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JP3417738B2 - Optical member inspection device - Google Patents

Optical member inspection device

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JP3417738B2
JP3417738B2 JP22924295A JP22924295A JP3417738B2 JP 3417738 B2 JP3417738 B2 JP 3417738B2 JP 22924295 A JP22924295 A JP 22924295A JP 22924295 A JP22924295 A JP 22924295A JP 3417738 B2 JP3417738 B2 JP 3417738B2
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JP
Japan
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optical member
image
optical
light
lens
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正之 杉浦
正人 原
利宏 中山
敦 木田
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ペンタックス株式会社
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Publication date
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Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、レンズ等の光学部
材の屈折率異常等の光学的欠陥を検出するための光学部
材検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical member inspection device for detecting an optical defect such as an abnormal refractive index of an optical member such as a lens.

【0002】[0002]

【従来の技術】レンズ,プリズム等の光学部材は、入射
した光束が規則正しく屈折して、平行に進行したり、一
点又は線状に収束したり発散するように設計されてい
る。しかしながら、光学部材の成形異常により屈折力が
不規則に変化していたり、形成後の人的取り扱いによっ
て光学部材の表面上にゴミ,キズ等が生じていると、入
射した光束が乱れてしまうので、所望の性能を得ること
ができなくなる。特に、樹脂を金型に注入して成形する
事によって作成されるレンズやプリズム等の光学部材で
は、成形異常によってヒケ(樹脂が金型表面から離間し
て生じる陥没),ジェッティング(光学部材内において
樹脂密度が部分的に変化している箇所),フローマーク
(樹脂の収縮に伴って光学部材表面に生じるW字状の
皺)が生じ易いので、このような欠陥を効率良く検出す
ることが必要となっている。
2. Description of the Related Art Optical members such as lenses and prisms are designed so that an incident light beam is regularly refracted and travels in parallel, or converges or diverges into a single point or a line. However, if the refractive power changes irregularly due to abnormal molding of the optical member, or if dust or scratches are generated on the surface of the optical member due to human handling after formation, the incident light flux will be disturbed. However, the desired performance cannot be obtained. In particular, in optical members such as lenses and prisms created by injecting resin into a mold and molding, sink marks (depression caused by the resin separating from the mold surface), jetting (inside the optical member) due to molding abnormalities. In this case, a portion where the resin density is partially changed) and a flow mark (a W-shaped wrinkle generated on the surface of the optical member due to the contraction of the resin) are likely to occur, so that such a defect can be efficiently detected. Is needed.

【0003】そのため、従来より、これら光学的な欠陥
を検出するために、歪計やスライドプロジェクタ用光源
等を用いた人間の目による官能検査が行われていた。こ
の歪計は、偏光格子が交差して設けられたものであり、
その中に配置された試料(光学部材)の屈折率変化(異
常)に応じた偏光的な光線透過率の変化を、観察すると
いう装置である。また、スライドプロジェクタ用光源を
用いた検査とは、スライドプロジェクタ用光源から発せ
られた光に光学部材を翳すとともに、光路外から光学部
材の表面を観察して、光によって浮かび上げられたキ
ズ,汚れ,及びゴミを見つけるというものである。
Therefore, conventionally, in order to detect these optical defects, a sensory test by human eyes using a strain gauge, a light source for a slide projector, or the like has been performed. This strain gauge is one in which the polarization gratings are crossed,
This is an apparatus for observing a polarized light transmittance change according to a refractive index change (abnormality) of a sample (optical member) placed therein. In addition, the inspection using the light source for the slide projector means that the optical member is supported by the light emitted from the light source for the slide projector, the surface of the optical member is observed from the outside of the optical path, and the scratches raised by the light, It is to find dirt and dust.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
人間の目による官能検査では、良品と不良品との客観的
な判定基準がない。従って、複数の人間によって検査を
行う場合、検査する人毎に良否の判定基準がばらついて
しまうので、検査する人によっては、良品の中に不良品
を含めてしまって製品全体の品質を落としてしまった
り、良品を不良品として破棄して無駄を生じさせてしま
っていた。また、同一人が検査する場合であっても、慣
れが生じるにつれて判定基準が厳しくなる傾向があり、
良品を不良品と判定するしまうことが多々あった。
However, in these sensory tests by the human eyes, there is no objective criterion for judging good products and defective products. Therefore, when inspecting by multiple people, the quality judgment criteria will vary from person to person. It was lost, and good products were discarded as defective products, resulting in waste. In addition, even when the same person is inspecting, the judgment criteria tend to become stricter as the habit gets used,
In many cases, a good product was determined to be a defective product.

【0005】そこで、本発明は、以上の問題に鑑み、客
観的基準に従って良品と不良品との合否判定を行うこと
ができる光学部材検査装置を提供することを、課題とす
る。
Therefore, in view of the above problems, it is an object of the present invention to provide an optical member inspecting apparatus capable of judging whether a good product is a good product or a defective product in accordance with an objective standard.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】各請求項記載の発明は、
上記課題を解決するためになされたものである。請求項
1記載の発明は、光学部材の光学的欠陥を検出する光学
部材検査装置であって、照明光によって照明される拡散
板と、前記光学部材を含む光学系の焦点位置に配置され
るとともに、前記拡散板によって拡散された光を部分的
に透過させるように前記拡散板に接している遮光手段
と、前記光学系を透過した光を撮像する撮像手段と、こ
の撮像手段によって撮像された画像中の前記光学部材の
光学的欠陥を示す部位を数値化する数値化手段と、この
数値化手段によって数値化された数値が所定の判定基準
値を超えたか否かを判定する判定手段とを備えたことを
特徴とする。
The invention described in each claim is
This is done to solve the above problems. The invention according to claim 1 is an optical member inspection device for detecting an optical defect of an optical member, wherein the optical member inspection device is arranged at a focal position of a diffusion plate illuminated by illumination light and an optical system including the optical member. A light-shielding unit that is in contact with the diffuser plate so as to partially transmit the light diffused by the diffuser plate, an image capturing unit that captures the light transmitted through the optical system, and an image captured by the image capturing unit. A digitizing means for digitizing a portion showing an optical defect of the optical member, and a determining means for determining whether or not the numerical value digitized by the digitizing means exceeds a predetermined determination reference value. It is characterized by that.

【0007】光学部材とは、凸レンズ及び凹レンズ,プ
リズム,凹面鏡及び凸面鏡,並びに、平行平面板を含
む。また、ガラスからなる光学部材及び樹脂成形による
光学部材を含む。光学部材の光学的欠陥とは、屈折率や
屈折力の部分的異常や光学部材の表面の欠陥等を言う。
屈折率や屈折力の異常としては、樹脂成形の光学部材に
おけるヒケやジェッティングやフローマーク,ガラスか
らなる光学部材における面加工の不良,等が例示され
る。また、光学部材の表面の欠陥としては、表面のキズ
や汚れやゴミ,等が列挙される。
The optical member includes a convex lens and a concave lens, a prism, a concave mirror and a convex mirror, and a plane parallel plate. It also includes an optical member made of glass and an optical member made of resin. The optical defect of the optical member refers to a partial abnormality in the refractive index or the refractive power, a defect on the surface of the optical member, or the like.
Examples of abnormalities in the refractive index and the refractive power include sink marks, jetting and flow marks in resin-molded optical members, defective surface processing in optical members made of glass, and the like. Further, as the surface defects of the optical member, surface scratches, dirt, dust, and the like are listed.

【0008】拡散板は、背後から照明される透光部材で
あっても良いし、表面側から照明される反射部材であっ
ても良い。遮光手段は、拡散板の表面に直接印刷された
遮光パターンであっても良いし、板状の不透明部材を適
宜切り出して拡散板に貼り付けたものであっても良い
し、拡散板とは別個の透明部材表面上に遮光パターンを
印刷したものであっても良い。この遮光手段における光
を部分的に透過させる部分と遮光させる部分との境界線
は、直線状であっても良いし、曲線状であっても良い。
また、境界線は一本のみであっても良いし、縞状に複数
本あっても良い。さらに、境界線は、複数の方向を向い
ていても良い。この遮光手段は、境界線が複数の方向を
向いている場合には固定されていても良いが、境界線が
一本のみの場合又は境界線が全て同じ方向を向いている
場合にはこの境界線に接する回転軸を中心に回転するこ
とが望ましい。なお、遮光手段が回転する際、拡散板が
一体に回転しても良いし、拡散板が固定された状態で遮
光手段のみが回転しても良い。
The diffusing plate may be a translucent member which is illuminated from behind or a reflecting member which is illuminated from the surface side. The light-shielding means may be a light-shielding pattern directly printed on the surface of the diffusion plate, or may be a plate-shaped opaque member that is appropriately cut and attached to the diffusion plate, or may be separate from the diffusion plate. The light-shielding pattern may be printed on the surface of the transparent member. The boundary line between the part that partially transmits the light and the part that blocks the light in the light blocking means may be linear or curved.
Further, the boundary line may be only one, or may be a plurality of stripes. Further, the boundary line may face in a plurality of directions. This shading means may be fixed when the boundary lines are oriented in a plurality of directions, but when there is only one boundary line or when all the boundary lines are oriented in the same direction, this boundary It is desirable to rotate around a rotation axis that is in contact with the line. When the light blocking means rotates, the diffusion plate may rotate integrally, or only the light blocking means may rotate with the diffusion plate fixed.

