Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP4355148B2 - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置の駆動方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4355148B2
JP4355148B2 JP2003054589A JP2003054589A JP4355148B2 JP 4355148 B2 JP4355148 B2 JP 4355148B2 JP 2003054589 A JP2003054589 A JP 2003054589A JP 2003054589 A JP2003054589 A JP 2003054589A JP 4355148 B2 JP4355148 B2 JP 4355148B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
voltage
signal charge
signal
photosensitive
power supply
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2003054589A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2004266565A (ja
JP2004266565A5 (ja
Inventor
誠 稲垣
誠之 松長
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2003054589A priority Critical patent/JP4355148B2/ja
Priority to KR1020057009741A priority patent/KR100990608B1/ko
Priority to US10/532,992 priority patent/US7352399B2/en
Priority to PCT/JP2004/002282 priority patent/WO2004077822A1/ja
Priority to EP04714932A priority patent/EP1599039A4/en
Priority to CNB2004800012785A priority patent/CN100349460C/zh
Priority to TW093105048A priority patent/TWI330888B/zh
Publication of JP2004266565A publication Critical patent/JP2004266565A/ja
Publication of JP2004266565A5 publication Critical patent/JP2004266565A5/ja
Priority to US12/071,090 priority patent/US7714920B2/en
Priority to US12/536,829 priority patent/US8274590B2/en
Priority to US12/536,814 priority patent/US8253833B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4355148B2 publication Critical patent/JP4355148B2/ja
Priority to US13/592,792 priority patent/US20130021509A1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/71Charge-coupled device [CCD] sensors; Charge-transfer registers specially adapted for CCD sensors
    • H04N25/75Circuitry for providing, modifying or processing image signals from the pixel array
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/617Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise for reducing electromagnetic interference, e.g. clocking noise
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14601Structural or functional details thereof
    • H01L27/14609Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements
    • H01L27/14612Pixel-elements with integrated switching, control, storage or amplification elements involving a transistor
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
    • H04N25/78Readout circuits for addressed sensors, e.g. output amplifiers or A/D converters
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/70SSIS architectures; Circuits associated therewith
    • H04N25/76Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、家庭用ビデオカメラ、デジタルスチルカメラ、携帯電話用カメラなど、各種の機器に用いられるMOS型固体撮像装置の駆動方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
