JP2953826B2 - 酸化物超電導体の製造方法および製造装置 - Google Patents
酸化物超電導体の製造方法および製造装置Info
- Publication number
- JP2953826B2 JP2953826B2 JP3220994A JP22099491A JP2953826B2 JP 2953826 B2 JP2953826 B2 JP 2953826B2 JP 3220994 A JP3220994 A JP 3220994A JP 22099491 A JP22099491 A JP 22099491A JP 2953826 B2 JP2953826 B2 JP 2953826B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- intermediate layer
- layer
- supply port
- chamber
- substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 59
- 239000002887 superconductor Substances 0.000 title claims description 32
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 46
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 21
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 16
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims description 6
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 4
- 238000002156 mixing Methods 0.000 claims description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 48
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 19
- 239000010408 film Substances 0.000 description 18
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 15
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 13
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 10
- 239000006200 vaporizer Substances 0.000 description 10
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 8
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 7
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910002367 SrTiO Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 229910000856 hastalloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000001552 radio frequency sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E40/00—Technologies for an efficient electrical power generation, transmission or distribution
- Y02E40/60—Superconducting electric elements or equipment; Power systems integrating superconducting elements or equipment
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
Description
イルや電力輸送用などとして応用開発が進められている
酸化物超電導体を化学気相蒸着法を用いて製造する酸化
物超電導体の製造方法に関する。
酸化物系の超電導体が多数発見され、これら酸化物超電
導体の超電導マグネットコイルや電力輸送用などへの応
用開発が進められている。上記酸化物超電導体は、通
常、ハステロイなどの耐蝕耐熱性金属を用いた基材上
に、酸化物超電導薄膜を化学気相蒸着法(以下、CVD
法と略記する。)等を用いて蒸着し製造されている。し
