JP2766942B2 - Display screen reading method of display element - Google Patents
Display screen reading method of display elementInfo
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は液晶ディスプレイ、プラ
ズマディスプレイなどの表示素子の検査方式に関わる。
さらに詳述すれば、表示素子の表示する画面を読取り、
その良否を検査する方式に関わる。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection method for a display element such as a liquid crystal display and a plasma display.
More specifically, the screen displayed by the display element is read,
It is concerned with a method for inspecting the quality.
【0002】[0002]
【従来の技術】表示素子は互いに直交するx、yの方向
に複数の画素を配列した2次元配列の構成が採られる。
例えば、周知のVGAと呼称される表示素子では、x方
向に6 40画素、y方向に480画素を配列した640
×480個の画素で構成される。かかる構成の表示素子
の検査では欠陥画素の有無だけではなく、欠陥の位置ま
で特定する必要がある。かかる検査に2次元CCDカメ
ラ(以下、CCDカメラという)を用いる方法が周知で
ある。 2. Description of the Related Art Display elements are arranged in x and y directions orthogonal to each other.
Has a two-dimensional arrangement in which a plurality of pixels are arranged.
For example, in a display element called a well-known VGA, an x-direction
6 40 pixels countercurrent, an array of 480 pixels in the y-direction 640
It is composed of × 480 pixels. Display element with such a configuration
In the inspection, not only the presence or absence of defective pixels, but also the location of defects
Need to be specified in Two-dimensional CCD camera
(Hereinafter referred to as CCD camera)
is there.
【0003】このCCDカメラの受光素子であるCCD
素子も互いに直交する2方向にそれぞれ複数の画素を配
列した2次元配列の構成が採られている。例えばx方向
に約1300画素、y方向に約1000画素を配列した
1300×1000画素のCCDカメラを用いるなどし
ている。 A CCD as a light receiving element of this CCD camera
The device also has a plurality of pixels arranged in two directions orthogonal to each other.
It has a two-dimensional array configuration. For example, x direction
Approximately 1300 pixels and about 1000 pixels in the y direction
Using a CCD camera with 1300 x 1000 pixels
ing.
【0004】このようなCCDカメラの受光面に表示素
子の像を結ばせ、表示素子の画素の像の結ばれた位置に
該当するCCDカメラの受光素子の画素を対応付けるこ
とによって検査を実施している。 A display element is provided on the light receiving surface of such a CCD camera.
The image of the pixel is formed at the position where the image of the pixel of the display element is formed.
It is necessary to associate the pixels of the light receiving element of the corresponding CCD camera.
The inspection is carried out by
【0005】以下特に断らない限りは、表示画素は表示
素子の画素を指し、センサ画素はセンサであるCCDカ
メラのCCD素子の画素を指す。また、表示素子の画素
の像を画素像と呼称する。なお、表示画素の配列方向と
センサ画素の配列方向をほぼ一致させて、すなわち表示
画素の行方向にセンサ画素の行または列方向をほぼ一致
させて使用するのが一般である。[0005] Hereinafter, unless otherwise specified, a display pixel is a display pixel.
Sensor pixels refer to the pixels of the device.
Refers to the pixels of the CCD element of the camera. Also, the pixels of the display element
Is referred to as a pixel image. In general, the arrangement direction of the display pixels is substantially matched with the arrangement direction of the sensor pixels, that is, the row direction or the column direction of the sensor pixels is substantially matched with the row direction of the display pixels.
【0006】この様な表示素子の検査方式では、個々の
画素像に重なるセンサ画素の数を一般に充分大きくと
り、当該画素像の光度の分布特性のピーク位置近傍にあ
るセンサ画素の検出光度をもって当該表示画素の光度と
して検査するか、あるいは、画素像に重なる領域の複数
のセンサ画素の検出光度を加算して当該表示画素の光度
として検査する。 In such an inspection method for a display element, the number of sensor pixels overlapping each pixel image is generally sufficiently large, and the detected luminous intensity of the sensor pixel near the peak position of the luminous intensity distribution characteristic of the pixel image is used. Inspect as the luminosity of the display pixel , or check for multiple areas overlapping the pixel image.
Of the display pixel by adding the detected luminosity of the sensor pixel
Inspect as
【0007】具体的には、周囲のセンサ画素の検出光度
の比較しつつ、その近傍での極大値を探す事で検出して
いる。すなわちピーク検出により当該表示画素の光度を
検出している。More specifically, the detection is performed by comparing the detected luminous intensity of the surrounding sensor pixels and searching for a local maximum value in the vicinity thereof. That is, the luminous intensity of the display pixel is detected by peak detection.
【0008】例えば、一つの画素像の中に3×3の9個
のセンサ画素を割り当て、その中で最も高い光度を検出
したセンサ画素の検出値をピークとして当該表示画素の
光度とすることになる。また、複数のセンサ画素の検出
光度を加算する場合は、ピーク検出されたセンサ画素を
中心として加算する事になる。 For example, 3 × 3 9 pixels in one pixel image
Of sensor pixels and detects the highest luminosity among them
The detected value of the sensor pixel obtained as the peak is
It will be luminous intensity. Also, detection of multiple sensor pixels
When adding luminous intensity, the sensor pixel for which peak was detected is
It will be added as the center.
【0009】雑音対策などから一定のレベル以下の検出
光度は、ピークではあってもこれを無効とする措置が採
られる。従って、光度レベルの低い欠陥画素が連続して
存在するような場合、比較的長い区間に渡って検出信号
が発生しない無信号の状態が発生する。In order to reduce noise , a measure is taken to invalidate the detected luminous intensity below a certain level even if it is a peak. Accordingly, low defect pixels having intensity level is continuously
In such a case, a non-signal state occurs in which no detection signal is generated over a relatively long section.
【0010】[0010]
【発明が解決しようとする課題】前述の通り、従来の検
査方式では欠陥画素の存在で無信号の状態が発生し、欠
陥画素が存在する場合はピークを検出したセンサ画素の
飛び数を基に表示画素を補間してアドレス判定をする必
要があるため、欠陥が連続して無信号の区間が幾つの表
示画素に対応するかの判定に誤りが生じ、欠陥の画素位
置、欠陥の数を特定できなくなるという問題点がある。As described above, the conventional inspection
No signal condition occurs in the presence of a defective pixel in査方expression, absence
If there is a falling pixel, the sensor pixel that detected the peak
It is necessary to determine the address by interpolating the display pixels based on the jump number.
Because there is a need for several consecutive sections with no signal and no signal
Error occurs in the determination whether corresponding to示画element, a pixel position of a defect, there is a problem that the number of defects can not be specific.
【0011】この顕著な例を挙げれば、表示素子の第1
行目の表示画素がすべて欠陥となるライン欠陥で、次ぎ
の第2行目からは正常な場合で、第2行目を第1行目と
誤り、以後1行づつずれて誤って判定するような事態が
生じる。To take this prominent example, the first of the display elements
If the display pixels in the row are all defective line defects, and the second row is normal from the next row, the second row is erroneously determined as the first row, and thereafter, the row is shifted by one row and erroneously determined. Situations occur.
【0012】また、消灯状態の正さを検査する場合にお
いて、欠陥により点灯状態となった画素が存在した場
合、周りの正常な表示画素は全て消灯状態にあるので無
信号の状態が連続するため、欠陥画素の位置を特定する
事ができず、その近傍の画素位置を推定して点灯してみ
るなどの措置で位置を特定するなど、位置検出が複雑と
なる欠点がある。Also, when inspecting the correctness of the light-off state ,
If there is a pixel that is turned on due to a defect, the surrounding normal display pixels are all turned off, and
Since the signal state continues, it is impossible to specify the position of a defective pixel, such as to identify the position in measures such as try to lit estimate the pixel position in the vicinity thereof, a complicated position detection There are drawbacks.
