Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4799809B2 - 半導体発光装置の製造方法 - Google Patents

半導体発光装置の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4799809B2
JP4799809B2 JP2003205662A JP2003205662A JP4799809B2 JP 4799809 B2 JP4799809 B2 JP 4799809B2 JP 2003205662 A JP2003205662 A JP 2003205662A JP 2003205662 A JP2003205662 A JP 2003205662A JP 4799809 B2 JP4799809 B2 JP 4799809B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light emitting
semiconductor light
sealing resin
color tone
emitting element
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003205662A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2005056885A (ja
Inventor
勉 小田喜
Original Assignee
株式会社ファインラバー研究所
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 株式会社ファインラバー研究所 filed Critical 株式会社ファインラバー研究所
Priority to JP2003205662A priority Critical patent/JP4799809B2/ja
Publication of JP2005056885A publication Critical patent/JP2005056885A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4799809B2 publication Critical patent/JP4799809B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/26Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/31Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
    • H01L2224/32Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
    • H01L2224/321Disposition
    • H01L2224/32151Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/32221Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/32245Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Landscapes

  • Led Device Packages (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体発光素子から発光する光の波長を変換することによって所望の色調の光を発光させる半導体発光装置の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
発光ダイオード(LED)は半導体素子であるため、信頼性が高く、また寿命も長く、光源として用いた場合にはその交換作業も軽減されることから、携帯通信機、パーソナルコンピュータ周辺機器、OA機器、家庭用電気機器、オーディオ機器、各種スイッチ等の表示部、バックライト用光源、表示板等の各種表示装置の構成部品として広く使用されている。
【0003】
従来の発光ダイオードは、図3(A)に示されるようないわゆる砲弾型の発光ダイオードの場合、通常、配線導体(カソードリード)1と配線導体(アノードリード)2とからなる1対の配線導体1,2と、カソードリード1頂部に形成された凹部内に電気的に接続された例えば窒化ガリウム系化合物半導体等の半導体発光素子3と、半導体発光素子3に形成された電極(図示せず)とアノードリード2の頂部とを電気的に接続するボンディングワイヤ4とが、カソードリード1及びアノードリード2の一端側で光透過性の封止樹脂5で封止された構造となっている。また、図3(B)に示されるようないわゆるチップ型の発光ダイオードの場合は、上面が開口した箱形の発光体収容部材6の内底からカソードリード1及びアノードリード2を発光体収容部材6の外部へ延出し、この発光体収容部材6の内部に半導体発光素子3やボンディングワイヤ4,4を収容し、これらを接続して発光体収容部材6内を封止樹脂5で封止した構造となっている。
【0004】
現在、このようなLEDとしては、例えば、青色を発光する半導体発光素子上にYAG系蛍光体を塗布し、又はYAG系蛍光体を封止樹脂中に分散させて、この蛍光体により青色光を白色光に変換した白色LEDが市販されている。また、高輝度発光が可能な紫外発光素子等の長波長紫外線又は短波長可視光線(350〜420nm)を発光する素子も開発され、RBG蛍光体を組み合わせることによって、白色や中間色を所望の色調で得ることも検討されている。この方法では、蛍光体として、発光色が青色のBaMgAl1627:Eu、(Sr,Ca,Ba)5(PO43Cl:Eu、発光色が緑色のBaMg2Al1627:Eu,Mn、Zn2GeO4:Mn、発光色が赤色のY22S:Eu、3.5MgO・0.5MgF2・GeO2:Mnなどを任意の割合で混合することによって長波長紫外線又は短波長可視光線で様々な発光色を高輝度で得ることが期待されている。