図5および図6を参照して、従来のセンサ、およびその駆動方法を説明する。図5は、従来のセンサの回路図である。図5に示すセンサは、2×2のマトリックス状に配列された感光セル(破線で囲んだ部分)を備えている。各感光セルは、フォトダイオード51、転送ゲート52、フローティング拡散層部53、増幅トランジスタ54、リセットトランジスタ55、およびアドレストランジスタ56を含み、画像を構成する1つの画素に対応する。なお、以下では、説明を簡単にするために、感光セルは2×2のマトリックス状に配列されていると仮定するが、実際には、感光セルは行および列方向にそれぞれ数十から数千個配列される。
【0003】
図5に示すセンサの駆動方法は、以下のとおりである。1行目の感光セルから信号を取り出すためには、まず、1行目の感光セルに含まれるアドレストランジスタ56a、56bが、垂直シフトレジスタ61からON状態に制御される。次に、リセットトランジスタ55a、55bが、同様に、垂直シフトレジスタ61からON状態に制御される。これにより、フローティング拡散層部53a、53bはリセットされる。このとき、増幅トランジスタ54aと負荷トランジスタ63pとによってソースホロア回路が構成され、垂直信号線62p上にはこのソースホロア回路の出力が現れる。同様に、増幅トランジスタ54bと負荷トランジスタ63qとによってソースホロア回路が構成され、垂直信号線62q上にもソースホロア回路の出力が現れる。このとき垂直信号線62p、62q上に現れる電圧は、フォトダイオード51a、51bに蓄積された信号電荷とは無関係な雑音電圧である。次に、転送ゲート52a、52bが、垂直シフトレジスタ61からON状態に制御される。これにより、フォトダイオード51a、51bに蓄積された信号電荷がフローティング拡散層部53a、53bに転送され、垂直信号線62p、62q上には、フォトダイオード51a、51bに蓄積されていた信号電荷に対応する信号電圧が現れる。
【0004】
クランプ容量64p、64q、クランプトランジスタ65p、65q、サンプルホールドトランジスタ66p、66q、およびサンプルホールド容量67p、67qは、雑音抑圧回路を構成する。この雑音抑圧回路は、フローティング拡散層部53に信号電荷があるときの画素出力(すなわち、信号出力)と、信号電荷がないときの画素出力(すなわち、雑音出力)との差を求める。図5に示すセンサでは、主として、増幅トランジスタ54の閾値電圧のばらつきによる雑音と、リセットトランジスタ55の熱雑音であるkTC雑音とが発生する。垂直信号線62p、62q上に雑音出力が現れているときに、クランプトランジスタ65p、65qとサンプルホールドトランジスタ66p、66qとは、制御端子74、75からON状態に制御され、サンプルホールド容量67p、67qにはクランプ電圧供給端子73から雑音のないクランプ電圧が印加される。所定の時間が経過した後、クランプトランジスタ65p、65qは、制御端子74からOFF状態に制御される。
【0005】
次に、垂直信号線62p、62qには、雑音のない信号電圧と雑音電圧の和に等しい電圧が現れる。垂直信号線62p、62qは雑音電圧から信号電圧と雑音電圧との和に変化し、その変化分は雑音のない信号電圧に相当する。したがって、クランプ容量64p、64qのサンプルホールド側電圧も、雑音のない信号電圧に相当する分だけ変化する。実際に、サンプルホールド容量67p、67qにかかる電圧は、雑音のないクランプ電圧から、垂直信号線62p、62qの信号電圧変化分をクランプ容量とサンプルホールド容量で分圧した電圧分だけ変化する。よって、サンプルホールド容量67p、67qにかかる電圧は、雑音のないクランプ電圧と分圧された信号電圧とであり、雑音分が除去されている。サンプルホールドトランジスタ66p、66qがOFF状態に制御された後、水平シフトレジスタ69によって、水平トランジスタ68p、68qが順次選択的にON状態に制御される。これにより、フォトダイオード51a、51bに蓄積されていた信号電荷に対応する信号が、出力端子70から順次出力される。
【0006】
次に、2行目の感光セルから信号を取り出すために、2行目の感光セルについて、1行目の場合と同様の操作が行われる。これにより、フォトダイオード51c、51dに蓄積されていた信号電荷に対応する信号が、出力端子70から順次出力される。
【0007】
以上の動作をタイミングチャートで示すと、図6のようになる。図6において、フォトダイオード51の1行分に蓄積されていた信号が最終的に出力端子70から出力される期間を水平有効期間と呼び、フォトダイオード51から信号を垂直信号線62に出力し、出力した信号の雑音を抑圧する期間を水平ブランキング期間と呼ぶ。また、水平ブランキング期間と水平有効期間とを合わせて、1水平期間と呼ぶ。1水平期間は、実際に1行分の信号を読み出すために要する時間である。センサ全体から信号を読み出すために要する時間を1フレーム期間と呼ぶ。図6に示すように、フォトダイオード51に蓄積される信号電荷の量は、転送ゲート52に印加される転送パルスの時間間隔で定まる。また、転送パルスの時間間隔は、1フレーム期間で一定である。このため、フォトダイオード51の感度は、一定になる。
【0008】
図5に示すセンサでは、4個のトランジスタ(転送ゲート52、増幅トランジスタ54、リセットトランジスタ55、およびアドレストランジスタ56)によって、各感光セルが構成されている。これに対して、最近、センサの小型化のために、3個のトランジスタで各感光セルを構成したセンサが考案されている。この新しく考案されたセンサは、図5に示すセンサからアドレストランジスタ56を除去した上で、感光セルの電源を共通化した構成を有している。このセンサから信号を読み出すためには、各感光セルにパルス状の電源電圧を供給する必要がある。
【0009】
なお、図5に示すセンサの駆動方法は、例えば、特許文献1に記載されている。また、特許文献2には、フォトダイオードの1行分の信号を1水平期間内で平均的に出力するための駆動方法が記載されている。
【0010】
【特許文献1】
特開平9−247537号公報
【特許文献2】
