JP2819445B2 - Ｉｃカード処理装置 - Google Patents
Ｉｃカード処理装置Info
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- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
- G06K7/0013—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by galvanic contacts, e.g. card connectors for ISO-7816 compliant smart cards or memory cards, e.g. SD card readers
- G06K7/0086—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by galvanic contacts, e.g. card connectors for ISO-7816 compliant smart cards or memory cards, e.g. SD card readers the connector comprising a circuit for steering the operations of the card connector
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、内部にメモリ回路等が
設けられたＩＣカードに対する読み書き処理を行なうた
めのＩＣカード処理装置に関する。
設けられたＩＣカードに対する読み書き処理を行なうた
めのＩＣカード処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣカードは、磁気記録式のカードと異
なり、各種の情報をメモリに電気的に記憶しており、外
表部に設けられた端子を介して接続される外部装置との
間で情報の授受を行なうように形成されている。
なり、各種の情報をメモリに電気的に記憶しており、外
表部に設けられた端子を介して接続される外部装置との
間で情報の授受を行なうように形成されている。
【０００３】図９は、ＩＣカード１の一例を示すもの
で、その内部にはメモリ等を含む集積回路が内蔵され、
カード１の一面１ａ側の前端寄りの所定位置には、内部
の集積回路に接続された複数の外部端子２、２、…、２
が設けられている。
で、その内部にはメモリ等を含む集積回路が内蔵され、
カード１の一面１ａ側の前端寄りの所定位置には、内部
の集積回路に接続された複数の外部端子２、２、…、２
が設けられている。
【０００４】このようなＩＣカードは、外部端子を介し
て電気的に所定の情報交換が行なわれないと、カード所
有者の固有情報や金額情報等を知ることができないの
で、磁気カードに比べて不正利用がされにくく、しかも
外からの磁気によって内容が変化してしまうことがない
という利点があり、磁気カードに代わって利用されてき
ている。
て電気的に所定の情報交換が行なわれないと、カード所
有者の固有情報や金額情報等を知ることができないの
で、磁気カードに比べて不正利用がされにくく、しかも
外からの磁気によって内容が変化してしまうことがない
という利点があり、磁気カードに代わって利用されてき
ている。
【０００５】このＩＣカードに対する情報の読み書きを
行なうためのＩＣカード処理装置は、カード挿入口に挿
入されたＩＣカードを、少なくともその外部端子部分を
含む所定位置まで装置内に受け入れ、装置内でそのカー
ドの外部端子に接触端子を接触させ、その接触端子を介
して情報の授受を行なうように構成されている。
行なうためのＩＣカード処理装置は、カード挿入口に挿
入されたＩＣカードを、少なくともその外部端子部分を
含む所定位置まで装置内に受け入れ、装置内でそのカー
ドの外部端子に接触端子を接触させ、その接触端子を介
して情報の授受を行なうように構成されている。
【０００６】ところが、このようなＩＣカード処理装置
に対し、図１０に示すような不正カード３と図示しない
情報解読装置とによって、不正利用が行なわれる恐れが
ある。即ち、不正カード３は、正規のＩＣカード１と同
一外形で同一位置に外部端子４、４、…、４が設けら
れ、その外部端子の少なくとも一部に信号引出し用の導
線５が設けられている。この不正カード３をＩＣカード
処理装置に挿入してその外部端子４を装置内の接触端子
に接触させるとともに、この導線５の先に情報解読装置
を接続し、ＩＣカード処理装置とカードとの間で行なわ
れる情報交換の形式やデータ等の解読をおこない、この
解読結果に基づいて正規カードと同様の情報の授受を行
なわせるという不正が行なわれる危険がある。
に対し、図１０に示すような不正カード３と図示しない
情報解読装置とによって、不正利用が行なわれる恐れが
ある。即ち、不正カード３は、正規のＩＣカード１と同
一外形で同一位置に外部端子４、４、…、４が設けら
れ、その外部端子の少なくとも一部に信号引出し用の導
線５が設けられている。この不正カード３をＩＣカード
処理装置に挿入してその外部端子４を装置内の接触端子
に接触させるとともに、この導線５の先に情報解読装置
を接続し、ＩＣカード処理装置とカードとの間で行なわ
れる情報交換の形式やデータ等の解読をおこない、この
解読結果に基づいて正規カードと同様の情報の授受を行
なわせるという不正が行なわれる危険がある。
【０００７】このような不正は、ＩＣカードを装置内へ
完全に引き込んでしまうカード処理装置の場合には、そ
の導線の存在を機械的あるいは光学的に確実に検出して
未然に防止することができるが、カードの挿入および排
出操作を手動でおこなうカード処理装置では、ＩＣカー
ドの後部側がカード挿入口から露出しているため、その
露出部分から導線が引き出されていると、その導線の存
在を機械的あるいは光学的に検出することができない。
完全に引き込んでしまうカード処理装置の場合には、そ
の導線の存在を機械的あるいは光学的に確実に検出して
未然に防止することができるが、カードの挿入および排
