JP4367326B2 - 垂直磁気記録媒体 - Google Patents
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Description
このような構造の垂直磁気記録媒体において問題となる、媒体から発生するノイズのひとつであるスパイクノイズは、軟磁性裏打ち層に形成された磁壁によるものであることが知られている。したがって、垂直磁気記録媒体の低ノイズ化のためには、軟磁性裏打ち層の磁壁形成を阻止する必要がある。
ここで、適切な交換結合の大きさを確保し、かつ磁壁の形成を抑制するためには、単純に反強磁性層と軟磁性裏打ち層を積層するのではなく、反強磁性層の形成に先立って適切なシード層を形成することで反強磁性層の結晶配向性や結晶性を制御することが必要である。例えば前出の特許文献2では、シード層の成膜に先立ってTaシード層及びNiFe合金からなる配向制御層を成膜することで、反強磁性層と軟磁性裏打ち層との交換結合が増加するとされている。
垂直磁気記録方式では、前述のとおり、軟磁性裏打ち層の付与により磁気ヘッドの発生磁界強度とその磁界勾配を増加させることが可能であるが、この軟磁性裏打ち層の効果を最大限に発揮するためには、磁気ヘッドと軟磁性裏打ち層との間の距離を極力小さくする必要がある。すなわち、保護層、磁気記録層の膜厚を薄膜化することに加え、磁気記録層と軟磁性裏打ち層との間の非磁性下地層の膜厚も可能な限り薄膜化することが好ましい。
しかしながら発明者らの検討によれば、非磁性下地層の膜厚を5nm以下にした場合、特に磁区制御のための加熱及び磁場中での冷却処理を行なった場合に、磁気記録層の磁気特性や電磁変換特性が大幅に劣化することが明らかとなった。これらの反強磁性層を用いた磁区制御においては、少なくとも反強磁性層と軟磁性裏打ち層を成膜した後に、反強磁性層の材料等にもよるが、一旦250℃から350℃程度まで基板を加熱した後、一般にディスク半径方向に磁場を印加した状態で基板を冷却することにより、軟磁性層の磁化の向きを揃える必要がある。磁区制御のための加熱処理中に主に生じると推察される各層原子の相互拡散の影響を受け、反強磁性層と磁気記録層の間で磁気的な相互作用が発生し、電磁変換特性が劣化するためと考えられる。
このグラニュラー磁気記録層の低ノイズ化、熱安定性の向上のためには、強磁性結晶粒の結晶配向性、結晶粒径やその分布、酸化物等からなる結晶粒界の幅等の構造制御を適切に行なう必要がある。そのためには、磁気記録層の形成に先立って、複数のシード層や下地層を形成することが一般に行なわれている。例えば前出の特許文献4には、アモルファス構造のシード層、NiFe合金などからなる配向制御層、Ruなどからなる下地層を成膜した後、グラニュラー磁気記録層を成膜することで、媒体ノイズの低減が図れるとされている。ここで、Ruなどからなる下地層の膜厚は、磁気記録層の構造制御のために少なくとも3nm以上、望ましくは5nm以上であることが必要であると記載されている。
反強磁性層はIrMn合金からなることが好ましい。
また、軟磁性裏打ち層は、その結晶構造は面心立方格子構造を有し、その材料は少なくともNiとFeを含む合金とすることが好ましい。
また、軟磁性裏打ち層の最表面と、磁気記録層の最底面との距離が25nm以下であることが好ましい。
また、Ru及びRu基合金からなる非磁性下地層の膜厚を5nm以上とすることで、グラニュラー磁気記録層の構造を好ましく制御できる上、磁区制御のための加熱処理を行なった場合でも、反強磁性層と磁気記録層との磁気的な相互作用を遮断でき、優れた電磁変換特性を実現することが可能となる。
さらに、Mn合金からなる反強磁性層とRu又はRu合金からなる非磁性下地層の積層構造は、従来のRu又はRu合金からなる非磁性下地層単層と比較し、総膜厚を増加させずに効果的にグラニュラー磁気記録層の微細構造を制御できる。即ち、従来に比べて軟磁性裏打ち層と磁気記録層の間に介在する非磁性層の膜厚を増加させる必要はなく、軟磁性裏打ち層の効果を最大限に発揮することが可能となる。
非磁性基体1としては、通常の磁気記録媒体の基体として用いられる、NiPメッキを施したAl合金基板や、化学強化ガラス、結晶化ガラス等のガラス基板、Si基板、あるいはその他の平滑な基板を用いることが可能である。
