JP2008064695A - Testing device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、被試験デバイスを試験する試験装置に関する。特に本発明は、複数の試験ユニットを備えた試験装置に関する。 The present invention relates to a test apparatus for testing a device under test. In particular, the present invention relates to a test apparatus including a plurality of test units.
近年の試験装置は、試験パターンを発生させるパターン発生器、および、タイミング信号を発生させるタイミング発生器などの、複数の試験ユニットを有することで、高性能の被試験デバイスの効率的な試験を可能としている。複数の試験ユニットを有する試験装置は、試験ユニットを制御するための制御装置を有している。制御装置は、予め設定されたプログラムに従って動作し、それぞれの試験ユニットに対し試験ユニットを制御するためのコマンドやデータなどを送信する。 Recent test equipment has multiple test units such as a pattern generator that generates test patterns and a timing generator that generates timing signals, enabling efficient testing of high-performance devices under test It is said. A test apparatus having a plurality of test units has a control apparatus for controlling the test units. The control device operates according to a preset program, and transmits a command, data, and the like for controlling the test unit to each test unit.
コマンドの伝送路や試験ユニットに障害が発生すると、制御装置から試験ユニットに対するコマンドの応答が検出されなくなる場合がある。このような場合には、制御装置は、コマンドがタイムアウトするのを待って、再送処理などの次の処理を行う。しかしながら、複数の試験ユニットと制御装置とがリングネットワークで接続されている場合には、一旦障害が発生するとその後は他の試験ユニットとの通信も正常に行えない場合が多い。このため、制御装置がコマンドを何度も送信すると、タイムアウトが連続して発生し、制御装置による他の処理を阻害してしまっていた。この結果、例えば、障害の発見や障害対応の処理が遅れるおそれがあった。 If a failure occurs in the command transmission path or the test unit, the response of the command to the test unit from the control device may not be detected. In such a case, the control device waits for the command to time out and performs the next process such as a retransmission process. However, when a plurality of test units and the control device are connected via a ring network, once a failure occurs, communication with other test units cannot be normally performed thereafter. For this reason, when the control device transmits a command many times, timeouts occur continuously, hindering other processing by the control device. As a result, for example, there is a possibility that the discovery of the failure and the processing for the failure will be delayed.
そこで本発明は、上記の課題を解決することのできる試験装置を提供することを目的とする。この目的は特許請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。 Accordingly, an object of the present invention is to provide a test apparatus that can solve the above-described problems. This object is achieved by a combination of features described in the independent claims. The dependent claims define further advantageous specific examples of the present invention.
本発明の一側面によると、被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、制御装置と複数の試験ユニットとの間に接続するインターフェイス部と、インターフェイス部と複数の試験ユニットのそれぞれとをリング状に接続して、コマンドをリングの一方向に伝播させるリングネットワークとを備え、インターフェイス部は、制御装置と接続される第1インターフェイスと、リングネットワークに接続される第2インターフェイスと、リングネットワークへと出力したコマンドがリングネットワーク上でタイムアウトしたことに応じて、制御装置からのコマンドをタイムアウトさせるタイムアウト処理部と、リングネットワークの異常を検出する異常検出部と、リングネットワークの異常が検出された後に制御装置から受信したコマンドを、リングネットワークへと出力することなく完了させる異常処理部とを有する試験装置を提供する。 According to one aspect of the present invention, there is provided a test apparatus for testing a device under test, a plurality of test units for testing the device under test, and a plurality of tests by transmitting a command to each of the plurality of test units. A control device that controls the operation of each unit, an interface unit that is connected between the control device and the plurality of test units, and an interface unit and each of the plurality of test units that are connected in a ring shape to ring a command A ring network that propagates in one direction, and the interface unit includes a first interface connected to the control device, a second interface connected to the ring network, and a command output to the ring network on the ring network. In response to a timeout, type a command from the control unit. A timeout processing unit to be out, an abnormality detection unit to detect an abnormality of the ring network, and an abnormality processing unit to complete a command received from the control device after the abnormality of the ring network is detected without being output to the ring network; A test apparatus is provided.