【0009】「光学部材を含む光学系」とは、凸レンズ
又は凹面鏡である光学部材そのもの,若しくは、凹レン
ズ,凸面鏡,平行平面板,又はプリズムである光学部材
を含む正レンズ群のことである。この光学系の全体とし
ての焦点位置が遮光手段の位置に一致するように、各部
材が配置される。
The "optical system including an optical member" is an optical member itself which is a convex lens or a concave mirror, or a positive lens group including an optical member which is a concave lens, a convex mirror, a plane parallel plate or a prism. The respective members are arranged so that the focal position of the optical system as a whole coincides with the position of the light shielding means.

【0010】撮像手段は、固体撮像素子によって撮像す
るものであっても撮像管によって撮像するものであって
も良い。数値化手段は、画像中の光学部材の光学的欠陥
を示す部位を、画像中の輝度の大小で把握しても良い
し、濃淡(明暗)の変化量が大きい部位であるとして把
握しても良い。後者の場合には、画像に対して微分処理
を施すことによって濃淡の変化量が大きい部位を抽出す
ることができる。また、拡散板が回転する場合には、拡
散板が一回転する間に得られた全ての画像(又は微分処
理された画像)を合成すれば、光学的欠陥の生じている
方向如何に拘わらず光学的欠陥を示す全ての部位を数値
化することができる。この数値とは、光学的欠陥を示す
部位の面積であっても良いし、最大幅であっても良い。
The image pickup means may be a solid-state image pickup element or a pickup tube. The digitizing means may grasp the portion of the image showing the optical defect of the optical member by the magnitude of the luminance in the image or the portion having a large amount of change in light and shade (brightness). good. In the latter case, it is possible to extract a portion having a large amount of change in shading by performing a differential process on the image. Further, when the diffuser plate rotates, if all the images (or differentially processed images) obtained during one rotation of the diffuser plate are combined, regardless of the direction in which the optical defect occurs, It is possible to quantify all the parts showing optical defects. This numerical value may be the area of a portion showing an optical defect or the maximum width.

【0011】判定手段は、数値化手段によって数値化さ
れる数値が複数種類ある場合には、その全てを判定基準
値と比較しても良いし光学部材の種類に応じて定まる一
部の種類の数値のみを比較しても良い。
When there are plural kinds of numerical values numerically converted by the numerical converting means, the judging means may compare all of them with the judgment reference value, or a part of the kinds determined by the kind of the optical member. You may compare only the numerical value.

【0012】請求項2記載の発明は、請求項1における
光学系が、凸レンズである前記光学部材のみからなるこ
とを特定したものである。請求項3記載の発明は、請求
項1における光学系が、凹レンズである前記光学部材と
凸レンズである補正レンズとからなり、全体として正レ
ンズ系であることを特定したものである。
The invention according to claim 2 specifies that the optical system according to claim 1 comprises only the optical member which is a convex lens. The invention described in claim 3 specifies that the optical system in claim 1 is a positive lens system as a whole, comprising the optical member which is a concave lens and a correction lens which is a convex lens.

【0013】請求項4記載の発明は、請求項1の撮像手
段によって撮像された画像内における濃淡変化が大きい
部位を前記光学部材の光学欠陥を示す部位として強調す
る強調手段を更に備えたものである。このようにすれ
ば、数値化手段による数値化が明瞭に行い得る。
According to a fourth aspect of the present invention, there is further provided an emphasizing means for emphasizing a portion of the image picked up by the image pickup means of the first aspect, which has a large change in shading, as a portion showing an optical defect of the optical member. is there. By doing so, the digitization by the digitizing means can be performed clearly.

【0014】請求項5記載の発明は、請求項4の遮光部
材が、直線状の境界線によって夫々分けられた前記光を
部分的に透過させる部分と前記光を部分的に遮光する部
分とからなることを特定したものである。
According to a fifth aspect of the present invention, the light-shielding member of the fourth aspect comprises a portion that partially transmits the light and a portion that partially shields the light, each of which is divided by a straight boundary line. It has been specified that

【0015】請求項6記載の発明は、請求項5の遮光手
段を前記拡散板との接触面の面内において前記直線状の
境界線に接する回転軸を中心に回転させる回転手段を更
に備えたものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is further provided rotating means for rotating the light shielding means according to the fifth aspect around a rotation axis that is in contact with the linear boundary line in the plane of the contact surface with the diffusion plate. It is a thing.

【0016】請求項7記載の発明は、請求項6の光学部
材を含む光学系の光軸が、前記遮光部材の回転軸と一致
していることを特定したものである。請求項8記載の発
明は、請求項5の撮像手段が、前記回転手段により回転
させられた前記遮光手段の各回転位置において前記撮像
を行うとともに、前記遮光部材が一回転する間に前記撮
像手段によって撮像されて前記強調手段によって前記強
調がなされた画像を合成する合成手段を更に備えたもの
である。このようにすれば、上述したように、光学的欠
陥の生じている方向如何に拘わらず光学的欠陥を示す全
ての部位を数値化することができるので、良品又は不良
品の判定を誤ることがない。
The invention according to claim 7 specifies that the optical axis of the optical system including the optical member according to claim 6 coincides with the rotation axis of the light shielding member. According to an eighth aspect of the present invention, the image pickup means of the fifth aspect performs the image pickup at each rotation position of the light shielding means rotated by the rotating means, and the image pickup means during one rotation of the light shielding member. It further comprises a synthesizing unit for synthesizing the images imaged by the image and enhanced by the enhancing unit. By doing so, as described above, since it is possible to quantify all the parts showing the optical defects irrespective of the direction in which the optical defects occur, it is possible to erroneously judge the non-defective product or the defective product. Absent.

【0017】請求項9記載の発明は、請求項4又は8の
強調手段が、前記画像を多数の画素に分け、隣接する各
画素の輝度同士を比較して微分処理し、この微分処理の
結果得られた画像を前記強調がなされた画像とすること
を特定したものである。
According to a ninth aspect of the present invention, the emphasizing means according to the fourth or eighth aspect divides the image into a large number of pixels, compares the brightnesses of adjacent pixels, and differentiates the result. It is specified that the obtained image is the image on which the enhancement is performed.

【0018】請求項10記載の発明は、請求項1,4,
8,又は9の数値化手段が、前記光学部材の光学的欠陥
を示す部位の面積を計って前記数値とすることを特定し
たものである。
The invention according to claim 10 is the invention according to claim 1, 4,
It is specified that the digitizing means of 8 or 9 measures the area of the portion showing the optical defect of the optical member to obtain the numerical value.

【0019】請求項11記載の発明は、請求項1,4,
8,又は9の数値化手段が、前記光学部材の光学的欠陥
を示す部位の最大幅を計って前記数値とすることを特定
したものである。
The invention according to claim 11 is the invention according to claim 1, 4,
It is specified that the digitizing means of 8 or 9 measures the maximum width of the portion showing the optical defect of the optical member to obtain the numerical value.

【0020】請求項12記載の発明は、請求項1の撮像
手段によって撮像された画像から前記光学部材に対応す
る箇所のみを抽出する抽出手段を更に備えたものであ
る。このようにすれば、光学部材の性能に無関係な画像
に基づいて良否判定を行うことが防止できる。
The invention as set forth in claim 12 is further provided with an extracting means for extracting only a portion corresponding to the optical member from the image picked up by the image pickup means of claim 1. With this configuration, it is possible to prevent the quality determination from being performed based on the image that is irrelevant to the performance of the optical member.

【0021】[0021]

【本発明の実施の形態】以下、図面に基づいて、本発明
の実施の形態を説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0022】[0022]

【実施形態1】 <光学部材検査装置の光学構成>図1及び図2は、本発
明による光学部材検査装置の第1の実施の形態を示す光
学構成図である。図1及び図2に示すように、光学部材
検査装置を構成する照明ユニット4と撮像装置7とは、
同一の光軸l上に、互いに向き合って配置されている。
First Embodiment <Optical Configuration of Optical Member Inspection Apparatus> FIGS. 1 and 2 are optical configuration diagrams showing a first embodiment of an optical member inspection apparatus according to the present invention. As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the illumination unit 4 and the image pickup device 7 forming the optical member inspection device are
They are arranged facing each other on the same optical axis l.

【0023】この撮像手段としての撮像装置7は、全体
として正レンズ系である撮像レンズ8と、この撮像レン
ズ8によって収束された光による像を撮像するCCDエ
リアセンサからなる撮像素子9とから、構成されてい
る。この撮像素子9によって撮像された画像は、表示装
置10及び画像処理部14に入力される。
The image pickup device 7 as the image pickup means comprises an image pickup lens 8 which is a positive lens system as a whole, and an image pickup element 9 which is a CCD area sensor for picking up an image formed by the light converged by the image pickup lens 8. It is configured. The image captured by the image sensor 9 is input to the display device 10 and the image processing unit 14.

