターンに対応する明るさレベルである第2基準値によって実際の不良状態を判別する段階と、
を含み、それによって過検出を防止することを特徴とする自動光学検査システムの検査方法。 - 前記不良状態を判別する段階は、
前記光源が透過光の場合、前記第2基準値は前記第1基準値より小さい明るさレベルを有し、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第1および前記第2基準値の間であれば、前記不良として判別された印刷回路基板を良品性異物による良品として判定することを特徴とする、請求項14に記載の自動光学検査システムの検査方法。 - 前記不良状態を判別する段階は、
前記第1基準値によって不良として判別された印刷回路基板の前記回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第2基準値より小さければ、前記不良として判定された印刷回路基板を実際の不良として判別することを特徴とする、請求項15に記載の自動光学検査システムの検査方法。 - 前記不良状態を判別する段階は、
前記光源が反射光の場合、前記第2基準値は前記第1基準値より大きい明るさレベルを有し、
前記不良として判別された回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第1および前記第2基準
値の間であれば、前記不良として判別された印刷回路基板を良品性異物による良品として
判定することを特徴とする、請求項14に記載の自動光学検査システムの検査方法。 - 前記不良状態を判別する段階は、
前記第1基準値によって不良判別された印刷回路基板の回路パターンの箇所の明るさレベルが前記第2基準値より大きければ、前記不良として判定された印刷回路基板を実際の不良として判別することを特徴とする、請求項17に記載の自動光学検査システムの検査方法。
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