また、異常検出部は、第2インターフェイスを介してリングネットワークへと出力された、リングネットワーク上のそれぞれの試験ユニットを経由して第2インターフェイスへと戻るべき信号の異常を検出したことに応じて、リングネットワークの異常を検出してもよい。
また、異常検出部は、第2インターフェイスを介してリングネットワークへと出力された、コマンドの取得タイミングを示すクロック信号が第2インターフェイスへと入力されなかったことに応じて、リングネットワークの異常を検出してもよい。
In addition, the abnormality detection unit detects an abnormality of the signal that is output to the ring network via the second interface and should return to the second interface via each test unit on the ring network. An abnormality of the ring network may be detected.
The anomaly detection unit detects an anomaly in the ring network in response to the clock signal indicating the command acquisition timing output to the ring network via the second interface not being input to the second interface. May be.
また、異常検出部は、第2インターフェイスを介してリングネットワークへと出力されたコマンドが、リングネットワーク上のそれぞれの試験ユニットを経由して第2インターフェイスへと戻らなかったことに応じて、リングネットワークの異常を検出してもよい。
また、第2インターフェイスは、予め指定された時間間隔でダミーコマンドを生成してリングネットワークへと出力し、異常検出部は、ダミーコマンドがリングネットワーク上のそれぞれの試験ユニットを経由して第2インターフェイスへと戻らなかったことに応じて、リングネットワークの異常を検出してもよい。
In addition, the abnormality detection unit determines whether the command output to the ring network via the second interface does not return to the second interface via each test unit on the ring network. Anomalies may be detected.
The second interface generates a dummy command at a predetermined time interval and outputs the dummy command to the ring network. The anomaly detector detects that the dummy command passes through each test unit on the ring network. An abnormality of the ring network may be detected in response to failure to return to the normal state.
また、複数の試験ユニットのそれぞれは、当該試験ユニットを宛先とするコマンドを受け付けたことに応じて、リングネットワークにアクノレッジ信号を出力し、リングネットワークは、アクノレッジ信号をコマンドとは逆方向に伝播してインターフェイス部へ入力し、第2インターフェイスは、複数の試験ユニットの中から一の試験ユニットを順番に選択して当該試験ユニットを宛先とするダミーコマンドを順次送信し、異常検出部がリングネットワークの異常を検出した場合において、一の試験ユニットから当該ダミーコマンドを受け付けたことを示すアクノレッジ信号を受信しなかったことに応じて、当該一の試験ユニットに対するコマンド送信に支障があることを検出する異常箇所検出部を更に備えてもよい。
なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなく、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。
Each of the plurality of test units outputs an acknowledge signal to the ring network in response to receiving a command destined for the test unit, and the ring network propagates the acknowledge signal in the opposite direction to the command. The second interface selects one test unit from a plurality of test units in order and sequentially transmits dummy commands destined for the test unit. Abnormality that detects that there is a problem in command transmission to the one test unit in response to not receiving an acknowledge signal indicating that the dummy command has been accepted from one test unit when an abnormality is detected You may further provide a location detection part.
The above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention, and sub-combinations of these feature groups can also be the invention.
以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではなく、また実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。 Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention. However, the following embodiments do not limit the invention according to the scope of claims, and all combinations of features described in the embodiments are included. It is not necessarily essential for the solution of the invention.
図1は、試験装置10の機能構成を示す。試験装置10は、制御ユニット20と、タイミング発生器30と、パターン発生器40と、電源ユニット50と、テストヘッド60と、リングネットワーク70とを備え、被試験デバイス100の良否を判定することを目的とする。タイミング発生器30、パターン発生器40、電源ユニット50およびテストヘッド60のそれぞれは、被試験デバイス100を試験するための試験ユニットであり、互いに協調動作して被試験デバイス100を試験する。例えば、タイミング発生器30は、所定のクロック信号を生成してパターン発生器40に供給する。パターン発生器40は、被試験デバイス100に供給する試験パターンを、与えられるクロック信号に応じてテストヘッド60に対し出力する。また、パターン発生器40は、期待値パターンをテストヘッド60に対し出力する。テストヘッド60は、入力を受けた試験パターンを被試験デバイス100に対し供給する。また、テストヘッド60は、被試験デバイス100から出力される試験パターンを取得して期待値パターンと比較させることで被試験デバイス100の良否を判定させる。電源ユニット50は、これらの試験ユニットに対し電源を供給する。
FIG. 1 shows a functional configuration of the
制御ユニット20は、予め入力された制御プログラム80に従って、これら複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、これら複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する。例えば、制御ユニット20は、試験開始前に試験ユニットに対し所定の初期設定を行ってもよいし、試験ユニット中のレジスタに対し所定のパラメータを設定してもよい。具体的には、制御ユニット20は、制御装置22と、インターフェイス部24とを有する。制御装置22は、タイミング発生器30、パターン発生器40、電源ユニット50およびテストヘッド60に対し、インターフェイス部24を介してコマンドを送信する。インターフェイス部24は、制御装置22と複数の試験ユニットとの間に接続される。具体的には、インターフェイス部24は、PCIバス等の汎用バスによって制御装置22に接続される。また、インターフェイス部24は、専用の信号伝送路であるリングネットワーク70によって、タイミング発生器30、パターン発生器40、電源ユニット50およびテストヘッド60に接続される。リングネットワーク70は、インターフェイス部24と複数の試験ユニットのそれぞれとをリング状に接続して、コマンドをリングの一方向に伝播させる。
The
図2は、インターフェイス部24の機能構成を示す。インターフェイス部24は、第1インターフェイス200と、第2インターフェイス210と、タイムアウト処理部220と、異常検出部230と、異常処理部240と、異常箇所検出部250と、選択部260とを有する。第1インターフェイス200は、制御装置22に接続され、制御装置22からコマンドなどの信号を受信する第1受信回路202と、制御装置22に対しコマンドなどの信号を送信する第1送信回路204とを有する。第2インターフェイス210は、リングネットワーク70に接続される。そして、第2インターフェイス210は、リングネットワーク70上に出力されるべきコマンドを、第1受信回路202から取得して一時的に格納するバッファ212と、バッファ212からコマンドを取り出してリングネットワーク70上に送信する第2送信回路214と、リングネットワーク70からコマンドを受信する第2受信回路216とを有する。第1インターフェイス200および第2インターフェイス210によって各試験ユニットに対しコマンドが送信される第1の処理例を以下に示す。
FIG. 2 shows a functional configuration of the
図3は、第1の処理例における試験装置10の動作を示すタイムチャートである。制御装置22は、タイミング発生器30に対する書込コマンド(Write TG,DATA1)を発行する(S300)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、バッファ212に一時的に格納され、第2インターフェイス210によってリングネットワーク70上に出力される。このコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50およびテストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に戻る。タイミング発生器30は、このコマンドを受信すると、その内容に応じた書込み処理を行う(S310)。そして、タイミング発生器30は、書込み処理が完了した旨のアクノレッジ信号を、リングネットワーク70上においてコマンドとは逆方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力する。
FIG. 3 is a time chart showing the operation of the
これらの処理とは独立に、制御装置22は、電源ユニット50に対する書込コマンド(Write DPU,DATA2)を発行する(S320)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、バッファ212に格納される。第2インターフェイス210は、アクノレッジ信号をタイミング発生器30から受信すると、次のコマンドをバッファ212から取り出す(S330)。そして、第2インターフェイス210は、取り出したコマンドをリングネットワーク70上に出力する。このコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50およびテストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に戻る。電源ユニット50は、このコマンドを受信すると、その内容に応じた書込み処理を行う(S350)。そして、電源ユニット50は、書込み処理が完了した旨のアクノレッジ信号を、リングネットワーク70上においてコマンドとは逆方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力する。
Independently of these processes, the
これらの処理とは独立に、制御装置22は、パターン発生器40に対する読出コマンド(Read PG)を発行する(S340)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、バッファ212に格納される。第2インターフェイス210は、アクノレッジ信号を電源ユニット50から受信すると、次のコマンドをバッファ212から取り出す(S360)。そして、第2インターフェイス210は、取り出したコマンドをリングネットワーク70上に出力する。このコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50およびテストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に戻る。パターン発生器40は、このコマンドを受信すると、その内容に応じた読出処理を行う(S370)。そして、パターン発生器40は、読み出したデータを、リングネットワーク70上においてコマンドと同一方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力する。このデータは、第1インターフェイス200を介して制御装置22に対し返信される。制御装置22は、データの返信を受けると、次の処理を行う(S380)。
Independently of these processes, the
図2に戻る。タイムアウト処理部220は、リングネットワーク70へと出力したコマンドがリングネットワーク70上でタイムアウトしたことに応じて、制御装置22からのコマンドをタイムアウトさせる。タイムアウトした旨の情報は、選択部260および第1インターフェイス200を介して制御装置22に対し通知されてもよいし、異常検出部230および異常箇所検出部250に対して出力されてもよい。タイムアウトが発生する処理の一例を図4に示す。
Returning to FIG. The
図4は、第2の処理例における試験装置10の動作を示すタイムチャートである。制御装置22は、タイミング発生器30に対する書込コマンド(Write TG,DATA1)を発行する(S400)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、バッファ212に一時的に格納され、第2インターフェイス210によってリングネットワーク70上に出力される。このコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50およびテストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のネットワークが切断されているために正常に返信されない。しかしながら、宛先であるタイミング発生器30は切断箇所より手前側に接続されているのでこのコマンドを受信できる。したがって、タイミング発生器30は、このコマンドに応じた書込み処理を行う(S410)。そして、タイミング発生器30は、書込み処理が完了した旨のアクノレッジ信号を、リングネットワーク70上においてコマンドとは逆方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力する。
FIG. 4 is a time chart showing the operation of the
これらの処理とは独立に、制御装置22は、電源ユニット50に対する書込コマンド(Write DPU,DATA2)を発行し(S420)、パターン発生器40に対する読出コマンド(Read PG)を発行する(S440)。これらのコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、バッファ212に格納される。第2インターフェイス210は、アクノレッジ信号をタイミング発生器30から受信すると、次のコマンドをバッファ212から取り出す(S430)。そして、第2インターフェイス210は、取り出したコマンドをリングネットワーク70上に出力する。このコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50およびテストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のネットワークが切断されているために正常に返信されない。このため、このコマンドは、宛先である電源ユニット50に対して正常に到達しない。したがって、アクノレッジ信号も返信されない。
Independent of these processes, the
タイムアウト処理部220は、コマンドが出力されてから予め定められた期間が経過すると、リングネットワーク70へと出力したコマンドがリングネットワーク70上でタイムアウトしたと判断する(S450)。そして、第2インターフェイス210は、バッファ212から次のコマンドを取り出す(S460)。このコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50およびテストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のネットワークが切断されているために正常に返信されない。しかしながら、宛先であるパターン発生器40は切断箇所より手前側に接続されているのでこのコマンドを受信できる。したがって、パターン発生器40は、コマンドに応じた読出処理を行う(S470)。読み出されたデータは、リングネットワーク70上においてコマンドと同一方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力されるべきであるが、切断によって第2インターフェイス210にまでは到達しない。
The
この場合、タイムアウト処理部220は、リングネットワーク70へと出力したコマンドがリングネットワーク70上でタイムアウトしたと判断する。タイムアウトしたと判断したことに応じ、タイムアウト処理部220は、制御装置22からのコマンドをタイムアウトさせるべく、タイムアウトした旨を制御装置22に対し通知する(S480)。これを受けて、制御装置22は、次の処理を行う(S490)。
このように、図4に示す処理は、リングネットワーク70の切断をタイムアウトしたかどうかにより判断するため、判断に長時間を要する。したがって、制御装置22において次の処理の開始が遅れ、障害の発見や解消が困難になる場合がある。
In this case, the
As described above, since the process shown in FIG. 4 is determined based on whether or not the disconnection of the
図2に戻る。異常検出部230は、リングネットワーク70の異常を検出する。異常処理部240は、リングネットワーク70の以上が検出された後に制御装置22から受信したコマンドを、リングネットワーク70へと出力することなく完了させる。この処理の一例を図5に示す。
図5は、第3の処理例における試験装置10の動作を示すタイムチャートである。異常検出部230は、第2インターフェイス210を介してリングネットワーク70へと出力された、リングネットワーク70上のそれぞれの試験ユニットを経由して第2インターフェイス210へと戻るべき信号の異常を検出したことに応じて、リングネットワーク70の異常を検出する(S500)。ここでいう戻るべき信号とは、例えば、第2インターフェイス210を介してリングネットワーク70へと出力されたコマンドの取得タイミングを示すクロック信号であり、具体的には、タイミング信号自体(TCLK信号)またはタイミング信号の出力開始を示すTSTART信号などである。これに代えて、戻るべき信号とは、第2インターフェイス210を介してリングネットワーク70へと出力されたコマンドを示す信号であってもよいし、第2インターフェイス210によって予め指定された時間間隔で生成されリングネットワーク70に対し出力されるダミーコマンドであってもよい。
Returning to FIG. The
FIG. 5 is a time chart showing the operation of the
リングネットワーク70の異常を検出すると、異常検出部230は、その旨を異常処理部240に通知する。さらには、異常検出部230は、異常検出時のバッファ212の状態を保持するべく、その後のバッファ212に対する書込みを禁止することが望ましい。これにより、異常検出時の状況を維持できるので、試験装置10の動作終了後に障害原因を追究する作業を支援することができる。
When the abnormality of the
この処理とは独立に、制御装置22は、タイミング発生器30に対する書込コマンド(Write TG,DATA1)を発行する(S510)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、正常時であればバッファ212に一時的に格納される。しかしながら、異常検出部230は、異常を検出した旨の通知を受けているので、第1インターフェイス200によって受信されたこのコマンドを、リングネットワーク70へと出力することなく完了させ、完了した旨の通知を第1インターフェイス200を介して制御装置22に対し送信する(S520)。
Independently of this process, the
また、制御装置22は、電源ユニット50に対する書込コマンド(Write DPU,DATA2)を発行する(S530)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、正常時であればバッファ212に格納される。しかしながら、異常検出部230は、異常を検出した旨の通知を受けているので、第1インターフェイス200によって受信されたこのコマンドを、リングネットワーク70へと出力することなく完了させ、完了した旨の通知を第1インターフェイス200を介して制御装置22に対し送信する(S540)。
Further, the
また、制御装置22は、パターン発生器40に対する読出コマンド(Read PG)を発行する(S550)。このコマンドは、第1インターフェイス200によって受信され、正常時であればバッファ212に格納される。しかしながら、異常検出部230は、異常を検出した旨の通知を受けているので、第1インターフェイス200によって受信されたこのコマンドを、リングネットワーク70へと出力することなく完了させ、完了した旨の通知を第1インターフェイス200を介して制御装置22に対し送信する(S560)。
Further, the
これを受けて、制御装置22は、次の処理を行う(S570)。このように、図5を参照して説明した処理によれば、異常が一旦検出された後に受信したコマンドは、タイムアウト処理を待たずに直ちに終了するので、制御装置22は、異常終了時に行うべき次の処理に直ちに移行することができる。この結果、異常の検出やその対応を迅速にすすめることができる。
In response to this, the
図2に戻る。異常検出部230は、第2インターフェイス210に対し、送信したクロック信号がリングネットワーク70から返信されることを検出した場合には、異常が除去されたと判断し、異常処理部240に対し異常検出時の処理を解除するように指示してもよい。この指示を受けると、異常処理部240は、第1インターフェイス200が制御装置22からその後に受信するコマンドをバッファ212に格納させ、第2インターフェイス210によってリングネットワーク70に対し送信させる。また、異常箇所検出部250は、異常検出部230がリングネットワーク70の異常を検出した場合において、何れの試験ユニットに対するコマンド送信に支障があったかをさらに検出してもよい。図6を参照して、この処理の詳細を説明する。
Returning to FIG. When the
図6は、第4の処理例における試験装置10の動作を示すタイムチャートである。リングネットワーク70の異常が検出された場合において、第2インターフェイス210は、複数の試験ユニットの中から一の試験ユニットを順番に選択して当該選択した試験ユニットを宛先とするダミーコマンドを送信する。即ち、まず、第2インターフェイス210は、パターン発生器40を選択して、パターン発生器40に対しダミーコマンドを送信する(S600)。送信されたダミーコマンドは、パターン発生器40、タイミング発生器30、電源ユニット50、および、テストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のリングネットワーク70が切断されているために正常に返信されない。しかしながら、宛先であるパターン発生器40は切断箇所より手前側に接続されているのでこのダミーコマンドを受信できる。したがって、パターン発生器40は、このダミーコマンドに応じてアクノレッジ信号を生成し、リングネットワーク70上においてダミーコマンドとは逆方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力する(S605)。このアクノレッジ信号の受信は異常箇所検出部250に対し通知される。
FIG. 6 is a time chart showing the operation of the
次に、第2インターフェイス210は、タイミング発生器30を選択して、タイミング発生器30に対しダミーコマンドを送信する(S610)。送信されたダミーコマンドは、タイミング発生器30、タイミング発生器30、電源ユニット50、および、テストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のリングネットワーク70が切断されているために正常に返信されない。しかしながら、宛先であるタイミング発生器30は切断箇所より手前側に接続されているのでこのダミーコマンドを受信できる。したがって、タイミング発生器30は、このダミーコマンドに応じてアクノレッジ信号を生成し、リングネットワーク70上においてダミーコマンドとは逆方向に伝播させて第2インターフェイス210へ入力する(S615)。このアクノレッジ信号の受信は異常箇所検出部250に対し通知される。
Next, the
次に、第2インターフェイス210は、電源ユニット50を選択して、電源ユニット50に対しダミーコマンドを送信する(S620)。送信されたダミーコマンドは、タイミング発生器30、タイミング発生器30、電源ユニット50、および、テストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のリングネットワーク70が切断されているために正常に返信されない。さらに、宛先である電源ユニット50は切断箇所より奥側に接続されているのでこのダミーコマンドを受信できない。したがって、電源ユニット50からはアクノレッジ信号も返信されない。
Next, the
次に、第2インターフェイス210は、テストヘッド60を選択して、テストヘッド60に対しダミーコマンドを送信する(S630)。送信されたダミーコマンドは、タイミング発生器30、タイミング発生器30、電源ユニット50、および、テストヘッド60を順次経由して第2インターフェイス210に返信されるべきであるが、タイミング発生器30および電源ユニット50間のリングネットワーク70が切断されているために正常に返信されない。さらに、宛先であるテストヘッド60は切断箇所より奥側に接続されているのでこのダミーコマンドを受信できない。したがって、電源ユニット50からはアクノレッジ信号も返信されない。
Next, the
異常箇所検出部250は、アクノレッジ信号の返信を受けた旨の通知に基づき、何れの試験ユニットに対するコマンド送信に支障があるかを検出する(S640)。例えば、図6の例では、異常箇所検出部250は、パターン発生器40およびタイミング発生器30に対するコマンド送信のみが成功したので、電源ユニット50およびテストヘッド60に対するコマンド送信に支障があると判断し、さらには、予め与えられたリングネットワーク70上の試験ユニットの接続配置の情報に基づき、タイミング発生器30および電源ユニット50間のリングネットワーク70に障害発生が疑われると判断してもよい。
The abnormal
以上、本実施形態に示す試験装置10によれば、リングネットワーク70に通信障害が発生した場合には、その後のコマンドを自動的に失敗させて制御装置22による次の処理を迅速に開始させることができる。この機能は、制御装置22内の制御プログラム80ではなく制御装置22とリングネットワーク70とを接続するインターフェイス部24で実現されるので、制御装置22内で動作する従来の制御プログラム80の改造を必要とせず、従来資産を有効利用できる。さらに、異常検出時には異常時にバッファリングされているコマンドを維持し、また、異常発生箇所として疑われる部分を自動的に検出することができ、その後の障害対応を効率化させることができる。
As described above, according to the
以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。 As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.
10 試験装置
20 制御ユニット
22 制御装置
24 インターフェイス部
30 タイミング発生器
40 パターン発生器
50 電源ユニット
60 テストヘッド
70 リングネットワーク
80 制御プログラム
100 被試験デバイス
200 第1インターフェイス
202 第1受信回路
204 第1送信回路
210 第2インターフェイス
212 バッファ
214 第2送信回路
216 第2受信回路
220 タイムアウト処理部
230 異常検出部
240 異常処理部
250 異常箇所検出部
260 選択部
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、
前記複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、前記複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、
前記制御装置と前記複数の試験ユニットとの間に接続するインターフェイス部と、
前記インターフェイス部と前記複数の試験ユニットのそれぞれとをリング状に接続して、前記コマンドをリングの一方向に伝播させるリングネットワークと
を備え、
前記インターフェイス部は、
前記制御装置と接続される第1インターフェイスと、
前記リングネットワークに接続される第2インターフェイスと、
前記リングネットワークへと出力した前記コマンドが前記リングネットワーク上でタイムアウトしたことに応じて、前記制御装置からの前記コマンドをタイムアウトさせるタイムアウト処理部と、
前記リングネットワークの異常を検出する異常検出部と、
前記リングネットワークの異常が検出された後に前記制御装置から受信した前記コマンドを、前記リングネットワークへと出力することなく完了させる異常処理部と
を有する試験装置。 A test apparatus for testing a device under test,
A plurality of test units for testing the device under test;
A control device that transmits a command to each of the plurality of test units to control the operation of each of the plurality of test units;
An interface unit connected between the control device and the plurality of test units;
A ring network that connects the interface unit and each of the plurality of test units in a ring shape and propagates the command in one direction of the ring, and
The interface unit is
A first interface connected to the control device;
A second interface connected to the ring network;
A time-out processing unit that times out the command from the control device in response to a time-out on the ring network of the command output to the ring network;
An abnormality detection unit for detecting an abnormality of the ring network;
A test apparatus, comprising: an abnormality processing unit that completes the command received from the control device after detecting an abnormality of the ring network without outputting the command to the ring network.
前記異常検出部は、前記ダミーコマンドが前記リングネットワーク上のそれぞれの前記試験ユニットを経由して前記第2インターフェイスへと戻らなかったことに応じて、前記リングネットワークの異常を検出する
請求項4に記載の試験装置。 The second interface generates a dummy command at a predetermined time interval and outputs the dummy command to the ring network.
The abnormality detection unit detects an abnormality in the ring network in response to the dummy command not returning to the second interface via the test units on the ring network. The test apparatus described.
前記リングネットワークは、前記アクノレッジ信号を前記コマンドとは逆方向に伝播して前記インターフェイス部へ入力し、
前記第2インターフェイスは、前記複数の試験ユニットの中から一の試験ユニットを順番に選択して当該試験ユニットを宛先とする前記ダミーコマンドを順次送信し、
前記異常検出部が前記リングネットワークの異常を検出した場合において、前記一の試験ユニットから当該ダミーコマンドを受け付けたことを示す前記アクノレッジ信号を受信しなかったことに応じて、当該一の試験ユニットに対するコマンド送信に支障があることを検出する異常箇所検出部を更に備える
請求項5に記載の試験装置。 Each of the plurality of test units outputs an acknowledge signal to the ring network in response to receiving the command destined for the test unit,
The ring network propagates the acknowledge signal in the opposite direction to the command and inputs it to the interface unit,
The second interface sequentially selects one test unit from the plurality of test units, and sequentially transmits the dummy commands destined for the test unit,
When the abnormality detection unit detects an abnormality in the ring network, the failure detection unit receives the acknowledge signal indicating that the dummy command has been received from the one test unit. The test apparatus according to claim 5, further comprising an abnormal point detection unit that detects that there is a problem in command transmission.
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