【0024】表示装置10は、この光学部材検査装置の
初期調整時(即ち、後述する照明ユニット4の位置調整
時)に用いられる画像モニタ装置である。画像処理部1
4は、検査対象光学部材が良品であるか不良品であるか
の判定を行うプロセッサであり、撮像素子9から入力さ
れた画像データに対して所定の画像処理を行い、検査対
象光学部材の光学的欠陥の程度を数値化するとともに、
この数値を一定の判定基準値(許容値)と比較し、この
数値が判定基準値内に収まっているか超えているかの判
定を行う。即ち、この画像処理部14は、強調手段,合
成手段,数値化手段,及び判定手段に相当する。この画
像処理部14は、また、上述した判定処理を行うのに伴
い、ナイフエッジ回転制御部15に対してモータ13の
回転指示を行う。
The display device 10 is an image monitor device used at the time of initial adjustment of the optical member inspection device (that is, at the time of adjusting the position of the illumination unit 4 described later). Image processing unit 1
Reference numeral 4 denotes a processor that determines whether the inspection target optical member is a non-defective product or a defective product. Quantifying the degree of physical defects,
This numerical value is compared with a fixed judgment reference value (allowable value), and it is judged whether or not this numerical value is within or exceeds the judgment reference value. That is, the image processing unit 14 corresponds to an emphasizing unit, a synthesizing unit, a digitizing unit, and a determining unit. The image processing unit 14 also instructs the knife edge rotation control unit 15 to rotate the motor 13 in accordance with the determination process described above.

【0025】ナイフエッジ回転制御部15は、画像処理
部14からの回転指示に従い、モータ13を22.5度
づつ回転させる。一方、照明ユニット4は、全体とし
て、光軸l上を撮像装置7に向けて進退移動することが
できる。この照明ユニット4の内部には、その中心を光
軸lと同軸にした円盤状の拡散板5が、光軸lに直交す
る面内において光軸lを中心に回転自在に保持されてい
る。この拡散板5の撮像装置7側の面には、遮光手段と
しての遮光板6が一体に貼り付けられている。この遮光
板6は、上面図である図3に示すように、不透明部材か
らなる半円形の板であり、拡散板5の中心を通る径方向
の直線を弦(ナイフエッジ)6aとするとともに、拡散
板5と同一半径の円弧を有している。このような構成を
備えた結果、拡散板5によって拡散された光は、この遮
光板6により部分的に遮光されるとともに、遮光板6に
覆われていない部分により部分的に透過される。
The knife edge rotation controller 15 rotates the motor 13 by 22.5 degrees in accordance with the rotation instruction from the image processor 14. On the other hand, the illumination unit 4 as a whole can move forward and backward on the optical axis 1 toward the imaging device 7. Inside the illumination unit 4, a disk-shaped diffuser plate 5 having its center coaxial with the optical axis 1 is rotatably held around the optical axis 1 in a plane orthogonal to the optical axis 1. A light-shielding plate 6 as a light-shielding unit is integrally attached to the surface of the diffusion plate 5 on the image pickup device 7 side. As shown in FIG. 3, which is a top view, the light shielding plate 6 is a semicircular plate made of an opaque member, and a radial straight line passing through the center of the diffusion plate 5 is a chord (knife edge) 6a, and It has an arc with the same radius as the diffuser plate 5. As a result of providing such a configuration, the light diffused by the diffusion plate 5 is partially shielded by the light shielding plate 6 and partially transmitted by the portion not covered by the light shielding plate 6.

【0026】拡散板5の周縁部には、この拡散板5と同
軸の環状ギア11が固着されている。この環状ギア11
は、ピニオンギア12と噛合しており、このピニオンギ
ア12は、照明ユニット4内に固定されているモータ1
3の回転軸に取り付けられている。従って、モータ13
がナイフエッジ回転制御部15によって回転駆動される
と、遮光板6及び拡散板5は、両ギア12,11を介し
て回転駆動を受け、図4に示すように、光軸lに直交す
る面内(即ち、拡散板5と遮光板6との接触面の面内)
において回転駆動される。なお、この場合の回転方向
は、図3に示すように、撮像装置7側から見て時計方向
である。この回転の結果、遮光板6のナイフエッジ
(弦)6aも、光軸lを中心に回転することになる。即
ち、これら画像処理部14,ナイフエッジ回転制御部1
5,モータ13,及びギア11,12により、回転手段
が構成される。
An annular gear 11 coaxial with the diffusion plate 5 is fixed to the peripheral portion of the diffusion plate 5. This ring gear 11
Engages with the pinion gear 12, and the pinion gear 12 is fixed to the motor 1 fixed in the lighting unit 4.
It is attached to the rotating shaft of 3. Therefore, the motor 13
When the blade edge is rotated by the knife edge rotation control unit 15, the light shielding plate 6 and the diffusion plate 5 are rotationally driven through both gears 12 and 11, and as shown in FIG. 4, a surface orthogonal to the optical axis l. Inside (that is, within the contact surface between the diffusion plate 5 and the light shielding plate 6)
Is driven to rotate at. The rotation direction in this case is clockwise as viewed from the image pickup device 7 side, as shown in FIG. As a result of this rotation, the knife edge (string) 6a of the light shielding plate 6 also rotates around the optical axis 1. That is, these image processing unit 14 and knife edge rotation control unit 1
5, the motor 13 and the gears 11 and 12 constitute a rotating means.

【0027】拡散板5の裏面側において、照明ユニット
4には、光ファイバー束3の先端3aが固着されてい
る。この光ファイバー束3の基端3bには、白色ランプ
1と集光レンズ2とからなる光源装置が配置されてい
る。そして、白色ランプ1から出射された白色光が、集
光レンズ2によって集光されて、その基端3bからこの
光ファイバー束3内に入射される。この白色光は、光フ
ァイバー束3内を伝送され、その先端3aから拡散板5
に向けて照射される。即ち、遮光板6のナイフエッジ6
aが背後から照明されるのである。なお、光ファイバー
束3の長さは、照明ユニット4の移動可能距離よりも十
分長くとってある。従って、照明ユニット4が移動して
も、この光ファイバー束3が追従して、常に遮光板6の
ナイフエッジ6aを照明することができる。
On the rear surface side of the diffusion plate 5, the tip 3a of the optical fiber bundle 3 is fixed to the illumination unit 4. At the base end 3b of the optical fiber bundle 3, a light source device including a white lamp 1 and a condenser lens 2 is arranged. Then, the white light emitted from the white lamp 1 is condensed by the condenser lens 2 and enters the optical fiber bundle 3 from the base end 3b thereof. This white light is transmitted through the optical fiber bundle 3 and is transmitted from the tip 3a thereof to the diffusion plate 5
It is irradiated toward. That is, the knife edge 6 of the light shielding plate 6
a is illuminated from behind. The length of the optical fiber bundle 3 is set sufficiently longer than the movable distance of the illumination unit 4. Therefore, even if the illumination unit 4 moves, the optical fiber bundle 3 follows and the knife edge 6a of the light shielding plate 6 can be illuminated at all times.

【0028】検査対象の光学部材は、光軸lと同軸に、
撮像装置7と照明ユニット4との間に配置される。具体
的に説明すると、図1に示すように検査対象光学部材が
凸レンズAである場合には、凸レンズAの焦点位置が遮
光板6のナイフエッジ6aと一致する位置に、凸レンズ
Aが配置される。また、図2に示すように検査対象光学
部材が凹レンズBである場合には、凹レンズBと照明ユ
ニット4との間に、この凹レンズBのパワー(絶対値)
よりも大きいパワー(絶対値)を有する凸レンズである
補正レンズCを配置する。この凹レンズB及び補正レン
ズCからなるレンズ群は全体的に正レンズ群であり、そ
の合成焦点位置が遮光板6のエッジ6aと一致するよう
にこれら凹レンズB及び補正レンズCが配置されてい
る。即ち、検査対象光学部材を含む光学系の焦点位置を
遮光手段の位置と一致させているのである。
The optical member to be inspected is coaxial with the optical axis 1,
It is arranged between the imaging device 7 and the illumination unit 4. More specifically, when the optical member to be inspected is the convex lens A as shown in FIG. 1, the convex lens A is arranged at a position where the focal position of the convex lens A coincides with the knife edge 6a of the light shielding plate 6. . Further, when the optical member to be inspected is the concave lens B as shown in FIG. 2, the power (absolute value) of the concave lens B is between the concave lens B and the illumination unit 4.
A correction lens C, which is a convex lens having a power (absolute value) larger than that, is arranged. The lens group including the concave lens B and the correction lens C is a positive lens group as a whole, and the concave lens B and the correction lens C are arranged so that the combined focal position thereof coincides with the edge 6a of the light shielding plate 6. That is, the focal position of the optical system including the optical member to be inspected is matched with the position of the light shielding means.

【0029】なお、図示はしていないが、検査対象光学
部材が平板であった場合には、補正レンズC単体の焦点
位置が拡散板5と遮光板6との境界面に一致するよう
に、補正レンズCを配置するとともに、この補正レンズ
Cと撮像装置7との間に検査対象光学部材を配置する。
また、検査対象光学部材がポロプリズムやダハプリズム
等の反射プリズムであった場合には、その単独での焦点
位置が拡散板5と遮光板6との境界面に一致するように
補正レンズCを配置し、その補正レンズCの背後にプリ
ズムを配置するとともに、このプリズムから出射される
光線の出射光軸上に、撮像装置7を配置する。さらに、
検査対象光学部材が反射鏡であった場合には、照明光学
系4と反射鏡(及び補正レンズC)との位置関係を上述
したのと同じにするとともに、この照明光学系4と反射
鏡との間にピームスプリッタ又はハーフミラーを配置し
て、これらビームスプリッタ又はハーフミラーによって
分離された反射光光路の先に撮像装置7を配置する。
Although not shown, when the optical member to be inspected is a flat plate, the focus position of the correction lens C alone is aligned with the boundary surface between the diffusion plate 5 and the light shielding plate 6, The correction lens C is arranged, and the inspection target optical member is arranged between the correction lens C and the imaging device 7.
Further, when the optical member to be inspected is a reflection prism such as a Porro prism or a roof prism, the correction lens C is arranged so that the focal point of its own coincides with the boundary surface between the diffusion plate 5 and the light shielding plate 6. Then, the prism is arranged behind the correction lens C, and the image pickup device 7 is arranged on the emission optical axis of the light beam emitted from the prism. further,
When the optical member to be inspected is a reflection mirror, the positional relationship between the illumination optical system 4 and the reflection mirror (and the correction lens C) is the same as described above, and the illumination optical system 4 and the reflection mirror are A beam splitter or a half mirror is arranged between the two, and the image pickup device 7 is arranged in front of the reflected light optical path separated by the beam splitter or the half mirror.