出操作を手動でおこなうカード処理装置では、ＩＣカー
ドの後部側がカード挿入口から露出しているため、その
露出部分から導線が引き出されていると、その導線の存
在を機械的あるいは光学的に検出することができない。
【０００８】これを解決するための従来技術として、図
１１に示すＩＣカード処理装置１０のように、カード挿
入口１１と接触端子１２、１２、…、１２の間に、電極
板１３、１４を挿入カードに対向するように配置すると
ともに、この電極板１３、１４と接触端子１２との間の
静電容量が所定以上か否かを判定する静電容量判定回路
１５を設け、不正カード３が、その各外部端子４を各接
触端子１２に接触させる位置まで挿入されたときに不正
カード３の導線５と電極板１３、１４との間の静電容量
の増加を検出して、受入れたカードが不正カードである
と判定するものがあった。
１１に示すＩＣカード処理装置１０のように、カード挿
入口１１と接触端子１２、１２、…、１２の間に、電極
板１３、１４を挿入カードに対向するように配置すると
ともに、この電極板１３、１４と接触端子１２との間の
静電容量が所定以上か否かを判定する静電容量判定回路
１５を設け、不正カード３が、その各外部端子４を各接
触端子１２に接触させる位置まで挿入されたときに不正
カード３の導線５と電極板１３、１４との間の静電容量
の増加を検出して、受入れたカードが不正カードである
と判定するものがあった。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに電極板と導線との間の静電容量によって、不正カー
ドの導線を検知する方法では、電極板から導線までの距
離や導線自身の太さによってその容量が著しく変化し、
極めて細い導線が電極板から遠い位置にある場合には、
その間の容量が極めて少なく、この少ない容量変化から
導線の有無を確実に判定することは極めて困難であっ
た。
うに電極板と導線との間の静電容量によって、不正カー
ドの導線を検知する方法では、電極板から導線までの距
離や導線自身の太さによってその容量が著しく変化し、
極めて細い導線が電極板から遠い位置にある場合には、
その間の容量が極めて少なく、この少ない容量変化から
導線の有無を確実に判定することは極めて困難であっ
た。
【００１０】また、電極板のような導電性プレートを厳
しい条件を満足させるべくカード収容部に取り付けねば
ならず、カード収容部の形状に強い制限が加えられ、し
かも、このようなプレートがあることによって、例え
ば、短く切断されたカードや紙片等が挿入された場合
に、そのカードや紙片等をカード収容部から排出させる
ことができず、カード詰まりを起こすという問題もあっ
た。
しい条件を満足させるべくカード収容部に取り付けねば
ならず、カード収容部の形状に強い制限が加えられ、し
かも、このようなプレートがあることによって、例え
ば、短く切断されたカードや紙片等が挿入された場合
に、そのカードや紙片等をカード収容部から排出させる
ことができず、カード詰まりを起こすという問題もあっ
た。
【００１１】本発明は、これらの課題を解決し、太さや
位置に影響されず、またＩＣカード処理装置の形状に制
約を加えることなく、不正な導線の存在を確実に検出で
き、しかも、カード収容部の下面に十分な開口部が設け
られるようにしたカード処理装置を提供することを目的
としている。
位置に影響されず、またＩＣカード処理装置の形状に制
約を加えることなく、不正な導線の存在を確実に検出で
き、しかも、カード収容部の下面に十分な開口部が設け
られるようにしたカード処理装置を提供することを目的
としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明のＩＣカード処理装置は、電気的にシールド
された筐体と、前記筐体内の所定位置に設けられ、該筐
体内に電波を発射する高周波信号源と、前記筐体の一面
に設けられたカード挿入口と、前記高周波信号源から離
間した位置にあって、前記カード挿入口から挿入される
ＩＣカードを所定位置まで受け入れるカード収容部と、
ＩＣカードを前記カード収容部の前記所定位置に受け入
れたことを検知するセンサと、前記カード収容部に設け
られ、該カード収容部の前記所定位置に受け入れられた
ＩＣカードの外部端子に接触する接触端子と、前記接触
端子およびＩＣカードの外部端子を通じてＩＣカードに
対する読み書き処理を行なう処理回路と、前記接触端子
の近傍に配置され、前記センサがＩＣカードを検知した
ときに前記接触端子と前記処理回路との間の導通を切断
するスイッチ素子と、前記高周波信号源が発射する電波
を前記接触端子を経由して受信可能に、入力側が前記接
触端子に最短距離で接続された受信回路と、前記スイッ
チ素子が開いているときの前記受信回路の出力に基づい
て、前記カード収容部に受け入れられたＩＣカードの外
部端子に不正な信号引出し用の導線が接続されているか
否かを判定する判定回路とを具備している。
に、本発明のＩＣカード処理装置は、電気的にシールド
された筐体と、前記筐体内の所定位置に設けられ、該筐
体内に電波を発射する高周波信号源と、前記筐体の一面
に設けられたカード挿入口と、前記高周波信号源から離
間した位置にあって、前記カード挿入口から挿入される
ＩＣカードを所定位置まで受け入れるカード収容部と、
ＩＣカードを前記カード収容部の前記所定位置に受け入
れたことを検知するセンサと、前記カード収容部に設け
られ、該カード収容部の前記所定位置に受け入れられた
ＩＣカードの外部端子に接触する接触端子と、前記接触
端子およびＩＣカードの外部端子を通じてＩＣカードに
対する読み書き処理を行なう処理回路と、前記接触端子
の近傍に配置され、前記センサがＩＣカードを検知した
ときに前記接触端子と前記処理回路との間の導通を切断
するスイッチ素子と、前記高周波信号源が発射する電波
を前記接触端子を経由して受信可能に、入力側が前記接
触端子に最短距離で接続された受信回路と、前記スイッ
チ素子が開いているときの前記受信回路の出力に基づい
て、前記カード収容部に受け入れられたＩＣカードの外
部端子に不正な信号引出し用の導線が接続されているか
否かを判定する判定回路とを具備している。