【0005】
また、最近では、上記各種表示装置の需要者の色彩に対する要求が高まり、各種表示装置において微妙な色合いをより高精細に再現できる機能が要求されている。更に、1個の発光ダイオードによって白色乃至各種の中間色を再現できる機能も強く求められている。
【0006】
このような発光ダイオードの半導体発光素子としては、GaN系やInGaN系などの発光素子が、高輝度発光が期待できることから注目されているが、このような発光素子、特に、InGaN系の発光素子ではIn含有量が変化すると発光波長が大きくシフトしてしまうという性質があり、素子毎の発光波長のばらつきが大きいのが実情である。そのため、このような発光素子を用いる場合に、例えば、発光素子が与える平均的な発光波長に合わせて蛍光体の使用量や混合比を設定してこれを一様に用いると、発光波長が設定値からずれている発光素子が与える色調は目的とする色調とは異なるものとなってしまう。このような問題が、青色発光素子や紫外発光素子を用いて白色乃至中間色を発光させるLEDが高価となる原因となっていた。
【0007】
また、蛍光体を用いた半導体発光装置を製造する場合、蛍光体を塗布する方法では、塗布した蛍光層の厚さが一定しないため塗布量がばらついてしまう。一方、蛍光体を封止樹脂中に分散させる方法でも、成形中に蛍光体が沈んでしまって偏在してしまい、特にRBG蛍光体を封止樹脂に分散させて使用する場合のように、複数の色調変換材料を用いる場合には、それらの比重がそれぞれ異なるために、分散が均一にならず、いずれの場合でも色むらが発生することが問題となっていた。
【0008】
更に、このような蛍光体は、空気中の水分により加水分解されやすいものが多く、蛍光体の発光特性が変化してしまうという問題もある。例えば、封止樹脂中に分散させた蛍光体も大気との界面付近に位置するものは経時的に発光特性が変化してしまう。また、紫外発光素子等の短波長の光を発光する素子を用いる場合、蛍光体を分散させた樹脂が素子からの発光光により劣化し、これにより色調の変化を引き起こす問題もある。
【0009】
なお、この発明に関連する先行技術文献情報としては以下のものがある。
【0010】
【特許文献1】
特開平11−87784号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点を解決するためになされたものであり、色むらが少なく、色調の経時安定性が高い半導体発光装置を、安価に、色調の再現性よく製造する方法を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段及び発明の実施の形態】
本発明者は、上記問題を解決するため鋭意検討を重ねた結果、一対の配線導体と、上記配線導体の一方の配線導体に電気的に接続されたGaN系青色発光素子と、この青色発光素子と上記配線導体の他方の配線導体とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記青色発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを、上記配線導体の上記青色発光素子及びボンディングワイヤが接続された一端側で封止樹脂により封止してなる半導体発光装置を上記配線導体、青色発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止して半製品となし、次いで上記第1の封止樹脂で封止された青色発光素子に通電することにより青色発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように、YAG系蛍光体の種類及び配合量を調整し、該YAG系蛍光体を未硬化のシリコーン樹脂又はシリコーンゴムに添加混合し、成形硬化させることにより成形体からなる色調変換層を得、次いでこの色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止する方法により製造すれば、色むらが少なく、色調の経時安定性が高い半導体発光装置を、安価に、色調の再現性よく製造することができることを見出した。
【0013】
また、本発明者は、上面が開口した発光体収容部を有する箱形の発光体収容部材の内底から一対の配線導体を上記発光体収容部の外側に延出すると共に、上記発光体収容部内に、GaN系青色発光素子と、この青色発光素子と上記配線導体の各々とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記青色発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを封止樹脂により封止してなる半導体発光装置を、上記配線導体、青色発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止して半製品となし、次いで上記第1の封止樹脂で封止された青色発光素子に通電することにより青色発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように、YAG系蛍光体の種類及び配合量を調整し、該YAG系蛍光体を未硬化のシリコーン樹脂又はシリコーンゴムに添加混合し、成形硬化させることにより成形体からなる色調変換層を得、次いでこの色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止する方法により製造すれば、色むらが少なく、色調の経時安定性が高い半導体発光装置を、安価に、色調の再現性よく製造することができることを見出し、本発明をなすに至った。
【0014】
即ち、本発明は、
[1]一対の配線導体と、上記配線導体の一方の配線導体に電気的に接続された半導体発光素子と、この半導体発光素子と上記配線導体の他方の配線導体とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを、上記配線導体の上記半導体発光素子及びボンディングワイヤが接続された一端側で封止樹脂により封止してなる半導体発光装置の製造方法であって、
