JP2011030207A - 撮像装置、閃光判定方法およびプログラム - Google Patents
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Abstract
【解決手段】撮像装置1000は、CMOS型撮像素子を用いて画像を連続して撮像する撮像部11と、撮像部11により撮像された画像に基づいて閃光の有無を判定する閃光判定部12と、を備える。閃光判定部12は、撮像部11により撮像された画像の画面下部の所定領域の平均輝度レベルの変化量を監視し、平均輝度レベルの変化量に基づいて閃光の有無を判定する。
【選択図】図1
Description
特許文献1では、所定の部分の明るさ情報を評価値とし、当該評価値と比較対象画像の評価値との差分を取り、その差分が基準値以上であれば、外部閃光の影響ありとする閃光検出処理を行うが、具体的に画面内のどの領域を処理対象として閃光検出処理を行うのかについては示されていない。ここで、(1)監視する領域を画面全体とし、画面全体の平均輝度を評価値として利用する場合と、(2)監視する領域を画面最下部の1ラインのみとして、最下部1ラインの平均輝度を評価値として利用する場合とについて、閃光の検出精度を検証する。
図8(a)、(b)は、撮像画像の画面が一様に輝度レベル20%になっているところに外部閃光により画面下部が輝度レベル100%になっている例を示した図である。図8(a)は画面の9割が外部閃光により輝度が上昇している例であり、図8(b)は画面の1割が外部閃光により輝度が上昇している例である。なお、「輝度レベル100%」とは、SMPTE(Society of Motion Picture and Television Engineers)や電波産業界のスタジオ規格でいうところの白ピークレベルに相当するレベルをいう。そして、この白ピークレベルを「100%」とすることで、「%」により、輝度レベルを含む画像信号のレベル(信号値)を表現する。
図8(a)について、画面全体の平均輝度を計算すると92%になる。一方、図8(b)について画面全体の平均輝度を計算すると28%になる。すなわち、外部閃光があっても画面全体で平均輝度を計算して評価値とすると、高輝度部分のラインがどこから始まるかによって、評価値(この場合は、画面全体の平均輝度レベル)がレベル28%からレベル92%のように大きくばらついてしまう。
この場合、最下部1ラインの平均輝度は、ビデオカメラの動きにより大きく変化してしまう。例えば、ビデオカメラにおいて、チルト操作や手振れが発生したときは、撮像画像(フレーム画像)の画面最下部で撮像していた被写体(物体)が上下方向に動くため、1ラインの平均輝度が大きく変化してしまう。図8(c)は、撮像画像の画面下方から高輝度物体が上方にフレームインしてきた例を示している。図8(c)の場合、撮像画像の最下部ラインの平均輝度は、フレーム間において、レベル20%からレベル50%に急上昇してしまう。閃光検出方法において、閃光を判定する基準値を、1フレーム前のフレーム画像のライン平均輝度レベルの2倍の値に設定すると、図8(c)の場合、現フレームの1フレーム前のフレーム画像の評価値がレベル20%であるので、現フレームのライン平均輝度レベルが40%以上で「閃光あり」と判定される。つまり、上記閃光検出方法では、図8(c)の場合、外部閃光がないにも関わらず「閃光あり」と判定してしまう誤検出を起こしてしまう。
撮像部は、CMOS型撮像素子を含み、被写体光を電気信号に変換し、画像を取得する。判定部は、撮像部により取得された画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した評価値が所定の値以上変化したとき、画像内に閃光の影響があると判定する。
この撮像装置では、判定部により、画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した評価値が所定の値以上変化したとき、画像内に閃光の影響があると判定するので、外部閃光の誤検出や無反応を減らすことができ、閃光の検出精度を高めることができる。
なお、「画像」とは、表示装置において1つの画面を構成することができるものであり、例えば、フレーム画像がこれに該当する。
また、「画面下部」とは、画像の画面の下半分以下の画像領域を含む概念であり、例えば、画像の画面の最下部の1ラインを含む画面の下半分以下の画像領域がこれに該当する。