強磁性結晶粒を構成するための材料としてはCoPt基合金が好ましく用いられるが、この他、強磁性を有する材料であれば特に制限なく用いることができる。磁気記録媒体ノイズの低減のためには、CoPt基合金にCr、Ni、Ta、Bのうちの少なくとも1種の元素を添加することが好ましい。非磁性結晶粒界を構成する材料としては、Cr、Co、Si、Al、Ti、Ta、Hf、Zrのうちの少なくとも1種の元素からなる酸化物を用いることにより、安定なグラニュラー構造を形成することが可能となる。磁気記録層5の膜厚は所望の磁気特性に応じて適宜設定されるが、記録再生時において、充分なヘッド再生出力と記録再生分解能とが得られる膜厚とすることが必要である。
非磁性下地層4は、hcp結晶構造を有する、Ru又はRuを含む合金により構成する。また、その膜厚は5nm以上とする。さらに、グラニュラー構造を有する磁気記録層5の微細構造を適切に制御するために、Ru又はRu基合金からなる非磁性下地層4上に直接磁気記録層5を積層する。
非磁性下地層の膜厚が5nm以下である場合、グラニュラー磁気記録層の構造制御が適切に行なえず、所望の磁気特性や電磁変換特性が得られない。磁気記録層がグラニュラー構造ではない場合、すなわち従来技術であるCoCr基合金の場合には、膜厚1〜5nm程度の非常に薄い非磁性下地層の付与によっても磁性層の望ましい構造制御、主に結晶粒径の微細化と結晶配向性の制御が可能な場合が多い。一方、非磁性下地層膜厚を増加させた場合、非磁性下地層自体の結晶粒径の増大に伴い磁気記録層の結晶粒径も増大する場合があり、非磁性下地層の膜厚を厚くしすぎることは好ましくない。
さらに、本発明の垂直磁気記録媒体においては、非磁性下地層が5nm以下の薄膜である場合、磁区制御のための加熱処理中に主に生じると推察される各層原子の相互拡散の影響を受け、反強磁性層と磁気記録層の間で磁気的な相互作用が発生し、更に電磁変換特性を劣化させてしまう場合もある。
このような単磁区状態を得るためには、例えば保護層6までの層構成を全て成膜した後、引き続いて成膜に用いた真空装置内で、反強磁性層3と軟磁性裏打ち層2との交換結合が消失するブロッキング温度以上、すなわち一般に250℃から350℃程度以上まで一旦加熱する。その後、非磁性基体の成膜面に平行な、100Oe程度の一様な磁場中で冷却を行なうことで、印加した磁場方向に磁化が揃うため、磁壁の生じない単磁区状態を得ることができる。非磁性基体がディスク状であれば、その半径方向に磁場を印加することが好ましい。
上述した各層の膜面に平行な結晶配向面は、軟磁性裏打ち層2はfcc(111)面、反強磁性層3はfcc(111)面、非磁性下地層はhcp(002)面、及び磁気記録層はhcp(002)面とすることが好ましい。このようにすることで、全ての層が連続してエピタキシャル的に成長できることになり、最終的に磁気記録層の結晶配向性を向上させることが可能となる。
非磁性下地層4と反強磁性層3の間には、さらに例えばTaなどからなる配向制御層を設けても良い。ただし、軟磁性裏打ち層の効果を最大限に発揮するためには、軟磁性裏打ち層の最表面と磁気記録層の最底面との距離、すなわち、非磁性下地層、反強磁性層及び上述の配向制御層の膜厚の総和は、25nm以下とすることが好ましく、さらに好ましくは20nm以下とする。
また、軟磁性裏打ち層2と非磁性基体1の間には、さらなる軟磁性層や非磁性層を設けることも可能である。
以下に本発明の垂直磁気記録媒体の実施例について説明する。
Hex値はIrMn膜厚3nm以下ではほぼ0であるが、IrMn膜厚が4nm以上10nmまでの場合には10Oe程度のHexが得られた。
次に、スピンスタンドテスターを用い、垂直磁気記録用の単磁極ヘッド(トラック幅0.2μm、浮上量10nm)によって記録再生特性を測定した。まず、書き込み電流を50mAとしてディスク全面を直流消磁したのち、ディスク全面に渡って信号を再生し、スパイクノイズの測定を行なった。表1は、実施例1の垂直磁気記録媒体における、IrMn膜厚に対するスパイクノイズの発生の有無を示す表である。図4に示した結果と対応して、高いHexが得られているIrMn膜厚4nm以上の場合にはスパイクノイズが抑制されているのに対し、IrMnが無い場合、あるいはその膜厚が3nm以下と薄く十分なHexが得られない場合にはスパイクノイズの発生が見られた。以上より、IrMn膜厚を4nm以上とすることで、スパイクノイズの発生を抑制した垂直磁気記録媒体が作製できることがわかる。
