JP2018056484A - 電子機器 - Google Patents
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Abstract
【課題】電磁波の遮蔽性を向上する。【解決手段】電子機器は、第1面及び第1面の反対側の第2面に回路部が形成された基板と、基板を収容する筐体であって、第1面の回路部を包囲する第1リブと、第1リブに対向し、第2面の回路部を包囲する第2リブとを有する筐体とを備える。基板は、第1リブと接触するように第1面に形成された第1接地パターンと、第2リブと接触するように第2面に形成された第2接地パターンと、第1接地パターン又は第2接地パターンを厚み方向から見た場合の輪郭線に接する位置において第1接地パターンと第2接地パターンとを接続する複数のビアとを有する。【選択図】図6
Description
本発明は、電子機器に関する。
各種の電子機器では、両面に回路部が形成された基板が筐体に収容されることが多く、基板から発生する電磁波や、筐体の外部から基板へ侵入する電磁波を遮蔽することが重要である。このため、基板の両面の回路部を電磁的に隔離する構造が採用される。
例えば、互いに対向し、基板の両面の回路部をそれぞれ包囲する一対のリブを筐体に設け、一対のリブと接触する接地パターンを基板の両面に形成し、基板が接地パターンを介して一対のリブに挟まれた状態で、接地パターンをビアで接続する構造がある。この構造では、基板の両面の回路部が、筐体、筐体に設けられた一対のリブ、基板の両面の接地パターン、及びビアによって隔離される。結果として、基板から発生する電磁波や、筐体の外部から基板へ侵入する電磁波が、筐体、筐体に設けられた一対のリブ、基板の両面の接地パターン、及びビアによって遮蔽される。
しかしながら、基板の両面の接地パターンをビアで接続する場合には、電磁波の遮蔽性が低下することがあるという問題がある。
すなわち、基板の両面の接地パターンをビアで接続する場合には、ビアは、一般的に、各接地パターンと、筐体に設けられた一対のリブとの接触部分に形成される。このため、各接地パターンには、各接地パターンを厚み方向から見た場合の輪郭線に向けてビアから突出する部分(以下「接地パターン突出部」と呼ぶ)が形成される。各接地パターンに接地パターン突出部が形成されると、接地パターン突出部が、特定の波長を有する電磁波に対してアンテナとして機能する。このため、基板の両面の接地パターンをビアで接続したとしても、接地パターン突出部が意図しない電磁波を送信または受信してしまい、結果として、電磁波の遮蔽性が低下する恐れがある。
開示の技術は、上記に鑑みてなされたものであって、電磁波の遮蔽性を向上することができる電子機器を提供することを目的とする。
本願の開示する電子機器は、一つの態様において、第1面及び前記第1面の反対側の第2面に回路部が形成された基板と、前記基板を収容する筐体であって、前記第1面の回路部を包囲する第1リブと、前記第1リブに対向し、前記第2面の回路部を包囲する第2リブとを有する筐体とを備え、前記基板は、前記第1リブと接触するように前記第1面に形成された第1接地パターンと、前記第2リブと接触するように前記第2面に形成された第2接地パターンと、前記第1接地パターン又は前記第2接地パターンを厚み方向から見た場合の輪郭線に接する位置において前記第1接地パターンと前記第2接地パターンとを接続する複数のビアとを有する。
本願の開示する電子機器の一つの態様によれば、電磁波の遮蔽性を向上することができるという効果を奏する。
以下に、本願の開示する電子機器の実施例を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施例により開示技術が限定されるものではない。
図1は、本実施例の電子機器の外観を示す斜視図である。図2は、本実施例の電子機器の分解斜視図である。図1及び図2に示すように、本実施例の電子機器100は、基板110と、筐体120とを有する。
基板110の第1面及び第2面には、回路部111、コネクタ部112,113、及びアンテナ部114が形成される。ここで、基板110の第1面及び第2面とは、基板110の表面及び裏面に対応する。以下においては、図2に図示された面を第1面と呼び、図2に図示された面の反対側の面を第2面と呼ぶ。図2では、基板110の第1面に形成された回路部111、コネクタ部112,113、及びアンテナ部114が示される。しかしながら、基板110の第2面にも回路部111、コネクタ部112,113、及びアンテナ部114が形成されているものとする。回路部111は、各種の回路が実装される領域である。コネクタ部112,113は、各種のコネクタが実装される領域である。アンテナ部114は、アンテナが実装される領域である。なお、基板110の詳細は後述する。