特開平2001−45375号公報
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、各感光セルを3個のトランジスタで構成したセンサには、電源をパルス駆動することに伴い、以下のような問題が発生する。第1に、電源がすべての感光セルに接続され、選択された感光セルだけでなくセンサ全体が駆動されるので、センサ全体の動作に影響が生じる。第2に、ハイレベル時の電源電圧はセンサの動作に影響を与えないが、ローレベル時の電源電圧が選択されていない感光セルの動作に影響を与える。第3に、電源をパルス駆動すること自体が、センサ全体に様々な影響を与える。
【0012】
特に、上記第2の問題点について言えば、電源のローレベル電位が低くなりすぎると、このローレベル電位が、選択されていない感光セルのリセットトランジスタのローレベル電位以下になり、増幅トランジスタのゲート領域にまで達する場合がある。このとき、多数の増幅トランジスタが、一斉に動作してセンサ全体を駆動する。このため、水平ブランキング期間に大きな雑音が重畳され、信号処理が難しくなる。
【0013】
また、電源のローレベル電位が選択されていない感光セルの転送ゲートのローレベル電位以下になると、電荷がフォトダイオードに注入され、各感光セルに注入される電荷の量にばらつきが生じる。このため、フォトダイオードから読み出す信号電荷にばらつきが生じ、再生画像に大きな雑音が現れる。
【0014】
それ故に、本発明は、各感光セルを3個のトランジスタで構成したセンサから、雑音の少ない再生画像を読み出すための固体撮像装置の駆動方法を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段および発明の効果】
第1の発明は、半導体基板上に、光電変換手段、前記光電変換手段に蓄積された信号電荷を転送する信号電荷転送手段、前記信号電荷転送手段を通じて転送された信号電荷を一時的に蓄積する信号電荷蓄積手段、前記信号電荷蓄積手段に蓄積された信号電荷を増幅する増幅手段、前記信号電荷蓄積手段に蓄積された信号電荷をリセットする信号電荷排出手段からなる感光セルを列および行方向の2次元状に配列した感光領域と、
前記感光セルにパルス状の電源電圧を供給する電源ラインと、前記信号電荷転送手段および前記信号電荷排出手段を駆動する行選択手段とを少なくとも具備し、
前記電源ラインはすべての前記感光セルに含まれる前記増幅手段のドレインに共通して接続され、
前記感光領域から選択した1行分の前記感光セルから信号を取り出すために、
前記電源ラインに前記電源電圧として第1の電圧と当該第1の電圧より低い第2の電圧とを供給するステップと、
前記第1の電圧を与える期間に、選択された前記感光セルに備わる前記信号電荷排出手段と前記信号電荷転送手段にローレベル電圧とハイレベル電圧を印加し、前記増幅手段を動作状態とするステップと、
前記第2の電圧を与える期間に、選択された前記感光セルに備わる前記信号電荷排出手段にローレベル電圧とハイレベル電圧を印加し、前記増幅手段を非動作状態とするステップとを備え、
前記第2の電圧はゼロ電位より高い電位であり、
前記信号電荷排出手段はリセットトランジスタであり、前記リセットトランジスタのゲートにローレベル電圧を印加したときに前記リセットトランジスタのゲート下に形成されるチャネルの電位が前記第2の電圧より低いことを特徴とする。
このような第1の発明によれば、増幅トランジスタは、ゲート領域付近で動作することがなくなるので、多数の増幅トランジスタが一斉に動作してセンサ全体を駆動することがなくなる。したがって、水平ブランキング期間に大きな雑音が重畳され、信号処理が難しくなるという問題を解決することができる。
【0017】
の発明は、前記信号電荷転送手段は転送トランジスタであり、前記信号電荷転送手段は前記信号電荷排出手段を介して前記電源電圧に接続され、前記転送トランジスタのゲートにローレベル電圧を印加したときに前記転送トランジスタのゲート下に形成されるチャネルの電位が前記第2の電圧より低いことを特徴とする。
このような第の発明によれば、セルでは注入される電荷の量にばらつきが生じることがなくなる。したがって、再生画像に大きな雑音が現れることがなく、雑音の少ない再生画像を読み出すことができる
【0019】
の発明は、第1ないし第2の発明において、感光領域がp型基板上に形成されていることを特徴とする。
このような第の発明によれば、p型基板上に形成された感光領域を備えた固体撮像装置から、雑音の少ない再生画像を読み出すことができる。
【0020】
の発明は、第1ないし第2の発明において、感光領域がn型基板上のp型ウェル内に形成されていることを特徴とする。
このような第の発明によれば、n型基板上のp型ウェル内に形成された感光領域を備えた固体撮像装置から、雑音の少ない再生画像を読み出すことができる
【0021】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施形態に係るセンサの回路図である。図1に示すセンサは、m×nのマトリックス状に配列された感光セル(破線で囲んだ部分)、電源ライン10、垂直シフトレジスタ11、n本の垂直信号線12−1〜n、n個の負荷トランジスタ13−1〜n、雑音抑圧回路14、n個の水平トランジスタ、および水平シフトレジスタ16を備えている。各感光セルは、フォトダイオード1、転送ゲート2、フローティング拡散層部3、増幅トランジスタ4、およびリセットトランジスタ5を含んでいる。この感光セルは、3個のトランジスタ(転送ゲート2、増幅トランジスタ4、およびリセットトランジスタ5)を含み、アドレストランジスタを含まないことを特徴とする。実際のセンサにおけるmおよびnの値は、数十から数千程度である。
【0022】
m×n個の感光セルは、半導体基板上に形成される。より詳細には、感光セルは、p型基板上、または、n型基板上のpウェル(P-well)内に形成される。各感光セルにおいて、フォトダイオード1は、入射光を光電変換し、得られた信号電荷を蓄積する。転送ゲート2は、フォトダイオード1とフローティング拡散層部3との間に設けられ、フォトダイオード1に蓄積された信号電荷をフローティング拡散層部3に転送する。フローティング拡散層部3は、フォトダイオード1から転送された信号電荷を一時的に蓄積する。増幅トランジスタ4は、フローティング拡散層部3に蓄積された信号電荷を増幅する。リセットトランジスタ5は、フローティング拡散層部3に蓄積された信号電荷をリセットする。
