JP3081026B2 - プリント配線板用電解銅箔 - Google Patents
プリント配線板用電解銅箔Info
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- H05K3/38—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
- H05K3/382—Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by special treatment of the metal
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Description
銅箔に関する。
タから玩具にいたるまで、各種電気機器の回路に広く用
いられており、省資源化、材料費節減及び電子機器の小
型高性能化の要請から、薄いプリント配線板が望まれて
いる。プリント配線板を薄くする方法としては、プリン
ト配線板を製造する原板の銅箔部分(のちに回路を構成
する)を薄くするか、あるいは該銅箔に接合する絶縁基
板を薄くする方法がある。
成した電気回路の通電容量が小さくなるとともに回路自
体の強度が低下するという欠点があり、また銅箔の取扱
いが難しくなるので、製造した原板の歩留まりが低下
し、プリント配線板の製造コストが高くなるという欠点
があった。
縁基板を薄くすると、対向する銅箔の距離が短くなるの
で、この原板からプリント配線板を作製したときに、回
路間の絶縁抵抗が減少し、電気信号が妨害を受けたり、
電気的な短絡等が起こり易くプリント配線板の品質が低
下するという欠点があった。
粗化処理した電解銅箔が一般的に用いられており、その
表面の微細な凹凸を絶縁基板に食い込ませて基板樹脂と
の接合強度を高めている。
用電解銅箔では、例えば、図3に示すように、電解銅箔
1の表面の凹凸8が絶縁基板10に食い込んだ分だけ、
基板の有効厚さ(L1)が薄くなるので、絶縁基板を薄
くした場合と同様に、プリント配線板の品質が低下する
という欠点があった。
ためには、回路導体として十分な厚さを有し、かつ絶縁
基板と高い接合強度を維持することができるとともに、
表面の粗さが十分に小さいプリント配線板用電解銅箔が
要求される。
としては、まず圧延銅箔を挙げることができる。圧延銅
箔は、表面が平滑なものを容易に得ることができ、表面
粗さは、標準的な35μm の圧延銅箔で、0.5〜4μ
m (Rz値)程度である。また、圧延銅箔は、絶縁基板
との接合強度を高めるために、例えば、図4に示すよう
に、圧延銅箔11の表面に電気メッキし、凹凸9を形成
させて粗化処理するか、あるいは表面をエッチングして
粗化処理する(特公昭61−54592号公報参照)こ
とができる。
な厚さの箔を製造することが困難であり、この傾向は、
箔が薄くなるほど、また幅が広くなるほど困難になる。
したがって、プリント配線板の生産性の向上に有利な幅
広でありながら、薄い箔においても均一な箔厚分布を有
する電解銅箔と異なり、圧延銅箔は、均一な箔厚分布の
幅広箔を安定して製造することができないという欠点が
あり、また生産コストが電解銅箔に比べて高価であると
いう欠点があった。
150A/dm2 という高い電流密度で製造するので、図3
に示すように、そのメッキ面の凹凸8が粗くなり、平滑
な表面の銅箔を得るのが困難であった。また、圧延銅箔
なみの平滑な表面粗さ(Rzが0.5μm 程度)の電解
銅箔を得る方法として、メッキ浴にチオ尿素等の光沢化
剤を添加する方法が知られているが、この方法では、操
業電流密度が1〜5A/dm2 と小さいので、銅箔の生産性
が大幅に低下するという欠点があり、また、光沢化剤
は、電極電位を上昇させる、いわゆる分極により、表面
粗さを小さくする一方で、箔を構成する銅の結晶に歪を
起こすので、内部応力が蓄積し、箔が反り返るという欠
点があった。