【0013】これら欠陥の画素位置を特定できないこと
は、検出した欠陥位置を基にして欠陥を修復する手法も
ひろく用いられており、この場合には致命的である。さ
らに1つの表示画面が複数の領域に分割され、それぞれ
の領域毎にセンサカメラで検査を行う場合、その境界
は、表示画面の端部からの画素の数をもって判定せざる
をえず、境界判定が著しく複雑となる欠点がある。[0013] inability particular is a pixel location of these defects, even approach a defect based on the detected defect position repair
It is widely used and is fatal in this case. Furthermore, one display screen is divided into a plurality of areas, each of which is
When the inspection is performed by the sensor camera for each of the regions , the boundary has to be determined based on the number of pixels from the edge of the display screen, and there is a disadvantage that the boundary determination becomes extremely complicated.
【0014】このように従来の検査方式では、各表示画
素に対応するセンサ画素が定められていないので、ピー
クとして検出された数を基に表示画素の位置を判定する
のが基本となっているため、ピークが複数の表示画素に
またがって検出されない場合に欠陥位置を誤るなどの欠
点があった。 As described above, in the conventional inspection method, each display
Since the sensor pixel corresponding to the element is not defined,
The position of the display pixel based on the number detected as
Is the basis, so that the peaks
If the detection is not repeated, the error
There was a point.
【0015】本発明の目的は、従来のかかる欠点を解消
し、欠陥画素の有無、欠陥領域の大小に拘らず、個々の
画素の位置を特定することのできる手段を提供すること
にある。An object of the present invention is to solve the conventional such drawbacks, the presence or absence of the defective pixel, irrespective of the size of the defective area, there the position of each pixel to provide a means capable of specific.
【0016】[0016]
【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象の各
表示画素と、この各表示画素に対応するセンサ画素の関
係を対応関係情報として予め作成して保持し、この対応
関係情報を基に個々の表示画素の光度を検出するように
構成する。 すなわち、表示素子の表示画面を検査画面と
してその良否を検査するための表示素子の検査方式にお
いて、表示素子とセンサカメラの位置関係を基準位置に
設定し、該基準位置に対応した位置関係で基準表示素子
から抽出した当該センサ画素の表示両素への有効情報と
当該センサ画素へ対応する表示画素の対応番地情報から
なる対応関係情報に基づき、対応するセンサ画素の検出
光度から表示画素の光度を抽出するようにし、前記対応
関係情報を有効情報と対応番地情報とに分離し、それぞ
れの情報を異なる記憶場所に格納し、センサ画素情報の
出力順位に従って記憶場所を番地付けする。 SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided an apparatus for inspecting
The relationship between the display pixel and the sensor pixel corresponding to each display pixel
Is created and held in advance as correspondence information, and
Detects the luminosity of each display pixel based on related information
Configure. That is, the display screen of the display element is referred to as the inspection screen.
Display element inspection method for inspecting the quality
And the positional relationship between the display element and the sensor camera is set to the reference position.
Set the reference display element in a positional relationship corresponding to the reference position
Valid information to the display element of the sensor pixel extracted from the
From the corresponding address information of the display pixel corresponding to the sensor pixel
Of the corresponding sensor pixel based on the corresponding relationship information
The luminosity of the display pixel is extracted from the luminosity,
The related information is separated into valid information and corresponding address information.
This information is stored in different storage locations, and the sensor pixel information
Address storage locations according to output order.
【0017】また、前記基準表示素子として検査済みの
表示素子を用いることができるようにし、前記基準表示
素子の前記センサカメラとの位置関係を基準位置から表
示画 素ピッチの整数倍ずらすことにより、前記基準表示
素子の非点灯表示画素の対応関係情報を抽出することが
できるようにする。 In addition, the reference display element has already been inspected.
Display element can be used, said reference display
The positional relationship between the element and the sensor camera is displayed from the reference position.
The reference display is shifted by an integer multiple of the pixel pitch.
It is possible to extract the correspondence information of the non-lighted display pixels of the element.
It can be so.
【0018】[0018]
【作用】本発明を前記の通り構成したので、対応関係情
報を基に表示画面の表示素子の個々の表示画素に対応す
るセンサ画素を特定して光度の検出ができるため、従来
のピーク検出による方法のごとく欠陥画素位置でのセン
サ画素からの信号が欠落して欠陥の表示画素の位置を特
定できなくなるという欠点が解決され、欠陥の表示画素
の位置を正しく特定でき、さらにセンサカメラ複数台を
用いる場合においては、個々のセンサカメラの検査対象
領域の境界の判定が容易になる表示素子検査方式を得る
ことができる。Since the present invention is configured as described above, it is possible to specify the sensor pixel corresponding to each display pixel of the display element on the display screen based on the correspondence information and detect the luminous intensity. As a method, the defect that the signal from the sensor pixel at the defective pixel position is lost and the position of the defective display pixel cannot be specified is solved, the position of the defective display pixel can be correctly specified, and more than one sensor camera can be used. When used, it is possible to obtain a display element inspection method that makes it easy to determine the boundary of the inspection target area of each sensor camera.
【0019】[0019]
【実施例】以下図面を用いて本発明を詳細に説明する。
実施例では特に断らない限り、表示素子に液晶ディスプ
レイを、センサに2次元CCDカメラを用いた場合を例
とする。また、本明細書では画素の発する光の強さを光
度と言う用語をもって表す。光度は任意単位とし、画素
の発する単位面積当たりの光の強さも、画素の全域に渡
って積分した光の強さも、またセンサの受光面にできた
画素像の単位面積当たりの光の強さも、また画素像の一
定領域に渡って積分した光の強さも、これら全てを光度
で表現する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below in detail with reference to the drawings.
In the embodiment, a liquid crystal display is used as a display element and a two-dimensional CCD camera is used as a sensor unless otherwise specified. In this specification, the intensity of light emitted from a pixel is represented by a term called luminous intensity. The luminous intensity is an arbitrary unit, and the light intensity per unit area emitted by the pixel, the light intensity integrated over the entire area of the pixel, and the light intensity per unit area of the pixel image formed on the light receiving surface of the sensor are also determined. In addition, the light intensity integrated over a certain area of the pixel image expresses all of them as luminous intensity.
【0020】図2は本発明に係わる検査方式の基本ブロ
ック構成図である。1は検査対象となる表示素子、2は
2次元CCDカメラのセンサカメラ、3は移動ステー
ジ、4は処理回路部で、移動ステージ3を移動すること
により、2次元CCDカメラ2と表示素子1の位置関係
を基準位置に合わせ、2次元CCDカメラ2のCCDセ
ンサの有効受光領域に表示画面の像を結ばせて、表示素
子の光度を2次元CCDカメラ2のCCDセンサで読取
り、処理回路部4で処理して表示素子1の光度を検出す
る。上記基準位置への合わせは、表示素子1の合わせマ
ークを位置合わせ用のセンサカメラ(図中省略)で読取
り制御する。これら位置合わせ制御は周知であり詳細な
説明は省略する。FIG. 2 is a basic block configuration diagram of the inspection system according to the present invention. 1 is a display element to be inspected, 2 is
2-dimensional CCD camera of the sensor camera, the moving stage 3, the fourth processing circuit section, by moving the moving stage 3, position relationship between the display element 1 and the two-dimensional CCD camera 2 to the reference position, two-dimensional CCD An image of the display screen is formed on the effective light receiving area of the CCD sensor of the camera 2, and the luminous intensity of the display element is read by the CCD sensor of the two-dimensional CCD camera 2 and processed by the processing circuit unit 4 to detect the luminous intensity of the display element 1. I do. The alignment with the reference position is controlled by reading an alignment mark of the display element 1 with a sensor camera (not shown) for alignment. These alignment controls are well known and a detailed description is omitted.