また、「変化」とは、画像間における変化、例えば、フレーム画像間の変化を含む概念である。例えば、第N番目(Nは整数)のフレーム画像の評価値と、その次のフレームである第N+1番目のフレーム画像の評価値とにおける変化が、「変化」の一例である。
第2の発明は、第1の発明であって、判定部は、画像の画面の最下ラインを含む所定数のラインからなる領域を、閃光検出用監視領域に設定する。
この撮像装置では、外部閃光の影響を最も受けやすい画像の画面の最下ライン(有効画面を構成するラインの最も下に位置するライン)を含む所定数のラインからなる領域を、閃光検出用監視領域に設定するので、外部閃光の影響をより精度よく検出することができる。
第3の発明は、第1または第2の発明であって、判定部は、閃光検出用監視領域をn個(nは2以上の整数)の領域に分割し、n個に分割した領域ごとに、分割領域評価値を算出し、算出したn個の分割領域評価値の全部又は一部の変化量を監視し、監視している分割領域のうちの全ての分割領域における分割領域評価値の変化量に基づいて、画像内の閃光の影響の有無を判定する。
これにより、この撮像装置では、閃光検出用監視領域をn個(nは2以上の整数)の領域に分割した分割領域から算出した分割領域評価値を用いて、より精度よく、閃光検出を行うことができる。
第4の発明は、第1から第3のいずれかの発明であって、判定部により画像内に閃光の影響が有ると判定された場合、撮像部により取得された画像に対して閃光の影響を補正する処理を行う補正部をさらに備える。
第5の発明は、撮像ステップと、判定ステップと、を備える閃光判定方法である。
撮像ステップでは、CMOS型撮像素子を用いて、被写体光を電気信号に変換し、画像を取得する。判定ステップでは、撮像ステップにより取得された画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した評価値が所定の値以上変化したとき、画像内に閃光の影響があると判定する。
これにより、第1の発明と同様の効果を奏する閃光判定方法を実現することができる。
第6の発明は、第5の発明であって、判定ステップでは、画像の画面の最下ラインを含む所定数のラインからなる領域を、閃光検出用監視領域に設定する。
これにより、第2の発明と同様の効果を奏する閃光判定方法を実現することができる。
第7の発明は、第5または第6の発明であって、判定ステップでは、閃光検出用監視領域をn個(nは2以上の整数)の領域に分割し、n個に分割した領域ごとに、分割領域評価値を算出し、算出したn個の分割領域評価値の全部又は一部の変化量を監視し、監視している分割領域のうちの全ての分割領域における分割領域評価値の変化量に基づいて、画像内の閃光の影響の有無を判定する。
第8の発明は、第5から第7のいずれかの発明であって、判定ステップにより画像内に閃光の影響が有ると判定された場合、撮像部により取得された画像に対して閃光の影響を補正する処理を行う補正ステップをさらに備える。
これにより、第4の発明と同様の効果を奏する閃光判定方法を実現することができる。
第9の発明は、撮像ステップと、判定ステップと、を備える閃光判定方法をコンピュータに実行させるプログラムである。
撮像ステップでは、CMOS型撮像素子を用いて、被写体光を電気信号に変換し、画像を取得する。判定ステップでは、撮像ステップにより取得された画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した評価値が所定の値以上変化したとき、画像内に閃光の影響があると判定する。
これにより、第1の発明と同様の効果を奏する閃光判定方法をコンピュータに実行させるプログラムを実現することができる。
<1.1:撮像装置の構成>
図1は、第1実施形態における撮像装置1000のブロック図である。
図1に示すように、撮像装置1000は、被写体からの光を集光するレンズ部10と、レンズ部10により集光した被写体光を電気信号に変換することにより画像信号を取得する撮像部11と、撮像部11により取得された画像信号から外部閃光の有無を検出し、検出結果を閃光検出信号として出力する閃光判定部12と、を備える。また、撮像装置1000は、閃光検出信号に基づいて、撮像部11から出力される画像信号に対して補正処理を行う補正部13と、補正部13の出力に対して画像処理を行う画像処理部14と、を備える。また、撮像装置1000は、画像処理部14から出力される画像信号を表示する表示部15と、画像処理部14から出力される画像信号を記憶する記録部16と、撮像装置1000の各機能部を制御する制御部17と、ユーザからの各種指示を制御部17に伝える操作部18と、を備える。