で箔厚分布が均一な箔を得ることができる電解法で容易
に製造することができ、また結晶歪による反り返りがな
く、表面の粗さが十分に小さい銅箔であり、絶縁基板と
の接合強度を高めることができるプリント配線板用電解
銅箔を提供することにある。
箔の両面に光沢銅メッキ層を有するプリント配線板用電
解銅箔である。
電解銅箔の光沢銅メッキ層の表面が粗さ0.2〜5μm
に粗化処理されており、該粗化処理面のうち、少なくと
も絶縁基板と接合する側に、亜鉛層、亜鉛合金層、ニッ
ケル層及びニッケル合金層からなる群より選ばれた一種
以上の薄層を有し、さらに、該薄層表面がクロメ−ト処
理されたプリント配線板用電解銅箔である。
電解銅箔の絶縁基板と接合する粗化処理面又はクロメ−
ト処理面にシランカップリング剤が塗布されたプリント
配線板用電解銅箔である。
用いる電解銅箔としては、電解法により製造した銅箔で
あれば特に制限はない。中でも、JIS B 0601
に規定されたRz値で示される表面粗さ(以下、表面粗
さという)が8μm 以下のものが好ましく、表面粗さが
小さいものは、後述する光沢銅メッキ層を薄くすること
ができるので、箔の生産性を向上させることができる。
電解銅箔の表面粗さを低下させることができるものであ
れば特に制限はなく、例えば、公知の光沢銅メッキ法を
用いて電解銅箔面に形成させることができる。
ッキ浴、例えば、市販の装飾用光沢銅メッキ浴を用いる
ことができ、また公知のチオ尿素、糖蜜等の光沢化剤を
添加した電解浴を用いても良い。
合金、白金族の金属及び白金族の金属の酸化物を被覆し
たチタン電極等を用いることができ、中でも、含リン銅
電極が好ましい。
い。メッキ浴の温度が、40℃を超えるときには、添加
剤の消耗が激しくなる場合や、得られたメッキ面の光沢
性が不十分になる場合があり、15℃未満のときには、
メッキ面の光沢性が不十分になる場合がある。
い。電流密度が、20 A/dm2を超えるときには、メッキ
面の光沢性が不十分になる場合があり、0.5 A/dm2未
満のときには、得られたメッキ面の光沢性が不十分にな
る場合があるほか、生産性が低下する。
表面粗さは、0.2〜5μm が好ましい。光沢銅メッキ
層の厚さは、用いる電解銅箔の表面が、粗い場合は厚く
する必要があり、小さい場合は薄くて済む。例えば、前
記表面粗さの範囲内の光沢銅メッキ層を得るには、電解
銅箔の表面粗さが4μm を超え、8μm 以下の場合に
は、光沢銅メッキ層の厚さは、10〜20μmが好まし
く、電解銅箔の表面粗さが4μm 以下の場合には、光沢
銅メッキ層の厚さは、6〜12μm が好ましい。
っても、片面ずつ別々に行ってもよい。電解銅箔の一方
の面に有する光沢銅メッキ層の厚さに対する、他方の面
に有する光沢銅メッキ層の厚さの比率は、50〜150
%が好ましい。メッキ応力が引っ張り応力である場合に
は、この比率が、50%未満のときには、薄い光沢銅メ
ッキ層側が膨らむような状態で箔が反り返る場合があ
り、150%を超えるときには、厚い光沢銅メッキ層側
がへこむような状態で箔が反り返る場合がある。また、
メッキ応力が圧縮応力である場合には、これと逆にな
る。
解銅箔の両面に、光沢銅メッキ層を前述した所定の厚さ
で設けることにより、両光沢銅メッキ層がそれぞれの内
部応力を互いに打ち消すので、反り返りを防止する。
のちに該層と接合させる、絶縁基板や他の層との接合強
度をより高めるために、表面を粗化処理したものが好ま
しい。表面を粗化処理した光沢銅メッキ層は、例えば、
図2に示すように、光沢銅メッキ層2の凹凸6を、さら
に微細な凹凸7にしたものである。
形成させた箔を電解液中で、交流、直流又はこれらを組
み合わせて光沢銅メッキ層表面をエッチング処理する方
法(特公昭61−54592号公報参照)及び電解液中
で、限界電流密度近傍の高電流密度で、銅、銅合金、亜
鉛及び亜鉛合金からなる群より選ばれた一種又は二種以
上の金属薄層を、光沢銅メッキ層表面に電着する方法