【００１３】
【作用】このように構成したしたため、本発明のＩＣカ
ード処理装置では、筐体の一面に設けられたカード挿入
口から挿入されたＩＣカードがカード収容部の所定位置
まで受け入れられてその外部端子が接触端子に接触する
と、スイッチ素子によって接触端子と処理回路との間の
導通が切断され、カード収容部から離間した位置にある
高周波信号源から筐体内に発射された電波が、入力端子
を接触端子に最短距離で接続されている受信回路によっ
て接触端子を経由して受信され、その出力の大きさに基
づいてＩＣカードの外部端子に不正な信号引出し用の導
線が接続されているか否かが判定される。
ード処理装置では、筐体の一面に設けられたカード挿入
口から挿入されたＩＣカードがカード収容部の所定位置
まで受け入れられてその外部端子が接触端子に接触する
と、スイッチ素子によって接触端子と処理回路との間の
導通が切断され、カード収容部から離間した位置にある
高周波信号源から筐体内に発射された電波が、入力端子
を接触端子に最短距離で接続されている受信回路によっ
て接触端子を経由して受信され、その出力の大きさに基
づいてＩＣカードの外部端子に不正な信号引出し用の導
線が接続されているか否かが判定される。
【００１４】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。図１、図２は、金属製で電磁波に対して高いシ
ールド性を有する公衆電話機の筐体１８内に設けられ、
度数情報を記憶しているプリペイド式のＩＣメモリカー
ドを処理するためのＩＣカード処理装置の機構部２１
と、この機構部２１とともにＩＣカード処理装置を構成
する処理回路５０及び判定回路４６を含む通信制御部５
１を示している。
明する。図１、図２は、金属製で電磁波に対して高いシ
ールド性を有する公衆電話機の筐体１８内に設けられ、
度数情報を記憶しているプリペイド式のＩＣメモリカー
ドを処理するためのＩＣカード処理装置の機構部２１
と、この機構部２１とともにＩＣカード処理装置を構成
する処理回路５０及び判定回路４６を含む通信制御部５
１を示している。
【００１５】ここで通信制御部５１は、機構部２１から
離れた所定位置に固定されており、挿入されるＩＣカー
ドに対する読み書き処理の他に、通常の通話制御や筐体
１８の一面に設けられたモジュラーコネクタ５３を介し
て接続されるパーソナルコンピュータやワードプロセッ
サ等によるデータ通信の制御を行なう。この通信制御部
５１内には、処理回路５０のためのクロック信号源等を
含む各制御のための複数のクロック信号源（高周波信号
源）ＣＬ1 、ＣＬ2 、…が設けられており、これらの信
号は、微弱ながら筐体１８内に放射されている。
離れた所定位置に固定されており、挿入されるＩＣカー
ドに対する読み書き処理の他に、通常の通話制御や筐体
１８の一面に設けられたモジュラーコネクタ５３を介し
て接続されるパーソナルコンピュータやワードプロセッ
サ等によるデータ通信の制御を行なう。この通信制御部
５１内には、処理回路５０のためのクロック信号源等を
含む各制御のための複数のクロック信号源（高周波信号
源）ＣＬ1 、ＣＬ2 、…が設けられており、これらの信
号は、微弱ながら筐体１８内に放射されている。
【００１６】機構部２１は、筐体１８の外側からＩＣカ
ードを内部へ案内するための樹脂製（公衆電話機に対す
るいたずらに対処するために金属製の場合もある）の案
内部材２２と、この案内部材２２の後部に固定され、案
内部材２２で案内されたカードを受け入れる樹脂製のハ
ウジング３０とで一体に形成されている。
ードを内部へ案内するための樹脂製（公衆電話機に対す
るいたずらに対処するために金属製の場合もある）の案
内部材２２と、この案内部材２２の後部に固定され、案
内部材２２で案内されたカードを受け入れる樹脂製のハ
ウジング３０とで一体に形成されている。
【００１７】案内部材２２は、カード挿入口２３が設け
られた中央部２２ａと、その両端から互いに対向するよ
うに前方へ突出する突出部２２ｂ、２２ｃとからなり、
上方からみてほぼコの字状に形成されている。２つの突
出部２２ｂ、２２ｃの対向面の間隔はＩＣカードの幅よ
りやや狭く形成されており、各突出部の対向面側には、
カード挿入口２３と連続し、前方から挿入されるＩＣカ
ードをカード挿入口２３方向へ水平に案内する案内溝２
４、２４が形成されている。案内部材２２の両側には、
フランジ２５、２５が設けられており、このフランジ２
５、２５が筐体１８の内面側にネジ止めされて機構部２
１全体が筐体に支持されている。
られた中央部２２ａと、その両端から互いに対向するよ
うに前方へ突出する突出部２２ｂ、２２ｃとからなり、
上方からみてほぼコの字状に形成されている。２つの突
出部２２ｂ、２２ｃの対向面の間隔はＩＣカードの幅よ
りやや狭く形成されており、各突出部の対向面側には、
カード挿入口２３と連続し、前方から挿入されるＩＣカ
ードをカード挿入口２３方向へ水平に案内する案内溝２
４、２４が形成されている。案内部材２２の両側には、
フランジ２５、２５が設けられており、このフランジ２
５、２５が筐体１８の内面側にネジ止めされて機構部２
１全体が筐体に支持されている。
【００１８】ハウジング３０は、下面が開口されたほぼ
矩形状に形成され、その中段部には、このハウジング３
０内を上下に仕切るように設けられ、その下面側にカー
ド収容部３０ａを形成する中板３１が設けられている。
矩形状に形成され、その中段部には、このハウジング３
０内を上下に仕切るように設けられ、その下面側にカー
ド収容部３０ａを形成する中板３１が設けられている。
【００１９】また、この中板３１のほぼ中央部には上下
に貫通する穴３３が設けられ、この穴３３には、端子板
３５が固定されている。端子板３５の下面には、ＩＣカ
ードの外部端子に接触するためのバネ性を有する複数の
接触端子３６が、中板３１の下面３１ａより下方に突出
するように取り付けられている。
に貫通する穴３３が設けられ、この穴３３には、端子板
３５が固定されている。端子板３５の下面には、ＩＣカ
ードの外部端子に接触するためのバネ性を有する複数の