レンズ部10は、1または複数のレンズから構成され、被写体からの光を集光し、撮像部11の撮像素子面に被写体の光学像を結像させる。レンズ部10は、フォーカス調整機能や、ズーム機能、露光調整機能等を有しており、制御部17からの制御信号により制御される。
撮像部11は、撮像素子(例えば、CMOSイメージセンサ)、およびセンサ駆動部を有し、レンズ部10により集光された被写体からの光を光電変換により電気信号に変換し、画像信号として、閃光判定部12および補正部13に出力する。撮像部11は、連続画像を撮像して、例えば、垂直有効ラインが1080、水平有効画素が1920、フレーム周波数60Hzの順次走査画像信号を出力する。
閃光判定部12は、撮像部11から出力される画像信号を入力とし、連続する各フレームの画像(画像信号により形成されるフレーム画像)を比較し、外部閃光の有無を検出する(フレーム画像内に外部閃光の影響を受けている画像信号があるか否かを検出する)。そして、閃光判定部12は、外光閃光の有無を示す閃光検出信号を補正部13に出力する。
補正部13は、撮像部11から出力される画像信号および閃光判定部12から出力される閃光検出信号を入力とする。補正部13は、閃光検出信号に基づいて、画像信号により形成されるフレーム画像に対して、所定の補正処理を行う。そして、補正部13は、補正処理後の画像信号を画像処理部14に出力する。
画像処理部14は、補正部13から出力される画像信号に対して、所定の画像処理(例えば、カメラ信号処理(例えば、ホワイトバランス処理、ガンマ処理、輝度/色差信号への変換、輪郭強調の処理等))を実行し、画像処理後の画像信号を、表示部15および記録部16に出力する。
表示部15は、画像処理部14から出力される画像信号を所定の表示形式で表示する。
記録部16は、画像処理部14から出力される画像信号を所定の記録形式で記録する。
制御部17は、撮像装置1000の各機能部に対して各種制御信号を出力し、撮像装置1000の各機能部を制御する。
操作部18は、ユーザからの指示を制御部17に伝える。
以上のように構成された撮像装置1000について、各部の動作を説明する。
閃光判定部12は、例えば、図3で示したブロック図の構成により実現される。図3に示すように、閃光判定部12は、輝度演算部31と、ブロック平均演算部32と、保持部33と、比較判定部34と、を備える。
補正部13は、例えば、図4で示したブロック図の構成により実現される。
図4に示すように、補正部13は、選択部35、40、45、39、44、49と、各画素の信号を1フレーム分記憶して1フレーム分(1/60秒)だけ遅延させるメモリ部36、41、46と、加算部37、42、47と、倍率0.5を乗じる乗算部38、43、48と、を備える。
図9は、補正部13からの出力画像を説明するためのタイミング図である。
図9(b)は撮像部11出力の画像を示しており、(2)のフレームで画面下部に白帯が発生している。このフレーム(2)で画面最下部64ラインの領域のブロック平均輝度が上昇し、閃光判定部12からは閃光判定結果として「1」が出力される。この閃光判定部12の出力信号は、図9(c)のようになっており、(2)のフレーム直後に閃光判定結果「1」を示す信号が出力されている。補正部13の出力画像は、図9(d)に示すように、図9(b)に比べ1フレーム分遅延しており、閃光判定部12から閃光判定結果として「1」が出力されているタイミングとその直後のフレームとの2フレームにわたって加算平均処理した補正画面(補正処理を実行したフレーム画像)が現れる(補正部13から出力される)。
画像処理部14は、入力されたR、G、Bの映像信号に対して、ホワイトバランスの調整処理を施し、ガンマ処理、輝度/色差信号への変換処理、輪郭強調の処理等を行ない、輝度/色差の映像信号を出力する。
表示部15は、例えば、液晶パネル上に画像処理部14から出力される映像信号(画像信号)により形成される画像を表示し、操作者がその表示された画像を確認することができる。
記録部16は、画像処理部14から出力される映像信号(画像信号)により形成される画像に対して、例えば、情報圧縮を施した上で半導体メモリ等の記録媒体に、画像データを書き込み、記録する。