筐体120は、電磁波の遮蔽性を有する材料により形成され、上側ケース130と、下側ケース140とを有する。上側ケース130と下側ケース140とが基板110を挟むように嵌合されることによって、基板110が筐体120に収容される。また、上側ケース130、下側ケース140、及び基板110は、ネジ150によって固定される。また、上側ケース130及び下側ケース140には、それぞれ、樹脂製のカバー131及びカバー141が取り付けられる。基板110の第1面及び第2面に形成されたアンテナ部114は、カバー131及びカバー141によって覆われる。
図3は、上側ケースを基板側から見た場合の平面図である。図4は、下側ケースを基板側から見た場合の平面図である。上側ケース130には、図3に示すように、基板110の第1面の回路部111を包囲する上側リブ132が形成される。一方で、下側ケース140には、図4に示すように、上側リブ132に対向し、基板110の第2面の回路部111を包囲する下側リブ142が形成される。
次に、図2及び図5〜図9を参照して、基板110の詳細を説明する。図5は、基板を第1面から見た場合の平面図である。図6は、基板が筐体に収容された状態を示す断面図である。なお、図6は、図1のI−I線における断面図に相当する。図7は、図6のJ部分を拡大して示す拡大断面図である。
図2及び図5〜図7に示すように、基板110は、第1接地パターン115と、第2接地パターン116と、複数のビア117とを有する。
第1接地パターン115は、上側ケース130の上側リブ132と接触するように基板110の第1面に形成される。第2接地パターン116は、下側ケース140の下側リブ142と接触するように基板110の第2面に形成される。つまり、上側ケース130と下側ケース140とが嵌合される際に、第1接地パターン115と上側リブ132とが接触し、第2接地パターン116と下側リブ142とが接触する。これにより、基板110は、図6及び図7に示すように、上側リブ132と第1接地パターン115との接触部分及び下側リブ142と第2接地パターン116との接触部分において、上側リブ132及び下側リブ142によって挟まれる。
複数のビア117は、基板110を貫通して第1接地パターン115と第2接地パターン116とを接続する。
このように、複数のビア117は、基板110が、第1接地パターン115及び第2接地パターン116を介して上側リブ132及び下側リブ142によって挟まれた状態で、第1接地パターン115と第2接地パターン116とを接続する。このため、基板110の第1面の回路部111及び第2面の回路部111が、筐体120、上側リブ132、下側リブ142、第1接地パターン115、第2接地パターン116及び複数のビア117によって隔離される。結果として、基板110から発生する電磁波や、筐体120の外部から基板110へ侵入する電磁波が、筐体120、上側リブ132及び下側リブ142、第1接地パターン115及び第2接地パターン116及び複数のビア117によって遮断される。
ここで、複数のビア117の詳細を説明する。図8は、図7に示した第1接地パターンを厚み方向から見た場合の平面図である。なお、図8に示す例では、第1接地パターン115を厚み方向から見た場合の輪郭線と、第2接地パターン116を厚み方向から見た場合の輪郭線とは一致するものとする。ここで、第1接地パターン115又は第2接地パターン116を厚み方向から見た場合の輪郭線には、第1輪郭線O1と、第2輪郭線O2とが含まれる。第1輪郭線O1は、上側リブ132及び下側リブ142よりも基板110の第1面の回路部111及び基板110の第2面の回路部111に近い輪郭線である。第2輪郭線O2は、上側リブ132及び下側リブ142を基準として第1輪郭線O1とは反対側に存在する輪郭線である。
図8に示すように、複数のビア117は、第1接地パターン115又は第2接地パターン116を厚み方向から見た場合の輪郭線(第1輪郭線O1又は第2輪郭線O2)に接する位置において、第1接地パターン115と第2接地パターン116とを接続する。具体的には、複数のビア117は、上側リブ132又は下側リブ142と、第1接地パターン115又は第2接地パターン116との接触部分Cに複数のビア117が重ならないように、輪郭線(第1輪郭線O1又は第2輪郭線O2)に接する位置に形成される。本実施例では、複数のビア117は、第1輪郭線O1に接する位置に形成された複数の第1ビア117aと、第2輪郭線O2に接する位置に形成された複数の第2ビア117bとを有する。
図9は、複数の第1ビア及び複数の第2ビアの配置態様を説明するための図である。図9に示すように、複数の第1ビア117a及び複数の第2ビア117bは、上側リブ132又は下側リブ142と、第1接地パターン115又は第2接地パターン116との接触部分Cから等距離に配置される。すなわち、複数の第1ビア117aと接触部分Cとの間の距離と、複数の第2ビア117bと接触部分Cとの間の距離とは、共にL1である。
また、複数の第1ビア117aは、互いに等間隔で配置され、複数の第2ビア117bは、互いに等間隔で配置される。すなわち、複数の第1ビア117aの間隔は、全てL2であり、複数の第2ビア117bの間隔は、全てL2である。
このように、複数のビア117は、第1輪郭線O1又は第2輪郭線O2に接する位置において、第1接地パターン115と第2接地パターン116とを接続する。このため、第1接地パターン115及び第2接地パターン116の各々には、第1輪郭線O1又は第2輪郭線O2に向けて複数のビア117から突出する部分、すなわち、接地パターン突出部が形成されない。したがって、第1接地パターン115及び第2接地パターン116が意図しない電磁波を送信又は受信する事態が回避される。結果として、電磁波の遮蔽性を向上することができる。
以上のように本実施例によれば、基板の第1面及び第2面に形成された2つの接地パターンを介して、基板が筐体の一対のリブによって挟まれた状態で、各接地パターンの輪郭線に接する位置において2つの接地パターンを複数のビアにより接続する。これにより、基板の第1面及び第2面に形成された2つの接地パターンの各々には、接地パターン突出部が形成されない。このため、基板の第1面及び第2面に形成された2つの接地パターンが意図しない電磁波を送信又は受信する事態が回避される。結果として、電磁波の遮蔽性を向上することができる。
また、本実施例によれば、筐体の各リブと、基板の各接地パターンとの接触部分に複数のビアが重ならないように、各接地パターンの輪郭線に接する位置に複数のビアを形成する。これにより、筐体の各リブと、基板の各接地パターンとの接触部分においてビアに起因した隆起が形成されないので、筐体の各リブと、基板の各接地パターンとの接触不良が回避される。このため、筐体の各リブと、基板の各接地パターンとの間に、電磁波の通過を許容する隙間が形成されない。結果として、電磁波の遮蔽性をより向上することができる。
また、本実施例によれば、各接地パターンの輪郭線のうち、基板の第1面及び第2面の回路部に近い第1輪郭線に接する位置に複数の第1ビアを形成し、筐体の各リブを基準として第1輪郭線とは反対側の第2輪郭線に接する位置に複数の第2ビアを形成する。これにより、基板の第1面及び第2面に形成された2つの接地パターンの間の空間に関して、電磁波の遮蔽性をより向上することができる。
また、本実施例によれば、複数の第1ビア及び複数の第2ビアは、筐体の各リブと、基板の各接地パターンとの接触部分から等距離に配置され、複数の第1ビアは、互い等間隔で配置され、複数の第2ビアは、互いに等間隔で配置される。これにより、基板製造段階で接地パターンを形成する際、メッキ層内部の応力分布が均等化し、メッキ表面の平坦度を向上させることができる。このため、筐体の各リブと、基板の各接地パターンとの接触をより安定化することができる。
なお、上記実施例においては、複数の第1ビア117aと複数の第2ビア117bとは、図10に示すように、互いに千鳥状に配置されても良い。図10は、複数の第1ビア及び複数の第2ビアの配置態様の変形例を説明するための図である。図10において、図9と同じ部分には同じ符号を付す。
図10に示すように、複数の第1ビア117aと複数の第2ビア117bとは、複数の第2ビア117b間の間隙が各第1ビア117aによって遮蔽された状態で、互いに千鳥状に配置される。
このように、複数の第1ビア117aと複数の第2ビア117bとを互いに千鳥状に配置することにより、複数の第1ビア117a間の間隙及び複数の第2ビア117b間の間隙に関して、電磁波の遮蔽性をより向上することができる。
また、上記実施例において説明した電子機器100は、例えば自動車等の移動体に配置することができる。自動車等の移動体では、一般に電磁妨害(EMI:Electro Magnetic Interference)に関する規格が厳格である。このような移動体に電子機器100が配置されることにより、移動体から漏洩する電磁波を抑制することができる。結果として、移動体において、EMIに関する規格が満たされる。
100 電子機器
110 基板
111 回路部
115 第1接地パターン
116 第2接地パターン
117 ビア
117a 第1ビア
117b 第2ビア
120 筐体
130 上側ケース
132 上側リブ
140 下側ケース
142 下側リブ
150 ネジ
110 基板
111 回路部
115 第1接地パターン
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117 ビア
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130 上側ケース
132 上側リブ
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142 下側リブ
150 ネジ
Claims (5)
- 第1面及び前記第1面の反対側の第2面に回路部が形成された基板と、
前記基板を収容する筐体であって、前記第1面の回路部を包囲する第1リブと、前記第1リブに対向し、前記第2面の回路部を包囲する第2リブとを有する筐体とを備え、
前記基板は、
前記第1リブと接触するように前記第1面に形成された第1接地パターンと、
前記第2リブと接触するように前記第2面に形成された第2接地パターンと、
前記第1接地パターン又は前記第2接地パターンを厚み方向から見た場合の輪郭線に接する位置において前記第1接地パターンと前記第2接地パターンとを接続する複数のビアとを有することを特徴とする電子機器。 - 前記複数のビアは、
前記第1リブ又は前記第2リブと、前記第1接地パターン又は前記第2接地パターンとの接触部分に前記複数のビアが重ならないように、前記輪郭線に接する位置に形成されることを特徴とする請求項1に記載の電子機器。 - 前記輪郭線には、前記第1リブ及び前記第2リブよりも前記第1面の回路部及び前記第2面の回路部に近い第1輪郭線と、前記第1リブ及び前記第2リブを基準として前記第1輪郭線とは反対側に存在する第2輪郭線とが含まれ、
前記複数のビアは、
前記第1輪郭線に接する位置に形成された複数の第1ビアと、
前記第2輪郭線に接する位置に形成された複数の第2ビアと
を有することを特徴とする請求項1又は2に記載の電子機器。 - 前記複数の第1ビア及び前記複数の第2ビアは、前記第1リブ又は前記第2リブと、前記第1接地パターン又は前記第2接地パターンとの接触部分から等距離に配置され、
前記複数の第1ビアは、互いに等間隔で配置され、
前記複数の第2ビアは、互いに等間隔で配置されることを特徴とする請求項3に記載の電子機器。 - 前記複数の第1ビアと前記複数の第2ビアとは、互いに千鳥状に配置されることを特徴とする請求項3又は4に記載の電子機器。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2016193719A JP2018056484A (ja) | 2016-09-30 | 2016-09-30 | 電子機器 |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
JP2016193719A JP2018056484A (ja) | 2016-09-30 | 2016-09-30 | 電子機器 |
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---|---|
JP2018056484A true JP2018056484A (ja) | 2018-04-05 |
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---|---|---|---|
JP2016193719A Pending JP2018056484A (ja) | 2016-09-30 | 2016-09-30 | 電子機器 |
Country Status (1)
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JP (1) | JP2018056484A (ja) |
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2016
- 2016-09-30 JP JP2016193719A patent/JP2018056484A/ja active Pending
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