Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP2007280807A - Fuse and manufacturing method thereof - Google Patents

Fuse and manufacturing method thereof Download PDF

Info

Publication number
JP2007280807A
JP2007280807A JP2006106556A JP2006106556A JP2007280807A JP 2007280807 A JP2007280807 A JP 2007280807A JP 2006106556 A JP2006106556 A JP 2006106556A JP 2006106556 A JP2006106556 A JP 2006106556A JP 2007280807 A JP2007280807 A JP 2007280807A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fuse
resin film
porous resin
porous
hole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2006106556A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Taro Fujita
太郎 藤田
Yasuhiro Okuda
泰弘 奥田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP2006106556A priority Critical patent/JP2007280807A/en
Publication of JP2007280807A publication Critical patent/JP2007280807A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Fuses (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small or very small fuse, along with its manufacturing method, which is excellent in instantaneous blown nature and is suitable as a printed board mounting type fuse. <P>SOLUTION: The fuse is provided with a porous resin film comprising a plurality of through holes running in thickness direction from one surface to the other surface, a fuse layer formed on the inner surface of each through hole, a connection conductor which is provided at least on one surface of the porous resin film and connects the fuse layers in series or in parallel, and two electrodes that are provided at both ends of the porous resin film and connected to two fuse layers, through the connection conductor, closest to both ends among the fuse layers. <P>COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT

Description

本発明は、プリント基板上に実装するのに適した小型もしくは超小型のヒューズ及びその製造方法に関し、さらに詳しくは、速断タイプの溶断特性を示し、面実装に適した小型もしくは超小型のヒューズ及びその製造方法に関する。   The present invention relates to a small-sized or ultra-small fuse suitable for mounting on a printed circuit board and a method for manufacturing the same, and more particularly, a small-sized or ultra-small fuse suitable for surface mounting and exhibiting a fast-blow type fusing characteristic. It relates to the manufacturing method.

電子機器の許容限界を超える電流を過電流という。電子機器は、過電流が発生しないように設計されているものの、回路部品の故障や短絡事故、混触事故、誤配線などのトラブルが生じると、過電流が流入する危険が常に存在する。ヒューズは、電子機器に許容電流より大きい電流が流れたときに、溶断して電源を遮断するために用いられる過電流保護素子である。ヒューズは、可溶体(ヒューズエレメント)を備えており、回路に異常な過電流が流れると、流れる電流により生じるジュール熱によって可溶体が溶融して電流を遮断する。ヒューズは、電子部品の製作途中や完成時のチェックの際にも用いられる。   Current exceeding the allowable limit of electronic equipment is called overcurrent. Although electronic devices are designed not to generate overcurrent, there is always a danger of overcurrent flowing in when troubles such as circuit component failures, short circuit accidents, mixed accidents, and incorrect wiring occur. The fuse is an overcurrent protection element that is used to cut off a power source by fusing when a current larger than an allowable current flows through the electronic device. The fuse includes a fusible body (fuse element), and when an abnormal overcurrent flows through the circuit, the fusible body melts due to Joule heat generated by the flowing current and interrupts the current. The fuse is also used for checking during the production or completion of electronic components.

近年、電子機器が小型化され、抵抗、キャパシタ、半導体、機構部品のすべてがプリント基板上に搭載されるに至っている。そのため、プリント基板上に構成される電子回路にも、小型ヒューズが配置されている。電子機器の保護に用いられるヒューズには、管形ヒューズ、基板実装用のリード端子付きのスルーホール形ヒューズ、面実装用のチップヒューズなどが知られている。   In recent years, electronic devices have been miniaturized, and resistors, capacitors, semiconductors, and mechanical components have all been mounted on printed boards. For this reason, a small fuse is also disposed in an electronic circuit configured on a printed circuit board. Known fuses for protecting electronic equipment include tube fuses, through-hole fuses with lead terminals for board mounting, chip fuses for surface mounting, and the like.

電子機器に配置されるヒューズには、短絡事故などの際に、電流を安全確実に遮断する能力が要求されるとともに、電子機器の通常動作においては、決して切れることなく、長期の使用に耐える耐久性も要求される。特に、プリント基板上に実装されるヒューズには、短絡事故や誤配線などのトラブルによって定格容量以上の電流が流れたときに、可溶体が速やかに溶断して電流を遮断する特性(速断性)、及び起動時に流れる突入電流などの過渡的な過電流に耐える特性(耐パルス性)を有することに加えて、小型及び/または薄型であることが求められている。   Fuses placed in electronic devices are required to have the ability to safely and reliably cut off current in the event of a short circuit accident, etc., and in the normal operation of electronic devices, they never end up and endure long-term use Sex is also required. In particular, a fuse mounted on a printed circuit board has a characteristic that a fusible body quickly melts and cuts off the current when a current exceeding the rated capacity flows due to a short-circuit accident or incorrect wiring. In addition to having characteristics (pulse resistance) that can withstand transient overcurrent such as inrush current that flows at start-up, it is required to be small and / or thin.

電子機器の二次回路保護のために用いられているプリント基板実装型ヒューズとしては、可溶体金属細線をセラミックス製中空体内に張った構造の管形ヒューズ、及び耐熱性基板上に形成した可溶体薄膜パターンを耐熱性樹脂で封止した構造の薄膜型チップヒューズが代表的なものである。管形ヒューズは、構造上の制約から、小型化や薄型化に限界がある。薄膜型チップヒューズは、可溶体の周辺に断熱空間がないため、溶断特性が周囲温度に影響され易く、最小溶断電流も増大する傾向にある。   Printed circuit board mounted fuses used for secondary circuit protection of electronic equipment include tube fuses with a structure in which fusible metal wires are stretched in a ceramic hollow body, and fusible bodies formed on heat-resistant substrates. A typical example is a thin film type chip fuse having a structure in which a thin film pattern is sealed with a heat resistant resin. Tube fuses are limited in size and thickness due to structural limitations. The thin film chip fuse has no heat insulation space around the fusible body, so the fusing characteristics are easily affected by the ambient temperature, and the minimum fusing current tends to increase.

特開平11−224590号公報(特許文献1)には、絶縁体に複数の貫通孔を設け、該貫通孔の内面にヒューズ層を形成した構造の超小型ヒューズが提案されている。同様に、特開2002−42632号公報(特許文献2)には、絶縁体に複数の貫通孔を設け、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成するとともに、貫通孔の形状や数、孔径、孔間隔などを変化させて、所望の溶断特性とした超小型ヒューズが提案されている。特許文献2には、ヒューズ層を形成した貫通孔内に絶縁性樹脂を充填して、所望の溶断特性とした超小型ヒューズも示されている。   Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-224590 (Patent Document 1) proposes a micro fuse having a structure in which a plurality of through holes are provided in an insulator and a fuse layer is formed on the inner surface of the through holes. Similarly, in JP-A-2002-42632 (Patent Document 2), a plurality of through holes are provided in an insulator, a fuse layer is formed on the inner surface of each through hole, and the shape and number of through holes, the hole diameter, There has been proposed an ultra-small fuse having a desired fusing characteristic by changing a hole interval or the like. Patent Document 2 also shows a micro fuse having a desired fusing characteristic by filling an insulating resin into a through hole in which a fuse layer is formed.

特許文献1及び2に開示されている超小型ヒューズは、貫通孔内にヒューズ層があるため、溶断したヒューズが再溶着することがなく、貫通孔の数や形状などを調節することにより、所定の定格電流及び定格電圧のヒューズを得ることができ、さらには、小型化や薄型化が可能である。   Since the micro fuse disclosed in Patent Documents 1 and 2 has a fuse layer in the through hole, the fused fuse is not re-welded, and the number and shape of the through holes are adjusted to adjust the predetermined size. Fuses with a rated current and a rated voltage of 1 mm can be obtained, and further, downsizing and thinning are possible.

しかし、特許文献1及び2に開示されている超小型ヒューズは、絶縁体として通常の絶縁性基板を利用して作製されているため、ヒューズ層に流れた過電流によってジュール熱が発生しても、ヒューズ層に接触する絶縁体が熱を奪ってしまい、ヒューズ層の溶断が遅くなる傾向を示す。ヒューズ層に発生する熱が絶縁体を介して容易に分散すると、低電流域ではヒューズが溶断しにくくなり、最小溶断電流が大きくなる。高電流域での溶断時間が同じである場合、最小溶断電流が大きいヒューズは、耐パルス性が低下する傾向を示す。   However, since the micro fuses disclosed in Patent Documents 1 and 2 are manufactured using a normal insulating substrate as an insulator, even if Joule heat is generated due to an overcurrent flowing in the fuse layer. The insulator in contact with the fuse layer loses heat, and the fuse layer tends to be blown out later. If the heat generated in the fuse layer is easily dispersed through the insulator, the fuse is difficult to blow in a low current region, and the minimum fusing current is increased. When the fusing time in the high current region is the same, a fuse having a large minimum fusing current tends to have a reduced pulse resistance.