【0021】本発明の実施例を説明するに先立ち、理解
を容易にするために本発明の基本的な概念と用語の意味
について説明をする。表示素子は、数多くの表示画素か
ら構成され、互いに直交するx、yの両方向に配列され
ており、2次元的な広がりを持つ。 この表示素子の画面
を入力するための2次元CCDカメラのセンサ画素は、
表示素子よりも更に多くのセンサ画素を必要とし、通
常、センサ画素は表示画素に対比してx、yの両方向共
に2倍以上、即ち2×2の4倍以上で検査されている。
従って640×480の約31万の画素からなる表示素
子を検査するには少なくとも約120万のセンサ画素か
らなる2次元CCDカメラが必要になる。 Before describing the embodiments of the present invention, it will be understood that
The basic concepts of the present invention and the meaning of terms to facilitate
Will be described. The display element has many display pixels
And arranged in both x and y directions orthogonal to each other.
And has a two-dimensional spread. Screen of this display element
The sensor pixel of the two-dimensional CCD camera for inputting
Requires more sensor pixels than display elements,
Normally, the sensor pixel is in both x and y directions compared to the display pixel.
The test is performed twice or more, that is, four times or more 2 × 2.
Therefore, a display element composed of about 310,000 pixels of 640 × 480
At least about 1.2 million sensor pixels to inspect children
A two-dimensional CCD camera is required.
【0022】このように大量の表示画素、センサ画素か
らなる検査系で、各表示画素に対応するセンサ画素を予
め検出して保存することにより効率良く、精度良く検査
しようとするものである。ここで表示画素に対応するセ
ンサ画素とは当該画素像に関連するセンサ画素で、当該
表示画素の光度を最も代表できるセンサ画素のことであ
る。例えば、表示画素の発する光量を最も感度良く検出
する事のできるセンサ画素などである。 With such a large number of display pixels and sensor pixels,
In the inspection system, sensor pixels corresponding to each display pixel are reserved.
Efficient and accurate inspection by detecting and storing
What you want to do. Here, the cell corresponding to the display pixel is
The sensor pixel is a sensor pixel related to the pixel image, and
A sensor pixel that can best represent the luminosity of a display pixel.
You. For example, the most sensitive detection of the amount of light emitted by the display pixel
And the like.
【0023】また、表示画素の光度をできるだけ多く検
出するため、画素像に重なる複数の例えば2×2の計4
個のセンサ画素の検出光度を加算して当該表示画素の光
度とする様な場合はその加算対象の特定の位置のセンサ
画素をあてる場合もある。 表示画素に番地を付与し、こ
れと独立にセンサ画素にも番地を付与し、番地nの表示
画素には番地kのセンサ画素が対応する時、n−kの対
応関係を対応関係情報と呼称し、この対応関係情報を格
納するメモリを対応関係情報格納メモリと呼称する。 Further , the luminous intensity of the display pixel is detected as much as possible.
For example, a plurality of, for example, 2 × 2, overlapping the pixel image,
Of the display pixels by adding the detection luminosity of the sensor pixels
If it is a degree, the sensor at the specific position to be added
In some cases, pixels are assigned. Addresses are assigned to display pixels, and
The address is also assigned to the sensor pixel independently, and the address n is displayed.
When a sensor pixel at address k corresponds to a pixel, a pair of nk
The correspondence is called correspondence information, and this correspondence information is stored.
The memory to be stored is referred to as a correspondence information storage memory.
【0024】n−kの対応関係を対応関係情報格納メモ
リに格納する方法は、メモリの構成、及びメモリの番
地、及び各語の記憶フィールドにこれら番地n、番地k
を如何に対応させるかなどにより変わってくる。以下に
説明する第1の実施例は対応関係情報を単一のメモリに
格納する方法を示し、第2の実施例では2つのメモリで
構成する例を示す。 The nk correspondence is stored in a correspondence information storage memo.
The method of storing in the memory depends on the memory configuration and memory number.
The address n and the address k are stored in the storage field of the location and each word.
It depends on how to deal with. less than
The first embodiment to be described stores correspondence information in a single memory.
A storage method is shown, and in the second embodiment, two memories are used.
An example of the configuration will be shown.
【0025】図3は処理回路部4の第1の実施例で、図
中10はA/D変換回路、20はセンサ画素で検出され
た光度を表示画素の光度として、即ち表示素子のイメー
ジで格納する表示素子イメージメモリ、30は対応関係
情報格納メモリ、31は対応関係情報格納メモリの番地
を発生するアドレスカウンタ、32は対応関係情報格納
メモリから読み出した情報を格納する読み出しレジス
タ、100はクロック信号線、101は有効情報信号
線、102は対応番地情報信号線である。FIG. 3 shows a first embodiment of the processing circuit section 4. In FIG. 3, reference numeral 10 denotes an A / D conversion circuit, and reference numeral 20 denotes a signal detected by a sensor pixel.
The luminous intensity of the display pixel as the luminous intensity of the display pixel, that is,
Display element image memory for storing information, 30 is a correspondence information storage memory, 31 is an address counter for generating an address of the correspondence information storage memory, 32 is a read register for storing information read from the correspondence information storage memory, 100 Is a clock signal line, 101 is a valid information signal line, and 102 is a corresponding address information signal line.
【0026】センサカメラ2の出力はA/D変換回路1
0を介してアナログ信号からディジタル信号に変換さ
れ、表示素子イメージメモリの書き込みデータとなるよ
うに相互に接続される。表示素子イメージメモリ20は
表示画素対応に番地を持ち、各番地は検出光度情報を格
納するだけのビット数を持つ。対応関係情報格納メモリ
30は、2次元CCDカメラ2のセンサ画素に対応した
番地を持つ。すなわち、CCDの画素の番地nに対応す
る対応関係情報格納メモリの番地nが存在する。この番
地nはセンサ画素情報として2次元CCDカメラ2から
出力される順番に0番地から昇順に番号付けされてい
て、この対応関係情報格納メモリはアドレスカウンタ3
1の内容に基づく番地にアクセスできるよう接続され
る。The output of the sensor camera 2 is an A / D conversion circuit 1
The signal is converted from an analog signal to a digital signal via 0, and is connected to each other so as to be write data of a display element image memory. The display element image memory 20 has addresses corresponding to the display pixels, and each address has the number of bits sufficient to store the detected light intensity information. The correspondence information storage memory 30 has addresses corresponding to the sensor pixels of the two-dimensional CCD camera 2. That is, there is an address n in the correspondence information storage memory corresponding to the address n of the pixel of the CCD. The addresses n are numbered in ascending order from address 0 in the order output from the two-dimensional CCD camera 2 as sensor pixel information.
The memory for storing the correspondence information is an address counter 3
The connection is made so that the address based on the content of No. 1 can be accessed.
【0027】クロック信号線100は各回路ブロックを
同期をとって動作させるための信号線である。対応関係
情報格納メモリ30の各語は対応するCCD画素が表示
画素に対応しているか否かを格納する有効情報フィール
ドの1ビットと対応する表示画素の番地情報すなわち対
応番地情報を格納するための対応番地情報フィールドの
qビットの計(q+1)ビットで構成される。図4はこ
の語構成を示す。 The clock signal line 100 is a signal line for operating each circuit block in synchronization. Each word in the correspondence information storage memory 30 is one bit of an effective information field for storing whether a corresponding CCD pixel corresponds to a display pixel and address information of a corresponding display pixel, that is, a pair.
It comprised in the corresponding address information field of q bits in total (q + 1) bits for storing 応番place information. Fig. 4
This shows the word structure of
【0028】次ぎに動作について説明する。n番地のセ
ンサ画素からの信号が出力される前にまずアドレスカウ
ンタ31の内容をnにセットし、対応関係情報格納メモ
リ30のn番地から有効情報と対応番地情報を読み出し
レジスタ32に格納しておく。なお、図中読み出しレジ
スタ32に示すVは有効情報フィールドを示す。Next, the operation will be described. cell of the n address
First set the contents of the address counter 31 to n before the signal from the capacitors pixel is output, storing valid information from the address n correspondence information storage memory 30 in correspondence address information reads the register 32. Note that V shown in the read register 32 in the figure indicates a valid information field.