接触端子３６が、中板３１の下面３１ａより下方に突出
するように取り付けられている。
【００２０】また、このハウジング３０の後部側にはＩ
Ｃカードが前記端子接触位置まで挿入されたことを検知
するセンサ３８（例えばマイクロスイッチ等の機械式セ
ンサや発光素子と受光素子からなる光学式センサ）が設
けられている。カード収容部３０ａの下面側は、短く切
断された不良カードやゴミ等を下方へ落下させるために
大きく開口されている。
Ｃカードが前記端子接触位置まで挿入されたことを検知
するセンサ３８（例えばマイクロスイッチ等の機械式セ
ンサや発光素子と受光素子からなる光学式センサ）が設
けられている。カード収容部３０ａの下面側は、短く切
断された不良カードやゴミ等を下方へ落下させるために
大きく開口されている。
【００２１】中板３１の上面３１ｂには、回路基板４０
が取り付けられている。回路基板４０には、端子板３５
の各接触端子３６の一端が接続されている。図３は、こ
の回路基板４０上に形成されている回路と、機構部とと
もにこのカード処理装置を構成する処理回路５０を示し
ている。
が取り付けられている。回路基板４０には、端子板３５
の各接触端子３６の一端が接続されている。図３は、こ
の回路基板４０上に形成されている回路と、機構部とと
もにこのカード処理装置を構成する処理回路５０を示し
ている。
【００２２】回路基板４０上の複数の接触端子３６は、
リレー型のスイッチ素子４４および基板端子４３ａを介
して処理回路５０に接続されている。接触端子３６のう
ちの一つ接触端子３６′には、この接触端子３６′に現
れる信号の中から、前記した通信制御部５１の一つのク
ロック信号源（例えばＣＬ1 ）の周波数Ｆ（例えば２．
５ＭＨｚ）と同一周波数の信号のみを選択的に受信して
検波するための受信回路４５が最短距離で接続されてい
る。
リレー型のスイッチ素子４４および基板端子４３ａを介
して処理回路５０に接続されている。接触端子３６のう
ちの一つ接触端子３６′には、この接触端子３６′に現
れる信号の中から、前記した通信制御部５１の一つのク
ロック信号源（例えばＣＬ1 ）の周波数Ｆ（例えば２．
５ＭＨｚ）と同一周波数の信号のみを選択的に受信して
検波するための受信回路４５が最短距離で接続されてい
る。
【００２３】この受信回路４５の出力には、受信回路４
５の出力に基づいて挿入カードに不正な導線があるか否
かを判定するための判定回路４６が、基板端子４３ｂを
介して接続されている。この判定出力は、処理回路５０
へ送出され、センサ３８の出力は、基板端子４３ｃを介
して処理回路５０へ送出される。また、回路基板の回路
は、基板端子４３ｄを介して処理回路５０側から電源供
給を受ける。
５の出力に基づいて挿入カードに不正な導線があるか否
かを判定するための判定回路４６が、基板端子４３ｂを
介して接続されている。この判定出力は、処理回路５０
へ送出され、センサ３８の出力は、基板端子４３ｃを介
して処理回路５０へ送出される。また、回路基板の回路
は、基板端子４３ｄを介して処理回路５０側から電源供
給を受ける。
【００２４】図４は、これらスイッチ素子４４、受信回
路４５、判定回路４６の構成をより具体的に示したもの
であり、スイッチ素子４４は、検知動作時には、処理回
路５０側からの高周波信号が受信回路４５に加わらない
ように開状態となる。ここでは、全ての接触端子３６と
処理回路５０との間のスイッチ素子４４を開状態にして
いるので、処理回路５０側からの高周波信号が、ＩＣカ
ード内の回路を通して接触端子３６′に出力されること
も防ぐことができる。
路４５、判定回路４６の構成をより具体的に示したもの
であり、スイッチ素子４４は、検知動作時には、処理回
路５０側からの高周波信号が受信回路４５に加わらない
ように開状態となる。ここでは、全ての接触端子３６と
処理回路５０との間のスイッチ素子４４を開状態にして
いるので、処理回路５０側からの高周波信号が、ＩＣカ
ード内の回路を通して接触端子３６′に出力されること
も防ぐことができる。
【００２５】受信回路４５は、接触端子３６′に現れる
信号を高周波増幅器４５ａで増幅した信号と局部発振器
４５ｂからの局発信号とをミキサ４５ｃに入力して、そ
の混合出力のうち、中間周波フィルタ４５ｄを通過した
信号を中間周波増幅器４５ｅで増幅して検波器４５ｆで
検波するように構成されている。
信号を高周波増幅器４５ａで増幅した信号と局部発振器
４５ｂからの局発信号とをミキサ４５ｃに入力して、そ
の混合出力のうち、中間周波フィルタ４５ｄを通過した
信号を中間周波増幅器４５ｅで増幅して検波器４５ｆで
検波するように構成されている。
【００２６】なお、受信回路４５の局発信号の周波数
は、通信制御部５１のクロック信号源ＣＬ1 から放射さ
れる電波のみを検波するために、クロック信号源ＣＬ1
の周波数Ｆより中間周波フィルタ４５ｂの通過中心周波
数分だけ高い（または低い）周波数に設定されている。
は、通信制御部５１のクロック信号源ＣＬ1 から放射さ
れる電波のみを検波するために、クロック信号源ＣＬ1
の周波数Ｆより中間周波フィルタ４５ｂの通過中心周波
数分だけ高い（または低い）周波数に設定されている。
【００２７】また、判定回路４６は、検波器４５ｆから
の検波出力と基準電圧Ｖｒとをコンパレータ４６ａで比
較し、検波出力がＶｒより大きいときＨ（ハイ）レベル
を出力し、検波出力がＶｒ以下のときＬ（ロー）レベル
を出力する。この基準電圧Ｖｒは、正規カードが挿入さ
れたときの受信回路４５の出力より所定の余裕値分大き
く、しかも、接触端子３６′に所定長（カード長程度）
の導線が接続されたときの受信回路４５の出力より小さ
くなるように予め設定されている。
の検波出力と基準電圧Ｖｒとをコンパレータ４６ａで比
較し、検波出力がＶｒより大きいときＨ（ハイ）レベル
を出力し、検波出力がＶｒ以下のときＬ（ロー）レベル
を出力する。この基準電圧Ｖｒは、正規カードが挿入さ
れたときの受信回路４５の出力より所定の余裕値分大き
く、しかも、接触端子３６′に所定長（カード長程度）
の導線が接続されたときの受信回路４５の出力より小さ
くなるように予め設定されている。
