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JP2010079429A - Production device for non-contact ic card - Google Patents

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JP2010079429A
JP2010079429A JP2008244573A JP2008244573A JP2010079429A JP 2010079429 A JP2010079429 A JP 2010079429A JP 2008244573 A JP2008244573 A JP 2008244573A JP 2008244573 A JP2008244573 A JP 2008244573A JP 2010079429 A JP2010079429 A JP 2010079429A
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JP
Japan
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card
contact
base material
laminated body
hot melt
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Pending
Application number
JP2008244573A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshihiro Sano
野 敏 弘 佐
Kiyoaki Kawahara
原 清 章 川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a production device for a non-contact IC card allowing smooth carriage between each pair of heating rollers, and equalizing a thickness. <P>SOLUTION: This production device for the non-contact IC card has at least two pairs of heating rollers 27 pinching an IC card laminate body, melting a first hot-melt layer and a second hot-melt layer to bond an inlet sheet, and a front face side base material and a rear face side base material, and disposed at a prescribed interval. A plurality of strip-like reception guides 34 disposed below the carried IC card laminate body are provided in a width direction, between each pair of the heating rollers 27. Strip-like press guides 35 guiding the IC card laminate body between the strip-like press guides 35 and the reception guides 34, disposed above the carried IC card laminate body are provided between each pair of the heating rollers 27. <P>COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT

Description

本発明は、ICチップがアンテナとして機能する導電体に接続されて構成されるインレットシートを有する非接触ICカードの厚みを均一に製造することができる非接触ICカードの製造装置に関する。   The present invention relates to a non-contact IC card manufacturing apparatus capable of uniformly manufacturing a non-contact IC card having an inlet sheet configured by connecting an IC chip to a conductor functioning as an antenna.

近年、リーダ・ライタ等の外部装置と非接触で通信する非接触ICカードが普及しつつある。非接触ICカードの需要は、今後、急速な勢いで拡大していくものと予想されており、これにともなって、高品質の非接触ICカードを低コストで製造することが強く望まれている。   In recent years, contactless IC cards that communicate with external devices such as readers / writers in a contactless manner are becoming popular. The demand for non-contact IC cards is expected to expand rapidly in the future, and accordingly, it is strongly desired to manufacture high-quality non-contact IC cards at low cost. .

非接触ICカードは、第1基材と、第1基材の一方の面に設けられた第1接着剤層とを含む表面側基材と、第2基材と、第2基材の一方の面に設けられた第2接着剤層とを含む裏面側基材とを備えている。また、表面側基材と裏面側基材間に、インレット用基材と、インレット用基材上に設けられたICチップと、ICチップに対応して設けられたアンテナとを含むインレットシートが設けられている(例えば、特許文献1参照)。   The non-contact IC card includes a first base material, a surface-side base material including a first adhesive layer provided on one surface of the first base material, a second base material, and one of the second base materials. The back side base material containing the 2nd adhesive bond layer provided in the surface is provided. Also, an inlet sheet including an inlet base material, an IC chip provided on the inlet base material, and an antenna provided corresponding to the IC chip is provided between the front surface side base material and the back surface side base material. (For example, refer to Patent Document 1).

このような構成からなる非接触ICカードを製造する場合、まず、表面側基材の一方の面に接着剤が塗布されて第1接着剤層が形成されるとともに、裏面側基材の一方の面に接着剤が塗布されて第2接着剤層が形成される。次に、表面側基材とインレットシートと裏面側基材とを積層してICカード積層体が作製され、少なくとも二対の加熱ローラにより第1接着剤層および第2接着剤層を溶融して、表面側基材とインレットシートおよびインレットシートと裏面側基材とが接着される。その後、冷却加圧することにより、表面側基材の第1接着剤層および裏面側基材の第2接着剤層を硬化させている。
特開2003−162697号公報
When manufacturing a non-contact IC card having such a configuration, first, an adhesive is applied to one surface of the surface-side substrate to form a first adhesive layer, and one of the back-side substrate is formed. An adhesive is applied to the surface to form a second adhesive layer. Next, the front side substrate, the inlet sheet, and the back side substrate are laminated to produce an IC card laminate, and the first adhesive layer and the second adhesive layer are melted by at least two pairs of heating rollers. The front surface side substrate and the inlet sheet and the inlet sheet and the back surface side substrate are bonded. Then, the 1st adhesive bond layer of the surface side base material and the 2nd adhesive bond layer of the back surface side base material are hardened by carrying out cooling pressurization.
JP 2003-162697 A

しかしながら、このように各対の加熱ロールによりインレットシートと表面側基材および裏面側基材を接着させる際、各加熱ロールの回転速度が異なる場合、または上方の加熱ロールとICカード積層体との間の摩擦と、下方の加熱ロールとICカード積層体との間の摩擦が異なる場合、または積層体の層構成が中心のアンテナに対して対称ではない場合がある。この場合、この加熱ロールにより第1接着剤層および第2接着剤層は溶融されて流動性を有しているため、インレットシートに対して表面側基材または裏面側基材がずれて、ICカード積層体に反りが発生するという問題がある。   However, when the inlet sheet is bonded to the front surface side base material and the back surface side base material by each pair of heating rolls in this way, when the rotation speed of each heating roll is different, or between the upper heating roll and the IC card laminate The friction between the two and the friction between the lower heating roll and the IC card laminate may be different, or the layer configuration of the laminate may not be symmetric with respect to the central antenna. In this case, since the first adhesive layer and the second adhesive layer are melted by the heating roll and have fluidity, the front side substrate or the back side substrate is displaced from the inlet sheet, and the IC There is a problem that the card stack is warped.

例えば、図7(a)に示すように、上方の加熱ロール40の回転速度と下方の加熱ロール40の回転速度とが等しく、かつICカード積層体41の表面と上方の加熱ロール40との間の摩擦と、ICカード積層体41の裏面と下方の加熱ロール40との間の摩擦が等しく積層体の層構成が中央のアンテナに対して対称である場合、一対の加熱ロール40から送り出されるICカード積層体41は反ることがなく、その厚みが均一に保持される。しかしながら、図7(a)に示すように上方および下方の加熱ロール40の回転速度を等しくし、かつICカード積層体41と上方および下方の加熱ロール40との間の各摩擦を等しくすることは困難である。このため、以下に説明するようにICカード積層体41が反ることがある。   For example, as shown in FIG. 7A, the rotation speed of the upper heating roll 40 is equal to the rotation speed of the lower heating roll 40, and between the surface of the IC card laminate 41 and the upper heating roll 40. And the friction between the back surface of the IC card laminated body 41 and the lower heating roll 40 are equal, and the layer structure of the laminated body is symmetrical with respect to the central antenna, the IC fed from the pair of heating rolls 40 The card laminated body 41 is not warped and the thickness thereof is kept uniform. However, as shown in FIG. 7A, the rotational speeds of the upper and lower heating rolls 40 are equalized, and the friction between the IC card laminate 41 and the upper and lower heating rolls 40 is equalized. Have difficulty. For this reason, the IC card laminated body 41 may be warped as described below.

すなわち、図7(b)に示すように、上方の加熱ロール40の回転速度が下方の加熱ロール40の回転速度よりも大きい場合、またはICカード積層体41の表面と上方の加熱ロール40との間の摩擦が、ICカード積層体41の裏面と下方の加熱ロール40との間の摩擦よりも大きい場合、一対の加熱ロール40から送り出されるICカード積層体41は下方に反る。また、図7(c)に示すように、下方の加熱ロール40の回転速度が上方の加熱ロール40の回転速度よりも大きい場合、またはICカード積層体41の裏面と下方の加熱ロール40との間の摩擦が、ICカード積層体41の表面と上方の加熱ロール40との間の摩擦よりも大きい場合、一対の加熱ロール40から送り出されるICカード積層体41は上方に反る。この問題は、特に、表面側基材の第1基材および裏面側基材の第2基材の厚みが薄い場合、または、第1接着剤層および第2接着剤層を形成する接着剤が高温時に粘度が著しく低下する材料からなっている場合に顕著になる傾向を有している。   That is, as shown in FIG. 7B, when the rotation speed of the upper heating roll 40 is larger than the rotation speed of the lower heating roll 40, or between the surface of the IC card laminate 41 and the upper heating roll 40. When the friction between them is larger than the friction between the back surface of the IC card laminated body 41 and the lower heating roll 40, the IC card laminated body 41 delivered from the pair of heating rolls 40 warps downward. Moreover, as shown in FIG.7 (c), when the rotational speed of the lower heating roll 40 is larger than the rotational speed of the upper heating roll 40, or the back surface of the IC card laminated body 41 and the lower heating roll 40 When the friction between them is larger than the friction between the surface of the IC card laminated body 41 and the upper heating roll 40, the IC card laminated body 41 delivered from the pair of heating rolls 40 warps upward. This problem is particularly caused when the first base material of the front surface side base material and the second base material of the back surface side base material are thin, or when the adhesive forming the first adhesive layer and the second adhesive layer is used. It tends to be prominent when it is made of a material whose viscosity is remarkably lowered at high temperatures.