【0029】CCDのn番地画素の光度信号が出力され
た時点で、表示素子イメージメモリは、対応情報信号線
101を介して有効か無効かを確認し、情報が“1”の
場合すなわち、当該センサ画素が表示画素に対応してい
る場合は、対応番地情報信号線102を介して対応番地
情報を受信し、CCD出力の検出光度情報を表示素子イ
メージメモリの対応する番地に格納する。対応情報が
“0”の場合は表示画素が対応しないことからCCDか
らの読み出し情報は無視する。[0029] When the light intensity signal of the address n pixels C C D is output, the display device image memory checks enabled or disabled through the corresponding information signal line 101, if the information is "1", ie The sensor pixel corresponds to the display pixel.
In this case, the corresponding address information is received via the corresponding address information signal line 102, and the detected luminous intensity information of the CCD output is stored in the corresponding address of the display element image memory. If the corresponding information is "0", the read information from the CCD is ignored because the display pixels do not correspond .
【0030】以上の動作を基本動作として、アドレスカ
ウンタ31の内容を+1づつ歩進しながら基本動作を繰
り返すことによりセンサ画素の検査データを表示画素の
光度として表示素子イメージメモリに格納する。この第
1の実施例では対応関係情報格納メモリ30の語数がセ
ンサ画素の数Nだけ必要で、メモリ構成はN語×(q+
1)ビットとなり、表示画素に対応しないセンサ画素の
語においても対応番地情報のqビットが存在することに
なる。すなわち、対応関係情報を格納するメモリの記憶
容量は、N×(q+1)ビットが必要となる。With the above operation as the basic operation, the basic operation is repeated while incrementing the contents of the address counter 31 by +1 to store the inspection data of the sensor pixels in the display element image memory as the luminosity of the display pixels. Word number correspondence information storage memory 30 in this first embodiment is Se
And the memory configuration is N words × (q +
1) Bits of sensor pixels that do not correspond to display pixels
The word also has q bits of corresponding address information. That is, the storage capacity of the memory for storing the correspondence information requires N × (q + 1) bits.
【0031】図1は図2に示す処理回路部4の第2の実
施例である。この第2の実施例では第1の実施例におけ
る対応関係情報格納メモリ30に格納した対応関係情報
を有効情報と対応番地情報とに分離し、それぞれを異な
るメモリに格納するように構成している。FIG. 1 shows a second embodiment of the processing circuit section 4 shown in FIG. In the second embodiment, the correspondence information stored in the correspondence information storage memory 30 in the first embodiment is separated into valid information and corresponding address information, and each is stored in a different memory. .
【0032】図中40は有効情報を格納する有効情報格
納メモリ、41は対応番地情報を格納する対応番地情報
格納メモリ、42は有効情報レジスタであり、有効情報
格納メモリからの有効情報を格納する。43は対応番地
情報レジスタで対応番地情報格納メモリから読み出され
た対応番地情報を格納する。44は有効情報格納メモリ
の番地を発生するアドレスカウンタ、45は対応番地情
報格納メモリの番地を発生するアドレスカウンタであ
る。[0032] figure 40 is valid information storage memory for storing valid information, 41 corresponding address information storage memory for storing the correspondence address information, 42 is a valid information register stores valid information from the effective information storage memory . 43 is a corresponding address information register which is read from the corresponding address information storage memory.
The corresponding address information is stored. An address counter 44 generates an address of the effective information storage memory, and an address counter 45 generates an address of the corresponding address information storage memory.
【0033】有効情報格納メモリ40は2次元CCDカ
メラの個々のセンサ画素に対応した番地を持つ。すなわ
ち、センサ画素の番地nに対応する有効情報格納メモリ
の番地nが存在し、各語1ビットの構成をとる。この有
効情報格納メモリの番地nは2次元CCDカメラからの
センサ画素の出力順位にしたがって0番地から昇順に番
号付けされている。The valid information storage memory 40 has addresses corresponding to individual sensor pixels of the two-dimensional CCD camera. That is, there is an address n of the effective information storage memory corresponding to the address n of the sensor pixel, and each word has a 1-bit configuration. The Yes
The address n of the effect information storage memory is from the two-dimensional CCD camera.
The numbers are assigned in ascending order from address 0 according to the output order of the sensor pixels.
【0034】また、有効情報格納メモリ40はアドレス
カウンタ44の内容に基づく番地にアクセスできるよう
にアドレスカウンタ44に接続される。アドレスカウン
タ44の内容はクロック信号線100で伝達されるクロ
ック信号で2次元CCDカメラからのセンサ画素の光度
情報が出力される度に+1歩進される。対応番地情報格
納メモリ41は表示素子の画素に対応した語数を持ち、
アドレスカウンタ45の内容に基づく番地にアクセスで
きるようアドレスカウンタ45に接続される。アドレス
カウンタ45の内容は有効情報レジスタ42の内容、す
なわち有効情報が“1”となる度に+1歩進する。The valid information storage memory 40 is connected to the address counter 44 so that an address based on the contents of the address counter 44 can be accessed. The contents of the address counter 44 are incremented by +1 each time the luminous intensity information of the sensor pixel is output from the two-dimensional CCD camera by the clock signal transmitted on the clock signal line 100. Corresponding address information storage memory 41 has a number of words corresponding to the pixels of the display device,
It is connected to the address counter 45 so that an address based on the contents of the address counter 45 can be accessed. The contents of the address counter 45 are incremented by +1 each time the contents of the valid information register 42, that is, the valid information becomes "1".
【0035】次ぎに動作について説明する。まず、2次
元CCDカメラからの最初の、すなわち、0番地のセン
サ画素の情報が出力される前にアドレスカウンタ44と
アドレスカウンタ45の内容を0にリセットした後、有
効情報格納メモリ40と対応番地情報格納メモリ41の
読取り動作を実行し、0番地の内容をそれぞれ読取りレ
ジスタ42と読取りレジスタ43にセットする。Next, the operation will be described. First, secondary
The first, ie, address 0, sensor from the original CCD camera
After resetting the contents of the address counter 44 and address counter 45 to zero before the information sub pixel is output, Yes
The read operation of the effective information storage memory 40 and the corresponding address information storage memory 41 is executed, and the contents of the address 0 are set in the read register 42 and the read register 43, respectively.
【0036】以上の動作がアドレスカウンタ44と4
5、読取りレジスタ42と43の初期設定動作である。
第(n+1)番目の、すなわち、n番地のセンサ画素か
らの信号が出力されると、表示素子イメージメモリは有
効情報信号線101を介して読取りレジスタ42にある
有効情報を確認し、情報が“1”の場合は対応番地情報
信号線102を介して読取りレジスタ43にある対応番
地情報を受信し、センサ画素出力の検出光度情報を表示
素子イメージメモリの対応する番地に格納し、有効情報
が“0”の場合は、センサ画素からの読み出し情報を無
視する。The above operation is performed by the address counters 44 and 4
5. Initial setting operation of the read registers 42 and 43.
When a signal from the (n + 1) -th sensor pixel at address n is output, the display element image memory becomes available.
In the read register 42 via the validity information signal line 101
The valid information is confirmed. If the information is "1", the corresponding address information in the read register 43 is received via the corresponding address information signal line 102, and the detected luminous intensity information of the sensor pixel output is stored in the display element image memory. When the effective information is “0”, the information read from the sensor pixel is ignored.