例えば、操作者が操作部18の録画ボタンを操作して撮像が要求されたと判断されると、撮像装置1000において、処理(撮像処理)が開始される。
次に、ステップS110では、閃光判定部12が、撮像画像(フレーム画像)の画面最下部64ラインのブロック平均輝度を算出し、算出したブロック平均輝度を評価値とする。
ステップS120では、ステップ110で演算された評価値が、保持部33に書き込まれる。
ステップS130では、撮像部11で撮像された画像が、補正部13内のメモリ部36、41、46に書き込まれる。
ステップS140では、次の1フレームの画像が撮像される。
以上のように動作する第1実施形態における撮像装置1000の閃光検出の精度について検証する。
図10(a)、(b)は、閃光に関係のない画面の部分の輝度がレベル20%、閃光により明るくなった画面の部分の輝度がレベル100%になっている例である。図10(a)は撮像画像(フレーム画像)の画面の上部108ライン目から閃光による白帯(影響)が始まっている例であり、図10(b)は撮像画像(フレーム画像)の画面の下部972ライン目から閃光による白帯(影響)が始まっている例である。
図10(c)は、撮像画像(フレーム画像)の画面の上部108ライン目から閃光による白帯が始まっている例である。図10(d)は、撮像画像(フレーム画像)の画面の下部972ライン目から閃光による白帯が始まっている例である。図10(e)は、撮像画像(フレーム画像)の画面の下部1060ライン目から閃光による白帯が始まっている例である。
図10(d)についても閃光検出領域の平均輝度がレベル100%となり、閃光検出(「閃光あり」と判定)される。さらに、もっと画面下方から白帯が始まることを想定し、図10(e)のように、撮像画像(フレーム画像)の画面下部の1060ライン目から閃光による白帯が始まったとしても、閃光検出領域の平均輝度はレベル45%となり閃光検出(「閃光あり」と判定)される。
また、本実施形態では、撮像部11としてプリズム20と3個のCMOS撮像素子21、24、27を用いたが、これに限定されることはなく、例えば、撮像素子のチップ上にカラーフィルタを配置した単板式のCMOS撮像素子を用いてもよい。
さらに、本実施形態では、フレーム周波数60Hzの順次走査映像を扱い、記録部16に記録するようにしたが、これに限定されることはなく、例えば、フレーム周波数を50Hzや24Hzとしても構わない。また、撮像装置1000において、順次走査から飛越走査への変換を施し、飛越走査の映像として記録するようにしても構わない。
次に、第2実施形態について、図面を参照しながら説明する。
<2.1:撮像装置の構成>
図5は、第2実施形態の撮像装置2000のブロック図である。
図5に示すように、第2実施形態の撮像装置2000は、第1実施形態の撮像装置1000の閃光判定部12を閃光判定部50に置換した構成となっている。なお、本実施形態において、第1実施形態と同様の部分については、同一符号を付して詳細な説明は省略する。
以上のように構成された撮像装置2000について、その動作を説明する。
図6に示すように、閃光判定部50は、輝度演算部51と、フレーム画像の画面最下部64ラインの領域を6つの領域に分割するブロック分割部52と、分割された各ブロックの平均輝度を演算するブロック平均演算部53〜58と、各ブロックの平均輝度を1フレーム分遅延させる保持部59〜64と、比較部65〜70と、閃光の有無を判定する判定部71と、を備える。
輝度演算部51は、入力されたR、G、Bのデジタル映像信号から各画素の輝度信号を計算し、ブロック分割部52に出力する。
次に、ステップS310では、閃光判定部50において、フレーム画像の画面最下部を6つの領域に分割して各ブロックの平均輝度を評価値として演算(算出)する。
ステップS320では、ステップS310で算出された6つの評価値(各ブロックの評価値)が保持部59〜64に書き込まれる。
ステップS330では、ステップS300で撮像された画像を補正部13内のメモリ部36、41、46が書き込まれる。
ステップS340では、次の1フレームの画像が撮像される。
≪閃光検出の精度について≫
以上のように動作する第2実施形態の撮像装置2000の閃光検出の精度について検証する。