【0030】以上のように被検査光学部材(及び補正レ
ンズC)を配置すると、検査対象光学部材から出射され
る光は、この検査対象光学部材が良品である限り、平行
光となる。従って、撮像装置7側から見ると、遮光板6
のナイフエッジ6aが無限遠上に位置しているのと等価
になる。
When the optical member to be inspected (and the correction lens C) is arranged as described above, the light emitted from the optical member to be inspected becomes parallel light as long as the optical member to be inspected is a good product. Therefore, when viewed from the image pickup device 7 side, the light shielding plate 6
It is equivalent to that the knife edge 6a of is located at infinity.

【0031】ところで、仮に、検査対象光学部材Aの焦
点位置(検査対象光学部材Bと補正レンズCとからなる
レンズ群の合成焦点位置)がナイフエッジ6aの位置よ
りも撮像装置7側にずれると、検査対象光学部材A(検
査対象光学部材B)と撮像装置7の撮像レンズ8との間
の空間に、ナイフエッジ6aの倒立像(実像)が形成さ
れる。このナイフエッジ6aの倒立像(実像)は撮像レ
ンズ8によってリレーされ、撮像レンズ8の撮像素子9
側の空間に、ナイフエッジ6aの正立像(実像)が形成
される。逆に、検査対象光学部材Aの焦点位置(検査対
象光学部材Bと補正レンズCとからなるレンズ群の合成
焦点位置)がナイフエッジ6aの位置よりも光ファイバ
ー束3側にずれると、遮光板6の光ファイバー束8側の
空間に、ナイフエッジ6aの正立像(虚像)が形成され
る。このナイフエッジ6aの正立像(虚像)は撮像レン
ズ8によってリレーされ、撮像レンズ8の撮像素子9側
の空間に、ナイフエッジ6aの倒立像(実像)が形成さ
れる。即ち、検査対象光学部材Aの焦点位置(検査対象
光学部材Bと補正レンズCとからなるレンズ群の合成焦
点位置)とは、この位置に存在する物体(ナイフエッジ
6a)の像が、撮像レンズ8の撮像素子9側の空間にお
いて正立像として結像されるか倒立像として結像される
かの境界点であり、光学的に不安定な状態となる位置で
ある。
If the focal position of the optical member A to be inspected (the combined focal position of the lens group consisting of the optical member B to be inspected and the correction lens C) deviates from the position of the knife edge 6a toward the image pickup device 7 side. An inverted image (real image) of the knife edge 6a is formed in the space between the inspection target optical member A (inspection target optical member B) and the imaging lens 8 of the imaging device 7. The inverted image (real image) of the knife edge 6 a is relayed by the image pickup lens 8 and the image pickup element 9 of the image pickup lens 8 is relayed.
An erect image (real image) of the knife edge 6a is formed in the space on the side. On the contrary, when the focus position of the inspection target optical member A (the combined focus position of the lens group including the inspection target optical member B and the correction lens C) shifts to the optical fiber bundle 3 side from the position of the knife edge 6a, the light shielding plate 6 An erect image (virtual image) of the knife edge 6a is formed in the space on the optical fiber bundle 8 side. The erect image (virtual image) of the knife edge 6a is relayed by the imaging lens 8, and an inverted image (real image) of the knife edge 6a is formed in the space of the imaging lens 8 on the imaging element 9 side. That is, the focus position of the inspection target optical member A (composite focus position of the lens group including the inspection target optical member B and the correction lens C) is the image of the object (knife edge 6a) present at this position. 8 is a boundary point of whether an image is formed as an erect image or an inverted image in the space on the side of the image pickup device 9 of 8, and is a position in which an optically unstable state occurs.

【0032】なお、検査対象光学部材と撮像レンズ8と
の間隔は、検査対象光学部材Aの焦点位置(検査対象光
学部材Bと補正レンズCとからなるレンズ群の合成焦点
位置)がナイフエッジ6aの位置よりも撮像装置7側に
僅かにずれただけであってもそれらの間(正確には、両
者の焦点位置同士の間)にナイフエッジ6aの倒立像
(実像)が形成されるように、可能な限り長くとってあ
る。また、撮像素子9は、撮像レンズ8によって正立像
が形成されても倒立像が形成されてもこれらの像をある
程度明瞭に撮像できるように、正立像の形成位置(平均
位置)と倒立像の形成位置(平均位置)との中間点に配
置される。この位置とは、撮像レンズ8に関して検査対
象光学部材A,Bの表面と光学的に等価な位置である。
The distance between the inspection target optical member and the image pickup lens 8 is such that the focus position of the inspection target optical member A (the combined focus position of the lens group consisting of the inspection target optical member B and the correction lens C) is the knife edge 6a. Even if the position slightly shifts to the image pickup device 7 side from the position of, the inverted image (real image) of the knife edge 6a is formed between them (more accurately, between the focal positions of both). , Taken as long as possible. Further, the image pickup device 9 forms an erect image at the formation position (average position) and the inverted image so that the erect image and the inverted image can be captured to some extent clearly regardless of whether the image pickup lens 8 forms the erect image or the inverted image. It is arranged at the midpoint between the formation position (average position). This position is a position that is optically equivalent to the surfaces of the inspection target optical members A and B with respect to the imaging lens 8.

【0033】従って、撮像素子9上には、常に、検査対
象光学部材の外縁の実像(倒立像)αが結像されるとと
もに、この検査対象光学部材の外縁の実像αの周囲に
は、検査対象光学部材を通さずに直接見えるナイフエッ
ジ6aの実像(倒立像)がややぼけて結像される(図5
(a)〜(e)参照)。
Therefore, the real image (inverted image) α of the outer edge of the optical member to be inspected is always formed on the image pickup element 9, and the inspection is performed around the real image α of the outer edge of the optical member to be inspected. A real image (inverted image) of the knife edge 6a that is directly visible without passing through the target optical member is slightly blurred (FIG. 5).
(See (a) to (e)).

【0034】そして、この検査対象光学部材の外縁の実
像αの内側には、検査対象光学部材Aの焦点位置(検査
対象光学部材Bと補正レンズCとからなるレンズ群の合
成焦点位置)がナイフエッジ6aの位置よりも撮像装置
7側にずれている場合には、ナイフエッジ6aの実像
(正立像)が、ややぼけて結像される(図5(d),図
5(e)参照)。このナイフエッジ6aの実像(正立
像)は、焦点位置のずれ量が少なくなる程ぼけ量が大き
くなり(図5(d)参照)、ずれ量が大きくなる程ぼけ
量が少なくなって明確になる(図5(e)参照)。
Then, inside the real image α of the outer edge of the inspection target optical member, the focus position of the inspection target optical member A (the combined focus position of the lens group consisting of the inspection target optical member B and the correction lens C) is the knife. When the position of the edge 6a is displaced toward the imaging device 7 side, the real image (upright image) of the knife edge 6a is slightly blurred (see FIGS. 5D and 5E). . The real image (upright image) of the knife edge 6a becomes larger as the shift amount of the focus position becomes smaller (see FIG. 5D), and becomes smaller as the shift amount becomes larger and becomes clear. (See FIG. 5 (e)).

【0035】これとは逆に、検査対象光学部材Aの焦点
位置(検査対象光学部材Bと補正レンズCとからなるレ
ンズ群の合成焦点位置)がナイフエッジ6aの位置より
も光ファイバー束3側にずれている場合には、検査対象
光学部材の外縁の実像αの内側には、ナイフエッジ6a
の実像(倒立像)が、ややぼけて結像される(図5
(b),図5(a)参照)。ナイフエッジ6aの実像
(倒立像)は、焦点位置のずれ量が少なくなる程ぼけ量
が大きくなり(図5(b)参照)、ずれ量が大きくなる
程ぼけ量が少なくなって明確になる(図5(a)参
照)。
On the contrary, the focal position of the optical member A to be inspected (the combined focal position of the lens group consisting of the optical member B to be inspected and the correction lens C) is closer to the optical fiber bundle 3 than the position of the knife edge 6a. If there is a deviation, the knife edge 6a is placed inside the real image α of the outer edge of the inspection target optical member.
The real image (inverted image) is slightly blurred (Fig. 5).
(B) and FIG. 5 (a)). The real image (inverted image) of the knife edge 6a has a larger blur amount as the focal position shift amount decreases (see FIG. 5B), and becomes clear as the shift amount increases (see FIG. 5B). See FIG. 5 (a).