(比較例1)
反強磁性層を付与しないこと以外は実施例2と同様にして、比較用の垂直磁気記録媒体を作製した。
(比較例2)
非磁性下地層の成膜後に真空装置内でランプヒータにより、基板を250℃まで加熱した後、Co20Cr10Ptターゲットを用い、DCスパッタ法によりArガス圧10mTorr下でCoCrPt合金磁気記録層15nmを成膜した以外は実施例2と同様にして、比較用の垂直磁気記録媒体を作製した。
次に、これらの媒体について、記録密度370kFCI(Flux Change per Inch)における信号対雑音比(SNR)を測定した。図5に、これらの媒体のSNRのRu膜厚依存性を示す。
実施例2の垂直磁気記録媒体においては、Ru膜厚の増加に伴いSNRは増加し、Ru膜厚5nmでSNRは15dBに達する。一方、Ru膜厚が15nm以上、即ちRuとIrMn反強磁性膜の膜厚の総和が20nm以上の領域では、ややSNRが劣化しており、Ru膜厚が20nm以上ではさらなるSNRの劣化が生じている。このようなRu膜厚が非常に厚い領域におけるSNRの劣化は軟磁性裏打ち層と磁気ヘッドの間の距離が大きくなったことに起因していると考えられる。
一方、比較例1の垂直磁気記録媒体においては、Ru膜厚が10nmより薄い領域ではSNRが10dB以下と非常に低い。Ru膜厚の増加に伴いSNRは増加し、Ru膜厚15nmから25nmの領域でSNR値は15dB程度と、実施例1におけるRu膜厚10nmから20nmの場合とほぼ同等の値を示している。このことは、実施例1の垂直磁気記録媒体においては、比較例と同等のSNR値をより薄いRu膜厚で実現できることを示している。
一方、3nm程度以上のRu膜厚領域において、SNRは徐々に低下しており、これはRu膜厚の増大に伴い磁気記録層の結晶粒径が増大したことに主に起因していると考えられる。
2 軟磁性裏打ち層
21 第1の軟磁性裏打ち層
22 第2の軟磁性裏打ち層
3 反強磁性層
4 非磁性下地層
5 磁気記録層
6 保護層
7 潤滑剤層
8 シード層
9 第1の配向制御層
10 第2の配向制御層
Claims (5)
- 非磁性基体上に少なくとも軟磁性裏打ち層、反強磁性層、非磁性下地層、磁気記録層が順次積層された垂直磁気記録媒体において、前記非磁性下地層が膜厚5nm以上の六方最密充填(hcp)構造を有するRuもしくはRuを含む合金からなり、前記磁気記録層が強磁性を有するCoPt合金を主体とする強磁性結晶粒とそれを取り巻く酸化物を主体とする非磁性粒界からなり、前記反強磁性層が面心立方格子(fcc)構造を有する少なくともMnを含む合金からなり、前記軟磁性裏打ち層と前記反強磁性層が直接積層されていることを特徴とする垂直磁気記録媒体。
- 前記反強磁性層がIrMn合金からなることを特徴とする請求項1に記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記軟磁性裏打ち層が、面心立方格子構造を有し、少なくともNiとFeを含む合金からなることを特徴とする請求項1乃至2のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記軟磁性裏打ち層が、二層以上の軟磁性層が直接積層した構造からなり、前記反強磁性層に接する第1の軟磁性裏打ち層が、面心立方格子構造を有し、少なくともNiとFeを含む合金からなり、前記非磁性基体と前記第1の軟磁性裏打ち層の間に位置する第2の軟磁性裏打ち層が、アモルファス構造を有し、少なくともCoを含有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
- 前記軟磁性裏打ち層の最表面と、前記磁気記録層の最底面との距離が25nm以下であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の垂直磁気記録媒体。
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