上記半導体発光素子としてGaN系青色発光素子を用いると共に、上記配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止して半製品となし、次いで上記第1の封止樹脂で封止された半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように、YAG系蛍光体の種類及び配合量を調整し、該YAG系蛍光体を未硬化のシリコーン樹脂又はシリコーンゴムに添加混合し、成形硬化させることにより成形体からなる色調変換層を得、次いでこの色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止することを特徴とする半導体発光装置の製造方法、
[2]上面が開口した発光体収容部を有する箱形の発光体収容部材の内底から一対の配線導体を上記発光体収容部の外側に延出すると共に、上記発光体収容部内に、半導体発光素子と、この半導体発光素子と上記配線導体の各々とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを封止樹脂により封止してなる半導体発光装置の製造方法であって、
上記半導体発光素子としてGaN系青色発光素子を用いると共に、上記配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止して半製品となし、次いで上記第1の封止樹脂で封止された半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように、YAG系蛍光体の種類及び配合量を調整し、該YAG系蛍光体を未硬化のシリコーン樹脂又はシリコーンゴムに添加混合し、成形硬化させることにより成形体からなる色調変換層を得、次いでこの色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止することを特徴とする半導体発光装置の製造方法、
[3]上記第1の封止樹脂が上記第2の封止樹脂より低硬度であることを特徴とする[1]又は[2]記載の半導体発光装置の製造方法、及び
[4]上記色調変換層が、シリコーンゴム成形体からなることを特徴とする[1]乃至[3]のいずれか1項記載の半導体発光装置の製造方法を提供する。
【0015】
以下、本発明について更に詳述する。
まず、本発明の半導体発光装置の製造方法の第1の態様は、一対の配線導体と、上記配線導体の一方の配線導体に電気的に接続された半導体発光素子と、この半導体発光素子と上記配線導体の他方の配線導体とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを、上記配線導体の上記半導体発光素子及びボンディングワイヤが接続された一端側で封止樹脂により封止してなる半導体発光装置の製造方法であり、上記配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止し、次いで上記第1の封止樹脂で封止された半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように色調変換材料を高分子材料に適量分散させた高分子成形体からなる色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止するものである。
【0016】
この第1の態様の方法は、例えば、図1(A)に示されるような、配線導体(カソードリード)1と配線導体(アノードリード)2とからなる1対の配線導体1,2と、カソードリード1頂部に形成された凹部内にカソードリード1と電気的に接続された半導体発光素子3と、半導体発光素子3に形成された電極(図示せず)とカソードリード2の頂部とを電気的に接続するボンディングワイヤ4と、半導体発光素子3の発光光路上に設けられた色調変換層7とが、カソードリード1及びアノードリード2の一端側で封止樹脂5で封止された構造のいわゆる砲弾型の発光ダイオードの製造方法として好適に用いることができる。
【0017】
また、本発明の半導体発光装置の製造方法の第2の態様は、上面が開口した発光体収容部を有する箱形の発光体収容部材の内底から一対の配線導体を上記発光体収容部の外側に延出すると共に、上記発光体収容部内に、半導体発光素子と、この半導体発光素子と上記配線導体の各々とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを封止樹脂により封止してなる半導体発光装置の製造方法であり、上記配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止し、次いで上記第1の封止樹脂で封止された半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように色調変換材料を高分子材料に適量分散させた高分子成形体からなる色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止するものである。
【0018】
この第2の態様の方法は、例えば、図2(B)に示されるような、上面が開口した発光体収容部を有する箱形の発光体収容部材6の内底から配線導体(カソードリード)1と配線導体(アノードリード)2とからなる1対の配線導体1,2を上記発光体収容部の外側に延出すると共に、発光体収容部内に、半導体発光素子3と、この半導体発光素子3と配線導体1,2の各々とを電気的に接続する2本のボンディングワイヤ4,4と、半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層7とが封止樹脂5により封止された構造のいわゆるチップ型の発光ダイオードの製造方法として好適に用いることができる。
【0019】