撮像装置2000で取得されるフレーム画像の同一ラインに対応する撮像素子面上の同一ラインに属する画素の露光時間は同一、すなわち、同一ラインに属する画素の電荷蓄積時間は、同一であるとみなせるので、図12(a)で示したように閃光を監視する領域を水平方向に6つのブロックに分割しても、外部閃光による影響を受けてフレーム画像上に白帯が発生する場合において、それぞれの分割領域での輝度レベル上昇は同様である。よって、第1実施形態で、図10(c)、(d)、(e)で説明したのと同様に、図10(c)に示すように、フレーム画像の108ライン目から白帯が始まっているときも、図10(d)に示すように、フレーム画像の972ライン目から白帯が始まっているときも、図10(e)に示すように、フレーム画像の1060ライン目から白帯が始まっているときも、現フレームのブロック平均輝度Y0(N)〜Y5(N)の全てが、それぞれ、1フレーム前のブロック平均輝度Y0(N−1)〜Y5(N−1)の2倍以上に上昇する。つまり、下式(1)〜(5)のすべての条件が満たされるため、比較部65〜70出力全てが「1」となり、判定部71の出力も「1」となる。
(1)Y0(N)≧2×Y0(N−1)
(2)Y1(N)≧2×Y1(N−1)
(3)Y2(N)≧2×Y2(N−1)
(4)Y3(N)≧2×Y3(N−1)
(5)Y4(N)≧2×Y4(N−1)
なお、Yk(N)(kは、0〜4のいずれかの整数、Nは自然数)は、N番目のフレーム画像の分割ブロックYk(Y0〜Y4のいずれかの分割ブロック)の評価値(ブロック平均輝度)であり、Yk(N−1)は、N−1番目のフレーム画像(N番目のフレームの1フレーム前のフレーム画像)の分割ブロックYk(Y0〜Y4のいずれかの分割ブロック)の評価値(ブロック平均輝度)である。
このようにして、撮像装置2000では、正常に閃光検出がされる。そして、撮像装置2000では、閃光検出されたフレーム画像に対して補正処理がなされる。つまり、撮像装置2000では、フレーム画像の画面全体の平均輝度を検出領域と設定する場合に比べ、閃光の検出ができない無反応(誤判定)を改善することができる。
図12(b)は、フレーム画像の画面の輝度がレベル20%のところへ、画面の水平方向の長さの半分の大きさを持ち、輝度がレベル80%の物体が下方から上方へ移動し、画面内に32ライン分入ってくる例である。この場合、各ブロックの平均輝度は、Y0=20%、Y1=35%、Y2=50%、Y3=50%、Y4=35%、Y5=20%となる。ここで、Y2とY3については、現フレームの平均輝度レベルが1フレーム前のフレームの平均輝度レベルの2倍以上に上昇しているため、比較部67と68は「1」を出力するが、他の比較部は「0」を出力する。よって、判定部71の出力は「0」となり、撮像装置2000において、閃光検出はされていない結果となる。すなわち、この場合、撮像装置2000において、閃光の誤検出は起こらない。
以上説明したように、フレーム画像の画面全体を閃光検出領域とし平均輝度を監視すると、閃光があるにも関わらず閃光が検出できない無反応が起こるが、第2実施形態の撮像装置2000では、無反応(閃光検出の誤判定)を減らすことができる。また、フレーム画像の画面最下部の1ラインのみを閃光検出領域としてライン平均輝度を監視すると被写体の動きに対して敏感に反応し、誤検出を起こしていたが、第2実施形態の撮像装置2000では、誤検出を減らすことができ、高速で高輝度物体が移動する場合においても誤検出を減らすことができる。よって、第2実施形態の撮像装置2000では、従来の閃光検出方法に比べ、閃光の検出精度が向上している。
[他の実施形態]
なお、上記実施形態で説明した撮像装置において、各ブロックは、LSIなどの半導体装置により個別に1チップ化されても良いし、一部又は全部を含むように1チップ化されても良い。
なお、ここでは、LSIとしたが、集積度の違いにより、IC、システムLSI、スーパーLSI、ウルトラLSIと呼称されることもある。
また、集積回路化の手法はLSIに限るものではなく、専用回路又は汎用プロセサで実現してもよい。LSI製造後に、プログラムすることが可能なFPGA(Field Programmable Gate Array)や、LSI内部の回路セルの接続や設定を再構成可能なリコンフィギュラブル・プロセッサーを利用しても良い。
さらには、半導体技術の進歩又は派生する別技術によりLSIに置き換わる集積回路化の技術が登場すれば、当然、その技術を用いて機能ブロックの集積化を行ってもよい。バイオ技術の適用等が可能性としてあり得る。