具体的に、特許文献2には、ヒューズ層を形成する貫通孔の孔径が小さく、孔数が多い場合には、ヒューズ層に発生する熱が分散し、放熱し易くなるため、低電流域ではヒューズが溶断しにくくなり、最小溶断電流が大きくなること、そのため、最小溶断電流が小さく、耐パルス性に優れたヒューズを得るには、孔径が大きく、孔数を少なくする方法を採用すべきことを教示している。しかし、そのような方法では、所望の定格遮断容量を示す超小型ヒューズの設計自由度が制約されることになる。   Specifically, in Patent Document 2, when the hole diameter of the through hole forming the fuse layer is small and the number of holes is large, the heat generated in the fuse layer is dispersed and easily dissipated. Fuse is less likely to blow, and the minimum fusing current is increased. Therefore, in order to obtain a fuse with a low minimum fusing current and excellent pulse resistance, a method with a large hole diameter and a reduced number of holes should be adopted. Teaches. However, such a method restricts the design freedom of a micro fuse that exhibits a desired rated breaking capacity.

特許文献2には、ヒューズ層を形成した貫通孔内に絶縁性樹脂を充填する方法を採用すれば、貫通孔を空洞のままにした場合よりも、各ヒューズ層が放熱し易くなり、高電流域における溶断時間を延ばすことができると記載されている。しかし、貫通孔内に絶縁性樹脂を充填する方法は、処理が煩雑である上、ヒューズの速断性がさらに低下するという問題がある。   In Patent Document 2, if a method of filling an insulating resin in a through hole in which a fuse layer is formed, each fuse layer is more likely to dissipate heat than a case where the through hole is left hollow. It is stated that the fusing time in the basin can be extended. However, the method of filling the through hole with the insulating resin has a problem that the processing is complicated and the quick disconnection of the fuse is further deteriorated.

特開平11−224590号公報JP 11-224590 A 特開2002−42632号公報JP 2002-42632 A

本発明の課題は、速断性に優れ、プリント基板実装型のヒューズとして適した小型もしくは超小型のヒューズとその製造方法を提供することにある。本発明の他の課題は、速断性に優れることに加えて、耐熱性、低アウトガス性、高周波特性に優れたヒューズとその製造方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a small or ultra-small fuse that is excellent in quick disconnection and suitable as a printed circuit board mounting type fuse, and a method for manufacturing the same. Another object of the present invention is to provide a fuse excellent in heat resistance, low outgas resistance, and high frequency characteristics in addition to being excellent in quick disconnection, and a method for manufacturing the same.

本発明者らは、前記課題を解決するために鋭意研究した結果、従来の絶縁性基板に貫通孔を形成し、その内面にヒューズ層を形成する方法ではなく、多孔質フッ素樹脂などの耐熱性と絶縁性に優れた多孔質樹脂膜に貫通孔を形成し、その内面にヒューズ層を形成する方法によれば、ヒューズ層に流れた過電流によって発生したジュール熱が放熱され難くなり、速断性に優れたヒューズの得られることを見出した。   As a result of diligent research to solve the above problems, the present inventors have not made a conventional method of forming a through hole in an insulating substrate and forming a fuse layer on the inner surface thereof, but heat resistance such as porous fluororesin. With the method of forming a through-hole in a porous resin film with excellent insulation and forming a fuse layer on the inner surface, Joule heat generated by overcurrent flowing in the fuse layer becomes difficult to dissipate and quick-breaking It was found that an excellent fuse can be obtained.

本発明のヒューズは、断熱性の高い多孔質樹脂膜を基材として用いているため、過電流によりヒューズ層に発生したジュール熱の放熱が抑制される。本発明のヒューズは、所望の溶断特性に応じて、貫通孔の孔径や孔数、孔間隔、ヒューズ層の厚みなどを任意に設計することができる。多孔性樹脂膜として、多孔質ポリテトラフルオロエチレン膜などのフッ素樹脂膜を用いると、耐熱性、低アウトガス性、高周波特性などに優れたヒューズを得ることができる。本発明のヒューズは、速断性に優れることに加えて、耐パルス性も良好である。本発明のヒューズは、薄い多孔質樹脂膜を用いることにより、超小型化や薄型化が可能であり、プリント基板に実装するのに適している。本発明は、これらの知見に基づいて完成するに至ったものである。   Since the fuse of the present invention uses a highly heat-insulating porous resin film as a base material, the release of Joule heat generated in the fuse layer due to overcurrent is suppressed. According to the fuse of the present invention, the hole diameter, the number of holes, the hole interval, the thickness of the fuse layer, and the like can be arbitrarily designed according to desired fusing characteristics. When a fluororesin film such as a porous polytetrafluoroethylene film is used as the porous resin film, a fuse excellent in heat resistance, low outgas resistance, high frequency characteristics, and the like can be obtained. The fuse of the present invention has excellent pulse resistance in addition to excellent quick disconnection. The fuse of the present invention can be miniaturized and thinned by using a thin porous resin film, and is suitable for mounting on a printed circuit board. The present invention has been completed based on these findings.

本発明によれば、一方の面から他方の面にかけて厚み方向に貫通孔が設けられた多孔質樹脂膜、該貫通孔の内面に形成されたヒューズ層、及び該多孔質樹脂膜の両端部に設けられ、該ヒューズ層の両端にそれぞれ接続している2つの電極を備えたヒューズが提供される。   According to the present invention, a porous resin film in which a through hole is provided in the thickness direction from one surface to the other surface, a fuse layer formed on the inner surface of the through hole, and both ends of the porous resin film A fuse is provided that includes two electrodes provided and connected to opposite ends of the fuse layer, respectively.

本発明によれば、(a)一方の面から他方の面にかけて厚み方向に複数の貫通孔が設けられた多孔質樹脂膜、(b)各貫通孔の内面に形成されたヒューズ層、(c)該多孔質樹脂膜の少なくとも一方の面に設けられ、各ヒューズ層を互いに直列または並列に接続する接続用導体、及び(d)該多孔質樹脂膜の両端部に設けられ、各ヒューズ層のうちの最も両端部に近い2つのヒューズ層に接続用導体を介してそれぞれ接続している2つの電極を備えたヒューズが提供される。   According to the present invention, (a) a porous resin film provided with a plurality of through holes in the thickness direction from one surface to the other surface, (b) a fuse layer formed on the inner surface of each through hole, (c ) A connecting conductor provided on at least one surface of the porous resin film and connecting the fuse layers in series or in parallel with each other; and (d) provided on both ends of the porous resin film, There is provided a fuse having two electrodes respectively connected to two fuse layers closest to both end portions thereof via a connecting conductor.

また、本発明によれば、一方の面から他方の面にかけて多孔質樹脂膜の厚み方向に貫通孔を形成する工程I、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成する工程II、及び該多孔質樹脂膜の両端部に、該ヒューズ層の両端にそれぞれ接続する2つの電極を配置する工程IIIを含むヒューズの製造方法が提供される。   Further, according to the present invention, the step I of forming a through hole in the thickness direction of the porous resin film from one surface to the other surface, the step II of forming a fuse layer on the inner surface of each through hole, and the porous There is provided a method for manufacturing a fuse including a step III in which two electrodes connected to both ends of the fuse layer are disposed at both ends of the resin film, respectively.

さらに、本発明によれば、一方の面から他方の面にかけて多孔質樹脂膜の厚み方向に複数の貫通孔を形成する工程1、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成する工程2、該多孔質樹脂膜の少なくとも一方の面に、各ヒューズ層を互いに直列または並列に接続する接続用導体を形成する工程3、及び該多孔質樹脂膜の両端部に、各ヒューズ層のうちの最も両端部に近い2つのヒューズ層に接続用導体を介してそれぞれ接続する2つの電極を配置する工程4を含むヒューズの製造方法が提供される。   Furthermore, according to the present invention, Step 1 for forming a plurality of through holes in the thickness direction of the porous resin film from one surface to the other surface, Step 2 for forming a fuse layer on the inner surface of each through hole, Forming a connecting conductor for connecting the fuse layers in series or in parallel to each other on at least one surface of the porous resin film; and at both ends of the porous resin film, at both end portions of the fuse layers A method for manufacturing a fuse is provided, which includes a step 4 of disposing two electrodes respectively connected to two fuse layers close to each other via a connecting conductor.

本発明によれば、絶縁体として、従来の絶縁性基板に代えて、多孔質樹脂膜を用いることにより、過電流が流れた場合の速断性に優れたヒューズを提供することができる。多孔質樹脂膜として、延伸法により得られた多孔質ポリテトラフルオロエチレン膜などのフッ素樹脂膜を用いることにより、耐熱性、低アウトガス性、高周波特性に優れたヒューズを得ることができる。本発明のヒューズは、超小型化や薄型化が容易である。   According to the present invention, by using a porous resin film instead of a conventional insulating substrate as an insulator, it is possible to provide a fuse having excellent quick disconnection characteristics when an overcurrent flows. By using a fluororesin film such as a porous polytetrafluoroethylene film obtained by a stretching method as the porous resin film, a fuse having excellent heat resistance, low outgas resistance, and high frequency characteristics can be obtained. The fuse of the present invention can be easily reduced in size and thickness.