【0036】また、検査対象光学部材Aの焦点位置(検
査対象光学部材Bと補正レンズCとからなるレンズ群の
合成焦点位置)がナイフエッジ6aの位置と一致する
と、検査対象光学部材の外縁の実像αの内側におけるぼ
け量が最大となり、全体に均一な明度で光線が照射され
るようになる(図5(c)参照)。
When the focal position of the optical member A to be inspected (the combined focal position of the lens group consisting of the optical member B to be inspected and the correction lens C) coincides with the position of the knife edge 6a, the outer edge of the optical member to be inspected is detected. The amount of blurring inside the real image α is maximized, and the light rays are uniformly illuminated over the entire image (see FIG. 5C).

【0037】表示装置10及び画像処理部14に入力さ
れる画像データ中において、検査対象光学部材の外縁α
の内側部分は、検査対象光学部材Aの焦点位置(検査対
象光学部材Bと補正レンズCとからなるレンズ群の合成
焦点位置)がナイフエッジ6aの位置と一致した時に
は、検査対象光学部材A,Bに光学的欠陥がない限り、
ナイフエッジ6aの黒色部分(白色光が遮られている部
分)と白色部分(白色光が透過する部分)とが完全に混
合して、均一濃度の灰色の平面として表示される(球面
レンズの場合)。なお、検査対象光学部材A,Bとして
非球面レンズを検査する場合には、焦点位置が一点のみ
ではなく緩やかに変化しているので、輝度変化が非常に
穏やかな画像となる。
In the image data input to the display device 10 and the image processing unit 14, the outer edge α of the optical member to be inspected.
When the focal position of the optical member A to be inspected (the combined focal position of the lens group consisting of the optical member B to be inspected and the correction lens C) coincides with the position of the knife edge 6a, the inner portion of the optical member A to be inspected, As long as B has no optical defects,
A black portion (a portion where white light is blocked) and a white portion (a portion where white light is transmitted) of the knife edge 6a are completely mixed and displayed as a gray plane of uniform density (in the case of a spherical lens). ). When an aspherical lens is inspected as the inspection target optical members A and B, the focus position changes not only at one point but also gently, so that an image with a very gentle change in luminance is obtained.

【0038】これに対して、検査対象光学部材A,B内
に屈折率異常が生じている部分やその表面の形状欠陥に
よって屈折力異常が生じている部分がある場合には、そ
の異常部分のみ、正常な部分の焦点距離と異なる焦点距
離を有することと等価になっている。従って、図6に示
すように、その異常部分にだけ、ナイフエッジの像γが
現れる。この異常部分の屈折率(屈折力)異常の程度
(焦点距離のずれ量)は、ナイフエッジの像γの現れ方
に反映される。即ち、ナイフエッジの像の濃淡が明確に
現れれば現れるほど、屈折率(屈折力)異常の程度(焦
点距離のずれ量)が大きくなる。
On the other hand, when there is a portion in the optical members A and B to be inspected where the refractive index is abnormal or a portion where the refractive power is abnormal due to the shape defect of the surface, only the abnormal portion is present. , Which is equivalent to having a focal length different from the focal length of the normal part. Therefore, as shown in FIG. 6, the knife edge image γ appears only in the abnormal portion. The degree of the refractive index (refractive power) abnormality of the abnormal portion (the amount of deviation of the focal length) is reflected in the appearance of the image γ at the knife edge. That is, the more clearly the shade of the image of the knife edge appears, the greater the degree of the refractive index (refractive power) abnormality (the amount of deviation of the focal length).

【0039】なお、検査対象光学部材Aの表面にゴミや
汚れが付着していたり、キズがついている場合には、画
像データ中における検査対象光学部材の外縁αの内側部
分に、これらゴミ,汚れ,又はキズの像が撮像レンズ8
によって形成される。即ち、ゴミや汚れによって光が遮
断されている場合には周囲より暗い影が形成され、キズ
によって光線の発散が生じている場合には輝点が形成さ
れる。 <画像処理>次に、検査対象光学部材が良品であるか不
良品であるかの判定を行うために画像処理部14におい
て実行される画像処理の内容を、図7のフローチャート
を用いて説明する。
If dust or dirt is attached to the surface of the optical member A to be inspected or is scratched, the dust or dirt on the inner portion of the outer edge α of the optical member to be inspected in the image data. , Or the image of scratches is the imaging lens 8
Formed by. That is, when light is blocked by dust or dirt, a shadow that is darker than the surroundings is formed, and when light rays are diverged due to scratches, a bright spot is formed. <Image Processing> Next, the content of the image processing executed in the image processing unit 14 to determine whether the optical member to be inspected is a good product or a defective product will be described with reference to the flowchart of FIG. 7. .

【0040】この画像処理は、画像処理部14に接続さ
れた図示せぬ検査開始ボタンを押下されることによりス
タートする。そして、S01乃至S05のループ処理が
実行される。
This image processing is started by pressing an inspection start button (not shown) connected to the image processing section 14. Then, the loop processing of S01 to S05 is executed.

【0041】このループ処理に入って最初のS01で
は、撮像素子9から入力された画像データを構成する各
画素(ピクセル)の輝度を256階調の数値情報に変換
し、夫々第1メモリ14aに書き込む。
In the first step S01 after entering this loop processing, the brightness of each pixel (pixel) forming the image data input from the image pickup device 9 is converted into numerical information of 256 gradations, which are respectively stored in the first memory 14a. Write.

【0042】次のS02では、メモリ14aに書き込ま
れた各数値情報を順番に走査して、微分処理を行う。即
ち、画像中における左上の画素から右下の画素に向けて
順番に各画素の数値をチェックする。そして、チェック
対象画素の数値とこれの左隣の画素の数値及び上側に隣
接する画素の数値とを比較し、それら数値の差の絶対値
を、このチェック対象画素の微分値[0〜255]とす
る。このように得られた微分値に変換された画像データ
では、検査対象光学部材の光学的欠陥がある部分の輪
郭,及びナイフエッジ6aの縁だけが濃度の高い画像と
なる(画像内における濃淡変化が大きい部位を光学部材
の光学欠陥を示す部位として強調する強調手段に相
当)。
In the next step S02, the numerical information written in the memory 14a is sequentially scanned to perform the differential processing. That is, the numerical value of each pixel is sequentially checked from the upper left pixel to the lower right pixel in the image. Then, the numerical value of the pixel to be checked is compared with the numerical value of the pixel to the left of it and the numerical value of the pixel adjacent to the upper side, and the absolute value of the difference between these numerical values is the differential value [0-255] of this pixel to be checked. And In the image data converted into the differential value obtained in this way, only the contour of the portion of the optical member to be inspected where there is an optical defect and the edge of the knife edge 6a become an image with high density (change in shade in the image). Corresponds to an emphasis means for emphasizing a large part as a part showing an optical defect of the optical member).

【0043】次のS03では、画像合成処理を実行す
る。即ち、S02において得られた各微分値を、第2メ
モリ14bに書き込む。この際、前回のループ処理での
S03の結果として前回の画像の微分値が第2メモリ1
4bに書き込まれている場合には、第2メモリ14bに
既に書き込まれている各微分値を取り出し、今回のルー
プ処理でのS02において得られた各微分値を加算した
後に、第2メモリ14bに上書きする(遮光手段が一回
転する間に撮像手段によって撮像されて強調手段によっ
て強調がなされた画像を合成する合成手段に相当)。
In the next S03, an image synthesizing process is executed. That is, each differential value obtained in S02 is written in the second memory 14b. At this time, as a result of S03 in the previous loop processing, the differential value of the previous image is the second memory 1
If it is written in 4b, the differential values already written in the second memory 14b are taken out, and the differential values obtained in S02 in the current loop processing are added, and then in the second memory 14b. Overwriting (corresponding to a synthesizing unit that synthesizes an image captured by the image capturing unit and emphasized by the enhancing unit while the light shielding unit makes one rotation).

【0044】次のS04では、処理を開始した後にナイ
フエッジ6aが一回転したか否かをチェックする。そし
て、未だ一回転していない場合には、S05において、
ナイフエッジ回転制御部15に対してナイフエッジ6a
を22.5度回転させる命令をする。この回転後の画像
データが撮像素子9から入力された場合には、処理をS
01に戻し、この新たな画像データに対する処理を実行
する。
At the next step S04, it is checked whether or not the knife edge 6a has rotated once after the processing is started. Then, if one revolution has not yet been made, in S05,
The knife edge 6a for the knife edge rotation controller 15
Command to rotate 22.5 degrees. If this rotated image data is input from the image sensor 9, the process proceeds to S
Returning to 01, the processing for this new image data is executed.