【0037】次にアドレスカウンタ44の内容を+1歩
進し、さらに読取りレジスタ42にある有効情報が
“1”の場合はアドレスカウンタ45の内容を+1歩進
した後、有効情報メモリ40と対応番地情報格納メモリ
41の読取り動作を実行し、読取りレジスタ42と読取
りレジスタ43に有効情報と対応番地情報を設定するこ
とにより、次のセンサ画素からの光度情報の出力に備え
るための情報の設定を行う。なお、有効情報が“0”の
場合は、アドレスカウンタ44の内容だけが+1歩進さ
れ、アドレスカウンタ45の内容はそのまま保存され
る。Next, the contents of the address counter 44 are incremented by one, and if the valid information in the read register 42 is "1", the contents of the address counter 45 are incremented by one, and then the effective information memory 40 and the corresponding address are read. By performing a read operation of the information storage memory 41 and setting valid information and corresponding address information in the read register 42 and the read register 43, information for preparing for output of luminous intensity information from the next sensor pixel is set. . When the validity information is "0", only the content of the address counter 44 is incremented by +1 and the content of the address counter 45 is stored as it is.
【0038】以上の動作説明から明らかなように、この
第2の実施例では対応関係情報を有効情報と対応番地情
報とに別けて、それぞれ別の有効情報メモリと対応番地
情報格納メモリに格納している。しかも、有効情報メモ
リはCCDが検出した画素光度情報の出力順位にしたが
って昇順に番地付けされている。さらに、対応番地情報
格納メモリも有効情報が“1”となる度に+1だけ歩進
するように昇順に番地付けされている。このため、当該
センサ画素が表示画素に対応しているか否かの判定、お
よび対応する表示素子の画素の番地情報の獲得が単純な
歩進動作で実行できる。 As is apparent from the above description, in this second embodiment are divided into the correspondence between information and effective information and corresponding address information, and stores the separate valid information memory to the corresponding address information storage memory ing. Moreover, the effective information memories are assigned addresses in ascending order according to the output order of the pixel luminous intensity information detected by the CCD. Further, the corresponding address information storage memory is also assigned addresses in ascending order so as to be incremented by +1 each time the valid information becomes "1". Therefore, the
It is simple to determine whether a sensor pixel corresponds to a display pixel and to obtain address information of the pixel of the corresponding display element.
It can be executed by a step operation.
【0039】これらの昇順の番地付けは降順であっても
良く、この場合はアドレスカウンタの歩進を−1にすれ
ば同様の効果が得られる。このような組織的な番地付け
により、次に出力されるセンサ画素情報に対する有効情
報、対応番地情報の獲得を自動的に容易にする事であ
る。ここで、センサ画素の数をN、表示画素の数をMと
すると、有効情報格納メモリと対応番地情報格納メモリ
の語構成はそれぞれN語×1ビット、M語×qビットと
なる。したがって、対応関係情報を格納するメモリの記
憶容量は(M・q+N)となる。一般にM<Nであり、
第2の実施例では第1の実施例に対比して記憶容量を削
減できる。These ascending addresses may be assigned in descending order. In this case, the same effect can be obtained by setting the increment of the address counter to -1. By such systematic addressing , acquisition of effective information and corresponding address information for the sensor pixel information to be output next is automatically facilitated. Here, assuming that the number of sensor pixels is N and the number of display pixels is M, the word configurations of the effective information storage memory and the corresponding address information storage memory are N words × 1 bit and M words × q bit, respectively. Therefore, the storage capacity of the memory for storing the correspondence information is (M · q + N). In general, M <N,
In the second embodiment, the storage capacity can be reduced as compared with the first embodiment.
【0040】次に、対応関係情報の生成法について説明
する。予め検査済みの良品の表示素子を基準表示素子と
して移動ステージに乗せ、表示画面の像が2次元CCD
カメラのCCDセンサの有効受光領域に収まり、かつ、
センサ画素と画素像の配列方向がほぼ平行になるように
合わせるとともに、表示画面と2次元CCDカメラの距
離であるz方向を調整し所定の像倍率に合わせる。この
状態での基準表示素子と2次元CCDカメラの位置関係
が基準位置で、この基準位置はカメラのフォーカスに関
連するz方向はもちろん、これと直交するx,yの方向
に対しての位置も含まれる。 Next, a method of generating correspondence information will be described. A non-defective display element that has been inspected in advance is placed on a moving stage as a reference display element, and the image on the display screen is a two-dimensional CCD.
It will fit in the effective light receiving area of the camera CCD sensor, and,
The arrangement direction of the sensor pixels and the pixel image is adjusted to be substantially parallel, and the z direction, which is the distance between the display screen and the two-dimensional CCD camera, is adjusted to a predetermined image magnification. The positional relationship between the reference display element and the two-dimensional CCD camera in this state
Is the reference position, which is related to the camera focus.
The x and y directions orthogonal to this, as well as the continuous z direction
Is included.
【0041】以後の検査では検体である表示素子をこの
基準位置に設定して検査することになる。このため、基
準表示素子の合わせマークを合わせ用のセンサカメラで
読取りその位置を記憶する。次に、基準表示素子を基準
位置に設定した状態で基準表示素子の画素を点灯させ、
センサ画素の検出光度のピークを検出することにより各
表示画素に対応するセンサ画素を特定し、対応関係情報
を抽出する。2次元的に配列された情報のピーク検出の
手法は周知でありここでは説明を省略する。 In the subsequent inspection, the display element as a specimen is set at this reference position and the inspection is performed. Therefore, the alignment mark of the reference display element is read by the alignment sensor camera and the position is stored. Next, the pixels of the reference display element are turned on in a state where the reference display element is set at the reference position,
By detecting the peak of the detected luminous intensity of the sensor pixel ,
The sensor pixel corresponding to the display pixel is specified, and the correspondence information is extracted. For peak detection of two-dimensionally arranged information
The method is well-known, and the description is omitted here.
【0042】この対応関係情報の抽出動作では、全ての
表示画素を一括して点灯するのが一般的であるが、全て
の表示画素を点灯すると近傍の表示画素からの光が重な
り合い光度分布が平坦化され、ピーク検出が困難な場合
は行、列の一方あるいは両方の方向に1画素おき、また
は数画素おきに点灯させ、この点灯位置をずらしながら
対応関係情報を抽出・合成しても良い。 In the operation of extracting the correspondence information, all the
It is common to turn on the display pixels at once, but all
When the display pixels are lit, light from neighboring display pixels may overlap.
When the luminous intensity distribution is flattened and peak detection is difficult
Is every other pixel in one or both row and column directions, and
Lights up every few pixels and shifts the lighting position
The correspondence information may be extracted and combined.
【0043】これらの動作で得られた対応関係情報を一
般的に表現すると、表示画素の番地Anに対するセンサ
画素の番地Amの対応である。この対応関係情報をセン
サ画素の個々に1番地を割り当てて記憶保持する場合に
当てはめると、その語構成は図4に示すように対応する
表示画素があるか無いかの情報(有効情報)を格納する
有効情報フィールドの1ビットと、該有効情報に対応す
る画素の番地情報(対応番地情報)を格納するフィール
ドとからなる。[0043] With general terms the correspondence information obtained in these operations, a corresponding address A m of the sensor pixels to addresses A n of the display pixel. Applying this correspondence information when the stored and held by assigning individual address 1 of the sensor pixels, the word configuration corresponds as shown in FIG. 4
Stores information ( valid information) as to whether or not there is a display pixel
It consists of one bit of a valid information field and a field for storing address information (corresponding address information) of a pixel corresponding to the valid information .
【0044】この番地情報フィールドのビット数qは検
査対象となる表示画素の数により決る。この有効情報と
対応番地情報をそれぞれ別のメモリに格納するのが図1
に示した第2の実施例である。この別のメモリに格納す
る場合も両情報の対応付けをとる必要があり、第2の実
施例ではメモリの番地位置で対応を付けている。以上、
基準表示素子はすべて欠陥の無い画素からなることを前
提に説明したが、欠陥画素を含んでいても良い。以下欠
陥を含む基準表示素子での対応関係情報の抽出について
説明する。The number q of bits in the address information field is determined by the number of display pixels to be inspected. FIG. 1 shows that the valid information and the corresponding address information are stored in different memories.