このようにしてICカード積層体に反りが発生した場合、このICカード積層体を、下流側に配置された次の加熱ロール間に搬送させることは難しく、場合によっては、ICカード積層体の搬送方向側の部分が折り畳まれた状態で下流側の加熱ロール間に搬送されてしまう。このため、各対の加熱ロール間において、ICカード積層体をスムースに搬送させることが困難になる。   When warping occurs in the IC card laminate in this way, it is difficult to transport this IC card laminate between the next heating rolls arranged on the downstream side. It will be conveyed between the heating rolls of a downstream side in the state by which the part of the direction side was folded. For this reason, it becomes difficult to smoothly convey the IC card laminate between each pair of heating rolls.

一方、このような問題に対処するために、図8に示すように、3対の加熱ロール40と、各対の加熱ローラ40間に設けられ、搬送されるICカード積層体41の下方に配置され、ICカード積層体41の幅に対応する幅を有するガイド42とを有する非接触ICカードの製造装置が知られている。このような非接触ICカードの製造装置において、ICカード積層体41を各対の加熱ローラ40間で搬送する場合、ICカード積層体40はガイド42に案内される。しかしながらこの場合、ICカード積層体41は、ICカード積層体41の略全幅に渡ってガイド42と接触する。このことにより、加熱ローラ40により加熱されたICカード積層体41の熱がガイド42に奪われ、ICカード積層体41内の温度が不均一になることがある。   On the other hand, in order to deal with such a problem, as shown in FIG. 8, three pairs of heating rolls 40 and a pair of heating rollers 40 provided between each pair of heating rollers 40 are disposed below the IC card laminated body 41 to be conveyed. A non-contact IC card manufacturing apparatus having a guide 42 having a width corresponding to the width of the IC card laminated body 41 is known. In such a non-contact IC card manufacturing apparatus, when the IC card laminated body 41 is transported between each pair of heating rollers 40, the IC card laminated body 40 is guided by a guide 42. However, in this case, the IC card laminated body 41 contacts the guide 42 over substantially the entire width of the IC card laminated body 41. As a result, the heat of the IC card laminated body 41 heated by the heating roller 40 is taken away by the guide 42, and the temperature in the IC card laminated body 41 may become uneven.

ここで、上述したように、加熱ローラにより第1接着剤層および第2接着剤層は加熱されて溶融された状態になっている。このことにより、この溶融された状態でICカード積層体の温度が不均一になると、第1接着剤層および第2接着剤層を形成する接着剤の粘度の一部が大きくなる。この場合、ICカード積層体の厚みが不均一になり、非接触ICカードの厚みを均一にすることが困難になる。   Here, as described above, the first adhesive layer and the second adhesive layer are heated and melted by the heating roller. Accordingly, when the temperature of the IC card laminated body becomes non-uniform in this molten state, a part of the viscosity of the adhesive forming the first adhesive layer and the second adhesive layer increases. In this case, the thickness of the IC card laminated body becomes non-uniform, and it becomes difficult to make the thickness of the non-contact IC card uniform.

本発明は、このような点を考慮してなされたものであり、各対の加熱ローラ間における搬送をスムースにすることができるとともに、厚みを均一にすることができる非接触ICカードの製造装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of the above points, and can make the conveyance between each pair of heating rollers smooth and make the thickness uniform. The purpose is to provide.

本発明は、第1基材と、第1基材の一方の面に流動性ホットメルトを塗布して形成された第1ホットメルト層とを含む表面側基材と、第2基材と、第2基材の一方の面に流動性ホットメルトを塗布して形成された第2ホットメルト層とを含む裏面側基材と、この表面側基材と裏面側基材との間に介在されたインレットシートとを有するICカード積層体を挟持して加熱することにより、非接触ICカードを製造する非接触ICカードの製造装置において、ICカード積層体を挟持して、第1ホットメルト層および第2ホットメルト層を溶融させてインレットシートと表面側基材および裏面側基材を接着させるとともに、所定間隔をおいて配置された少なくとも二対の加熱ローラと、各対の加熱ローラ間に、幅方向に複数設けられ、搬送されるICカード積層体の下方に配置された帯状の受けガイドと、各対の加熱ローラ間に、幅方向に複数設けられ、搬送されるICカード積層体の上方に配置され、受けガイドとの間でICカード積層体を案内する帯状の抑えガイドと、を備えたことを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   The present invention includes a first base material, a surface-side base material including a first hot melt layer formed by applying a fluid hot melt to one surface of the first base material, a second base material, A back side substrate including a second hot melt layer formed by applying a fluid hot melt to one surface of the second substrate, and interposed between the front side substrate and the back side substrate. In a non-contact IC card manufacturing apparatus for manufacturing a non-contact IC card by sandwiching and heating an IC card laminate having an inlet sheet, the first hot melt layer and The second hot melt layer is melted to adhere the inlet sheet to the front surface side base material and the back surface side base material, and at least two pairs of heating rollers disposed at a predetermined interval, and between each pair of heating rollers, A plurality are provided in the width direction and conveyed. A plurality of strip-shaped receiving guides arranged below the C card laminated body and a pair of heating rollers are provided in the width direction, arranged above the IC card laminated body to be conveyed, and between the receiving guides An apparatus for manufacturing a non-contact IC card, comprising: a band-shaped restraining guide for guiding an IC card laminated body.

本発明は、インレットシートは、インレット用基材と、インレット用基材上に設けられた複数のICチップと、各ICチップに対応して設けられたアンテナとを有し、各抑えガイドは、インレットシートと表面側基材および裏面側基材が接着されたICカード積層体のうち非接触ICカードに対応する領域以外の領域であって、ICカード積層体の幅方向両端側にそれぞれ配置されることを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   In the present invention, the inlet sheet has an inlet base, a plurality of IC chips provided on the inlet base, and an antenna provided corresponding to each IC chip. The area other than the area corresponding to the non-contact IC card in the IC card laminated body in which the inlet sheet, the front surface side base material, and the back surface side base material are bonded to each other. An apparatus for manufacturing a non-contact IC card.

本発明は、各受けガイドは、ICカード積層体のうち非接触ICカードに対応する領域以外の領域に配置されることを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   The present invention is the contactless IC card manufacturing apparatus, wherein each receiving guide is arranged in an area other than the area corresponding to the contactless IC card in the IC card stack.

本発明は、各受けガイドは、ICカード積層体側の面に、多数の突起が形成されていることを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   The present invention is the contactless IC card manufacturing apparatus, wherein each receiving guide has a large number of protrusions formed on the surface on the IC card laminate side.

本発明は、各抑えガイドのICカード積層体側の面に、低摩擦材料がコーティングされていることを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   The present invention is a non-contact IC card manufacturing apparatus, characterized in that the surface of each restraining guide on the side of the IC card laminate is coated with a low friction material.

本発明は、各抑えガイドは、ポリエーテルエーテルケトンからなっていることを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   The present invention is the non-contact IC card manufacturing apparatus, wherein each holding guide is made of polyetheretherketone.

本発明は、各対の加熱ローラ間であってICカード積層体の下方に、裏面側基材に転がり接触する複数のコロが設けられたことを特徴とする非接触ICカードの製造装置である。   The present invention is a non-contact IC card manufacturing apparatus characterized in that a plurality of rollers that are in rolling contact with the back side base material are provided between each pair of heating rollers and below the IC card laminate. .

本発明によれば、各対の加熱ローラ間に、搬送されるICカード積層体の下方に配置された帯状の受けガイドが幅方向に複数設けられるとともに、このICカード積層体の上方に配置された帯状の抑えガイドが幅方向に複数設けられ、各受けガイドと各抑えガイドとの間でICカード積層体が案内される。このため、ICカード積層体が反ることを防止して、ICカード積層体をスムースに搬送させることができる。   According to the present invention, between each pair of heating rollers, a plurality of strip-shaped receiving guides arranged below the IC card laminate to be conveyed are provided in the width direction, and arranged above the IC card laminate. A plurality of strip-shaped holding guides are provided in the width direction, and the IC card stack is guided between each receiving guide and each holding guide. For this reason, it can prevent that an IC card laminated body warps, and can convey an IC card laminated body smoothly.