かしながら、上記酸化物超電導体を作製する際、上記基
材上に酸化物超電導薄膜を直接蒸着すると、形成された
酸化物超電導層中に基材中の元素や化合物が拡散してし
まい、酸化物超電導層の組成が変わってしまったり、さ
らに基材と酸化物超電導体との整合性が悪くなるととも
に、結晶配向性の良好な酸化物超電導層を形成できない
ので好ましくなかった。
1上に、この基材1中の元素や化合物が酸化物超電導層
中へ拡散するのを防止することができ、かつ酸化物超電
導層との結晶整合性に優れているMgOやSrTiO3
からなる中間層2を形成し、さらにその形成された中間
層2の上に酸化物超電導層3(以下、SC層と略記す
る。)を形成するようにし、上述した問題の解決を図っ
ている。
層を有する酸化物超電導体は、従来、例えば図8に示す
ような方法により製造されている。まず、基材1をRF
スパッタ装置を内部に備えた第1の成膜装置内に設置
し、基材1上に中間層2を蒸着した中間層形成済み基材
4を作製する(第1成膜工程)。次に、作製した中間層
形成済み基材4をCVD装置を内部に備えた第2の成膜
装置内に設置し、上記中間層形成済み基材4の中間層2
上にSC層3を形成する(第2成膜工程)。上記各工程
を経て、基材1とSC層3との間に中間層2を有する酸
化物超電導体(以下、SC体と略記する)5が製造され
る。
来のSC体の製造方法にあっては、第1成膜工程と、第
2成膜工程の2プロセスからなり、かつ前記各プロセス
は、双方とも同一の基板上に層を形成するという点で類
似の操作を有する成膜プロセスであるにも係わらず各々
独立的に行われているため製造工程が複雑化し、さらに
成膜時間も長くなるため製造コストが高くなってしまう
問題があった。従って、上記従来例は製造工程の簡略化
の点で未だ改良の余地がみられた。
々別装置で成膜するので、第1の装置から第2の装置へ
入れ換える際の時間ロスがあり、このロス時間中の温度
変化、機械的ひずみ、湿気等に起因して基材に形成され
た中間層に化学的あるいは構造的な劣化が発生し、上述
した中間層の効果を発揮し得なくなってしまうという問
題があった。
スパッタ法での成膜速度が遅いために、余り長尺のSC
体を製造するには適さず、例えば、第1の成膜工程にお
いて用いる第1の成膜装置としてRFスパッタ装置を用
いた場合は、適用可能な基材の全長が15cm程度に限
定されてしまうという問題があった。
簡略な製造工程をもって上述した中間層の効果を十分発
揮し得るような良好な中間層を形成することができ、か
つ長尺のSC体を製造することができるSC体の製造方
法を提供し、併せてその製造方法を良好に行うことので
きるSC体の製造装置の提供を目的とする。
内に設けられた長尺の基板を一方側に移動させつつ、該
チャンバ内に酸化物超電導体を構成する各元素の化合物
を気化させた原料ガスを導入し、化学蒸着法を用いて該
基板上に酸化物超電導体層を蒸着する酸化物超電導体の
製造方法において、基板上に、該基板と酸化物超電導体
層間の成分移動を阻止する材料からなる中間層を化学蒸
着法により形成する第1の工程と、次いで該中間層上に
酸化物超電導体層を化学蒸着法により蒸着する第2の工
程とを同一チャンバ内で連続的に行う構成とすることに
より解決される。
チャンバと、該チャンバ内を一方向に移動可能に設けら
れた長尺の基板と、該基板と酸化物超電導体層間の成分
移動を阻止する材料からなる中間層を化学蒸着法により
形成する原料ガスを該チャンバ内に供給する第1の供給
口と、中間層上に酸化物超電導体層を化学蒸着法により
蒸着する原料ガスを該チャンバ内に供給する第2の供給
口とが配置され、かつ該第1の供給口に接続された中間
層形成用ガス供給手段と、該第2の供給口に接続された
酸化物超電導層形成用ガス供給手段とを備え、上記第1
の供給口が、チャンバ内の該基板の移動方向前方側に位
置し、上記第2の供給口が後方側に位置するような構成
としたSC体の製造装置を用いるのが望ましい。
上記チャンバ内の第1の供給口と第2の供給口との間
に、該第1の供給口側と、該第2の供給口側との各々の
雰囲気の混合を阻止するための遮蔽手段を設けた構成と
するのが望ましい。
たように中間層を化学蒸着法により形成する第1の工程
と、次いで該中間層上にSC層を化学蒸着法により蒸着
する第2の工程を有し、かつ上記第1工程及び第2工程
が連続的に行われる構成としたので、製造工程は簡略化
される。また、基材上に中間層が形成する工程と、該中
間層上にSC層を成膜する工程が同一チャンバ内でなさ
れるため、従来のように中間層とSC層とを各々別装置
で成膜していた時のように、第1の装置から第2の装置
へ入れ換える際の時間ロスがなくなる。従って、このロ
ス時間中の温度変化、機械的ひずみ、湿気等に起因する
中間層の劣化が防止される。また、成膜速度が速いので
長尺のSC体の作製に好適である。
本発明のSC体の製造方法において好適に用いられるS
C体の製造装置(以下、単に製造装置と略記する。)の
