JP2021076531A - 3次元計測装置及び3次元計測方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】3次元計測装置は、物体に対してパターン光を照射する投影装置と、パターン光が照射された物体の全領域を撮像するように配置され、それぞれが物体の部分的な領域を撮像する複数の撮像装置と、複数の撮像装置のそれぞれから物体の部分的な領域の画像データを取得するとともに、複数の画像データに対応する物体の部分的な領域の3次元形状を算出し、算出された複数の物体の部分的な領域の3次元形状を合成して物体の全体的な形状を特定する制御装置と、を備える。
【選択図】図1
Description
<3次元計測装置>
図1を用いて、第1実施形態について説明する。図1は、第1実施形態に係る3次元計測装置の一例を示す模式図である。
図6を用いて、第1実施形態に係る制御装置5の構成の一例について説明する。図6は、第1実施形態に係る制御装置5の構成の一例を示す機能ブロック図である。
次に、図7を用いて、第1実施形態に係る3次元計測方法について説明する。図7は、第1実施形態に係る3次元計測方法の一例を示すフローチャートである。
図15を用いて、第2実施形態について説明する。図15は、第2実施形態に係る3次元計測装置1Aの一例を示す模式図である。
図19は、各実施形態に係るコンピュータシステム1000を示すブロック図である。上述の制御装置5,5Aは、コンピュータシステム1000を含む。コンピュータシステム1000は、CPU(Central Processing Unit)のようなプロセッサ1001と、ROM(Read Only Memory)のような不揮発性メモリ及びRAM(Random Access Memory)のような揮発性メモリを含むメインメモリ1002と、ストレージ1003と、入出力回路を含むインターフェース1004とを有する。制御装置5,5Aの機能は、プログラムとしてストレージ1003に記憶されている。プロセッサ1001は、プログラムをストレージ1003から読み出してメインメモリ1002に展開し、プログラムに従って上述の処理を実行する。なお、プログラムは、ネットワークを介してコンピュータシステム1000に配信されてもよい。
Claims (6)
- 物体に対してパターン光を照射する投影装置と、
前記パターン光が照射された前記物体の全領域を撮像するように配置され、それぞれが前記物体の部分的な領域を撮像する複数の撮像装置と、
複数の前記撮像装置のそれぞれから前記物体の部分的な領域の画像データを取得するとともに、複数の前記画像データに対応する前記物体の部分的な領域の3次元形状を算出し、算出された複数の前記物体の部分的な領域の3次元形状を合成して前記物体の全体的な3次元形状を特定する制御装置と、
を備える、3次元計測装置。 - 複数の前記撮像装置は、前記物体に対向して2次元に配置されている、
請求項1に記載の3次元計測装置。 - 複数の前記撮像装置は、マトリックス状に配置されている、
請求項2に記載の3次元計測装置。 - 前記投影装置は、正弦波状の明度分布の縞パターン光を位相シフトさせながら前記物体に照射する、
請求項1〜3のいずれか1項に記載の3次元計測装置。 - 複数の撮像装置は、通常画角で前記物体を撮像する第1カメラと、通常画角に対して広角で前記物体を撮像する第2カメラとを含み、
前記制御装置は、前記物体に応じて前記物体を撮像するために前記第1カメラと前記第2カメラとを設定する、
請求項1〜4のいずれか1項に記載の3次元計測装置。 - 物体に対してパターン光を照射することと、
前記パターン光が照射された前記物体の全領域を撮像するように、前記物体の複数の部分的な領域を撮像することと、
前記物体の複数の部分的な領域の画像データを取得するとともに、複数の前記画像データに対応する前記物体の部分的な領域の3次元形状を算出し、算出された前記物体の複数の部分的な領域の3次元形状を合成して前記物体の全体的な3次元形状を特定することと、
を含む、3次元計測方法。
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