また、本発明によれば、上述したように、各受けガイドおよび各抑えガイドは帯状に形成されていることにより、各受けガイドおよび各抑えガイドとICカード積層体との接触面積を小さくすることができる。このため、各加熱ローラにより加熱されたICカード積層体の熱が、各受けガイドおよび各抑えガイドに伝わることを抑制することができる。このため、ICカード積層体の温度が不均一になることを抑制することができる。この結果、ICカード積層体の厚みを均一にし、厚みが均一な非接触ICカードを製造することができる。   In addition, according to the present invention, as described above, each receiving guide and each holding guide are formed in a band shape, thereby reducing the contact area between each receiving guide and each holding guide and the IC card laminate. Can do. For this reason, it can suppress that the heat | fever of the IC card laminated body heated by each heating roller is transmitted to each receiving guide and each holding guide. For this reason, it can suppress that the temperature of an IC card laminated body becomes non-uniform | heterogenous. As a result, the thickness of the IC card laminate can be made uniform, and a non-contact IC card having a uniform thickness can be manufactured.

発明の実施の形態
以下、図面を参照して、本発明の実施の形態について説明する。ここで、図1乃至図6は、本発明による非接触ICカードの製造装置の実施の形態を示す図である。このうち、図1は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置によって製造される非接触ICカードの断面構成を示す図であり、図2は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置によって製造される非接触ICカードのインレットシートの一例を示す斜視図であり、図3は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置を示す概略図である。また、図4(a)は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置のうち接着手段の詳細を示す正面図であり、図4(b)は、図4(a)の上面図である。また、図5は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置において作製されるICカード積層体を示す斜視図であり、図6(a)は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置の接着手段において、ICカード積層体の搬送方向側部分が上流側の一対の加熱ローラ間に搬送された状態を示す図であり、図6(b)は、ICカード積層体が各対の加熱ローラ間において搬送されている状態を示す図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. Here, FIG. 1 to FIG. 6 are diagrams showing an embodiment of a non-contact IC card manufacturing apparatus according to the present invention. Among these, FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional configuration of a non-contact IC card manufactured by the non-contact IC card manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 3 is a perspective view showing an example of an inlet sheet of a non-contact IC card manufactured by a contact IC card manufacturing apparatus, and FIG. 3 is a schematic diagram showing a non-contact IC card manufacturing apparatus in an embodiment of the present invention. . 4A is a front view showing details of the bonding means in the non-contact IC card manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention, and FIG. 4B is a top view of FIG. FIG. FIG. 5 is a perspective view showing an IC card laminated body produced by the non-contact IC card manufacturing apparatus in the embodiment of the present invention, and FIG. 6 (a) is a non-view in the embodiment of the present invention. FIG. 6B is a diagram showing a state in which the conveyance direction side portion of the IC card laminate is conveyed between a pair of upstream heating rollers in the bonding means of the contact IC card manufacturing apparatus, and FIG. It is a figure which shows the state in which the body is conveyed between each pair of heating rollers.

まず、図1および図2により、本発明における製造装置によって製造される非接触ICカードについて説明する。ここで、非接触ICカードは、リーダ・ライタ等の外部装置と非接触で通信することができるものである。   First, a non-contact IC card manufactured by the manufacturing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIGS. Here, the contactless IC card can communicate with an external device such as a reader / writer in a contactless manner.

図1に示すように、非接触ICカード1は、第1基材3と、第1基材3の一方の面に流動性ホットメルト14(図3参照)を塗布して形成された第1ホットメルト層4とを含む表面側基材2と、第2基材6と、第2基材6の一方の面に流動性ホットメルト14を塗布して形成された第2ホットメルト層7とを含む裏面側基材5とを備えている。また、図1、図2、および図5に示すように、表面側基材2と裏面側基材5間に、インレット用基材9と、インレット用基材9上に設けられた複数のICチップ11と、各ICチップ11に対応して設けられたアンテナ10とを含むインレットシート8が設けられている。   As shown in FIG. 1, the non-contact IC card 1 is formed by applying a first base material 3 and a flowable hot melt 14 (see FIG. 3) to one surface of the first base material 3. A surface-side substrate 2 including a hot-melt layer 4, a second substrate 6, and a second hot-melt layer 7 formed by applying a flowable hot-melt 14 to one surface of the second substrate 6; The back side base material 5 containing is provided. In addition, as shown in FIGS. 1, 2, and 5, an inlet base 9 and a plurality of ICs provided on the inlet base 9 are provided between the front side base 2 and the back side base 5. An inlet sheet 8 including a chip 11 and an antenna 10 provided corresponding to each IC chip 11 is provided.

図2に示すように、ICチップ11は直方体状に形成され、ICチップ11の厚さは、例えば150μmから300μmとなっている。また、ICチップ11は、情報を記録するためのメモリを含み、外部装置(リーダ・ライタ等)により、アンテナ10を介してICチップ11に記録された情報を読み出したり、アンテナ10を介してICチップ11に新たな情報を書き込んだりすることができるようになっている。そして、非接触ICカード1のこのような機能を発現するための回路配線がICチップ11に書き込まれている。   As shown in FIG. 2, the IC chip 11 is formed in a rectangular parallelepiped shape, and the thickness of the IC chip 11 is, for example, 150 μm to 300 μm. The IC chip 11 includes a memory for recording information, and an external device (reader / writer or the like) reads information recorded on the IC chip 11 via the antenna 10 or IC via the antenna 10. New information can be written on the chip 11. And the circuit wiring for expressing such a function of the non-contact IC card 1 is written in the IC chip 11.

また、図2に示すように、アンテナ10は、インレット用基材9上で略コイル状に形成され、ICチップ11と電気的に接続されている。なお、本実施の形態においては、アンテナ10が略コイル状に形成された例を示したが、これに限定されるものではない。   As shown in FIG. 2, the antenna 10 is formed in a substantially coil shape on the inlet base material 9 and is electrically connected to the IC chip 11. In the present embodiment, an example in which the antenna 10 is formed in a substantially coil shape is shown, but the present invention is not limited to this.

また、アンテナ10は、例えば、スクリーン印刷機を用いて導電性インキをインレット用基材9上に塗布することにより、あるいはインレット用基材9上に銅やアルミニウム等からなる導電性箔を打ち抜き転写することにより、あるいはインレット用基材9上に積層された銅やアルミニウム等からなる導電性箔にエッチングを施して所望の形状にパターニングすること等により、インレット用基材9上に形成することができる。   The antenna 10 can be transferred by, for example, applying conductive ink onto the inlet base material 9 using a screen printing machine, or punching and transferring a conductive foil made of copper, aluminum, or the like onto the inlet base material 9. Or by etching the conductive foil made of copper, aluminum or the like laminated on the inlet base material 9 and patterning it into a desired shape, etc. it can.

また、表面側基材2の第1基材3、裏面側基材5の第2基材6、およびインレットシート8のインレット用基材9は、PETフィルムや紙等からなっている。   Moreover, the 1st base material 3 of the surface side base material 2, the 2nd base material 6 of the back surface side base material 5, and the base material 9 for inlets of the inlet sheet 8 consist of PET film, paper, etc.

また、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7は、いずれもインレットシート8のICチップ11の厚さよりも各々厚く形成されている。また、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を各々形成する流動性ホットメルト14は、湿気硬化型ウレタン樹脂からなっている。   The first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are both formed thicker than the thickness of the IC chip 11 of the inlet sheet 8. The fluid hot melt 14 that forms the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 is made of a moisture-curing urethane resin.

次に、図3により、非接触ICカード1の製造装置20について説明する。非接触ICカード1の製造装置20は、表面側基材2の第1基材3の一方の面に、流動性ホットメルト14を塗布する第1接着剤塗布手段21と、裏面側基材5の第2基材6の一方の面に、流動性ホットメルト14を塗布する第2接着剤塗布手段22とを有している。また、非接触ICカード1の製造装置20は、第1接着剤塗布手段21と第2接着剤塗布手段22の下流側に配置され、表面側基材2と裏面側基材5間にインレットシート8を介在させたICカード積層体12を作製する積層手段23と、積層手段23の下流側に配置され第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を部分的に接合させてICカード積層体12を仮接合する仮接合手段24とを有している。このうち、仮接合手段24は、超音波ウェルダー25からなっているが、超音波ウェルダー25に限らず、熱圧着機29、接着材塗布機30、または粘着材塗布機31を用いても良い。また、非接触ICカード1の製造装置20は、仮接合手段24の下流側に配置されるとともに、ICカード積層体12を溶融させて表面側基材2とインレットシート8とを接着させ、裏面側基材5とインレットシート8とを接着させる接着手段26を有している。また、この接着手段26の下流側に、接着されたICカード積層体12を冷却加圧する冷却加圧手段32が設けられている。この冷却加圧手段32は、ICカード積層体12を挟持する一対の冷却ブロック33を含んでいる。さらに、冷却加圧手段32の下流側に、接着されたICカード積層体12をICチップ11およびアンテナ10毎に断裁する断裁手段28が設けられている。   Next, the manufacturing apparatus 20 of the non-contact IC card 1 will be described with reference to FIG. The non-contact IC card 1 manufacturing apparatus 20 includes a first adhesive applying means 21 for applying the fluid hot melt 14 to one surface of the first base 3 of the front side base 2, and the back side base 5. A second adhesive applying means 22 for applying the fluid hot melt 14 is provided on one surface of the second substrate 6. The non-contact IC card 1 manufacturing apparatus 20 is disposed downstream of the first adhesive application unit 21 and the second adhesive application unit 22, and is an inlet sheet between the front surface side substrate 2 and the back surface side substrate 5. IC card stacking by partially joining the first hot-melt layer 4 and the second hot-melt layer 7 disposed on the downstream side of the stacking means 23 and the stacking means 23 for producing the IC card laminate 12 with 8 interposed Temporary joining means 24 for temporarily joining the body 12 is provided. Among these, the temporary joining means 24 is composed of the ultrasonic welder 25, but is not limited to the ultrasonic welder 25, and a thermocompression bonding machine 29, an adhesive material applying machine 30, or an adhesive material applying machine 31 may be used. The non-contact IC card 1 manufacturing apparatus 20 is disposed on the downstream side of the temporary joining means 24, melts the IC card laminated body 12, adheres the front side substrate 2 and the inlet sheet 8, and back surface Adhesive means 26 for adhering the side substrate 5 and the inlet sheet 8 is provided. Further, a cooling and pressurizing unit 32 for cooling and pressurizing the bonded IC card laminated body 12 is provided on the downstream side of the bonding unit 26. The cooling and pressurizing means 32 includes a pair of cooling blocks 33 that sandwich the IC card laminate 12. Further, a cutting unit 28 is provided on the downstream side of the cooling and pressing unit 32 to cut the bonded IC card laminate 12 for each IC chip 11 and antenna 10.

このうち接着手段26について、詳しく説明する。図3および図4(a)、(b)に示すように、接着手段26は、ICカード積層体12を挟持して、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を溶融させてインレットシート8と表面側基材2および裏面側基材5を接着させるとともに、所定間隔をおいて配置された二対の加熱ローラ27を有している。各対の加熱ローラ27は、ICカード積層体12に対して上方および下方にそれぞれ配置されている。また、各対の加熱ローラ27間に、搬送されるICカード積層体12の下方に配置された帯状の受けガイド34が、このICカード積層体12の幅方向に2つ設けられている。さらに、各対の加熱ローラ27間に、搬送されるICカード積層体12の上方に配置された帯状の抑えガイド35が幅方向に2つ設けられている。なお、各受けガイド34および各抑えガイド35は、各対の加熱ローラ27間において、搬送方向を長手方向として帯状に形成されており、ICカード積層体12から熱が伝わることを抑制できる程度の幅を有している。   Of these, the bonding means 26 will be described in detail. As shown in FIGS. 3 and 4 (a) and 4 (b), the adhesive means 26 sandwiches the IC card laminate 12 and melts the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 to thereby introduce the inlet. The sheet 8 is bonded to the front surface side base material 2 and the back surface side base material 5 and has two pairs of heating rollers 27 arranged at a predetermined interval. Each pair of heating rollers 27 is disposed above and below the IC card laminate 12. Further, two strip-shaped receiving guides 34 are provided between the pair of heating rollers 27 in the width direction of the IC card laminated body 12 and are arranged below the IC card laminated body 12 to be conveyed. Furthermore, between the pair of heating rollers 27, two strip-shaped restraining guides 35 are provided in the width direction, which are arranged above the IC card laminated body 12 to be conveyed. Each receiving guide 34 and each holding guide 35 are formed in a band shape with the conveying direction as a longitudinal direction between each pair of heating rollers 27, and can prevent heat from being transmitted from the IC card laminate 12. It has a width.

また、各受けガイド34および各抑えガイド35は、図4(a)に示すように、上流側端部34a、35aおよび下流側端部34b、35bにおいて傾斜している。このことにより、上流側の加熱ローラ27間から搬送されてくるICカード積層体12をスムースに案内することができる。なお、各受けガイド34および各抑えガイド35は、下流側端部34b、35b近傍において、傾斜していなくても良い。   Each receiving guide 34 and each holding guide 35 are inclined at upstream end portions 34a and 35a and downstream end portions 34b and 35b, as shown in FIG. Thereby, the IC card laminated body 12 conveyed from between the heating rollers 27 on the upstream side can be smoothly guided. The receiving guides 34 and the holding guides 35 do not have to be inclined in the vicinity of the downstream end portions 34b and 35b.

また、各抑えガイド35は、図4(b)に示すように、インレットシート8と表面側基材2および裏面側基材5が接着されたICカード積層体12のうち断裁手段28により断裁されて得られる非接触ICカード1に対応する領域以外の領域であって、ICカード積層体12の幅方向両端側にそれぞれ配置されている(図6(b)参照)。さらに、各抑えガイド35は、さまざまなICカード積層体12の幅に対応して、幅方向に移動可能に構成されている。このことにより、異なるICカード積層体12の幅に容易に対応することができる。   Further, as shown in FIG. 4 (b), each holding guide 35 is cut by the cutting means 28 in the IC card laminate 12 in which the inlet sheet 8, the front surface side base material 2, and the back surface side base material 5 are bonded. It is a region other than the region corresponding to the non-contact IC card 1 obtained in this way, and is disposed on both ends in the width direction of the IC card laminate 12 (see FIG. 6B). Further, each holding guide 35 is configured to be movable in the width direction corresponding to various widths of the IC card laminated body 12. This makes it possible to easily cope with the widths of different IC card laminates 12.

また、各受けガイド34は、ICカード積層体12側の面に、多数の突起が形成されている。とりわけ、各受けガイド34に用いる材料としては、表面に多数の突起が形成された縞鋼板を用いることが好適である。このことにより、ICカード積層体12と各受けガイド34との間の接触面積を低減させて、ICカード積層体12から各受けガイド34に熱が伝わることを抑制することができる。   Each receiving guide 34 has a large number of protrusions on the surface of the IC card laminate 12 side. In particular, as a material used for each receiving guide 34, it is preferable to use a striped steel plate having a large number of protrusions formed on the surface. As a result, the contact area between the IC card laminate 12 and each receiving guide 34 can be reduced, and heat from the IC card laminate 12 to each receiving guide 34 can be suppressed.

また、各抑えガイド35は、ICカード積層体12側の面に、低摩擦材料がコーティングされている。この低摩擦材料としては、テフロン(登録商標)を用いることが好適である。このことにより、ICカード積層体12と各抑えガイド35との間の摩擦を低減させて、ICカード積層体12を各対の加熱ロール27間においてスムースに搬送させることができる。   Each holding guide 35 is coated with a low friction material on the surface on the IC card laminate 12 side. It is preferable to use Teflon (registered trademark) as the low friction material. Thereby, the friction between the IC card laminated body 12 and each holding guide 35 can be reduced, and the IC card laminated body 12 can be smoothly conveyed between each pair of heating rolls 27.

また、各抑えガイド35に用いる材料としては、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)を用いることが好ましい。ここで、ICカード積層体12は、各対の加熱ローラ27により最大で120℃程度まで加熱される。このため、各抑えガイド35にポリエーテルエーテルケトンを用いることにより、各抑えガイド35は、ICカード積層体12が有する熱に耐えることができる。   Moreover, as a material used for each restraining guide 35, it is preferable to use polyether ether ketone (PEEK). Here, the IC card laminated body 12 is heated to about 120 ° C. at the maximum by each pair of heating rollers 27. For this reason, by using polyether ether ketone for each restraining guide 35, each restraining guide 35 can endure the heat which IC card laminated body 12 has.

また、図4(a)、(b)に示すように、各対の加熱ローラ27間であってICカード積層体12の下方に、裏面側基材5に転がり接触する複数のコロ36が設けられている。具体的に説明すると、各コロ36は、対応するコロ軸37を介して固定側部材38に回動自在に連結され、搬送方向に列状に3つのコロが配置され、このコロ36の列が、幅方向に3列形成されている。また、このコロ36に用いる材料としては、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)を用いることが好適である。このことにより、各コロ36は、ICカード積層体12が有する熱に耐えることができる。   Also, as shown in FIGS. 4A and 4B, a plurality of rollers 36 that are in rolling contact with the back-side substrate 5 are provided between each pair of heating rollers 27 and below the IC card laminate 12. It has been. More specifically, each roller 36 is rotatably connected to a fixed member 38 via a corresponding roller shaft 37, and three rollers are arranged in a row in the transport direction. Three rows are formed in the width direction. Moreover, as a material used for this roller 36, it is suitable to use polyetheretherketone (PEEK). Accordingly, each roller 36 can withstand the heat of the IC card laminate 12.

次に、このような構成からなる本実施の形態の作用、すなわち本実施の形態による非接触ICカードの製造装置20を用いた非接触ICカード1の製造方法について説明する。   Next, the operation of the present embodiment having such a configuration, that is, a method for manufacturing the non-contact IC card 1 using the non-contact IC card manufacturing apparatus 20 according to the present embodiment will be described.

まず、図1および図3に示すように、第1基材3と、第1基材3の一方の面に流動性ホットメルト14を塗布して形成された第1ホットメルト層4とを含む表面側基材2を準備する。この場合、まず図5に示すように、多列で多段の非接触ICカード1を作製することができる大きさの第1基材3を準備する。図5において、第1基材3は、2列×3段=6枚の非接触ICカード1を作製することが可能な大きさを持つ。本実施の形態においては、基材を巻いた巻取コアが回転して、1枚の帯状に延びるシート状の基材を連続的に供給する方法ではなく、所謂枚葉状の第1基材3を準備する。このことにより、小ロットの非接触ICカード1を容易に製造することができる。なお、1枚の表面側基材2に対して作製することができる非接触ICカード1の枚数は6枚に限定されるものではない。   First, as shown in FIGS. 1 and 3, a first base 3 and a first hot melt layer 4 formed by applying a fluid hot melt 14 to one surface of the first base 3 are included. The surface side base material 2 is prepared. In this case, first, as shown in FIG. 5, a first base 3 having a size capable of producing a multi-row, multi-stage non-contact IC card 1 is prepared. In FIG. 5, the 1st base material 3 has a magnitude | size which can produce the non-contact IC card 1 of 2 rows x 3 steps = 6 sheets. In the present embodiment, the so-called single-wafer first base material 3 is not a method in which the winding core around which the base material is wound rotates to continuously supply a single sheet-like base material extending in a strip shape. Prepare. As a result, a small-lot non-contact IC card 1 can be easily manufactured. Note that the number of non-contact IC cards 1 that can be produced for one surface-side substrate 2 is not limited to six.

次に、第1接着剤塗布手段21により、第1基材3の裏面に湿気硬化型ウレタン樹脂からなる流動性ホットメルト14を塗布する。この場合、流動性ホットメルト14を塗布して形成される第1ホットメルト層4の厚さは、ICチップ11の厚さよりも厚くなるようにする。このことにより、インレットシート8が有する凹凸形状に影響を受けることなく、非接触ICカード1の表面を平坦にすることができる。   Next, the flowable hot melt 14 made of a moisture curable urethane resin is applied to the back surface of the first base material 3 by the first adhesive application means 21. In this case, the thickness of the first hot melt layer 4 formed by applying the fluid hot melt 14 is made larger than the thickness of the IC chip 11. Thereby, the surface of the non-contact IC card 1 can be flattened without being affected by the uneven shape of the inlet sheet 8.

次に、図1および図3に示すように、第2基材6と、第2基材6の一方の面に流動性ホットメルト14を塗布して形成された第2ホットメルト層7とを含む裏面側基材5を準備する。この場合、まず表面側基材2と同様にして、図5に示すように、多列で多段の非接触ICカード1を作製することが可能な大きさをもつ第1基材3と略同一の大きさの第2基材6を準備する。次に、第2接着剤塗布手段22により、第2基材6の表面に湿気硬化型ウレタン樹脂からなる流動性ホットメルト14を塗布する。この場合、第1ホットメルト層4と同様に、流動性ホットメルト14を塗布して形成される第2ホットメルト層の厚さは、ICチップ11の厚さよりも厚くなるようにする。このことにより、インレットシート8が有する凹凸形状に影響を受けることなく、非接触ICカード1の裏面を平坦にすることができる   Next, as shown in FIG. 1 and FIG. 3, a second base 6 and a second hot melt layer 7 formed by applying a flowable hot melt 14 to one surface of the second base 6. The back side substrate 5 including is prepared. In this case, first, in the same manner as the surface side base material 2, as shown in FIG. 5, it is substantially the same as the first base material 3 having a size capable of producing a multi-row non-contact IC card 1 as shown in FIG. The 2nd base material 6 of the magnitude | size is prepared. Next, the flowable hot melt 14 made of a moisture curable urethane resin is applied to the surface of the second base 6 by the second adhesive applying means 22. In this case, similarly to the first hot melt layer 4, the thickness of the second hot melt layer formed by applying the fluid hot melt 14 is made larger than the thickness of the IC chip 11. Thereby, the back surface of the non-contact IC card 1 can be flattened without being affected by the uneven shape of the inlet sheet 8.

次に、図2および図3に示すように、インレット用基材9と、インレット用基材9上に設けられた複数のICチップ11と、各ICチップ11に対応して設けられたアンテナ10とを含むインレットシート8を準備する。この場合、まず第1基材3および第2基材6に対応した大きさのインレット用基材9を準備する。次に、図2に示すように、インレット用基材9上にアンテナ10を形成する。この際、6枚の非接触ICカード1を作製することができるよう、インレット用基材9上にはアンテナ10が6箇所に形成される。インレット用基材9上にアンテナ10を形成する手段としては、導電性インキをインレット用基材9上に塗布するスクリーン印刷機、あるいはインレット用基材9上に銅やアルミニウム等からなる導電性箔を転写する転写装置、あるいはインレット用基材9上に積層された銅やアルミニウム等からなる導電性箔にエッチングを施して所望の形状にパターニングするエッチング装置等を用いることができる。これらのアンテナを形成する手段を用いれば、コイル状のアンテナを有するインレットシート8だけでなく、種々の形状を有するアンテナをインレットシート8に形成することができる。その後、インレット用基材9上に形成された各アンテナ10に対応してICチップ11を取り付け、これによりインレット用基材9上にはアンテナ10が6箇所に形成され、かつ6個のICチップ11が設けられる。   Next, as shown in FIGS. 2 and 3, the inlet base material 9, a plurality of IC chips 11 provided on the inlet base material 9, and the antenna 10 provided corresponding to each IC chip 11. An inlet sheet 8 including the above is prepared. In this case, first, an inlet base 9 having a size corresponding to the first base 3 and the second base 6 is prepared. Next, as shown in FIG. 2, the antenna 10 is formed on the inlet base material 9. At this time, six antennas 10 are formed on the inlet base 9 so that six non-contact IC cards 1 can be manufactured. As a means for forming the antenna 10 on the inlet base material 9, a screen printing machine for applying conductive ink on the inlet base material 9, or a conductive foil made of copper, aluminum or the like on the inlet base material 9. Or a transfer apparatus that transfers the pattern to a desired shape by etching a conductive foil made of copper, aluminum, or the like laminated on the inlet base material 9 can be used. If these means for forming an antenna are used, not only the inlet sheet 8 having a coiled antenna but also antennas having various shapes can be formed on the inlet sheet 8. Thereafter, IC chips 11 are attached corresponding to the respective antennas 10 formed on the inlet base material 9, whereby the antennas 10 are formed at six locations on the inlet base material 9, and six IC chips are provided. 11 is provided.

次に、図3に示すように、表面側基材2の第1ホットメルト層4と、裏面側基材5の第2ホットメルト層7を冷却固化する。ところで、湿気硬化型ウレタン樹脂からなる流動性ホットメルト14は、常温における気中環境下に曝すもしくは急冷した場合、数秒〜数十秒でタック性が喪失されて固化する。このことにより、第1ホットメルト層4と第2ホットメルト層7を気中環境下に数秒〜数十秒曝すもしくは冷却し、第1ホットメルト層4と第2ホットメルト層7とがタック性が喪失されるまで固化させる。   Next, as shown in FIG. 3, the first hot melt layer 4 of the front surface side substrate 2 and the second hot melt layer 7 of the back surface side substrate 5 are cooled and solidified. By the way, when the fluid hot melt 14 made of a moisture-curable urethane resin is exposed to an air environment at room temperature or rapidly cooled, the tackiness is lost and solidifies in several seconds to several tens of seconds. As a result, the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are exposed to the air environment for several seconds to several tens of seconds or cooled, and the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are tacky. Solidify until lost.

次に、図3に示すように、積層手段23により、表面側基材2と裏面側基材5間にインレットシート8を介在させたICカード積層体12を作製する。この場合、表面側基材2と、裏面側基材5と、インレットシート8とを位置合わせする。この間、表面側基材2の第1ホットメルト層4はタック性が喪失されているため、表面側基材2とインレットシート8とが接触しても接合されない。このことにより、表面側基材2とインレットシート8とを位置合わせしながら容易かつ精確にICカード積層体12を作製することができる。同様に、裏面側基材5の第2ホットメルト層7もタック性が喪失されているため、裏面側基材5とインレットシート8とが接触しても接合されない。このことにより、裏面側基材5とインレットシート8とを位置合わせしながら容易かつ精確にICカード積層体12を作製することができる。ところで、図1に示すように、インレット用基材9上に配置されたICチップ11およびアンテナ10は、表面側基材2側に向いているが、裏面側基材5側に向けても良い。   Next, as shown in FIG. 3, the IC card laminate 12 in which the inlet sheet 8 is interposed between the front surface side base material 2 and the back surface side base material 5 is produced by the laminating means 23. In this case, the front surface side base material 2, the back surface side base material 5, and the inlet sheet 8 are aligned. During this time, the first hot-melt layer 4 of the surface-side base material 2 has lost tackiness, so that even if the surface-side base material 2 and the inlet sheet 8 come into contact with each other, they are not joined. This makes it possible to easily and accurately produce the IC card laminate 12 while aligning the surface side base material 2 and the inlet sheet 8. Similarly, since the tackiness of the second hot melt layer 7 of the back surface side base material 5 is also lost, even if the back surface side base material 5 and the inlet sheet 8 come into contact with each other, they are not joined. This makes it possible to easily and accurately produce the IC card laminate 12 while aligning the back side base material 5 and the inlet sheet 8. By the way, as shown in FIG. 1, the IC chip 11 and the antenna 10 arranged on the inlet base material 9 are directed to the front surface side base material 2 side, but may be directed to the back surface side base material 5 side. .

次に、図3に示すように、ICカード積層体12に対して仮接合手段24を施して第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を部分的に接合させて、ICカード積層体12を仮接合する。本実施の形態においては、仮接合手段24は超音波ウェルダー25からなっている。この場合、超音波ウェルダー25は、表面側基材2および裏面側基材5のうち断裁されて得られる非接触ICカード1以外の領域であって、ICカード積層体12の前方に施される。このことにより、ICカード積層体12に仮接合部(図示せず)が形成される。このため、断裁されて得られる非接触ICカード1の領域となる表面および裏面に仮接合により生じる凹凸を残すことはなく、ICカード積層体12を仮接合することができる。   Next, as shown in FIG. 3, provisional joining means 24 is applied to the IC card laminate 12 to partially join the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7. 12 is temporarily joined. In the present embodiment, the temporary joining means 24 includes an ultrasonic welder 25. In this case, the ultrasonic welder 25 is a region other than the non-contact IC card 1 obtained by cutting the front surface side base material 2 and the back surface side base material 5, and is applied in front of the IC card laminate 12. . As a result, a temporary joint (not shown) is formed in the IC card laminate 12. For this reason, the IC card laminated body 12 can be temporarily joined without leaving the unevenness | corrugation produced by temporary joining in the surface and back surface used as the area | region of the non-contact IC card 1 obtained by cutting.

次に、図3に示すように、接着手段26を構成する二対の加熱ローラ27間において、仮接合されたICカード積層体12を搬送させて、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を溶融させて、表面側基材2とインレットシート8とを接着させるとともに、裏面側基材5とインレットシート8とを接着させる。この場合、まず、図6(a)に示すように、二対の加熱ローラ27のうち上流側の加熱ローラ27間に、仮接合されたICカード積層体12が搬送される。   Next, as shown in FIG. 3, the temporarily bonded IC card laminate 12 is transported between the two pairs of heating rollers 27 constituting the bonding means 26, and the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer are transported. The layer 7 is melted so that the front surface side substrate 2 and the inlet sheet 8 are bonded, and the back surface side substrate 5 and the inlet sheet 8 are bonded. In this case, first, as shown in FIG. 6A, the temporarily bonded IC card laminated body 12 is transported between the upstream heating rollers 27 of the two pairs of heating rollers 27.

ここで、本実施の形態においては、前述したように、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7は、タック性が喪失された状態にある。このため、二対の加熱ローラ27により加熱されるまでは、表面側基材2および裏面側基材5とインレットシート8が粘着されることはない。このことにより、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7は、ICカード積層体12の前方に施された仮接合部分から後方に向けて順次溶融され、表面側基材2および裏面側基材5とインレットシート8とは順次接着されていく。この間、表面側基材2および裏面側基材5と、インレットシート8との間に介在する空気は、後方に抜けていく。このため、表面側基材2および裏面側基材5と、インレットシート8との間に、空気層が形成されることを確実に防止することができる。   Here, in the present embodiment, as described above, the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are in a state in which tackiness is lost. For this reason, until it heats with the two pairs of heating rollers 27, the surface side base material 2, the back surface side base material 5, and the inlet sheet 8 are not adhered. As a result, the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are sequentially melted from the temporary joint portion provided in front of the IC card laminate 12 to the rear, and the front surface side substrate 2 and the back surface side. The base material 5 and the inlet sheet 8 are sequentially bonded. During this time, the air interposed between the front surface side base material 2 and the back surface side base material 5 and the inlet sheet 8 escapes backward. For this reason, it can prevent reliably that an air layer is formed between the surface side base material 2 and the back surface side base material 5, and the inlet sheet 8. FIG.

次に、上流側の加熱ローラ27により加熱されたICカード積層体12は、下流側の加熱ローラ27に搬送される。この間、このICカード積層体12は、各対の加熱ローラ27間に設けられた各受けガイド34、各抑えガイド35、および各コロ36により案内される。次に、このICカード積層体12は、下流側の加熱ローラ27により加熱される。このようにして、インレットシート8と表面側基材2および裏面側基材3が接着される。   Next, the IC card laminated body 12 heated by the upstream heating roller 27 is conveyed to the downstream heating roller 27. During this time, the IC card laminate 12 is guided by the receiving guides 34, the holding guides 35, and the rollers 36 provided between the pairs of heating rollers 27. Next, the IC card laminate 12 is heated by the downstream heating roller 27. In this way, the inlet sheet 8 is bonded to the front surface side base material 2 and the back surface side base material 3.

次に、図3に示すように、冷却加圧手段32により、ICカード積層体12を冷却加圧して、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を硬化させる。   Next, as shown in FIG. 3, the IC card laminate 12 is cooled and pressurized by the cooling and pressing means 32, and the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are cured.

その後、この冷却加圧されたICカード積層体12が冷却加圧手段32から取り出されて、気中環境下に2日間程度放置される。この場合、湿気硬化型ウレタン樹脂からなる流動性ホットメルト14は、溶融した後、気中の湿気を吸収することにより架橋反応して硬化する。このことにより、ICカード積層体12を気中環境下に2日間程度放置して、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を確実に硬化させることができる。このため、非接触ICカード1の使用中に、非接触ICカード1を高温状態においても、非接触ICカード1が軟化することがない。   Thereafter, the IC card laminate 12 subjected to cooling and pressurization is taken out from the cooling and pressurizing means 32 and left in an air environment for about two days. In this case, the flowable hot melt 14 made of a moisture-curable urethane resin is cured by crosslinking reaction by absorbing moisture in the air after being melted. As a result, the IC card laminate 12 can be left in an air environment for about two days, and the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 can be reliably cured. For this reason, during use of the non-contact IC card 1, the non-contact IC card 1 is not softened even when the non-contact IC card 1 is in a high temperature state.

次に、図3に示すように、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7が完全に硬化した後、ICカード積層体12をICチップ11およびアンテナ10毎に断裁手段28により断裁する。以上のようにして、個々の非接触ICカード1を得ることができる。   Next, as shown in FIG. 3, after the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 are completely cured, the IC card laminate 12 is cut by the cutting means 28 for each IC chip 11 and antenna 10. . As described above, individual contactless IC cards 1 can be obtained.

このように本実施の形態によれば、各対の加熱ローラ27間に、搬送されるICカード積層体12の下方に配置された帯状の受けガイド34が幅方向に複数設けられるとともに、このICカード積層体12の上方に配置された帯状の抑えガイド35が幅方向に複数設けられ、各受けガイド34と各抑えガイド35との間でICカード積層体12が案内される。このため、ICカード積層体12が反ることを防止するとともに、ICカード積層体12の搬送方向側の部分が折り畳まれて下流側の加熱ローラ27へ搬送されることを防止することができる。この結果、ICカード積層体12をスムースに搬送させることができる。   As described above, according to the present embodiment, a plurality of strip-shaped receiving guides 34 disposed below the IC card laminated body 12 to be conveyed are provided between the pair of heating rollers 27 in the width direction. A plurality of strip-shaped holding guides 35 disposed above the card laminated body 12 are provided in the width direction, and the IC card laminated body 12 is guided between each receiving guide 34 and each holding guide 35. For this reason, it is possible to prevent the IC card laminated body 12 from warping and prevent the IC card laminated body 12 from being folded and conveyed to the heating roller 27 on the downstream side. As a result, the IC card laminated body 12 can be smoothly conveyed.

また、本実施の形態によれば、上述したように、各受けガイド34および各抑えガイド35は帯状に形成され、各受けガイド34は、表面に多数の突起が形成された縞鋼板からなっている。このことにより、各受けガイド34および各抑えガイド35とICカード積層体12との接触面積を小さくすることができ、各加熱ローラ27により加熱されたICカード積層体12の熱が、各受けガイド34および各抑えガイド35に伝わることを抑制することができる。   Further, according to the present embodiment, as described above, each receiving guide 34 and each holding guide 35 are formed in a strip shape, and each receiving guide 34 is made of a striped steel plate having a large number of protrusions formed on the surface. Yes. Thereby, the contact area between each receiving guide 34 and each holding guide 35 and the IC card laminated body 12 can be reduced, and the heat of the IC card laminated body 12 heated by each heating roller 27 is applied to each receiving guide. 34 and each restraining guide 35 can be suppressed.

ここで、加熱ローラ27により加熱された第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7は溶融された状態になっている。このためICカード積層体12の温度が不均一になると、第1ホットメルト層4および第2ホットメルト層7を形成するホットメルトの粘度の一部が大きくなり、ICカード積層体12の厚みが不均一になる。これに対して本実施の形態によれば、上述したように、各加熱ローラ27により加熱されたICカード積層体12の熱が、各受けガイド34および各抑えガイド35に伝わることが抑制される。このことにより、ICカード積層体12の温度が不均一になることを抑制することができる。このため、ICカード積層体12の厚みを均一にして、厚みが均一な非接触ICカード1を製造することができる。   Here, the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 heated by the heating roller 27 are in a molten state. For this reason, when the temperature of the IC card laminated body 12 becomes non-uniform, a part of the viscosity of the hot melt forming the first hot melt layer 4 and the second hot melt layer 7 is increased, and the thickness of the IC card laminated body 12 is increased. It becomes uneven. On the other hand, according to the present embodiment, as described above, the heat of the IC card laminated body 12 heated by each heating roller 27 is suppressed from being transmitted to each receiving guide 34 and each holding guide 35. . This can prevent the temperature of the IC card laminated body 12 from becoming uneven. For this reason, the thickness of the IC card laminated body 12 can be made uniform, and the non-contact IC card 1 with uniform thickness can be manufactured.

また、本実施の形態によれば、各抑えガイド35は、断裁されて得られる非接触ICカード1に対応する領域以外の領域であって、ICカード積層体12の幅方向両端側にそれぞれ配置されている。このことにより、ICカード積層体12のうち非接触ICカード1に対応する領域以外の領域に、各抑えガイド35を接触させることができる。このため、ICカード積層体12のうち非接触ICカード1の領域の温度が低下することを抑制して、非接触ICカード1の厚みを確実に均一にさせることができる。   Further, according to the present embodiment, each restraining guide 35 is an area other than the area corresponding to the non-contact IC card 1 obtained by cutting, and is arranged on both ends in the width direction of the IC card laminate 12. Has been. Thereby, each restraining guide 35 can be brought into contact with an area other than the area corresponding to the non-contact IC card 1 in the IC card laminated body 12. For this reason, it can suppress that the temperature of the area | region of the non-contact IC card 1 among the IC card laminated bodies 12 falls, and can make the thickness of the non-contact IC card 1 uniform.

また、本実施の形態によれば、各対の加熱ローラ27間であってICカード積層体12の下方に、裏面側基材5に転がり接触する複数のコロ36が設けられている。このことにより、ICカード積層体12を、上流側の加熱ローラ27から下流側の加熱ローラ27へスムースに搬送させることができる。   Further, according to the present embodiment, a plurality of rollers 36 that are in rolling contact with the back-side base material 5 are provided between each pair of heating rollers 27 and below the IC card laminate 12. Thereby, the IC card laminated body 12 can be smoothly conveyed from the heating roller 27 on the upstream side to the heating roller 27 on the downstream side.

なお、本実施の形態においては、加熱ローラ27が二対設けられている例について説明した。しかしながら加熱ローラ27は二対設けられることに限られることはなく、三対以上の加熱ローラ27が設けられていても良い。また、本実施の形態においては、受けガイド34が、ICカード積層体12の下方に2つ設けられているが、このことに限られることはなく、例えば、受けガイド34をICカード積層体12の下方に4つ設けても良い。この場合、4つの受けガイド34のうちの2つの受けガイド34を、抑えガイド35に対応させて配置させることが好ましい。このことにより、ICカード積層体12を確実に案内することができる。   In the present embodiment, an example in which two pairs of heating rollers 27 are provided has been described. However, the number of heating rollers 27 is not limited to two, and three or more pairs of heating rollers 27 may be provided. In the present embodiment, two receiving guides 34 are provided below the IC card laminated body 12. However, the present invention is not limited to this, and for example, the receiving guide 34 is attached to the IC card laminated body 12. You may provide four below. In this case, it is preferable that two of the four receiving guides 34 are arranged so as to correspond to the holding guide 35. Thereby, the IC card laminated body 12 can be reliably guided.

本発明の変形例
次に、本発明による非接触ICカードの製造装置の変形例について説明する。本変形例は、各受けガイドが、ICカード積層体のうち非接触ICカードに対応する領域以外の領域に配置されるものであり、他の構成は図1乃至図6に示す第1の実施の形態と略同一である。
Next, a modification of the non-contact IC card manufacturing apparatus according to the present invention will be described. In this modification, each receiving guide is arranged in an area other than the area corresponding to the non-contact IC card in the IC card laminate, and the other configuration is the first embodiment shown in FIGS. 1 to 6. The form is substantially the same.

本変形例によれば、各受けガイド34は、ICカード積層体12のうち断裁されて得られる非接触ICカード1に対応する領域以外の領域に配置される。このことにより、ICカード積層体12のうち非接触ICカード1以外の領域に、各受けガイド34を接触させることができる。このため、ICカード積層体12のうち非接触ICカード1の領域の温度が低下することを抑制して、非接触ICカード1の厚みを確実に均一にさせることができる。   According to this modification, each receiving guide 34 is disposed in an area other than the area corresponding to the non-contact IC card 1 obtained by cutting the IC card laminated body 12. Thereby, each receiving guide 34 can be brought into contact with an area other than the non-contact IC card 1 in the IC card laminated body 12. For this reason, it can suppress that the temperature of the area | region of the non-contact IC card 1 among the IC card laminated bodies 12 falls, and can make the thickness of the non-contact IC card 1 uniform.

図1は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置によって製造される非接触ICカードの断面構成を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional configuration of a non-contact IC card manufactured by a non-contact IC card manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 図2は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置によって製造される非接触ICカードのインレットシートの一例を示す斜視図。FIG. 2 is a perspective view showing an example of an inlet sheet of a non-contact IC card manufactured by the non-contact IC card manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. 図3は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置を示す概略図。FIG. 3 is a schematic diagram showing a non-contact IC card manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention. 図4(a)は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置のうち接着手段の詳細を示す正面図。図4(b)は、図4(a)の上面図。Fig.4 (a) is a front view which shows the detail of an adhesion | attachment means among the manufacturing apparatuses of the non-contact IC card in embodiment of this invention. FIG. 4B is a top view of FIG. 図5は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置において作製されるICカード積層体を示す斜視図。FIG. 5 is a perspective view showing an IC card laminated body manufactured by the non-contact IC card manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. 図6(a)は、本発明の実施の形態における非接触ICカードの製造装置の接着手段において、ICカード積層体の搬送方向側部分が上流側の一対の加熱ローラ間に搬送された状態を示す図。図6(b)は、ICカード積層体が各対の加熱ローラ間において搬送されている状態を示す図。FIG. 6A shows a state in which the conveyance direction side portion of the IC card laminate is conveyed between a pair of upstream heating rollers in the bonding means of the non-contact IC card manufacturing apparatus according to the embodiment of the present invention. FIG. FIG. 6B is a diagram showing a state in which the IC card laminate is being conveyed between each pair of heating rollers. 図7(a)は、従来の非接触ICカードの製造装置の加熱ローラ間において、ICカード積層体に反りが形成されない場合を示す図であり、図7(b)は、ICカード積層体が下方に反る場合を示す図であり、図7(c)は、ICカード積層体が上方に反る場合を示す図である。FIG. 7A is a diagram showing a case where no warp is formed in the IC card laminate between the heating rollers of the conventional non-contact IC card manufacturing apparatus, and FIG. FIG. 7C is a diagram illustrating a case where the IC card stack is warped upward. 従来の非接触ICカードの製造装置の加熱ロール部を示す図。The figure which shows the heating roll part of the manufacturing apparatus of the conventional non-contact IC card.

符号の説明Explanation of symbols

1 非接触ICカード
2 表面側基材
3 第1基材
4 第1ホットメルト層
5 裏面側基材
6 第2基材
7 第2ホットメルト層
8 インレットシート
9 インレット用基材
10 アンテナ
11 ICチップ
12 ICカード積層体
20 製造装置
21 第1接着剤塗布手段
22 第2接着剤塗布手段
23 積層手段
24 仮接合手段
25 超音波ウェルダー
26 接着手段
27 加熱ローラ
28 断裁手段
29 熱圧着機
30 接着材塗布機
31 粘着材塗布機
32 冷却加圧手段
33 冷却ブロック
34 受けガイド
34a 上流側端部
34b 下流側端部
35 抑えガイド
35a 上流側端部
35b 下流側端部
36 コロ
37 コロ軸
38 固定側部材
40 加熱ロール
41 ICカード積層体
42 ガイド
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Non-contact IC card 2 Surface side base material 3 1st base material 4 1st hot melt layer 5 Back surface side base material 6 2nd base material 7 2nd hot melt layer 8 Inlet sheet 9 Inlet base material 10 Antenna 11 IC chip 12 IC Card Laminate 20 Manufacturing Device 21 First Adhesive Application Unit 22 Second Adhesive Application Unit 23 Lamination Unit 24 Temporary Bonding Unit 25 Ultrasonic Welder 26 Adhesion Unit 27 Heating Roller 28 Cutting Unit 29 Thermocompression Press 30 Adhesive Application Machine 31 Adhesive material coating machine 32 Cooling and pressurizing means 33 Cooling block 34 Receiving guide 34a Upstream end 34b Downstream end 35 Holding guide 35a Upstream end 35b Downstream end 36 Roller 37 Roller shaft 38 Fixed member 40 Heating roll 41 IC card laminate 42 Guide

Claims (7)

第1基材と、第1基材の一方の面に流動性ホットメルトを塗布して形成された第1ホットメルト層とを含む表面側基材と、第2基材と、第2基材の一方の面に流動性ホットメルトを塗布して形成された第2ホットメルト層とを含む裏面側基材と、この表面側基材と裏面側基材との間に介在されたインレットシートとを有するICカード積層体を挟持して加熱することにより、非接触ICカードを製造する非接触ICカードの製造装置において、
ICカード積層体を挟持して、第1ホットメルト層および第2ホットメルト層を溶融させてインレットシートと表面側基材および裏面側基材を接着させるとともに、所定間隔をおいて配置された少なくとも二対の加熱ローラと、
各対の加熱ローラ間に、幅方向に複数設けられ、搬送されるICカード積層体の下方に配置された帯状の受けガイドと、
各対の加熱ローラ間に、幅方向に複数設けられ、搬送されるICカード積層体の上方に配置され、受けガイドとの間でICカード積層体を案内する帯状の抑えガイドと、を備えたことを特徴とする非接触ICカードの製造装置。
A surface-side substrate including a first substrate, and a first hot-melt layer formed by applying a fluid hot melt to one surface of the first substrate; a second substrate; and a second substrate A back side substrate including a second hot melt layer formed by applying a flowable hot melt to one side of the sheet, and an inlet sheet interposed between the front side substrate and the back side substrate, In a non-contact IC card manufacturing apparatus for manufacturing a non-contact IC card by sandwiching and heating an IC card laminated body having
While sandwiching the IC card laminate, the first hot melt layer and the second hot melt layer are melted to adhere the inlet sheet to the front surface side base material and the back surface side base material, and at least disposed at a predetermined interval. Two pairs of heating rollers;
Between each pair of heating rollers, a plurality of strips in the width direction, and a belt-shaped receiving guide disposed below the IC card laminate to be conveyed;
A plurality of strips in the width direction between each pair of heating rollers, disposed above the conveyed IC card laminate, and a belt-like holding guide for guiding the IC card laminate between the receiving guides An apparatus for manufacturing a non-contact IC card.
インレットシートは、インレット用基材と、インレット用基材上に設けられた複数のICチップと、各ICチップに対応して設けられたアンテナとを有し、
各抑えガイドは、インレットシートと表面側基材および裏面側基材が接着されたICカード積層体のうち非接触ICカードに対応する領域以外の領域であって、ICカード積層体の幅方向両端側にそれぞれ配置されることを特徴とする請求項1に記載の非接触ICカードの製造装置。
The inlet sheet has an inlet base, a plurality of IC chips provided on the inlet base, and an antenna provided corresponding to each IC chip.
Each restraining guide is an area other than the area corresponding to the non-contact IC card in the IC card laminated body in which the inlet sheet, the front surface side base material, and the back surface side base material are bonded, and both ends in the width direction of the IC card laminated body The non-contact IC card manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the non-contact IC card manufacturing apparatus is arranged on each side.
各受けガイドは、ICカード積層体のうち非接触ICカードに対応する領域以外の領域に配置されることを特徴とする請求項2に記載の非接触ICカードの製造装置。   The non-contact IC card manufacturing apparatus according to claim 2, wherein each receiving guide is arranged in an area other than an area corresponding to the non-contact IC card in the IC card laminated body. 各受けガイドは、ICカード積層体側の面に、多数の突起が形成されていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載の非接触ICカードの製造装置。   4. The non-contact IC card manufacturing apparatus according to claim 1, wherein each of the receiving guides has a plurality of protrusions formed on a surface of the IC card laminate. 各抑えガイドのICカード積層体側の面に、低摩擦材料がコーティングされていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の非接触ICカードの製造装置。   The non-contact IC card manufacturing apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein a surface of each holding guide on the IC card laminated body side is coated with a low friction material. 各抑えガイドは、ポリエーテルエーテルケトンからなっていることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載の非接触ICカードの製造装置。   6. The non-contact IC card manufacturing apparatus according to claim 1, wherein each holding guide is made of polyetheretherketone. 各対の加熱ローラ間であってICカード積層体の下方に、裏面側基材に転がり接触する複数のコロが設けられたことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の非接触ICカードの製造装置。   The non-contact according to any one of claims 1 to 6, wherein a plurality of rollers that are in rolling contact with the back-side base material are provided between each pair of heating rollers and below the IC card laminate. IC card manufacturing equipment.
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