【0045】このようにナイフエッジ6aを若干量づつ
回転させて(S05)得られた画像データを累積する
(S03)ようにしたのは、次の理由による。即ち、直
線状のナイフエッジ6aを光路に挿入すると、ナイフエ
ッジ6aの方向と平行な方向における異常成分は最も良
く検出され得るが、ナイフエッジ6aの方向と直交する
方向における異常成分はあまり良く検出されない。その
ため、ナイフエッジ6a自体を光軸lに直交する面内で
回転させて、あらゆる方向における異常成分を全て検出
して、同一の画像上に合成しているのである。また、こ
の結果、次の効果も得られる。即ち、ナイフエッジ6a
を停止させた場合の画像では、図6に示すように、光学
的欠陥部分の縁(図6中央の円弧部分)の他にナイフエ
ッジ6aの縁(図6中央の左右に延びる白黒の境界線)
も、濃淡が急激に変化している箇所として映し出され
る。このナイフエッジ6aの縁は、本来検出が求められ
ている光学的欠陥部分の縁自体ではないので、検出され
ないことが望ましい。そこで、ナイフエッジ6aを回転
させると、光学的欠陥部分の縁の位置が不動であるのに
対して、ナイフエッジ6aの縁は回転する。従って、画
像合成処理をすると、光学的欠陥部分の縁が益々強調さ
れるのに対して、ナイフエッジ6aの縁は光学的欠陥部
分の閉領域(縁によって囲まれている部分)内において
面状に平均化されるので、境界線としては認識されなく
なるのである。
The reason why the knife edge 6a is rotated by a slight amount (S05) and the obtained image data is accumulated (S03) is as follows. That is, when the straight knife edge 6a is inserted into the optical path, the abnormal component in the direction parallel to the direction of the knife edge 6a can be detected most, but the abnormal component in the direction orthogonal to the direction of the knife edge 6a is detected very well. Not done. Therefore, the knife edge 6a itself is rotated in a plane orthogonal to the optical axis 1 to detect all abnormal components in all directions and combine them on the same image. As a result, the following effects are also obtained. That is, knife edge 6a
As shown in FIG. 6, in the image when the image is stopped, in addition to the edge of the optical defect portion (the circular arc portion in the center of FIG. 6), the edge of the knife edge 6a (the black and white boundary line extending to the left and right in the center of FIG. 6). )
Is also displayed as a place where the shading changes rapidly. Since the edge of the knife edge 6a is not the edge itself of the optical defect portion which is originally required to be detected, it is desirable that the edge is not detected. Therefore, when the knife edge 6a is rotated, the position of the edge of the optical defect portion is immovable, whereas the edge of the knife edge 6a is rotated. Therefore, when the image synthesizing process is performed, the edge of the optical defect portion is more and more emphasized, while the edge of the knife edge 6a is planar in the closed region (the portion surrounded by the edge) of the optical defect portion. Since it is averaged to, it is no longer recognized as a boundary line.

【0046】以上のようにループ処理を繰り返した結果
ナイフエッジが1回転すると(即ち、ナイフエッジ6a
の22.5度づつの回転を16回繰り返すと)、S04
からこのループ処理を抜けて、処理はS06に進む。
As a result of repeating the loop processing as described above, when the knife edge makes one rotation (that is, the knife edge 6a).
Repeated 16 times each 22.5 degrees), S04
This loop processing is exited from, and the processing proceeds to S06.

【0047】図8は、このS06において実行される検
査対象領域抽出処理サブルーチンの内容を示すフローチ
ャートである。このサブルーチンに入って最初のS11
では、二値化処理を行う。この二値化処理とは、第2メ
モリ内の画像データの各画素に対応する数値情報が所定
の閾値を超えていればその数値情報を255(白)に置
き換え、超えていなければ0(黒)に置き換える処理で
ある。この閾値は、検査対象光学部材の外縁αが途切れ
ることなく白(255)の閉曲線として残し得るような
値に、設定されている。この二値化処理の結果得られる
画像データを図9(a)に示す。図9におけるδは光学
部材の樹脂成形時におけるゲートの像であり、εはゲー
ト上の模様の像であり、ηはジェッティング等の屈折率
異常部分であり、σは光学部材表面に付着したゴミの像
である。なお、図9では、描画の都合上、白/黒を反転
して描いている。
FIG. 8 is a flow chart showing the contents of the inspection area extraction processing subroutine executed in S06. First S11 after entering this subroutine
Then, binarization processing is performed. This binarization processing is to replace the numerical value information with 255 (white) when the numerical value information corresponding to each pixel of the image data in the second memory exceeds a predetermined threshold value, and to 0 (black value) when the numerical value information does not exceed the predetermined threshold value. ). This threshold value is set to a value such that the outer edge α of the inspection target optical member can be left as a white (255) closed curve without interruption. Image data obtained as a result of this binarization processing is shown in FIG. In FIG. 9, δ is an image of a gate during resin molding of an optical member, ε is an image of a pattern on the gate, η is an abnormal refractive index portion such as jetting, and σ is attached to the surface of the optical member. It is an image of garbage. It should be noted that in FIG. 9, for convenience of drawing, white / black is reversed and drawn.

【0048】次のS12では、閉領域抽出処理が実行さ
れる。この閉領域抽出処理とは、閉じた白線によって囲
まれている領域のみを抽出する処理である。具体的に
は、S11により二値化された画像データを構成する黒
い画素[0]のうち、白い画素[255]によって取り
囲まれているものを閉領域内の画素とみなす。そして、
この閉領域内のものと見なされた全画素の数値を255
とし、それ以外の全画素の数値を0とする。この閉領域
抽出処理の結果得られる画像データを図9(b)に示
す。図9(b)に示すように、この閉領域抽出処理の結
果、端部が開いている線δは消去されるが、閉曲線であ
る光学部材の外縁α内では白/黒の逆転が生じるだけな
ので、内部の閉曲線η及び点σは残ってしまう。
In the next step S12, a closed area extraction process is executed. The closed area extraction processing is processing for extracting only the area surrounded by the closed white line. Specifically, among the black pixels [0] forming the binarized image data in S11, the one surrounded by the white pixel [255] is regarded as the pixel in the closed region. And
The number of all pixels considered to be in this closed area is set to 255
And all the other pixels are set to 0. Image data obtained as a result of this closed region extraction processing is shown in FIG. As shown in FIG. 9B, as a result of this closed region extraction processing, the line δ having an open end is erased, but only white / black inversion occurs within the outer edge α of the optical member, which is a closed curve. Therefore, the closed curve η and the point σ inside remain.

【0049】次のS13では、穴埋め処理が実行され
る。この穴埋め処理とは、白い画素[255]の中に残
された黒い画素[0]を消去するための処理である。具
体的には、S12によって得られた画像データを構成す
る黒い画素[0]のうち、白い画素[255]によって
取り囲まれているものの数値を255とする。この穴埋
め処理の結果得られる画像データを図9(c)に示す。
図9(c)に示すように、この穴埋め処理の結果、光学
部材外縁α内の閉曲線η及び点σは消去され、大小二つ
の領域α,εのみが残る。
In step S13, a filling process is executed. The filling process is a process for erasing the black pixel [0] left in the white pixel [255]. Specifically, the number of black pixels [0] included in the image data obtained in S12 and surrounded by white pixels [255] is set to 255. The image data obtained as a result of this filling processing is shown in FIG.
As shown in FIG. 9C, as a result of this hole filling process, the closed curve η and the point σ within the outer edge α of the optical member are erased, and only the large and small regions α and ε remain.

【0050】次のS14では、領域選択処理が実行され
る。この領域選択処理とは、本来必要とされる領域のみ
を有効とするとともに、ゲートの一部等に基づいて抽出
されたそれ以外の閉領域を削除するための処理である。
具体的には、S13によって得られた画像データに含ま
れる各閉領域のうち、画面中央に位置する閉領域はその
ままとし、それ以外の全閉領域を構成する全画素の数値
を0とする。この領域選択処理の結果得られる画像デー
タを図9(d)に示す。図9(d)に示すように、この
画像における白い画素[255]の領域は検査対象光学
部材の画像の領域に対応しているので、この画像のこと
を以下「マスク画像」という。
In the next step S14, a region selection process is executed. The region selection process is a process for validating only the originally required region and deleting the other closed regions extracted based on a part of the gate or the like.
Specifically, among the closed areas included in the image data obtained in S13, the closed area located in the center of the screen is left as it is, and the numerical values of all pixels forming the other closed areas are set to 0. The image data obtained as a result of this area selection processing is shown in FIG. As shown in FIG. 9D, the area of the white pixel [255] in this image corresponds to the area of the image of the optical member to be inspected. Therefore, this image is hereinafter referred to as “mask image”.

【0051】次のS15では、マスク画像を構成する各
画素の値(8ビットパラレルのデジタル値)と第2メモ
リ14bに書き込まれている各画素の値(8ビットパラ
レルのデジタル値)とをAND演算する。このAND演
算処理の結果、第2メモリ14bに書き込まれた画像デ
ータのうち、マスク画像の白い画素[255]の領域に
対応する部分のみがそのまま残され、他の部分の画素の
数値は全て0となる。
At the next step S15, the value of each pixel forming the mask image (8-bit parallel digital value) and the value of each pixel written in the second memory 14b (8-bit parallel digital value) are ANDed. Calculate As a result of this AND operation processing, of the image data written in the second memory 14b, only the portion corresponding to the area of the white pixel [255] of the mask image is left as it is, and the numerical values of the pixels of other portions are all 0. Becomes

【0052】以上により、良品又は不良品の判定に用い
られる画像データが得られるので、このサブルーチンを
終了して、図7のメインルーチンに処理を戻す。図7に
おいてS06の次に実行されるS07では、S06の結
果抽出された画像データを構成する各画素の数値を、引
き目ノイズが抽出されないレベルに設定された閾値と比
較し、二値化(255:白,又は、0:黒)する。即
ち、画像データを構成する各画素の数値が閾値よりも大
きければ(明るければ)その数値を255に置き換え、
画像データを構成する各画素の数値が閾値よりも小さけ
れば(暗ければ)数値を0に置き換える。そして、二値
化後の画像の図形的特徴量(白い部分の面積,最大幅,
重心,フィレ径,等)を算出する。例えば、白い[25
5の]画素の数を数えて面積量とする(撮像手段によっ
て撮像された画像中の光学部材の光学的欠陥を示す部位
を数値化する数値化手段に相当)。
As described above, the image data used for determining the non-defective product or the defective product can be obtained. Therefore, this subroutine is ended and the process is returned to the main routine of FIG. In S07 executed next to S06 in FIG. 7, the numerical value of each pixel constituting the image data extracted as a result of S06 is compared with a threshold value set to a level at which eye-catching noise is not extracted, and binarized ( 255: white or 0: black). That is, if the numerical value of each pixel forming the image data is larger than the threshold value (if it is bright), the numerical value is replaced with 255,
If the numerical value of each pixel forming the image data is smaller than the threshold value (if it is dark), the numerical value is replaced with 0. Then, the graphical features of the image after binarization (area of white part, maximum width,
Calculate center of gravity, fillet diameter, etc.). For example, white [25
5] The number of pixels is counted as an area amount (corresponding to a digitizing unit that digitizes a portion showing an optical defect of an optical member in an image captured by the image capturing unit).