【００２８】処理回路５０は、センサ３８からの信号お
よび判別回路４６からの信号に基づいて、回路基板４０
への電源供給とスイッチ素子４４および各接触端子３６
を介してＩＣカードに対する情報の読み書き処理を行な
う。
よび判別回路４６からの信号に基づいて、回路基板４０
への電源供給とスイッチ素子４４および各接触端子３６
を介してＩＣカードに対する情報の読み書き処理を行な
う。
【００２９】図５は、この処理回路５０の処理手順を示
すフローチャートである。以下、このフローチャートに
基づいてこのカード処理装置の動作を説明する。なお、
ここで、通信制御部５１に対する通電が予めなされてお
り、周波数Ｆのクロック信号源ＣＬ1 から筐体１８内に
微弱ながら電波が放射されているものとする。
すフローチャートである。以下、このフローチャートに
基づいてこのカード処理装置の動作を説明する。なお、
ここで、通信制御部５１に対する通電が予めなされてお
り、周波数Ｆのクロック信号源ＣＬ1 から筐体１８内に
微弱ながら電波が放射されているものとする。
【００３０】正規のＩＣカード１が案内部材２２の案内
溝２４にガイドされてカード挿入口２３から挿入される
と、このカードはカード収容部３０ａに進入し、所定位
置に達したときに、図６に示すように、カードの各外部
端子２が各接触端子３６に接触し、センサ３８がオンす
る。
溝２４にガイドされてカード挿入口２３から挿入される
と、このカードはカード収容部３０ａに進入し、所定位
置に達したときに、図６に示すように、カードの各外部
端子２が各接触端子３６に接触し、センサ３８がオンす
る。
【００３１】処理回路５０は、センサ３８からの信号に
よってこのカード挿入を検知し、回路基板４０上の各回
路へ電源を供給させ、各スイッチ素子４４を開状態にす
る（Ｓ１、２）。
よってこのカード挿入を検知し、回路基板４０上の各回
路へ電源を供給させ、各スイッチ素子４４を開状態にす
る（Ｓ１、２）。
【００３２】このとき、筐体１８内に放射されている電
波は、カード収容部３０ａ内にあるＩＣカードの集積回
路や外部端子２等に誘起されるが、これら回路の線路長
は極めて短く、また、処理回路５０に続く線路は各スイ
ッチ素子４４によって切断されているので、接触端子３
６′に現れる信号レベルは非常に小さく、受信回路４５
の検波出力も基準電圧Ｖｒ以下となり、判別回路４６の
出力はＬレベルとなる。
波は、カード収容部３０ａ内にあるＩＣカードの集積回
路や外部端子２等に誘起されるが、これら回路の線路長
は極めて短く、また、処理回路５０に続く線路は各スイ
ッチ素子４４によって切断されているので、接触端子３
６′に現れる信号レベルは非常に小さく、受信回路４５
の検波出力も基準電圧Ｖｒ以下となり、判別回路４６の
出力はＬレベルとなる。
【００３３】処理回路５０は、判定回路４６のＬレベル
出力を受けると、挿入カードが正規カードであるものと
して、回路基板４０への電源供給を停止し、各スイッチ
素子４４を閉状態とした後、この挿入カードに対する情
報の読み書き処理（残度数から利用度数を減じる処理）
を行なう（Ｓ３〜５）。そして読み書き処理が終了した
後には、センサ３８の信号を監視し、カードが引き出さ
れたことを確認して、このカードに対する処理を終了す
る（Ｓ６）。
出力を受けると、挿入カードが正規カードであるものと
して、回路基板４０への電源供給を停止し、各スイッチ
素子４４を閉状態とした後、この挿入カードに対する情
報の読み書き処理（残度数から利用度数を減じる処理）
を行なう（Ｓ３〜５）。そして読み書き処理が終了した
後には、センサ３８の信号を監視し、カードが引き出さ
れたことを確認して、このカードに対する処理を終了す
る（Ｓ６）。
【００３４】また、図７に示しているように、前述した
不正カード３が挿入された場合には、その不正カード３
の導線５の一つが外部端子４を介して接触端子３６′に
接続される。このため、通信制御部５１の複数のクロッ
ク信号源ＣＬ1 、ＣＬ2 、…から発射された電波を強力
に受ける受信アンテナがこの接触端子３６′に接続され
た状態となり、この接触端子３６′には複数のクロック
信号源から放射された高周波信号が現れる。この信号レ
ベルは、導線５が受信アンテナとして作用しているの
で、導線５の位置や太さの影響が少なく非常に大きなレ
ベルとなる。
不正カード３が挿入された場合には、その不正カード３
の導線５の一つが外部端子４を介して接触端子３６′に
接続される。このため、通信制御部５１の複数のクロッ
ク信号源ＣＬ1 、ＣＬ2 、…から発射された電波を強力
に受ける受信アンテナがこの接触端子３６′に接続され
た状態となり、この接触端子３６′には複数のクロック
信号源から放射された高周波信号が現れる。この信号レ
ベルは、導線５が受信アンテナとして作用しているの
で、導線５の位置や太さの影響が少なく非常に大きなレ
ベルとなる。
【００３５】したがって、受信回路４５からは、所定周
波数Ｆのクロック信号源ＣＬ1 から放射された電波の検
波出力のみが判定回路４６へ送出され、判定回路４６の
出力はＨレベルとなる。
波数Ｆのクロック信号源ＣＬ1 から放射された電波の検
波出力のみが判定回路４６へ送出され、判定回路４６の
出力はＨレベルとなる。
【００３６】判定回路４６からＨレベルの信号を受けた
処理回路５０は、挿入カードが不正カードであるとし
て、回路基板４０への電源供給を停止した後、挿入され
たカードが異常で、カード引出しを指示する信号を図示
しない表示部へ送出し、カードの引出しをセンサ３８に
よって確認してこの不正カードに対する処理を終了する
（Ｓ７〜９）。
処理回路５０は、挿入カードが不正カードであるとし
て、回路基板４０への電源供給を停止した後、挿入され
たカードが異常で、カード引出しを指示する信号を図示
しない表示部へ送出し、カードの引出しをセンサ３８に
よって確認してこの不正カードに対する処理を終了する
（Ｓ７〜９）。
【００３７】なお、不正を行なおうとする者が、この導
線にシールドを施してもそのシールド導体は、受信回路
４５のグランド線には届かず、かえって受信出力を大き
くし、前記と同様の判定結果が得られる。