第1の例を示すものであり、図中符号11は製造装置で
ある。この製造装置11は、チャンバ12と、このチャ
ンバ12内に備えられた中間層原料ガス供給口13(以
下、供給口13と略記する。)と、同じくチャンバ12
内に備えられた酸化超電導層原料ガス供給口14(以
下、供給口14と略記する。)と、基板移動装置15
と、遮蔽ガス供給装置16と、真空ポンプ17と、気化
装置18,19と、抵抗加熱式のヒータ20,21とか
ら構成されている。
り中間層合成部A,SC層合成部Bに分けられ、また、
中間層合成部AからSC層合成部Bにテープ状の長尺基
板X(以下、テープXと略記する。)を移送させる基板
移動装置15が配置されている。また、上記中間層合成
部Aの内部には、テープXを下方から加熱するヒータ2
0が設けられ、かつそのヒータ20にテープXを挟んで
対向する位置に、気化装置18からの中間層原料ガスを
中間層合成部A内に供給する供給口13がテープXに向
けて開口している。一方、SC層合成部Bの内部にはテ
ープXを下方から加熱するヒータ21が設けられ、かつ
そのヒータ21にテープXを挟んで対向する位置に、気
化装置19からのSC層(以下、SC層と略記する)原
料ガスをSC層合成部B内に供給する供給口14がテー
プXに向けて開口している。
過可能なように隙間Cが形成され、この隙間Cにより、
仕切部材22は上片22Aと、下片22Bとに分かれ、
さらに上片の上端は遮蔽ガス供給装置16が接続され、
上片下端のガス噴出口23から遮蔽ガスを噴出するよう
になっている。一方、下片22Bの下端は真空ポンプ1
7に接続され、その上端のガス吸入口23から遮蔽ガス
を吸引するようになっている。これにより上記隙間Cに
遮蔽ガスによる隔壁が形成され、中間層合成部AとSC
層合成部Bとの間の雰囲気の混合を防止している。な
お、この遮蔽ガスとしては、アルゴン、ヘリウム等の不
活性ガスを用いるのが望ましい。
られる気化装置18及び気化装置19は、各気化装置に
適用する原料を良好に気化できるものであれば特に限定
されるものではないが、特に気化装置19において、Y
系などの固体の超電導体原料を用いる場合は、例えば、
図2に示すように気化塔30内に固体(粉末)状超電導
体原料を供給する供給装置31と、気化塔30内にキャ
リアガスを供給するキャリアガス供給管32と、気化塔
30内の上記原料を加熱気化するためのヒータ33と、
気化した原料をチャンバ12内に送り込む輸送管とから
構成されている連続気化システムや、図3に示すよう
に、収納容器34内に設けられたホッパ35と、このホ
ッパ35内に収容された固体(粉末)状のSC体原料3
6と、ホッパ35内の原料粉末溜まりの内部にキャリア
ガスを吹き込む噴射管37と、この噴射管37の開口部
に隣接して開口された排気管38と、排気管38からの
原料を気化容器39内に供給する供給管40と、気化容
器39内の原料を加熱気化するヒータ41と、気化容器
39内で気化された原料をチャンバ12内に送り込む輸
送管42とから構成されている連続気化システムを用い
るのが好ましい。
VD反応装置として抵抗加熱方式のヒータを用いている
が、本方式に限定されることなく、例えば誘導加熱、プ
ラズマ、光(レーザ、UVなど)等を用いても良い。
ては、基板移動装置15を真空チャンバ12内に設けた
構成としたが図4に示すように真空チャンバ12の外部
に設けた構成としても良い。
上述したようにチャンバ12を仕切部材22により中間
層合成部A,SC層合成部Bに分け、かつこの仕切部材
22に隙間Cを形成して上片22Aと下片22Bとに分
け、さらにこの上片22Aの上端に遮蔽ガス供給装置1
6を接続して上片22A下端のガス噴出口23から遮蔽
ガスが噴出されるようにし、一方、下片22Bの下端に
真空ポンプ17に接続し、その上端のガス吸入口23か
ら遮蔽ガスを吸引するような構成としたので、これによ
り上記隙間Cに遮蔽ガスによる隔壁が形成され、中間層
合成部AとSC層合成部Bとの間の雰囲気の混合を防止
できる。
本発明のSC体の製造方法の一例を示す。まず、基板移
動装置15にテープXを設置し、遮蔽ガス供給装置16
を操作してガス噴出口23から所定の流速で遮蔽用ガス
を噴出させるとともに、真空ポンプ17を操作して上記
遮蔽用ガスを所定の流速で吸入し、隙間Cに遮蔽用ガス
による隔壁を形成する。
作動させて中間層原料ガスと酸素との混合ガスを供給口
13から噴出させ、同時にヒータ20を作動させ、ヒー
タ20により供給口13からの噴出混合ガスを加熱し、
テープX上に中間層を化学蒸着させる。さらにこの操作
により、テープX上に均一な膜厚の中間層が形成される
ように、基板移動装置15を操作してテープXを中間層
合成部AからSC層合成部Bの方向に移動させる。な
お、この時基板移動装置15を構成するロール15Aか
ら新たなテープXが順次送り出される。
形成されたテープXが移動されると同時に気化装置19
を作動させて、SC層原料ガスと酸素との混合ガスを供
給口14から噴出させるとともに、ヒータ21を作動さ