【0053】次のS08では、合否判定処理を実行す
る。即ち、S07において算出された各図形的特徴量
を、予め設定されている各合否判定基準値と比較する。
そして、対応する合否判定基準値を超過している図形的
特徴量が一つでもあれば不合格(不良品)と判定する
が、全ての図形的特徴量が夫々に対応する合否判定基準
値内に収まっていれば合格(良品)と判定する(数値化
手段によって数値化された数値が所定の判定基準値を超
えたか否かを判定する判定手段に相当)。なお、判定に
用いられる図形的特徴量のうちどれを合否判定に用いる
かは、検査対象光学部材の種類に依って定まる。この合
否判定処理が完了すると、この画像処理を終了する。
In the next S08, a pass / fail judgment process is executed. That is, each graphical feature amount calculated in S07 is compared with each preset pass / fail judgment reference value.
Then, if there is at least one graphical feature amount that exceeds the corresponding acceptance / rejection determination reference value, it is determined as a failure (defective product), but all the graphical feature amounts are within the acceptance / rejection determination reference value corresponding to each. If it is within the range, it is determined as a pass (non-defective product) (corresponding to a determining unit that determines whether or not the numerical value digitized by the digitizing unit exceeds a predetermined determination reference value). Which of the graphic feature amounts used for the determination is used for the pass / fail determination depends on the type of the inspection target optical member. When this pass / fail judgment processing is completed, this image processing is ended.

【0054】なお、上述の画像処理におけるS03で実
行される画像合成処理としては、MAX演算を行っても
良い。上述の加算処理においては合成対象画像データ間
の対応する画素の数値(輝度)同士を加算するのに対
し、MAX演算では、合成対象画像データ間の対応する
画素の数値(輝度)のうち、大きい方の値を演算結果と
して採用する。このようなMAX演算では、合成される
各画像データの輝度が高い場合でも、合成された画像の
輝度が飽和することがない。よって、このような場合で
も正確な検査ができるという利点を生じる。 <光学部材検査装置による検査手順>本実施形態による
光学部材検査装置によって光学部材を検査する時には、
検査者は、検査対象光学部材A,Bを、図示せぬホルダ
に固着して光軸lと同軸に配置する。なお、検査対象光
学部材が凸レンズA以外である場合には、検査対象光学
部材Bと照明ユニット4との間に、補正レンズCを挿入
する。このように、本実施形態では、凸レンズで構成さ
れる補正レンズCを装着することで、検査対象光学部材
が凹レンズBでも検査することができる。なお、検査対
象光学部材としての凸レンズAの焦点距離が長い場合に
は、この凸レンズAと照明ユニット4との間の距離を短
くすることができる。
As the image synthesizing process executed in S03 of the above-mentioned image processing, MAX calculation may be performed. In the above-mentioned addition processing, the numerical values (luminance) of the corresponding pixels between the combination target image data are added, whereas in the MAX calculation, the larger numerical value (luminance) of the corresponding pixels between the combination target image data is used. The other value is adopted as the calculation result. In such a MAX operation, the brightness of the combined image is not saturated even if the brightness of each image data to be combined is high. Therefore, there is an advantage that an accurate inspection can be performed even in such a case. <Inspection Procedure by Optical Member Inspection Device> When inspecting an optical member by the optical member inspection device according to the present embodiment,
The inspector fixes the inspection target optical members A and B to a holder (not shown) so as to be coaxial with the optical axis l. When the inspection target optical member is other than the convex lens A, the correction lens C is inserted between the inspection target optical member B and the illumination unit 4. As described above, in this embodiment, by mounting the correction lens C configured by a convex lens, it is possible to perform the inspection even when the optical member to be inspected is the concave lens B. If the focal length of the convex lens A as the inspection target optical member is long, the distance between the convex lens A and the illumination unit 4 can be shortened.

【0055】検査者は、次に、白色ランプ1を点灯し
て、遮光板6のナイフエッジ6aを照明させる。する
と、表示装置10上に、撮像素子9によって撮像された
映像が映し出される。
Next, the inspector turns on the white lamp 1 to illuminate the knife edge 6a of the light shielding plate 6. Then, the image captured by the image sensor 9 is displayed on the display device 10.

【0056】検査者は、表示装置10に映し出される映
像を見ながら、照明ユニット4を移動させる。そして、
図5(a)又は(b)のように、検査対象光学部材の外
縁αの内側において、検査対象光学部材の外縁αの外側
に見えるナイフエッジβと同じ方向にナイフエッジγが
見える時には、照明ユニット4が検査対象光学部材に近
過ぎる場合であるので、照明ユニット4を検査対象光学
部材から遠ざける。逆に、図5(d)又は(e)のよう
に、検査対象光学部材の外縁αの内側において、検査対
象光学部材の外縁αの外側に見えるナイフエッジβと逆
の方向にナイフエッジγが見える時には、照明ユニット
4が検査対象光学部材から遠すぎる場合であるので、照
明ユニット4を検査対象光学部材に近付ける。このよう
な照明ユニット4の進退調整を行った結果、図5(c)
のように、ナイフエッジγが検査対象光学部材の外縁α
内の大部分において消えた時には、照明ユニット4が適
正位置にある場合であるので、調整を停止する。このよ
うに、本実施形態では、照明ユニット4が光軸方向に移
動可能となっているので、焦点距離の違う複数種類の光
学部材を検査することができる。
The inspector moves the illumination unit 4 while watching the image displayed on the display device 10. And
As shown in FIG. 5A or 5B, when the knife edge γ is visible inside the outer edge α of the inspection target optical member in the same direction as the knife edge β seen outside the outer edge α of the inspection target optical member, illumination is performed. Since the unit 4 is too close to the inspection target optical member, the illumination unit 4 is moved away from the inspection target optical member. On the contrary, as shown in FIG. 5D or 5E, inside the outer edge α of the inspection target optical member, the knife edge γ appears in the direction opposite to the knife edge β seen outside the outer edge α of the inspection target optical member. Since the illumination unit 4 is too far from the inspection target optical member when it is visible, the illumination unit 4 is brought close to the inspection target optical member. As a result of such forward / backward adjustment of the lighting unit 4, FIG.
, The knife edge γ is the outer edge α of the optical member to be inspected.
When most of them disappear, it is because the lighting unit 4 is in the proper position, and the adjustment is stopped. As described above, in this embodiment, since the illumination unit 4 is movable in the optical axis direction, it is possible to inspect a plurality of types of optical members having different focal lengths.

【0057】次に、検査者は、図示せぬ検査開始ボタン
を押下して、図7の画像処理を開始させる。すると、ナ
イフエッジ回転制御部15によってナイフエッジ6aが
22.5度づつ回転駆動されるとともに(S05)、各
回転位置において検査対象光学素子A,Bを通過した光
によって形成される画像が、撮像装置7によって撮像さ
れる(S01)。画像処理部14は、撮像した各画像の
濃淡変化箇所を微分処理によって強調し(S02)、一
回転分にわたって加算する(S03,S04)。その結
果、検査対象光学部材のいかなる方向における欠陥成分
(屈折率[屈折力]異常,表面欠陥)に関しても、それ
を有している領域が抽出され、それらが一つの画像デー
タにまとめ上げられる。即ち、この画像データでは、欠
陥の方向如何に拘わらず、欠陥を有している部位が白く
浮き上がっている画像となっている。なお、このように
得られた画像データには、本来光学部材として機能して
いる部分以外の箇所についてのデータも含まれている
が、S06の検査対象領域抽出処理によって、その箇所
についてのデータは削除される。そして、異常部分の面
積や最大幅等が数値化され、一定の判断基準値と比較さ
れ、この比較結果に応じて良品であるか不良品であるか
の判定が客観的になされるのである。
Next, the inspector presses an inspection start button (not shown) to start the image processing of FIG. Then, the knife edge rotation controller 15 rotationally drives the knife edge 6a by 22.5 degrees (S05), and an image formed by the light passing through the optical elements A and B to be inspected at each rotational position is captured. An image is taken by the device 7 (S01). The image processing unit 14 emphasizes the grayscale change portion of each captured image by differentiation processing (S02), and adds up over one rotation (S03, S04). As a result, regarding defect components (refractive index [refractive power] anomaly, surface defects) in any direction of the optical member to be inspected, regions having them are extracted, and they are put together into one image data. That is, this image data is an image in which a defective portion is highlighted in white regardless of the direction of the defect. Although the image data obtained in this manner includes data on a portion other than the portion that originally functions as an optical member, the data on the portion is not obtained by the inspection target region extraction processing in S06. To be deleted. Then, the area, maximum width, etc. of the abnormal portion are digitized and compared with a certain judgment reference value, and whether the product is a good product or a defective product is objectively judged according to the comparison result.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上のように構成された本発明の光学部
材検査装置によれば、客観的基準に従って良品と不良品
との合否判定を行うことができる。従って、良品として
用いる製品の品質を安定させることができるとともに、
良品を誤判定により廃棄してしまうといった無駄を防止
することができる。
According to the optical member inspection apparatus of the present invention configured as described above, it is possible to determine whether the non-defective product is defective or non-defective according to an objective standard. Therefore, it is possible to stabilize the quality of products used as non-defective products, and
It is possible to prevent waste such as discarding non-defective products due to erroneous determination.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の第1の実施形態による光学部材検査
装置の構成図
FIG. 1 is a configuration diagram of an optical member inspection device according to a first embodiment of the present invention.