本発明においては、上記第1の態様及び第2の態様いずれの場合においても、まず、半導体発光素子並びにこれに通電するための導電体である配線導体及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止する。配線導体、半導体素子及びボンディングワイヤを封止する第1の封止樹脂としてはエポキシ樹脂、シリコーン樹脂等の従来公知の透光性樹脂を用いることができる。
【0020】
第1の態様の場合、配線導体1,2、半導体発光素子3及びボンディングワイヤ4を電気的に接続し、これらを封止樹脂により封止するための成形型内に配置し、この型内に未硬化の封止樹脂を注入して硬化成形させることにより、例えば図2(A−1)に示されるような、配線導体1,2、半導体発光素子3及びボンディングワイヤ4が第1の封止樹脂5aにより封止された半製品を作製する。なお、このような半製品として、一旦砲弾型に成形された発光ダイオードの頭頂部を切り取って用いることも可能である。
【0021】
一方、第2の態様の場合は、配線導体1,2、半導体発光素子3及びボンディングワイヤ4,4を発光体収容部材6の発光体収容部内で電気的に接続し、この発光体収容部内に未硬化の封止樹脂を注入して硬化させることにより、例えば図2(B−1)に示されるような、配線導体1,2、半導体発光素子3及びボンディングワイヤ4が第1の封止樹脂5aにより発光体収容部材6内に封止された半製品を作製する。なお、発光体収容部材6としては、一対の配線導体1,2を金型内に保持しつつ樹脂を注入するインサート成形によって成形したものを用い得る。また、この樹脂としては一般に変性ポリイミドを用いることができる。
【0022】
いずれの場合においても、半導体発光素子3は、配線導体1,2と電気的に接続された状態で固定された半製品となり、これにより、次の工程で実施する半導体発光素子に通電してその発光波長を測定する操作が容易となる。
【0023】
次に、図2(A−2),(B−2)に示されるように、半導体発光素子3等を第1の封止樹脂5aで封止した半製品の半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定する。発光波長の測定は、半導体発光装置の発光波長を測定する従来公知の装置により測定可能である。この場合、半導体発光素子は配線導体及びボンディングワイヤと共に封止樹脂に封止されて一定の形状をなす半製品となっているため、従来、半導体発光装置製品の検査に用いられている測定装置をそのまま適用することが可能である。なお、図2(A−2),(B−2)中、8は電源、9は光度計である。
【0024】
次に、図2(A−3),(B−3)に示されるように、上記測定により測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように色調変換材料を高分子材料に適量分散させた高分子成形体からなる色調変換層7を第1の封止樹脂5a上に積層する。本発明において、色調変換層は、色調変換材料を高分子材料に分散させた高分子成形体であり、色調変換層中の色調変換材料の種類及び配合量は、色調変換層を積層する上記半製品の半導体発光素子の発光波長の測定結果に基づき変換後の色調が所望の色調となるように決定される。
【0025】
色調変換材料としては、Y3-xGaxAl512:Ce(0≦x≦3)のYAG系蛍光体が用いられる。
【0026】
一方、高分子材料としては、耐熱性及び透過率の点から、透光性樹脂であるシリコーン樹脂、透明性ゴムであるシリコーンゴムを用いる。特に、350〜450nmの近紫外から短波長可視光を発光する半導体発光素子を用いる場合、シリコーン樹脂やシリコーンゴムはこれらの波長を吸収しないため、高輝度、長寿命の発光装置となり好適である。また、色調変換層に接着成分を添加することもでき、これにより封止樹脂上への強固な固定が可能となる。
【0027】
本発明においては、色調変換層として、上述したような色調変換材料を高分子材料に混合分散させて成形することにより得た高分子成形体を用いるが、このような高分子成形体は、未硬化の樹脂に色調変換材料を添加混合し、圧縮成形等の従来公知の方法で成形硬化させることにより得ることができる。このように、本発明においては、色調変換機能を有する色調変換材料を高分子成形体からなる色調変換層として封止樹脂とは別に作製して半導体発光素子からの発光光の光路上に設けるため、色調変換材料を封止樹脂中に分散させる場合と異なり、色調変換層の硬化において色調変換材料の偏在を防止するように分散、硬化条件を設定することが可能となり、色調変換材料の偏在による色むらを低減することができると共に、層厚を所定厚さで一定とすることが可能であるため、色調変換材料を塗布する方法のような層厚のばらつきによる色むらの発生も低減することができる。
【0028】
また、特に複数の色調変換材料を用いる場合には、色調変換材料を添加した未硬化の樹脂の粘度を増加させることにより、比重の重い色調変換材料の沈降を防止することができる。粘度増加方法としては、例えば、未硬化の樹脂の加熱、充填材の添加、チキソトロピー付与剤の添加などが挙げられる。
【0029】
なお、色調変換層の作製及び積層は、上記発光波長の測定結果を得てから、その波長に合わせて色調変換層を作製して積層する方法を採用し得ることは勿論のこと、予想される半導体発光素子の波長の振れ幅(個体差)に合わせて予め色調変換層を多種作製しておき、これらの中から最適なものを選択して積層する方法も採用し得る。
【0030】
最後に、図2(A−4),(B−4)に示されるように、第1の封止樹脂上に積層した色調変換層7を第2の封止樹脂5bで封止する。これにより、色調変換材料は、大気との接触が遮断され、空気による色調変換材料の劣化が防止される。この色調変換層を封止する第2の封止樹脂としてはエポキシ樹脂、シリコーン樹脂等の従来公知の透光性樹脂を用いることができる。
【0031】