せ、先の中間層合成部A内でテープX上に形成された中
間層上にSC層を化学蒸着する。さらにこの操作により
中間層上に均一な膜厚のSC層が形成されるように、基
板移動装置15を操作して酸化超電導層を成膜し終えた
テープXは、基板移動装置15を構成するロール15B
に順次巻取られていく。上記一連の操作により図7に示
すようにテープ状の基板1、中間層2、SC膜層3より
なるテープ状のSC体が製造される。
層とさらにその上にSC層を設けたことによって基板と
酸化物超電導体層との間の成分移動が阻止され、優れた
SC特性を有するものとなる。
るのに好適なSC体原料としては、例えばY−Ba−C
u−O系のSC体の作製では、Y-ビス-2,2,6,6-テトラ
メチル-3,5-ヘプタンジオナート(略称:Y(DP
M)3)やBa-ビス-2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタ
ンジオナート(略称:Ba(DPM)2)やCu-ビス-
2,2,6,6-テトラメチル-3,5-ヘプタンジオナート(略
称:Cu(DPM)2)などのSC体原料が好適であ
る。また、中間層としては、MgO、SrTiO3、Y
SZなどが好適である。
は、上述したように中間層形成工程とSC層形成工程と
が連続的に行われる構成としたので、製造工程は簡略化
される。
後、その中間層上にSC層が極めて速やかに成膜される
ため中間層の劣化が防止される。従って、既述したよう
な中間層の効果を十分発揮し得る良好な中間層を形成す
ることができる。
が速いので、長尺のSC体に適用すると極めて有効であ
る。
例について述べる。図5は、本発明の製造装置の第2の
例を示すものであり、図中符号51は製造装置である。
本例の製造装置51は、先の例のチャンバ12より長尺
のチャンバ52を用い、内部に4つの合成部をテープX
の移動方向前方側から中間層合成部A,SC層合成部
B,中間層合成部C,SC層合成部Dの順で形成し、か
つ中間層合成部A,C内には先の例と同様の構成かつ同
様の配置でヒータ20と、供給口13とを設け、SC層
合成部B,D内にも先の例と同様の構成かつ同様の配置
でヒータ21と、供給口14とを設けている。また、各
サブチャンバ間は、先の例と同様の仕切部材22が設け
られ、これら各仕切部材22の隙間Cも先の例と同様の
方法で遮蔽用ガス隔壁により遮蔽されている。また、テ
ープXは、先の例と同様の基板移動装置15により中間
層合成部AからサブチャンバDに順次移送されるように
なっている。
ては、上記構成としたので、先の例の製造装置11と同
様の効果に加えて、図7に示す基板1、中間層2、SC
膜層3よりなる酸化超電導体のSC膜層3上に更に中間
層2a更にその上にSC層3aを積層した、図6に示す
ようなSC体を製造することができる。
下、レイヤー)数は、先の例で示した製造装置11を構
成する2つの合成部、およびこれら2つの合成部に付随
する各装置よりなる1つのユニットを本例のように2
つ、あるいは3つ4つと直列に連設した製造装置を用い
ることにより2つ、あるいは3つ4つというように複数
のレイヤーを有する酸化超電導体を製造することも可能
である。
てSC体を作製する際、合成部間に設けられている各仕
切部材22に形成された隙間Cの遮蔽用ガスによる遮蔽
を弱くすることにより、基板上に形成される各層間の組
成に傾斜のあるSC体材料(傾斜材料)を作製できる。
置を用いてSC体を製造した。まず、基板移動装置15
に厚さ0.3mmのテープ状基板を設置し、ガス噴出口
23から流量300ml/minでアルゴンガスを噴出させる
とともに、ガス吸入口24から上記ガス噴出口23より
噴出されたアルゴンガスおよび供給口13、14から噴
出されたガスを吸入させた。
びTiよりなる中間層原料ガスと酸素との混合ガスを供
給管13から噴出させ、同時にヒータ20のスイッチを
入れて噴出混合ガスを加熱し、テープX上にSrTiO
3よりなる膜厚0.5μmの中間層を化学蒸着させた。さ
らに基板移動装置15を操作してテープXを中間層合成
部AからSC層合成部Bの方向に1cm/minの速度で移送
し、ローラ15Aから同様の速度で順次テープXを送出
させるとともに中間層を形成したテープXはSC層合成
部B内に移送した。同時に気化装置19を作動させ、Y
(DPM)3とBa(DPM)2とCu(DPM)2とか
らなる超電導体原料ガスと酸素との混合ガスを供給口1
4から噴出させ、ヒータ21のスイッチを入れて供給口
14からの噴出混合ガスを加熱し、先の中間層合成部A
内でテープX上に形成した中間層上にSC層を5μmの
膜厚となるように化学蒸着した。さらに、基板移動装置
15を操作してSC層を成膜し終えて作製されたSC体
をローラ15Bに順次巻取った。上記一連の操作により
図7に示すような基板1、中間層2、SC膜層3よりな
るSC体を製造した。なお、得られたSC体の臨界電流
密度は、約80A/cm2であった。
造方法にあっては、中間層を化学蒸着法により形成する
