JP2008277673A - Cvd装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】真空排気した反応容器内に原料ガスを導入し、所定の温度に加熱された基板上に薄膜を堆積させるCVD装置において、前記反応容器の外側に配備されていて、前記反応容器内部から外部に向かう放射光を受光して温度計測する放射温度計と、前記反応容器の周壁に配備されていて前記放射光を前記放射温度計に導く覗き窓部とを備えているCVD装置において、覗き窓部の窓板に生じるデポ膜付着を低減させる。
【解決手段】覗き窓部が、反応容器の周壁を反応容器の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部と、該導入部の外側端部に配備される窓板とからなり、前記導入部を取り囲む冷却手段が配備されているCVD装置。
【選択図】図1
【解決手段】覗き窓部が、反応容器の周壁を反応容器の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部と、該導入部の外側端部に配備される窓板とからなり、前記導入部を取り囲む冷却手段が配備されているCVD装置。
【選択図】図1
Description
本発明は、真空排気した反応容器内に原料ガスを導入し、所定の温度に加熱された基板上に薄膜を堆積させるCVD装置に関する。特に、反応容器の外側に配備されている放射温度計により、反応容器内部から外部に向かう放射光を受光して、基板及び/又は当該基板を支持する手段などの温度を計測する機構を備えたCVD装置に関する。
CVD装置では、真空排気した反応容器内において基板を所定の温度に加熱すると共に、反応ガスを反応容器内に供給し、基板表面に薄膜を形成している。
例えば、Si2H6ガスのような反応ガス(成膜用のプロセスガス)が、真空排気された反応容器内に供給され、加熱された基板の表面に触れ、500℃以上の温度の熱エネルギーにより熱分解等されて、基板の表面に薄膜が形成される。
このようなCVD処理においては、処理速度等の処理プロセスが温度によって変化するので、高精度な処理を行うためには、基板及び/又は当該基板を支持する手段(例えば、基板が載置されるサセプタ)の温度を正確に測定し、その温度を精度良く制御することが望ましい。
基板やサセプタ等の温度を測定する方法としては、従来から、サセプタに熱電対を設け、この熱電対に発生する起電力に基づいて温度を測定する方法が知られている。しかし、熱電対を使用して温度を測定する方法では、熱電対が雰囲気に対して不安定であるという問題や、接触不良や経年変化が生じ易く、測定結果の再現性に欠けるという問題があった。
このため、熱電対に替えて、反応容器外に設けた放射温度計を使用して、反応容器内を覗ける覗き窓から透過する基板あるいはサセプタからの光の放射量により、基板やサセプタの温度を測定する放射温度測定が試みられている(例えば、特許文献1参照)。
特開平6−151337号公報
図8、図9は前記の特許文献1などで提案されている従来技術の一例を説明するものである。
CVD装置100は、真空排気した反応容器101内に原料ガスを導入し、基板加熱機構104によって所定の温度に加熱された基板108上に薄膜を堆積させるものである。
反応容器101の外側に放射温度計107が配備されていて、反応容器101内部から外部に向かう放射光を受光して温度(例えば、基板108や基板108を支持しているサセプタの温度)を計測するようになっている。
反応容器101の周壁には、基板108からの放射光を放射温度計107に導く覗き窓部102が配備されている。
覗き窓部102には窓板103が取り付けられていて、これにより、反応容器101内部から外部に向かう放射光を放射温度計107に導きつつ、反応容器101の真空封止を行っている。
覗き窓部102は、窓板103がプロセスガスに直接触れることを防止すべく、図8、図9図示のように、反応容器101の外側に突き出た形態・構造で配備され、その外側の端部に窓板103が取付けられる構造となっているのが一般的である。
そこで、反応容器101の温度上昇を抑えるために冷却手段、例えば、冷却ジャケット105が反応容器101を覆うように配備されている場合であっても、覗き窓部102及び、その外側端部に配備されている窓板103は、図8、図9に例示するように、反応容器101を覆う冷却ジャケット105よりも更に外側に向けて突き出た構造になっているのが一般的であった。
図8、図9、図10に例示するように、反応容器101外に設けた放射温度計107、109を使用して、反応容器101内を覗ける窓板103から透過する光の放射量により基板108及び/又は基板108を支持する手段の温度を測定する場合、反応容器101内の基板加熱機構104からの熱によって窓板103が加熱される。
この加熱された窓板103の反応容器101内に面する表面に、真空容器101内に存在する成膜用のプロセスガスによるデポ膜が付着する。
このため、窓板103に曇りが生じるので、光の透過率が低下し、窓板103越しに取付けられた放射温度計107の温度指示値に変化が生じてしまう。
温度指示値が変化すると、基板108及び/又は基板108を支持する手段の温度が正しい値(曇る前の初期温度指示値)を示さなくなってしまう。
そこで、正確な温度計測の必要性から覗き窓のメンテナンスが必要になり、これがCVD装置のメンテナンスサイクルを決める要因となっていた。
窓板103の温度をCVD反応温度より低くすることによって窓板103の反応容器101内に面する表面へのデポ膜付着を抑制し、これによって、メンテナンスサイクルを長くすべく、覗き窓部102に水冷効果を与える方法が考えられる。例えば、図10に示すように覗き窓部102の周囲に水冷パイプ106を巻き付けるものである。
しかし、この方法では、覗き窓部102と水冷パイプ106の構成が間接水冷構造にとどめるため、接触面が少なく、十分な水冷効果が得られず、窓板103の反応容器101内に面する表面へのデポ膜付着を効果的に防止することが困難であった。
そこで、本発明は、反応容器外に設けた放射温度計を使用して、反応容器内を覗ける覗き窓から透過する、反応容器内部から外部に向かう放射光の放射量により、基板及び/又は基板を支持する手段の温度を測定する機構を備えているCVD装置において、温度計測用の覗き窓の窓板に生じるデポ膜付着の低減を可能ならしめるCVD装置を提供することを目的にしている。
前記目的を達成するため、本発明は、真空排気した反応容器内に原料ガスを導入し、所定の温度に加熱された基板上に薄膜を堆積させるCVD装置において、前記反応容器の外側に配備されていて、前記反応容器内部から外部に向かう放射光を受光して温度計測する放射温度計と、前記反応容器の周壁に配備されていて前記放射光を前記放射温度計に導く覗き窓部とを備え、前記覗き窓部は、前記反応容器の周壁を前記反応容器の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部と、該導入部の外側端部に配備される窓板とからなり、前記導入部を取り囲む冷却手段が配備されているCVD装置を提案するものである。
覗き窓部を構成する、前記反応容器の周壁を前記反応容器の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部を取り囲む冷却手段が配備されているので、効果的に覗き窓部及び、覗き窓部を構成する窓板を冷却し、窓板の反応室内側に向かう表面に原料ガスによるデポ膜が付着することを効果的に防止できる。
すなわち、CVD装置によるCVD反応において、反応容器内に供給されるプロセスガス、例えば、Si2H6ガスは、CVD反応温度である500℃以上の温度の熱エネルギーにより熱分解され、基板上にSi膜が形成される。そして、基板に吸着しないガス分子、SiHx、Si2Hx等は、反応容器内を浮遊し、反応容器内壁に付着あるいは、排気される。
そこで、窓板の反応室内側に向かう表面に付着するのは上記した基板に吸着しなかった浮遊分子と推測できる。
これら浮遊分子は覗き窓部内の雰囲気温度が所定の温度より低くなったときには自身のエネルギーが減衰され、窓板に付着することなく途中で吸着あるいは排気される。
本発明のCVD装置においては、覗き窓部を構成する、前記反応容器の周壁を前記反応容器の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部を取り囲む冷却手段が配備されていることにより、覗き窓部内の雰囲気温度が所定の温度より低くし、前述した浮遊分子が窓板の反応室内側に向かう表面に到達することを防止し、窓板の反応室内側に向かう表面に原料ガスによるデポ膜が付着することを防止したのである。
前記本発明のCVD装置において、前記導入部の前記反応容器の内側端部から前記窓板の外側表面までの距離L2と、前記導入部の直径Dとは、L2/D=1〜40の関係にあるようにすることができる。
導入部の反応容器の内側端部から窓板の外側表面までの距離L2と、導入部の直径DとがL2/D=1〜40の関係にあるようにすることによって、CVD装置に配備される覗き窓部、前記の導入部などの機械構造的な大きさ、放射温度計の計測スポットのスポット径と計測可能距離の関係を考慮した上で、温度測定に必要な放射光の量を得て、かつ導入部に侵入する浮遊ガスの量を可能な限り少なくすることができる。そして、導入部を取り囲む冷却手段が配備されていることによる冷却効果と相俟って、窓板へのデポ膜付着をより効果的に抑えることができる。
また、前記本発明のいずれのCVD装置においても、前記放射温度計を取り囲む冷却手段が更に配備されている形態にすることができる。
このようにすると、覗き窓部に与える冷却効果がより発揮でき、デポ膜の付着が一層効果的に抑えられる。
更に、以上説明した本発明のいずれのCVD装置においても、前記窓板は、前記導入部の外側端部に配備されている窓取付フランジを介して前記導入部の外側端部に配備されており、前記反応容器の周壁と当該窓取付フランジとの間がメタルガスケットでシールされている構造にすることができる。
本発明のCVD装置においては、覗き窓部を構成する導入部を取り囲む冷却手段が配備されており、反応容器の周壁と窓取付フランジとの間をメタルガスケットでシールすることにより、覗き窓部を構成する窓板と当該冷却手段との間の熱伝導率を高め、冷却効果を向上させて、窓板をCVD反応温度より低い温度にし、窓板の反応容器内に面する表面へのデポ膜付着を効果的に抑制できる。
本発明によれば、反応容器外に設けた放射温度計を使用して、反応容器内を覗ける覗き窓から透過する、反応容器内部から外部に向かう放射光の放射量により、基板及び/又は基板を支持する手段の温度を測定する機構を備えているCVD装置において、温度計測用の覗き窓の窓板に生じるデポ膜付着の低減を可能ならしめるCVD装置を提供できる。
これによって、覗き窓の窓板に生じるデポ膜付着により実施が必要になる覗き窓のメンテナンスサイクルを長くし、ひいては、CVD装置のメンテナンスサイクルを長くして、CVD装置の長期にわたる使用を可能にすることが出来る。
以下、添付図面を参照して本発明の好ましい実施形態を説明する。
本発明のCVD装置1は、真空排気した反応容器2内に原料ガスを導入し、基板加熱機構6によって所定の温度に加熱された基板5上に薄膜を堆積させるものである。
図8〜図10を用いて説明した従来のCVD装置と同じく、反応容器2の外側に放射温度計12が配備されていて、反応容器2内部から外部に向かう放射光を受光して温度(例えば、基板5や基板5を支持しているサセプタ3の温度)を計測するようになっている。
反応容器2の周壁には、反応容器2内部から外部に向かう放射光を放射温度計12に導く覗き窓部10が配備されている。
覗き窓部10には窓板11が取り付けられていて、これにより、反応容器2内部から外部に向かう放射光を放射温度計12に導きつつ、反応容器2の真空封止が行われている。
このCVD装置1による成膜処理等に使用するプロセスガス、例えば、Si2H6ガスは、500℃以上の温度による熱エネルギーにより分解し、基板5上にSi膜が形成される。
Si膜等の薄膜形成においては、サセプタ3及び基板5の温度、温度分布等の制御が必要であり、反応容器2の周壁に配備されている覗き窓部10と、この覗き窓部10の窓板11を透過する放射光である赤外線のエネルギーにより温度計測する放射温度計12が、図1図示の例では、それぞれ3箇所に設けられている。
窓板11に対向して反応容器2の外部に配備されている放射温度計12は、窓板11を介して基板5から放射される所定の波長の赤外線エネルギーを測定することで、基板5及び/又はサセプタ3の温度を計測するものである。
図示の例では、基板5に面する反応容器2の周壁は水冷等の冷却手段である冷却ジャケット8に覆われている。
これはプロセスガスに接触する反応容器2の内壁をCVD反応温度よりも低く抑えることで、基板5以外の部分に不要な膜形成を発生させないようにしたものである。
図2に示すように覗き窓部10は、反応容器2の周壁を反応容器2の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部15と、導入部15の外側端部に配備される窓板11とから構成されている。
図示の例では、導入部15の外側端部に窓取付フランジ16が配備され、この窓取付フランジ16に窓板11が取付けられている。
窓板11には、石英等のような透明材質を使用することができる。これは、ガラスが、赤外線に対して約2.5μmより短い短波長を透過し、2.5μmより長い長波長は吸収する性質を持っているため、窓板11をガラス製にすると温度計測に使用する波長に制限を受けるからである。
なお、上記した短波長での使用のみである場合は窓板11をガラス製にすることもできる。
反応容器2の周壁と窓取付フランジ16との間は、図7(a)に示すように、メタルガスケット20でシールすることができる。
図7(a)図示の実施形態では、反応容器2の周壁と窓取付フランジ16との間をメタルガスケット20でシールし、取付フランジ16とメタルガスケット20との間に封止用金属21を配備し、こうして導入部15の外側端部に配備される窓取付フランジ16に窓板11を取付けている。メタルガスケット20及び封止用金属21を用いて、反応容器2を効果的に密封している。
反応容器内部から外部に向かう放射光を放射温度計に導く覗き窓部を反応容器2の周壁に配備し、当該覗き窓部に窓板11を取り付ける場合、従来は、図7(b)に例示すように、Oリング22を介して窓板11を窓取付フランジ16に取付ける構造・形態が採用されていた。
本発明のCVD装置1においては、導入部15を取り囲む冷却手段が配備されており、図7(a)図示のように、反応容器2の周壁と窓取付フランジ16との間をメタルガスケット20でシールすることにより、窓板11と当該冷却手段との間の熱伝導率を高め、冷却効果を向上させて、窓板11をCVD反応温度より低い温度にし、窓板11の反応容器2内に面する表面へのデポ膜付着を効果的に抑制することができる。
本発明のCVD装置1においては、導入部15を取り囲む冷却手段が配備されているが、図に例示した実施形態では、前述した冷却ジャケット8が、覗き窓部10全体の周囲を覆うように配備され、これによって導入部15が冷却手段で取り囲まれている。
従来のCVD装置では加熱機構6により基板5が加熱され、プロセスガスが供給されてCVD反応が進行しているときに、覗き窓部10の内部雰囲気の温度は200℃程度に加熱されていた。
しかし、本発明のCVD装置においては、冷却ジャケット8が覗き窓部10全体を覆っていることから冷却効果が向上し、覗き窓部10内(すなわち、導入部15内)を約60℃程度の雰囲気温度にすることができる。これによって、窓板11へのデポ膜付着を効果的に抑制できるようにしたのである。
CVD反応が進行しているとき、図8〜図10に例示した従来のCVD装置では、覗き窓部10内の雰囲気温度は200℃程度で、これは基板5に形成される薄膜が反応生成される温度(約500℃以上)よりもかなり低い温度である。
従来のこのような状態であっても、前述したように、デポ膜が窓板に付着していた。そこで、窓板に付着するデポ膜は、基板5に吸着しない反応容器2内を浮遊するガス分子、SiHxやSi2Hxの付着による現象と考えることができる。
これら浮遊ガス分子は、覗き窓部10内の温度が高い場合、例えば、前述した200℃程度のときは、覗き窓部10の導入部15に侵入してもエネルギーの減少が少なく、そのまま窓板11に達することができ、窓板11に付着すると考えられる。
しかし、覗き窓部10内(すなわち、導入部15内)の雰囲気温度が、例えば、60℃程度の低温度に冷却されているときは、浮遊分子のエネルギーを減衰させるため、デポ膜は導入部15に付着するか、あるいは排気されることとなる。
そのため、本発明のCVD装置においては、窓板11へのデポ膜付着を抑えることができる。
図8に示す従来のCVD装置では覗き窓部内の雰囲気温度が約200℃であり、使用前の窓板103の透過率が0.92(初期条件)であったのが装置使用後のメンテナンス処理後でも0.87に低下した。
本発明のCVD装置によれば、覗き窓部10内(すなわち、導入部15内)の雰囲気温度を、例えば、60℃程度の低温度に冷却することができ、装置使用後の透過率は0.92のまま低下しなかった。このように本発明のCVD装置では透過率が変化していないことから、窓部11へのデポ膜付着が抑えられていることがわかる。
次に、図3、図4、図5を参照して、覗き窓部10を構成する、反応容器2の周壁を反応容器2の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部15の大きさ(径、長さ(深さ))について説明する。
なお、図3、図4、図5において、図1、図2を用いて説明した前記の実施形態で説明したものと同一の部材、構造には、図1、図2と同一符号を付け、その説明を省略する。
図5に示す導入部15の反応容器2の内側端部から窓板11の外側表面までの距離L2と、導入部15の直径Dとの関係は、放射温度計12の計測スポット30のスポット径と計測可能距離の関係、CVD装置に配備される覗き窓部10、導入部15の機械構造的な大きさ、そして、放射温度計12による温度測定に必要な放射光の量を確保し、かつ導入部15に侵入する浮遊ガスの量を可能な限り少なくすることによって窓板11へのデポ膜付着をより効果的に抑える、という観点から定めることができる。
窓板11へのデポ膜付着をより効果的に抑えるという上では、導入部15の直径Dをより小さくして、導入部15に侵入する浮遊ガスの量を可能な限り少なくすることが望ましい。しかし、その一方で、導入部15の直径Dを過剰に小さくすると、放射温度計12による温度測定に必要な放射光の量を確保することが困難になる。
発明者等の検討によれば、前記の観点から、導入部15の反応容器2の内側端部から窓板11の外側表面までの距離L2と、導入部15の直径Dとの関係は、L2/D=1〜40であることが望ましかった。
すなわち、L2/D=1〜40の範囲であればCVD装置に配備される覗き窓部10、導入部15の機械構造的な大きさ、放射温度計12の計測スポット30のスポット径と計測可能距離の関係を考慮した上で、温度測定に必要な放射光の量を得て、かつ導入部15に侵入する浮遊ガスの量を可能な限り少なくすることができる。
そして、導入部15を取り囲む冷却手段が配備されている、すなわち、冷却ジャケット8が覗き窓部10全体の周囲を覆うように配備されていることによる冷却効果と相俟って、窓板11へのデポ膜付着を効果的に抑えることができる。
図5は本発明のCVD装置において覗き窓部10を構成する筒状の導入部15の大きさ(径、長さ(深さ))を説明する断面概念図であるが、放射温度計12の計測限界距離L1は、一般的に、500mmである。
また、導入部15の反応容器2の内側端部と薄膜が堆積される基板5の表面との間の距離L3は、基板5を搬送するためのクリアランスとして、一般的に、100mm程度が要求される。
更に、導入部15の直径Dの最小値は、放射温度計12のスポット径(一般的にφ10程度)に依存することから、導入部15の直径Dはφ10以上となるのが一般的である。
そこで、CVD装置に配備される覗き窓部10、導入部15の機械構造的な大きさ、放射温度計12の計測スポット30のスポット径と計測可能距離の関係を考慮すると、L2/D=1〜40の範囲となる。
なお、CVD装置に配備される覗き窓部10、導入部15の機械構造的な大きさ、放射温度計12の計測スポット30のスポット径と計測可能距離の関係を考慮すると、実用的な大きさとしては、前記のL2/D=1〜40の関係を満たした上で、L2=10mm〜180mm、D=φ10〜φ41mmとなる。
次に、図6を参照して他の実施形態を説明する。
図6において、図1、図2を用いて説明した前記の実施形態で説明したものと同一の部材、構造には、図1、図2と同一符号を付け、その説明を省略する。
図6図示の本発明のCVD装置は、図1〜図4図示の本発明のCVD装置において、放射温度計12を取り囲む冷却手段が更に配備されているものである。
図6図示の実施形態では、覗き窓部10の周囲を覆うように配備されている冷却手段である冷却ジャケット8の外側(図6中、上側)に、さらに放射温度計12の周囲を覆うように冷却部20が別途配備されている。
そして、放射温度計12の背部(図6中、上側)には送風ファン21が設けられ、放射温度計12及び窓板11に向けて送風されている。
このように、放射温度計12を取り囲む冷却手段20が更に配備され、その冷気を送風ファン21により窓板11に送るので、窓板11の冷却がより一層効果的に行われ、窓板11へのデポ膜付着をより抑えることができる。
なお、図6図示の実施形態では、図3、図4図示の実施形態に、冷却部20及び送風ファン21を設けているが、図1、図2図示の実施形態に冷却部20及び送風ファン21を追加して設けることもできる。
1 CVD装置
2 反応容器
3 レセプタ
5 基板
6 加熱機構
8 冷却ジャケット
10 覗き窓部
11 窓板
12 放射温度計
15 導入部
16 窓取付フランジ
2 反応容器
3 レセプタ
5 基板
6 加熱機構
8 冷却ジャケット
10 覗き窓部
11 窓板
12 放射温度計
15 導入部
16 窓取付フランジ
Claims (4)
- 真空排気した反応容器内に原料ガスを導入し、所定の温度に加熱された基板上に薄膜を堆積させるCVD装置において、
前記反応容器の外側に配備されていて、前記反応容器内部から外部に向かう放射光を受光して温度計測する放射温度計と、
前記反応容器の周壁に配備されていて前記放射光を前記放射温度計に導く覗き窓部とを備え、
前記覗き窓部は、前記反応容器の周壁を前記反応容器の内側から外側に向けて貫通する筒状の導入部と、該導入部の外側端部に配備される窓板とからなり、
前記導入部を取り囲む冷却手段が配備されている
ことを特徴とするCVD装置。 - 前記導入部の前記反応容器の内側端部から前記窓板の外側表面までの距離L2と、前記導入部の直径Dとが、L2/D=1〜40の関係にあることを特徴とする請求項1記載のCVD装置。
- 前記放射温度計を取り囲む冷却手段が更に配備されていることを特徴とする請求項1又は2記載のCVD装置。
- 前記窓板は、前記導入部の外側端部に配備されている窓取付フランジを介して前記導入部の外側端部に配備されており、前記反応容器の周壁と当該窓取付フランジとの間がメタルガスケットでシールされていることを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載のCVD装置。
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ID=40055257
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