【0023】
感光セルが配列された感光領域には、電源ライン10および垂直信号線12−1〜nに加えて、2組のm本の信号線17−1〜m、18−1〜mが配線される。電源ライン10は、増幅トランジスタ4のドレインに共通して接続される。本実施形態では、電源ライン10は、すべての感光セルに含まれる増幅トランジスタ4およびリセットトランジスタ5のドレインに共通して接続され、電源ライン10の他端にある電源供給端子20から、すべての感光セルに対して、パルス状の電源電圧VddCが印加されるものとする。なお、図1では、すべての感光セルが1本の電源ライン10に接続されているが、感光セルに共通した電源を供給するために、電源ラインを2本以上使用してもよい。
【0024】
垂直信号線12−1〜nは、感光セルの各列に対して設けられる。垂直信号線12〜1〜nは、それぞれ、同じ列に配列された感光セルに含まれる増幅トランジスタ4および負荷トランジスタ13−1〜nと、雑音抑圧回路14とを接続する。信号線17−1〜m、18−1〜mは、垂直シフトレジスタ11の出力信号線であり、感光セルの各行に対して設けられる。信号線17−1〜mは、それぞれ、同じ行に配列された感光セルに含まれる転送ゲート2のゲートを接続する。信号線18−1〜mは、それぞれ、同じ行に配列された感光セルに含まれるリセットトランジスタ5のゲートを接続する。
【0025】
垂直シフトレジスタ11は、以下に示すように、垂直ドライバ回路として動作する。垂直シフトレジスタ11は、電源ラインVddCがハイレベルであるときに、同じ行に配列された感光セルに含まれる転送ゲート2を同時に駆動する。また、垂直シフトレジスタ11は、電源ラインVddCがハイレベルであるときに、転送ゲート2の駆動タイミングとは異なるタイミングで、同じ行に配列された感光セルに含まれるリセットトランジスタ5を同時に駆動する。負荷トランジスタ13−1〜nは、それぞれ、垂直信号線12−1〜nに接続され、行方向に並べて配列される。雑音抑圧回路14は、垂直信号線12−1〜nに接続され、増幅トランジスタ4から出力された信号を取り込み、取り込んだ信号の雑音成分を除去する。水平トランジスタ15−1〜nは、行方向に並べて配列される。各水平トランジスタ15−1〜nには、雑音抑圧回路14から出力されたn本の信号がそれぞれ入力される。水平シフトレジスタ16は、水平ドライバ回路として動作する。すなわち、水平シフトレジスタ16は、水平トランジスタ15−1〜nを順次選択的に動作させる。これにより、雑音抑圧回路14から出力されたn本の信号は、出力端子21から順次出力される。
【0026】
図2は、雑音抑圧回路14の詳細を説明するための図である。雑音抑圧回路14は、図2(a)に示すように、n個のサンプルホールドトランジスタ31−1〜n、n個のクランプ容量32−1〜n、n個のクランプトランジスタ33−1〜n、およびn個のサンプルホールド容量34−1〜nを含んでいる。雑音抑圧回路14は、図5に示した雑音抑圧回路とサンプルホールドトランジスタ31−1〜nの位置が異なるが、図5に示した雑音抑圧回路とほぼ同様に動作する。サンプルホールドトランジスタ31−1〜nのゲートには、制御端子22から入力されるサンプルホールド制御信号が印加される。同様に、クランプトランジスタ33−1〜nのゲートには、制御端子23から入力されるクランプ制御信号が印加される。これら2本の制御信号は、図2(b)に示すように変化する。2本の制御信号がともにハイレベルである期間が雑音出力期間となり、サンプルホールド制御信号がハイレベルで、クランプ制御信号がローレベルである期間が信号出力期間となる。
【0027】
以下、図3に示すタイミングチャートを適宜参照しながら、図1に示すセンサの駆動方法を説明する。このセンサを駆動するためには、各水平期間ごとに、電源ライン10をパルス駆動するステップと、垂直シフトレジスタ11によって、m×n個のフォトダイオード1から1行分の信号を読み出すステップと、水平シフトレジスタ16によって、読み出した1行分の信号を順次出力するステップとが実行される。
【0028】
図3に示すように、初期状態では、電源電圧VddCはローレベルである。すなわち、初期状態では、電源ライン10は駆動されていない。1行目の感光セルから信号を取り出すためには、まず、電源電圧VddCがハイレベルに制御される。これにより、すべての感光セルにおいて、転送ゲート2およびリセットトランジスタ5のドレインがハイレベルになる。次に、電源ライン10が駆動されている間に、垂直シフトレジスタ11が、信号線18−1を所定の時間だけハイレベルにする。これにより、リセットトランジスタ5a、5bを始め、1行目の感光セルに含まれるリセットトランジスタ5のゲート電位はハイレベルとなり、これらリセットトランジスタ5はON状態となる。このとき、増幅トランジスタ4a、4bを始め、1行目の感光セルに含まれる増幅トランジスタ4も動作状態となる。同時に、フローティング拡散層部3a、3bを始め、1行目の感光セルに含まれるフローティング拡散層部3に蓄積された信号電荷をリセットしたときの雑音出力が、垂直信号線12−1〜nに現れる。
【0029】
次に、電源ライン10が駆動されている間に、垂直シフトレジスタ11が、信号線17−1を所定の時間だけハイレベルにする。これにより、転送ゲート2a、2bを始め、1行目の感光セルに含まれる転送ゲート2のゲート電位はハイレベルとなり、これら転送ゲート2はON状態となる。このとき、フォトダイオード1a、1bを始め、1行目の感光セルに含まれるフォトダイオード1に蓄積されていた信号電荷は、各感光セルに含まれるフローティング拡散層部3に読み出され、読み出された信号電荷に対応した信号出力が、垂直信号線12−1〜nに現れる。
【0030】
このようにして、垂直信号線12−1〜nには、雑音電圧が現れた後、信号電圧と雑音電圧との和が現れる。雑音抑圧回路14は、従来の雑音抑圧回路と同様に動作し、垂直信号線12−1〜nに出力された信号の雑音を抑圧する。雑音抑圧回路14から出力されたn本の信号は、それぞれ、水平トランジスタ15−1〜nに入力される。