This is the second embodiment shown in FIG. When the information is stored in the separate memory, it is necessary to associate the two information with each other. In the second embodiment, the correspondence is assigned at the address of the memory. that's all,
Although the description has been made on the assumption that all the reference display elements are pixels having no defect, the reference display element may include a defective pixel. Hereinafter, extraction of the correspondence information from the reference display element including the defect will be described.
【0045】まず第1の方法について説明する。いずれ
の番地の表示画素を取り上げても、良品となる表示素子
が少なくとも1個存在するような表示素子の組を基準表
示素子の組とし、それぞれの基準表示素子の良品の画素
を基に対応関係情報を抽出し、これらを統合することに
より全体としての対応関係情報を合成する。すなわち、
個々の基準表示素子で不良の表示画素をマスキングする
条件でOR条件をとることで全体としての対応関係情報
を合成する。First, the first method will be described. Regardless of the display pixel at any address, a set of display elements in which there is at least one non-defective display element is defined as a set of reference display elements, and a correspondence relationship is established based on the non-defective pixels of each reference display element. By extracting information and integrating them, the correspondence information as a whole is synthesized. That is,
By taking an OR condition under the condition of masking a defective display pixel in each reference display element, the correspondence information as a whole is synthesized.
【0046】次に、第2の方法について説明する。欠陥
画素の対応関係情報を抽出するために、基準表示素子と
2次元CCDカメラの位置関係を1表示画素のピッチだ
けずらし、隣の良品の表示画素を用いて欠陥画素の対応
関係情報を抽出する。この抽出方法は、代用する良品の
表示画素を点灯し、他の良品の表示画素の対応関係情報
の抽出の場合と同様の方法で情報の抽出を行う。Next, the second method will be described. In order to extract the correspondence information of defective pixels, the reference display element and
The positional relationship of the two-dimensional CCD camera is shifted by the pitch of one display pixel, and information on the relationship between defective pixels is extracted using the adjacent good display pixels. The extraction method is, of good to substitute
The display pixels are turned on, and the information is extracted in the same manner as in the case of extracting the correspondence information of other non-defective display pixels.
【0047】一般に、代用する表示画素は隣接の良品で
ある表示画素に限定する必要はなく、数画素が集団的に
欠陥となっている場合などでは数画素分のピッチだけず
らし、近傍の良品の表示画素を当該位置にもってきて対
応関係情報を抽出する事もできる。この様に基準表示素
子と2次元CCDカメラの位置関係を基準位置から画 素
ピッチの正の整数倍ずらすことにより基準表示素子の欠
陥の表示画素を等価的に良品の表示画素に替えて対応関
係情報を抽出することができる。[0047] In general, the display pixel to substitute the good of the adjacent
It is not necessary to limit the display pixel to a certain display pixel. For example, when several pixels are collectively defective , the display pixels are shifted by a pitch corresponding to several pixels, and a nearby good display pixel is brought to the position . Response information can also be extracted. Picture element from the reference position to position relationship between the reference display device as a two-dimensional CCD camera
By shifting by a positive integer multiple of the pitch, the corresponding display information can be extracted by equivalently replacing defective display pixels of the reference display element with non-defective display pixels.
【0048】以上の説明から明らかなように、基準表示
素子として用いる検査済みの良品の表示素子とは無欠陥
の表示素子を意味するものでは無く、欠陥の番地が明確
な欠陥の表示画素を含む表示素子も基準表示素子として
許容できる。また、以上説明した第1の方法と第2の方
法を併用することもできる。As is clear from the above description, the inspected non-defective display element used as the reference display element does not mean a display element having no defect, but includes a display pixel having a defect whose defect address is clear. display device also acceptable as the reference display element. Further, the first method and the second method described above can be used in combination.
【0049】基準表示素子と2次元CCDカメラの位置
関係を基準位置からずらす方法を欠陥の表示画素の対応
関係情報抽出の概念で説明したが、表示画素とセンサ画
素の対応位置関係を分解能良く抽出するために、数画素
おきに点灯させ、その他の画素を消灯状態として対応関
係情報を抽出する場合もこの基準位置からずらす方法を
適用できる。したがって、この場合の消灯させた表示画
素と欠陥の表示画素は同種の画素であり、非点灯表示画
素と呼称する。以上の説明から明らかなように、基準表
示素子として用いる検査済みの良品の表示素子とは無欠
陥の表示素子を意味するものでは無く、欠陥の番地が明
確な欠陥画素を含む表示素子も基準表示素子として許容
している。The method of shifting the positional relationship between the reference display element and the two-dimensional CCD camera from the reference position has been described in the concept of extracting the correspondence information of defective display pixels. The corresponding positional relationship between display pixels and sensor pixels is extracted with high resolution. For this purpose, a method of shifting from the reference position can also be applied to a case where the correspondence information is extracted by turning on the light every several pixels and turning off the other pixels to turn off the light. Therefore, the display pixels of the display image <br/> iodine and defects is turned off in this case is a pixel of the same type, the non-lighting display image <br/> referred iodine and call. As is clear from the above description, the inspected non-defective display element used as the reference display element does not mean a display element having no defect, and a display element including a defective pixel whose defect address is clear is also displayed on the reference display element. Allowed as an element.
【0050】以上、基準表示素子に、検査済みの良品の
表示素子、すなわち検体となる表示素子と同種の表示素
子を用いる場合について説明したが、特殊な基準表示素
子を用いても良い。例えば検体が透過形の液晶ディスプ
レイの場合、基準表示素子として液晶ディスプレイの画
素位置に対応して光を透過させる開穴部を配した基板を
もって基準表示素子とする事もできる。この場合、開穴
部を検体のすべての画素位置対応に配置する必要性は必
ずしもない。検体の配列画素の行、列の一方または両方
の方向に数画素置きに対応させた位置にのみ開口部を配
置した基板を基準表示素子として、画素ピッチだけずら
しつつ対応関係情報を抽出する方法も採れる。As described above, the case where the inspected non-defective display element, that is, the display element of the same kind as the display element serving as the specimen is used as the reference display element, but a special reference display element may be used. For example, when the sample is a transmissive liquid crystal display, the reference display element may be a substrate having an aperture for transmitting light corresponding to the pixel position of the liquid crystal display as the reference display element. In this case, it is not always necessary to arrange the apertures at all pixel positions of the sample. There is also a method of extracting the correspondence information while shifting the pixel pitch by a pixel pitch, using a substrate on which an opening is arranged only at a position corresponding to every few pixels in one or both of the rows and columns of the array pixels of the specimen as a reference display element. Can be taken.
【0051】この様に特殊な基準表示素子を用いる場合
でも、また検査済みの良品の表示素子を基準表示素子を
用いる場合でも、検査実態に即した状態での対応関係情
報の抽出ができ、センサカメラのレンズの収差などによ
る表示画面の像の歪みを考慮考慮にいれた対応関係情報
が容易に抽出できる。以上、センサカメラに2次元CC
Dカメラを用いた場合を例に本発明を詳細に説明した
が、一般の2次元センサを用いたセンサカメラに広く適
用できる。さらに1次元センサを用いた1次元センサカ
メラを適用し、検体とカメラの位置をずらしつつ1行づ
つ検査していく場合に置いても、各行の検査で基準位置
を設定する事で同様の構成が採れる。Even when a special reference display element is used as described above, or when a non-defective display element that has been inspected is used as a reference display element, it is possible to extract correspondence information in a state corresponding to the actual state of inspection. Correspondence information can be easily extracted in consideration of the distortion of the image on the display screen due to the aberration of the camera lens. Above, two-dimensional CC for sensor camera
Although the present invention has been described in detail by taking a case where a D camera is used as an example, the present invention can be widely applied to a sensor camera using a general two-dimensional sensor. Furthermore, even when a one-dimensional sensor camera using a one-dimensional sensor is applied and the inspection is performed line by line while shifting the position of the sample and the camera, the same configuration is set by setting the reference position in the inspection of each line. Can be taken.