この第2の封止樹脂により、色調変換層を封止する際、第1の態様においては、色調変換層を積層した上述の半製品を成形型内に配置し、この型内に未硬化の封止樹脂を注入して硬化成形させることにより封止が可能である。
【0032】
一方、第2の態様においては、色調変換層を積層した上述の半製品の発光体収容部内に更に未硬化の封止樹脂を注入して硬化させることにより封止が可能である。
【0033】
本発明においては、上述したとおり、配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを封止する第1の封止樹脂と第1の封止樹脂上に色調変換層を封止する第2の封止樹脂は、いずれもエポキシ樹脂、シリコーン樹脂等の従来公知の透光性樹脂を用いることができ、第1の封止樹脂と第2の封止樹脂とは同一の樹脂を用いても、異なる樹脂を用いてもよいが、特に、第1の封止樹脂として第2の封止樹脂より低硬度のものを用いることが好ましく、半導体発光装置が受ける外部からの衝撃を緩和しボンディングワイヤ等が切断することを防止することができる。
【0034】
本発明は、微細な色調を高精細に安定的に再現することが要求される半導体発光装置、即ち、半導体発光素子としてGaN系の青色光を発光する素子を用い、色調変換材料としてYAG:Ce等の青色光を白色光に変換する蛍光体を用いた白色発光ダイオードの半導体発光装置の製造方法として用いられる。
【0035】
【実施例】
以下、実施例及び比較例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明は下記実施例に限定されるものではない。
【0036】
[実施例]
配線導体、半導体発光素子(GaN系青色発光素子)及びボンディングワイヤを、封止樹脂で封止した市販青色LEDの封止樹脂の頭頂部を削り、図2(A−1)に示されるような砲弾型の発光ダイオードの半製品を17個(a−1〜17)製造し、これらをA群とした。
【0037】
A群の17個(a−1〜17)は、まず、積分球中において20mAの電流を流して点灯し、その発光色を分光放射輝度計PR−704(Photo Research社製)で測定した。得られた発光色をCIE色度座標で表した結果を表1に示す。次に、この結果に基づいて、未硬化のシリコーンゴム100質量部に、YAG:Ce蛍光体を表1に示す量添加して混合し、加熱プレスを用いて厚さ0.5mmのシート状に成形した色調変換層(c−1〜17)を作製し、この17種の色調変換層を半製品(a−1〜17)の封止樹脂上に、図2(A−3)に示されるように積層し、更にこの色調変換層(c−1〜17)をエポキシ樹脂(Craft Resin Z−1 日新レジン製)で封止して、図2(A−4)に示されるような発光ダイオード(A−1〜17)を得た。
【0038】
次に、これら得られた発光ダイオードについて、積分球中において各発光装置に20mAの電流を流して点灯し、その発光色を分光放射輝度計PR−704(Photo Research社製)で測定した。得られた発光色をCIE色度座標で表した結果を表1及び図4に示す。
【0039】
【表1】
Figure 0004799809
【0040】
[比較例]
配線導体、半導体発光素子(GaN系青色発光素子)及びボンディングワイヤを、封止樹脂で封止した市販青色LEDの封止樹脂の頭頂部を削り、図2(A−1)に示されるような砲弾型の発光ダイオードの半製品をA群とは別に新たに17個(b−1〜17)製造し、これらをB群とした。
【0041】
B群の17個(b−1〜17)には、未硬化のシリコーンゴム100質量部に、YAG:Ce蛍光体(Y1.8Gd1.2Al512:Ce)14質量部を添加して混合し、加熱プレスを用いて厚さ0.5mmのシート状に成形した色調変換層(c−0)を17個全ての半製品(b−1〜17)の封止樹脂上に、図2(A−3)に示されるように積層し、更にこの色調変換層(c−0)をエポキシ樹脂(Craft Resin Z−1 日新レジン製)で封止して、図2(A−4)に示されるような発光ダイオード(B−1〜17)を得た。
【0042】
次に、これら得られた発光ダイオードについて、積分球中において各発光装置に20mAの電流を流して点灯し、その発光色を分光放射輝度計PR−704(Photo Research社製)で測定した。得られた発光色をCIE色度座標で表した結果を表2及び図5に示す。
【0043】
【表2】
Figure 0004799809
【0044】
色調変換層の最適化がなされていないB群の発光ダイオードのCIE色度座標がばらついているのに対し、A群の発光ダイオードは、いずれもCIE色度座標でx=0.30、y=0.30付近の座標を示す白色光を発光するものとなっており、発光色のばらつきが低減できていることがわかる。
【0045】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、色むらが少なく、色調の経時安定性が高い半導体発光装置を、安価に、色調の再現性よく製造することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の製造方法により得られる半導体発光装置の一例を示す図であり、(A)は砲弾型の発光ダイオード、(B)はチップ型の発光ダイオードを示す断面図である。
【図2】本発明の製造方法の一例の工程を説明する断面図であり(A−1)〜(A−4)は砲弾型の発光ダイオード、(B−1)〜(B−4)はチップ型の発光ダイオードの製造工程を説明する図である。
【図3】従来の半導体発光装置を示す図であり、(A)は砲弾型の発光ダイオード、(B)はチップ型の発光ダイオードを示す断面図である。
【図4】実施例で得られた17個の発光ダイオードの色調をCIE色度座標で示す図である。
【図5】比較例で得られた17個の発光ダイオードの色調をCIE色度座標で示す図である。
【符号の説明】
1 配線導体(アノードリード)
2 配線導体(カソードリード)
3 半導体発光素子
4 ボンディングワイヤ
5 封止樹脂
5a 第1の封止樹脂
5b 第2の封止樹脂
6 発光体収容部材
7 色調変換層