線にシールドを施してもそのシールド導体は、受信回路
４５のグランド線には届かず、かえって受信出力を大き
くし、前記と同様の判定結果が得られる。
【００３８】このようにして、カード挿入口２３に挿入
されるＩＣカードが不正な場合には、そのカードとの情
報の授受がなされないので、その情報の手順等を知られ
ることがなくなり、機器の不正利用が防止される。
されるＩＣカードが不正な場合には、そのカードとの情
報の授受がなされないので、その情報の手順等を知られ
ることがなくなり、機器の不正利用が防止される。
【００３９】なお、正規カードが挿入されたときに、筐
体１８の外部に周波数Ｆの強い電波が到来した場合で
も、筐体１８は電磁的にシールドされているため、その
外来電波は、筐体内部にほとんど侵入することがなく、
判定動作に影響を与えることがない。
体１８の外部に周波数Ｆの強い電波が到来した場合で
も、筐体１８は電磁的にシールドされているため、その
外来電波は、筐体内部にほとんど侵入することがなく、
判定動作に影響を与えることがない。
【００４０】また、不正カードが挿入されたときに、外
来電波が到来した場合には、その電波は、筐体１８の外
部に突出している不正カードの導線に誘起されるので、
接触端子３６′に現れる信号は、クロック信号源ＣＬ1
から放射される信号と外来信号とが重畳した信号とな
る。ここで、外来信号の周波数がＦに近いまたは等しい
場合には、クロック信号源ＣＬ1 からの信号とともに受
信回路４５で検波され、クロック信号源ＣＬ1 の信号の
みを受信しているときの検波出力より大きな検波出力が
得られる。したがって、不正カードを正規カードと誤っ
て判定することはない。
来電波が到来した場合には、その電波は、筐体１８の外
部に突出している不正カードの導線に誘起されるので、
接触端子３６′に現れる信号は、クロック信号源ＣＬ1
から放射される信号と外来信号とが重畳した信号とな
る。ここで、外来信号の周波数がＦに近いまたは等しい
場合には、クロック信号源ＣＬ1 からの信号とともに受
信回路４５で検波され、クロック信号源ＣＬ1 の信号の
みを受信しているときの検波出力より大きな検波出力が
得られる。したがって、不正カードを正規カードと誤っ
て判定することはない。
【００４１】また、この実施例のように、下面が大きく
開口したカード収容部を有するカード処理装置では、例
えば、半分の長さに切断された不正カードが挿入されて
も、そのカードが開口部から落下してしまうので、カー
ド詰まりによる使用不能状態の発生を招くことがない。
また、この開口部によって、クロック信号原からの放射
された電波のうち、カードへ直接放射される成分が多く
なり、不正カードの検出に有利である。
開口したカード収容部を有するカード処理装置では、例
えば、半分の長さに切断された不正カードが挿入されて
も、そのカードが開口部から落下してしまうので、カー
ド詰まりによる使用不能状態の発生を招くことがない。
また、この開口部によって、クロック信号原からの放射
された電波のうち、カードへ直接放射される成分が多く
なり、不正カードの検出に有利である。
【００４２】
【他の実施例】前記実施例では、挿入カードが正規なも
のか不正なものかを判定する間だけ、導線検知用の全回
路に電源を供給するように制御していたが、受信回路４
５あるいは判定回路４６のうちの何れか一つの動作を制
御するようにしてもよく、また、これらの回路を常時作
動させておき、ＩＣカードとの情報交換後に、判定回路
４６の出力を確認するようにしてもよい。
のか不正なものかを判定する間だけ、導線検知用の全回
路に電源を供給するように制御していたが、受信回路４
５あるいは判定回路４６のうちの何れか一つの動作を制
御するようにしてもよく、また、これらの回路を常時作
動させておき、ＩＣカードとの情報交換後に、判定回路
４６の出力を確認するようにしてもよい。
【００４３】また、前記実施例では、カード処理装置の
機構部から離間した位置にある通信制御部５１内に設け
られたクロック信号源から漏洩放射される微弱な電波を
受信するようにしていたが、例えば図８に示すように、
インバータ６０ａの入出力を水晶発振子６０ｂによって
接続し、その両端にコンデンサ６０ｃ、６０ｄを接続し
て形成されるクロック信号源６０に、予めアンテナ線６
１を接続（あるいはパターン形成）しておけば、このク
ロック信号源６０から周波数Ｆの電波が強力に放射され
るため、受信回路４５への入力信号のレベルが大きくな
り、Ｓ／Ｎのよい状態でカードの導線の有無を判定する
ことができる。
機構部から離間した位置にある通信制御部５１内に設け
られたクロック信号源から漏洩放射される微弱な電波を
受信するようにしていたが、例えば図８に示すように、
インバータ６０ａの入出力を水晶発振子６０ｂによって
接続し、その両端にコンデンサ６０ｃ、６０ｄを接続し
て形成されるクロック信号源６０に、予めアンテナ線６
１を接続（あるいはパターン形成）しておけば、このク
ロック信号源６０から周波数Ｆの電波が強力に放射され
るため、受信回路４５への入力信号のレベルが大きくな
り、Ｓ／Ｎのよい状態でカードの導線の有無を判定する
ことができる。
【００４４】また、前記実施例では、微弱な電波を感度
よく受信するために、スーパヘテロダイン式の受信回路
を用いていたが、高周波信号源から放射される電波が強
い場合には、単にフィルタと検波器のみ、あるいはこれ
に増幅器を加えて受信回路を構成することもできる。こ
の場合、増幅器は、フィルタの前段、フィルタと検波器
との間のいずれであってもよい。また、筐体内に一つの
高周波信号源しかない機器の場合には、フィルタを省く
こともできる。
よく受信するために、スーパヘテロダイン式の受信回路
を用いていたが、高周波信号源から放射される電波が強
い場合には、単にフィルタと検波器のみ、あるいはこれ
に増幅器を加えて受信回路を構成することもできる。こ
の場合、増幅器は、フィルタの前段、フィルタと検波器
との間のいずれであってもよい。また、筐体内に一つの
高周波信号源しかない機器の場合には、フィルタを省く
こともできる。
【００４５】また、前記実施例では、判定回路を機構部