【0052】さらにセンサカメラを複数台設置し、単一
表示画面を分割分担して検査する場合も、センサカメラ
ごとに対応関係情報を設定することで同様に適用でき、
その分担境界を明確にできるなど、さらに優れた効果が
ある。また検体である表示素子には液晶ディスプレイを
はじめプラズマディスプレイなどの表示素子に広く適用
できる。Further, even when a plurality of sensor cameras are installed and a single display screen is divided and inspected, the same can be applied by setting the correspondence information for each sensor camera.
There are more excellent effects such as the clarification of the sharing boundary. In addition, the present invention can be widely applied to display elements such as a liquid crystal display and a plasma display as a specimen.
【0053】[0053]
【発明の効果】本発明を請求項1の通り構成し、表示素
子とセンサカメラの位置関係を基準位置に設定し、基準
位置に対応した位置関係で抽出した対応関係情報に基づ
き対応するセンサ画素の検出光度を基に表示画素の光度
を抽出する表示素子の検査方式は、表示画素とこの表示
画素に対応するセンサ画素の対応関係が、表示画面の欠
陥の状態に係わらず予め明確であるため、欠陥画素の番
地を特定でき、欠陥の位置、欠陥の数を明確にできる効
果がある。さらに、複数台のセンサカメラで表示画面を
分割分担して検査する場合、各センサカメラの分担領域
を明確にでき、境界判定が容易になる効果がある。According to the present invention, the positional relationship between the display element and the sensor camera is set to a reference position, and the corresponding sensor pixel is extracted based on the positional relationship information extracted from the positional relationship corresponding to the reference position. The inspection method of the display element for extracting the luminous intensity of the display pixel based on the detected luminous intensity of the display pixel is such that the correspondence between the display pixel and the sensor pixel corresponding to the display pixel is determined in advance regardless of the state of the defect on the display screen. Since it is clear, the address of the defective pixel can be specified, and the position of the defect and the number of the defects can be clarified. Furthermore, when the display screen is divided and shared by a plurality of sensor cameras for inspection, the shared area of each sensor camera can be clarified, and there is an effect that boundary determination becomes easy.
【0054】本発明を請求項2の通り構成し、対応関係
情報を有効情報と対応番地情報とに分離し、それぞれの
情報を異なる記憶場所に格納し、センサ画素情報の出力
順位に従って記憶場所を番地付けるようにしたのでセン
サ画素情報のセンサカメラからの出力順番にしたがって
有効情報メモリの番地を+1歩進すればよく、また対応
番地情報メモリの番地も対応情報メモリからの対応情報
が“1”となる度に+1歩進すればよく、対応関係情報
をメモリから自動的に容易に獲得でき、かつ対応関係情
報を格納するメモリの記憶容量を削減できる効果があ
る。According to the present invention, the correspondence information is separated into valid information and corresponding address information, each information is stored in a different storage location, and the storage location is determined according to the output order of the sensor pixel information. since as it puts the address in accordance with the output order from the sensor camera sensor <br/> Sa pixel information
The address of the effective information memory may be incremented by +1, and the address of the corresponding address information memory may be incremented by +1 each time the corresponding information from the corresponding information memory becomes "1". This is advantageous in that the storage capacity of the memory for storing the correspondence information can be reduced easily.
【0055】本発明を請求項3の通り構成し、基準表示
素子に検査済みの表示素子を用いるように構成したので
検査対象の表示素子と同種の素子を用いるため、検査実
態に即した対応関係情報の抽出ができ、さらに特殊な基
準表示素子を必要としないことから経済性に優れる効果
がある。また本発明を請求項4の通り構成し、基準表示
素子とセンサカメラの位置関係を基準位置から画素ピッ
チの正の整数倍ずらすことにより基準表示素子の非点灯
表示画素の対応関係情報を抽出するようにしたので基準
表示素子に欠陥を許容できるため、基準表示素子の選定
が容易になる効果がある。さらに行、列に配列された表
示画素を行、列の一方あるいは両方の方向に数画素おき
に点灯状態とし、他の表示画素を消灯状態とし、対応関
係情報を抽出できるため、表示画素の位置分解能を向上
することができるという効果が期待できる。[0055] The present invention constructed as in Claim 3, since it is configured to use the tested display element based display device for using the elements of the display elements of the same type <br/> inspected, the inspection situation It is possible to extract the corresponding relationship information in an appropriate manner, and since there is no need for a special reference display element, there is an effect that the cost is excellent. Further, according to the present invention, the positional relationship between the reference display element and the sensor camera is shifted from the reference position by a positive integer multiple of the pixel pitch to extract the correspondence information of the non-lit display pixels of the reference display element. since the way for an acceptable defect criteria display device, the effect of selection of the reference display element is facilitated. Further rows, row display pixels arranged in columns, and a lighting state every several pixels in one or both directions of the column, the other display pixel unlit, it is possible to extract a correspondence relationship information, the position of the display pixel The effect that the resolution can be improved can be expected .
【図1】図2に示す処理回路部の第2の実施例の構成説
明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram illustrating a configuration of a second embodiment of the processing circuit unit illustrated in FIG. 2;
【図2】本発明に係わる検査方式の基本ブロック説明図
である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a basic block of an inspection system according to the present invention.
【図3】処理回路部の第1の実施例の構成説明図であ
る。FIG. 3 is an explanatory diagram of a configuration of a first embodiment of a processing circuit unit.
【図4】対応関係情報を格納する対応関係情報格納メモ
リの語構成の説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram of a word configuration of a correspondence information storage memory that stores correspondence information.
1 表示素子 2 2次元CCDカメラ 3 移動ステージ 4 処理回路部 10 A/D変換回路 20 表示素子イメージメモリ 30 対応関係情報格納メモリ 31 アドレスカウンタ 32 読み出しレジスタ 40 有効情報格納メモリ 41 対応番地情報格納メモリ 42 有効情報レジスタ 43 対応番地情報レジスタ 44 アドレスカウンタ 45 アドレスカウンタ 100 クロック信号線 101 有効情報信号線 102 対応番地情報信号線Reference Signs List 1 display element 2 two-dimensional CCD camera 3 moving stage 4 processing circuit section 10 A / D conversion circuit 20 display element image memory 30 correspondence relation information storage memory 31 address counter 32 read register 40 effective information storage memory 41 corresponding address information storage memory 42 Valid information register 43 Corresponding address information register 44 Address counter 45 Address counter 100 Clock signal line 101 Valid information signal line 102 Corresponding address information signal line
Claims (2)
表示画面の良否を検査するための表示素子の表示画面読
取方法において、検査対象の表示素子(1)を搭載する、水平に移動する
移動手段を有する移動ステージ(3)と 、該移動ステージ(3)の上方所定位置で該表示素子
(1)の表示画面に対向して設けられた該表示画面の画
面情報を入力するセンサ画素を有する2次元センサカメ
ラ(2)と 、該表示素子(1)に有する位置合わせマークを用いて、
該2次元センサカメラ(2)を所定位置に設定する位置
合わせ手段と 、該2次元センサカメラ(2)の有効受光領域に前記表示
画面の像を結ばせて、該表示素子(1)の光度を読取
り、センサ画素で検出された光度を表示画面の光度とし
て、A/D変換回路(10)を介して変換された信号を
書き込みデータとして格納する表示素子イメージメモリ
(20)と 、2次元センサカメラ(2)のセンサ画素が表示画素に対
応するか否かを表す有効情報と当該センサ画素に対応し
た表示画素の番地情報を格納する対応関係情報格納メモ
リ(30)と 、対応関係情報格納メモリ(30)の番地を発生するアド
レスカウンタ(31)と 、対応関係情報格納メモリ(30)から読み出された有効
情報と当該センサ画素に対応した表示画素の番地情報を
格納する読みだしレジスタ(32)とを具備し、クロツ
ク信号を供給するクロツク信号線(100)により2次
元センサカメラ(2)と対応関係情報格納メモリ(3
0)とアドレスカウンタ(31)を接続し、有効情報信
号線(101)と対応番地情報信号線(102)とによ
り読みだしレジスタ(32)と表示素子イメージメモリ
(20)とを接続してなる処理回路部(4)とで、構成
されたことを特徴とする表示素子の表示画面読取方法 。 The display screen of a display element is used as an inspection screen.