Claims (4)

  1. 一対の配線導体と、上記配線導体の一方の配線導体に電気的に接続された半導体発光素子と、この半導体発光素子と上記配線導体の他方の配線導体とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを、上記配線導体の上記半導体発光素子及びボンディングワイヤが接続された一端側で封止樹脂により封止してなる半導体発光装置の製造方法であって、
    上記半導体発光素子としてGaN系青色発光素子を用いると共に、上記配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止して半製品となし、次いで上記第1の封止樹脂で封止された半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように、YAG系蛍光体の種類及び配合量を調整し、該YAG系蛍光体を未硬化のシリコーン樹脂又はシリコーンゴムに添加混合し、成形硬化させることにより成形体からなる色調変換層を得、次いでこの色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止することを特徴とする半導体発光装置の製造方法。
  2. 上面が開口した発光体収容部を有する箱形の発光体収容部材の内底から一対の配線導体を上記発光体収容部の外側に延出すると共に、上記発光体収容部内に、半導体発光素子と、この半導体発光素子と上記配線導体の各々とを電気的に接続するボンディングワイヤと、上記半導体発光素子の発光光路上に設けられた色調変換層とを封止樹脂により封止してなる半導体発光装置の製造方法であって、
    上記半導体発光素子としてGaN系青色発光素子を用いると共に、上記配線導体、半導体発光素子及びボンディングワイヤを第1の封止樹脂で封止して半製品となし、次いで上記第1の封止樹脂で封止された半導体発光素子に通電することにより半導体発光素子を発光させてその発光波長を測定し、次いでこの測定された発光波長の光で所望の色調を与えるように、YAG系蛍光体の種類及び配合量を調整し、該YAG系蛍光体を未硬化のシリコーン樹脂又はシリコーンゴムに添加混合し、成形硬化させることにより成形体からなる色調変換層を得、次いでこの色調変換層を上記第1の封止樹脂上に積層し、次いでこの色調変換層を第2の封止樹脂で封止することを特徴とする半導体発光装置の製造方法。
  3. 上記第1の封止樹脂が上記第2の封止樹脂より低硬度であることを特徴とする請求項1又は2記載の半導体発光装置の製造方法。
  4. 上記色調変換層が、シリコーンゴム成形体からなることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の半導体発光装置の製造方法。
JP2003205662A 2003-08-04 2003-08-04 半導体発光装置の製造方法 Expired - Fee Related JP4799809B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003205662A JP4799809B2 (ja) 2003-08-04 2003-08-04 半導体発光装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003205662A JP4799809B2 (ja) 2003-08-04 2003-08-04 半導体発光装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005056885A JP2005056885A (ja) 2005-03-03
JP4799809B2 true JP4799809B2 (ja) 2011-10-26