【0031】
雑音抑圧回路14が動作した後、電源電圧VddCは、ローレベルに変化する。次に、電源ライン10が駆動されていない間に、垂直シフトレジスタ11が、信号線18−1を所定の時間だけハイレベルにする。これにより、フローティング拡散層部3a、3bを始め、1行目の感光セルに含まれるフローティング拡散層部3に蓄積された信号電荷は、リセットされる。また、増幅トランジスタ4a、4bを始め、1行目の感光セルに含まれる増幅トランジスタ4は、次に選択されるまで非動作状態となる。
【0032】
水平シフトレジスタ16は、水平トランジスタ15−1〜nのゲートに接続されるn本の出力信号を出力する。水平シフトレジスタ16は、n本の出力信号を選択的にハイレベルにすることにより、水平トランジスタ15−1〜nを順次選択的にON状態に制御する。これにより、フォトダイオード1a、1bを始め、1行目のフォトダイオード1に蓄積されていた信号電荷に対応する信号が、出力端子21から順次出力される。
【0033】
次に、2行目の感光セルから信号を取り出すために、2行目の感光セルについて、1行目の場合と同様の操作が行われる。これにより、フォトダイオード1c、1dを始め、2行目の感光セルに蓄積されていた信号電荷に対応する信号が、出力端子21から順次出力される。以下、3行目からm行目の感光セルについても、同様の操作が行われる。なお、図3に示す水平ブランキング期間、水平有効期間、1水平期間、および1フレーム期間の定義、並びにフォトダイオード1の感度が一定になる点は、従来のセンサと同じである。
【0034】
上記のようなセンサの駆動方法のうち、本実施形態では、電源電圧VddCのローレベル電位がゼロ電位より高い所定の電位であることを特徴とする駆動方法を考える。具体的には、電源電圧VddCのローレベル電位を、リセットトランジスタ5のローレベル印加時のチャネル電位より高くした駆動方法や、電源電圧VddCのローレベル電位を、転送ゲート2のローレベル印加時のチャネル電位より高くした駆動方法を考える。このような特徴を有する駆動方法によれば、従来の駆動方法よりも雑音の少ない再生画像が得られる。以下、図4を参照して、その理由を説明する。
【0035】
図4(a)および(b)は、それぞれ、図1に示すセンサに含まれる感光セルの断面図および電位図である。図4(a)において、感光セルは、p型基板上に形成されている。p型基板と、その上に形成されたn型フォトダイオード層41と、p型基板の表面に形成されたp型表面層42とは、フォトダイオード1を構成する。また、p型基板上には、フォトダイオード1に加えて、フローティング拡散層部3とn型表面層45とが形成される。その上で、電極43を設けることにより転送ゲート2が形成され、電極44を設けることによりリセットトランジスタ5が形成される。
【0036】
上述したように、電源電圧VddCは、パルス状に変化する。ここでは、電源電圧VddCのハイレベル電位およびローレベル電位を、それぞれ、VddC_HおよびVddC_Lと記す。VddC_Hの実際の値は、例えば、2.8Vである。リセットトランジスタ5のゲートには、0Vから2.8Vの範囲で変化する電圧が印加されるが、リセットトランジスタ5のゲートにローレベル電位(0V)を印加したときのチャネル電位をRSchLと記す。転送ゲート2のゲートにも0Vから2.8Vの範囲で変化する電圧が印加されるが、転送ゲート2のゲートにローレベル電位(0V)を印加したときのチャネル電位をTRchLと記す。これらの記法を用いれば、本実施形態では、
RSchL<VddC_L …(1)
および/または
TRchL<VddC_L …(2)
なる関係が成り立つように、電源電圧のローレベル電位VddC_Lが制御される。
【0037】
上式(1)の関係が成り立つローレベル電位VddC_Lを使用すれば、増幅トランジスタ4は、ゲート領域付近で動作することがなくなる。このため、多数の増幅トランジスタ4が一斉に動作して、センサ全体を駆動するという現象が生じない。したがって、水平ブランキング期間に大きな雑音が重畳され、信号処理が難しくなるという問題を解決することができる。
【0038】
また、上式(2)の関係が成り立つローレベル電位VddC_Lを使用すれば、フォトダイオード1に注入される電荷のために、感光セルでは注入される電荷の量にばらつきが生じるという現象が生じない。このため、再生画像に大きな雑音が現れることがなく、美しい再生画像を読み出すことができる。
【0039】
以上に示すように、上式(1)および/または(2)の関係が成り立つ電源電圧のローレベル電位VddC_Lを用いることにより、センサ全体が駆動されることなく、各画素における電位が安定するので、雑音の少ない美しい再生画像を読み出すことができる。
【0040】
なお、実際には、上式(1)および(2)に代えて、あるいは、上式(1)および/または(2)に加えて、電源電圧のローレベル電位VddC_Lとして、フォトダイオードのチャネル電位より高い電位を使用してもよい。このような電位を使用した場合も、同様に、図1に示すセンサから、雑音の少ない再生画像を読み出すことができる。
【0041】
また、本実施形態に係る駆動方法の適用対象となるセンサは、図4に示したように、p型基板上に形成されたものであってもよく、n型基板内のpウェル上に形成されたものであってもよい。本実施形態に係る駆動方法は、いずれの方法で作成されたセンサにも適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態に係るセンサの回路図
【図2】本発明の実施形態に係るセンサの雑音抑圧回路の詳細を示す図
【図3】本発明の実施形態に係るセンサの駆動方法を示すタイミングチャート
【図4】本発明の実施形態に係るセンサの感光セルの断面図および電位図
【図5】従来のセンサの回路図
【図6】従来のセンサの駆動方法を示すタイミングチャート
【符号の説明】
1…フォトダイオード
2…転送ゲート
3…フローティング拡散層部
4…増幅トランジスタ
5…リセットトランジスタ
10…電源ライン
11…垂直シフトレジスタ
12…垂直信号線
13…負荷トランジスタ
14…雑音抑圧回路
15…水平トランジスタ
16…水平シフトレジスタ
VddC…電源電圧