また、上記実施形態の各処理をハードウェアにより実現してもよいし、ソフトウェア(OS(オペレーティングシステム)、ミドルウェア、あるいは、所定のライブラリとともに実現される場合を含む。)により実現してもよい。さらに、ソフトウェアおよびハードウェアの混在処理により実現しても良い。なお、上記実施形態に係る撮像装置をハードウェアにより実現する場合、各処理を行うためのタイミング調整を行う必要があるのは言うまでもない。上記実施形態においては、説明便宜のため、実際のハードウェア設計で生じる各種信号のタイミング調整の詳細については省略している。
また、上記実施形態における処理方法の実行順序は、必ずしも、上記実施形態の記載に制限されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で、実行順序を入れ替えることができるものである。
10 レンズ部
11 撮像部
12、50 閃光判定部(判定部)
13 補正部
14 画像処理部
15 表示部
16 記録部
17 制御部
18 操作部
Claims (9)
- CMOS型撮像素子を含み、被写体光を電気信号に変換し、画像を取得する撮像部と、
前記撮像部により取得された前記画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、前記閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した前記評価値が所定の値以上変化したとき、前記画像内に閃光の影響があると判定する判定部と、
を備える撮像装置。 - 前記判定部は、前記画像の画面の最下ラインを含む所定数のラインからなる領域を、前記閃光検出用監視領域に設定する、
請求項1に記載の撮像装置。 - 前記判定部は、前記閃光検出用監視領域をn個(nは2以上の整数)の領域に分割し、n個に分割した領域ごとに、分割領域評価値を算出し、算出したn個の前記分割領域評価値の全部又は一部の変化量を監視し、監視している分割領域のうちの全ての分割領域における前記分割領域評価値の変化量に基づいて、前記画像内の閃光の影響の有無を判定する、
請求項1または2に記載の撮像装置。 - 前記判定部により前記画像内に閃光の影響が有ると判定された場合、前記撮像部により取得された前記画像に対して閃光の影響を補正する処理を行う補正部をさらに備える、
請求項1から3のいずれかに記載の撮像装置。 - CMOS型撮像素子を用いて、被写体光を電気信号に変換し、画像を取得する撮像ステップと、
前記撮像ステップにより取得された前記画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、前記閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した前記評価値が所定の値以上変化したとき、前記画像内に閃光の影響があると判定する判定ステップと、
を備える閃光判定方法。 - 前記判定ステップでは、前記画像の画面の最下ラインを含む所定数のラインからなる領域を、前記閃光検出用監視領域に設定する、
請求項5に記載の閃光判定方法。 - 前記判定ステップでは、前記閃光検出用監視領域をn個(nは2以上の整数)の領域に分割し、n個に分割した領域ごとに、分割領域評価値を算出し、算出したn個の前記分割領域評価値の全部又は一部の変化量を監視し、監視している分割領域のうちの全ての分割領域における前記分割領域評価値の変化量に基づいて、前記画像内の閃光の影響の有無を判定する、
請求項5または6に記載の閃光判定方法。 - 前記判定ステップにより前記画像内に閃光の影響が有ると判定された場合、前記撮像部により取得された前記画像に対して閃光の影響を補正する処理を行う補正ステップをさらに備える、
請求項5から7のいずれかに記載の閃光判定方法。 - CMOS型撮像素子を用いて、被写体光を電気信号に変換し、画像を取得する撮像ステップと、
前記撮像ステップにより取得された前記画像の画面下部の所定領域を閃光検出用監視領域に設定し、前記閃光検出用監視領域から評価値を算出し、算出した前記評価値が所定の値以上変化したとき、前記画像内に閃光の影響があると判定する判定ステップと、
を備える閃光判定方法をコンピュータに実行させるプログラム。
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