第1の工程と、該中間層上にSC層を化学蒸着法により
蒸着する第2の工程を連続的に行う構成としたので、製
造工程は簡略化される。
該中間層上にSC層を成膜する工程が同一チャンバ内で
なされるため、従来のように中間層とSC層とを各々別
装置で成膜していた時のように、第1の装置から第2の
装置へ入れ換える際の時間ロスがなくなる。従って、こ
のロス時間中の温度変化、機械的ひずみ、湿気等に起因
する中間層の劣化が防止され、これにより既述したよう
な中間層の効果を十分発揮し得る良好な中間層を形成す
ることができる。また、成膜速度が速いので長尺の基材
に適用可能である。
図である。
示す図である。
を示す図である。
る。
図である。
製されるSC体の断面図を示す図である。
製されるSC体の断面図を示す図である。
SC層、11,51…SC体製造装置、12,52…チ
ャンバ、13,14…供給口、18,19…気化装置、
21,24…ヒータ、22…仕切部材
Claims (3)
- 【請求項1】 チャンバ内に設けられた長尺の基板を一
方側に移動させつつ、該チャンバ内に酸化物超電導体を
構成する各元素の化合物を気化させた原料ガスを導入
し、化学蒸着法を用いて該基板上に酸化物超電導体層を
蒸着する酸化物超電導体の製造方法において、基板上
に、該基板と酸化物超電導体層間の成分移動を阻止する
材料からなる中間層を化学蒸着法により形成する第1の
工程と、次いで該中間層上に酸化物超電導体層を化学蒸
着法により蒸着する第2の工程とを同一チャンバ内で連
続的に行うことを特徴とする酸化物超電導体の製造方
法。 - 【請求項2】 チャンバと、該チャンバ内を一方向に移
動可能に設けられた長尺の基板と、該基板と酸化物超電
導体層間の成分移動を阻止する材料からなる中間層を化
学蒸着法により形成する原料ガスを該チャンバ内に供給
する第1の供給口と、中間層上に酸化物超電導体層を化
学蒸着法により蒸着する原料ガスを該チャンバ内に供給
する第2の供給口とが配置され、かつ該第1の供給口に
接続された中間層形成用ガス供給手段と、該第2の供給
口に接続された酸化物超電導層形成用ガス供給手段とを
備え、上記第1の供給口が、チャンバ内の該基板の移動
方向前方側に位置し、上記第2の供給口が後方側に位置
するようにしたことを特徴とする酸化物超電導体の製造
装置。 - 【請求項3】 上記チャンバ内の第1の供給口と第2の
供給口との間に、該第1の供給口側と、該第2の供給口
側との各々の雰囲気の混合を阻止するための遮蔽手段を
設けたことを特徴とする請求項2記載の酸化物超電導体
の製造装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3220994A JP2953826B2 (ja) | 1991-08-06 | 1991-08-06 | 酸化物超電導体の製造方法および製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3220994A JP2953826B2 (ja) | 1991-08-06 | 1991-08-06 | 酸化物超電導体の製造方法および製造装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0543396A JPH0543396A (ja) | 1993-02-23 |
JP2953826B2 true JP2953826B2 (ja) | 1999-09-27 |
Family
ID=16759805
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3220994A Expired - Fee Related JP2953826B2 (ja) | 1991-08-06 | 1991-08-06 | 酸化物超電導体の製造方法および製造装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2953826B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6238393A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-19 | 株式会社日立製作所 | 非常用炉心冷却方法及び装置 |
JPH0684994B2 (ja) * | 1986-02-28 | 1994-10-26 | 株式会社日立製作所 | 非常用炉心冷却装置 |
US20040023810A1 (en) * | 2002-07-26 | 2004-02-05 | Alex Ignatiev | Superconductor material on a tape substrate |
US20040016401A1 (en) * | 2002-07-26 | 2004-01-29 | Metal Oxide Technologies, Inc. | Method and apparatus for forming superconductor material on a tape substrate |