Reading the display screen of the display element to check the quality of the display screen
In the method, the display element (1) to be inspected is mounted and horizontally moved.
A moving stage (3) having moving means , and the display element at a predetermined position above the moving stage (3).
The image of the display screen provided opposite to the display screen of (1).
Two-dimensional sensor camera with sensor pixels for inputting surface information
(2) and an alignment mark of the display element (1),
A position for setting the two-dimensional sensor camera (2) at a predetermined position
Alignment means , and the display in the effective light receiving area of the two-dimensional sensor camera (2).
Read the luminous intensity of the display element (1) by forming an image on the screen
The luminosity detected by the sensor pixels as the luminosity of the display screen.
The signal converted through the A / D conversion circuit (10)
Display element image memory for storing as write data
(20) , the sensor pixel of the two-dimensional sensor camera (2) corresponds to the display pixel.
Corresponding to the sensor pixel and valid information indicating whether or not
Memo for storing the correspondence information that stores the address information of the displayed pixels
(30) and an address for generating an address of the correspondence information storage memory (30).
Address counter (31) and the validity read from the correspondence information storage memory (30).
Information and the address information of the display pixel corresponding to the sensor pixel.
A read register (32) for storing
Clock signal line (100) for supplying clock signal
Original sensor camera (2) and corresponding relationship information storage memory (3
0) and the address counter (31), and
Line (101) and the corresponding address information signal line (102).
Read-out register (32) and display element image memory
(20) and a processing circuit section (4) connected thereto.
A method for reading a display screen of a display element, characterized by being performed .
表示画面の良否を検査するための表示素子の表示画面読
取方法において、検査対象の表示素子(1)を搭載する、水平に移動する
移動手段を有する移動 ステージ(3)と 、該移動ステージ(3)の上方所定位置で該表示素子
(1)の表示画面に対向して設けられた該表示画面の画
面情報を入力するセンサ画素を有する2次元センサカメ
ラ(2)と 、該表示素子(1)に有する位置合わせマークを用いて、
該2次元センサカメラ(2)を所定位置に設定する位置
合わせ手段と 、該2次元センサカメラ(2)の有効受光領域に前記表示
画面の像を結ばせて、該表示素子(1)の光度を読取
り、センサ画素で検出された光度を表示画素の光度とし
て、A/D変換回路(10)を介して変換された信号を
書き込みデータとして格納する表示素子イメージメモリ
(20)と 、2次元センサカメラ(2)のセンサ画素が表示画素に対
応するか否かを表す有効情報を格納する有効情報格納メ
モリ(40)と 、有効情報格納メモリ(40)の番地を発生するアドレス
カウンタ(44)と、有効情報格納メモリ(40)から
読み出された有効情報を格納する有効情報レジスタ(4
0)と 、当該センサ画素に対応した表示画素の番地情報を格納す
る対応番地情報格納メモリ(41)と 、該対応番地情報格納メモリ(41)の番地を発生するア
ドレスカウンタ(45)と、 該対応番地情報格納メモリ(41)から読み出された当
該センサ画素に対応した表示画素の番地情報を格納する
対応番地情報レジスタ(43)とを具備し、 クロツク信号を供給するクロツク信号線(100)によ
り2次元センサカメラ(2)と有効情報レジスタ(4
2)を接続し、有効情報レジスタ(42)を対応番地情
報格納メモリ(41)の番地を発生するアドレスカウン
タ(45)に接続し、対応番地情報レジスタ(43)と
表示素子イメージメモリ(20)とを対応番地情報信号
線(102)で接続してなる処理回路部(4)とで構成
されたことを特徴とする表示素子の表示画面読取方法 。2. The method according to claim 1 , wherein a display screen of the display element is used as an inspection screen.
Reading the display screen of the display element to check the quality of the display screen
In the method, the display element (1) to be inspected is mounted and horizontally moved.
A moving stage (3) having moving means , and the display element at a predetermined position above the moving stage (3).
The image of the display screen provided opposite to the display screen of (1).
Two-dimensional sensor camera with sensor pixels for inputting surface information
(2) and an alignment mark of the display element (1),
A position for setting the two-dimensional sensor camera (2) at a predetermined position
Alignment means , and the display in the effective light receiving area of the two-dimensional sensor camera (2).
Read the luminous intensity of the display element (1) by forming an image on the screen
The luminosity detected by the sensor pixel is used as the luminosity of the display pixel.
The signal converted through the A / D conversion circuit (10)
Display element image memory for storing as write data
(20) , the sensor pixel of the two-dimensional sensor camera (2) corresponds to the display pixel.
Valid information storage method to store valid information indicating whether
Mori and (40), for generating an address of a valid information storage memory (40) address
From the counter (44) and the valid information storage memory (40)
A valid information register (4) for storing the read valid information
0) and the address information of the display pixel corresponding to the sensor pixel.
A corresponding address information storage memory (41) , and an address for generating an address of the corresponding address information storage memory (41).
A dress counter (45) and a corresponding address read from the corresponding address information storage memory (41).
Stores address information of a display pixel corresponding to the sensor pixel
A clock signal line (100) having a corresponding address information register (43) for supplying a clock signal;
2D sensor camera (2) and valid information register (4
2) and connect the valid information register (42) to the corresponding address information.
Address counter that generates the address of the information storage memory (41)
(45), and the corresponding address information register (43)
Address information signal corresponding to display element image memory (20)
Composed of a processing circuit section (4) connected by a line (102)
A method for reading a display screen of a display element, characterized by being performed .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3035446A JP2766942B2 (en) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | Display screen reading method of display element |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3035446A JP2766942B2 (en) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | Display screen reading method of display element |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0527704A JPH0527704A (en) | 1993-02-05 |
JP2766942B2 true JP2766942B2 (en) | 1998-06-18 |
Family
ID=12442053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3035446A Expired - Lifetime JP2766942B2 (en) | 1991-02-04 | 1991-02-04 | Display screen reading method of display element |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2766942B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8531444B2 (en) | 2009-12-11 | 2013-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image display apparatus, control method thereof, and computer-readable storage medium |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5764209A (en) * | 1992-03-16 | 1998-06-09 | Photon Dynamics, Inc. | Flat panel display inspection system |
US5754678A (en) * | 1996-01-17 | 1998-05-19 | Photon Dynamics, Inc. | Substrate inspection apparatus and method |
US7308157B2 (en) * | 2003-02-03 | 2007-12-11 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for optical inspection of a display |
JP4883362B2 (en) * | 2007-02-23 | 2012-02-22 | 横河電機株式会社 | Defect inspection apparatus and defect inspection method |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS642096A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-06 | Toshiba Corp | Positioning device for liquid crystal display panel |
-
1991
- 1991-02-04 JP JP3035446A patent/JP2766942B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS642096A (en) * | 1987-06-25 | 1989-01-06 | Toshiba Corp | Positioning device for liquid crystal display panel |
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US8531444B2 (en) | 2009-12-11 | 2013-09-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Image display apparatus, control method thereof, and computer-readable storage medium |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0527704A (en) | 1993-02-05 |
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