Claims (4)

  1. 半導体基板上に、光電変換手段、前記光電変換手段に蓄積された信号電荷を転送する信号電荷転送手段、前記信号電荷転送手段を通じて転送された信号電荷を一時的に蓄積する信号電荷蓄積手段、前記信号電荷蓄積手段に蓄積された信号電荷を増幅する増幅手段、前記信号電荷蓄積手段に蓄積された信号電荷をリセットする信号電荷排出手段からなる感光セルを列および行方向の2次元状に配列した感光領域と、
    前記感光セルにパルス状の電源電圧を供給する電源ラインと、前記信号電荷転送手段および前記信号電荷排出手段を駆動する行選択手段とを少なくとも具備し、
    前記電源ラインはすべての前記感光セルに含まれる前記増幅手段のドレインに共通して接続され、
    前記感光領域から選択した1行分の前記感光セルから信号を取り出すために、
    前記電源ラインに前記電源電圧として第1の電圧と当該第1の電圧より低い第2の電圧とを供給するステップと、
    前記第1の電圧を与える期間に、選択された前記感光セルに備わる前記信号電荷排出手段と前記信号電荷転送手段にローレベル電圧とハイレベル電圧を印加し、前記増幅手段を動作状態とするステップと、
    前記第2の電圧を与える期間に、選択された前記感光セルに備わる前記信号電荷排出手段にローレベル電圧とハイレベル電圧を印加し、前記増幅手段を非動作状態とするステップとを備え、
    前記第2の電圧はゼロ電位より高い電位であり、
    前記信号電荷排出手段はリセットトランジスタであり、前記リセットトランジスタのゲートにローレベル電圧を印加したときに前記リセットトランジスタのゲート下に形成されるチャネルの電位が前記第2の電圧より低いことを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記信号電荷転送手段は転送トランジスタであり、前記信号電荷転送手段は前記信号電荷排出手段を介して前記電源電圧に接続され、
    前記転送トランジスタのゲートにローレベル電圧を印加したときに前記転送トランジスタのゲート下に形成されるチャネルの電位が前記第2の電圧より低いことを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記感光領域がp型基板上に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の固体撮像装置。
  4. 前記感光領域がn型基板上のp型ウェル内に形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載の固体撮像装置。
JP2003054589A 2003-02-28 2003-02-28 固体撮像装置の駆動方法 Expired - Fee Related JP4355148B2 (ja)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003054589A JP4355148B2 (ja) 2003-02-28 2003-02-28 固体撮像装置の駆動方法
US10/532,992 US7352399B2 (en) 2003-02-28 2004-02-26 Solid-state imaging device driving method
PCT/JP2004/002282 WO2004077822A1 (ja) 2003-02-28 2004-02-26 固体撮像装置の駆動方法
EP04714932A EP1599039A4 (en) 2003-02-28 2004-02-26 DRIVING METHOD FOR A R ILLENVED IMAGING APPROACH
CNB2004800012785A CN100349460C (zh) 2003-02-28 2004-02-26 固态成像装置驱动方法
KR1020057009741A KR100990608B1 (ko) 2003-02-28 2004-02-26 고체 촬상 장치의 구동 방법
TW093105048A TWI330888B (en) 2003-02-28 2004-02-27 Drive method for solid-state image pickup device
US12/071,090 US7714920B2 (en) 2003-02-28 2008-02-15 Solid-state imaging device driving method
US12/536,829 US8274590B2 (en) 2003-02-28 2009-08-06 Solid-state imaging device driving method
US12/536,814 US8253833B2 (en) 2003-02-28 2009-08-06 Solid-state imaging device driving method
US13/592,792 US20130021509A1 (en) 2003-02-28 2012-08-23 Solid-state imaging device driving method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003054589A JP4355148B2 (ja) 2003-02-28 2003-02-28 固体撮像装置の駆動方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2004266565A JP2004266565A (ja) 2004-09-24
JP2004266565A5 JP2004266565A5 (ja) 2005-10-27
JP4355148B2 true JP4355148B2 (ja) 2009-10-28