(英国特許GB203246A、特開昭63−8969
8号公報参照)が好ましい。
塩酸浴、硫酸浴が好ましいが、中でも、塩酸浴は、表面
粗さが小さい処理面を形成することができるとともに、
この処理面と接合する絶縁基板や他の層との接合強度を
高めることができるので、さらに好ましい。
ば、下記の条件が挙げられる。 塩酸浴を用いた場合の条件 浴組成 塩酸・・・・・10〜100 g/l 条件 対極・・・・・ステンレス板又は白金族の金属もしくはその酸 化物を被覆したチタン電極 浴温・・・・・30〜80℃ 周波数・・・・20〜100Hz 電流密度・・・10〜40A/dm2 処理時間・・・10〜60秒
には、粗化が深くなりすぎる場合があり、100 g/lを
超えるときには、粗化が十分にできない場合がある。電
流密度が10A/dm2 未満のときには、粗化が十分にでき
ない場合があり、40A/dm2を超えるときには、粗化が
深くなりすぎる場合がある。処理時間は、所望の粗さが
得られるように適宜調節することができる。
は、粉落ちしやすい表面が得られる場合があり、10A/
dm2 未満のときには、粗化が十分にできない場合があ
る。また、浴が硫酸及び塩酸の混酸浴のときには、浸漬
するだけで良い場合がある。
表面に電着する方法において、電着する金属としては、
例えば、銅、銅−亜鉛合金、銅−ニッケル合金、銅−ス
ズ合金、亜鉛−ニッケル合金等を挙げることができ、こ
れらの金属の薄層を2層以上組み合わせて設けても良
い。実用上、さらに好ましいのは、上記粗化銅薄層の上
に、粗化層を固定する通常銅層を設け、さらに粗化銅−
ニッケル合金の薄層を設けたものである。
のメッキ条件としては、例えば、下記の条件を挙げるこ
とができる。
粗化が十分にできない場合があり、25A/dm2 を超える
ときには、粗化が大きすぎたり、粉落ちしやすくなる場
合がある。
に、さらに銅の薄層をメッキする条件及び銅−ニッケル
合金のメッキ条件としては、例えば、下記の条件を挙げ
ることができる。
化薄層の粉落ちを防止する。
流密度が、1A/dm2 未満のときには、粗化が十分にでき
ない場合があり、25A/dm2 を超えるときには、粗化が
大きすぎる場合がある。
けでも粗さの小さい粗化処理はできるが、さらに第二層
目の通常の銅メッキを施して、その上に上記の銅−ニッ
ケル合金メッキを施せば、前述の第一層目の銅のメッキ
条件で、光沢銅メッキ層表面に電着させた粗化粒子を一
層固定し、、さらに微小な粗化粒子を電着させることが
でき、絶縁基板や他の層との接合強度を、より高めるこ
とができるので好ましい。
として、さらに好ましいのは、このように粗化処理した
光沢銅メッキ層の表面のうち、少なくとも絶縁基板と接
合する側に、亜鉛層、亜鉛合金層、ニッケル層及びニッ
ケル合金層からなる群より選ばれた一種以上の薄層を有
し、かつ該薄層表面がクロメ−ト処理されたものであ
る。
クロメ−ト処理する方法としては、例えば、特開昭60
−86894号公報に記載された方法を採用することが
できる。
n−V、Zn−Tl、Zn−Sn、Zn−Se、Zn−
Sb、Zn−Pt、Zn−Pb、Zn−Ni、Zn−M
o、Zn−Mn、Zn−In、Zn−Fe、Zn−G
e、Zn−Ga、Zn−Cu、Zn−Cr、Zn−C
o、Zn−Cd、Zn−Au、Zn−Ag等を挙げるこ
とができる。中でも好ましいのは、Zn−Cuである。
P、Ni−W、Ni−Co、Ni−Mo、Ni−Pd、
Ni−Sn、Ni−Zn、Ni−Cu、Ni−Mn、N
i−Fe、Ni−Mn−Zn等を挙げることができる。
中でも好ましいのは、Ni−Pである。薄層の厚さは、
0.0005〜0.002μm が好ましい。
層表面にクロム酸化物及びその水和物、又は亜鉛もしく
はその酸化物とクロム酸化物との混合物及びその水和物
を付着させる処理をいう。
鉛もしくはその酸化物とクロム酸化物との混合物及びそ
の水和物の付着量は、クロム量換算で、0.01〜0.