Family

ID=34362819

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003205662A Expired - Fee Related JP4799809B2 (ja) 2003-08-04 2003-08-04 半導体発光装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4799809B2 (ja)

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5059739B2 (ja) * 2005-03-11 2012-10-31 ソウル セミコンダクター カンパニー リミテッド 直列接続された発光セルのアレイを有する発光ダイオードパッケージ
JP4729719B2 (ja) * 2005-04-28 2011-07-20 富士電機株式会社 赤色変換フィルタおよびそのパターニング方法、該赤色変換フィルタを含む多色変換フィルタおよび有機elディスプレイ
JP2007188976A (ja) * 2006-01-11 2007-07-26 Shinko Electric Ind Co Ltd 発光装置の製造方法
US8038497B2 (en) * 2008-05-05 2011-10-18 Cree, Inc. Methods of fabricating light emitting devices by selective deposition of light conversion materials based on measured emission characteristics
US7988311B2 (en) 2008-06-30 2011-08-02 Bridgelux, Inc. Light emitting device having a phosphor layer
KR101064005B1 (ko) * 2009-03-02 2011-09-08 엘지이노텍 주식회사 발광 장치 및 그 제조방법
JP2011096936A (ja) * 2009-10-30 2011-05-12 Alpha- Design Kk 半導体発光ディバイス製造装置
JP5375776B2 (ja) * 2010-09-09 2013-12-25 パナソニック株式会社 Ledパッケージ製造システム
JP2012059917A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Panasonic Corp Ledパッケージ製造システムにおける樹脂塗布装置
JP2012059915A (ja) * 2010-09-09 2012-03-22 Panasonic Corp Ledパッケージ製造システム
JP5375777B2 (ja) * 2010-09-09 2013-12-25 パナソニック株式会社 Ledパッケージ製造システムにおける樹脂塗布装置
KR101321933B1 (ko) * 2011-03-30 2013-10-28 서울바이오시스 주식회사 발광 다이오드 및 이의 제조 방법
DE112012003848T5 (de) * 2011-09-16 2014-07-10 Panasonic Corp. System und Verfahren zur Herstellung lichtemittierender Elemente und System und Verfahren zur Herstellung von LED-Packages

