JP2007221035A - 電子部品落下検出方法および電子部品実装方法 - Google Patents
電子部品落下検出方法および電子部品実装方法 Download PDFInfo
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Abstract
【解決手段】1つの吸気路から分岐したノズルに電子部品を吸着した状態で移動する多連ノズルの移動前後における吸気路内の真空圧の変化を測定する際に、多連ノズルが移動開始した時点から所定時間を経過した後でなければ移動後の真空圧を検知しないようにした。これにより、多連ノズルの何れかのノズルから電子部品が落下した場合に、移動距離が短い場合であっても移動後の真空圧を測定する時点までに吸気路内の真空圧の低下が安定し、所定の閾値と比較した結果に基づいて電子部品の落下を検出することができる。
【選択図】図6
Description
には、前記移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記移動工程が終了した時点において、前記測定工程において測定された経過時間が前記所定時間を超えていない場合には、前記所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第2の検知工程と、を含み、前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が所定の閾値を超えている場合に、前記移動工程において何れかのノズルで電子部品の落下が発生したことを検出する。
法において、前記第2の所定時間が前記第1の所定時間より小さく設定されているとともに前記第2の閾値が前記第1の閾値より小さく設定されている。
は、搬送路2の駆動機構2a、パーツフィーダ5、Yテーブル6の駆動機構6a、Xテーブル7の駆動機構7a、カメラ9、ラインカメラ10、多連ノズル20、真空発生源23、バルブ24、真空圧センサ25の各部と接続されている。制御部30には演算部31と記憶部32が含まれており、演算部31は、記憶部31に記憶された電子部品や基板、ノズル等に関するデータや制御プログラムに基づいて各種の演算処理を行い、電子部品実装装置における実装動作の制御を行うように構成されている。また、演算部31は、カメラ9、ラインカメラ10により撮像された位置合わせ用のマークやノズルに吸着された電子部品の画像を処理して位置認識を行う機能を備えており、実装動作における位置決め制御を行う。操作入力部33は、キーボードやドライバ等から構成され、記憶部31にデータや制御プログラム等を入力するほか、演算部31に直接アクセスして電子部品実装装置の操作を行うことができる。出力部34は、CRTや液晶パネル等の可視表示手段や警告手段等から構成され、電子部品実装装置における動作状況を可視表示するほか、実装動作中に不具合が生じた場合等にエラー警告を行うようになっている。
る実装動作を工程順に示したフローチャートである。図6において、まず、多連ノズル20の各ノズルに電子部品を吸着する(ST1)。各ノズルに吸着された電子部品をラインカメラ10によりスキャニングし、電子部品の位置および姿勢認識を行う(認識工程:ST2)。このとき電子部品が認識されなかった未吸着ノズルについては、欠品基板の発生を防止するため以後の実装動作を行わない。
電子部品の実装を順次行い、全ての実装箇所に電子部品の実装が完了すると実装動作が終了する。
22 吸気路
Claims (6)
- 1つの吸気路から分岐した複数のノズルに電子部品を吸着した状態で前記吸気路内の真空圧を検知する第1の検知工程と、
前記第1の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の実装箇所の上方に移動させる移動工程と、
前記移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する測定工程と、
前記移動工程が終了した時点において、前記測定工程において測定された経過時間が所定時間を超えている場合には、前記移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記移動工程が終了した時点において、前記測定工程において測定された経過時間が前記所定時間を超えていない場合には、前記所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第2の検知工程と、
を含み、
前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が所定の閾値を超えている場合に、前記移動工程において何れかのノズルで電子部品の落下が発生したことを検出する電子部品落下検出方法。 - 前記所定の時間が、前記吸気路内において真空圧の変化が安定するために要する時間である請求項1記載の電子部品落下検出方法。
- 1つの吸気路から分岐した複数のノズルに吸着された電子部品を認識する認識工程と、
前記認識工程後に前記吸気路内の真空圧を検知する第1の検知工程と、
前記第1の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の最初の実装箇所の上方に移動させる第1の移動工程と、
前記第1の移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する第1の測定工程と、
前記第1の移動工程が終了した時点において、前記第1の測定工程において測定された経過時間が第1の所定時間を超えている場合には、前記第1の移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記第1の移動工程が終了した時点において、前記第1の測定工程において測定された経過時間が前記第1の所定時間を超えていない場合には、前記第1の所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第2の検知工程と、
前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第1の閾値以下である場合に、前記最初の実装箇所に電子部品を実装する第1の実装工程と、
前記第1の実装工程後に前記吸気路内の真空圧を検知する第3の検知工程と、
前記第3の検知工程後に前記複数のノズルを電子部品の次の実装箇所の上方に移動させる第2の移動工程と、
前記第2の移動工程が開始した時点からの経過時間を測定する第2の測定工程と、
前記第2の移動工程が終了した時点において、前記第2の測定工程において測定された経過時間が第2の所定時間を超えている場合には、前記第2の移動工程が終了した時点において前記吸気路内の真空圧を検知し、前記第2の移動工程が終了した時点において、前記第2の測定工程において測定された経過時間が前記第2の所定時間を超えていない場合には、前記第2の所定時間が経過した時点において前記吸気路内の真空圧を検知する第4の検知工程と、
前記第4の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第3の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第2の閾値以下である場合に、前記次の実装箇所に電子部品を実装する第2の実装工程と、
前記第2の移動工程および前記第2の測定工程、前記第3の検知工程、前記第4の検知工程、前記第2の実装工程を繰り返し行うことにより、複数の実装箇所に電子部品を順次
実装する工程と、
を含む電子部品実装方法。 - 前記第2の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第1の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第1の閾値を超えている場合に、前記第1の実装工程において電子部品を実装しない請求項3記載の電子部品実装方法。
- 前記第4の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧と前記第3の検知工程において検知された前記吸気路内の真空圧との差が第2の閾値を超えている場合に、前記第2の実装工程において電子部品を実装しない請求項3または4記載の電子部品実装方法。
- 前記第2の所定時間が前記第1の所定時間より小さく設定されているとともに前記第2の閾値が前記第1の閾値より小さく設定されている請求項3乃至5の何れかに記載の電子部品実装方法。
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