本発明で使用する多孔質樹脂膜は、電気絶縁性の合成樹脂から形成されたものであり、ヒューズの使用雰囲気や耐久性の観点から、耐熱性に優れていることが好ましい。多孔質樹脂膜を形成する合成樹脂としては、例えば、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、テトラフルオロエチレン/ヘキサフルオロプロピレン共重合体(FEP)、テトラフルオロエチレン/パーフルオロアルキルビニルエーテル共重合体(PFA)、ポリふっ化ビニリデン(PVDF)、ポリふっ化ビニリデン共重合体、エチレン/テトラフルオロエチレン共重合体などのフッ素樹脂;ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアミド、変性ポリフェニレンエーテル、ポリフェニレンスルフィド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリスルホン、ポリエーテルスルホン、液晶ポリマーなどのエンジニアリングプラスチックが挙げられる。   The porous resin film used in the present invention is formed from an electrically insulating synthetic resin, and is preferably excellent in heat resistance from the viewpoint of the use atmosphere and durability of the fuse. Examples of the synthetic resin for forming the porous resin film include polytetrafluoroethylene (PTFE), tetrafluoroethylene / hexafluoropropylene copolymer (FEP), and tetrafluoroethylene / perfluoroalkyl vinyl ether copolymer (PFA). , Fluorine resins such as polyvinylidene fluoride (PVDF), polyvinylidene fluoride copolymer, ethylene / tetrafluoroethylene copolymer; polyimide, polyamideimide, polyamide, modified polyphenylene ether, polyphenylene sulfide, polyether ether ketone, polysulfone Engineering plastics such as polyethersulfone and liquid crystal polymer.

これらの合成樹脂の中でも、耐熱性、加工性、機械的特性、誘電特性などの観点から、フッ素樹脂が好ましく、耐熱性や高周波特性、耐アウトガス性などの観点から、ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)が特に好ましい。   Among these synthetic resins, fluororesins are preferable from the viewpoints of heat resistance, processability, mechanical characteristics, dielectric characteristics, and the like, and polytetrafluoroethylene (PTFE) is preferable from the viewpoints of heat resistance, high frequency characteristics, and outgas resistance. Is particularly preferred.

合成樹脂からなる多孔質樹脂膜を作製する方法としては、造孔法、相分離法、溶媒抽出法、延伸法、レーザー照射法などが挙げられる。これらの中でも、平均孔径や気孔率の制御が容易である点で、延伸法が好ましい。合成樹脂を用いて多孔質樹脂膜を形成することにより、膜厚方向に弾性を持たせることができるとともに、誘電率を更に下げることができる。   Examples of a method for producing a porous resin film made of a synthetic resin include a pore making method, a phase separation method, a solvent extraction method, a stretching method, and a laser irradiation method. Among these, the stretching method is preferable in that the average pore diameter and the porosity can be easily controlled. By forming a porous resin film using a synthetic resin, elasticity can be given in the film thickness direction, and the dielectric constant can be further lowered.

ヒューズの基膜として使用する多孔質樹脂膜は、気孔率が20〜80%程度であることが好ましい。多孔質樹脂膜は、平均孔径が10μm以下あるいはバブルポイントが2kPa以上であることが好ましく、貫通孔のファインピッチ化の観点からは、平均孔径が5μm以下、さらには1μm以下であることが好ましい。平均孔径の下限値は、0.05μm程度である。多孔質樹脂膜のバブルポイントは、好ましくは5kPa以上、より好ましくは10kPa以上である。バブルポイントの上限値は、300kPa程度であるが、これに限定されない。   The porous resin film used as the base film of the fuse preferably has a porosity of about 20 to 80%. The porous resin film preferably has an average pore diameter of 10 μm or less or a bubble point of 2 kPa or more. From the viewpoint of making fine through-holes, the average pore diameter is preferably 5 μm or less, and more preferably 1 μm or less. The lower limit value of the average pore diameter is about 0.05 μm. The bubble point of the porous resin film is preferably 5 kPa or more, more preferably 10 kPa or more. The upper limit of the bubble point is about 300 kPa, but is not limited to this.

多孔質樹脂膜の膜厚は、ヒューズの使用目的や使用箇所などに応じて適宜選択することができるが、通常、20〜3000μm、好ましくは50〜2500μm、より好ましくは100〜2000μmである。多孔質樹脂膜の厚みは、フィルム(250μm未満)及びシート(250μm以上)の領域を含んでいる。多孔質樹脂膜は、単層でも多層であってもよい。例えば、延伸法により得られた多孔質PTFE膜は、加熱・加圧によって層間を熱融着させて多層化することにより、所望の膜厚の多孔質PTFE膜とすることができる。   The film thickness of the porous resin film can be appropriately selected according to the purpose of use and location of the fuse, but is usually 20 to 3000 μm, preferably 50 to 2500 μm, more preferably 100 to 2000 μm. The thickness of the porous resin film includes regions of a film (less than 250 μm) and a sheet (250 μm or more). The porous resin film may be a single layer or a multilayer. For example, a porous PTFE film obtained by a stretching method can be made into a porous PTFE film having a desired film thickness by thermally fusing layers between layers by heating and pressing.

多孔質樹脂膜の中でも、延伸法により得られた多孔質ポリテトラフルオロエチレン膜(延伸多孔質PTFE膜)は、耐熱性、加工性、機械的特性、誘電特性、高周波特性、耐アウトガス性などに優れ、しかも均一な孔径分布を有する多孔質樹脂膜が得られ易いため、ヒューズの基膜として最も優れた材料である。延伸多孔質PTFE膜は、多数のフィブリルとノードからなる微細組織を有しており、該フィブリルにめっき粒子などの導電性金属を容易に付着させることができる。   Among the porous resin films, porous polytetrafluoroethylene films (stretched porous PTFE films) obtained by the stretching method have heat resistance, workability, mechanical properties, dielectric properties, high frequency properties, outgas resistance, etc. Since it is easy to obtain a porous resin film having an excellent and uniform pore size distribution, it is the most excellent material as a base film of a fuse. The stretched porous PTFE membrane has a microstructure composed of a large number of fibrils and nodes, and a conductive metal such as plating particles can be easily attached to the fibrils.

本発明で使用する延伸多孔質PTFE膜は、例えば、特公昭42−13560号公報に記載の方法により製造することができる。先ず、PTFEの未焼結粉末に液体潤滑剤を混合し、ラム押し出しによって、チューブ状または板状に押し出す。厚みの薄いシートが所望な場合には、圧延ロールによって板状体の圧延を行う。押出圧延工程の後、必要に応じて、押出品または圧延品から液体潤滑剤を除去する。こうして得られた押出品または圧延品を少なくとも一軸方向に延伸すると、未焼結の延伸多孔質PTFEが膜状で得られる。未焼結の延伸多孔質PTFE膜は、収縮が起こらないように固定しながら、PTFEの融点である327℃以上の温度に加熱して、延伸した構造を焼結・固定すると、強度の高い延伸多孔質PTFE膜が得られる。延伸多孔質PTFE膜がチューブ状である場合には、チューブを切り開くことにより、平らな膜にすることができる。   The expanded porous PTFE membrane used in the present invention can be produced, for example, by the method described in Japanese Examined Patent Publication No. 42-13560. First, a liquid lubricant is mixed with the unsintered powder of PTFE and extruded into a tube shape or a plate shape by ram extrusion. When a thin sheet is desired, the plate is rolled by a rolling roll. After the extrusion rolling process, the liquid lubricant is removed from the extruded product or the rolled product as necessary. When the extruded product or rolled product thus obtained is stretched at least in a uniaxial direction, unsintered stretched porous PTFE is obtained in the form of a film. An unsintered stretched porous PTFE membrane is heated to a temperature of 327 ° C. or higher, which is the melting point of PTFE, while being fixed so that shrinkage does not occur. A porous PTFE membrane is obtained. When the stretched porous PTFE membrane has a tube shape, a flat membrane can be obtained by cutting the tube.

延伸多孔質PTFE膜は、それぞれPTFEにより形成された非常に細いフィブリルと該フィブリルによって互いに連結されたノードとからなる微細組織を有しており、この微細組織が多孔質構造を形成している。   The stretched porous PTFE membrane has a microstructure composed of very thin fibrils formed by PTFE and nodes connected to each other by the fibrils, and this microstructure forms a porous structure.

多孔質樹脂膜をヒューズの基膜として使用するには、多孔質樹脂膜の一方の面から他方の面にかけて厚み方向に貫通する貫通孔を形成し、次いで、該貫通孔の内面における多孔質構造の樹脂部(例えば、フィブリル)に導電性金属を付着させて、膜厚方向に導電性を付与する。導電性金属の付着は、一般に、無電解めっきまたは無電解めっきと電気めっきとの組み合わせにより、貫通孔の内面の多孔質構造の樹脂部にめっき粒子を付着させる方法により行うことができる。   In order to use the porous resin film as the base film of the fuse, a through hole penetrating in the thickness direction is formed from one surface of the porous resin film to the other surface, and then the porous structure on the inner surface of the through hole A conductive metal is attached to the resin portion (for example, fibrils) to impart conductivity in the film thickness direction. In general, the conductive metal can be attached by a method in which plating particles are attached to the resin portion of the porous structure on the inner surface of the through hole by electroless plating or a combination of electroless plating and electroplating.

導電性金属としては、銅、錫、アルミニウム、半田、真鍮、金、銀などのヒューズ材料として汎用されている金属を使用することができる。このようにして、貫通孔の内面にヒューズ層(ヒューズエレメント)を形成する。所望の遮断特性を有するヒューズを得るには、多孔質樹脂膜に複数の貫通孔を設け、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成する方法を採用することが好ましい。そこで、以下、主として複数の貫通孔を形成する方法について説明するが、これらの方法は、単一の貫通孔を形成する場合にも適用することができる。   As the conductive metal, a metal generally used as a fuse material such as copper, tin, aluminum, solder, brass, gold, or silver can be used. In this way, a fuse layer (fuse element) is formed on the inner surface of the through hole. In order to obtain a fuse having desired interruption characteristics, it is preferable to employ a method in which a plurality of through holes are provided in a porous resin film and a fuse layer is formed on the inner surface of each through hole. Therefore, hereinafter, a method for forming a plurality of through holes will be mainly described. However, these methods can also be applied to the case of forming a single through hole.