JP2010157440A (ja) * | 2008-12-26 | 2010-07-15 | Toshiba Corp | 酸化物超電導導体、及び酸化物超電導導体の交流損失低減方法 |
JP5435473B2 (ja) * | 2009-12-04 | 2014-03-05 | 古河電気工業株式会社 | 超電導薄膜の成膜方法 |
JP6062275B2 (ja) * | 2013-02-07 | 2017-01-18 | 古河電気工業株式会社 | Cvd装置及び超電導薄膜の成膜方法 |
-
1991
- 1991-08-06 JP JP3220994A patent/JP2953826B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0543396A (ja) | 1993-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3354747B2 (ja) | Cvd反応装置および酸化物超電導導体の製造方法 | |
JP2953826B2 (ja) | 酸化物超電導体の製造方法および製造装置 | |
US20030134749A1 (en) | Oxide superconducting conductor and its production method | |
US20040178175A1 (en) | Atomic layer deposition for high temperature superconductor material synthesis | |
JP3741860B2 (ja) | 酸化物超電導導体の製造装置および製造方法 | |
JP3771143B2 (ja) | 酸化物超電導導体の製造方法 | |
JP3822077B2 (ja) | 酸化物超電導体テープ線材の製造方法と酸化物超電導体テープ線材 | |
US20060216407A1 (en) | Method of and apparatus for manufacturing tape-formed oxide superconductor | |
JP3392299B2 (ja) | Cvd用原料溶液気化装置 | |
JP4034052B2 (ja) | 酸化物超電導導体の製造方法 | |
JP3276277B2 (ja) | Cvd用液体原料供給装置 | |
JP3756322B2 (ja) | 酸化物超電導導体の製造装置および製造方法 | |
JP3771142B2 (ja) | 酸化物超電導導体及びその製造方法 | |
JP3741816B2 (ja) | 酸化物超電導テープ線材の製造方法 | |
JP3187043B2 (ja) | 物理蒸着法による酸化物超電導導体の製造方法 | |
JP3880708B2 (ja) | 酸化物超電導体の製造装置および製造方法 | |
JP3342785B2 (ja) | 酸化物超電導導体の製造装置および製造方法 | |
JP2001319535A (ja) | 酸化物超電導導体の製造装置及び酸化物超電導導体の製造方法 | |
JP2547784B2 (ja) | 超電導薄膜の形成方法 | |
JPH0297421A (ja) | 高温超伝導薄膜の製造方法 | |
Aoki et al. | Characteristics of high J/sub c/Y-Ba-Cu-O tape on metal substrate prepared by chemical vapor deposition | |
JP2564598B2 (ja) | 酸化物超伝導体及びその製造方法 | |
JP3285897B2 (ja) | 酸化物超電導体製造用cvd原料の気化方法および気化装置 | |
JPH01317122A (ja) | 超伝導体とその製造方法 | |
JP3021764B2 (ja) | 酸化物超電導体薄膜 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990622 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070716 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080716 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090716 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100716 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110716 Year of fee payment: 12 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |