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JP4776556B2 - 有機el素子、有機el素子の製造方法 - Google Patents

有機el素子、有機el素子の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は有機EL素子とその製造方法に関するものである。
有機EL素子は、低消費電力、高輝度、自己発光素子という優れた特徴を有しており、薄型テレビ等の表示装置として注目されている。
しかしながら、有機EL素子中の有機薄膜は、外部から水分、酸素が侵入すると劣化し、有機EL素子の特性が低下するという問題がある。
このため、有機EL素子において、耐水分透過性・耐酸素透過性に優れた保護層を形成し、有機薄膜を水分から保護することは、有機EL素子の長寿命化を実現する為に重要である。
有機EL素子に必要とされる耐水分透過性・耐酸素透過性の保護膜を形成する方法は様々報告があり、CVD法、スパッタ法などによる成膜が一般的であるが、いずれの処理方法でも、高パワーで保護膜を形成すると、下層の有機薄膜にダメージを与えてしまうため、高い成膜レートで形成することができない。
よって、低成膜レートで形成せざるを得ず、処理時間が長くなることが問題となる。
また、成膜中に有機EL素子を加熱することもできないため、緻密な保護膜を形成できず、十分な耐水分透過性・耐酸素透過性が得られない。
そこで従来技術では、十分な耐水分透過性・耐酸素透過性を得るために、保護膜の膜厚を厚く形成しており、これもまた処理時間を長くする要因となっている。
特開2004−022398号公報
耐水分透過性・耐酸素透過性を持った保護膜が形成された有機EL素子とその製造方法を提供する。
上記課題を解決するため、本発明は、下部電極と、前記下部電極上に配置された有機EL層と、前記有機EL層上に配置された上部電極とから成る表示部と、前記表示部を覆う保護層とを有する有機EL素子であって、前記保護層は、前記上部電極上に設けられ、CVD法で形成された膜厚100nm〜300nmの第一の無機膜と、前記第一の無機膜上に設けられ、前記第一の無機膜の表面の凹部を充填して表面が平坦な有機膜と、前記有機膜上に設けられ、スパッタ法で形成された膜厚2μm以上の第二の無機膜と、を有する有機EL素子である。
また、本発明は、下部電極と、前記下部電極上に配置された有機EL層と、前記有機EL層上に配置された上部電極を有する有機EL素子の製造方法であって、
前記上部電極上に、膜厚100nm〜300nmの第一の無機膜をCVD法で形成する工程と、前記第一の無機膜上に、前記第一の無機膜の表面の凹部を充填して表面が平坦な有機膜を形成する工程と、前記有機膜上に、膜厚2μm以上の第二の無機膜をスパッタリング法により形成する工程とを有する有機EL素子の製造方法である。
表示部と有機膜の間に第一の無機膜が配置されているので、有機膜材料が表示部に接触せず、有機EL層に溶剤などが侵入しない。
有機膜を塗布や滴下によって形成すると、段差が平坦化され、平坦な表面に第二の無機膜を形成することができる。従って、第二の無機膜は、カバレッジ性が低いスパッタリング法で形成することができる。
有機膜上に、第二の無機膜を形成するので、高成膜レートで第二の無機膜を形成することができる。
図1(f)の符号11は、有機EL素子を示している。
この有機EL素子11は、下部基板21と、表示部20と、保護層10とを有している。
表示部20は、下部基板21上に形成された下部電極22と、下部電極22上に形成された有機EL層23と、有機EL層23上に形成された上部電極24とを有しており、保護層10は、表示部20を覆っており、上部基板25は、保護層10上に配置されている。アクティブ型の素子の場合、保護層10の下層の表示部20内にトランジスタが設けられている。
保護層10は、リング状の封止部材28で取り囲まれており、封止部材28上には、上部基板25が乗せられ、有機EL層23と、下部及び上部電極22、24は、保護層10で保護された状態で、下部及び上部基板21、25と封止部材28とで、大気に触れないように密閉されている。
保護層10は三層構造であり、保護層10を形成して有機EL素子11を製造する工程を説明すると、図1(a)の下部基板21上には、下部電極22と、有機EL層23と、上部電極24が形成されており、この状態の下部基板21を真空成膜装置内に搬入し、同図(b)に示すように、第一の無機膜15を形成する。
ここでは、第一の無機膜15には、シリコン酸化膜が用いられている。
第一の無機膜15は、後述する有機膜16を形成するための有機膜材料が有機EL層23と接触し、有機EL層23中に、有機膜材料の成分が浸透することを防止するための薄膜であり、耐水分透過性や、耐酸素透過性は必要がない。従って、第一の無機膜15は、CVD方法、スパッタリング方法、真空蒸着方法等の成膜方法で形成することができるが、表示部20には段差が存在するので、ステップカバレッジのためにはCVD法による成膜が望ましい。また、膜厚は100nm〜300nmが望ましい。
下部基板21の表面のうち、封止部材28の外部になる外周付近には、接続端子が配置されており、下部及び上部電極22、24は、接続配線によって接続端子に接続されており、第一の無機膜15は、接続配線が表示部20から外周方向に導出された状態で、下部電極22と有機EL層23と上部電極24の側面や表面を覆っている。
第一の無機膜15の表面には、表示部20の段差が反映され、段差が生じており、第一の無機膜15が形成された下部基板21を、スクリーン印刷装置内に搬入し、第一の無機膜15の表面に光硬化型の有機膜材料を塗布し、表面の凹部内に有機膜材料が充填された有機膜材料層を形成する。このとき、第一の無機膜15の平坦な部分との距離を一定にして下部基板21上にブレードを配置し、その状態でブレードを移動させて余分な有機膜材料を除去し、有機膜材料層の表面を平坦にする(スクリーン印刷法)。
次いで、紫外線を照射して有機膜材料層を硬化させ、同図(c)に示すように、第一の無機膜15上に有機膜16を形成する。有機膜材料には、光硬化性のエポキシ樹脂を用い、エポキシ樹脂の有機膜16を形成することができる。
有機膜材料は塗布可能な20cp(20センチポアズ)以下の粘度であることが好ましい。また、有機EL層23を放熱させるために、有機膜16は、0.2W/m・K以上の高熱伝導性が望ましい。
表面の凹部を充填し、表面が平坦な有機膜16を得るためには、塗布法に限定されるものではなく、より低粘度の有機膜材料を滴下し、凹部内に流入させ、硬化させてもよい。
次に、有機膜16が形成された下部基板21を成膜装置内に搬入し、有機膜16の表面に第二の無機膜17を形成すると、第一の無機膜15と有機膜16と第二の無機膜17から成り、表示部20を覆う三層構造の保護層10が得られる。
有機膜16は、第一の無機膜15の表面と側面を覆っており、有機膜16は表示部20と接触していない。
有機EL層23と第二の無機膜17の間には、第一の無機膜15と有機膜16が配置されており、有機膜16が第二の無機膜17を形成するときのダメージを受けても有機EL層23はダメージを受けないから、第二の無機膜17をスパッタリング法によって高成膜レートで形成することができる。
水分や酸素の透過は第二の無機膜17によって防止するため、第二の無機膜17には、膜厚2μm以上のシリコン窒化膜やシリコン酸化膜が好ましい。
次に、下部基板21の表面の外周付近に封着材料29を配置し、表示部20を封着材料29によって取り囲む。有機膜16は、封着材料29が取り囲む領域内に配置されている。
真空雰囲気中で上部基板25を封着材料29上に乗せる。ここでは封着材料29は低融点ガラスであり、加熱によって溶融させ、固化させると、同図(f)に示すように、硬化した封着材料29によってリング状の封止部材28が形成され、有機EL素子11が得られる。
上述したように、下部電極22や上部電極24に接続された接続配線は、封止部材28と下部基板21の間から封止部材28の外部に導出されており、封止部材28の外部で下部基板21上の接続端子に接続されているが、その部分の図示は省略する。アクティブ型の素子の場合、トランジスタを制御するための接続配線も、封止部材28の外部に導出される。
下部電極22と上部電極24によって有機EL層23に電圧を印加すると、印加された部分の有機EL層23が発光し、発光光が有機EL層23の外部に放出される。
トップエミッション型デバイスの場合は、上部基板25が表示面になるから、上部基板25から発光光を放出させるために、上部基板25には、ガラス等の透明な材料を用い、保護層10は90%以上の光透過率が必要である。
また、トップエミッション型のデバイスの場合、上部基板25にカラーフィルタを配置しておくと、カラー表示が可能である。
(a)〜(f):本発明の有機EL素子の製造工程図
符号の説明
10……保護層
11……有機EL素子
15……第一の無機膜
16……有機膜
17……第二の無機膜
20……表示部
21……下部基板
22……下部電極
23……有機EL層
24……上部電極
25……上部基板

Claims (2)

  1. 下部電極と、前記下部電極上に配置された有機EL層と、前記有機EL層上に配置された上部電極とから成る表示部と、
    前記表示部を覆う保護層とを有する有機EL素子であって、
    前記保護層は、前記上部電極上に設けられ、CVD法で形成された膜厚100nm〜300nmの第一の無機膜と、
    前記第一の無機膜上に設けられ、前記第一の無機膜の表面の凹部を充填して表面が平坦な有機膜と、
    前記有機膜上に設けられ、スパッタ法で形成された膜厚2μm以上の第二の無機膜と、
    を有する有機EL素子。
  2. 下部電極と、前記下部電極上に配置された有機EL層と、前記有機EL層上に配置された上部電極を有する有機EL素子の製造方法であって、
    前記上部電極上に、膜厚100nm〜300nmの第一の無機膜をCVD法で形成する工程と、
    前記第一の無機膜上に、前記第一の無機膜の表面の凹部を充填して表面が平坦な有機膜を形成する工程と、
    前記有機膜上に、膜厚2μm以上の第二の無機膜をスパッタリング法により形成する工程とを有する有機EL素子の製造方法。
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