多孔質樹脂膜に、その厚み方向に単一または複数の貫通孔を形成する方法としては、例えば、機械的に穿孔する方法、光アブレーション法によりエッチングする方法、先端部に少なくとも1本の振動子を備えた超音波ヘッドを用い、該振動子の先端を押し付けて超音波エネルギーを加えて穿孔する方法が挙げられる。   As a method for forming a single or a plurality of through holes in the thickness direction of the porous resin film, for example, a mechanical drilling method, a photoetching method, or at least one vibrator at the tip And a method of punching by applying ultrasonic energy by pressing the tip of the vibrator.

多孔質樹脂膜に機械的に貫通孔を形成するには、例えば、プレス加工、パンチング法、ドリル法などの機械加工法を採用することができる。機械加工法によれば、例えば、100μm以上、多くの場合200μm以上、さらには300μm以上の比較的大きな直径を有する貫通孔を安価に形成することができる。ドリルやパンチ、キリなどの加工用具を選択することにより、上記よりも小さな直径の貫通孔を形成することもできる。   In order to mechanically form the through-hole in the porous resin film, for example, a machining method such as a press process, a punching method, or a drill method can be employed. According to the machining method, for example, a through hole having a relatively large diameter of 100 μm or more, in many cases 200 μm or more, and further 300 μm or more can be formed at low cost. By selecting a processing tool such as a drill, a punch, or a drill, a through hole having a smaller diameter than the above can be formed.

多孔質樹脂膜に光アブレーション法により貫通孔を形成するには、例えば、所定のパターン状にそれぞれ独立した複数の光透過部(開口部)を有する光遮蔽シート(マスク)を介して、多孔質樹脂膜の表面に光を照射することにより、複数の貫通孔を形成することができる。光遮蔽シートの複数の開口部より光が透過して、積層体の被照射箇所は、エッチングされて貫通孔が形成される。この方法によれば、例えば、10〜200μm、多くの場合15〜150μm、さらには20〜100μmの比較的小さな直径を有する貫通孔を形成することができる。光アブレーション法の照射光としては、シンクロトロン放射光、レーザー光などが挙げられる。   In order to form a through-hole in a porous resin film by a light ablation method, for example, the porous resin film is formed through a light shielding sheet (mask) having a plurality of independent light transmission portions (openings) in a predetermined pattern. By irradiating the surface of the resin film with light, a plurality of through holes can be formed. Light is transmitted through a plurality of openings of the light shielding sheet, and the irradiated portion of the laminate is etched to form a through hole. According to this method, for example, a through hole having a relatively small diameter of 10 to 200 μm, in many cases 15 to 150 μm, and further 20 to 100 μm can be formed. Examples of irradiation light in the photoablation method include synchrotron radiation light and laser light.

超音波法では、先端部に少なくとも1本の振動子を有する超音波ヘッドを用いて、多孔質樹脂膜に超音波エネルギーを加えることにより、パターン状の貫通孔を形成することができる。振動子の先端が接触した近傍のみに超音波エネルギーが加えられ、超音波による振動エネルギーによって局所的に温度が上昇し、容易に樹脂が切断され除去されて、貫通孔が形成される。   In the ultrasonic method, a patterned through-hole can be formed by applying ultrasonic energy to the porous resin film using an ultrasonic head having at least one vibrator at the tip. Ultrasonic energy is applied only to the vicinity where the tip of the vibrator contacts, and the temperature rises locally due to the vibrational energy generated by the ultrasonic wave, and the resin is easily cut and removed to form a through hole.

貫通孔の形成に際し、多孔質樹脂膜の多孔質構造内に、ポリメチルメタクリレートなどの可溶性ポリマーまたはパラフィンを溶液または溶融状態で含浸させ、固化させてから穿孔する方法を採用することもできる。この方法によれば、貫通孔内壁の多孔質構造を保持し易いので好ましい。穿孔後、可溶性ポリマーまたはパラフィンは、溶解もしくは溶融させて除去することができる。   In forming the through-hole, a method of perforating the porous structure of the porous resin film by impregnating a soluble polymer such as polymethyl methacrylate or paraffin in a solution or in a molten state and solidifying it may be employed. This method is preferable because the porous structure of the inner wall of the through hole is easily retained. After drilling, the soluble polymer or paraffin can be removed by dissolving or melting.

貫通孔の開口部の形状は、円形、楕円形、星型、八角形、六角形、四角形、三角形など任意であるが、多くの場合、円形である。貫通孔の直径は、小径の貫通孔が適した用途分野では、通常5〜100μm、さらには5〜30μmにまで小さくすることができる。他方、比較的大径の貫通孔が適した分野では、貫通孔の直径を通常50〜3000μm、多くの場合75〜2000μm、さらには100〜1500μmにまで大きくすることができる。貫通孔が円形以外の場合、上記の直径は、最大径(開口部の最も長い箇所の長さ)を意味する。貫通孔は、所望の溶断特性と耐パルス性に応じて、所定のパターン状に複数個形成することが好ましい。複数の貫通孔は、それぞれ同じ直径を有するものであってもよいが、異なる直径を持つ複数の貫通孔を組み合わせてもよい。   The shape of the opening of the through hole is arbitrary, such as a circle, an ellipse, a star, an octagon, a hexagon, a quadrangle, and a triangle, but in many cases, it is a circle. The diameter of the through hole can be reduced to 5 to 100 μm, and further to 5 to 30 μm in an application field where a small diameter through hole is suitable. On the other hand, in a field where a relatively large through-hole is suitable, the diameter of the through-hole can be increased to usually 50 to 3000 μm, in many cases 75 to 2000 μm, and further to 100 to 1500 μm. When the through hole is not circular, the above diameter means the maximum diameter (the length of the longest part of the opening). It is preferable to form a plurality of through holes in a predetermined pattern according to desired fusing characteristics and pulse resistance. The plurality of through holes may have the same diameter, but a plurality of through holes having different diameters may be combined.

本発明のヒューズの具体例について、図1を参照しながら説明する。図1は、厚み方向に複数の貫通孔が設けられた多孔質樹脂膜、各貫通孔の内面に形成されたヒューズ層、各ヒューズ層を互いに並列に接続する接続用導体、及び該多孔質樹脂膜の両端部に設けられた2つの電極を備えたヒューズの一例を示す断面略図である。   A specific example of the fuse of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 shows a porous resin film provided with a plurality of through holes in the thickness direction, a fuse layer formed on the inner surface of each through hole, a connecting conductor for connecting the fuse layers in parallel to each other, and the porous resin. It is a cross-sectional schematic diagram which shows an example of the fuse provided with the two electrodes provided in the both ends of the film | membrane.

多孔質樹脂膜11,12,13,14(一つの多孔質樹脂膜の各部分を示す)に3つの貫通孔20,21,22が形成され、各貫通孔の内面には、ヒューズ層41,42,43が形成されている。図1に示す例では、ヒューズ層は、貫通孔の内面だけではなく、多孔質樹脂膜の両面にも存在している。多孔質樹脂膜の両面には、各貫通孔の内面に形成されたヒューズ層を並列に接続するために、接続用導体50,51が配置されている。多孔質樹脂膜の一方の端部において、接続用導体50は、多孔質樹脂膜の一方の面に存在しているヒューズ層40と共に、電極60の上端部に接続している。電極60の下端部は、接続用導体51及びヒューズ層45とは接続されていない。一方、多孔質樹脂膜の他方の端部において、接続用導体51は、多孔質樹脂膜の他方の面に存在しているヒューズ層48とともに、電極61の下端部と接続している。電極61の上端部は、接続用導体50及びヒューズ層44とは接続していない。該ヒューズは、エポキシ樹脂などの絶縁性の耐熱樹脂70,71によって保護することが好ましい。2つの電極60,61は、例えば、回路部品に接続される。   Three through holes 20, 21, 22 are formed in the porous resin films 11, 12, 13, 14 (representing each part of one porous resin film), and the fuse layer 41, 42 and 43 are formed. In the example shown in FIG. 1, the fuse layer exists not only on the inner surface of the through hole but also on both surfaces of the porous resin film. Connection conductors 50 and 51 are arranged on both surfaces of the porous resin film in order to connect the fuse layers formed on the inner surfaces of the respective through holes in parallel. At one end of the porous resin film, the connection conductor 50 is connected to the upper end of the electrode 60 together with the fuse layer 40 present on one surface of the porous resin film. The lower end portion of the electrode 60 is not connected to the connecting conductor 51 and the fuse layer 45. On the other hand, at the other end of the porous resin film, the connection conductor 51 is connected to the lower end of the electrode 61 together with the fuse layer 48 present on the other surface of the porous resin film. The upper end portion of the electrode 61 is not connected to the connection conductor 50 and the fuse layer 44. The fuse is preferably protected by insulating heat resistant resins 70 and 71 such as epoxy resin. The two electrodes 60 and 61 are connected to a circuit component, for example.

本発明のヒューズの他の具体例について、図2を参照しながら説明する。図2は、厚み方向に複数の貫通孔が設けられた多孔質樹脂膜、各貫通孔の内面に形成されたヒューズ層、各ヒューズ層を互いに直列に接続する接続用導体、及び該多孔質樹脂膜の両端部に設けられた2つの電極を備えたヒューズの一例を示す断面略図である。   Another specific example of the fuse of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 2 shows a porous resin film provided with a plurality of through holes in the thickness direction, a fuse layer formed on the inner surface of each through hole, a connecting conductor for connecting each fuse layer in series, and the porous resin. It is a cross-sectional schematic diagram which shows an example of the fuse provided with the two electrodes provided in the both ends of the film | membrane.

多孔質樹脂膜201,202,203,204(一つの多孔質樹脂膜の各部分を示す)に3つの貫通孔400,401,402が設けられ、各貫通孔の内面にはヒューズ層600,601,602が形成されている。多孔質樹脂膜の両面には、各貫通孔のヒューズ層を直列に接続するための接続用導体700,701,702,703が形成されている。接続用導体のうち、多孔質樹脂膜の上面に形成された接続用導体700は、一方の電極800と接続され、多孔質樹脂膜の下面に形成された接続用導体703は、他方の電極801と接続されている。該ヒューズは、エポキシ樹脂などの絶縁性の耐熱樹脂900,901によって保護することが好ましい。2つの電極800,801は、例えば、回路部品に接続される。   Three through holes 400, 401, 402 are provided in the porous resin films 201, 202, 203, 204 (representing each part of one porous resin film), and fuse layers 600, 601 are provided on the inner surfaces of the respective through holes. , 602 are formed. Connection conductors 700, 701, 702, and 703 for connecting the fuse layers of the respective through holes in series are formed on both surfaces of the porous resin film. Of the connection conductors, the connection conductor 700 formed on the upper surface of the porous resin film is connected to one electrode 800, and the connection conductor 703 formed on the lower surface of the porous resin film is the other electrode 801. And connected. The fuse is preferably protected by insulating heat resistant resins 900 and 901 such as epoxy resin. The two electrodes 800 and 801 are connected to a circuit component, for example.

本発明のヒューズは、一方の面から他方の面にかけて多孔質樹脂膜の厚み方向に複数の貫通孔を形成する工程1、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成する工程2、該多孔質樹脂膜の少なくとも一方の面に、各ヒューズ層を互いに直列または並列に接続する接続用導体を形成する工程3、及び該多孔質樹脂膜の両端部に、各ヒューズ層のうちの最も両端部に近い2つのヒューズ層に接続用導体を介してそれぞれ接続する2つの電極を配置する工程4を含む製造方法によって製造することができる。   The fuse of the present invention includes a step 1 for forming a plurality of through holes in the thickness direction of the porous resin film from one surface to the other surface, a step 2 for forming a fuse layer on the inner surface of each through hole, and the porous resin. Step 3 of forming a connecting conductor for connecting each fuse layer in series or in parallel to each other on at least one surface of the film, and both ends of the porous resin film are closest to both ends of each fuse layer It can be manufactured by a manufacturing method including the step 4 of disposing two electrodes respectively connected to two fuse layers via connecting conductors.

具体的に、図1に示すヒューズは、例えば図3に示す工程によって製造することができる。多孔質樹脂10(A1)に、所望の数の貫通孔を形成する。図3には、3つの貫通孔20,21,22を設けた例を示す。A2に示す断面図では、多孔質樹脂膜10は、各貫通孔によって分けられた各部11,12,13,14で示されているが、貫通孔が設けられていること以外、一体の多孔質樹脂膜であることに変わりはない。   Specifically, the fuse shown in FIG. 1 can be manufactured by the process shown in FIG. 3, for example. A desired number of through holes are formed in the porous resin 10 (A1). FIG. 3 shows an example in which three through holes 20, 21, 22 are provided. In the cross-sectional view shown in A2, the porous resin film 10 is shown by the respective portions 11, 12, 13, and 14 divided by the through holes. However, the porous resin film 10 is an integral porous film except that the through holes are provided. There is no change in being a resin film.

多孔質樹脂膜の各貫通孔の内面を含む表面にめっき触媒30〜38を付着させる(A3)。このとき、めっきを形成しない箇所を予めマスクしておくことができる。マスクには、同種の多孔質樹脂膜や無孔質樹脂膜、粘着テープなど任意の材料を貼付する方法を用いることができる。めっき触媒の付与時にマスクをしない場合には、無電解めっきの後に、裁断、レーザーカットなどの手法によって、不要なめっき箇所を除去してもよい。また、フォトリソグラフィ技術により、パターン状に無電解めっきを行なってもよい。   Plating catalysts 30 to 38 are attached to the surface including the inner surface of each through hole of the porous resin film (A3). At this time, a portion where no plating is formed can be masked in advance. For the mask, a method of attaching an arbitrary material such as the same kind of porous resin film, non-porous resin film, or adhesive tape can be used. If the mask is not applied when the plating catalyst is applied, unnecessary plating portions may be removed by a technique such as cutting or laser cutting after electroless plating. Further, electroless plating may be performed in a pattern by a photolithography technique.

めっき触媒を付着させた多孔質樹脂膜を無電解めっきして、所望の厚みのめっき層(ヒューズ層)40〜48を形成する(A4)。めっき層は、各貫通孔の内面と多孔質樹脂膜の表面にも形成される。めっき層としては、銅めっき層及び/または錫めっき層が好ましい。   The porous resin film with the plating catalyst attached is electrolessly plated to form plating layers (fuse layers) 40 to 48 having a desired thickness (A4). The plating layer is also formed on the inner surface of each through-hole and the surface of the porous resin film. As the plating layer, a copper plating layer and / or a tin plating layer is preferable.

ヒューズ層が形成された多孔質樹脂膜の両面に、各貫通孔の内面に形成されたヒューズ層を直列に接続するための接続用導体50,51を配置する(A5)。接続用導体としては、銅箔などの導電性金属膜を用いる。接続用導体は、多孔質樹脂膜の両面の必要箇所に配置するが、ホトリソグラフィ技術によって、所定のパターン状に形成してもよい。接続用導体は、例えば、導電性接着剤、熱融着、拡散溶接、ピン留めなどの手段によって多孔質樹脂膜の両面に固定することができる。上記で作製したヒューズ層を設けた多孔質樹脂膜に、電極60,61を取り付け、必要に応じて、エポキシ樹脂などの保護膜70,71で被覆すれば、図1に示す構造のヒューズが得られる。   Connection conductors 50 and 51 for connecting the fuse layers formed on the inner surfaces of the through holes in series are arranged on both surfaces of the porous resin film on which the fuse layers are formed (A5). As the connection conductor, a conductive metal film such as copper foil is used. The connecting conductors are disposed at necessary positions on both sides of the porous resin film, but may be formed in a predetermined pattern by photolithography. The connecting conductor can be fixed to both surfaces of the porous resin film by means such as conductive adhesive, thermal fusion, diffusion welding, pinning, and the like. If the electrodes 60 and 61 are attached to the porous resin film provided with the fuse layer prepared above and covered with protective films 70 and 71 such as epoxy resin as necessary, the fuse having the structure shown in FIG. 1 is obtained. It is done.

図2に示すヒューズは、図4に示す方法によって製造することができる。多孔質樹脂膜200の両面にマスク層301,302を配置する(B1)。該マスク層としては、同種の多孔質樹脂膜や無孔質樹脂膜を用いることができる。その場合、マスク層は、多孔質樹脂膜200の表面に加熱圧着することによって積層する。マスク層として、粘着テープを用いてもよい。   The fuse shown in FIG. 2 can be manufactured by the method shown in FIG. Mask layers 301 and 302 are disposed on both surfaces of the porous resin film 200 (B1). As the mask layer, the same kind of porous resin film or nonporous resin film can be used. In that case, the mask layer is laminated by thermocompression bonding to the surface of the porous resin film 200. An adhesive tape may be used as the mask layer.

この積層体に複数の貫通孔を形成する(B2)。図4には、上記3層構成の積層体に、3つの貫通孔400,401,402を設けた例が示されている。B2に示す断面図では、多孔質樹脂膜200は、各貫通孔によって分けられた各部201,202,203,204で示されているが、貫通孔が設けられていること以外、一体の多孔質樹脂膜であることに変わりはない。   A plurality of through holes are formed in the laminate (B2). FIG. 4 shows an example in which three through holes 400, 401, and 402 are provided in the three-layer laminate. In the cross-sectional view shown in B2, the porous resin film 200 is shown by the respective portions 201, 202, 203, and 204 divided by the through holes. However, the porous resin film 200 is an integral porous film except that the through holes are provided. There is no change in being a resin film.

貫通孔を設けた積層体の全面に、貫通孔の内面を含めて、めっき触媒500,501,502を付着させる(B3)。次に、マスク層301,302を除去すると、各貫通孔の内面にのみめっき触媒500,501,502が付着した多孔質樹脂膜が得られる(B4)。この多孔質樹脂膜に無電解めっきを施すと、各貫通孔の内面にのみ無電解めっき層(ヒューズ層)600,601,602が形成される(B5)。   The plating catalysts 500, 501, and 502 are adhered to the entire surface of the laminate having the through holes including the inner surface of the through holes (B3). Next, when the mask layers 301 and 302 are removed, a porous resin film in which the plating catalysts 500, 501, and 502 are attached only to the inner surfaces of the respective through holes is obtained (B4). When electroless plating is applied to the porous resin film, electroless plating layers (fuse layers) 600, 601, and 602 are formed only on the inner surfaces of the through holes (B5).