から離れた通信制御部に設けていたが、判定部を機構部
側の回路基板上に設けてもよい。
から離れた通信制御部に設けていたが、判定部を機構部
側の回路基板上に設けてもよい。
【００４６】また、前記実施例では、リレー型のスイッ
チ素子を用いていたが、リレーの代わりに、半導体スイ
ッチ（例えば、アナログスイッチ、ゲート素子、フォト
カプラ等）や、高周波信号の信号分離が可能なフィルタ
回路を用いてもよい。
チ素子を用いていたが、リレーの代わりに、半導体スイ
ッチ（例えば、アナログスイッチ、ゲート素子、フォト
カプラ等）や、高周波信号の信号分離が可能なフィルタ
回路を用いてもよい。
【００４７】また、前記実施例では、受信回路の出力を
不正カードの導線検出のためにだけ用いていたが、この
受信出力に基づいて、検出回路全体が正常に動作してい
るか否かを判定するようにしてもよい。
不正カードの導線検出のためにだけ用いていたが、この
受信出力に基づいて、検出回路全体が正常に動作してい
るか否かを判定するようにしてもよい。
【００４８】また、前記実施例では、手挿入式のＩＣカ
ード処理装置について説明したが、カード挿入口に挿入
されたＩＣカードをカード収容部内に完全に引き込んで
しまうカード処理装置についても、本発明を同様に適用
することができる。
ード処理装置について説明したが、カード挿入口に挿入
されたＩＣカードをカード収容部内に完全に引き込んで
しまうカード処理装置についても、本発明を同様に適用
することができる。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のＩＣカー
ド処理装置は、カード収容部から離れた位置にある電子
回路の高周波信号源から放射される電波を、カード収容
部に受け入れられた不正カードの導線に誘起させ、この
導線に接続されたカードの外部端子に接触している接触
端子に現れるこの信号を受信し、その受信出力に基づい
て、挿入カードが不正カードであると判定するようにし
ている。
ド処理装置は、カード収容部から離れた位置にある電子
回路の高周波信号源から放射される電波を、カード収容
部に受け入れられた不正カードの導線に誘起させ、この
導線に接続されたカードの外部端子に接触している接触
端子に現れるこの信号を受信し、その受信出力に基づい
て、挿入カードが不正カードであると判定するようにし
ている。
【００５０】このように本発明では、不正カードの導線
を筐体内に放射された電波を受けるための受信アンテナ
にしているので、その導線の太さや位置による受信出力
への影響が少なくて済み、不正カードの検知を確実に行
なうことができる。
を筐体内に放射された電波を受けるための受信アンテナ
にしているので、その導線の太さや位置による受信出力
への影響が少なくて済み、不正カードの検知を確実に行
なうことができる。
【００５１】また、従来のように不正カードの導線に静
電結合するための導電プレート等をカード挿入口とカー
ド収容部の接触端子との間に設ける必要がないので、カ
ード収容部の形状に対する制約がなくなり、たとえば、
短く切断されたカードや紙片等の異物の挿入によるカー
ド詰まりを防止するために、カード収容部の下面側を異
物が排出できるように大きく開口させることもできる。
電結合するための導電プレート等をカード挿入口とカー
ド収容部の接触端子との間に設ける必要がないので、カ
ード収容部の形状に対する制約がなくなり、たとえば、
短く切断されたカードや紙片等の異物の挿入によるカー
ド詰まりを防止するために、カード収容部の下面側を異
物が排出できるように大きく開口させることもできる。
【図１】一実施例のＩＣカード処理装置の概略側面図
【図２】一実施例のＩＣカード処理装置の概略平面図
【図３】一実施例の回路構成を示す図
【図４】一実施例の回路構成の要部の具体的な回路ブロ
ック図
ック図
【図５】処理回路の処理手順を示すフローチャート
【図６】一実施例の動作説明図
【図７】一実施例の動作説明図
【図８】本発明の他の実施例を説明するための回路図
【図９】ＩＣカードの一例を示す図
【図１０】不正カードを示す図
【図１１】従来装置の概略図
１ ＩＣカード ２ 外部端子 ３ 不正カード ４ 外部端子 ５ 導線 ２１ 機構部 ２２ 案内部材 ２３ カード挿入口 ３０ ハウジング ３０ａ カード収容部 ３６ 接触端子 ３８ センサ ４０ 回路基板 ４４ スイッチ素子 ４５ 受信回路 ４６ 判定回路 ５０ 処理回路 ５１ 通信制御部 ＣＬ クロック信号源
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G06K 17/00 G07F 7/12
Claims (1)
- 【請求項１】電気的にシールドされた筐体と、 前記筐体内の所定位置に設けられ、該筐体内に電波を発
射する高周波信号源と、 前記筐体の一面に設けられたカード挿入口と、 前記高周波信号源から離間した位置にあって、前記カー
ド挿入口から挿入されるＩＣカードを所定位置まで受け
入れるカード収容部と、ＩＣカードを前記カード収容部の前記所定位置に受け入
れたことを検知するセンサと、 前記カード収容部に設けられ、該カード収容部の前記所
定位置に受け入れられたＩＣカードの外部端子に接触す
る接触端子と、前記接触端子およびＩＣカードの外部端子を通じて ＩＣ
カードに対する読み書き処理を行なう処理回路と、前記接触端子の近傍に配置され、前記センサがＩＣカー
ドを検知したときに前記接触端子と前記処理回路との間
の導通を切断するスイッチ素子と、 前記高周波信号源が発射する電波を前記接触端子を経由
して受信可能に、入力側が前記接触端子に最短距離で接
続された受信回路と、前記スイッチ素子が開いているときの 前記受信回路の出
力に基づいて、前記カード収容部に受け入れられたＩＣ
カードの外部端子に不正な信号引出し用の導線が接続さ
れているか否かを判定する判定回路とを具備したＩＣカ
ード処理装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5350388A JP2819445B2 (ja) | 1993-12-31 | 1993-12-31 | Ｉｃカード処理装置 |