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5419660A (en) * 1977-07-15 1979-02-14 Stanley Electric Co Ltd Method of packaging optical semiconductor resin mold
JP2927279B2 (ja) * 1996-07-29 1999-07-28 日亜化学工業株式会社 発光ダイオード
JPH1187778A (ja) * 1997-09-02 1999-03-30 Toshiba Corp 半導体発光素子、半導体発光装置およびその製造方法
JP3685018B2 (ja) * 2000-05-09 2005-08-17 日亜化学工業株式会社 発光素子とその製造方法
JP2002033520A (ja) * 2000-07-14 2002-01-31 Toshiba Electronic Engineering Corp 半導体発光装置
JP3614776B2 (ja) * 2000-12-19 2005-01-26 シャープ株式会社 チップ部品型ledとその製造方法
JP2002299699A (ja) * 2001-03-30 2002-10-11 Sumitomo Electric Ind Ltd 発光装置およびその製造方法
JP4061869B2 (ja) * 2001-07-26 2008-03-19 松下電工株式会社 発光装置の製造方法
JP2003051622A (ja) * 2001-08-07 2003-02-21 Rohm Co Ltd 白色系半導体発光装置
JP2003152227A (ja) * 2001-11-14 2003-05-23 Citizen Electronics Co Ltd Ledの色補正手段および色補正方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005056885A (ja) 2005-03-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7906892B2 (en) Light emitting device
EP1630877B1 (en) LED with fluorescent material
JP4989936B2 (ja) 照明装置
JP5181505B2 (ja) 発光装置
US9231170B2 (en) Phosphor LED
US8476655B2 (en) Electromagnetic-radiation-emitting optoelectronic component and method for producing an optoelectronic component
JP4799809B2 (ja) 半導体発光装置の製造方法
US20090039762A1 (en) White led device comprising dual-mold and manufacturing method for the same
US20050211991A1 (en) Light-emitting apparatus and illuminating apparatus
EP1673816A1 (en) Semiconductor device for emitting light and method for fabricating the same
JP2007266579A (ja) 発光装置
KR20170001637A (ko) 발광 장치 및 그의 제조방법
US20060046327A1 (en) High heat dissipation LED device and its manufacturing method
JP5323308B2 (ja) 発光モジュール
JP2008218998A (ja) 発光装置
JP2007288138A (ja) 発光装置
JP2007235104A (ja) 発光装置の製造方法および発光装置
JP2008235552A (ja) 発光装置の製造方法および発光装置
JP2007116116A (ja) 発光装置
JP2008244468A (ja) 発光装置
KR20060129940A (ko) 백색계 발광 다이오드 및 그 제조 방법
JP2017034179A (ja) 発光モジュール
KR20070009948A (ko) 2개의 형광체를 이용한 고출력 백색 발광 다이오드 소자
KR102514150B1 (ko) 발광 소자 및 이를 구비한 조명 장치
US7701124B2 (en) White light-emitting device having a cap layer formed from a mixture of silicon and a phosphor blend

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060710

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090518

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090520

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090715

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20091118

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100414

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100714

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20100720

A912 Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912

Effective date: 20100813

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110803

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140812

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4799809

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140812

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees