JP2012242454A - 露光装置及び遮光板 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】露光用マスク20は、表示パネルに対応するパターン領域20aが複数個配列されている。マイクロレンズアレイ22は、スキャン方向に垂直の方向に2個のマイクロレンズアレイチップ22aが、その一部がこのスキャン方向に垂直の方向に相互に重なるように設けられている。遮光板30は、マイクロレンズアレイチップ22aの一部を遮光するものであり、遮光板30の開口部は、一方のマイクロレンズアレイチップ22aが2個のパターン領域20aのみを露光し、他方のマイクロレンズアレイチップ22aが他の3個のパターン領域20aのみを露光するように、マイクロレンズアレイチップの光透過を規制する。
【選択図】図1
Description
を有し、
前記マイクロレンズアレイは、前記第1方向に直交する第2方向に複数個のマイクロレンズアレイチップがその一部が相互に前記第1方向に重なるように配置されて構成され、
前記遮光板は、各前記マイクロレンズアレイチップが1又は複数個の前記パターン領域に対応し、各前記パターン領域が1個のマイクロレンズアレイチップにのみ対応するように、前記マイクロレンズアレイチップを振り分けた場合に、マイクロレンズアレイチップにおける光透過が不要な領域を遮光し、光透過が必要な領域に開口部を有するものであることを特徴とする。
露光光としては、水銀ランプ光等が使用される。なお、本発明におけるパネルとは、液晶表示パネルの画素領域及びその周辺領域を意味し、マスクに形成される露光用パターンは、画素領域のパターン及びその周辺領域の回路パターンを含むものである。
前記複数個のマイクロレンズアレイチップは、その一部が相互に前記マイクロレンズアレイチップの配列方向に垂直の方向に重なるように配置されており、
前記遮光板は、
各前記マイクロレンズアレイチップが1又は複数個の前記パターン領域に対応し、各前記パターン領域が1個のマイクロレンズアレイチップにのみ対応するように、前記マイクロレンズアレイチップを振り分けた場合に、マイクロレンズアレイチップにおける光透過が不要な領域を遮光し、光透過が必要な領域に開口部を有するものであることを特徴とする。
Claims (3)
- 露光光を発光する光源と、この光源からの露光光が入射され露光すべきパターンが複数個のパネルに対応して夫々形成された複数個のパターン領域を有するマスクと、このマスクを透過した露光光が入射され前記マスクのパターンの正立等倍像を基板上に結像させるマイクロレンズアレイと、このマイクロレンズアレイを支持するホルダと、このホルダに取り付けられ前記マイクロレンズアレイの光透過領域を規制する遮光板と、前記光源と前記マイクロレンズアレイとの位置関係を固定した状態で、前記マスク及び前記基板を前記光源及び前記マイクロレンズアレイに対して相対的に移動させて前記露光光を前記基板上で第1方向にスキャンする駆動装置と、前記駆動装置及び前記光源を制御する制御装置と、
を有し、
前記マイクロレンズアレイは、前記第1方向に直交する第2方向に複数個のマイクロレンズアレイチップがその一部が相互に前記第1方向に重なるように配置されて構成され、
前記遮光板は、各前記マイクロレンズアレイチップが1又は複数個の前記パターン領域に対応し、各前記パターン領域が1個のマイクロレンズアレイチップにのみ対応するように、前記マイクロレンズアレイチップを振り分けた場合に、マイクロレンズアレイチップにおける光透過が不要な領域を遮光し、光透過が必要な領域に開口部を有するものであることを特徴とする露光装置。 - 前記マイクロレンズアレイに対し、前記開口部の前記第2方向の長さが異なる複数個の遮光板が用意され、前記パターン領域の大きさに応じて、前記複数個の遮光板のうちの一つが選択されて使用されることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
- 複数個のパターン領域を有するマスクを透過した露光光が入射され、前記マスクのパターンの正立等倍像を基板上に結像させる複数個のマイクロレンズアレイチップが配列されたマイクロレンズアレイに対し、このマイクロレンズアレイを支持するホルダに取り付けられ、前記マイクロレンズアレイの光透過領域を規制する遮光板であって、
前記複数個のマイクロレンズアレイチップは、その一部が相互に前記マイクロレンズアレイチップの配列方向に垂直の方向に重なるように配置されており、
前記遮光板は、
各前記マイクロレンズアレイチップが1又は複数個の前記パターン領域に対応し、各前記パターン領域が1個のマイクロレンズアレイチップにのみ対応するように、前記マイクロレンズアレイチップを振り分けた場合に、マイクロレンズアレイチップにおける光透過が不要な領域を遮光し、光透過が必要な領域に開口部を有するものであることを特徴とする遮光板。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014139644A (ja) * | 2013-01-21 | 2014-07-31 | Nikon Corp | 露光方法、露光装置、デバイス製造方法及びマスク |
JP2016114681A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | 三菱電機株式会社 | 液晶表示装置とその製造方法 |
JP2017126091A (ja) * | 2017-04-20 | 2017-07-20 | 株式会社ニコン | 露光方法、露光装置、デバイス製造方法及びマスク |
CN115457299A (zh) * | 2022-11-14 | 2022-12-09 | 中国科学院光电技术研究所 | 传感芯片投影光刻机匹配方法 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN118657110A (zh) * | 2024-08-21 | 2024-09-17 | 合肥晶合集成电路股份有限公司 | 一种版图结构的形成方法 |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0757986A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-03-03 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH09244255A (ja) * | 1996-03-13 | 1997-09-19 | Nikon Corp | 液晶用露光装置 |
JPH11125912A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-05-11 | Nikon Corp | 走査型露光装置及び走査露光方法 |
JP2004335864A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法 |
JP2005221596A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
JP2006148123A (ja) * | 2004-11-22 | 2006-06-08 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2007057791A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | V Technology Co Ltd | 露光装置 |
JP2007108559A (ja) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Nikon Corp | 走査型露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2007281317A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | V Technology Co Ltd | 露光装置 |
JP2008197226A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Fujifilm Corp | ポジ型感光性組成物及びパターン形成方法 |
JP2008263090A (ja) * | 2007-04-12 | 2008-10-30 | Nikon Corp | パターンジェネレータ、パターン形成装置及びパターン生成方法 |
JP2009104110A (ja) * | 2007-10-22 | 2009-05-14 | Samsung Electronics Co Ltd | 露光装置及びその制御方法 |
JP2009277900A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-11-26 | V Technology Co Ltd | 露光装置及びフォトマスク |
JP2010004015A (ja) * | 2008-06-19 | 2010-01-07 | Nikon Corp | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2010048986A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | V Technology Co Ltd | 露光装置及びそれに使用するフォトマスク |
JP2010102149A (ja) * | 2008-10-24 | 2010-05-06 | V Technology Co Ltd | 露光装置及びフォトマスク |
JP2010521067A (ja) * | 2007-03-14 | 2010-06-17 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | マスクレスリソグラフィ用の最適なラスタ化 |
JP2010197628A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 |
JP2012181285A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | V Technology Co Ltd | マイクロレンズアレイを使用した露光装置 |
-
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Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0757986A (ja) * | 1993-06-30 | 1995-03-03 | Nikon Corp | 露光装置 |
JPH09244255A (ja) * | 1996-03-13 | 1997-09-19 | Nikon Corp | 液晶用露光装置 |
JPH11125912A (ja) * | 1997-10-22 | 1999-05-11 | Nikon Corp | 走査型露光装置及び走査露光方法 |
JP2004335864A (ja) * | 2003-05-09 | 2004-11-25 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法 |
JP2005221596A (ja) * | 2004-02-04 | 2005-08-18 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | パターン描画装置 |
JP2006148123A (ja) * | 2004-11-22 | 2006-06-08 | Asml Netherlands Bv | リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 |
JP2007057791A (ja) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | V Technology Co Ltd | 露光装置 |
JP2007108559A (ja) * | 2005-10-17 | 2007-04-26 | Nikon Corp | 走査型露光装置及びデバイスの製造方法 |
JP2007281317A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | V Technology Co Ltd | 露光装置 |
JP2008197226A (ja) * | 2007-02-09 | 2008-08-28 | Fujifilm Corp | ポジ型感光性組成物及びパターン形成方法 |
JP2010521067A (ja) * | 2007-03-14 | 2010-06-17 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | マスクレスリソグラフィ用の最適なラスタ化 |
JP2008263090A (ja) * | 2007-04-12 | 2008-10-30 | Nikon Corp | パターンジェネレータ、パターン形成装置及びパターン生成方法 |
JP2009104110A (ja) * | 2007-10-22 | 2009-05-14 | Samsung Electronics Co Ltd | 露光装置及びその制御方法 |
JP2009277900A (ja) * | 2008-05-15 | 2009-11-26 | V Technology Co Ltd | 露光装置及びフォトマスク |
JP2010004015A (ja) * | 2008-06-19 | 2010-01-07 | Nikon Corp | 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法 |
JP2010048986A (ja) * | 2008-08-21 | 2010-03-04 | V Technology Co Ltd | 露光装置及びそれに使用するフォトマスク |
JP2010102149A (ja) * | 2008-10-24 | 2010-05-06 | V Technology Co Ltd | 露光装置及びフォトマスク |
JP2010197628A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Nikon Corp | 露光装置、露光方法、およびデバイス製造方法 |
JP2012181285A (ja) * | 2011-02-28 | 2012-09-20 | V Technology Co Ltd | マイクロレンズアレイを使用した露光装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014139644A (ja) * | 2013-01-21 | 2014-07-31 | Nikon Corp | 露光方法、露光装置、デバイス製造方法及びマスク |
JP2016114681A (ja) * | 2014-12-12 | 2016-06-23 | 三菱電機株式会社 | 液晶表示装置とその製造方法 |
JP2017126091A (ja) * | 2017-04-20 | 2017-07-20 | 株式会社ニコン | 露光方法、露光装置、デバイス製造方法及びマスク |
CN115457299A (zh) * | 2022-11-14 | 2022-12-09 | 中国科学院光电技术研究所 | 传感芯片投影光刻机匹配方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012157409A1 (ja) | 2012-11-22 |
TW201248337A (en) | 2012-12-01 |
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