2mg/dm2が好ましい。
クロメ−ト処理する方法としては、例えば、特開昭60
−86894号公報に記載された方法を採用することが
できる。
は、図1に示すように、電解銅箔1の両面に、表面を粗
化処理した光沢銅メッキ層2を有し、さらに絶縁基板と
接合する粗化処理面に薄層3を備え、該薄層3のクロメ
−ト処理面4にシランカップリング剤5を塗布したもの
が、防錆力、耐熱性、耐塩酸性等の諸性能を向上させる
ことができるので、特に好ましい。
ては、例えば、次式(I): YRSiX3 (I) (式中、Xは、それぞれ独立して加水分解性の基を表
し、Rは、アルキル基を表し、Yは、有機マトリクスポ
リマ−と結合可能な有機官能基を表す)で示されるもの
を挙げることができる。
子、アルコキシ基、アルコキシアルコキシ基であり、Y
がビニル基、エポキシ基、グリシドキシ基、メタクリロ
キシ基、アミノ基、N−(2−アミノエチル)アミノ基
であり、又はYRがビニル基であるシランカップリング
剤である。
メトキシエトキシ)シラン、3−グリシドキシプロピル
トリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−
アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピ
ルトリエトキシシラン等を挙げることができる。
%水溶液を用いるのが好ましい。この水溶液のシランカ
ップリング剤の濃度が、0.001%未満のときには、
前述のシランカップリング剤の効果が期待できず、5%
を超えるときには、シランカップリング剤が溶解しにく
く、また相応する効果の向上が期待できない。
前記水溶液、空気中の水分又はクロム水和酸化物層表面
に吸着した水分等によって加水分解し、下記反応式に示
すようにシラノ−ル基を有する化合物(YRSi(O
H)3 )を生成する。 YRSiX3 +3H2 O → YRSi(OH)3 +3HX (式中、X、Y及びRは、前記と同じ)
i(OH)3 で示されるシラノ−ル基は、光沢銅メッキ
層の粗化処理面、あるいはクロム水和酸化物又はクロム
水和酸化物分散亜鉛層の表面と結合するとともに、−Y
で示される有機マトリクスポリマ−と結合可能な有機官
能基は、本発明のプリント配線板用電解銅箔を樹脂基板
と接合するときに、基板の樹脂と結合する。
的に説明する。 実施例1 粗面側の表面粗さが3.9μm で厚さが18μm の電解
銅箔の両面に、下記組成のメッキ浴を用い、下記条件で
厚さが片面8.5μm の光沢銅メッキを行った。得られ
た光沢銅メッキの表面粗さ(Rz値)は、0.6μm で
あった。次に、これを水洗乾燥し、厚さが35μm のプ
リント配線板用電解銅箔を作製した。
て、下記に示す引き剥し強さを測定し、反り返りの程度
を下記の基準で評価した。結果を表1に示す。
ス接合した後、樹脂基板から該箔を剥離するときの負荷
を測定した。
と、端部が5〜20mm持上がった。 ×・・・・・・箔が反り返り、放置すると丸まった。
箔を、塩酸60 g/l含有する水溶液を浴として用い、下
記条件でエッチング粗化処理した。
さ(Rz値)を測定したところ、0.6μm と変わらな
かったが、電子顕微鏡で観察したところ、光沢銅メッキ
の凹凸面上に、さらに微細な凹凸が形成されていた。こ
のことは、Rz値が、直径2μm の触針を用いて測定し
ているので、粗化処理して形成した微細な凹凸をそのま
ま正確に反映しえないためである。図5に粗化処理前の
光沢銅メッキ面の電子顕微鏡写真を示し、図6に粗化処
理後の光沢銅メッキ面の電子顕微鏡写真を示す(倍率:
800倍)。
電解銅箔を、実施例1と同様にして、引き剥し強さ及び
反り返りの程度を評価し、さらに粉落ちの有無を観察し
た。結果を表1に示す。
箔の樹脂基板と接合する面に、硫酸亜鉛七水塩11 g/l
及び水酸化ナトリウム40 g/lを含有する水溶液を浴と
して用い、下記条件で亜鉛メッキした後、直ちに水洗し
た。
クロム4.75 g/lを含有する水溶液(pH11.3;
水酸化ナトリウムで調整)を浴として用い、下記条件で
クロメ−ト処理した後、水洗乾燥した。得られた銅箔に
ついて、実施例2と同様にして、引き剥し強さ及び反り
返りの程度を評価し、粉落ちの有無を観察した。結果を
表1に示す。
箔の基板と接合する面に、エポキシ系シランカップリン
グ剤(3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)
の1%水溶液を塗布し、柔らかいゴム片でしごいた後、
加熱乾燥させた。得られた銅箔について、実施例2と同
様にして、引き剥し強さ及び反り返りの程度を評価し、
粉落ちの有無を観察した。結果を表1に示す。