Family

ID=32923467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003054589A Expired - Fee Related JP4355148B2 (ja) 2003-02-28 2003-02-28 固体撮像装置の駆動方法

Country Status (7)

Country Link
US (5) US7352399B2 (ja)
EP (1) EP1599039A4 (ja)
JP (1) JP4355148B2 (ja)
KR (1) KR100990608B1 (ja)
CN (1) CN100349460C (ja)
TW (1) TWI330888B (ja)
WO (1) WO2004077822A1 (ja)

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4355148B2 (ja) * 2003-02-28 2009-10-28 パナソニック株式会社 固体撮像装置の駆動方法
US7355228B2 (en) 2004-10-15 2008-04-08 Omnivision Technologies, Inc. Image sensor pixel having photodiode with multi-dopant implantation
US7382008B2 (en) * 2006-05-02 2008-06-03 Eastman Kodak Company Ultra-small CMOS image sensor pixel using a photodiode potential technique
JP2008005155A (ja) * 2006-06-21 2008-01-10 Sharp Corp 増幅型固体撮像装置およびその駆動方法、電子情報機器
JP4185949B2 (ja) * 2006-08-08 2008-11-26 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像装置
JP4979375B2 (ja) 2006-12-28 2012-07-18 キヤノン株式会社 固体撮像装置及び撮像システム
JP4305516B2 (ja) * 2007-01-30 2009-07-29 ソニー株式会社 固体撮像素子及び固体撮像装置
JP5016941B2 (ja) 2007-02-08 2012-09-05 株式会社東芝 固体撮像装置
JP4058459B1 (ja) * 2007-03-02 2008-03-12 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム
JP2010200025A (ja) * 2009-02-25 2010-09-09 Panasonic Corp 固体撮像装置
JP5238673B2 (ja) * 2009-11-09 2013-07-17 株式会社東芝 固体撮像装置
JP4921615B2 (ja) 2010-01-25 2012-04-25 パナソニック株式会社 プロテインaを自己組織化膜上に固定する方法
CN102918064B (zh) 2010-08-30 2015-03-11 松下健康医疗控股株式会社 在自组装单层上固定链霉亲和素的方法
US20120049041A1 (en) * 2010-09-01 2012-03-01 International Business Machines Corporation Switched rail circuitry and modified cell structure and method of manufacture and use
CN103124786A (zh) 2010-10-19 2013-05-29 松下电器产业株式会社 将葡萄糖氧化酶固定在自组装膜上的方法
JP6021360B2 (ja) * 2012-03-07 2016-11-09 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像システム、および撮像装置の駆動方法。
WO2014002365A1 (ja) * 2012-06-26 2014-01-03 パナソニック株式会社 固体撮像装置及びその製造方法
KR102083776B1 (ko) * 2013-09-03 2020-04-16 삼성전자 주식회사 조도 변화에 따라 다른 전압을 픽셀들로 공급할 수 있는 이미지 센서, 이의 동작 방법, 및 상기 이미지 센서를 포함하는 장치
CN105637857B (zh) * 2014-07-02 2019-06-07 奥林巴斯株式会社 摄像元件、摄像装置、内窥镜以及内窥镜系统
CN104698773B (zh) * 2015-03-31 2017-06-16 上海华力微电子有限公司 光刻对准标记结构及其制造方法
WO2018143295A1 (ja) * 2017-01-31 2018-08-09 株式会社ニコン 撮像素子および撮像装置