次いで、各貫通孔のヒューズ層を直列に接続するために、多孔質樹脂膜の両面に、部分的に接続用導体700,701,702,703を設ける(B6)。B6に示す断面図では、各貫通孔に形成されたヒューズ層が左右に分かれているように見えるが、ヒューズ層は、各貫通孔の内周面に筒状に形成されているため、接続用導体を部分的に設けることにより、各ヒューズ層を直列に接続することができる。接続用導体のうち、接続用導体700,703は、それぞれ2つの電極に接続するためのものである。接続用導体は、貫通孔の数と配置状況に応じて、パターン状に形成することができる。上記で作製したヒューズ層を設けた多孔質樹脂膜に、電極800,801を取り付け、必要に応じて、エポキシ樹脂などの保護膜900,901で被覆すれば、図2に示す構造のヒューズが得られる。   Next, in order to connect the fuse layers of the respective through holes in series, connection conductors 700, 701, 702, and 703 are partially provided on both surfaces of the porous resin film (B6). In the cross-sectional view shown in B6, the fuse layer formed in each through-hole appears to be divided into left and right, but the fuse layer is formed in a cylindrical shape on the inner peripheral surface of each through-hole. By providing the conductor partially, each fuse layer can be connected in series. Of the connecting conductors, connecting conductors 700 and 703 are for connecting to two electrodes, respectively. The connecting conductor can be formed in a pattern according to the number of through holes and the arrangement state. If the electrodes 800 and 801 are attached to the porous resin film provided with the fuse layer prepared above and covered with a protective film 900 or 901 such as an epoxy resin as necessary, a fuse having the structure shown in FIG. 2 is obtained. It is done.

多孔質樹脂膜は、微細加工することができるため、超小型のヒューズを作製することができる。多孔質樹脂膜の厚みは、前記したとおり、薄いものから比較的厚いものまで任意に選択することができる。貫通孔の大きさや数も、前記したとおり、種々の直径と個数することができる。貫通孔同士の間隔も任意である。多孔質樹脂膜の平面的な大きさや形状も任意であり、例えば、5mm×10mmの長方形などを例示することができる。ヒューズ層の厚みは、所望の溶断特性に応じて適宜設定することができるが、通常1〜10μm、多くの場合2〜5μm程度である。   Since the porous resin film can be finely processed, an ultra-small fuse can be manufactured. As described above, the thickness of the porous resin film can be arbitrarily selected from a thin one to a relatively thick one. As described above, the size and number of the through holes can be various diameters and numbers. The interval between the through holes is also arbitrary. The planar size and shape of the porous resin film are also arbitrary, and examples thereof include a 5 mm × 10 mm rectangle. The thickness of the fuse layer can be appropriately set according to desired fusing characteristics, but is usually about 1 to 10 μm, and in many cases about 2 to 5 μm.

ヒューズ層の形成には、スルーホールめっきなどの手法を採用することができるが、具体的には、無電解めっき法を採用することが好ましい。以下、図4に示す製造工程に沿ってヒューズ層の形成方法について説明するが、同様の手法を図3に示す製造工程に適用することが可能である。   For the formation of the fuse layer, a technique such as through-hole plating can be employed. Specifically, it is preferable to employ an electroless plating method. Hereinafter, the method for forming the fuse layer will be described along the manufacturing process shown in FIG. 4, but the same technique can be applied to the manufacturing process shown in FIG. 3.

貫通孔の内面を含む積層体の表面に、めっき触媒(金属イオンの還元反応を促進する触媒)を付着させるには、積層体を、例えばパラジウム−スズコロイド触媒付与液に十分に撹拌しながら浸漬すればよい。貫通孔の内面に付着して残留する触媒を利用して、該内面に選択的に導電性金属を付着させる。導電性金属を付着させる方法としては、無電解めっき法、スパッタ法、導電性金属ペースト塗布法などが挙げられるが、これらの中でも、無電解めっき法が好ましい。   In order to attach the plating catalyst (catalyst that promotes the reduction reaction of metal ions) to the surface of the laminate including the inner surface of the through hole, the laminate is immersed in a palladium-tin colloid catalyst application solution with sufficient stirring. That's fine. Using the catalyst remaining on the inner surface of the through hole, the conductive metal is selectively attached to the inner surface. Examples of the method for attaching the conductive metal include an electroless plating method, a sputtering method, and a conductive metal paste coating method. Among these, the electroless plating method is preferable.

無電解めっきを行う前に、貫通孔の内面に残留した触媒(例えば、パラジウム−スズ)を活性化する。具体的には、めっき触媒活性化用として市販されている有機酸塩等に浸漬することで、スズを溶解し、触媒を活性化する。貫通孔の内面に触媒を付与した多孔質樹脂膜を無電解めっき液に浸漬することにより、触媒が付着した貫通孔の内面のみに導電性金属(めっき粒子)を析出させることができる。この方法によって、筒状のヒューズ層が形成される。   Before performing electroless plating, the catalyst (for example, palladium-tin) remaining on the inner surface of the through hole is activated. Specifically, by immersing in a commercially available organic acid salt or the like for activating the plating catalyst, tin is dissolved and the catalyst is activated. By immersing the porous resin film provided with the catalyst on the inner surface of the through hole in the electroless plating solution, the conductive metal (plating particles) can be deposited only on the inner surface of the through hole to which the catalyst is attached. By this method, a cylindrical fuse layer is formed.

延伸多孔質PTFE膜を使用する場合、めっき粒子は、初め延伸多孔質PTFE膜の貫通孔の内面に露出した樹脂部(主としてフィブリル)に絡むように析出するので、めっき時間をコントロールすることにより、導電性金属の付着状態をコントロールすることができる。適度なめっき量とすることにより、多孔質構造を維持した状態で導電性金属層が形成され、弾力性と同時に膜厚方向への導電性も与えることが可能となる。   When using the stretched porous PTFE membrane, the plating particles are deposited so as to be entangled with the resin portion (mainly fibrils) exposed on the inner surface of the through-hole of the stretched porous PTFE membrane at first, so by controlling the plating time, The adhesion state of the conductive metal can be controlled. By setting an appropriate plating amount, a conductive metal layer is formed while maintaining a porous structure, and it is possible to provide elasticity in the film thickness direction as well as elasticity.

微細多孔質構造の樹脂部の太さ(例えば、延伸多孔質PTFE膜のフィブリルの太さ)は、好ましくは10μm以下、より好ましくは5μm以下、さらに好ましくは1μm以下である。導電性金属の粒子径は、0.001〜5μm程度であることが好ましい。導電性金属の付着量は、所望の溶断特性に応じて適宜設定することができる。多くの場合、導電性金属の付着量は、0.01〜4.0g/ml程度とすることが好ましいが、これらに限定されない。   The thickness of the resin part having a fine porous structure (for example, the thickness of the fibril of the stretched porous PTFE membrane) is preferably 10 μm or less, more preferably 5 μm or less, and even more preferably 1 μm or less. The particle diameter of the conductive metal is preferably about 0.001 to 5 μm. The adhesion amount of the conductive metal can be appropriately set according to desired fusing characteristics. In many cases, the adhesion amount of the conductive metal is preferably about 0.01 to 4.0 g / ml, but is not limited thereto.

上記で作製されたヒューズ層は、酸化防止及び電気的接触性を高めるため、酸化防止剤を使用するか、貴金属または貴金属の合金で被覆しておくことが好ましい。貴金属としては、電気抵抗の小さい点で、パラジウム、ロジウム、金が好ましい。被覆層の厚さは、好ましくは0.005〜0.5μm、より好ましくは0.01〜0.1μmである。例えば、導通部を金で被覆する場合、8nm程度のニッケルで導電性金属層を被覆した後、置換金めっきを行う方法が効果的である。   The fuse layer produced as described above is preferably coated with a noble metal or a noble metal alloy in order to improve oxidation prevention and electrical contact. As the noble metal, palladium, rhodium, and gold are preferable from the viewpoint of low electric resistance. The thickness of the coating layer is preferably 0.005 to 0.5 μm, more preferably 0.01 to 0.1 μm. For example, when the conductive part is coated with gold, a method of performing displacement gold plating after coating the conductive metal layer with nickel of about 8 nm is effective.

多孔質樹脂膜として延伸多孔質PTFE膜を使用すると、貫通孔の内面で、フィブリルに導電性金属粒子が付着した構造のヒューズ層が形成される。この延伸多孔質PTFE膜に厚み方向の応力が加わると、フィブリル間の距離が縮むことにより、応力が緩和され、ヒューズ層の構造が破壊されることなく維持される。そのため、延伸多孔質PTFE膜に圧縮力が加えられても、ヒューズ層の劣化が起こり難い。   When an expanded porous PTFE film is used as the porous resin film, a fuse layer having a structure in which conductive metal particles adhere to fibrils is formed on the inner surface of the through hole. When stress in the thickness direction is applied to the expanded porous PTFE film, the distance between the fibrils is reduced, so that the stress is relaxed and the structure of the fuse layer is maintained without being destroyed. Therefore, even if a compressive force is applied to the stretched porous PTFE film, the fuse layer hardly deteriorates.

電極としては、一般に電極材料として用いられている導電性金属を用いて形成することができる。多孔質樹脂膜の両端部に電極を配置するには、コの字型の電極の端部を工具で固く密着させたり、ピン留めしたり、接着剤で接着したりする任意の方法を採用することができる。   The electrode can be formed using a conductive metal generally used as an electrode material. In order to arrange the electrodes at both ends of the porous resin film, any method is adopted in which the ends of the U-shaped electrode are firmly adhered with a tool, pinned, or adhered with an adhesive. be able to.

以下に実施例を挙げて、本発明についてより具体的に説明するが、本発明は、この実施例のみに限定されるものではない。   Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples. However, the present invention is not limited to the examples.

[実施例1]
気孔率(ASTM−D−792)60%、平均孔径0.1μm、バブルポイント(イソプロピルアルコールを使用し、ASTM−F−316−76に従って測定)が150kPa、厚み800μmの延伸多孔質PTFE膜の両面に、気孔率60%、平均孔径0.1μm、厚み30μmの延伸多孔質PTFEシートを重ね合わせて、厚さ3mmのステンレス板2枚の間に挟み、荷重を負荷するとともに、350℃で30分間加熱処理した。加熱後、ステンレス板の上から水にて急冷し、3層に融着された多孔質PTFE膜の積層体を得た。
[Example 1]
Both sides of an expanded porous PTFE membrane having a porosity (ASTM-D-792) of 60%, an average pore size of 0.1 μm, a bubble point (measured in accordance with ASTM-F-316-76 using isopropyl alcohol) of 150 kPa and a thickness of 800 μm. A stretched porous PTFE sheet having a porosity of 60%, an average pore diameter of 0.1 μm, and a thickness of 30 μm is overlapped and sandwiched between two stainless steel plates having a thickness of 3 mm. Heat-treated. After heating, it was quenched with water from the top of the stainless steel plate to obtain a laminate of porous PTFE membranes fused in three layers.

上記のようにして得られた積層体を5mm×10mm角に切り取った。この試料に、回転速度が100,000/分、送り速度が0.01mm/rev.の条件でドリルを作動させて、ピッチ(孔間隔)1mmで、直径300μmφの貫通孔を8個穿孔した。貫通孔を形成した積層体をエタノールに1分間浸漬して親水化した後、100ml/Lに希釈したメルテックス(株)製メルプレートPC−321に、60℃の温度で4分間浸漬し脱脂処理を行った。さらに、積層体を10%硫酸に1分間浸漬した後、プレディップとして、0.8%塩酸にメルテックス(株)製エンプレートPC−236を180g/Lの割合で溶解した液に2分間浸漬した。   The laminate obtained as described above was cut into 5 mm × 10 mm squares. This sample has a rotation speed of 100,000 / min and a feed speed of 0.01 mm / rev. The drill was operated under the conditions of the above, and eight through holes having a diameter of 300 μmφ were drilled at a pitch (hole interval) of 1 mm. Degrease treatment by immersing the laminated body with through-holes in ethanol for 1 minute to make it hydrophilic and then immersing it in Melplate PC-321 manufactured by Meltex Co., Ltd. diluted to 100 ml / L for 4 minutes at a temperature of 60 ° C. Went. Further, after immersing the laminate in 10% sulfuric acid for 1 minute, as a pre-dip, immersed in 0.8% hydrochloric acid for 2 minutes in a solution of Meltex Co., Ltd. Enplate PC-236 dissolved at a rate of 180 g / L. did.

さらに、積層体を、メルテックス(株)製エンプレートアクチベータ444を3%、エンプレートアクチベータアディティブを1%、塩酸を3%溶解した水溶液にメルテックス(株)製エンプレートPC−236を150g/Lの割合で溶解した液に5分間浸漬して、触媒粒子を積層体の表面及び貫通孔の内面に付着させた。次に、積層体をメルテックス(株)製エンプレートPA−360の5%溶液に5分間浸漬し、パラジウム触媒核の活性化を行った。その後、第1層と第3層のマスク層を剥離して、貫通孔の内面のみに触媒パラジウム粒子が付着した多孔質PTFE膜を得た。   Further, the laminate was prepared by adding 150% of Enplate PC-236 manufactured by Meltex Co., Ltd. in an aqueous solution prepared by dissolving 3% of Enplate Activator 444 manufactured by Meltex Co., Ltd., 1% of Enplate Activator Additive, and 3% of hydrochloric acid. The catalyst particles were adhered to the surface of the laminate and the inner surface of the through hole by immersing in a solution dissolved at a ratio of L for 5 minutes. Next, the laminate was immersed in a 5% solution of Enplate PA-360 manufactured by Meltex Co., Ltd. for 5 minutes to activate the palladium catalyst nucleus. Thereafter, the first and third mask layers were peeled off to obtain a porous PTFE membrane in which catalytic palladium particles adhered only to the inner surface of the through hole.

メルテックス(株)製メルプレートCu−3000A、メルプレートCu−3000B、メルプレートCu−3000C、メルプレートCu−3000Dをそれぞれ5%、メルプレートCu−3000スタビライザーを0.1%で建浴した無電解銅めっき液に、十分エアー撹拌を行いながら、上記延伸多孔質PTFE膜を浸漬して、各貫通孔の内面のみを銅粒子にて導電化した。めっき層の厚みは、約3μmであった。   Meltex Co., Ltd. Melplate Cu-3000A, Melplate Cu-3000B, Melplate Cu-3000C, Melplate Cu-3000D are each 5%, and Melplate Cu-3000 Stabilizer is 0.1%. The above-mentioned expanded porous PTFE membrane was immersed in the electrolytic copper plating solution with sufficient air stirring, and only the inner surface of each through hole was made conductive with copper particles. The thickness of the plating layer was about 3 μm.

次いで、防錆及び回路基板電極との接触性向上のために、金めっきを行った。金めっきは、以下の方法により、ニッケルからの置換金めっき法を採用した。貫通孔の内壁面に銅粒子を付着させた多孔質PTFE膜を、プレディップとしてアトテック製アクチベータオーロテックSITアディティブ(80m1/L)に3分間浸漬した後、触媒付与としてアトテック製オーロテックSITアクチベータコンク(125m1/L)、アトテック製アクチベータオーロテックSITアディティブ(80ml/L)の建浴液に1分間浸漬し、さらにアトテック製オーロテックSITポストディップ(25ml/L)に1分間浸漬して、触媒を銅粒子上に付着させた。   Subsequently, gold plating was performed in order to improve rust prevention and contact with circuit board electrodes. For the gold plating, a displacement gold plating method from nickel was adopted by the following method. A porous PTFE membrane with copper particles attached to the inner wall surface of the through hole is immersed as a pre-dip in Atotech's Activator Aurotech SIT Additive (80 ml / L) for 3 minutes, and then supplied with a catalyst. (125 ml / L), immersed in a bath solution of Atotech's Activator Aurotech SIT Additive (80 ml / L) for 1 minute, and further immersed in an Atotech Aurotech SIT post dip (25 ml / L) for 1 minute. Deposited on copper particles.

次に、次亜燐酸ナトリウム(20g/L)、クエン酸三ナトリウム(40g/L)、ホウ酸アンモニウム(13g/L)、硫酸ニッケル(22g/L)で建浴した無電解ニッケルめっき液に基膜を5分間浸漬し、銅粒子をニッケルコートした。その後、メルテックス製置換金めっき液[メルプレートAU−6630A(200ml/L)、メルプレートAU−6630B(100mI/L)、メルプレートAU−6630C(20ml/L)、亜硫酸金ナトリウム水溶液(金として1.0g/L]中に基膜を5分間浸漬し、導電性粒子の金コートを行った。   Next, based on an electroless nickel plating solution built with sodium hypophosphite (20 g / L), trisodium citrate (40 g / L), ammonium borate (13 g / L), nickel sulfate (22 g / L). The membrane was immersed for 5 minutes and the copper particles were nickel coated. Subsequently, Meltex replacement gold plating solution [Melplate AU-6630A (200 ml / L), Melplate AU-6630B (100 ml / L), Melplate AU-6630C (20 ml / L), sodium gold sulfite aqueous solution (as gold In 1.0 g / L], the base film was immersed for 5 minutes to perform gold coating of conductive particles.

このようにして得られた延伸多孔質PTFE膜の各貫通孔を直列に接続するために、延伸多孔質PTFE膜の両面に部分的に銅箔を加熱融着させた。延伸多孔質PTFE膜の両端部に電極を配置し、エポキシ樹脂膜で被覆して、図2に示す構造と同様の構造を持つヒューズを作製した。該ヒューズは、典型的な速断タイプの溶断特性を示すことができる。   In order to connect the through holes of the stretched porous PTFE membrane thus obtained in series, a copper foil was partially heat-sealed on both sides of the stretched porous PTFE membrane. Electrodes were placed on both ends of the stretched porous PTFE film and covered with an epoxy resin film to produce a fuse having the same structure as that shown in FIG. The fuse can exhibit a typical fast-blow type fusing characteristic.

本発明のヒューズは、プリント基板上に実装するのに適した超小型ヒューズとして利用することができる。   The fuse of the present invention can be used as a microminiature fuse suitable for mounting on a printed circuit board.

本発明のヒューズに一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example in the fuse of this invention. 本発明のヒューズの他の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows another example of the fuse of this invention. 図1に示すヒューズの製造工程を示すフロー図である。It is a flowchart which shows the manufacturing process of the fuse shown in FIG. 図2に示すヒューズの製造工程を示すフロー図である。FIG. 3 is a flowchart showing a manufacturing process of the fuse shown in FIG. 2.

符号の説明Explanation of symbols

10:多孔質樹脂層
11〜14:多孔質樹脂層の各部
20〜22:貫通孔
30〜38:めっき触媒
40〜48:めっき層(ヒューズ層)
50,51:接続用導体
60,61:電極
70,71:保護層
200:多孔質樹脂層
301,302:マスク層
201〜204:多孔質樹脂層の各部
400〜402:貫通孔
500〜502:めっき触媒
600〜602:めっき層(ヒューズ層)
700〜703:接続用導体
800,801:電極
900,901:保護層
10: Porous resin layer 11-14: Each part 20-22 of porous resin layer: Through hole 30-38: Plating catalyst 40-48: Plating layer (fuse layer)
50, 51: Connection conductor 60, 61: Electrode 70, 71: Protective layer 200: Porous resin layer 301, 302: Mask layer 201-204: Each part of porous resin layer 400-402: Through hole 500-502: Plating catalyst 600 to 602: Plating layer (fuse layer)
700 to 703: Connection conductor 800, 801: Electrode 900, 901: Protective layer

Claims (9)

一方の面から他方の面にかけて厚み方向に貫通孔が設けられた多孔質樹脂膜、該貫通孔の内面に形成されたヒューズ層、及び該多孔質樹脂膜の両端部に設けられ、該ヒューズ層の両端にそれぞれ接続している2つの電極を備えたヒューズ。   A porous resin film having through-holes in the thickness direction from one surface to the other surface, a fuse layer formed on the inner surface of the through-hole, and a fuse layer provided at both ends of the porous resin film; A fuse with two electrodes connected to both ends of each. (a)一方の面から他方の面にかけて厚み方向に複数の貫通孔が設けられた多孔質樹脂膜、(b)各貫通孔の内面に形成されたヒューズ層、(c)該多孔質樹脂膜の少なくとも一方の面に設けられ、各ヒューズ層を互いに直列または並列に接続する接続用導体、及び(d)該多孔質樹脂膜の両端部に設けられ、各ヒューズ層のうちの最も両端部に近い2つのヒューズ層に接続用導体を介してそれぞれ接続している2つの電極を備えたヒューズ。   (A) a porous resin film provided with a plurality of through holes in the thickness direction from one surface to the other surface, (b) a fuse layer formed on the inner surface of each through hole, and (c) the porous resin film A connecting conductor for connecting the fuse layers in series or in parallel to each other, and (d) provided at both ends of the porous resin film, at the most end of each fuse layer. A fuse having two electrodes respectively connected to two adjacent fuse layers via connecting conductors. 該多孔質樹脂膜が、多孔質フッ素樹脂膜である請求項1または2記載のヒューズ。   The fuse according to claim 1 or 2, wherein the porous resin film is a porous fluororesin film. 該多孔質フッ素樹脂膜が、延伸多孔質ポリテトラフルオロエチレン膜である請求項3記載のヒューズ。   The fuse according to claim 3, wherein the porous fluororesin film is an expanded porous polytetrafluoroethylene film. 一方の面から他方の面にかけて多孔質樹脂膜の厚み方向に貫通孔を形成する工程I、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成する工程II、及び該多孔質樹脂膜の両端部に、該ヒューズ層の両端にそれぞれ接続する2つの電極を配置する工程IIIを含むヒューズの製造方法。   Step I for forming through holes in the thickness direction of the porous resin film from one surface to the other surface, Step II for forming a fuse layer on the inner surface of each through hole, and both ends of the porous resin film, A method for manufacturing a fuse, comprising a step III in which two electrodes connected to both ends of a fuse layer are arranged. 一方の面から他方の面にかけて多孔質樹脂膜の厚み方向に複数の貫通孔を形成する工程1、各貫通孔の内面にヒューズ層を形成する工程2、該多孔質樹脂膜の少なくとも一方の面に、各ヒューズ層を互いに直列または並列に接続する接続用導体を形成する工程3、及び該多孔質樹脂膜の両端部に、各ヒューズ層のうちの最も両端部に近い2つのヒューズ層に接続用導体を介してそれぞれ接続する2つの電極を配置する工程4を含むヒューズの製造方法。   Step 1 for forming a plurality of through holes in the thickness direction of the porous resin film from one surface to the other surface, Step 2 for forming a fuse layer on the inner surface of each through hole, and at least one surface of the porous resin film Step 3 of forming a connecting conductor for connecting each fuse layer in series or in parallel with each other, and connecting to the two fuse layers closest to both ends of each fuse layer at both ends of the porous resin film A method for manufacturing a fuse, comprising the step 4 of disposing two electrodes to be connected to each other via a conductor. 前記工程IIまたは2において、各貫通孔の内面にメッキによりヒューズ層を形成する請求項5または6記載の製造方法。   The method according to claim 5 or 6, wherein, in the step II or 2, a fuse layer is formed on the inner surface of each through hole by plating. 該多孔質樹脂膜が、多孔質フッ素樹脂膜である請求項5または6記載の製造方法。   The production method according to claim 5 or 6, wherein the porous resin film is a porous fluororesin film. 該多孔質樹脂膜が、延伸多孔質ポリテトラフルオロエチレン膜である請求項5または6記載の製造方法。   The production method according to claim 5 or 6, wherein the porous resin film is a stretched porous polytetrafluoroethylene film.
JP2006106556A 2006-04-07 2006-04-07 Fuse and manufacturing method thereof Pending JP2007280807A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006106556A JP2007280807A (en) 2006-04-07 2006-04-07 Fuse and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006106556A JP2007280807A (en) 2006-04-07 2006-04-07 Fuse and manufacturing method thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2007280807A true JP2007280807A (en) 2007-10-25

Family

ID=38682033

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006106556A Pending JP2007280807A (en) 2006-04-07 2006-04-07 Fuse and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2007280807A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012118153A1 (en) * 2011-03-03 2012-09-07 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protective element
WO2014034835A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protection element
WO2014034833A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protection element
CN104103460A (en) * 2013-04-03 2014-10-15 功得电子工业股份有限公司 Manufacturing method for vertical winding hollowed fuses
JP2015046390A (en) * 2013-07-29 2015-03-12 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protection element
TWI486989B (en) * 2013-02-23 2015-06-01

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2012118153A1 (en) * 2011-03-03 2014-07-07 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protective element
CN103503109A (en) * 2011-03-03 2014-01-08 泰科电子日本合同会社 Protective element
TWI549154B (en) * 2011-03-03 2016-09-11 太谷電子日本合同公司 Protection device, electrical device, secondary battery cell and washer
WO2012118153A1 (en) * 2011-03-03 2012-09-07 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protective element
CN104603903A (en) * 2012-08-31 2015-05-06 泰科电子日本合同会社 Protection element
JPWO2014034835A1 (en) * 2012-08-31 2016-08-08 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protective element
KR102090686B1 (en) * 2012-08-31 2020-03-18 타이코 일렉트로닉스 저팬 지.케이. Protection element
CN104584176A (en) * 2012-08-31 2015-04-29 泰科电子日本合同会社 Protection element
WO2014034833A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protection element
KR20150052168A (en) * 2012-08-31 2015-05-13 타이코 일렉트로닉스 저팬 지.케이. Protection element
US10090509B2 (en) 2012-08-31 2018-10-02 Littelfuse Japan G.K. Protection element
US10050431B2 (en) 2012-08-31 2018-08-14 Littelfuse Japan G.K. Protection element
JPWO2014034833A1 (en) * 2012-08-31 2016-08-08 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protective element
WO2014034835A1 (en) * 2012-08-31 2014-03-06 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protection element
TWI628688B (en) * 2012-08-31 2018-07-01 太谷電子日本合同公司 Protective element, electrical apparatus, secondary battery cell and washer
TWI486989B (en) * 2013-02-23 2015-06-01
CN104103460A (en) * 2013-04-03 2014-10-15 功得电子工业股份有限公司 Manufacturing method for vertical winding hollowed fuses
JP2015046390A (en) * 2013-07-29 2015-03-12 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 Protection element

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI274363B (en) Low resistance polymer matrix fuse apparatus and method
TWI378603B (en) Complex porous resin substrate and a method of fabricating the same
JP2007280807A (en) Fuse and manufacturing method thereof
TWI387158B (en) Porous resin material, method for manufacturing the same, and multi-layer substrate
WO2004108332A1 (en) Drilled porous resin base material, and method of manufacturing porous resin base material with conductive drilled inner wall surface
TWI342054B (en) Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof
JP4367623B2 (en) Method for producing electrical circuit component made of porous stretched polytetrafluoroethylene sheet or porous stretched polytetrafluoroethylene film, and electrical circuit component
JP4380466B2 (en) Perforated porous resin base material and method for producing porous resin base material with inner wall surface of perforation made conductive
JP4715601B2 (en) Electrical connection parts
JP2004247216A (en) Manufacturing method of anisotropic conductive sheet
WO2007058101A1 (en) Anisotropic conductive sheet, its production method, connection method and inspection method
JP2008066076A (en) Anisotropic conductive sheet and forming method therefor, laminated sheet object, and inspection unit
RU2396738C1 (en) Method for manufacturing of printed circuit boards
JP4715600B2 (en) Sheet connector and manufacturing method thereof
WO2006132063A1 (en) Multilayer substrate and semiconductor package
JP2010028028A (en) Multilayer printed wiring board and its manufacturing method
JP2008075103A (en) Method for forming porous resin material
JP2008077873A (en) Porous resin material, its forming method, laminated sheet object, and inspection unit
JP2008063415A (en) Porous resin material, method for producing the same, laminate sheet material and inspection unit
JP4826905B2 (en) Anisotropic conductive film and manufacturing method thereof
JP2008117747A (en) Anisotropic conductive film, and its manufacturing method
CN111246663A (en) Embedded resistor structure and manufacturing method thereof