0 g/l含有する水溶液に代えて、硫酸120 g/l含有す
る水溶液を用い、下記条件で光沢銅メッキ層をエッチン
グ粗化処理した。
さ(Rz値)を測定したところ、0.8μm とほぼ変わ
らなかったが、電子顕微鏡で観察したところ、光沢銅メ
ッキの凹凸面上に、さらに微細な凹凸が形成されてい
た。
ほかは、実施例4と同様にして、銅箔を作製し、引き剥
し強さ及び反り返りの程度を評価し、さらに、粉落ちの
有無を観察した。結果を表1に示す。
〜の条件で、3層のメッキ層を設けて、光沢銅メッキ
層を粗化処理した。
さ(Rz値)を測定したところ、0.6μm と変わらな
かったが、電子顕微鏡で観察したところ、光沢銅メッキ
の凹凸面上に、さらに微細な凹凸が形成されていた。
ほかは、実施例4と同様にして、銅箔を作製し、引き剥
し強さ及び反り返りの程度を評価し、さらに、粉落ちの
有無を観察した。結果を表1に示す。
を、実施例5と同様にして、エッチング粗化処理した。
粗化処理した電解銅箔の表面粗さ(Rz値)を測定した
ところ、3.5μm であった。得られた銅箔の反り返り
の程度を評価した。結果を表2に示す。
た。光沢銅メッキの表面粗さ(Rz値)を測定したとこ
ろ、0.6μm であった。このように片面に光沢銅メッ
キしたほかは、実施例1と同様にして、プリント配線板
用電解銅箔を作製した。得られた銅箔の反り返りの程度
を評価した。結果を表2に示す。
作製した。光沢銅メッキの表面粗さ(Rz値)を測定し
たところ、0.3μm であった。得られた銅箔の反り返
りの程度を評価した。結果を表2に示す。
線板用電解銅箔は、電解銅箔の両面に光沢銅メッキ層を
備えているので、反り返りがなく、また、表面の粗さ
が、小さい。
ッキ層の表面をエッチング粗化処理したものは、引き剥
し強さが、0.7kg/cm2であり、実施例1のエッチング
粗化処理しないもの(0.3kg/cm2)より、箔と絶縁基
板の接合強度が向上し、実施例3が示すように、エッチ
ング粗化処理した光沢銅メッキ層の表面に、亜鉛薄層を
設け、その表面にクロメ−ト処理したものは、引き剥し
強さが、0.9kg/cm2であり、さらに絶縁基板との接合
強度が向上した。また、亜鉛薄層及びその表面のクロメ
−ト処理は、銅箔の防錆力及び耐熱性を向上させること
ができる。
処理面をシランカップリング剤で処理したものは、引き
剥し強さが、1.3kg/cm2になり、さらに絶縁基板との
接合強度が向上した。
ッキ層の表面を、塩酸浴でエッチング粗化処理したもの
は、硫酸浴でエッチング粗化処理したもの(実施例5)
に比べ、エッチング処理面の表面粗さが小さく、しか
も、引き剥し強さが大きい。
1.3kg/cm2 実施例5・・・表面粗さ:0.8μm 、引き剥し強さ:
1.1kg/cm2 これに対し、
は、光沢銅メッキを行わずに、電解銅箔の表面を直接粗
化処理したので、表面粗さが低下せず、Rz値の小さな
銅箔を得ることはできなかった。
解銅箔の片面だけに行ったので、銅箔の反り返りが激し
く、使用に耐えなかった。また比較例3では、低電流密
度の光沢銅メッキだけで、厚さが35μm の銅箔を作製
したので、銅箔が反り返った。
な箔を得ることができる電解法で容易に製造することが
でき、電着歪による反り返りがなく、また表面の粗さが
小さいので、ファインパタ−ンの回路を形成させること
ができ、しかも絶縁基板との接合強度を高めることがで
きる。
断面図である。
な凹凸形状を例示する断面図である。
配線板用電解銅箔と絶縁基板を接合した原板を例示する
断面図である。
配線板用電解銅箔と絶縁基板を接合した原板を例示する
断面図である。
である。
を示す。
Claims (4)
- 【請求項1】 製箔上がりの電解銅箔の両面に光沢銅メ
ッキ層を有し、該光沢銅メッキ層の表面が、粗さ0.2
〜5μmに粗化処理されたプリント配線板用電解銅箔。 - 【請求項2】 電解銅箔の一方の面に有する光沢銅メッ
キ層の厚さが、他方の面に有する光沢銅メッキ層の厚さ
の50〜150%である請求項1記載のプリント配線板
用電解銅箔。 - 【請求項3】 前記の粗化処理面のうち、少なくとも絶
縁基板と接合する側に、亜鉛層、亜鉛合金層、ニッケル
層及びニッケル合金層からなる群より選ばれた一種以上
の薄層を有し、更に、該薄層表面がクロメート処理され
た請求項1又は2に記載のプリント配線板用電解銅箔。 - 【請求項4】 プリント配線板用電解銅箔の絶縁基板と
接合するクロメート処理面にシランカップリング剤が塗
付された請求項3記載のプリント配線板用電解銅箔。
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