| US08/310,653 US5478996A (en) | 1993-12-31 | 1994-09-22 | IC card processing apparatus having function for detecting and protecting dishonest utilization using switch means |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5350388A JP2819445B2 (ja) | 1993-12-31 | 1993-12-31 | Ｉｃカード処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07200757A JPH07200757A (ja) | 1995-08-04 |
| JP2819445B2 true JP2819445B2 (ja) | 1998-10-30 |
Family
ID=18410154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5350388A Expired - Fee Related JP2819445B2 (ja) | 1993-12-31 | 1993-12-31 | Ｉｃカード処理装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5478996A (ja) |
| JP (1) | JP2819445B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5686714A (en) * | 1994-09-07 | 1997-11-11 | Hitachi, Ltd. | Dust-proof portable IC card reader |
| KR19980702413A (ko) * | 1996-01-11 | 1998-07-15 | 사와무라 시코우 | 표시장치 |
| KR20000022400A (ko) * | 1996-07-11 | 2000-04-25 | 스마트무브 리미티드 | 스마트카드 억셉터장치 |
| FR2767592B1 (fr) * | 1997-08-20 | 1999-10-01 | Schlumberger Ind Sa | Procede de detection de fraude des cartes a memoire electronique utilisees en telephonie |
| JP2001188882A (ja) * | 1999-12-28 | 2001-07-10 | Sankyo Seiki Mfg Co Ltd | 接触式ｉｃカードリーダの接点ブロック機構 |
| FR2823410B1 (fr) * | 2001-04-06 | 2003-08-15 | Sagem | Dispositif mobile comportant un lecteur de carte a puce et accessoire associe |
| DE10129469A1 (de) * | 2001-06-21 | 2003-01-02 | Scm Microsystems Gmbh | Chipkartenleser und Verfahren zum sicheren Austausch von Daten zwischen einer Chipkarte und einem Chipkartenleser |
| US20030229736A1 (en) * | 2002-06-07 | 2003-12-11 | Hsuan-Ming Shih | Portable read-write memory with USB interface |
| JP5301299B2 (ja) * | 2008-01-31 | 2013-09-25 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
| JP2009205669A (ja) * | 2008-01-31 | 2009-09-10 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| US20150286922A1 (en) * | 2008-02-28 | 2015-10-08 | Ivi Holdings Ltd. | Biometric identity verification system and method |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2554262B1 (fr) * | 1983-10-28 | 1987-05-29 | Flonic Sa | Dispositif anti-fraude pour lecteur de cartes a memoire electronique |
| FR2625349B1 (fr) * | 1987-12-28 | 1991-06-07 | Schlumberger Ind Sa | Dispositif de lecture/ecriture pour cartes a memoire muni d'un dispositif anti fraude |
-
1993
- 1993-12-31 JP JP5350388A patent/JP2819445B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-09-22 US US08/310,653 patent/US5478996A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5478996A (en) | 1995-12-26 |
| JPH07200757A (ja) | 1995-08-04 |
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