【図2】 図1の光学部材検査装置を凹レンズに適用し
た場合における構成図
FIG. 2 is a configuration diagram when the optical member inspection device of FIG. 1 is applied to a concave lens.

【図3】 図1における遮光板の正面図FIG. 3 is a front view of the light shielding plate in FIG.

【図4】 遮光板の回転状態を示す斜視図FIG. 4 is a perspective view showing a rotating state of the light shielding plate.

【図5】 図1における照明ユニットの移動調整時にお
ける表示装置上の画像を示す図
5 is a diagram showing an image on a display device at the time of adjusting movement of the illumination unit in FIG.

【図6】 ヒケを有する光学部材を検査した場合におけ
る表示装置上の画像を示す図
FIG. 6 is a diagram showing an image on a display device when an optical member having a sink mark is inspected.

【図7】 図1の画像処理部14において実行される画
像処理の内容を示すフローチャート
7 is a flowchart showing the contents of image processing executed in the image processing unit 14 of FIG.

【図8】 図7のS06にて実行される検査対象領域抽
出処理サブルーチンの内容を示すフローチャート
8 is a flow chart showing the contents of an inspection target area extraction processing subroutine executed in S06 of FIG.

【図9】 図8の検査対象領域抽出処理の説明図9 is an explanatory diagram of the inspection target area extraction processing of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

4 照明ユニット 5 拡散板 6 遮光板 7 撮像装置 8 撮像レンズ 9 撮像素子 13 モータ 14 画像処理部 15 ナイフエッジ回転制御部 A 凸レンズ B 凹レンズ C 補正レンズ 4 lighting units 5 diffuser 6 light shield 7 Imaging device 8 Imaging lens 9 Image sensor 13 motor 14 Image processing unit 15 Knife edge rotation controller A convex lens B concave lens C correction lens

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 木田 敦 東京都板橋区前野町2丁目36番9号旭光 学工業株式会社内 (56)参考文献 特開 平7−110302(JP,A) 特開 平8−304052(JP,A) 特開 平5−346368(JP,A) 特開 平6−109582(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01M 11/00 - 11/08 G11N 21/84 - 21/958 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Atsushi Kida 2-36-9 Maeno-cho, Itabashi-ku, Tokyo Asahi Kogaku Kogyo Co., Ltd. (56) Reference JP-A-7-110302 (JP, A) JP Hei 8-304052 (JP, A) JP 5-346368 (JP, A) JP 6-109582 (JP, A) (58) Fields investigated (Int.Cl. 7 , DB name) G01M 11 / 00-11/08 G11N 21/84-21/958

Claims (12)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】光学部材の光学的欠陥を検出する光学部材
検査装置であって、 照明光によって照明される拡散板と、 前記光学部材を含む光学系の焦点位置に配置されるとと
もに、前記拡散板によって拡散された光を部分的に透過
させるように前記拡散板に接している遮光手段と、 前記光学系を透過した光を撮像する撮像手段と、 この撮像手段によって撮像された画像中の前記光学部材
の光学的欠陥を示す部位を数値化する数値化手段と、 この数値化手段によって数値化された数値が所定の判定
基準値を超えたか否かを判定する判定手段とを備えたこ
とを特徴とする光学部材検査装置。
1. An optical member inspection device for detecting an optical defect of an optical member, comprising: a diffusion plate illuminated by illumination light; and a diffusion plate disposed at a focal position of an optical system including the optical member. A light-shielding unit that is in contact with the diffusion plate so as to partially transmit the light diffused by the plate, an image capturing unit that captures the light transmitted through the optical system, and the image capturing unit that captures the light captured by the image capturing unit. It is provided with a digitizing means for digitizing a portion showing an optical defect of the optical member, and a judging means for judging whether or not the numerical value digitized by the digitizing means exceeds a predetermined judgment reference value. Characteristic optical member inspection device.
【請求項2】前記光学系は、凸レンズである前記光学部
材のみからなることを特徴とする請求項1記載の光学部
材検査装置。
2. The optical member inspection apparatus according to claim 1, wherein the optical system includes only the optical member that is a convex lens.
【請求項3】前記光学系は、凹レンズである前記光学部
材と凸レンズである補正レンズとからなり、全体として
正レンズ系であることを特徴とする請求項1記載の光学
部材検査装置。
3. The optical member inspection apparatus according to claim 1, wherein the optical system comprises the optical member which is a concave lens and the correction lens which is a convex lens, and is a positive lens system as a whole.
【請求項4】前記撮像手段によって撮像された画像内に
おける濃淡変化が大きい部位を、前記光学部材の光学欠
陥を示す部位として強調する強調手段を更に備えたこと
を特徴とする請求項1記載の光学部材検査装置。
4. A highlighting means for highlighting a portion of the image picked up by the image pickup means, which has a large change in shading, as a portion showing an optical defect of the optical member. Optical member inspection device.
【請求項5】前記遮光部材は、直線状の境界線によって
夫々分けられた前記光を部分的に透過させる部分と前記
光を部分的に遮光する部分とからなることを特徴とする
請求項4記載の光学部材検査装置。
5. The light-shielding member comprises a part that partially transmits the light and a part that partially shields the light, each part being separated by a linear boundary line. The optical member inspection device described.
【請求項6】前記遮光手段を前記拡散板との接触面の面
内において前記直線状の境界線に接する回転軸を中心に
回転させる回転手段を更に備えることを特徴とする請求
項5記載の光学部材検査装置。
6. The rotating device according to claim 5, further comprising rotating means for rotating the light shielding means about a rotation axis that is in contact with the linear boundary line in a surface of a contact surface with the diffusion plate. Optical member inspection device.
【請求項7】前記光学部材を含む光学系の光軸は、前記
遮光部材の回転軸と一致していることを特徴とする請求
項6記載の光学部材検査装置。
7. The optical member inspection apparatus according to claim 6, wherein an optical axis of an optical system including the optical member coincides with a rotation axis of the light shielding member.
【請求項8】前記撮像手段は、前記回転手段により回転
させられた前記遮光部材の各回転位置において前記撮像
を行うとともに、 前記遮光手段が一回転する間に前記撮像手段によって撮
像されて前記強調手段によって前記強調がなされた画像
を合成する合成手段を更に備えたことを特徴する請求項
5記載の光学部材検査装置。
8. The image pickup means performs the image pickup at each rotation position of the light shielding member rotated by the rotating means, and the image pickup means picks up the image while the light shielding means makes one rotation. The optical member inspection apparatus according to claim 5, further comprising a combining unit that combines the images emphasized by the unit.
【請求項9】前記強調手段は、前記画像を多数の画素に
分け、隣接する各画素の輝度同士を比較して微分処理
し、この微分処理の結果得られた画像を前記強調がなさ
れた画像とすることを特徴とする請求項4又は8記載の
光学部材検査装置。
9. The emphasizing means divides the image into a large number of pixels, compares the intensities of adjacent pixels with each other, and performs a differentiation process, and the image obtained as a result of the differentiation process is the enhanced image. The optical member inspection device according to claim 4, wherein:
【請求項10】前記数値化手段は、前記光学部材の光学
的欠陥を示す部位の面積を計って前記数値とすることを
特徴とする請求項1,4,8,又は9記載の光学部材検
査装置。
10. The optical member inspection according to claim 1, 4, 8 or 9, wherein the digitizing means measures the area of a portion showing an optical defect of the optical member to obtain the numerical value. apparatus.
【請求項11】前記数値化手段は、前記光学部材の光学
的欠陥を示す部位の最大幅を計って前記数値とすること
を特徴とする請求項1,4,8,又は9記載の光学部材
検査装置。
11. The optical member according to claim 1, 4, 8 or 9, wherein the digitizing means measures the maximum width of a portion of the optical member that exhibits an optical defect to obtain the numerical value. Inspection device.
【請求項12】前記撮像手段によって撮像された画像か
ら前記光学部材に対応する箇所のみを抽出する抽出手段
を更に備えたことを特徴とする請求項1記載の光学部材
検査装置。
12. The optical member inspection apparatus according to claim 1, further comprising an extracting unit that extracts only a portion corresponding to the optical member from the image captured by the image capturing unit.
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