Family Cites Families (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07255013A (ja) * 1994-01-31 1995-10-03 Sony Corp 固体撮像装置
JP3385760B2 (ja) * 1994-02-21 2003-03-10 ソニー株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法
JP3695827B2 (ja) 1996-03-13 2005-09-14 株式会社東芝 固体撮像装置
JP3579194B2 (ja) 1996-09-17 2004-10-20 株式会社東芝 固体撮像装置の駆動方法
US6037577A (en) * 1997-03-11 2000-03-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Amplifying solid-state image pickup device and operating method of the same
JPH10257392A (ja) * 1997-03-14 1998-09-25 Matsushita Electron Corp 物理量分布検知半導体装置およびその駆動方法ならびにその製造方法
US5969758A (en) 1997-06-02 1999-10-19 Sarnoff Corporation DC offset and gain correction for CMOS image sensor
US6115066A (en) * 1997-06-12 2000-09-05 International Business Machines Corporation Image sensor with direct digital correlated sampling
US6344877B1 (en) * 1997-06-12 2002-02-05 International Business Machines Corporation Image sensor with dummy pixel or dummy pixel array
JP3466886B2 (ja) 1997-10-06 2003-11-17 キヤノン株式会社 固体撮像装置
JPH11261046A (ja) * 1998-03-12 1999-09-24 Canon Inc 固体撮像装置
JP4200545B2 (ja) * 1998-06-08 2008-12-24 ソニー株式会社 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム
JP3621844B2 (ja) * 1999-02-24 2005-02-16 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
JP2001045375A (ja) 1999-08-03 2001-02-16 Canon Inc 撮像装置とその読み出し方法
JP3667186B2 (ja) * 2000-02-29 2005-07-06 キヤノン株式会社 信号転送装置及びそれを用いた固体撮像装置
US6958776B2 (en) * 2000-07-12 2005-10-25 Vanguard International Semiconductor Corp. Method and apparatus of controlling a pixel reset level for reducing an image lag in a CMOS sensor
JP3750502B2 (ja) * 2000-08-03 2006-03-01 ソニー株式会社 固体撮像装置およびカメラシステム
JP3628970B2 (ja) * 2001-02-08 2005-03-16 松下電器産業株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法
JP4681767B2 (ja) * 2001-07-17 2011-05-11 キヤノン株式会社 撮像装置およびカメラ
JP2005513899A (ja) * 2001-12-21 2005-05-12 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 撮像装置およびこれを備えるカメラ
JP3921093B2 (ja) * 2002-01-29 2007-05-30 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
JP4164733B2 (ja) * 2002-02-05 2008-10-15 ソニー株式会社 固体撮像装置及びその駆動方法
JP4132850B2 (ja) * 2002-02-06 2008-08-13 富士通株式会社 Cmosイメージセンサおよびその制御方法
EP1475962B1 (en) * 2002-02-12 2010-04-07 Sony Corporation Solid state imager and camera system
JP2003264745A (ja) * 2002-03-08 2003-09-19 Sanyo Electric Co Ltd 電荷転送装置
JP3969190B2 (ja) * 2002-05-30 2007-09-05 ソニー株式会社 撮像信号処理方法、撮像信号処理装置、撮像装置
JP2004172679A (ja) * 2002-11-15 2004-06-17 Matsushita Electric Ind Co Ltd 撮像装置
JP3988189B2 (ja) * 2002-11-20 2007-10-10 ソニー株式会社 固体撮像装置
JP4355148B2 (ja) * 2003-02-28 2009-10-28 パナソニック株式会社 固体撮像装置の駆動方法
JP4297416B2 (ja) * 2003-06-10 2009-07-15 シャープ株式会社 固体撮像素子、その駆動方法およびカメラ
JP2005347793A (ja) * 2004-05-31 2005-12-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 撮像装置
JP2006019343A (ja) * 2004-06-30 2006-01-19 Pentax Corp 固体撮像素子
JP4979195B2 (ja) * 2005-02-21 2012-07-18 ソニー株式会社 固体撮像素子、固体撮像素子の駆動方法および撮像装置
JP2007180654A (ja) * 2005-12-27 2007-07-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 撮像装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP1599039A1 (en) 2005-11-23
WO2004077822A1 (ja) 2004-09-10
JP2004266565A (ja) 2004-09-24
US8253833B2 (en) 2012-08-28
EP1599039A4 (en) 2006-05-03
US20130021509A1 (en) 2013-01-24
US20090295961A1 (en) 2009-12-03
US8274590B2 (en) 2012-09-25
KR20050109456A (ko) 2005-11-21
US20090322924A1 (en) 2009-12-31
TW200501404A (en) 2005-01-01
KR100990608B1 (ko) 2010-10-29
TWI330888B (en) 2010-09-21
CN1706182A (zh) 2005-12-07
CN100349460C (zh) 2007-11-14
US7714920B2 (en) 2010-05-11
US20060050161A1 (en) 2006-03-09
US20080143861A1 (en) 2008-06-19
US7352399B2 (en) 2008-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4355148B2 (ja) 固体撮像装置の駆動方法
JP3794637B2 (ja) 固体撮像装置
KR101340112B1 (ko) 고체 촬상 장치, 고체 촬상 장치의 구동 방법 및 촬상 장치
JP4340660B2 (ja) 増幅型固体撮像装置
KR102015900B1 (ko) 고체 촬상 소자 및 촬상 장치
US20100157098A1 (en) Row driven imager pixel
US7583296B2 (en) Imaging apparatus
JPH11122532A (ja) 固体撮像素子およびその駆動方法
JP4288346B2 (ja) 撮像装置及び画素回路
JPH11355668A (ja) 固体撮像素子およびその駆動方法、並びにカメラシステム
US8823069B2 (en) Solid-state imaging device, drive method of solid-state imaging device, and imaging apparatus
JP2013005396A (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、及び電子機器
JP5058090B2 (ja) 固体撮像装置
US7619671B2 (en) Method, apparatus and system for charge injection suppression in active pixel sensors
JP2004015298A (ja) 固体撮像装置及びその駆動方法
JP2004274229A (ja) 撮像装置
JP4156424B2 (ja) 固体撮像装置の駆動方法
JP2004048813A (ja) 固体撮像装置
JP4336544B2 (ja) 固体撮像装置
JP4330579B2 (ja) 固体撮像装置
JP7160129B2 (ja) 撮像素子および撮像装置
JP4229770B2 (ja) 増幅型固体撮像装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050829

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050829

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080318

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080515

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090427

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090618

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090709

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090731

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120807

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130807

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees